JPH0335933A - 放電状態解析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目−的］ （産業上の利用分野） 本発明は、放電加工における放電状態を解析する放電状
態解析装置に関する。

（従来の技術） 例えば放電加工にはワイヤ放電加工や形彫り放電加工な
どがあるが、このうち例えばワイヤ放電加工について説
明すると、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間
隔おいて配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工
槽の中に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との
間に直流電圧を印加する。そして、例えばワイヤ電極を
被加工物に接近させてそのギャップ量が所定量になると
ワイヤ７１！ｔｉと被加工物との間にパルス放電が発生
する。しかるに、このパルス放電によるエネルギーによ
って被加工物は加工される。

このようなワイヤ放電加工では加工状態の良否が判断さ
れるが、この判断は放電状態が正常であるか異常である
かにより判断しており、この判断は次のような方法によ
って行われている。すなわち、 ■作業員が放電柱を目視し、この放電柱の輝度から経験
や勘によって放電状態を判断する。

■作業員が放電の音を聞き、この放電の音から経験や肋
によって放電状態を判断する。

■ワイヤ放電加工装置にオシロスコープが備えられてい
れば、このオシロスコープに例えばワイヤ電極と被加工
物との間の放電電圧及び族７６電流の波形を表示させ、
これら放電電圧及び放電電流から放電状態を判断する。

■ワイヤ放電加工装置に予め放電状態の良否の基準が設
定されていれば、この基準に従って放電状態を判断する
。

しかしながら、上記各方法のうち■及び■の方法は定量
的な放電状態の判断でなく判断の結果にばらつきが生じ
る。又、■の方法はオシロスコープの周波数帯域が放電
よりも遅く、リアルタイムで放電電圧及び放電電流を表
示することができない。さらに、放電の発生はランダム
でありかつ放電電圧及び放電電流は保持されないので、
オシロスコープに表示されている放電電圧及び放電電流
はいつの波形はすリリにくくかつ波形からは定量的な判
断が困難である。■の方法では良否の粘準は例えば各メ
ーカにおいて設定したものであり、全ての放電状態のｔ
！Ｉ断に適用できるものではない。

さらに■の方法では各メーカごとに異常回避策を講じて
おり、種々の断線予防をしているが、そのために逆に最
高効率の加工を実現できず常に例えば６０〜７０％の効
率にして、加工状態の検知に正確さを欠くものとなって
いる。従って、異常放電を検出したとしても、この異常
放電の検出の（ｒ’、　’１ｌｆｊ性は低いものとなる
。しかるに、放電状態を監視して放電可能の条件、例え
ばワイヤ電極の移動速度や）１１工液の流速などにフィ
ードバックしても適切に放電加工を制御することが困難
となる。

（発明が解決しようとする課題） 以上のように異常放電の検出に対する信頼外が低く、正
確に放電状態を把握できなかった。

そこで本発明は、放電状態を定量的に把握できる放電状
態解析装置を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （：！！題を解決するための手段） 本発明は、被加工物及び放電電極への放電電圧及び放電
ｍ流を検出する検出器と、この検出器からの検出信号を
一定間隔毎の信号採取期間ごとに所定のサンブリジグ周
期でディジタル変換して取り込む信号採取手段と、この
信号採取手段で採取された各検出信号から各放電におけ
る放電電圧などから成る放電データを作成する放電デー
タ作成手段と、この放電データ作成手段で作成された放
電電圧などの値から放電を正常放電や異常放電などに分
類する放電分類手段と、この放電分類手段で分類された
結果及び前記放電データ作成手段で作成された放電デー
タから放電加工の効率などを算出する放電解析手段とを
備えて上記目的を達成しようとする放電状態解析装置で
ある。

（作　用） このような手段を備えたことにより、被加工物及び放電
電極への放電電圧及び放電電流が検出されると、この検
出信号は信号採取手段により一定間隔毎の信号採取期間
ごとに所定のサンブリジグ周期でディジタル変換して取
り込まれてｈ′ｉ＞ｈデータ作成手段Ｉこよって放電電
圧などから成るＩｒｋ　？ＴＳデータとして作成される
。そして、この放電データの放電電圧などの値から放電
分類手段によって放電を正常放電や異常放電などに分類
し、さらにこの分類された結果及び電データから放電解
）ｈ［段により放電加工の効率などが算出される。

（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を”Ｊ　ＩＱして
説明する。

第１図はワイヤ加工放電に適用した放電状態解析装置の
全体ＩＲ成図である。加工槽】の内部には被加工物２が
浸透されている。この被加工物２には所定間隔をおいて
ワイヤ電極３が配置されている。なお、このワイヤ電極
３は上部ワイヤガイド体４及び図示しない下部ワイヤガ
イド体により支持されている。これら被加工物２とワイ
ヤ電極゛３との間には放電制御回路５を介して直流電源
６が接続されて放電回路を形成している。この場合、直
流電源６は正極を被加工物２に接続している。

かかる放電回路には電圧検出器７が直流電源６に対して
並列接続されるとともに電流検出器８が直流７ｒＳ源６
に対して直列接続されている。

一方、１０は解析装置本体であって、この解析装置本体
１０にはアッテネータ（ＡＴＴ）１１゜１２が備えられ
、一方のアッテネータ１１に電圧検出器７が接続される
とともに他方のアッテネータ】２に電流検出器８が接続
されている。これらア・ソテネータ１１．，１２にはそ
れぞれメモリが内蔵された各Ａ／Ｄ　（アナログ／ディ
ジタル）変換：！：４１３．１４が接続され、これらＡ
／Ｄ変換器１．３．１４はバス１５を介してＣＰＵ（中
央処理装置）１６に接続されている。このＣＰＵ１６に
はバス１５を介してタイミングコントローラ１７、ＲＡ
Ｍ　（ランダム・アクセス・メモリ）１８、ＲＯＭ　（
リード・オンリ・メモリ）１つ、表示駆動部２０、プリ
ンタ駆動部２１及びキーボードなどの人力操作部２２が
接続されている。タイミングコントローラ１７はＡ／Ｄ
変換器１３．１４における信号取込みタイミングを制御
するものである。又、表示駆動部２０にはＣＲＴデイス
プレィなどの表示装置２３が接続されており、プリンタ
駆動部２１にはプリンタ２４が接続されている。

ＲＯＭ１９には、タイミングコントローラ１７でのＡ／
Ｄ変換器１３．１４に対する信号採取タイミングプログ
ラムが記憶されている。しかるに、この信号採取タイミ
ングプログラムにより各Ａ／Ｄ変換器１３．１４は一定
間隔ΔＨ毎の信号採取期間に例えばｘ’ｎｓ毎に同時に
電圧検出信号、電流検出信号をそれぞれ８ビツトにディ
ジタル変換して１回の信号採取期間で例えば１０２４〜
６５５３８　Ｂのデータを採取するものとなる。しかる
に、各Ａ／Ｄ変換器１３．１４、ＣＰＵ１６、タイミン
グコントローラ１７及びＲＯＭ１９により信号採取手段
が構成されている。

又、ＲＯＭＩ　９には放電データ作成プログラム、放電
分類プログラム、放電解析プログラム、及び履歴作成プ
ログラムが記憶されている。しかるに、これらプログラ
ム実行により上記ＣＰＵ１６は第２図に示すように信号
採取手段１６−１、放電データ作成手段１６−２、放電
分類手段１６−３、放電解析手段１６−４及び履歴作成
手段１６−５の各機能を有するものとなる。なお、信号
採取手段１６−１は上記の如く信号採取手段の一部の機
能を有したものとなっている。

放電データ作成手段１６−２は、信号採取手段で採取さ
れたディジタル電圧検出信号及びディジタル電流検出信
号から各放電における放電電圧や放電！［流などのパラ
メータから成る放電データを作成する機能を有するもの
である。

又、放電分類手段１６−３は上記放電データのうち放電
電圧値から放電を異常放電、過渡的な放電及び正常放電
の３つに分類する機能を有するものである。ここで、異
常放電はアーク放電パルス及び短絡であり、過渡的な放
電は被加工物２とワイヤ電極３との間にかなりの加工屑
が存在する状態に発生するものである。正常放電は被加
工物２とワイヤ電極３との間に加工屑が存在しない状態
に発生したものである。

放電解析手段１６−４は放電分類手段１６−３で分類さ
れた異常放電、過渡的な放電及び正常放電及び放電デー
タ作成手段１６−２で作成された放電データから放電加
工の効率や安定度、表面あらさなどを算出するとともに
、被加工物２とワイヤ電極３との間における放電エネル
ギーの状態をグラフィック化して表示する放電ギャップ
イメージ機能、さらにはワイヤ断線予知判定、加工条件
指示などをの機能を有するものである。具体的にはヒス
トグラム作成手段１６−６及び解析算出手段１６−７が
備えられている。ヒストグラム作成手段１６−６は放電
データにおける各放電の放電電圧や放電電流、放電エネ
ルギーなどの各ヒストグラムを作成し、例えば放電エネ
ルギーのヒストグラムからそのＩ＆頻値を求める機能を
有するものであり、解析算出手段１６−７は上記放電デ
ータや各ヒストグラムから求められた最頻値から放電加
工の効率や安定度、表面あらさなどを算出する機能を有
するものである。

履歴作成手段１６−５は放電Ｍ析手段１６−４で算出さ
れた効率や安定度などを受けてその履歴データを作成し
てプリントアウトさせる機能をＨするものである。

さらにＲＡＭ１８には第３図に示すように放電加工にお
ける速度等の加工条件を向上させるための放電パルス幅
等の各パラメータの調整データが二己憶されている。こ
こで、パラメータ１こはノ＜ルス幅Ｌａ、パルス間隔Ｌ
ｂ、放電電ＡＬｄ、放電電圧Ｌｅ、異常検出レベしＬｆ
が設定されており、又加に条件には速度向上、あらさ向
上、さらには情度向上が設定されている。そして１．Ｓ
！Ｊ！Ｘｉデータは、例えば速度向上であればパルス幅
Ｌａを広くし、パルス間隔Ｌｂを狭くし、さらに放電電
流Ｌｄを増加させるとともに放電電圧Ｌｅを高くし、か
つ異常検出レベルＬｆを低下させるものとなる。

そして、前記ＣＰＵ１６は加工条件が入力操作部２２か
ら人力されると、加工条件の各ノ〈ラメータと調整デー
タとをＲＡＭ１８から読出して調整データをアップｒｆ
Ｊ及びダウン「↓」、例えばパルス幅Ｌａｒ広」はアッ
プ「↑」で表示装置２３に表示させる機能を仔している
。なお、ＣＰＵ１６は上記各機能の他に荒加Ｅと仕上げ
加りとの判別、Ａｌｌｌｌアレンジ替え機能などを−Ｈ
している。

次に上記の如く構成された装置の作用について参ｊ（＋
’ｌ　して説明する。

彼加］二物２とワイヤ電極３との間に１合流電源６から
放電制御回路５を通して直流電圧が印加され、この状態
に被加工物２とワイヤ電極３とのギャップ量が所定量と
なると、被加工物２とワイヤ電極３との間にパルス放電
が発生し、このパルス放電のエネルギにより被加工物２
は加工される。

この状態に電圧検出器７は彼加］ニ物２とワイヤ電極３
との間のパルス放電電圧を検出してその電圧検出信号を
出力し、又電流検出器８は被加圧１勿２からワイヤ電極
３に流れたパルス族電電流を検出してその電圧検出器７
を出力する。これら電圧検出信号及び電流検出信号はそ
れぞれアッテネータ１１．１２で処理しやすいレベルに
減衰されてＡ／Ｄ変換器１．３．１４に入力する。この
とき、各Ａ／Ｄ変換器１３，１．４は共にタイミングコ
ントローラ１７により制御されてそれぞれ電圧検出信号
、電流検出信号をディジタル変換して取込む。

つまり、各Ａ／Ｄ変換器１３．１４は第４図に示すよう
に一定間隔ΔＨ周期ごとの各信号採取期間Ｈ，Ｈ２・・
・においてそれぞれ例えばｘｎｓ毎に同時に電圧検出信
号、電流検出信号をそれぞれ８ビツトにディジタル変換
して取込む。これにより、１回の信号採取期間例えば信
号採取期間Ｈ３において例えば１０２４〜６５５３６　
Ｂのデータが取込まれる。

このように１回の信号採取期間で取込んだディジタル電
圧検出信号及びディジタル電流信号はそれぞれ各Ａ／Ｄ
変換器１３．１４内のメモリに一時記憶され、各信号採
取期間Ｈ，、Ｈ２・・・の経過の後にＣＰＵ１６によっ
てＲＡＭ１８に移されて記憶される。

このようにディジタル電圧検出信号及びディジタル電流
信号が取込まれてＲＡＭ１８に記憶され、例えば１０回
の信号採取期間が終了すると、ＣＰＬ１１６の放電デー
タ作成手段１６−２は各ディジタル電圧検出信号及びデ
ィジタル電流信号からそれぞれ第５図に示すような放電
電圧及び放電電流の各波形を求め、これら波形から放電
発生の順番に発生番号ｒｌＪ　　ｒ２Ｊ・・・ｒＮＪを
付す。そして、ＣＰＵ１６はこれら波形から各放電にお
けるＩＪ３Ｌ電１別始ａｌ、　ａ２＝−ａｎや放電終了
ｂｌ、　ｌ＋２−　ｂｎ、　Ｉｒ’ｉ。

尾電圧ｃｌ、　ｃ２・−ｃｎＳ’７１１ｎＳ−ク（ｌｌ
！ｄｉ、　ｄ２・＝　ｄｎ、電流パルス幅ｅｌ、　ｅ２
・・・ｅｎ、放電エネルギーｒＩ。

「２・・ｒｏ１パルス間隔ｇｌ、　ｇ２・・・ｇｏなど
の各パラメタから成る放電データＤを求め、この放電デ
ータＤをＲＡ　Ｍ　１８にテーブル化して記憶する。

このように放電データＤが求められるとＣＰＵ１６は加
工状態を判定する。この場合、ＣＰＵ１６はＲＡＭ１８
に記憶されたディジタル電流検出信号から電流ピーク値
ｄｌを読み出し、この電流ピーク値ｄｌと予め設定され
たしきい値とを比較する。この比較により、電流ピーク
値ｄｉがしきい値よりも大きければ、ＣＰＵＩ　６は現
在行なわれている放電加工が荒加工であると判断し、又
電流ピーク値旧がしきい値よりも小さければ、ＣＰ　Ｕ
１６は放電加工が仕上げ加工であると判断する。

次にＣＰＵ１６は測定レンジを設定する。すなわち、Ｃ
ＰＵ１６はＲＡＭ１８に記憶された各ディジタル電圧検
出信号及びディジタル電流信号から電流ピーク及び電圧
ピークを求める。次にＣＰＵ１６は電流ピーク値が測定
レンジの電流範囲例えば０−１０００Ａに対して所定割
合例えば４０％以上であるかを判断する。ここで、電流
ピーク値が第６図に示すように１５０　Ａであると、こ
の電流ピーク値は電流範囲Ｏ〜１００ＯＡに対して４０
％以下であるので、ＣＰＵ１６は測定レンジを１レンジ
ダウンさせて第７図に示すような電流範囲０〜４００Ａ
のｉ（ｌ定しンジに変更する。再びＣＰＵ１６は電流ピ
ーク値が測定レンジの電流範囲Ｏ〜４００Ａに対して４
０％以上であるかを判断する。この場合も電流ピーク値
は電流範囲０〜４００Ａに対して４０％以下であるので
、ＣＰＵ１６は測定レンジをさらに１レンジダウンさせ
て第８図に示すようなｆｉ電流範囲０〜２００Ａ測定レ
ンジに変更する。かくして、電流ピーク値は電流範囲Ｏ
〜２０ＯＡに対して４０％以上となり、電流範囲の測定
レンジは０〜２０ＯＡに設定される。次にＣＰＵ１６は
電流範囲の測定レンジを設定したのと同様に電圧に対す
る一Ｐ１定レアレンジ定する。

次にＣＰＵ１６は上記判断された放電加工状態が荒加工
であるか仕上げ加工であるかを判断し、荒加工であれば
各Ａ／Ｄ変換器１３．１４でのサンプリング周期を第９
図に示すようにｘｎｓに設定し、仕上げ加工であれば各
Ａ／Ｄ変換器１３゜１４でのサンプリング周期を同図に
示すようにｙｎｓに設定する。

この後、ＣＰＵ１６は放電加工状態が荒加工であれば、
各信号採取期間Ｈ，，Ｈ２・・・においてｘｎｓ毎に電
流検出信号を電流範囲０〜２００Ａのａｌ定レンジで８
ビツトにディジタル変換して取込むとともに電圧検出信
号を変更設定された測定レンジで取り込む。そうして信
号採取期間Ｈ１Ｈ２・・・が数回例えば１０回到来する
と、放電データ作成手段１６−２は再び上記放電データ
Ｄを作成してＲＡＭ１８に記憶する。

次に放電分類手段１６−３は予め設定された放電限界電
圧と各放′ｒ４電圧ｃｌ、　Ｃ２・・・ｅｒｌとを比較
して放電限界電圧よりもレベルが低い放電電圧例えばＣ
２を異常放電であるアーク放電パルス及び短絡として検
出する。このように異常放電が検出されると、＄この異
常放電Ｃ２の発生番号「２」の放電開始Ｃ２や放電終了
ｂ２、放電電圧Ｃ２、電流ピーク値ｄ２の各データがテ
ーブルから抹消される。なお、この場合、発生番号「２
」はＲＡＭ１８に形成された異常放電のテーブルに移さ
れる。

次に放電分類手段１６−３は異常放電が抹消された放電
データＤから放電電圧ｃｌ、　Ｃ３，Ｃ４・・・ｃｎ　
−１、ｃｎを抽出して第１Ｏ図に示す放電電圧のヒスト
グラムを作成する。このようにして作成されたヒストグ
ラムには２つのヒストグラム群Ｑ１．Ｑ２が現れる。こ
こで、ヒストグラム群Ｑｌは被加工物２とワイヤ電極３
との間が加工液の流れにより十分に清浄化されて加工屑
が取り去られた状態における放電電圧を示しており、こ
の状態で放電電圧がヒストグラム群Ｑ、を示すのは被加
工物２とワイヤ電極３との間の僅かな残留加工屑により
放電抵抗値の変動やワイヤ電極３の振動等による被加工
物２とワイヤ電極３との間のギャップ量の変化によって
ばらつくことに起因する。一方、ヒストグラム群Ｑ２は
被加工物２とワイヤ電極３との間にかなりの加工屑が残
り、この加工屑によってギャップ間の抵抗値が小さくな
って放電電圧が低くても放電が生じている過渡的な放電
を示している。しかるに、放電分類手段１６−３はヒス
トグラム群Ｑ１を正常放電とするとともにヒストグラム
群Ｑ２を過渡的な放電として分類する。

次にヒストグラム作成手段１６−６は放電データＤにお
ける各放電電圧や放電電流、放電エネルギーなどの各ヒ
ストグラムを作成し、例えば放電エネルギーのヒストグ
ラムからその最頻値を求める。

そうして、解Ｗ−’３出手段１６−７は効率や安定度な
どを算出する。先ず、効率の算出作用について説明する
と、解析算出手段】６−７は正常放電の電流パルス幅ｅ
ｌ、　ｅ３．　ｅ４・・・ｅｎの合＝１゛期間Ｅｔを求
めるどともに１０回の信号採取開開のａｊｔ期間Ｈ＋　
＋　Ｈ２＋・・・＋Ｈ１ｊを求め、これら合計期間の比
、・つまり放電電流波形のデユーティｉｔ　Ｑを効十と
して算出４″る。

Ｑ　＝　Ｅ　ｔ　／　　（Ｈ’ｌ　　＋　Ｈ２＋・・　
＋Ｈ３２）・・・（１）このようＩこ効率Ｑが算出され
ると、解析算出手段１６−７は効率Ｑを表示駆動部２０
に送って表示装置２３にに小させる。第１１図は効率Ｑ
の表示例であって、バー表示されている。

又、Ａ’ｔｉ折算出手段１６−７は異常放電の発生数Ｎ
ａと過渡的な放電の発生数Ｎ【とを求め、これら発生数
の全放電た集散Ｎに対する割合を安定度Ｓｅとして算出
する。すなわち、 Ｓｅ　−（Ｎａ＋Ｎｔ）／Ｎ　　　　＝１２）である。

ところで、この安定度Ｓｅは被加工物２と「ノｆヤ電極
３とが接近し過ぎているかをも表している。すｆｆわち
、例えば加工屑が無い状態で波相１′物２とワイヤ電極
゛３とが接近し過ぎている。Ｌ、被加工物２とワイヤ電
極３との間の抵抗値が小さくなって上記異常放電及び過
渡的な放電が発生するからである。そして、解析算出手
段１６−７は安定文Ｓｅを表７１１駆動部２０に送って
表示装置２′４にバー＝−表示する。この場合、１に一
定度Ｓｅの表示は４口１図に示すように低率、良好及び
６安５ｉ′（危険）の３つの度念いに分けられている。

次に鯉析算出ｆ−段１６−７は正常放電の発生数Ｎｓと
１ストグラム作成手段１６−６で求められた最頻値のｈ
交電エネルギーＥとから被加工物２０表面あらさＲｍを
算出して表示装置２３に表示させる。

又、解析算出手段１６−７は放電ギャップイメージを表
示装置２３に表示する。すなわち、解析算出手段１６−
７は上記１０回の信号採取期間Ｈ，Ｈ，・・・における
正常放電の電流パルス幅の合計切間Ｅｌと信号採取期間
Ｈｌｌ、Ｈ２・・・の合＝１期間Ｈ８との比、つまり正
常放電のパルス発生間隔ＱＴ ＱＴ　　−Ｈｏ　　／　Ｅ　ｔ　　　　　　　　　　　
　−（３）を算出し、続いてギャップｆｆ１Ｆ Ｆ−ａ−Ｗ・ｆ　（Ｅ）　／Ｑ　　　　　・−＜４）を
算出４“る。ここで、ａは表示装置２２のドツト数、Ｗ
は表示器２１の横軸方向におけるフルスケールである。

さらに解析算出手段１６−７はワイヤ電極３と被加工物
３との間の加工屑の排出状況に応した加工エネルギ範囲
Ｄｅを求める。すなわち、加工エネルギ範囲Ｄｅは Ｄｅ−Ｆ十ｆ　（Ｘｓ）　　　　　　　　−（５）から
算出する。ここに、Ｘｓは全放電数に対する異常放電の
発生数の比である。しかるに、第１２図に示すように加
工エネルギ範囲を示す範囲指示枠Ｋが加工エネルギの大
きさに応じて図面上左右方向に移動する。なお、この加
工エネルギ範囲Ｄｅは、加工エネルギとギャップとの間
のバランスが加工屑の排出状況に影響するので、加工の
安定性を加工エネルギ範囲として表したものとなってお
り、かかる加工エネルギ範囲Ｄｅは加工屑の量が多けれ
ば狭くなり、少なくなれば広くなる。

叉、解析算出手段１６−７はワイヤ断線予知？１１定を
ン１−１てい５．ずなわち、解析算出手段１６７は放電
データＤから放電エネルギｒｌ、　ｒ２．　ｒ３ｒｎを
抽出１７て順次放電エネルギしきい値と比較する。この
比較によって例えば放電エネルギｆ３が放電エネルギし
きい値よりも大きければワイヤ電極３に断線が生じる危
険性が高いとｉ１１断し、この旨を表示装置２２に表示
する。第１３図はワイヤ断線の危険性の報知の表示例で
あって、「ワイヤ断線危険！！」が表示される。

叉、解析算用手段１６−７は上記安定度Ｓ　ｅ’と接近
度合しきい値とを比較する。この比較の結果、安定度Ｓ
ｅが接近度合しきい値よりも大きければ、解析算出手段
１６−７はワイヤ電極３に断線が生じる危険性が高いと
判断し、この旨を第１３図に示すように表示装置２３に
表示する。この場合、表示装置２３には「ワイヤ断線　
危険！！」及び「ワイヤ接近」のみが表示される。

さらに、解析算出手段１６−７は先に求めた異常放電の
発生時間と全データ長との比を接触率ＡＡ−異常放電の
発生時間／全データ長 ・・・（６） として算出し、この接触率Ａと接触率しきい率とを比較
する。この接触率Ａはワイヤ電極３の被加工物２に対す
る接触の度合を表しており、この接触率Ａと接触率しき
い率とを比較し、接触率Ａが接触率しきい率よりも大き
ければワイヤ電極３に断線が生じる危険性が高いと判断
し、この旨を第１３図に示すように表示装置２２に表示
する。

次に履歴作成手段１６−５の作用について説明する。こ
の履歴作成手段１６−５は逐次求められる上記効率Ｑ、
安定度Ｓｅ及び接触率ＡをＲＡＭ１８に記憶してそれぞ
れ履歴データとし、これら効率Ｑ、安定度Ｓｅ及び接触
率Ａを第１４図に示すようにプリンタ２４でプリントア
ウトする。第１４図はプリントアウトの一例であって、
効率Ｑ及び安定度Ｓｅが履歴データとしてそれぞれ横方
向のバーの長さで示されるとともに接触率Ａが履歴デー
タとして数値で示される。なお、接触率ＡとともにｒＥ
Ｊが付されているが、これはワイヤ電極３に断線が生じ
る危険性が高いと判断して付したものである。又、放電
発生数、放電エネルギや族７１１Ｅなどのデータもプリ
ントアウトされている。

ところで、放電加工中に加工条件が悪くなると、被加工
物２とワイヤ電極３との間に放電が発生せずに放電加工
が行われなくなる。このような場合、放電電圧は現れず
、ＣＰＵ１６はこのときから内部タイマーをタイマ動作
させる。そして、再び放ｍＷ圧が現れると、ＣＰＵ１６
は内部タイマーの動作を停止してそのカウント値から無
放電の期間Ｇを算出してプリンタ駆動部２１に送る。こ
れにより、無放電の期間Ｇがノーシグナルタイム例えば
８０ｓとしてプリントアウトされる。なお、内部タイマ
ーは被加工物２の交換で放電電圧が現れない場合にも動
作してその時間をタイマーカウントし、このときの交換
に要した期間がプリントアウトされる。

一方、人力操作部２２に速度向上の加工条件の指示人力
があると、ＣＰＵ１６はＲＡＭ１８から第３図に示す各
調整データを読み出し、これら調整データをアップ「↑
」及びダウン「↓」に変換し、かつこれら変換した調整
データと各パラメータとを対応させて表示駆動部２０に
送る。かくして、表示装置２３には第１５図に示すよう
な速度向上の各調整データがアップ「↑Ｊ及びダウン「
↓」により表示される。なお、同図では速度向上とあら
さ向上とが表示されているが、実際にはいずれか一方の
みが表示される。

このように上記一実施例においては、放Ｎ電圧及び放電
？１！流を検出して各信号採取期間ごとに所定サンプリ
ング周期で取り込んで放電データＤを作成し、この放電
データの放電電圧などの値から放電を分類し、さらにこ
の分類された結果及び放電データＤから放電加工の効率
などを算出するようにしたので、放電加工の状態が効率
Ｑ１安定度、表面あらさなどで定量的に判別できるとと
もに、放電ギャップのイメージをグラフィック化して表
示できて加工状態を視覚的に把握できる。さらに、ワイ
ヤ電極３の断線の危険性が予ＡＩ３できるとともに、加
工条件指示の表示により最良の加工条件に調整できる。

さらに、履歴データをプリントアウトするので、無人の
放電加工でも無加工の部分が容易に判別できる。

なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、上
記一実施例において異常放電の分類は放電電圧によって
行なっているが、放電ピーク値により分類しても良い。

又、効率などの表示はバー表示に限られるものではない
。さらに、本ｉ装置はワイヤ放電加工装置に限らず、形
彫り放電加工や電解加工、ざら・には電圧信号及び電流
信号のサンプリングのレンジ変更により溶接機やレーザ
応用機器、照明機器、スパッタリング装置、ＰＶＤやＣ
ＶＤのプラズマ加工装置などの放電応用機器にも適用で
きる。このうちスパッタリング装置では枚重状態を検出
することて放電媒体の流ｍ調整ができる。

［発明の効果］ 以上詳記したようｊこ本発明によれば、放電状態を定量
的に把握できる放電状態解析装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第１５図は本発明に係わる放電状態゛解析装
置の一実施例を説明するための図であって、第１図は構
ｂ５．図、第２図は機能ブロック図、第３図は加丁条件
のデータの模式図、第４図は信号採取期間を示す模式図
、第５図は放電電圧及び放電電流の波形図、第６図乃至
第８図は測定レンジ切替作用を説明するための図、第９
図はサンプリング周期を示す図、第１０図は放電分類の
作用を説明するための図、第１１図は加工状態の表示例
を示す図、第１２図は放電ギャップイメージの表示例を
示す図、第１３図はワイヤ断線子Ｓｊの表示例を示す図
、第１４図は履歴データのプリントアウト例を示す図、
第１５図は加工条件指示の表示例を示す図である。 １・・・加工槽、２・・・被加工物、３・・・ワイヤ電
極、４・・・上部ワイヤガイド体、５・・・放電制御回
路、６・・・直流電源、７・・・電圧検出器、８・・・
電流検出器、１０・・・解析装置本体、１１．１２・・
アッテネータ、１３．１４・・・Ａ／Ｄ変換器、］５・
・・バス、１６・・・ＣＰＵ、１６−１・・・信号採取
手段、１６−２・・・放電データ作成手段、１６−３・
・放電分類−Ｙ段、１６−４・・・放電鯉析手段、１６
−５・・履歴作成手段、１６−６・・・ヒストグラム作
１戊手段、１６−７・・・解析算出手段、１７・・・タ
イミングコントローラ、１８・・・ＲＡＭ、１９・・・
ＲＯＭ。 ２０・・・表示駆動部、２１・・・プリンタ駆動部、２
２・・・人力操作部、２３・・・表示装置、２４・・・
プリンタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被加工物及び放電電極への放電電圧及び放電電流を検出
   する検出器と、この検出器からの検出信号を一定間隔毎
   の信号採取期間ごとに所定のサンプリング周期でディジ
   タル変換して取り込む信号採取手段と、この信号採取手
   段で採取された各検出信号から各放電における放電電圧
   などから成る放電データを作成する放電データ作成手段
   と、この放電データ作成手段で作成された放電電圧など
   の値から放電を正常放電や異常放電などに分類する放電
   分類手段と、この放電分類手段で分類された結果及び前
   記放電データ作成手段で作成された放電データから放電
   加工の効率などを算出する放電解析手段とを具備したこ
   とを特徴とする放電状態解析装置。