JPH0336636A - シングルチップマイクロコンピュータのテスト方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

この発明は、ＲＯＭ及びＲＡＭを内蔵ケるシングルチッ
プマイクロコンピュータのテスト方法に関する。

【従来の技術】

従来のシングルチップマイクロコンピュータは、ノーマ
ル状態では内蔵ＲＯＭのプログラムが走るので、ＲＯＭ
のプログラムによってその動作が支配される。

【発明が解決しようとする課題】

従って、マイクロコンピュータをテストする際には、ノ
ーマルモードでのテストは行えず、各ペリフェラル単体
あるいはＲＯＭを外部に持ったテストモードでのテスト
を行っている。又、この時、ノーマルモードで使用され
るビンは別アクシ□ンの機能（例えば、外部ｒ（ＯＭを
アクセスする際のアドレス、データ、リード／ライト等
）に割り当てられるので、そのピンのテストは行えない
。 この発明は、上述した問題点をなくすためになされたも
のであり、実際の動作状態で任意のテストが行えるシン
グルチップマイクロコンピュータのテスト方法を提供す
ることを目的とする。

【課題を解決するための手段】

この発明は、シングルチップマイクロコンピュータのテ
スト方法であって、ＲＡＭのテストモードでＲＡＭにテ
スト用データを書き込み、その後、該マイクロコンピュ
ータのベクタアドレスをＲＡＭから読み出し可能とする
モードに切り換え、このモードにて、テストモードでＲ
ＡＭに書き込んだデータを読み出してテストを行うこと
を特徴とする。

【実施例】

第１図にこの発明のテスト方法を適用したシングルデツ
プマイクロコンピュータの一実施例を示しており、この
シングルチップマイクロコンピュータの動作を第２図の
フローチャート及び第３図のタイムチャートを参照して
説明する。 始めに、初期設定として、外部リセット信号を“Ｌ″か
ら“Ｈ”にして、内蔵ＲＡＭに対して外部より直接読み
書きできる、ＲＡＭテストモードとしくステップＳ２）
、ＲＡＭ■とテストプログラムを書き込む（ステップＳ
２）。この時、デバッグ（テスト）信号は“Ｌ”にして
おく。次に、デバッグ信号を°Ｈ°にすると、リセット
コントローラ２よりの内部リセット信号が“Ｈ”からＬ
１となり、ＣＰＵ３及び周辺回路であるペリフェラル４
にリセットをかける（ステップＳ３）。その後、デバッ
グ信号を“し”にすることで、前記内部リセット信号は
Ｌ”からＨ“となり（ステップＳ４）、ＣＰＵ３に対し
てリセット処理を行うリセットサイクルが始まる。この
モードでは、ＣＰＵリセヅト後の各種割込みベクタアド
レスは全てＲＡＭＩから読み出され、ビンＡが別アクシ
ョンの機能に割り当てられることはないので、ピン八本
来の端子として利用できる。又、他の設定は全てノーマ
ルモードと同じになるため、完全なシングルチップの動
作モードとなる。このように、ベクタアドレスのデータ
を、ＲＡＭＩから読み出せるようにプログラムしておけ
ば、ノーマルモードと同じ機能、かつ同じピン設定でプ
ログラムの内部のＲＡＭＩよりのテストプログラムとな
り、ＲＯＭ　５よりのプログラムは無視される。

【発明の効果】

以上説明したように、この発明は、ＲＡＭにテスト用デ
ータを書き込み、テスト時、マイクロコンピュータへの
ベクタアドレスをＲＡＭから読み出し可能としたことに
より、実際の使用に近い状態でテストでき、又、この方
法であれば、テスト用のプログラムも自由に変更できる
ｔこめ、故障の検出率が上がり、ソフトウェアの開発も
容易となる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明のテスト方法を適用したシングルチッ
プマイクロコンピュータの一実施例を示すブロック図、
第２図及び第３図は、第１図のマイクロコンピュータの
制御動作を示すフローチャート及びタイムチャートであ
る。 ｌ・・・ＲＡＭ。 ２・・・リセットコントローラ、 ３・・・ＣＰＵ。 ４・・・ペリフェラル、 ５・・・ＲＯＭ０

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）シングルチップマイクロコンピュータのテスト方
   法であって、ＲＡＭのテストモードでＲＡＭにテスト用
   データを書き込み、その後、該マイクロコンピュータの
   ベクタアドレスをＲＡＭから読み出し可能とするモード
   に切り換え、このモードにて、テストモードでＲＡＭに
   書き込んだデータを読み出してテストを行うことを特徴
   とするシングルチップマイクロコンピュータのテスト方
   法。