JPH0352904B2

JPH0352904B2 -

Info

Publication number: JPH0352904B2
Application number: JP59229562A
Authority: JP
Inventors: Tokihiro Kosaka
Original assignee: Sysmex Corp
Current assignee: Sysmex Corp
Priority date: 1984-10-30
Filing date: 1984-10-30
Publication date: 1991-08-13
Also published as: JPS61107137A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野この発明は、例えば粒子分析装置に内蔵され、
粒度分布の測定やヘマトクリツト値の測定等に必
要な粒子検出信号の各粒子検出パルスを弁別し波
高値を計測する粒子検出信号処理装置に関するも
のである。

従来例の技術例えば、導電式粒子検出装置は、塩濃度0.8％
程度の薄い電解質液中に測定用粒子を浮遊させた
ところの懸濁液に一対の電極を浸漬し、両電極間
を微細孔を有する絶縁壁で隔絶し、両電極間に電
位差を与えて前記細孔を通じてのみ電極間に電流
が流れるようにしたもので、両側の液間に水圧差
を加え細孔を通じて液とともに粒子を通過させる
と、粒子径に対する細孔径を適切に選べば粒子の
通過に対応して粒子体積に比例した電流変化が電
極間に生ずるという特性を利用した装置である。

この粒子検出装置から出力される粒子検出信号
には、粒子体積に比例した波高値を有する山形波
形の粒子検出パルスが各粒子毎に現われることに
なる。

上記したように粒子検出パルスは、粒子の体積
情報を波高値として有しており、従来から粒子の
体積分布（粒度分布）や試料液中の粒子の総体積
（ヘマトクリツト値）を求めるため、粒子検出信
号の各粒子検出パルスの波高値を計測することが
しばしば行われていた。

このような粒子検出信号の各粒子検出パルスの
波高値を計測する従来の微分器による波高値計測
装置は、第４図に示すように、ピークホールダ１
とＡ／Ｄコンバータ２と微分器３と零クロス検出
器４とで構成されている。

この波高値計測装置は、第５図Ａの粒子検出信
号をピークホールダ１に加えるとともに微分器３
に加え、粒子検出信号（第５図Ａ）を微分器３で
微分して第５図Ｂの微分信号を得、この微分信号
（第５図Ｂ）を零クロス検出器４に加え、ここで、
ごく零に近いレベルV_TH1と比較することにより第
５図Ｃのゼロクロス検出信号を得、このゼロクロ
ス検出信号（第５図Ｃ）の立下がりのタイミング
（粒子検出信号のピーク、すなわち微分信号が正
から負にかわるところの零クロス点）でピークホ
ールダ１により粒子検出信号（第５図Ａ）をピー
クホールドして第５図Ｄのピークホールド信号を
Ａ／Ｄコンバータ２でデジタル値に変換し、例え
ば中央処理装置へ粒子検出信号の粒子検出パルス
DPの波高値データとして送るようになつている。
なお、中央処理装置は、上記の波高値データを処
理して粒度分布やヘマトクリツト値などを求め
る。

粒子検出信号の波高値を計測する従来の遅延回
路による波高値計測装置は、第６図に示すよう
に、ピークホルダ１とＡ／Ｄコンバータ２と遅延
回路５とコンパレータ６とで構成されている。

この波高値計測装置は、第７図Ａの粒子検出信
号S₁を遅延回路５で位相を少し遅らせ、粒子検出
信号S₁と遅延回路５の遅延信号S₂とをコンパレー
タ６で比較し、第７図Ｂのコンパレータ６の出力
信号の立下りのタイミング（粒子検出信号S₁の各
ピーク）でピークホールダ１により粒子検出信号
S₁（第７図Ａ）をピークホールドして第７図Ｃの
ピークホールド信号をＡ／Ｄコンバータ２でデジ
タル値に変換し、例えば中央処理装置へ粒子検出
信号の波高値データとして送るようになつてい
る。なお、中央処理装置は、上記の波高値データ
を処理して粒度分布やヘマトクリツト値などを求
める。

発明が解決しようとする問題点上記の第４図の波高値計測装置は、ピークタイ
ミングの検出をアナログ方式で行つているため、
粒子検出信号（第５図Ａ）に粒子検出パルスDP
の他にノイズパルスNPが含まれると、このノイ
ズパルスNPについても微分、零クロス検出、ピ
ークホールドおよびＡ／Ｄ変換動作（誤動作）を
することなり、このような誤動作を防止するため
に、零クロス検出器４にヒステリシス特性をもた
せたり、波形の立上り時間などを監視して狭いパ
ルス幅のパスル信号（ノイズパルスNP）を無視
するといつた回路の工夫と追加が必要である。こ
のため、基準電圧、基準時間、オフセツトといつ
た調整箇所が多くなり、回路特性のばらつきも大
きくなり、また、周囲温度の変動に対して影響を
受けやすい。

上記のヒステリシス特性やオフセツトのばらつ
きが大きいと、同じパルスに対して一方の機器で
は粒子検出パルスとして、他方の機器ではノイズ
パルスNPとして判定される確率が高くなり、粒
子分析装置においては、このことが機差の要因の
一つとなる。

また、第６図の波高値計測装置は、上記のもの
と同様にピークタイミングの検出をアナログ方式
で行つているため、遅延回路５のゲインおよびオ
フセツトを精製良く調整する必要がある。また、
微分器３によるピーク検出の場合と同様にコンパ
レータ６にヒステリシス特性をもたせたり、波形
の立上り時間などを監視して幅の狭いノイズパル
スNPを無視するといつた回路の工夫と追加が必
要であり、調整箇所も多くなる。

上記したように、従来の波高値計測装置は、波
高値計測のためのピークタイミングの検出を微分
器や遅延などの回路的に微妙な動作を利用して行
うため、粒子検出信号に対して処理誤差を生じ、
波高値データの信頼性は低いものであつた。

発明の目的この発明は、粒子検出信号の各粒子検出パルス
を精度よく安定して弁別し、その波高値データの
信頼性の高い粒子検出信号処理装置を提供するこ
とを目的とする。

問題点を解決するための手段第１の発明の粒子検出信号処理装置は、アナロ
グの検出信号をデジタルデータ列に変換するＡ／
Ｄ変換手段と、このＡ／Ｄ変換手段より前回出力
されたデジタルデータを記憶する第１のデータ記
憶手段と、前記Ａ／Ｄ変換手段より今回出力され
たデジタルデータと前記第１のデータ記憶手段に
記憶されたデジタルデータとを比較処理すること
により今回出力されたデジタルデータが前記第１
のデータ記憶手段に記憶されたデジタルデータよ
り下まわつた時に出力を一の状態から他の状態へ
変化させる比較処理手段と、この比較処理手段の
出力の一の状態から他の状態への変化に応答して
前記第１のデータ記憶手段に格納されたデジタル
データを波高値データとして記憶する第２のデー
タ記憶手段とを備える構成にしたことを特徴とす
る。

また、第２の発明の粒子検出信号処理装置は、
アナログの検出信号をデジタルデータ列に変換す
るＡ／Ｄ変換手段と、このＡ／Ｄ変換手段より前
回出力されたデジタルデータを記憶する第１のデ
ータ記憶手段と、前記Ａ／Ｄ変換手段より今回出
力されたデジタルデータから前記第１のデータ記
憶手段に記憶されたデジタルデータを引算する引
算手段と、この引算手段の演算結果が正値のとき
に出力を発生する第１の比較手段と、前記引算手
段の演算結果が負値のときに出力を発生する第２
の比較手段と、前記第１の比較手段の出力の消滅
に応答して前記第１のデータ記憶手段のデジタル
データを波高値データとして記憶する第２のデー
タ記憶手段と、前記第１および第２の比較手段の
出力がそれぞれ一定期間以上継続した時のみ第１
および第２出力をそれぞれ発生する立上り・立下
り時間監視手段と、この立上り・立下り時間監視
手段から第１および第２出力が出力されたときの
み出力を発生する弁別手段とを備える構成にした
ことを特徴とする。

作用第１の発明の粒子検出信号処理装置は、アナロ
グの検出信号を高速のＡ／Ｄ変換手段でデジタル
データに変換し、デジタルデータを比較処理する
ことによりリアルタイムで粒子検出信号のピーク
タイミングを検出し、このときのデジタルデータ
を波高値データとして保持するものであり、回路
特性のばらつきによる機差を少くできるととも
に、周囲温度の変化による影響を少くできる。

第２の発明の粒子検出信号処理装置は、粒子検
出信号の立上り時間および立下り時間を監視し、
この監視結果に基づいて弁別出力を発生するた
め、ノイズ性の急峻なパルスを除去したり、また
例えば粒子検出パルスのパルス幅によつて粒子の
弁別を行うことができる。その他の作用効果は第
１の発明と同様である。

なお、比較処理手段あるいは第１および第２の
比較手段の入出力特性にヒステリシス特性をもた
せるようにすれば、高周波の微小信号やドリフト
や擬似信号などの低周波信号を除去することがで
きる。

実施例この発明の一実施例を第１図ないし第３図に基
づいて説明する。この粒子検出信号処理装置は、
第１図に示すように、粒子検出信号の変化に対し
て十分に速いサンプリングクロツクをクロツク回
路１４により作成し、クロツク回路１４からサン
プリングクロツクが発生する毎にＡ／Ｄコンバー
タ１１が粒子検出信号をサンプリングしてＡ／Ｄ
変換を行うことによりデジタルデータ列に変換す
るようにしている。また、Ａ／Ｄコンバータ１１
からのデジタルデータを、サンプリングクロツク
が発生する毎にデータバツフア１２が一時記憶す
るようになつている。

また、引算器１５は、Ａ／Ｄコンバータ１１か
らのデジタルデータからデータバツフア１２に記
憶されたデジタルデータ（一つ前のサンプリング
クロツクタイミングにおけるＡ／Ｄコンバータ１
１のデジタルデータ）を引算し、この演算結果を
符号付で出力する。

比較器１６は、ヒステリシス特性を有し、引算
器１５の演算結果が例えば＋２を上まわつた時に
出力がＬからＨへ変化し、０を下まわつた時に出
力がＨからＬへ変化する。また、比較器１９は、
同様にヒステリシス特性を有し、引算器１５の演
算結果が例えば−２を下まわつた時に出力がＬか
らＨへ変化し、０を上まわつた時に出力がＨから
Ｌに変化する。

データバツフア１３は、比較器１６の出力がＨ
からＬに変化した時、すなわち引算器１５の演算
結果が正値から負値に変わつた時にデータバツフ
ア１２のデジタルデータを記憶する。このデータ
バツフア１３の出力線は中央処理装置のデータバ
ス等に接続される。

立上り・立下り時間監視回路１７は、比較器１
６の出力がＨの期間が一定期間以上継続した時、
すなわち粒子検出信号の立上り時間が一定値以上
である時に第１出力がＬからＨに変化し、比較器
１６の出力がＬとなる（粒子検出信号が立下る）
とただちに第１出力をＨからＬに変化させ、ま
た、比較器１９の出力がＨの期間が一定期間以上
継続した時、すなわち粒子検出信号の立下り時間
が一定値以上である時に第２出力がＬからＨに変
化し、比較器１９の出力がＬとなる（粒子検出信
号が立下る）とただちに第２出力をＨからＬに変
化させるようになつている。

粒子パルス弁別回路１８は、立上り・立下り時
間監視回路１７の第１出力がＨとなり、かつこの
後第２出力がＨとなつたとき、すなわち、粒子検
出パルスのパルス幅が一定以上あるとき（ノイズ
パルスでないとき）のみ、データ読込み指令信号
（中央処理装置に対する割込み信号）を発生する
ようになつている。

中央処理装置は、データ読込み指令信号によつ
てデータバツフア１３から読込んだ波高値データ
を順次RAMに格納し、全データ収集後、すべて
の波高値データを積算して定数を掛ければヘマト
クリツト値を求めることができ、また、波高値デ
ータをレベル毎に分類すれば粒度分布を求めるこ
とができる。

第２図は第１図のブロツク図の詳細な回路図を
示し、第３図は第２図の各部のタイミング図を示
している。以下、これらの図面に基づいて粒子検
出信号処理装置を詳細に説明する。

クロツク回路１４は、粒子検出信号DSの変化
に対して十分速いサンプリングクロツクCLKを
発生する。

Ａ／Ｄコンバータ１１は、フラツシユＡ／Ｄコ
ンバータ（MP7683）で構成され、サンプリング
クロツクCLKが立上る毎に粒子検出信号DSを８
ビツトのデジタルデータ（第３図のサンプリング
データ）に変換し、データバツフア（LS273）１
２はサンプリングクロツクCLKが立上る毎に
Ａ／Ｄコンバータ１１から出力される上位７ビツ
トのデジタルデータを一時記憶し、サンプリング
クロツクCLKのつぎの立上りまでそのデジタル
データを保持および出力する。

引算器１５は、４ビツトの全加算器１５ａ，１
５ｂとインバータ群１５ｃとから構成され、Ａ／
Ｄコンバータ１１のデジタルデータからデータバ
ツフア１２のデジタルデータを減算し、この演算
結果（第３図の差のデータ）を極性を含めて出力
するようになつている。具体的には、Ａ／Ｄコン
バータ１１のデジタルデータとデータバツフア１
２のデジタルデータの１の補数を加算し、さらに
桁上げ信号として１を加算している。

比較器１６は、デジタルコンパレータ
（LS682）１６ａで構成され、引算器１５のデジ
タルデータが上側基準値（例えば２）を上まわつ
た時に出力がＬからＨに変化し、引算器１５のデ
ジタルデータが下側基準値（例えば０）を下まわ
つた時に出力がＨからＬに変化し、上記比較器１
６の基準値の切換は立上り・立下り時間監視回路
１７によつて行われ、ヒステリシス特性をもたせ
ている。

比較器１９は、デジタルコンパレータ１９ａで
構成され、引算器１５のデジタルデータが下側基
準値（例えば−２）を下まわつた時に出力がＬか
らＨに変化し、引算器１５のデジタルデータが上
側基準値（例えば０）を上まわつた時に出力がＨ
からＬに変化し、上記比較器１９の基準値の切換
は立上り・立下り時間監視回路１７によつて行わ
れ、ヒステリシス特性をもたせている。

立上り・立下り時間監視回路１７は、シフトレ
ジスタ（LS164）１７ａ，１７ｂとアンド回路群
（LS11）１７ｃ，１７ｄとスイツチ群１７ｅ，１
７ｆとから構成されている。シフトレジスタ１７
ａ，１７ｂは、サンプリングクロツクCLKで比
較器１６，１９の出力レベルがシフトされるよう
になつている。

初期、シフトレジスタ１７ａの出力ＲはＬで、
出力はＨであり、比較器１６の基準値は上側基
準値(2)となつている。前記引算結果が２を上まわ
つた時にはシフトレジスタ１７ａの入力がＨとな
り、サンプリングクロツクCLKに同期して出力
ＲがＨ、出力ががＬとなり、比較器１６の基準
値が下側基準値（０）となる。この結果、比較器
１６はヒステリシス特性をもつことになる。

また、シフトレジスタ１７ｂのカウント値が０
のときは出力がＦでＬであつて比較器１９の基準
値が下側基準値（−２）となり、カウンタ１７ｂ
のカウント値が１以上になると出力ＦがＨとなつ
て比較器１９の基準値が上側基準値（０）とな
る。この結果、比較器１９もヒステリシス特性を
もつことになる。

シフトレジスタ１７ａは、比較器１６の出力が
Ｈの期間中にサンプリングクロツクCLKによる
シフト回数が例えば５となつた時アンド回路群１
７ｃの出力RTがＬからＨに変化し、また同様に
シフトレジスタ１７ｂは比較器１９の出力がＨの
期間中にサンプリングクロツクCLKによるシフ
ト回数例えば５となつた時にアンド回路群１７ｄ
の出力FTがＬからＨに変化し、出力RT，FTは
比較器１６，１９の出力がＬとなるとシフトレジ
スタ１７ａ，１７ｂのリセツトによつてただちに
ＨからＬに変化することになる。

データバツフア（LS374）１３は、出力RTが
ＨからＬとなつた時、すなわち、引算器１５の演
算結果が正の期間が一定期間以上継続したのち引
算器１５の演算結果が負値に変化したタイミング
でデータバツフア１２のデジタルデータを一時記
憶し、このデジタルデータはデータバスを通して
中央処理装置とつながつている。なお、この図の
場合、第１図とは異なり、比較器１６の出力でデ
ータバツフア１３をコントロールするのではな
く、立上り・立下り時間監視回路１７の出力
によつてデータバツフア１３をコントロールして
いる。

粒子パルス弁別回路１８は、Ｄフリツプフロツ
プ１８ａ，１８ｂとノア回路１８ｃ，１８ｄとか
ら構成され、立上り・立下り時間監視回路１７の
出力RTが立下つた時、すなわち出力が立上
つた時に出力ＰをＬからＨに変化させ、この後立
上り・立下り時間監視回路１７の出力FTが立上
つた時に出力がＨからＬに変化する。この
出力が中央処理装置に割込み信号として与
えられ、中央処理装置がデータバツフア１３に記
憶されたデジタルデータを取り込み、この後中央
処理装置が出力を発生して粒子パルス
弁別回路１８に加え、その出力をＬからＨ
に変化させる（クリア）。

また、Ｄフリツプフロツプ１８ａの出力Ｐは出
力の立下りまたは出力の立下りによつて
ＨからＬに変化する（クリア）。また、Ｄフリツ
プフロツプ１８ｂは出力の立下りによつても
ＬからＨに変化する（クリア）。

つぎに、動作を経時的に説明する。粒子検出信
号DS，サンプリングデータおよび差のデータが
第３図のように経時変化すると、タイミングt₁で
出力ＲがＬからＨに変化し、出力がＨからＬに
変化する（差のデータが２を越えたため）。この
後、タイミングt₂で出力がRTがＬからＨに変化
し、したがつて出力がＨからＬに変化する
（差のデータが正値である状態が５サンプリング
クロツク期間継続したため）。

タイミングt₃で出力ＲがＨからＬに変化し、出
力がＬからＨに変化する（差のデータが負極と
なつたため）。そして出力ＲがＬとなることによ
り出力RTがＨからＬに変化し、出力がＬか
らＨに変化する。また、出力の立上りで出力
ＰがＬからＨに変化するとともにデータバツフア
１３がデータバツフア１２のデータを取り込む。

タイミングt₄で出力ＦがＬからＨに変化する
（差のデータが−２を下まわつたため）。

タイミングt₅で出力ＲがＬからＨに変化し、出
力がＨからＬに変化し（差のデータが２を上ま
わつたため）、出力ＦがＨからＬに変化する（差
のデータが正値となつたため）。また、出力の
立下りにより出力ＰがＨからＬに変化する。

タイミングt₆で出力RTがＬからＨに変化する
とともに出力がＨからＬに変化する（差のデ
ータが正値である状態が５サンプリングクロツク
期間継続したため）。

タイミングt₇で出力ＲがＨからＬに変化し、出
力がＬからＨに変化する（差のデータが負値と
なつたため）。また、出力Ｒの立下りによつて出
力RTがＨからＬに変化し、出力がＬからＨ
に変化し、出力の立上りにより出力ＰがＬか
らＨに変化するとともにデータバツフア１３がデ
ータバツフア１２からデータを取り込む。

タイミングt₈で出力ＦがＬからＨに変化する
（差のデータが−２を下まわつたため）。

タイミングt₉で出力FTがＬからＨに変化する
（差のデータが負値の期間が５サンプリングクロ
ツク期間継続したため）。出力FTの立上りにより
出力がＨからＬに変化し、出力の立下
りにより出力ＰがＨからＬに変化する。

タイミングt₁₀で出力がＨからＬに変
化し、この立下りで出力がＬからＨに変化
する。

タイミングt₁₁で出力がＬからＨに変
化する（データの取り込み終了）。

このように、この実施例は、粒子検出信号を高
速でＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換器１１からのデジ
タルデータをデータバツフア１２に順次一時記憶
させ、Ａ／Ｄ変換器１１のデジタルデータとデー
タバツフア１２のデジタルデータの差を演算し、
差のデータが正値から負値に変化した時のデータ
バツフア１２のデータを波高値データとしてデー
タバツフア１３に記憶させるようにしたため、ア
ナログ信号を扱う部分が少くなり、回路特性のば
らつきを少くでき、波高値データの機器を少くで
き、しかも周囲温度の変動を受けにくくなり、さ
らにノイズに強い。

また、粒子検出信号の変化に比べて十分に高速
なＡ／Ｄコンバータ１１によつて粒子検出信号
DSをＡ／Ｄ変換するため、サンプルホールド回
路を省略できる。また、デジタル回路の部分をカ
スタムIC化やプログラマブルアレイロジツク利
用により高密度実装することができる。

また、比較器１６，１９にヒステリシス特性を
もたせていることにより、微小振幅のパルスやノ
イズを無視することができ、しかも粒子検出信号
DSにドリフトや擬似信号などの低周波成分が含
まれていてもこれを粒子検出パルスであると誤判
定するのを防止できる（低周波成分の差分はきわ
めて小さく、比較器１６，１９の状態は変化しな
いため）。また、比較器１６，１９のヒステリシ
ス特性はデジタル的に与えているため、安定でば
らつきがなく、調整が不要である。ヒステリシス
特性のばらつきがないと、同じ信号に対して一方
の機器では粒子パルスと判定され他方の機器では
ノイズ性パルスと判定されるような確率がきわめ
て低くなる。

また、粒子検出信号波形の立上り時間および立
下り時間を立上り・立下り時間監視回路１７によ
つて監視したり、粒子パルス弁別回路１８によつ
てノイズ性の急峻なパルスを無視したり、パルス
幅による粒子の弁別も可能となる。しかも、クロ
ツクの周期を単位として時間監査しているため、
時間監視を容易にかつ安定して行える。

発明の効果第１の発明の粒子検出信号処理装置は、アナロ
グ検出信号を高速のＡ／Ｄ変換手段でデジタルデ
ータに変換し、デジタルデータを比較処理するこ
とによりリアルタイムで粒子検出信号のピークタ
イミングを検出し、このときのデジタルデータを
波高値データとして保持するようにしたため、回
路特性のばらつきによる機差を少くできるととも
に、周囲温度の変化による影響を少くでき、波高
値データの信頼性を高くすることができる。

第２の発明の粒子検出信号処理装置は、粒子検
出信号の立上り時間および立下り時間を監視し、
この監視結果に基づいて弁別出力を発生するよう
にしたため、第１発明の効果に加え、ノイズ性の
急峻なパルスを除去したり、また例えば粒子検出
パルスのパルス幅によつて粒子の弁別を行うこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の粒子検出信号処
理装置のブロツク図、第２図はその詳細な回路
図、第３図は第２図の各部のタイミング図、第４
図は従来の波高値計測装置のブロツク図、第５図
はその各部の信号波形図、第６図は別の従来の波
高値計測装置のブロツク図、第７図はその各部の
信号波形図である。１１……Ａ／Ｄコンバータ（Ａ／Ｄ変換手段）、
１２……データバツフア（第１のデータ記憶手
段）、１３……データバツフア（第２のデータ記
憶手段）、１５……引算器（引算手段）、１６……
比較器（第１の比較手段）、１９……比較器（第
２の比較手段）、１７……立上り・立下り時間監
視回路（立上り・立下り時間監視手段）、１８…
…粒子パルス弁別回路（弁別手段）。

Claims

【特許請求の範囲】１アナログの検出信号をデジタルデータ列に変
換するＡ／Ｄ変換手段と、このＡ／Ｄ変換手段よ
り前回出力されたデジタルデータを記憶する第１
のデータ記憶手段と、前記Ａ／Ｄ変換手段より今
回出力されたデジタルデータと前記第１のデータ
記憶手段に記憶されたデジタルデータとを比較処
理することにより今回出力されたデジタルデータ
が前記第１のデータ記憶手段に記憶されたデジタ
ルデータより下まわつた時に出力を一の状態から
他の状態へ変化させる比較処理手段と、この比較
処理手段の出力の一の状態から他の状態への変化
に応答して前記第１のデータ記憶手段に格納され
たデジタルデータを波高値データとして記憶する
第２のデータ記憶手段とを備えた粒子検出信号処
理装置。２前記比較処理手段は今回出力されたデジタル
データが前記第１のデータ記憶手段に記憶された
デジタルデータより１以上の所定値だけ上まわつ
た時に出力を他の状態から一の状態へ変化させる
ようにしている特許請求の範囲第１項記載の粒子
検出信号処理装置。３アナログの検出信号をデジタルデータ列に変
換するＡ／Ｄ変換手段と、このＡ／Ｄ変換手段よ
り前回出力されたデジタルデータを記憶する第１
のデータ記憶手段と、前記Ａ／Ｄ変換手段より今
回出力されたデジタルデータから前記第１のデー
タ記憶手段に記憶されたデジタルデータを引算す
る引算手段と、この引算手段の演算結果が正値の
ときに出力を発生する第１の比較手段と、前記引
算手段の演算結果が負値のときに出力を発生する
第２の比較手段と、前記第１の比較手段の出力の
消滅に応答して前記第１のデータ記憶手段のデジ
タルデータを波高値データとして記憶する第２の
データ記憶手段と、前記第１および第２の比較手
段の出力がそれぞれ一定期間以上継続した時のみ
第１および第２出力をそれぞれ発生する立上り・
立下り時間監視手段と、この立上り・立下り時間
監視手段から第１および第２出力が出力されたと
きのみ出力を発生する弁別手段とを備えた粒子検
出信号処理装置。