JPH0361998B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0361998B2
JPH0361998B2 JP60218304A JP21830485A JPH0361998B2 JP H0361998 B2 JPH0361998 B2 JP H0361998B2 JP 60218304 A JP60218304 A JP 60218304A JP 21830485 A JP21830485 A JP 21830485A JP H0361998 B2 JPH0361998 B2 JP H0361998B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
floating plate
pressed
socket
cover plate
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60218304A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6276274A (ja
Inventor
Ryoji Maruyama
Kazuyoshi Odaka
Kenichi Taya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP60218304A priority Critical patent/JPS6276274A/ja
Publication of JPS6276274A publication Critical patent/JPS6276274A/ja
Publication of JPH0361998B2 publication Critical patent/JPH0361998B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はICの製造過程で実施するバーン・イ
ン・テストの試験装置のICソケツトに関する。
〔従来の技術とその問題点〕
従来ICは各種のタイプのものが製造されてお
り、それぞれのタイプに適合したバーン・イン・
テスト用のICソケツトが実用されている。
しかし本願が対象となつている一つの面に高密
度に多数のバンプを設けたICのバーン・イン・
テスト用のICソケツトは未だ実用されていない。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上述の問題点を解決し前記多数のバン
プを設けたICのバーン・イン・テスト用のICソ
ケツトを提供するもので、複数のスプリングプロ
ーブを設けた本体と、この本体上に上下動可能に
取付けられかつ上方へ弾圧されているフローテイ
ングプレートと、このフローテイングプレート上
に検査されるべきICを挟んで載置されるカバー
板とを備えたICソケツトで、前記フローテイン
グプレートにはICの位置決め手段を設け、カバ
ー板を押圧したときに挟持されたICの複数のバ
ンプが押圧されて下降した前記フローテイングプ
レートを介してそれぞれ対応したスプリングプロ
ーブの先端に接触する構造としたものである。
さらに前記スプリングプローブの先端は前記カ
バー板を押圧しない状態では前記ICのバンプに
対応してフローテイングプレートに明けられた透
孔内に位置するように設けるものである。
〔作用〕
上述のようにICをフローテイングプレート上
の位置決め手段によつて定位置に載置すれば、カ
バー板を押圧したときにはICのバンプに対応し
た位置に明けられた前記透孔からスプリングプロ
ーブの先端が突出して来るので、全バンプが正確
に位置合わせされてプローブ先端に接触する。
また押圧しない状態のときはプローブ先端は透
孔内に引込んで居るので、プローブの先端保護の
効果もある。
〔実施例〕
第1図は本発明のICソケツトの縦断面図で、
第2図はフローテイングプレートが上昇した状態
の一部分の拡大断面図である。
本体1には複数のスプリングプローブ2を所定
の位置に本体を貫通して垂直に植設してある。こ
のスプリングプローブ2の植設部分の上側には4
本のガイドピン3で水平方向が保持され、上下方
向には摺動可能なフローテイングプレート4が設
けられており、スプリング5で常時はガイドピン
3の上端のストツパ3aに弾圧されている。な
お、フローテイングプレート4には前記スプリン
グプローブ2に対応する位置に透孔4cがあけら
れており、プローブ先端が透孔内に遊嵌されてい
る。またフローテイングプレート4の上面にはこ
こに載置されるIC6の外形に合つた形状の凹部
4aが設けられてICの位置決め機能を持たせて
ある。この載置されたIC6の上側にはこのIC6
の上面に密着する下面を有するカバー板7を置
き、押え部材8でIC6をカバー板7とフローテ
イングプレート4との間に挟持してフローテイン
グプレート4を本体1の方向に押圧する。前記カ
バー板7は放熱板を兼ねることが好ましい。な
お、第2図示のようにIC6には接続端子として
バンプ6aが設けられているので、フローテイン
グプレート4の透孔4cの上側開口端には上記バ
ンプ6aと係合する窪み4bが設けられていて、
この部分でスプリングプローブ2の先端とバンプ
6aとが接触するようになつている。スプリング
プローブ2はレセプタクル2−1とこの内部に摺
動自在に把持されているプローブ2−2及びプロ
ーブ2−2を上方に押し出しているスプリング2
−3よりなるもので、プローブ2−2の先端は内
蔵のスプリング2−3により押し込まれた先端と
バンプ6aとが一定の押圧力で接触するようにな
つている。
〔発明の効果〕
上述のように本発明によればICをフローテイ
ングプレート上面の凹部にバンプを下向きにして
挿入するだけで位置合せが出来、カバー板でIC
を押し込めばすべてのバンプがスプリングプロー
ブに接触するとともにカバー板そのものが放熱板
としての機能を持つているので、過熱によるIC
と破損を防ぐことが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のICソケツトの縦断面図、第
2図はフローテイングプレートが上昇した状態の
一部分の拡大断面図である。 1……本体、2……スプリングプローブ、3…
…ガイドピン、4……フローテイングプレート、
4a……凹部(位置決め手段)、4c……透孔、
6……IC、6a……バンプ、7……カバー板、
8……押え部材。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数のスプリングプローブを設けた本体と、
    この本体上に上下動可能に取付けられかつ上方へ
    弾圧されているフローテイングプレートと、この
    フローテイングプレート上に検査されるべきIC
    を挟んで載置されるカバー板とを備えたICソケ
    ツトにおいて、 前記フローテイングプレートにはICの位置決
    め手段を設け、前記カバー板を押圧したとき前記
    ICのバンプが、押圧されて下降した前記フロー
    テイングプレートを介してそれぞれ対応したスプ
    リングプローブの先端に接触する構造としたこと
    を特徴とするICソケツト。 2 複数のスプリングプローブを設けた本体と、
    この本体上に上下動可能に取付けられかつ上方へ
    弾圧されているフローテイングプレートと、この
    フローテイングプレート上に検査されるべきIC
    を挟んで載置されるカバー板とを備えたICソケ
    ツトにおいて、前記カバー板を押圧しない状態で
    は前記スプリングプローブの先端は、前記ICの
    バンプに対応してフローテイングプレートに明け
    られた透孔内に位置するように設けられたことを
    特徴とするICソケツト。
JP60218304A 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト Granted JPS6276274A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60218304A JPS6276274A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60218304A JPS6276274A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6276274A JPS6276274A (ja) 1987-04-08
JPH0361998B2 true JPH0361998B2 (ja) 1991-09-24

Family

ID=16717738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60218304A Granted JPS6276274A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 Icソケツト

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6276274A (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0526543Y2 (ja) * 1987-04-27 1993-07-05
JPS63291375A (ja) * 1987-05-22 1988-11-29 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
JPH01119043A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
JPH05209933A (ja) * 1992-01-29 1993-08-20 Nec Corp 被測定物位置出し機構付きコンタクタおよびそれを用いた自動選別装置
US5247250A (en) * 1992-03-27 1993-09-21 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket
US5791914A (en) * 1995-11-21 1998-08-11 Loranger International Corporation Electrical socket with floating guide plate
US5647756A (en) * 1995-12-19 1997-07-15 Minnesota Mining And Manufacturing Integrated circuit test socket having toggle clamp lid
US5788526A (en) * 1996-07-17 1998-08-04 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket having compliant lid and mechanical advantage latch
JP2002270321A (ja) * 2001-03-07 2002-09-20 Advanex Inc 半導体パッケージ用ソケット

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4921417U (ja) * 1972-05-26 1974-02-23
JPS5830295U (ja) * 1981-08-24 1983-02-26 山一電機工業株式会社 集積回路板用ソケツト
JPS59218762A (ja) * 1983-05-26 1984-12-10 Fujitsu Ltd リ−ドレスチツプキヤリアの実装方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6276274A (ja) 1987-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0361998B2 (ja)
CN110031748A (zh) 集成电路元件测试装置及测试方法
JPH0361997B2 (ja)
CN213423238U (zh) 一种芯片检测夹具
KR950033507A (ko) Ic 측정시험장치 및 이것을 사용한 ic 측정시험방법
US5929649A (en) Method and apparatus for electrical parasitic measurement of pin grid array
US6544044B2 (en) Socket for BGA package
CN223217532U (zh) 一种高适配性的芯片测试座
US5831443A (en) Probe card array check plate with transition zones
JPH0515431U (ja) Ic試験装置のテストヘツドと試料との接続機構
JPS6258778U (ja)
JPH0310274U (ja)
US20020074640A1 (en) Semiconductor test socket having pogo-pin contacts
JP3070517B2 (ja) Bga型icパッケージ用のicソケット
KR20040029564A (ko) 테스트 소켓
CN221378029U (zh) 一种长管脚封装测试插座
CN215953664U (zh) 一种兼容不同pin数金手指测试的夹子治具
JPH0310273U (ja)
JP2555716Y2 (ja) テストヘッド
JPH0441342Y2 (ja)
JP3110417B2 (ja) 電子デバイス検査用アダプタ
JPS6258780U (ja)
JP2549936Y2 (ja) 電子部品検査器における電子部品装着具
JPH0363935U (ja)
US6079989A (en) Electrical connection device having electrical connection members with a tubular body and a sliding tip

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees