JPH0362052B2 - - Google Patents
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- JPH0362052B2 JPH0362052B2 JP58153986A JP15398683A JPH0362052B2 JP H0362052 B2 JPH0362052 B2 JP H0362052B2 JP 58153986 A JP58153986 A JP 58153986A JP 15398683 A JP15398683 A JP 15398683A JP H0362052 B2 JPH0362052 B2 JP H0362052B2
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- clock
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/0805—Details of the phase-locked loop the loop being adapted to provide an additional control signal for use outside the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/027—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
- H03K3/03—Astable circuits
- H03K3/0315—Ring oscillators
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/15—Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/089—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
- H03L7/0891—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump
-
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- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
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- H03L7/099—Details of the phase-locked loop concerning mainly the controlled oscillator of the loop
- H03L7/0995—Details of the phase-locked loop concerning mainly the controlled oscillator of the loop the oscillator comprising a ring oscillator
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、MOS回路やVLSI回路に適した自己
校正型クロツク及びタイミング信号発生器に関す
る。
校正型クロツク及びタイミング信号発生器に関す
る。
集積回路、特に、MOSやVLSI技術の開発が進
んで、一つのチツプの上ひより多くの回路部品を
載せられるようになるにつれ、これらの回路にデ
ジタル形式の自己校正クロツク及びタイミング発
生器がそのチツプ上に形成されるという願望が強
くなつている。
んで、一つのチツプの上ひより多くの回路部品を
載せられるようになるにつれ、これらの回路にデ
ジタル形式の自己校正クロツク及びタイミング発
生器がそのチツプ上に形成されるという願望が強
くなつている。
現在のところ、信号のタイミングやクロツク
は、オフチツプすなわちチツプの外に別に設けた
集積回路で発生させている。これらの集積回路
は、ワンシヨツトマルチバイブレータ、位相ロツ
クループ(PLL)装置、バイポーラ技術による
分離型信号クロツク発生装置等、種々の従来技術
を用いたものである。また、これらの従来技術に
よるタイミング又はクロツク発生装置では、タイ
ミング又はクロツク期間が正常であるかどうかを
点検する為に一部にアナログ回路を採用してい
る。上記の点検はタイミング又はクロツク期間が
常に正確であることを確かめる為、定期的に行わ
れる。しかし、この点検により、データの誤動作
やロスが生じ、結果として、回路利用の面から見
ると、タイミングやはクロツク動作は常に正確で
あるとは言えない。従つて、集積回路と同一チツ
プ上にクロツク動作及びタイミング回路を設け、
これを何らかの方法で、自己校正型として、いつ
までもタイミング精度を維持できるようにするこ
とが望まれる。
は、オフチツプすなわちチツプの外に別に設けた
集積回路で発生させている。これらの集積回路
は、ワンシヨツトマルチバイブレータ、位相ロツ
クループ(PLL)装置、バイポーラ技術による
分離型信号クロツク発生装置等、種々の従来技術
を用いたものである。また、これらの従来技術に
よるタイミング又はクロツク発生装置では、タイ
ミング又はクロツク期間が正常であるかどうかを
点検する為に一部にアナログ回路を採用してい
る。上記の点検はタイミング又はクロツク期間が
常に正確であることを確かめる為、定期的に行わ
れる。しかし、この点検により、データの誤動作
やロスが生じ、結果として、回路利用の面から見
ると、タイミングやはクロツク動作は常に正確で
あるとは言えない。従つて、集積回路と同一チツ
プ上にクロツク動作及びタイミング回路を設け、
これを何らかの方法で、自己校正型として、いつ
までもタイミング精度を維持できるようにするこ
とが望まれる。
チツプ上にあつても、クロツク及びタイミング
回路をアナログ回路とすると、ウエーハの連続処
理中に物理特性及び電気特性の変化が生じて問題
が多い。ウエーハからウエーハへ、均一にクロツ
ク及び信号タイミングを発生させるのは、製品仕
様の精度要求が高い場合極めて難しく、特に、ク
ロツク動作及び信号タイミングの発生特性を製造
された回路のパラメータに応じて変えなければな
らない場合、バツチ処理で上記発生特性に均一性
を付与するのは、nMOS等のMOS技術では不可
能に等しい。現在は、複合タイミングインターフ
エース回路を用いて、クロツク動作及びタイミン
グ信号を発生させ、この信号が所定の調整機能を
遂行できるように出力する前に信号の精度を確か
める為の手段を設けている。しかし、いかにすれ
ば確かな精度でnMOS等のMOS/VLSIに調整機
能を実現できるか、又、いかにして信号の遷移エ
ツジの発生時を正確につかむか、又、クロツク動
作やタイミング信号発生を導入しているnMOSに
於いて、遷移エツジと遷移エツジの間にはいかな
る分解能が存在するか等、今尚、方法論の確立で
きない問題が多い。
回路をアナログ回路とすると、ウエーハの連続処
理中に物理特性及び電気特性の変化が生じて問題
が多い。ウエーハからウエーハへ、均一にクロツ
ク及び信号タイミングを発生させるのは、製品仕
様の精度要求が高い場合極めて難しく、特に、ク
ロツク動作及び信号タイミングの発生特性を製造
された回路のパラメータに応じて変えなければな
らない場合、バツチ処理で上記発生特性に均一性
を付与するのは、nMOS等のMOS技術では不可
能に等しい。現在は、複合タイミングインターフ
エース回路を用いて、クロツク動作及びタイミン
グ信号を発生させ、この信号が所定の調整機能を
遂行できるように出力する前に信号の精度を確か
める為の手段を設けている。しかし、いかにすれ
ば確かな精度でnMOS等のMOS/VLSIに調整機
能を実現できるか、又、いかにして信号の遷移エ
ツジの発生時を正確につかむか、又、クロツク動
作やタイミング信号発生を導入しているnMOSに
於いて、遷移エツジと遷移エツジの間にはいかな
る分解能が存在するか等、今尚、方法論の確立で
きない問題が多い。
本発明の主たる目的は、集積回路の連続処理に
必要な物理特性及び電気特性と相関関係を持たず
に、MOS技術で自己校正型のクロツク及び信号
タイミング発生器を提供することにある。
必要な物理特性及び電気特性と相関関係を持たず
に、MOS技術で自己校正型のクロツク及び信号
タイミング発生器を提供することにある。
課題を解決するための手段
本発明によれば、予め選択可能なエツジ分解能
のデジタル波形を連続的に且つ信頼性高く発生で
きる自己校正型クロツク及びタイミング発生器が
提供される。この本発明による発生器は、連続的
に接続されて多段手段を構成する複数の遅延段の
出力から、予選択可能なエツジ分解能の遅延信号
を作り出す多段手段を備えている。この多段手段
の各段の遅延は互いに等しく、前記複数の出力の
いずれかを選ぶことによつて該多段手段への入力
信号に対する所定量の遅延を与えている。また、
前記多段手段を構成する遅延段の各々と同一構造
の複数の遅延段を有する電圧制御発振器を含んで
いる校正手段を備えており、この校正手段は制御
信号を発生してこの制御信号を前記多段手段に与
え、各段毎の前記所定量の遅延を連続して維持し
ている。
のデジタル波形を連続的に且つ信頼性高く発生で
きる自己校正型クロツク及びタイミング発生器が
提供される。この本発明による発生器は、連続的
に接続されて多段手段を構成する複数の遅延段の
出力から、予選択可能なエツジ分解能の遅延信号
を作り出す多段手段を備えている。この多段手段
の各段の遅延は互いに等しく、前記複数の出力の
いずれかを選ぶことによつて該多段手段への入力
信号に対する所定量の遅延を与えている。また、
前記多段手段を構成する遅延段の各々と同一構造
の複数の遅延段を有する電圧制御発振器を含んで
いる校正手段を備えており、この校正手段は制御
信号を発生してこの制御信号を前記多段手段に与
え、各段毎の前記所定量の遅延を連続して維持し
ている。
本発明においては、前記の校正手段を、電圧制
御発振器(VCO)の周波数を基準周波数に一致
させるように調整する自動周波数制御(AFC)
ループによつて構成できる。また、電圧制御発振
器(VCO)を複数の直列接続された遅延段によ
つて構成でき、制御電圧が各段に供給されて
VCOの周期または周波数を制御する。
御発振器(VCO)の周波数を基準周波数に一致
させるように調整する自動周波数制御(AFC)
ループによつて構成できる。また、電圧制御発振
器(VCO)を複数の直列接続された遅延段によ
つて構成でき、制御電圧が各段に供給されて
VCOの周期または周波数を制御する。
その制御電圧は、VCOの周波数を制御するの
に用いられる一方、多段手段を構成する各段の遅
延を調整する為にも用いられ得る。多段手段は遅
延ラインの段で構成でき、VCOの段も同一構造
に構成できる。すなわち、多段手段は、本質的に
は、VCO用の制御電圧に基づいたデジタルの信
号伝搬速度を有するタツプ付きの遅延ラインであ
る。制御電圧は、回路の構成要素のパラメータや
数値には関係なく、VCO周波数を比較する為に
用いられる基準周波数にのみ関係するので、遅延
ラインの段毎の遅延は、常時校正され正確に保た
れ、極めて正確な、オンチツプ型のクロツク動作
やタイミングが可能になる。
に用いられる一方、多段手段を構成する各段の遅
延を調整する為にも用いられ得る。多段手段は遅
延ラインの段で構成でき、VCOの段も同一構造
に構成できる。すなわち、多段手段は、本質的に
は、VCO用の制御電圧に基づいたデジタルの信
号伝搬速度を有するタツプ付きの遅延ラインであ
る。制御電圧は、回路の構成要素のパラメータや
数値には関係なく、VCO周波数を比較する為に
用いられる基準周波数にのみ関係するので、遅延
ラインの段毎の遅延は、常時校正され正確に保た
れ、極めて正確な、オンチツプ型のクロツク動作
やタイミングが可能になる。
本発明によれば、一段又は複数段の遅延に等し
い予選択可能なエツジ分解能を有する任意の波形
を、遅延ラインのタツプ出力として得ることがで
きる。このタツプ出力に、従来の論理機能や論理
回路構成を組合せれば、任意の所望のデジタル波
形が、遅延ラインの段毎の既知の分解能(遅延時
間)に限定された状態で、選択することが可能と
なる。かかる回路は、一体化されて自己校正でき
るクロツクやタイミングの発生器を含むように設
計でき、例えば、デバイスコントローラやメモリ
インタフエースや他の集積回路を一個のチツプに
集積するという要求に合わせることができる。
い予選択可能なエツジ分解能を有する任意の波形
を、遅延ラインのタツプ出力として得ることがで
きる。このタツプ出力に、従来の論理機能や論理
回路構成を組合せれば、任意の所望のデジタル波
形が、遅延ラインの段毎の既知の分解能(遅延時
間)に限定された状態で、選択することが可能と
なる。かかる回路は、一体化されて自己校正でき
るクロツクやタイミングの発生器を含むように設
計でき、例えば、デバイスコントローラやメモリ
インタフエースや他の集積回路を一個のチツプに
集積するという要求に合わせることができる。
MOS技術で製造したクロツク又はタイミング
発生器は、MOS技術処理や環境(例えば温度変
化)等には無関係で製造されるので、極めて正確
に実現される一方、オンチツプ型でもクロツク動
作及びタイミングの分解能も極めて高度になる利
点が生まれる。
発生器は、MOS技術処理や環境(例えば温度変
化)等には無関係で製造されるので、極めて正確
に実現される一方、オンチツプ型でもクロツク動
作及びタイミングの分解能も極めて高度になる利
点が生まれる。
又、単一MOSチツプ上に設けた幾つかの異種
のサブシステムを非同期で操作する為の、非同期
クロツク動作も容易に実現可能である。チツプ上
のサブシステムに、各自クロツク源を設ければ、
同一チツプ上に設けられた一つ一つのクロツク源
を他の幾つかのクロツク発生源、又は、他の全て
のクロツク発生源と非同期とすることができる。
いずれにしても、同期、非同期に係わらず、自己
校正型クロツク及びタイミングが、チツプ上のサ
ブシステム全体に供給される多段の遅延ライン付
きの単一のAFCループから発生でき、あるいは
チツプ上のサブシステム全体に供給される多段の
遅延ラインとAFCループとの組合わせから発生
できる。
のサブシステムを非同期で操作する為の、非同期
クロツク動作も容易に実現可能である。チツプ上
のサブシステムに、各自クロツク源を設ければ、
同一チツプ上に設けられた一つ一つのクロツク源
を他の幾つかのクロツク発生源、又は、他の全て
のクロツク発生源と非同期とすることができる。
いずれにしても、同期、非同期に係わらず、自己
校正型クロツク及びタイミングが、チツプ上のサ
ブシステム全体に供給される多段の遅延ライン付
きの単一のAFCループから発生でき、あるいは
チツプ上のサブシステム全体に供給される多段の
遅延ラインとAFCループとの組合わせから発生
できる。
クロツクを発生させるのに遅延ラインを用いる
のは決して目新しい技術ではないが(1980年に
Addison−Wesley Publishing Companyから出
版されたCarver Mead及びLynn Conwayの著作
による『Introduction to VLSI systems』とい
う表題の本の233頁〜236頁のVLSIシステムのタ
イミングに於けるクロツクの発生に関する既述を
参照のこと)、遅延ラインを自己校正型とした点
はこの分野に於ける新規な発明である。
のは決して目新しい技術ではないが(1980年に
Addison−Wesley Publishing Companyから出
版されたCarver Mead及びLynn Conwayの著作
による『Introduction to VLSI systems』とい
う表題の本の233頁〜236頁のVLSIシステムのタ
イミングに於けるクロツクの発生に関する既述を
参照のこと)、遅延ラインを自己校正型とした点
はこの分野に於ける新規な発明である。
実施例
以下、本発明を添付図面に沿つて説明する。
第1図に示す通り、本発明の自己校正型クロツ
ク及びタイミング信号発生器10には、自動周波
数制御(AFC)ループ12が設けてあり、この
AFCループ12には基準周波数Rfが入力14と
して供給される。ループ12は、基準周波数又
は、基準周波数を数倍した周波数で、電圧制御発
振器(VCO)18を駆動させる。この駆動は、
従来通りの方法で行われる。即ち、VCO18の
出力周波数Ofを基準周波数Rfと比較し、制御電
圧Vcを生じさせる。このVcを次にVCOに印加し
て、VCOの周波数をRfと一致させるという方法
である。この制御電圧Vcは、遅延ライン16を
構成する多段手段の操作を制御して、入力15に
入力される信号に、予め遅延を選択・設定する
(すなわちエツジ分解能を予選択できる)為にも
用いられる。この方法によれば、遅延ライン16
を構成する要素は、事実上、VCO18の構成要
素と同一であり、VCOの単位遅延は、AFCルー
プ12を操作することにより、簡単に分かるの
で、遅延ライン16による単位遅延も容易に判明
するという利点がある。従つて、入力信号の予選
択分割を、オンチツプ型のクロツク及びタイミン
グ発生器に実現することも容易に可能である。
ク及びタイミング信号発生器10には、自動周波
数制御(AFC)ループ12が設けてあり、この
AFCループ12には基準周波数Rfが入力14と
して供給される。ループ12は、基準周波数又
は、基準周波数を数倍した周波数で、電圧制御発
振器(VCO)18を駆動させる。この駆動は、
従来通りの方法で行われる。即ち、VCO18の
出力周波数Ofを基準周波数Rfと比較し、制御電
圧Vcを生じさせる。このVcを次にVCOに印加し
て、VCOの周波数をRfと一致させるという方法
である。この制御電圧Vcは、遅延ライン16を
構成する多段手段の操作を制御して、入力15に
入力される信号に、予め遅延を選択・設定する
(すなわちエツジ分解能を予選択できる)為にも
用いられる。この方法によれば、遅延ライン16
を構成する要素は、事実上、VCO18の構成要
素と同一であり、VCOの単位遅延は、AFCルー
プ12を操作することにより、簡単に分かるの
で、遅延ライン16による単位遅延も容易に判明
するという利点がある。従つて、入力信号の予選
択分割を、オンチツプ型のクロツク及びタイミン
グ発生器に実現することも容易に可能である。
これまでにも、遅延回路に、クロツク及びタイ
ミング信号発生を併用した例はあるが、これらは
全て、分離型、又は非調整型で、アナログ回路に
よるものであり、性能が低く、旧弊な設計で、誤
動作や機能不良の率が高かつた。本発明のクロツ
ク及びタイミング信号発生器は、外部の周波数に
よつて校正されて調節されるので、予選択可能な
信号分解能を得ることができ、しかもその信号分
解能は正確に且つ精度高く調節ができる上に、常
時高い信頼性を保証されるので、本発明のクロツ
ク及びタイミング信号発生器は、種々のタイミン
グ機能を最適な形で実現できる。
ミング信号発生を併用した例はあるが、これらは
全て、分離型、又は非調整型で、アナログ回路に
よるものであり、性能が低く、旧弊な設計で、誤
動作や機能不良の率が高かつた。本発明のクロツ
ク及びタイミング信号発生器は、外部の周波数に
よつて校正されて調節されるので、予選択可能な
信号分解能を得ることができ、しかもその信号分
解能は正確に且つ精度高く調節ができる上に、常
時高い信頼性を保証されるので、本発明のクロツ
ク及びタイミング信号発生器は、種々のタイミン
グ機能を最適な形で実現できる。
第1図で、VCO18の出力は、分周器20に
送られ、ここで、一定の約数又は因数で割られ
る。次に、分周器20の出力Ofは位相/周波数
比較器22へ送られ、ここで基準周波数Rfと比
較される。比較器22の出力は、ループフイルタ
及びレベルシフタ24に送られる。ループフイル
タ及びレベルシフタ24は制御電圧Vcをライン
26に出力する。Vcは、RfとOf間の位相の差の
量を示す比較器22のパルス信号に応じて変化す
る。ライン26は、タツプ付き遅延ライン16と
VCO18の双方に接続され、これら二つの多段
装置によつて作り出される単位遅延を制御する。
送られ、ここで、一定の約数又は因数で割られ
る。次に、分周器20の出力Ofは位相/周波数
比較器22へ送られ、ここで基準周波数Rfと比
較される。比較器22の出力は、ループフイルタ
及びレベルシフタ24に送られる。ループフイル
タ及びレベルシフタ24は制御電圧Vcをライン
26に出力する。Vcは、RfとOf間の位相の差の
量を示す比較器22のパルス信号に応じて変化す
る。ライン26は、タツプ付き遅延ライン16と
VCO18の双方に接続され、これら二つの多段
装置によつて作り出される単位遅延を制御する。
次に第2図について説明する。第2図は、第1
図の発生器の特徴をより詳しく示す図である。発
生器回路の特徴のうち、第2図に説明しきれなか
つた部分は、第3図乃至第7図に詳細に図示す
る。
図の発生器の特徴をより詳しく示す図である。発
生器回路の特徴のうち、第2図に説明しきれなか
つた部分は、第3図乃至第7図に詳細に図示す
る。
VCO18の段は複数の電圧制御遅延段30で
構成されている。第2図の実施例では遅延段30
の数は5個である。各段30は、基本的構成要素
としてインバータ32を有し、インバータ32の
前には、トランジスタ34が置かれている。各段
30は、VDD及びGND(接地)に接続されている
(第2図のVCO18の中央段参照)。VCO18の
出力36はインバータ38に送られる。インバー
タ38は緩衝器の役目を果たし、VCOを外部の
負荷から絶縁し、VCOに所定の負荷キヤパシタ
ンス以上のキヤパシタンスがかからないようにす
る。出力36は、VCO18の第一段のトランジ
スタにも接続されており、リング発振器構造を構
成して、回路始動を不要としている。インバータ
38の出力は分周器20へ入力される。インバー
タ38によりVCO出力36は、反転されるが、
比較器22の比較対象となるのは、この信号の周
波数のみであるので、この反転は何ら支障をもた
らさない。
構成されている。第2図の実施例では遅延段30
の数は5個である。各段30は、基本的構成要素
としてインバータ32を有し、インバータ32の
前には、トランジスタ34が置かれている。各段
30は、VDD及びGND(接地)に接続されている
(第2図のVCO18の中央段参照)。VCO18の
出力36はインバータ38に送られる。インバー
タ38は緩衝器の役目を果たし、VCOを外部の
負荷から絶縁し、VCOに所定の負荷キヤパシタ
ンス以上のキヤパシタンスがかからないようにす
る。出力36は、VCO18の第一段のトランジ
スタにも接続されており、リング発振器構造を構
成して、回路始動を不要としている。インバータ
38の出力は分周器20へ入力される。インバー
タ38によりVCO出力36は、反転されるが、
比較器22の比較対象となるのは、この信号の周
波数のみであるので、この反転は何ら支障をもた
らさない。
VCO18は、制御電圧Vcがライン26を介し
て各段30の各トランジスタ34に与えられると
作動する。トランジスタ34は可変抵抗器として
働きVcにより制御される。Vcは比較器22の出
力に応じて変化する。Vcの変化に応じてトラン
ジスタ34の抵抗値も変化するので各段30の
RC遅延は常時変化する。Vcはアナログ電圧であ
り、Vcが低くなるとトランジスタ34の抵抗は
大となり、Vcが高くなるとトランジスタ34の
抵抗は小となる。これに対応してVCO18の周
波数も減少又は増加し、Rf又はその倍数と一致
させるべく調節が行なわれる。
て各段30の各トランジスタ34に与えられると
作動する。トランジスタ34は可変抵抗器として
働きVcにより制御される。Vcは比較器22の出
力に応じて変化する。Vcの変化に応じてトラン
ジスタ34の抵抗値も変化するので各段30の
RC遅延は常時変化する。Vcはアナログ電圧であ
り、Vcが低くなるとトランジスタ34の抵抗は
大となり、Vcが高くなるとトランジスタ34の
抵抗は小となる。これに対応してVCO18の周
波数も減少又は増加し、Rf又はその倍数と一致
させるべく調節が行なわれる。
VCO18の出力の周期、即ち、1サイクルは、
全ての段30の遅延の合計の二倍に相当する。こ
れは、周期の半分の間、全段が高パルスで、残り
の半分の間は、全段が低パルスとなる為である。
段当りの遅延(To)は以下の式で求められる。
全ての段30の遅延の合計の二倍に相当する。こ
れは、周期の半分の間、全段が高パルスで、残り
の半分の間は、全段が低パルスとなる為である。
段当りの遅延(To)は以下の式で求められる。
To=1/Rf×D×2×S
式中、Rfは、基準周波数、Dは分周器20の
約数即ち除数、SはVCOの段の数である。一例
として、Rfが10MHz、Dが4、Sが5段(第2
図の実施例による)とすると、一段当りの遅延
は、2.5nsとなる。
約数即ち除数、SはVCOの段の数である。一例
として、Rfが10MHz、Dが4、Sが5段(第2
図の実施例による)とすると、一段当りの遅延
は、2.5nsとなる。
分周器20は、VCOの出力を割り算して、周
波数Ofを出し、これを基準周波数Rfと比較する
為に、比較器22に送る。この割り算の除数は、
1以上のいかなる整数でもよい。例えば、除数を
4、基準周波数を10MHz、VCOの段を5段とす
れば、VCOの周波数は40MHzとなる。
波数Ofを出し、これを基準周波数Rfと比較する
為に、比較器22に送る。この割り算の除数は、
1以上のいかなる整数でもよい。例えば、除数を
4、基準周波数を10MHz、VCOの段を5段とす
れば、VCOの周波数は40MHzとなる。
前述の如く、位相/周波数比較器22は、Rf
をOfと比較し、RfとOfの位相が同一でない時に
は、第7図の『上』及び『下』と名付けられた二
つのパルス信号の内、いずれか一方を出力する。
例えば、Rf用のパルスの立上りエツジが比較器
22の入力端子に到着する前に、Of用のパルス
の立上りエツジが到着した場合には、比較器22
は、『下』すなわちDOWNパルスを発生し始め、
Rf用のパルスの立上りエツジが、到着すると、
そのパルスの発生を終了する。同様に、Rf用パ
ルスの立上りエツジがOf用パルスの立上りエツ
ジより前に到着した場合には、前記二つのパルス
の到着に於ける位相ずれの間だけ、『上』すなわ
ちUPパルスが発せられる。
をOfと比較し、RfとOfの位相が同一でない時に
は、第7図の『上』及び『下』と名付けられた二
つのパルス信号の内、いずれか一方を出力する。
例えば、Rf用のパルスの立上りエツジが比較器
22の入力端子に到着する前に、Of用のパルス
の立上りエツジが到着した場合には、比較器22
は、『下』すなわちDOWNパルスを発生し始め、
Rf用のパルスの立上りエツジが、到着すると、
そのパルスの発生を終了する。同様に、Rf用パ
ルスの立上りエツジがOf用パルスの立上りエツ
ジより前に到着した場合には、前記二つのパルス
の到着に於ける位相ずれの間だけ、『上』すなわ
ちUPパルスが発せられる。
UP(『上』)及びDOWN(『下』)パルスは、出力
40及び42から、VDDとGNDの間に接続された
一対のエンハンスメントトランジスタ44及び4
6で構成されるポンプ28を変更するように供給
される。DOWNパルス出力40は、トランジス
タ44のベースに送られ、UPパルス出力42は、
トランジスタ46のベースに送られる。トランジ
スタ44のベースに入力されたパルスは、VDD
を、ループフイルタ24Aの入力端子48へ切り
変える働きをする。トランジスタ46のベースに
入力されたパルスは、ループフイルタ24Aを
GNDに切り換える。
40及び42から、VDDとGNDの間に接続された
一対のエンハンスメントトランジスタ44及び4
6で構成されるポンプ28を変更するように供給
される。DOWNパルス出力40は、トランジス
タ44のベースに送られ、UPパルス出力42は、
トランジスタ46のベースに送られる。トランジ
スタ44のベースに入力されたパルスは、VDD
を、ループフイルタ24Aの入力端子48へ切り
変える働きをする。トランジスタ46のベースに
入力されたパルスは、ループフイルタ24Aを
GNDに切り換える。
ループフイルタ24Aは、狭帯域で低減衰率の
AFCループを構成する二次ループフイルタであ
る。ループフイルタ24Aは、入力とGNDの間
に接続されたRCネツトワークR1及びC、と、R1
とCの間に接続された減衰抵抗器R2で構成され
る。ループフイルタ24Aの出力50は、転倒形
レベルシフタ24Bへ入力される。ループフイル
タ24AのR1及びCの数値は、RCの時定数をか
なり大きくし、帯域幅を低くするように決定され
て、ループがその入力端子に生じた変化に過激に
反応しないようにされる。
AFCループを構成する二次ループフイルタであ
る。ループフイルタ24Aは、入力とGNDの間
に接続されたRCネツトワークR1及びC、と、R1
とCの間に接続された減衰抵抗器R2で構成され
る。ループフイルタ24Aの出力50は、転倒形
レベルシフタ24Bへ入力される。ループフイル
タ24AのR1及びCの数値は、RCの時定数をか
なり大きくし、帯域幅を低くするように決定され
て、ループがその入力端子に生じた変化に過激に
反応しないようにされる。
抵抗器R2は、R1と比べると、抵抗値がかなり
小さくループ動作に減衰と安定を与える。R1と
R2の間の出力50は、基本的には、R2と共に分
圧器を構成し、シフタ24Bに送る出力信号への
リプルを小さくしている。これとは別に、大型コ
ンデンサCの拡散領域に十分な固有抵抗を持たせ
て、ループの安定を期すことも可能である。出力
50に表れるリプルは実際には問題とならない。
これは、ループがある電圧値にロツクされると、
UP及びDOWNパルスは極めて幅の狭いパルスと
なり、そのリプルはループ回路でほとんど濾波さ
れてしまうからである。
小さくループ動作に減衰と安定を与える。R1と
R2の間の出力50は、基本的には、R2と共に分
圧器を構成し、シフタ24Bに送る出力信号への
リプルを小さくしている。これとは別に、大型コ
ンデンサCの拡散領域に十分な固有抵抗を持たせ
て、ループの安定を期すことも可能である。出力
50に表れるリプルは実際には問題とならない。
これは、ループがある電圧値にロツクされると、
UP及びDOWNパルスは極めて幅の狭いパルスと
なり、そのリプルはループ回路でほとんど濾波さ
れてしまうからである。
例えば、ループ24Aの各構成要素の数値とし
て、R1を約200KΩ、R2を約40KΩ、Cを約100pF
とすることができる。転倒形レベルシフタ24B
の目的は、VCO18の操作に用いることができ
るように電圧レベルを所定の範囲に調節すること
にあり、即ち、出力50の電圧レベルをVCO1
8の各段の入力端子に制御電圧として受け入れ可
能な電圧レベルにシフトすることにある。エンハ
ンスメントトランジスタ44は、それ自身及び電
流閾値に応じて電圧降下を生じるので、VDDと等
しい電圧をコンデンサCに蓄えることは到底不可
能である。しかし、VCOの周波数操作の範囲は
VcがVDDに等しい時VCOが最大周波数となる。
従つて、シフタ24BはVCO18の操作に必要
な入力要求を見合うように電圧レベルをシフトす
る変換器の役割を果たす。
て、R1を約200KΩ、R2を約40KΩ、Cを約100pF
とすることができる。転倒形レベルシフタ24B
の目的は、VCO18の操作に用いることができ
るように電圧レベルを所定の範囲に調節すること
にあり、即ち、出力50の電圧レベルをVCO1
8の各段の入力端子に制御電圧として受け入れ可
能な電圧レベルにシフトすることにある。エンハ
ンスメントトランジスタ44は、それ自身及び電
流閾値に応じて電圧降下を生じるので、VDDと等
しい電圧をコンデンサCに蓄えることは到底不可
能である。しかし、VCOの周波数操作の範囲は
VcがVDDに等しい時VCOが最大周波数となる。
従つて、シフタ24BはVCO18の操作に必要
な入力要求を見合うように電圧レベルをシフトす
る変換器の役割を果たす。
シフタ24Bは、第2図に示すように、それぞ
れVDDとGNDに接続された2つの抵抗器R3とR4
の間に接続された入力エンハンスメントトランジ
スタ52を有する。トランジスタ52のベースに
十分な電圧が印加されてトランジスタ52が導通
状態となつている時、R3及びR4は分圧器として
働き、GNDとVDDの間電圧の分圧電圧が出力ライ
ン26に現れる。フイルタ24Aの出力がゼロす
なわちGNDに接続されている場合、トランジス
タ52は導通状態となり得ない。R3は空乏状態
にあり、トランジスタ52がオフであるから、
VDDは直接出力としてのライン26に接続され
る。従つて、フイルタ24Aからのループ出力5
0での電圧範囲の最も高い電圧値が、ライン26
のVcの電圧範囲の最も低い電圧値になり、フイ
ルタ24Aからのループ出力50での電圧範囲の
最も低い電圧値が、ライン26上のVc電圧範囲
の最も高い電圧値なることを理解されたい。かか
るVc電圧の最高及び最低の間において、その中
間電圧は、ループ出力50でシフタ24Bの入力
に印加できる電圧範囲の中間電圧に対して、ほヾ
直線関係をなす。
れVDDとGNDに接続された2つの抵抗器R3とR4
の間に接続された入力エンハンスメントトランジ
スタ52を有する。トランジスタ52のベースに
十分な電圧が印加されてトランジスタ52が導通
状態となつている時、R3及びR4は分圧器として
働き、GNDとVDDの間電圧の分圧電圧が出力ライ
ン26に現れる。フイルタ24Aの出力がゼロす
なわちGNDに接続されている場合、トランジス
タ52は導通状態となり得ない。R3は空乏状態
にあり、トランジスタ52がオフであるから、
VDDは直接出力としてのライン26に接続され
る。従つて、フイルタ24Aからのループ出力5
0での電圧範囲の最も高い電圧値が、ライン26
のVcの電圧範囲の最も低い電圧値になり、フイ
ルタ24Aからのループ出力50での電圧範囲の
最も低い電圧値が、ライン26上のVc電圧範囲
の最も高い電圧値なることを理解されたい。かか
るVc電圧の最高及び最低の間において、その中
間電圧は、ループ出力50でシフタ24Bの入力
に印加できる電圧範囲の中間電圧に対して、ほヾ
直線関係をなす。
これまでの説明で、AFCループ12が制御電
圧Vcを供給し、該制御電圧Vcが、VCO18の出
力周波数Ofを基準周波数Rfに同相となるように、
連続的に調節可能であることが明らかにされた。
従つて、VCO18の各段毎の遅延が、既述のTo
に従つて、同じ所定値に常に校正されることにな
る。
圧Vcを供給し、該制御電圧Vcが、VCO18の出
力周波数Ofを基準周波数Rfに同相となるように、
連続的に調節可能であることが明らかにされた。
従つて、VCO18の各段毎の遅延が、既述のTo
に従つて、同じ所定値に常に校正されることにな
る。
次に、タツプ付き遅延ライン16の構造を説明
する。遅延ライン16は、複数の遅延段60で構
成されている。遅延段60は、VCO18の各段
30と同じ構造を有しているので、トランジスタ
34とインバータ32は、VCO18のものと同
一符号で示してある。MOS/VLSI技術(即ち、
nMOS)によつて製造する場合、段30及び60
を構成する構成要素を同一の向きに配置して、製
造段階でマスク配列にずれが生じても、これらが
同一効果を受け、結果として、物理特性及び属性
が一となるようにしている。絶対にではないけれ
ど、できれば前記各段の構成要素はウエーハ即ち
チツプ製造時に一緒に製造して、チツプ上に大き
な製造上のずれが生じないようにすることが望ま
しい。さらに、できれば、上記二つの多段装置の
インピーダンス負荷に相似性を与えることが望ま
しい。インピーダンスを整合させることは簡単
で、整合させようとする段の近傍にもう一つ、コ
ンデンサを設ければ良い。このコンデンサは、例
えば容量性負荷として働く空乏層式トランジスタ
でできる。
する。遅延ライン16は、複数の遅延段60で構
成されている。遅延段60は、VCO18の各段
30と同じ構造を有しているので、トランジスタ
34とインバータ32は、VCO18のものと同
一符号で示してある。MOS/VLSI技術(即ち、
nMOS)によつて製造する場合、段30及び60
を構成する構成要素を同一の向きに配置して、製
造段階でマスク配列にずれが生じても、これらが
同一効果を受け、結果として、物理特性及び属性
が一となるようにしている。絶対にではないけれ
ど、できれば前記各段の構成要素はウエーハ即ち
チツプ製造時に一緒に製造して、チツプ上に大き
な製造上のずれが生じないようにすることが望ま
しい。さらに、できれば、上記二つの多段装置の
インピーダンス負荷に相似性を与えることが望ま
しい。インピーダンスを整合させることは簡単
で、整合させようとする段の近傍にもう一つ、コ
ンデンサを設ければ良い。このコンデンサは、例
えば容量性負荷として働く空乏層式トランジスタ
でできる。
以上のことから、遅延ライン16の各段60が
VCO18の各段30と事実上同一の遅延を有す
ることが明らかにされた。さて、遅延ライン16
の全段60に又は幾つかの選択した段60に、複
数のタツプ62を設けると、入力信号15の遅延
の種類を、予め選択したエツジ分解能を有する所
定の波形を有するように提供できる。これは、段
毎の遅延時間は知られた値であり、また、エツジ
分解能(信号転移)の点も前記のタツプ62を予
め選択することにより決定できるためである。タ
ツプ62はプログラム可能な論理回路64に適用
する場合に選択されて、公知の論理機能、例え
ば、ORゲート及びANDゲート、セツト/リセツ
トフリツプフロツプ等の機能を遂行し、さらに、
所望のクロツク信号や多相のクロツク信号やタイ
ミング信号を発して、集積回路(IC)やICサブ
システムの非同期操作や同期操作を制御する。論
理回路64に、マイクロコンピユータを設けて、
プログラム可能なコントローラとし、マイクロコ
ードに従つて、クロツク及びタイミング機能を遂
行させることも可能である。
VCO18の各段30と事実上同一の遅延を有す
ることが明らかにされた。さて、遅延ライン16
の全段60に又は幾つかの選択した段60に、複
数のタツプ62を設けると、入力信号15の遅延
の種類を、予め選択したエツジ分解能を有する所
定の波形を有するように提供できる。これは、段
毎の遅延時間は知られた値であり、また、エツジ
分解能(信号転移)の点も前記のタツプ62を予
め選択することにより決定できるためである。タ
ツプ62はプログラム可能な論理回路64に適用
する場合に選択されて、公知の論理機能、例え
ば、ORゲート及びANDゲート、セツト/リセツ
トフリツプフロツプ等の機能を遂行し、さらに、
所望のクロツク信号や多相のクロツク信号やタイ
ミング信号を発して、集積回路(IC)やICサブ
システムの非同期操作や同期操作を制御する。論
理回路64に、マイクロコンピユータを設けて、
プログラム可能なコントローラとし、マイクロコ
ードに従つて、クロツク及びタイミング機能を遂
行させることも可能である。
又、一例として、タツプ62のいずれか一つに
入力信号15を入力して、リング発振器を構成し
て、予め選択されたクロツク周期を有するクロツ
ク発生器とすることも可能である。この場合、所
望のことは、遅延ライン16の段毎の遅延の分解
能によつてだけ制限される区分によつて1周期を
分割することであるので、入力信号15はそれ自
身を基準周波数Rfとしてもよい。
入力信号15を入力して、リング発振器を構成し
て、予め選択されたクロツク周期を有するクロツ
ク発生器とすることも可能である。この場合、所
望のことは、遅延ライン16の段毎の遅延の分解
能によつてだけ制限される区分によつて1周期を
分割することであるので、入力信号15はそれ自
身を基準周波数Rfとしてもよい。
以下、第3図乃至第7図について説明する。第
3図乃至第7図に示す回路構成は、従来技術によ
る回路構成であるが、AFCループ12の回路構
成の詳細を説明する上で、関連があるので、簡略
に説明する。
3図乃至第7図に示す回路構成は、従来技術によ
る回路構成であるが、AFCループ12の回路構
成の詳細を説明する上で、関連があるので、簡略
に説明する。
第3図及び第5図は、分周器20で構成される
論理回路を示す図である。第3図の回路はVCO
18から1位相クロツク入力を取り、そのクロツ
クの二つの非重複位相を作り出す従来のクロツク
発生器である(前記した『Introduction to
VLSI systems』の229頁参照)。第4図は第3図
の超緩衝器SBの詳細を示す図である。この超緩
衝器SBは、二つのインバータを交差接続して、
位相のオーバーラツプを確実にしている。これに
ついては前記の『Introduction to VLSI
systems』の17〜18頁に詳しく説明されている。
論理回路を示す図である。第3図の回路はVCO
18から1位相クロツク入力を取り、そのクロツ
クの二つの非重複位相を作り出す従来のクロツク
発生器である(前記した『Introduction to
VLSI systems』の229頁参照)。第4図は第3図
の超緩衝器SBの詳細を示す図である。この超緩
衝器SBは、二つのインバータを交差接続して、
位相のオーバーラツプを確実にしている。これに
ついては前記の『Introduction to VLSI
systems』の17〜18頁に詳しく説明されている。
クロツクの位相は、次に、一連のシフトレジス
タの各段に入力される。第5図に示すように、こ
の一連のシフトレジスタと、入力ゲート63は、
従来のリングカウンタを構成している。段即ち隔
室の数は所要の除数と同数とする。最後のシフト
レジスタ隔室を除く、他の全ての隔室の出力は、
ゲート63でNOR処理されて、カウンタの最初
の隔室に入力として送られ、リングカウンタを構
成する。最後の隔室の出力Ofは、比較器22へ
入力される。第6図は第5図のシフトレジスタの
各段すなわち隔室の一つを詳細に示す図である。
このシフトレジスタ隔室は、従来技術によるもの
であり、前記『Introduction to VLSI systems』
の67頁に詳述されている。
タの各段に入力される。第5図に示すように、こ
の一連のシフトレジスタと、入力ゲート63は、
従来のリングカウンタを構成している。段即ち隔
室の数は所要の除数と同数とする。最後のシフト
レジスタ隔室を除く、他の全ての隔室の出力は、
ゲート63でNOR処理されて、カウンタの最初
の隔室に入力として送られ、リングカウンタを構
成する。最後の隔室の出力Ofは、比較器22へ
入力される。第6図は第5図のシフトレジスタの
各段すなわち隔室の一つを詳細に示す図である。
このシフトレジスタ隔室は、従来技術によるもの
であり、前記『Introduction to VLSI systems』
の67頁に詳述されている。
第7図は、位相/周波数比較器22の詳細図で
ある。比較器22も従来技術による回路であり、
交差接続のNORゲートを含めた一連のNORゲー
トと出力用のNORゲートで構成されている。比
較器22は、Motorola Corporation製の、
MC4300/MC4000シリーズの位相/周波数チツ
プと同様の構造を有する。この回路は、入力信号
Rf又はOfの遷移エツジに於て厳密に作動する。
出力端子40又は42から出力されるパルスの幅
は任意の時に与えられる信号Or及びOfに基づく
二つの入力パルスの遷移エツジの間の間隔に比例
する。
ある。比較器22も従来技術による回路であり、
交差接続のNORゲートを含めた一連のNORゲー
トと出力用のNORゲートで構成されている。比
較器22は、Motorola Corporation製の、
MC4300/MC4000シリーズの位相/周波数チツ
プと同様の構造を有する。この回路は、入力信号
Rf又はOfの遷移エツジに於て厳密に作動する。
出力端子40又は42から出力されるパルスの幅
は任意の時に与えられる信号Or及びOfに基づく
二つの入力パルスの遷移エツジの間の間隔に比例
する。
図示の実施例では、AFCループ12が制御電
圧Vcによつて単一の遅延ライン16を校正して
いる。多数の独立した遅延ラインがそれぞれ、1
つのAFCループ12からの制御電圧Vcによつて
制御されてもよい。例えば、各遅延ラインを各モ
ジユラーサブシステムにオンチツプで設けて、そ
のサブシステムにクロツク発生源として形成して
もよく、このサブシステムと同一のチツプ上に設
けられた他のサブシステムの遅延ラインを経由し
て送られてくる他のクロツク発生源と同期させる
ことも又非同期にすることも可能である。
圧Vcによつて単一の遅延ライン16を校正して
いる。多数の独立した遅延ラインがそれぞれ、1
つのAFCループ12からの制御電圧Vcによつて
制御されてもよい。例えば、各遅延ラインを各モ
ジユラーサブシステムにオンチツプで設けて、そ
のサブシステムにクロツク発生源として形成して
もよく、このサブシステムと同一のチツプ上に設
けられた他のサブシステムの遅延ラインを経由し
て送られてくる他のクロツク発生源と同期させる
ことも又非同期にすることも可能である。
第8図は、本発明に係る自己校正型クロツク及
びタイミング信号発生器の一例である。同図の発
生器70は、オーバラツプしないすなわち非重複
の任意のクロツクPhi1及びPhi2を発生する。
ここで、任意のというのは、Phi1及びPhi2の
波形を、位相もデユーテイサイクルも全く互いに
異なる周期を有する波形にできるという意味であ
る。上記の特性はタツプ付きの遅延ラインのどこ
にタツプを置くかによつて、予選択できる。
びタイミング信号発生器の一例である。同図の発
生器70は、オーバラツプしないすなわち非重複
の任意のクロツクPhi1及びPhi2を発生する。
ここで、任意のというのは、Phi1及びPhi2の
波形を、位相もデユーテイサイクルも全く互いに
異なる周期を有する波形にできるという意味であ
る。上記の特性はタツプ付きの遅延ラインのどこ
にタツプを置くかによつて、予選択できる。
第8図の遅延ライン72の全遅延時間は150ns
である。遅延ライン72には5つのタツプがあ
り、それぞれ、0ns、40ns、90ns、110ns、及び
150nsの段にタツプがついている。これらのタツ
プの出力は、プログラム可能な論理回路74に入
力される。遅延ライン72には、150nsの最終段
の出力が、フイードバツクライン76及びAND
ゲート78を経てフイードバツクしたフイードバ
ツク信号として入力される。ANDゲート78は、
入力80に可能化クロツクを与えられると作動す
る。
である。遅延ライン72には5つのタツプがあ
り、それぞれ、0ns、40ns、90ns、110ns、及び
150nsの段にタツプがついている。これらのタツ
プの出力は、プログラム可能な論理回路74に入
力される。遅延ライン72には、150nsの最終段
の出力が、フイードバツクライン76及びAND
ゲート78を経てフイードバツクしたフイードバ
ツク信号として入力される。ANDゲート78は、
入力80に可能化クロツクを与えられると作動す
る。
ANDゲート78が、可能化クロツク(第9図
の波形参照)を与えられて、作動状態となると、
ライン76上のフイードバツク信号が入力ライン
82を経て、遅延ライン72に入力される。従つ
て、このクロツクは、第9図の矢印84に示され
るように、可能化クロツクをオフしてゲート78
を不能とすれば、停止することができる。
の波形参照)を与えられて、作動状態となると、
ライン76上のフイードバツク信号が入力ライン
82を経て、遅延ライン72に入力される。従つ
て、このクロツクは、第9図の矢印84に示され
るように、可能化クロツクをオフしてゲート78
を不能とすれば、停止することができる。
遅延ライン72の周波数は、奇数番の段(段毎
との遅延Toを10nsとするこの例では15番目すな
わち最終の段)を選ぶことによつて設定でき、入
力ライン82にフイードバツクしてリング発振器
を構成できる。クロツクの周期は、遅延ライン7
2の入力から指定のタツプまでの遅延の二倍とな
る。クロツク周期の1/2の期間は、低パルスすな
わち“0”がライン72に伝搬し、残りの1/2の
期間は高パルスすなわち“1”がライン72に伝
搬する。第9図の遅延ラインへの入力の波形にこ
れが図示されている。即ち、クロツク周期300ns
中、前半の150nsの間は信号が高いレベルにあり、
後半の150nsは低いレベルにある。
との遅延Toを10nsとするこの例では15番目すな
わち最終の段)を選ぶことによつて設定でき、入
力ライン82にフイードバツクしてリング発振器
を構成できる。クロツクの周期は、遅延ライン7
2の入力から指定のタツプまでの遅延の二倍とな
る。クロツク周期の1/2の期間は、低パルスすな
わち“0”がライン72に伝搬し、残りの1/2の
期間は高パルスすなわち“1”がライン72に伝
搬する。第9図の遅延ラインへの入力の波形にこ
れが図示されている。即ち、クロツク周期300ns
中、前半の150nsの間は信号が高いレベルにあり、
後半の150nsは低いレベルにある。
なお、注目すべきは、遅延ライン72の一段当
りの遅延を、10ns以下としうる点である。仮り
に、一段当りの遅延を10nsとすると、ライン72
は、15段で構成され、2.5nsとすれば、ライン7
2は、60段で構成されることになる。段の数が多
くなればなる程、エツジ分解能が高まる。
りの遅延を、10ns以下としうる点である。仮り
に、一段当りの遅延を10nsとすると、ライン72
は、15段で構成され、2.5nsとすれば、ライン7
2は、60段で構成されることになる。段の数が多
くなればなる程、エツジ分解能が高まる。
図に示した例では、出力Phi1及びPhi2は、
300nsのサイクル即ち周期を有する。Phi1は、
周期の最初の40nsの期間に高パルスで、残りの期
間は低パルスとなる。他方、Phi2は、クロツク
周期の最初の110nsまでは低パルスで、次の130ns
の間高パルスとなり、その次の60nsは、再び低パ
ルスとなるが、これは、次の周期の低波形期間
110nsにつながつている。従つて、Phi1はクロ
ツク周期中に短い時間高いレベルにあり、Phi2
はクロツク周期中に長い時間高いレベルにあり、
両出力は、オーバラツプしないすなわち非重複信
号となる。
300nsのサイクル即ち周期を有する。Phi1は、
周期の最初の40nsの期間に高パルスで、残りの期
間は低パルスとなる。他方、Phi2は、クロツク
周期の最初の110nsまでは低パルスで、次の130ns
の間高パルスとなり、その次の60nsは、再び低パ
ルスとなるが、これは、次の周期の低波形期間
110nsにつながつている。従つて、Phi1はクロ
ツク周期中に短い時間高いレベルにあり、Phi2
はクロツク周期中に長い時間高いレベルにあり、
両出力は、オーバラツプしないすなわち非重複信
号となる。
第9図に示したPhi1とPhi2の波形は、回路
74を構成する二つのフリツプフロツプ86及び
88で、それぞれ発生される。フリツプフロツプ
86及び88は、従来技術によるもので、その論
理図は、第10図に示す通りであり、交差接続し
たNORゲートでなり、出力端子Qを有する。フ
リツプフロツプ88と86が違う点は、入力Rの
位置が反対となつている点のみである。
74を構成する二つのフリツプフロツプ86及び
88で、それぞれ発生される。フリツプフロツプ
86及び88は、従来技術によるもので、その論
理図は、第10図に示す通りであり、交差接続し
たNORゲートでなり、出力端子Qを有する。フ
リツプフロツプ88と86が違う点は、入力Rの
位置が反対となつている点のみである。
フリツプフロツプ86の入力のR及びSはそれ
ぞれ、遅延ライン72の0nsタツプと40nsタツプ
に接続され、フリツプフロツプ88の入力Rは、
インバータ87を介して遅延ライン72の90nsタ
ツプへ、入力Sは、110nsタツプへそれぞれ接続
されている。第9図の波形から、遅延ラインの入
力に高パルスすなわち“1”パルスを送ると、直
ちにフリツプフロツプ86がセツトされ、Phi1
に高出力を発生することが解る。この高出力は、
前記“1”パルスが遅延ラインの40ns遅延点に達
するまで続き40ns遅延点で、フリツプフロツプ8
6がリセツトされ、低出力に変わる。同様に、
“1”パルスは90ns遅延点に送られるが、ここに
は、フリツプフロツプ88の入力Rに、インバー
タ87が接続されているので、何の効果も生じな
い。遅延ライン72の110ns点に達すると、フリ
ツプフロツプ88がセツトされ、Phi2に高出力
を発生する。
ぞれ、遅延ライン72の0nsタツプと40nsタツプ
に接続され、フリツプフロツプ88の入力Rは、
インバータ87を介して遅延ライン72の90nsタ
ツプへ、入力Sは、110nsタツプへそれぞれ接続
されている。第9図の波形から、遅延ラインの入
力に高パルスすなわち“1”パルスを送ると、直
ちにフリツプフロツプ86がセツトされ、Phi1
に高出力を発生することが解る。この高出力は、
前記“1”パルスが遅延ラインの40ns遅延点に達
するまで続き40ns遅延点で、フリツプフロツプ8
6がリセツトされ、低出力に変わる。同様に、
“1”パルスは90ns遅延点に送られるが、ここに
は、フリツプフロツプ88の入力Rに、インバー
タ87が接続されているので、何の効果も生じな
い。遅延ライン72の110ns点に達すると、フリ
ツプフロツプ88がセツトされ、Phi2に高出力
を発生する。
時間的に前記110ns点到達直後に、遅延ライン
72の150ns点で、低いパルスすなわち“0”パ
ルスの発生が始まり(遅延ライン波形参照)、ラ
イン72の90ns点に“0”として、到達すると、
フリツプフロツプ88が低パルス状態にリセツト
され、300nsのクロツク周期の残りの60ns間、低
パルスを発生する。この低パルスの発生は、もち
ろん、0ns、40ns、110nsのタツプからの入力に、
何の影響も与えない。
72の150ns点で、低いパルスすなわち“0”パ
ルスの発生が始まり(遅延ライン波形参照)、ラ
イン72の90ns点に“0”として、到達すると、
フリツプフロツプ88が低パルス状態にリセツト
され、300nsのクロツク周期の残りの60ns間、低
パルスを発生する。この低パルスの発生は、もち
ろん、0ns、40ns、110nsのタツプからの入力に、
何の影響も与えない。
上記の例は、一つ以上のクロツク信号の周期、
位相、デユーテイサイクル、及び非重複時間が、
MOS/VLSI回路の設計時に予め選択した数値に
従つて常時校正され、しかも、その校正処理の制
御に融通性があることを示している。本発明は、
極めて融通性が高く、また、データ通信システム
にクロツク回復システムとして用いることもでき
る。又、本発明を、ローカルエリアコンピユータ
ネツトワークの通信媒体のリピータとして用いれ
ば、正確な信号の中継操作が期待できる。
位相、デユーテイサイクル、及び非重複時間が、
MOS/VLSI回路の設計時に予め選択した数値に
従つて常時校正され、しかも、その校正処理の制
御に融通性があることを示している。本発明は、
極めて融通性が高く、また、データ通信システム
にクロツク回復システムとして用いることもでき
る。又、本発明を、ローカルエリアコンピユータ
ネツトワークの通信媒体のリピータとして用いれ
ば、正確な信号の中継操作が期待できる。
さて、これまで本発明を特定の実施例に沿つて
説明してきたが、本発明は、上記の実施例に限定
されるものでなく、様々な代案、修正、及び変形
を許容するものである。これらの代案、修正、及
び変形は全て、添付の特許請求の範囲に包括され
るものである。
説明してきたが、本発明は、上記の実施例に限定
されるものでなく、様々な代案、修正、及び変形
を許容するものである。これらの代案、修正、及
び変形は全て、添付の特許請求の範囲に包括され
るものである。
第1図は、自動周波数制御ループにより自己校
正する選択可能なタツプ付き遅延ラインを有する
本発明に係るクロツク及びタイミング信号発生器
の回路を示す概略図である。第2図、第1図のタ
ツプ付き遅延ライン及び自動周波数制御ループの
回路構成をより詳細に示した図である。第3図
は、第2図に示した分周器の詳細図であつて、非
オーバーラツプ型クロツクの発生器部分を示す図
である。第4図は、第3図の超緩衝器の回路を示
す詳細図である。第5図は、第2図の分周器の詳
細図であつて、多段リングカウンタの部分を示す
図である。第6図は、第5図のシフトレジスタの
各段の詳細図である。第7図は、第2図の位相/
周波数比較器の回路図である。第8図は、二相非
オーバーラツプのクロツクを作るクロツク発生器
の回路図である。第9図は、第8図の回路の信号
を図解した波形図である。第10図は、第8図に
用いられるフリツプフロツプを示す回路図であ
る。 10……クロツク及びタイミング信号発生器、
12……自動周波数制御ループ、16……遅延ラ
イン、18……電圧制御発振器、20……分周
器、22……位相/周波数比較器、24……ルー
プフイルタ及びレベルシフタ。
正する選択可能なタツプ付き遅延ラインを有する
本発明に係るクロツク及びタイミング信号発生器
の回路を示す概略図である。第2図、第1図のタ
ツプ付き遅延ライン及び自動周波数制御ループの
回路構成をより詳細に示した図である。第3図
は、第2図に示した分周器の詳細図であつて、非
オーバーラツプ型クロツクの発生器部分を示す図
である。第4図は、第3図の超緩衝器の回路を示
す詳細図である。第5図は、第2図の分周器の詳
細図であつて、多段リングカウンタの部分を示す
図である。第6図は、第5図のシフトレジスタの
各段の詳細図である。第7図は、第2図の位相/
周波数比較器の回路図である。第8図は、二相非
オーバーラツプのクロツクを作るクロツク発生器
の回路図である。第9図は、第8図の回路の信号
を図解した波形図である。第10図は、第8図に
用いられるフリツプフロツプを示す回路図であ
る。 10……クロツク及びタイミング信号発生器、
12……自動周波数制御ループ、16……遅延ラ
イン、18……電圧制御発振器、20……分周
器、22……位相/周波数比較器、24……ルー
プフイルタ及びレベルシフタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 予め選択されたエツジ分解能のデジタル波形
を提供する自己校正型クロツク及びタイミング信
号発生器において、 連続的に接続されて多段手段を構成する複数の
遅延段の出力から、予選択可能なエツジ分解能の
遅延信号を作り出す多段手段であつて、該多段手
段の各段の遅延が互いに等しく、前記複数の出力
のいずれかを選ぶことによつて該多段手段への入
力信号に対する所定量の遅延を与える多段手段
と、 前記多段手段を構成する遅延段の各々と同一構
造の複数の遅延段を有する電圧制御発振器を含ん
でいる校正手段とを備え、該校正手段は前記電圧
制御発振器を含む自動周波数制御ループを含み、
この自動周波数制御ループは、前記電圧制御発振
器の周波数と基準の周波数との差を表す制御信号
を発生する手段を有し、更に前記校正手段は、前
記制御信号を前記多段手段に与え、各段毎の前記
所定量の遅延を連続して維持することを特徴とす
る自己校正型クロツクおよびタイミング信号発生
器。 2 前記自動周波数制御ループが、前記電圧制御
発振器の動作周波数を基準周波数と比較して両者
の差を示す出力を発生する手段と、前記制御信号
としての前記周波数差を示す制御電圧を発生して
前記電圧制御発振器の動作周波数が前記基準周波
数と同じになるように調整する手段とから成り、
前記遅延段の全ての段により与えられる単位遅延
のための調整が、本発生器を構成する回路の物理
的特性や電気的特性の差に無関係に一様であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の自己
校正型クロツク及びタイミング信号発生器。 3 前記比較器が分周器を有することを特徴とす
る特許請求の範囲第2項記載の自己校正型クロツ
ク及びタイミング信号発生器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/412,490 US4494021A (en) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | Self-calibrated clock and timing signal generator for MOS/VLSI circuitry |
| US412490 | 1995-03-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5963822A JPS5963822A (ja) | 1984-04-11 |
| JPH0362052B2 true JPH0362052B2 (ja) | 1991-09-24 |
Family
ID=23633220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58153986A Granted JPS5963822A (ja) | 1982-08-30 | 1983-08-23 | 自己校正型クロック及びタイミング信号発生器 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4494021A (ja) |
| EP (1) | EP0103404B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5963822A (ja) |
| BR (1) | BR8304643A (ja) |
| DE (1) | DE3377560D1 (ja) |
Families Citing this family (125)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8329511D0 (en) * | 1983-11-04 | 1983-12-07 | Inmos Ltd | Timing apparatus |
| US4625126A (en) * | 1984-06-29 | 1986-11-25 | Zilog, Inc. | Clock generator for providing non-overlapping clock signals |
| US4638191A (en) * | 1984-07-05 | 1987-01-20 | Hewlett-Packard Company | Amplitude insensitive delay line |
| EP0390226A1 (en) * | 1984-07-31 | 1990-10-03 | Yamaha Corporation | Jitter absorption circuit |
| US4641048A (en) * | 1984-08-24 | 1987-02-03 | Tektronix, Inc. | Digital integrated circuit propagation delay time controller |
| US4623805A (en) | 1984-08-29 | 1986-11-18 | Burroughs Corporation | Automatic signal delay adjustment apparatus |
| US4737670A (en) * | 1984-11-09 | 1988-04-12 | Lsi Logic Corporation | Delay control circuit |
| US4694197A (en) * | 1986-01-06 | 1987-09-15 | Rca Corporation | Control signal generator |
| US4691124A (en) * | 1986-05-16 | 1987-09-01 | Motorola, Inc. | Self-compensating, maximum speed integrated circuit |
| JPS62294320A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-21 | Sony Corp | 論理回路 |
| US4710653A (en) * | 1986-07-03 | 1987-12-01 | Grumman Aerospace Corporation | Edge detector circuit and oscillator using same |
| US4922141A (en) * | 1986-10-07 | 1990-05-01 | Western Digital Corporation | Phase-locked loop delay line |
| GB2197553A (en) * | 1986-10-07 | 1988-05-18 | Western Digital Corp | Phase-locked loop delay line |
| US5359727A (en) * | 1987-04-27 | 1994-10-25 | Hitachi, Ltd. | Clock generator using PLL and information processing system using the clock generator |
| US5086500A (en) * | 1987-08-07 | 1992-02-04 | Tektronix, Inc. | Synchronized system by adjusting independently clock signals arriving at a plurality of integrated circuits |
| US4801894A (en) * | 1987-10-23 | 1989-01-31 | Hewlett-Packard Company | Frequency detector for frequency locked loop |
| JPH021620A (ja) * | 1987-11-30 | 1990-01-05 | Toshiba Corp | 電圧制御発振回路 |
| US5087842A (en) * | 1988-01-06 | 1992-02-11 | Digital Equipment Corporation | Delay circuit having one of a plurality of delay lines which may be selected to provide an operation of a ring oscillator |
| EP0334983A1 (de) * | 1988-03-31 | 1989-10-04 | Deutsche ITT Industries GmbH | Integrierte CMOS/NMOS-Schaltung |
| US4912342A (en) * | 1988-05-05 | 1990-03-27 | Altera Corporation | Programmable logic device with array blocks with programmable clocking |
| JP2531742B2 (ja) * | 1988-05-17 | 1996-09-04 | 株式会社東芝 | 電圧制御発振回路 |
| US5349544A (en) * | 1988-06-15 | 1994-09-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Programmable system synchronizer |
| US5173617A (en) * | 1988-06-27 | 1992-12-22 | Motorola, Inc. | Digital phase lock clock generator without local oscillator |
| US4939389A (en) * | 1988-09-02 | 1990-07-03 | International Business Machines Corporation | VLSI performance compensation for off-chip drivers and clock generation |
| US4964117A (en) * | 1988-10-04 | 1990-10-16 | Vtc Incorporated | Timing synchronizing circuit for baseband data signals |
| US5008636A (en) * | 1988-10-28 | 1991-04-16 | Apollo Computer, Inc. | Apparatus for low skew system clock distribution and generation of 2X frequency clocks |
| US4988960A (en) * | 1988-12-21 | 1991-01-29 | Yamaha Corporation | FM demodulation device and FM modulation device employing a CMOS signal delay device |
| US5013944A (en) * | 1989-04-20 | 1991-05-07 | International Business Machines Corporation | Programmable delay line utilizing measured actual delays to provide a highly accurate delay |
| JPH02296410A (ja) * | 1989-05-11 | 1990-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | 遅延回路 |
| US4970418A (en) * | 1989-09-26 | 1990-11-13 | Apple Computer, Inc. | Programmable memory state machine for providing variable clocking to a multimode memory |
| US5045811A (en) * | 1990-02-02 | 1991-09-03 | Seagate Technology, Inc. | Tuned ring oscillator |
| JPH03241918A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-29 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 信号発生器 |
| US6751696B2 (en) * | 1990-04-18 | 2004-06-15 | Rambus Inc. | Memory device having a programmable register |
| IL96808A (en) * | 1990-04-18 | 1996-03-31 | Rambus Inc | Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage |
| US5239213A (en) * | 1990-04-30 | 1993-08-24 | Advanced Micro Devices, Inc. | Precision timing control programmable logic device |
| JPH04157379A (ja) * | 1990-10-20 | 1992-05-29 | Fujitsu Ltd | 遅延測定方式 |
| US5159205A (en) * | 1990-10-24 | 1992-10-27 | Burr-Brown Corporation | Timing generator circuit including adjustable tapped delay line within phase lock loop to control timing of signals in the tapped delay line |
| US5111086A (en) * | 1990-11-19 | 1992-05-05 | Wang Laboratories, Inc. | Adjusting delay circuitry |
| US5157277A (en) * | 1990-12-28 | 1992-10-20 | Compaq Computer Corporation | Clock buffer with adjustable delay and fixed duty cycle output |
| JPH04351008A (ja) * | 1991-05-28 | 1992-12-04 | Sony Corp | ディジタルvco |
| US5126691A (en) * | 1991-06-17 | 1992-06-30 | Motorola, Inc. | Variable clock delay circuit |
| US5317219A (en) * | 1991-09-30 | 1994-05-31 | Data Delay Devices, Inc. | Compensated digital delay circuit |
| US5179303A (en) * | 1991-10-24 | 1993-01-12 | Northern Telecom Limited | Signal delay apparatus employing a phase locked loop |
| US5146121A (en) * | 1991-10-24 | 1992-09-08 | Northern Telecom Limited | Signal delay apparatus employing a phase locked loop |
| US5337254A (en) * | 1991-12-16 | 1994-08-09 | Hewlett-Packard Company | Programmable integrated circuit output pad |
| US5317202A (en) * | 1992-05-28 | 1994-05-31 | Intel Corporation | Delay line loop for 1X on-chip clock generation with zero skew and 50% duty cycle |
| USRE38482E1 (en) * | 1992-05-28 | 2004-03-30 | Rambus Inc. | Delay stage circuitry for a ring oscillator |
| US5485490A (en) * | 1992-05-28 | 1996-01-16 | Rambus, Inc. | Method and circuitry for clock synchronization |
| JPH0612877A (ja) * | 1992-06-18 | 1994-01-21 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
| US5521499A (en) * | 1992-12-23 | 1996-05-28 | Comstream Corporation | Signal controlled phase shifter |
| SE500929C2 (sv) * | 1993-02-24 | 1994-10-03 | Ellemtel Utvecklings Ab | Signalbehandlingskrets och förfarande för fördröjning av en binär periodisk insignal |
| US5585754A (en) * | 1993-04-02 | 1996-12-17 | Nec Corporation | Integrated digital circuit |
| US5281927A (en) * | 1993-05-20 | 1994-01-25 | Codex Corp. | Circuit and method of controlling a VCO with capacitive loads |
| US5436938A (en) * | 1993-08-19 | 1995-07-25 | Northern Telecom Limited | Phase error detector for a phase locked loop |
| FR2732839B1 (fr) * | 1993-12-27 | 1997-09-05 | Medin David L | Auto-etalonneur d'oscillateur |
| AU1841895A (en) * | 1994-02-15 | 1995-08-29 | Rambus Inc. | Delay-locked loop |
| US5539348A (en) * | 1994-03-17 | 1996-07-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Precise delay line circuit with predetermined reset time limit |
| US5554946A (en) * | 1994-04-08 | 1996-09-10 | International Business Machines Corporation | Timing signal generator |
| US5666079A (en) * | 1994-05-06 | 1997-09-09 | Plx Technology, Inc. | Binary relative delay line |
| KR970002949B1 (ko) * | 1994-05-25 | 1997-03-13 | 삼성전자 주식회사 | 디지탈 통신시스템의 클럭발생방법 및 그 회로 |
| US5600273A (en) * | 1994-08-18 | 1997-02-04 | Harris Corporation | Constant delay logic circuits and methods |
| JPH08111675A (ja) * | 1994-10-07 | 1996-04-30 | Mitsubishi Denki Eng Kk | 同期回路 |
| US5548237A (en) * | 1995-03-10 | 1996-08-20 | International Business Machines Corporation | Process tolerant delay circuit |
| JPH098617A (ja) * | 1995-06-15 | 1997-01-10 | Nec Corp | ディレイ制御回路 |
| JP3355894B2 (ja) * | 1995-09-27 | 2002-12-09 | 安藤電気株式会社 | 可変遅延回路 |
| US5744991A (en) * | 1995-10-16 | 1998-04-28 | Altera Corporation | System for distributing clocks using a delay lock loop in a programmable logic circuit |
| KR100202193B1 (ko) * | 1995-12-30 | 1999-06-15 | 문정환 | 상보 클럭 발생 방법 및 클럭 발생기 |
| US6124744A (en) * | 1996-03-26 | 2000-09-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electronic circuit apparatus having circuits for effectively compensating for clock skew |
| US5801566A (en) * | 1996-04-03 | 1998-09-01 | Mitsubishi Electric Semiconductor Software Co., Ltd. | System clock generating circuit for a semiconductor device |
| JP2891176B2 (ja) * | 1996-04-25 | 1999-05-17 | 日本電気株式会社 | 信号伝達用タイミング調整装置 |
| US5777501A (en) * | 1996-04-29 | 1998-07-07 | Mosaid Technologies Incorporated | Digital delay line for a reduced jitter digital delay lock loop |
| JP3080007B2 (ja) * | 1996-08-28 | 2000-08-21 | 日本電気株式会社 | Pll回路 |
| US6060929A (en) * | 1996-09-20 | 2000-05-09 | Konica Corporation | Signal delay apparatus |
| US5959481A (en) * | 1997-02-18 | 1999-09-28 | Rambus Inc. | Bus driver circuit including a slew rate indicator circuit having a one shot circuit |
| GB9704719D0 (en) * | 1997-03-07 | 1997-04-23 | Plessey Semiconductors Ltd | Frequency tracking arrangements |
| US5861766A (en) * | 1997-04-17 | 1999-01-19 | Western Digital Corporation | Multimode frequency synthesizer having high loop gain in frequency seek mode |
| US6034558A (en) * | 1997-07-17 | 2000-03-07 | Credence Systems Corporation | Method and apparatus for compensating for thermal drift in a logic circuit |
| US6084933A (en) * | 1997-11-17 | 2000-07-04 | Advanced Micro Devices, Inc. | Chip operating conditions compensated clock generation |
| US6067648A (en) * | 1998-03-02 | 2000-05-23 | Tanisys Technology, Inc. | Programmable pulse generator |
| US6346827B1 (en) | 1998-09-09 | 2002-02-12 | Altera Corporation | Programmable logic device input/output circuit configurable as reference voltage input circuit |
| US6252419B1 (en) | 1999-01-08 | 2001-06-26 | Altera Corporation | LVDS interface incorporating phase-locked loop circuitry for use in programmable logic device |
| US6483886B1 (en) | 1999-01-08 | 2002-11-19 | Altera Corporation | Phase-locked loop circuitry for programmable logic devices |
| US6472903B1 (en) | 1999-01-08 | 2002-10-29 | Altera Corporation | Programmable logic device input/output architecture with power bus segmentation for multiple I/O standards |
| US6177844B1 (en) | 1999-01-08 | 2001-01-23 | Altera Corporation | Phase-locked loop or delay-locked loop circuitry for programmable logic devices |
| US6218876B1 (en) | 1999-01-08 | 2001-04-17 | Altera Corporation | Phase-locked loop circuitry for programmable logic devices |
| TW587874U (en) * | 1999-04-27 | 2004-05-11 | Seiko Epson Corp | Clock generating circuit, serial/parallel converting device, parallel/serial converting device and semiconductor device |
| JP3452834B2 (ja) * | 1999-05-27 | 2003-10-06 | ローム株式会社 | 遅延回路 |
| JP2000357951A (ja) * | 1999-06-15 | 2000-12-26 | Mitsubishi Electric Corp | 遅延回路、クロック生成回路及び位相同期回路 |
| DE10006927C2 (de) * | 1999-06-15 | 2003-04-17 | Mitsubishi Electric Corp | Verzögerungsschaltung |
| US6563354B1 (en) * | 2000-03-22 | 2003-05-13 | Cypress Semiconductor Corp. | On-chip circuit to compensate output drive strength across process corners |
| GB2363009B (en) | 2000-05-31 | 2004-05-05 | Mitel Corp | Reduced jitter phase lock loop using a technique multi-stage digital delay line |
| JP3615692B2 (ja) * | 2000-07-27 | 2005-02-02 | ザインエレクトロニクス株式会社 | 多相クロック発振回路 |
| US6384658B1 (en) * | 2000-09-29 | 2002-05-07 | Intel Corporation | Clock splitter circuit to generate synchronized clock and inverted clock |
| GB2368473A (en) * | 2000-10-24 | 2002-05-01 | Advanced Risc Mach Ltd | Modified clock signal generator |
| US6832173B1 (en) | 2002-07-30 | 2004-12-14 | Altera Corporation | Testing circuit and method for phase-locked loop |
| US7024568B2 (en) * | 2002-09-06 | 2006-04-04 | National Semiconductor Corporation | Method and system for providing self-calibration for adaptively adjusting a power supply voltage in a digital processing system |
| CA2446633C (en) * | 2002-10-25 | 2008-01-29 | Pulp And Paper Research Institute Of Canada | Diagnostic for poorly tuned control loops |
| US6940536B2 (en) * | 2002-11-07 | 2005-09-06 | Xerox Corporation | System architecture for scan line non-linearity compensation in a ROS system |
| US6867616B1 (en) | 2003-06-04 | 2005-03-15 | Altera Corporation | Programmable logic device serial interface having dual-use phase-locked loop circuitry |
| US7019570B2 (en) * | 2003-09-05 | 2006-03-28 | Altera Corporation | Dual-gain loop circuitry for programmable logic device |
| US6924678B2 (en) * | 2003-10-21 | 2005-08-02 | Altera Corporation | Programmable phase-locked loop circuitry for programmable logic device |
| US7961559B2 (en) * | 2003-11-13 | 2011-06-14 | International Business Machines Corporation | Duty cycle measurement circuit for measuring and maintaining balanced clock duty cycle |
| US20070103141A1 (en) * | 2003-11-13 | 2007-05-10 | International Business Machines Corporation | Duty cycle measurment circuit for measuring and maintaining balanced clock duty cycle |
| US7400555B2 (en) * | 2003-11-13 | 2008-07-15 | International Business Machines Corporation | Built in self test circuit for measuring total timing uncertainty in a digital data path |
| US7091760B1 (en) | 2004-02-25 | 2006-08-15 | Altera Corporation | DLL with adjustable phase shift using processed control signal |
| US7073629B2 (en) * | 2004-02-26 | 2006-07-11 | The Boeing Company | Ladder support apparatus and methods |
| US6998888B1 (en) | 2004-03-05 | 2006-02-14 | Marvell International Ltd. | Scalable integrated circuit architecture with analog circuits |
| US7259600B1 (en) | 2004-03-05 | 2007-08-21 | Marvell International Ltd. | Scalable integrated circuit architecture |
| US7075365B1 (en) | 2004-04-22 | 2006-07-11 | Altera Corporation | Configurable clock network for programmable logic device |
| US7230495B2 (en) | 2004-04-28 | 2007-06-12 | Micron Technology, Inc. | Phase-locked loop circuits with reduced lock time |
| US20060012414A1 (en) * | 2004-07-15 | 2006-01-19 | Texas Instruments Incorporated | Circuit and method for generating a polyphase clock signal and system incorporating the same |
| US7330080B1 (en) | 2004-11-04 | 2008-02-12 | Transmeta Corporation | Ring based impedance control of an output driver |
| JP2006238309A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Kawasaki Microelectronics Kk | 半導体集積回路 |
| US7323921B2 (en) * | 2005-11-22 | 2008-01-29 | Sigmatel, Inc. | Clock generator, system on a chip integrated circuit and methods for use therewith |
| US7436228B1 (en) | 2005-12-22 | 2008-10-14 | Altera Corporation | Variable-bandwidth loop filter methods and apparatus |
| US8130871B2 (en) * | 2006-01-09 | 2012-03-06 | Sigmatel, Inc. | Integrated circuit having radio receiver and methods for use therewith |
| US7728674B1 (en) | 2006-05-19 | 2010-06-01 | Altera Corporation | Voltage-controlled oscillator methods and apparatus |
| US7612595B2 (en) * | 2006-09-19 | 2009-11-03 | Melexis Tessenderlo Nv | Sequence independent non-overlapping digital signal generator with programmable delay |
| JP5183269B2 (ja) * | 2008-03-28 | 2013-04-17 | 株式会社アドバンテスト | バーニア遅延回路、それを用いた時間デジタル変換器および試験装置 |
| US20110169501A1 (en) * | 2008-09-24 | 2011-07-14 | Advantest Corporation | Delay circuit |
| US8258883B2 (en) * | 2009-01-14 | 2012-09-04 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | System and method for characterizing process variations |
| US8547131B2 (en) * | 2009-04-03 | 2013-10-01 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | System and method for observing threshold voltage variations |
| DE102013227177B4 (de) * | 2013-12-27 | 2023-08-03 | Beckhoff Automation Gmbh | Vorrichtung zum Generieren eines Zeitsignals und System mit solcher Vorrichtung |
| CN103941178B (zh) * | 2014-04-23 | 2017-07-18 | 北京大学 | 一种检测集成电路制造工艺中工艺波动的检测电路 |
| KR102692880B1 (ko) * | 2016-12-21 | 2024-08-08 | 주식회사 엘엑스세미콘 | 디스플레이 장치의 클럭 복원 회로 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5022593B1 (ja) * | 1970-06-15 | 1975-07-31 | ||
| JPS5338154B2 (ja) * | 1973-08-24 | 1978-10-13 | ||
| US3996481A (en) * | 1974-11-19 | 1976-12-07 | International Business Machines Corporation | FET load gate compensator |
| US3953674A (en) * | 1975-04-04 | 1976-04-27 | Nasa | Telemetry Synchronizer |
| US4052673A (en) * | 1976-08-30 | 1977-10-04 | Rca Corporation | Combined controlled oscillator and frequency multiplier |
| US4091335A (en) * | 1976-12-13 | 1978-05-23 | Texas Instruments Incorporated | Phase locked loop using current controlled ring oscillator |
| US4103251A (en) * | 1977-05-05 | 1978-07-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Stabilized delay line oscillator |
| US4185273A (en) * | 1977-07-27 | 1980-01-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Data rate adaptive control device for Manchester code decoders |
| US4358741A (en) * | 1979-09-17 | 1982-11-09 | Ilc Data Device Corporation | Micro time and phase stepper |
| JPS5694654A (en) * | 1979-12-27 | 1981-07-31 | Toshiba Corp | Generating circuit for substrate bias voltage |
| US4344041A (en) * | 1981-02-27 | 1982-08-10 | Sperry Corporation | Biphase detector |
-
1982
- 1982-08-30 US US06/412,490 patent/US4494021A/en not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-08-11 DE DE8383304638T patent/DE3377560D1/de not_active Expired
- 1983-08-11 EP EP83304638A patent/EP0103404B1/en not_active Expired
- 1983-08-23 JP JP58153986A patent/JPS5963822A/ja active Granted
- 1983-08-26 BR BR8304643A patent/BR8304643A/pt not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5963822A (ja) | 1984-04-11 |
| EP0103404A3 (en) | 1985-04-03 |
| EP0103404A2 (en) | 1984-03-21 |
| EP0103404B1 (en) | 1988-07-27 |
| BR8304643A (pt) | 1984-04-10 |
| DE3377560D1 (en) | 1988-09-01 |
| US4494021A (en) | 1985-01-15 |
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