JPH0350122A - 絶縁性組成物 - Google Patents
絶縁性組成物Info
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- JPH0350122A JPH0350122A JP1088503A JP8850389A JPH0350122A JP H0350122 A JPH0350122 A JP H0350122A JP 1088503 A JP1088503 A JP 1088503A JP 8850389 A JP8850389 A JP 8850389A JP H0350122 A JPH0350122 A JP H0350122A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、超電導素子に用いられる絶縁性組成物に関す
る。
る。
(従来の技術)
近年、Ba−La−Cu−0系の層状ペロブスカイト型
の酸化物が高い臨界温度を有する可能性のあることが発
表されて以来、各所で酸化物超電導体の研究が行われて
いる(Z、Phys、B Condensed Mat
ter64.189−193(1986)) 、その中
でもY−Ba−Cu−0系で代表される過剰酸素を有す
る欠陥ペロブスカイト型の酸化物超電導体は、臨界温度
が90に以上と液体窒素以上の高い温度を有することが
確認されている( Phys、Rev、Lett、Vo
l、58、No、9.908−910)。
の酸化物が高い臨界温度を有する可能性のあることが発
表されて以来、各所で酸化物超電導体の研究が行われて
いる(Z、Phys、B Condensed Mat
ter64.189−193(1986)) 、その中
でもY−Ba−Cu−0系で代表される過剰酸素を有す
る欠陥ペロブスカイト型の酸化物超電導体は、臨界温度
が90に以上と液体窒素以上の高い温度を有することが
確認されている( Phys、Rev、Lett、Vo
l、58、No、9.908−910)。
さらに、1988年には、臨界温度が105にの13j
−Sr−Ca−Cu−0系の超電導酸化物が発見される
に至った(日本経済新聞昭和63年1月22日等)。
−Sr−Ca−Cu−0系の超電導酸化物が発見される
に至った(日本経済新聞昭和63年1月22日等)。
このBi−3r−Ca−Cu−0系の超電導酸化物は、
Ba−La−Cu−0系やY−Ba−Cu−0系の超電
導酸化物に比べて、臨界温度が高いばかりでなく、高価
な希土類元素が不要であること、水分等に対する化学的
安定性が高いことなどの利点があり、より優れた酸化物
超電導体料である。
Ba−La−Cu−0系やY−Ba−Cu−0系の超電
導酸化物に比べて、臨界温度が高いばかりでなく、高価
な希土類元素が不要であること、水分等に対する化学的
安定性が高いことなどの利点があり、より優れた酸化物
超電導体料である。
ところで、トンネル効果を利用した超電導素子は、超高
速動作が可能で消費電力も僅かであるため、コンピュー
タの論理素子やメモリ素子等のデジタルデバイスへの応
用が進められている。そして、Nb/^Ioxidc
/ Nb接合やNbN /MgO/NbN接合等を用い
た4ビット乗算器、3にゲートアレイ等が試作されてい
る。また、超電導体−半導体素子として超電導3端子素
子が試作されているが、これらの素子はいずれも臨界温
度が低い超電導体からなり、液体ヘリウムを冷媒として
用いるため、周辺技術の開発や経済性の問題等から実用
化には至っていない。
速動作が可能で消費電力も僅かであるため、コンピュー
タの論理素子やメモリ素子等のデジタルデバイスへの応
用が進められている。そして、Nb/^Ioxidc
/ Nb接合やNbN /MgO/NbN接合等を用い
た4ビット乗算器、3にゲートアレイ等が試作されてい
る。また、超電導体−半導体素子として超電導3端子素
子が試作されているが、これらの素子はいずれも臨界温
度が低い超電導体からなり、液体ヘリウムを冷媒として
用いるため、周辺技術の開発や経済性の問題等から実用
化には至っていない。
このため、高い臨界温度を有する酸化物超電導体を前述
の超電導水Tに応用することが検討されている。
の超電導水Tに応用することが検討されている。
しかしながら、酸化物超電導体および絶縁性組成物を用
いて上記の超電導素子を得る場合、酸化物超電導体層と
絶縁性組成物の結晶面の整合性が悪いためここに新しい
電子の学位が生じ電荷がトラップされてジョセフソン素
子としての機能が損われるため、所望の特性を得ること
が困難であるという問題があった。
いて上記の超電導素子を得る場合、酸化物超電導体層と
絶縁性組成物の結晶面の整合性が悪いためここに新しい
電子の学位が生じ電荷がトラップされてジョセフソン素
子としての機能が損われるため、所望の特性を得ること
が困難であるという問題があった。
しかしながら、酸化物超電導体および絶縁性組成物を用
いて上記の超電導素子を得る場合、酸化物超電導体層と
絶縁性組成物の結晶面の整合性が悪いためここに新しい
電子の準位が生じ電荷がトラップされてジョセフソン素
子としての機能が損われるため、新型の特性を得ること
が困難であるという問題があった。
いて上記の超電導素子を得る場合、酸化物超電導体層と
絶縁性組成物の結晶面の整合性が悪いためここに新しい
電子の準位が生じ電荷がトラップされてジョセフソン素
子としての機能が損われるため、新型の特性を得ること
が困難であるという問題があった。
さらに、Bi系超超電導体は転移温度がll0K付近の
Bi25r2Ca2Cu301oおよび転移温度が80
に付近のBi25r2CaCu208が知られている。
Bi25r2Ca2Cu301oおよび転移温度が80
に付近のBi25r2CaCu208が知られている。
しかしながら、より高いTcのBi25r2Ca2Cu
a O、oを合成することは容易ではないという問題が
あった。
a O、oを合成することは容易ではないという問題が
あった。
これは、旧糸超電導体の結晶のb軸方向に存在する変調
構造またはその原因である内部応力に基因しているため
と考えられる。
構造またはその原因である内部応力に基因しているため
と考えられる。
(発明が解決しようとする課題)
このように、従来の絶縁性組成物を用いて超電導素子を
iする場合、酸化物超電導体層と絶縁性組成物の結晶面
の整合性が悪いという問題−があった。さらに、転移温
度がより高い旧2S「2Ca2Cu3010を合成する
ことが容易ではないという問題があった。
iする場合、酸化物超電導体層と絶縁性組成物の結晶面
の整合性が悪いという問題−があった。さらに、転移温
度がより高い旧2S「2Ca2Cu3010を合成する
ことが容易ではないという問題があった。
本発明はこのような課題に鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、酸化物超電導体の結晶面との整合
性の良好な絶縁性組成物を提供することである。さらに
、本発明の他の目的は、変調構造の緩和または消失した
絶縁性組成物を提供することである。
目的とするところは、酸化物超電導体の結晶面との整合
性の良好な絶縁性組成物を提供することである。さらに
、本発明の他の目的は、変調構造の緩和または消失した
絶縁性組成物を提供することである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
前記目的を達成するために本発明は、Bi、Sr。
Ca、 Cu、 Oまたは、Ti、Bas Ca、 C
u10からなる酸化物超電導体組成物のCaがRE(但
し、REは、Nd。
u10からなる酸化物超電導体組成物のCaがRE(但
し、REは、Nd。
5II1% Eu5Gds Tbs Dys Jio、
Er、、Ta+、Yb、 LuおよびYから選ばれた元
素。)で置換されていることを特徴とする絶縁性組成物
である。
Er、、Ta+、Yb、 LuおよびYから選ばれた元
素。)で置換されていることを特徴とする絶縁性組成物
である。
なお、Caは多少残っていてもさしつかえない。
ここで、Bi5Sr、I?E、 Cuまたは、T1.1
3 a 、 RIE 。
3 a 、 RIE 。
Cuの原子比は、基本的には、2:2:1:2であるが
、2:X:Y:Z程度のズレはかまわない。
、2:X:Y:Z程度のズレはかまわない。
但し、 1.5≦X≦ 2.5
0.5≦Y≦ 1.5
1.8≦Z≦ 2.5
また、本発明の絶縁性組成物は、Biの一部がPbで置
換されていてもよい。
換されていてもよい。
ここで、PbのBiの置換量は 1.5を超えると結晶
構造が異なるため、1.5以下が好ましい。さらに、0
.2〜1.0が特に好ましい。
構造が異なるため、1.5以下が好ましい。さらに、0
.2〜1.0が特に好ましい。
本発明の絶縁性組成物は、超電導体素子において、絶縁
層、基板等の絶縁材料として用いることができる。
層、基板等の絶縁材料として用いることができる。
本発明の絶縁性組成物を超電導体素子の絶縁層として用
いる場合について説明する。
いる場合について説明する。
絶縁性組成物は、旧、Srs RESCu等の炭酸塩、
酸化物、有機酸塩等を化学量論比で混合し、800〜9
00℃の温度で焼成することにより得ることができる。
酸化物、有機酸塩等を化学量論比で混合し、800〜9
00℃の温度で焼成することにより得ることができる。
なお、原料の配合比率は厳密に化学量論比である必要は
なく、IO%程度の相違があっても差支えない。また、
微量のアルカリ金属化合物を感謝して反応温度を低下さ
せることも可能である。
なく、IO%程度の相違があっても差支えない。また、
微量のアルカリ金属化合物を感謝して反応温度を低下さ
せることも可能である。
たとえばトンネル接合型のジョセフソン素子は、真空蒸
着法、マグネトロンスパッタ法、イオンビームスパッタ
法、クラスタイオンビーム法、分子線エピタキシ法等の
物理蒸着法や、CVD 、プラズマCVD等の化学気相
蒸着法により、基板上に酸化物超電導体層、絶縁層およ
び酸化物超電動体層を順次積層して得ることができる。
着法、マグネトロンスパッタ法、イオンビームスパッタ
法、クラスタイオンビーム法、分子線エピタキシ法等の
物理蒸着法や、CVD 、プラズマCVD等の化学気相
蒸着法により、基板上に酸化物超電導体層、絶縁層およ
び酸化物超電動体層を順次積層して得ることができる。
また、酸化物超電導体および絶縁性組成物を構成する各
金属元素を蒸気源またはターゲットとして、多元蒸着ま
たは多元スパッタリングにより形成することも可能であ
る。酸化物超電導体がBi1Sr、 Ca、 Cu、
0からなり、絶縁層がBi.Sr、I?E。
金属元素を蒸気源またはターゲットとして、多元蒸着ま
たは多元スパッタリングにより形成することも可能であ
る。酸化物超電導体がBi1Sr、 Ca、 Cu、
0からなり、絶縁層がBi.Sr、I?E。
Cu、 Oからなる場合は、酸化物超電導体層の形成と
絶縁層の形成を切替えるのに、1つの元素だけ取り替え
ればよいので作業性が良好である。
絶縁層の形成を切替えるのに、1つの元素だけ取り替え
ればよいので作業性が良好である。
酸化物超電導体層の厚さは、超電導特性を示す厚さ、す
なわち概ね 100Å以上、絶縁層の厚さはトンネル効
果を阻害しない厚さ、すなわち50〜200人であるこ
とが好ましい。
なわち概ね 100Å以上、絶縁層の厚さはトンネル効
果を阻害しない厚さ、すなわち50〜200人であるこ
とが好ましい。
さらに、各物質層を形成した後、必要に応じて酸素含有
雰囲気中400〜900℃で熱処理し、酸化物超電導体
の酸素空席に酸素を導入して超電導特性を向上させる。
雰囲気中400〜900℃で熱処理し、酸化物超電導体
の酸素空席に酸素を導入して超電導特性を向上させる。
なお、同様にして超フヒ導3端子素子や高感度磁気セン
サ等を得ることもできる。
サ等を得ることもできる。
本発明の絶縁性組成物を超電導体素子の基板として用い
る場合は、単結晶基板は、通常のフラックス法、F Z
(F!oatlng Zone )法、またはキロブ
ロス法により育成される。
る場合は、単結晶基板は、通常のフラックス法、F Z
(F!oatlng Zone )法、またはキロブ
ロス法により育成される。
旧、Srs R1ZSCU% Oからなる絶縁性組成物
を、フラックス法で育成するときは、フラックスとして
、Bi2O3とCuOとを同時に含むフラックスを用い
てもよい。
を、フラックス法で育成するときは、フラックスとして
、Bi2O3とCuOとを同時に含むフラックスを用い
てもよい。
さらに、Bi、Sr、 RIE、 Cu、 0からなる
絶縁性組酸物を、フラックス法で育成するときは、各原
料陽イオンの組成が、モル比%(β、γ、ε)で、βB
i2O3+7 t (Sr、RE ) Ol +ε
CuO但し、 5≦β≦25 20≦γ≦60 10≦ε≦60 2β+γ+ε=100 の関係を満足してもよい。
絶縁性組酸物を、フラックス法で育成するときは、各原
料陽イオンの組成が、モル比%(β、γ、ε)で、βB
i2O3+7 t (Sr、RE ) Ol +ε
CuO但し、 5≦β≦25 20≦γ≦60 10≦ε≦60 2β+γ+ε=100 の関係を満足してもよい。
(作用)
本発明の絶縁性組成物は、酸化物超電導体と同一または
類似の結晶構造を有し、格子定数も極めて近い値である
ため、結晶構造が同一または類似のため界面における整
合性が良く、電荷のトラップによる特性の低下が抑止さ
れる。
類似の結晶構造を有し、格子定数も極めて近い値である
ため、結晶構造が同一または類似のため界面における整
合性が良く、電荷のトラップによる特性の低下が抑止さ
れる。
特に、本発明の絶縁性組成物を基板として用いた場合は
、結晶構造が同一または類似であるため、基板上にエピ
タキシャル成長させた酸化物超電導薄膜単結晶が形成で
きる。
、結晶構造が同一または類似であるため、基板上にエピ
タキシャル成長させた酸化物超電導薄膜単結晶が形成で
きる。
また、本発明の絶縁性組成物は、高温熱処理時において
も安定でしかも酸化物超電導体の結晶面と反応しない。
も安定でしかも酸化物超電導体の結晶面と反応しない。
したがって、絶縁材料として本発明の絶縁性組成物を用
いた超電導素子を用いることにより、超高速動作で低消
費電力のIC,hランジスタ、高感度磁気センサ等を製
造することが可能となる。
いた超電導素子を用いることにより、超高速動作で低消
費電力のIC,hランジスタ、高感度磁気センサ等を製
造することが可能となる。
さらに、本発明の絶縁性組成物の旧の一部をPbで置き
換えることにより、格子定数がさらに、81系超電導体
に近ずく。また、本発明の絶縁性組成物の変調構造が緩
和または消失する。
換えることにより、格子定数がさらに、81系超電導体
に近ずく。また、本発明の絶縁性組成物の変調構造が緩
和または消失する。
本発明の絶縁性組成物の単結晶上に、旧糸超電導体薄膜
を成長させると、容易に高いTcをもつ旧2 Srz
Ca2Cu30 to層が得られる。これは、本発明の
絶縁性組成物においては、変調構造が緩和または消失さ
れており、その上にエピタキシャル成長した超電導体薄
膜においても、変調構造が緩和または消失されているた
めと考えられる。
を成長させると、容易に高いTcをもつ旧2 Srz
Ca2Cu30 to層が得られる。これは、本発明の
絶縁性組成物においては、変調構造が緩和または消失さ
れており、その上にエピタキシャル成長した超電導体薄
膜においても、変調構造が緩和または消失されているた
めと考えられる。
さらに、このようにして得られた超電導体薄膜において
は、同様の理由によりシャープな超電導転移が得られ、
これにより、たとえば、77にでの臨界電流の向上もみ
られることがわかった。
は、同様の理由によりシャープな超電導転移が得られ、
これにより、たとえば、77にでの臨界電流の向上もみ
られることがわかった。
すなわち、本発明の絶縁性組成物を超電導体素子におけ
る絶縁材料として用いることにより容易にll0Kでシ
ャープな転移を示す良好な超電導素子が得られる。
る絶縁材料として用いることにより容易にll0Kでシ
ャープな転移を示す良好な超電導素子が得られる。
以上Bi系について説明したが、TI系もBl系と同様
の結晶11M造を有し同様のことが言えることは言うま
でもない。
の結晶11M造を有し同様のことが言えることは言うま
でもない。
(実施例)
以下、図面に基づいて本発明の実施例について説明する
。
。
実施例1
第1図は、本発明の絶縁性組成物を絶縁層として用いた
トンネル接合型の酸化物超電導素子の横断面を示すもの
で、同図において酸化物超電導素子1は、基板2の上に
、Bi0 Sr2 Ca1Cu20 層α 3、Bi0 Sr2 Y 1Cu20 層4、[li
2 Sr2 Ca+ Cuα 20 層5が順次積層されて構成されている。
トンネル接合型の酸化物超電導素子の横断面を示すもの
で、同図において酸化物超電導素子1は、基板2の上に
、Bi0 Sr2 Ca1Cu20 層α 3、Bi0 Sr2 Y 1Cu20 層4、[li
2 Sr2 Ca+ Cuα 20 層5が順次積層されて構成されている。
α
[Bi0 Sr2 Ca+ Cu20 ターゲットの
製造コα まず、+31203粉末33.5o+o1%、5rC(
h粉末33.5IIo1%、CaC03粉末33.5m
o1%、CuO粉末I G、 7mo 1%を用い、ジ
ルコニアボールとともにモノポットに入れて湿式粉砕を
行った後、脱水乾燥を施し、加熱処理して仮焼しく85
0℃〜900℃、24h ) 、さらに再度モノポット
に入れて湿式粉砕を行い、脱水乾燥を施し粒径5μm以
下の粉末(超電導体)を得た。
製造コα まず、+31203粉末33.5o+o1%、5rC(
h粉末33.5IIo1%、CaC03粉末33.5m
o1%、CuO粉末I G、 7mo 1%を用い、ジ
ルコニアボールとともにモノポットに入れて湿式粉砕を
行った後、脱水乾燥を施し、加熱処理して仮焼しく85
0℃〜900℃、24h ) 、さらに再度モノポット
に入れて湿式粉砕を行い、脱水乾燥を施し粒径5μm以
下の粉末(超電導体)を得た。
次いで、前記原料粉末にポリビニルアルコールを加えて
造粒して造粒物を調整し、この各造粒物金型に充填し、
1000kg/c−の圧力下で成形し、直径154mm
、厚さ6.5鰭の円盤を作製した。
造粒して造粒物を調整し、この各造粒物金型に充填し、
1000kg/c−の圧力下で成形し、直径154mm
、厚さ6.5鰭の円盤を作製した。
さらに、これらを酸素含有雰囲気中840℃X24時焼
成して、Bi2 Sr2 Ca1Cu20 で表され
る酸α 化物超電導体からなる焼結密度が98%のターゲット材
料を得た。
成して、Bi2 Sr2 Ca1Cu20 で表され
る酸α 化物超電導体からなる焼結密度が98%のターゲット材
料を得た。
[Bi2 Sr2 Y I Cu20 ターゲットの
製造〕α 前述のCaC03粉末をY2O3に代えた以外は、上記
と同じ方法で直径154m+*、厚さ6.5mmの円盤
状の8128r2 Y + Cu20 で表される非
導電性酸α 化物からなる焼結密度が98%のターゲットを製造した
。
製造〕α 前述のCaC03粉末をY2O3に代えた以外は、上記
と同じ方法で直径154m+*、厚さ6.5mmの円盤
状の8128r2 Y + Cu20 で表される非
導電性酸α 化物からなる焼結密度が98%のターゲットを製造した
。
[酸化物超電導素子(ジョセフソン素子)の製造コBi
2 Sr2 CalCu20 ターゲットを使用し、
95α mo1%のアルゴンと5mo1%の酸素からなる7Pa
の混合気体中で、高周波マグネトロンスパッタにより、
基板温度700℃のIOX IOX l mmの5rT
103基板上に、厚さ1.0μn+のBi2 Sr2
Ca1Cu20 層を形α 成した。
2 Sr2 CalCu20 ターゲットを使用し、
95α mo1%のアルゴンと5mo1%の酸素からなる7Pa
の混合気体中で、高周波マグネトロンスパッタにより、
基板温度700℃のIOX IOX l mmの5rT
103基板上に、厚さ1.0μn+のBi2 Sr2
Ca1Cu20 層を形α 成した。
次に、Bi2 Sr2 Y + Cu20 ターゲッ
トを用いα て、上記旧2 Sr2 Ca1Cu20 層上に、厚
さIO人α のBI2 Sr2 Y + Cu20 層を形成した
。
トを用いα て、上記旧2 Sr2 Ca1Cu20 層上に、厚
さIO人α のBI2 Sr2 Y + Cu20 層を形成した
。
α
最後に、この旧2 Sr2 Y + Cu20 a層上
に、前述した条件と同じ条件で、厚さ1.0μIのBi
25r2 Ca1Cu20 層を形成して、トンネル
接合型α の酸化物超電導素子を得た。
に、前述した条件と同じ条件で、厚さ1.0μIのBi
25r2 Ca1Cu20 層を形成して、トンネル
接合型α の酸化物超電導素子を得た。
このようにして得られた酸化物超電導素子の臨界温度は
77にで、この温度でトンネル効果により各層を通じて
電流が流れることが確認された。
77にで、この温度でトンネル効果により各層を通じて
電流が流れることが確認された。
絶縁層として、TI2 Ba2 Y + Cu20
ターゲラα トを用いてT12 Baz Y + Cu20 層を
形成し、超α 電導体としてTI2 Ba2 Ca1Cu20 aター
ゲットを用いてTI2 Ba2 Ca1Cu20 層
を形成した以外は、α 上記の方法と同様にして酸化物超伝導素子を形成したと
ころ、臨界温度は100にで動作が確認された。
ターゲラα トを用いてT12 Baz Y + Cu20 層を
形成し、超α 電導体としてTI2 Ba2 Ca1Cu20 aター
ゲットを用いてTI2 Ba2 Ca1Cu20 層
を形成した以外は、α 上記の方法と同様にして酸化物超伝導素子を形成したと
ころ、臨界温度は100にで動作が確認された。
実施例2
812 Sr2 CaI Cu20 ターゲットに代
えて、α Bi2 Sr2 Ca2 Cu30 ターゲットを用
いて旧2α Sr2 Ca1Cu20 層3.5の代りに、BI2
Sr2α Ca2 Cu30 層を形成した以外は、実施例1と
同α 様にして酸化物超電導素子を製造した。
えて、α Bi2 Sr2 Ca2 Cu30 ターゲットを用
いて旧2α Sr2 Ca1Cu20 層3.5の代りに、BI2
Sr2α Ca2 Cu30 層を形成した以外は、実施例1と
同α 様にして酸化物超電導素子を製造した。
この酸化物超電導素子の臨界温度は70にで、この温度
でトンネル効果により各層を通じて電流が流れることが
確認された。
でトンネル効果により各層を通じて電流が流れることが
確認された。
比較例1
実施例1におけるBI2 Srz Y I Cuz O
a層4に代えて、同じ厚さのAl103層を形成した以
外は、実施例1と同じ構造の酸化物超電導素子を形成し
たが、この素子は、77にの臨界温度においても動作し
なかった。
a層4に代えて、同じ厚さのAl103層を形成した以
外は、実施例1と同じ構造の酸化物超電導素子を形成し
たが、この素子は、77にの臨界温度においても動作し
なかった。
なお、以上の実施例では、絶縁層として、Bi25r2
Y + Cu20 からなる非導電性酸化物を用い
α た例について説明したが、上記式においてYをNd。
Y + Cu20 からなる非導電性酸化物を用い
α た例について説明したが、上記式においてYをNd。
Sin、 Eu5GdSTbSDy、 1loSEr、
Tm、 YbまたはLuに代えた酸化物でも同様の結晶
構造を有するので同様の効果を得ることが可能である。
Tm、 YbまたはLuに代えた酸化物でも同様の結晶
構造を有するので同様の効果を得ることが可能である。
実施例3
Bis Sr、 Y 、 Cuを原子比で3:2:1:
3となるように原料のBl 20 ] 、SrCO3、
Y 20 ] 、CuOを総R100g秤量・混合し、
アルミナルツボに入れ、1150℃大気中で24H保持
した後、800℃まで100 Hかけて徐冷し、室温ま
で炉冷して201QII×20IIIl×211HのB
i2 Sr2 YCu 20 It結品を得た。X線
回折のα 結果、単結晶であり、また(001)ファセットを有す
ることを確認した。
3となるように原料のBl 20 ] 、SrCO3、
Y 20 ] 、CuOを総R100g秤量・混合し、
アルミナルツボに入れ、1150℃大気中で24H保持
した後、800℃まで100 Hかけて徐冷し、室温ま
で炉冷して201QII×20IIIl×211HのB
i2 Sr2 YCu 20 It結品を得た。X線
回折のα 結果、単結晶であり、また(001)ファセットを有す
ることを確認した。
この基板上にRFスパッタ法により、13i25r2C
aCu20 膜を基板温度550℃で成膜したところ
、α 基板と方位の揃った酸化物超電導単結晶膜が得られた。
aCu20 膜を基板温度550℃で成膜したところ
、α 基板と方位の揃った酸化物超電導単結晶膜が得られた。
また、この膜の断面をEPMAで分析したところ、基板
と膜との反応は1llJ定限界内であった。
と膜との反応は1llJ定限界内であった。
第2図にこの膜の電気抵抗率の温度特性を示す。
T c −84K、ΔTc〜IKと優れた超電導特性が
得られた。
得られた。
比較例2
基板としてMgO単結晶を用いた以外は実施例3と同一
条件下で成膜を行ったところ、C面配向した膜が得られ
たものの配向度70%程度の多結晶膜で膜表面の凹凸が
大きく、膜断面のEPLiA分析により、膜内にMgO
イオンが検出された。
条件下で成膜を行ったところ、C面配向した膜が得られ
たものの配向度70%程度の多結晶膜で膜表面の凹凸が
大きく、膜断面のEPLiA分析により、膜内にMgO
イオンが検出された。
実施例4
BISSr、Nd5Cuを原子比で4:2:2:5とな
るように秤量し、実施例3と同様に単結晶を育成し、I
OXmX 1OavX 1msのBi2 Sr2 Nd
2 Cul O単結晶をα 得、X線回折の結果、単結晶であり、(001)ファセ
ットを有することを確認した。この基板上にクラスター
イオンビーム法によりBI2 Sr2 Ca2Cu30
膜を基板温度450℃で成膜したところ、α 基板と方位の揃った酸化物超電導単結晶膜が得られた。
るように秤量し、実施例3と同様に単結晶を育成し、I
OXmX 1OavX 1msのBi2 Sr2 Nd
2 Cul O単結晶をα 得、X線回折の結果、単結晶であり、(001)ファセ
ットを有することを確認した。この基板上にクラスター
イオンビーム法によりBI2 Sr2 Ca2Cu30
膜を基板温度450℃で成膜したところ、α 基板と方位の揃った酸化物超電導単結晶膜が得られた。
実施例5
出発原料としてBI O1,−PbO,5rCOa、
3 Y O、CuOの各粉末を用意し、これらを陽イ3 オンの原子比が旧: Pb: Sr: Y : Cu=
1:l:2:1:2となるように所定量秤量し、さら
にこれにフラックス分としてのBi2O3とCuOとを
BiとCuの原子比がそれぞれ1づつとなるように加え
、これを充分に混合した。
3 Y O、CuOの各粉末を用意し、これらを陽イ3 オンの原子比が旧: Pb: Sr: Y : Cu=
1:l:2:1:2となるように所定量秤量し、さら
にこれにフラックス分としてのBi2O3とCuOとを
BiとCuの原子比がそれぞれ1づつとなるように加え
、これを充分に混合した。
次に、この混合粉をアルミナルツボに投入し、空気中で
1.150℃まで加熱し、この温度を24時間保持して
均一に溶融させた後、800℃まで100時間かけて除
冷し、次で室温まで炉冷した。
1.150℃まで加熱し、この温度を24時間保持して
均一に溶融させた後、800℃まで100時間かけて除
冷し、次で室温まで炉冷した。
得られた冷却固化物中にはlOmmX 20nvX 2
mn+と大型の単結晶がU′r出しており、この単結晶
体のX線解析を行ったところ、BIPbSr2YCu2
08+δ(δは過剰酸素)の組成を有し、単結晶板面に
対してC軸配向した単結晶であることを確認した。
mn+と大型の単結晶がU′r出しており、この単結晶
体のX線解析を行ったところ、BIPbSr2YCu2
08+δ(δは過剰酸素)の組成を有し、単結晶板面に
対してC軸配向した単結晶であることを確認した。
また、比抵抗は一100℃で104Ω・cmであり、電
気絶縁物として機能することを確認した。
気絶縁物として機能することを確認した。
次に、上記BIPbSr Y Cu O単結晶基板
上2 28+δ に旧 0、PbO1SrCO1CaCO3およびCuO
を23 3 スパッタターゲットとして用い、95mo1%のアルゴ
ンと51101%の酸素からなる7Paの混合気体中で
、高周波マグネトロンスパッタによる多元スパッタによ
って、Bi系酸化物超電導体薄膜を膜厚200人で着膜
させた。なお、各ターゲットに対する投入電力比は、形
成される薄膜の組成が旧: S r : Ca : C
u−2:2:2:3となるように調整した。
上2 28+δ に旧 0、PbO1SrCO1CaCO3およびCuO
を23 3 スパッタターゲットとして用い、95mo1%のアルゴ
ンと51101%の酸素からなる7Paの混合気体中で
、高周波マグネトロンスパッタによる多元スパッタによ
って、Bi系酸化物超電導体薄膜を膜厚200人で着膜
させた。なお、各ターゲットに対する投入電力比は、形
成される薄膜の組成が旧: S r : Ca : C
u−2:2:2:3となるように調整した。
得られたBi系酸化物超電導体薄膜に対してX線回折を
行ったところ、絶縁性単結晶基板と方位のそろった高臨
界温度相のエピタキシャル成長膜であることを確認した
。
行ったところ、絶縁性単結晶基板と方位のそろった高臨
界温度相のエピタキシャル成長膜であることを確認した
。
これは、この実施例の絶縁性単結晶基板はBi系酸化物
超電導体と格子定数が近似しており、界面における格子
不整合が極力低減されるため、Bi系酸化物超電導体薄
膜を良好に形成することが可能になるためである。
超電導体と格子定数が近似しており、界面における格子
不整合が極力低減されるため、Bi系酸化物超電導体薄
膜を良好に形成することが可能になるためである。
また、Bi系酸化物超電導体の高臨界温度相が形成しず
らい理由は、結晶内部の変調11,7造やその原因であ
る結晶の内部応力に起因するものと考えられる。ところ
で、この実施例の絶縁性単結晶基板は、Bi系酸化物超
電導体と格子定数が近似しているとともに、Pbの置換
によって変調構造もほぼ消失したものである。このため
に、この実施例の地縁性単結晶基板上に形成されたBi
系酸化物超電導体薄膜も消失あるいは緩和され、高臨界
温度相の単一相か得られるものと推定される。
らい理由は、結晶内部の変調11,7造やその原因であ
る結晶の内部応力に起因するものと考えられる。ところ
で、この実施例の絶縁性単結晶基板は、Bi系酸化物超
電導体と格子定数が近似しているとともに、Pbの置換
によって変調構造もほぼ消失したものである。このため
に、この実施例の地縁性単結晶基板上に形成されたBi
系酸化物超電導体薄膜も消失あるいは緩和され、高臨界
温度相の単一相か得られるものと推定される。
さらに、この実施例の絶縁性単結晶基板上に形成された
13i系酸化物超電導体薄膜上に、Bi2O3、PbO
1SrC03、Y2O3およびCuOをスパッタターゲ
ットとして用い、高周波マグネトロンスパッタによる多
元スパッタによって、BIPbS「2Ycu208+、
薄膜を膜厚50人で形成し、さらに上に上記酸化物超電
導体薄膜と同一条件でBi系酸化物超電導体薄膜を膜厚
200人で形成し、ジョセフソン素子を作製した。
13i系酸化物超電導体薄膜上に、Bi2O3、PbO
1SrC03、Y2O3およびCuOをスパッタターゲ
ットとして用い、高周波マグネトロンスパッタによる多
元スパッタによって、BIPbS「2Ycu208+、
薄膜を膜厚50人で形成し、さらに上に上記酸化物超電
導体薄膜と同一条件でBi系酸化物超電導体薄膜を膜厚
200人で形成し、ジョセフソン素子を作製した。
上層のBi系酸化物超電導体薄膜も、下相のBi系酸化
物超電導体薄膜と同様に、高臨界温度相によって構成さ
れた良好な酸化物超電導体薄膜であり、Bi系酸化物超
電導体相と絶縁相の界面における反応も二忍められなか
った。まtこ、このジョセフソン素子はll0Kで超電
導特性を示し、この温度で良好なジョセフソン効果が得
られることを確認した。
物超電導体薄膜と同様に、高臨界温度相によって構成さ
れた良好な酸化物超電導体薄膜であり、Bi系酸化物超
電導体相と絶縁相の界面における反応も二忍められなか
った。まtこ、このジョセフソン素子はll0Kで超電
導特性を示し、この温度で良好なジョセフソン効果が得
られることを確認した。
比較例3
SrT10 a Oを基板として用いて、この上にBi
25r2Ca2Cu30□。。δ超電導体を200人、
絶縁層してMgOを50人、さらにBi25r2Ca2
Cu30 to+、超電導体を200人積層してジョ
セフソン素子を作製した。
25r2Ca2Cu30□。。δ超電導体を200人、
絶縁層してMgOを50人、さらにBi25r2Ca2
Cu30 to+、超電導体を200人積層してジョ
セフソン素子を作製した。
しかしながら、このままの状態では超電導特性を示さな
かった。そこで、結晶性を向上させるため600℃で熱
処理を行い、超電導特性を評価したところ、転移温度6
0にで超電導状態を示したものの、良好なジョセフソン
特性は得られなかった。
かった。そこで、結晶性を向上させるため600℃で熱
処理を行い、超電導特性を評価したところ、転移温度6
0にで超電導状態を示したものの、良好なジョセフソン
特性は得られなかった。
実施例6
実施例5の記載された同様の方法により、Pbによる旧
の置換量を変化させてBi2. Pb1.Sr 2Y
Cu20g+(5の単結晶を作成した。
の置換量を変化させてBi2. Pb1.Sr 2Y
Cu20g+(5の単結晶を作成した。
本発明のBi Pb Sr Y Cu 208
+、結晶と超2−V W 2 電導体のBi Sr CaCu Oの格子定数、
およ2 2 2 8+δ びBI Pb Sr YCu O結晶の変調
+11S造を2−w 522g+6 第3図に示す。
+、結晶と超2−V W 2 電導体のBi Sr CaCu Oの格子定数、
およ2 2 2 8+δ びBI Pb Sr YCu O結晶の変調
+11S造を2−w 522g+6 第3図に示す。
図中で、横軸はWを示する。すなわち、Wが大きくなる
ほど、B目′iPbに置換される割合が大きくなる。左
の上の縦軸はC軸の格子定数を示し、右の下の縦軸はa
、b軸の格子定数を示す。右の上の縦軸は変調構造を示
す。
ほど、B目′iPbに置換される割合が大きくなる。左
の上の縦軸はC軸の格子定数を示し、右の下の縦軸はa
、b軸の格子定数を示す。右の上の縦軸は変調構造を示
す。
OはBi Pb Sr YCu O結晶のa
軸の2−WW228+δ 格子定数を、・はb軸の格子定数を、回はC軸の格子定
数を示す。
軸の2−WW228+δ 格子定数を、・はb軸の格子定数を、回はC軸の格子定
数を示す。
◎はBI Sr CaCu Oのa軸およびb軸
の22 28+δ 格子定数を、口はC軸の格子定数を示す。
の22 28+δ 格子定数を、口はC軸の格子定数を示す。
△は旧 Pb Sr YCu O結晶の変調溝
2−VW22g+δ 造を示す。
2−VW22g+δ 造を示す。
Bi Pb Sr YCu O結晶において
、b2−W ν 2 28+δ 軸の格子定数は、Biの約GO%をPbで置換すると、
旧 Sr CaCu Oに最も近ずき、C軸の格子
22 28+δ 定数は、BlがPbに置換される割合が大きくなると、
旧2Sr2CaCu208+δに近ずくことかわかる。
、b2−W ν 2 28+δ 軸の格子定数は、Biの約GO%をPbで置換すると、
旧 Sr CaCu Oに最も近ずき、C軸の格子
22 28+δ 定数は、BlがPbに置換される割合が大きくなると、
旧2Sr2CaCu208+δに近ずくことかわかる。
さらに、変調構造は、BlがPbに置換される割合が大
きくなると、消失することがわかる。
きくなると、消失することがわかる。
実施例7〜16
第1表および第2表に示す組成でフラックス法により絶
縁性単結晶を作製した。
縁性単結晶を作製した。
第1表
第2表
[発明の効果]
以上説明したように本発明の絶縁性組成物は酸化物超電
導体と結晶構造が同一または類似のため、酸化物超電導
体の結晶面との整合性の良好な絶縁性組成物を提供する
ことができる。さらに、本発明の絶縁性組成物のBiの
一部をPbで置き換えることにより、変調構造の緩和ま
たは消失した絶縁性組成物を提供することができる。
導体と結晶構造が同一または類似のため、酸化物超電導
体の結晶面との整合性の良好な絶縁性組成物を提供する
ことができる。さらに、本発明の絶縁性組成物のBiの
一部をPbで置き換えることにより、変調構造の緩和ま
たは消失した絶縁性組成物を提供することができる。
第1図は本発明の絶縁性組成物が絶縁層である酸化物超
電導素子の横断面図、第2図は本発明による単結晶基板
上に成膜した酸化物超電導薄膜単結晶の電気抵抗率の温
度特性を示す図、第3図は、本発明の81の一部がPb
で置換された絶縁組成物の特性を示す図である。 1・・・酸化物超電導素子、2・・・基板、3.5・・
・Bi25r2 CalCu20 a層、4−1312
Sr2 Y ) Cu2 Oa層
電導素子の横断面図、第2図は本発明による単結晶基板
上に成膜した酸化物超電導薄膜単結晶の電気抵抗率の温
度特性を示す図、第3図は、本発明の81の一部がPb
で置換された絶縁組成物の特性を示す図である。 1・・・酸化物超電導素子、2・・・基板、3.5・・
・Bi25r2 CalCu20 a層、4−1312
Sr2 Y ) Cu2 Oa層
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)Bi、Sr、Ca、Cu、Oまたは、Ti、Ba
、Ca、Cu、Oからなる酸化物超電導体組成物のCa
がRE(但し、REは、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb
、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、LuおよびYから選
ばれた元素。)で置換されていることを特徴とする絶縁
性組成物。 (2)Bi、Sr、RE、Cuまたは、Ti、Ba、R
E、Cuの原子比が2:X:Y:Zであることを特徴と
する請求項1記載の絶縁性組成物。 但し、1.5≦X≦2.5 0.5≦Y≦1.5 1.8≦Z≦2.5 (3)Bi、Sr、RE、Cuの原子比が2:X:Y:
Zの酸化物である絶縁性組成物を、 但し、1.5≦X≦2.5 0.5≦Y≦1.5 1.8≦Z≦2.5 フラックス法で育成する際のフラックスとしてBi_2
O_3とCuOを同時に含むフラックスを用いることを
特徴とする絶縁性組成物の育成方法。 (4)Bi、Sr、RE、Cuの原子比が2:X:Y:
Zの酸化物である絶縁性組成物を、 但し、1.5≦X≦2.5 0.5≦Y≦1.5 1.8≦Z≦2.5 フラックス法で育成する際の各原料陽イオンの組成が、
モル比%(β、γ、ε)で、 βBi_2O_3+γ{(Sr、RE)O}+εCuO
但し、5≦β≦25 20≦γ≦60 10≦ε≦60 2β+γ+ε=100 の関係を満足することを特徴とする絶縁性組成物の育成
方法。 (5)Biの一部がPbで置換されていることを特徴と
する請求項1記載の絶縁性組成物。 (6)Bi、Pb、Sr、RE、Cu、Oの原子比が2
−W:W:2:1:2:8+δであることを特徴とする
請求項5記載の絶縁性組成物。 但し、0<W≦1.5 δは過剰酸素 (7)Wが、0.2≦W≦1.0であることを特徴とす
る請求項6記載の絶縁性組成物。 (8)Bi、Pb、Sr、RE、Cu、Oの原子比が2
−WW:2:2:3:10+δであることを特徴とする
請求項5記載の絶縁性組成物。 但し、0<W≦1.5 δは過剰酸素 (9)Wが、0.2≦W≦1.0であることを特徴とす
る請求項8記載の絶縁性組成物。 (10)酸化物超電導体上に請求項1記載の絶縁性組成
物を絶縁層として形成したことを特徴とする超電導素子
。 (11)請求項1記載の絶縁性組成物を基板として用い
て、この基板上に酸化物超電導体を形成したことを特徴
とする超電導素子。
Applications Claiming Priority (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8673088 | 1988-04-08 | ||
| JP63-86730 | 1988-04-08 | ||
| JP63-100281 | 1988-04-25 | ||
| JP10028188 | 1988-04-25 | ||
| JP7495989 | 1989-03-29 | ||
| JP1-77607 | 1989-03-29 | ||
| JP7760789 | 1989-03-29 | ||
| JP1-74959 | 1989-03-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0350122A true JPH0350122A (ja) | 1991-03-04 |
| JP2975608B2 JP2975608B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=27465761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1088503A Expired - Lifetime JP2975608B2 (ja) | 1988-04-08 | 1989-04-07 | 絶縁性組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2975608B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03218686A (ja) * | 1988-05-11 | 1991-09-26 | Canon Inc | ジョセフソン素子 |
| JPH0465320A (ja) * | 1990-06-29 | 1992-03-02 | Matsushita Electric Works Ltd | 超電導薄膜およびその製造方法 |
| JPH04130093A (ja) * | 1990-09-21 | 1992-05-01 | Nec Corp | 酸化物超伝導体単結晶の製造方法およびその超伝導転移温度の制御方法 |
| JPH0715049A (ja) * | 1993-06-23 | 1995-01-17 | Nec Corp | 超伝導積層薄膜 |
| US5629267A (en) * | 1992-06-16 | 1997-05-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Superconducting element having an intermediate layer with multiple fluorite blocks |
-
1989
- 1989-04-07 JP JP1088503A patent/JP2975608B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03218686A (ja) * | 1988-05-11 | 1991-09-26 | Canon Inc | ジョセフソン素子 |
| JPH0465320A (ja) * | 1990-06-29 | 1992-03-02 | Matsushita Electric Works Ltd | 超電導薄膜およびその製造方法 |
| JPH04130093A (ja) * | 1990-09-21 | 1992-05-01 | Nec Corp | 酸化物超伝導体単結晶の製造方法およびその超伝導転移温度の制御方法 |
| US5629267A (en) * | 1992-06-16 | 1997-05-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Superconducting element having an intermediate layer with multiple fluorite blocks |
| JPH0715049A (ja) * | 1993-06-23 | 1995-01-17 | Nec Corp | 超伝導積層薄膜 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2975608B2 (ja) | 1999-11-10 |
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