JPH0363782B2

JPH0363782B2 -

Info

Publication number: JPH0363782B2
Application number: JP58071873A
Authority: JP
Inventors: Shunsaku Nakauchi; Akifusa Takahashi; Shigeji Sakashita
Original assignee: Laurel Bank Machine Co Ltd
Current assignee: Laurel Bank Machine Co Ltd
Priority date: 1983-04-23
Filing date: 1983-04-23
Publication date: 1991-10-02
Also published as: JPS59197989A

Description

【発明の詳細な説明】

「産業上の利用分野」本発明は硬貨判別装置に関するものである。「従来技術」従来、硬貨入出金機等における硬貨の真偽およ
び金種の判別は、硬貨の径、厚さ、材質などの測
定データに基づいて行われているが、比較的高額
の500円硬貨の流通量の増加に伴い、精密な判別
方式、例えば硬貨表面のパターン（図柄）を読み
取つて判別を行う方式の必要性が高まつている。この硬貨の表面パターンを読み取る技術の従来
例として下記の文献に記載されたものが知られて
いる。 ◎ 実開昭53−68294号公報（第１従来例）硬貨を所定の経路に沿つて直線的に移動させつ
つ、その表面形状の相違に起因する磁気特性の変
化を測定するようにしたもので、前記移動経路と
センサとの位置関係から必然的に得られる測定ラ
イン（硬貨を円とすればその弦に相当する）に沿
う磁気特性の変化を基準値と比較して、その判別
を行う技術。 ◎ 特開昭51−97496号公報（第２従来例）硬貨状のコイン（例えば、ゲーム機用の私製コ
インやトークンのような円板状の物体）の表面に
刻まれた傾斜面（コインと中心を同じくする円錐
の一部をなす面）からの反射光の有無により真偽
を判別する技術。 ◎ 特公昭47−45039号公報（第３従来例）には、
硬貨表面に円弧状に並んだ多数の測定点における
反射光量を測定し、この光量の総和を基準値と比
較することにより真偽を判別する技術。「発明が解決しようとする課題」しかしながら上記各従来例の技術には下記のよ
うな問題がある。 ◎ 第１従来例の問題点硬貨は円板状であるから、種々の姿勢で硬貨計
数装置、判別装置等に投入される可能性があり、
同一の図柄を持つた硬貨であつても、無限に多く
の測定ライン（弦）についてのパターンが検出さ
れる可能性がある。したがつて、測定される可能
性のあるすべての弦に沿うパターンをそれぞれ基
準値として記憶して、これらを順次検出データと
比較することが必要になり、数多くの基準パター
ンを記憶しておくために膨大な容量のメモリが必
要になるという問題がある。また、上記メモリ容
量の制限を考慮して、基準となるパターンの数を
制限すると、測定されたパターンに該当する基準
パターンが存在しない場合が多々発生し、誤判別
となる可能性が高い。 ◎ 第２従来例の問題点硬貨の姿勢によつて、検出されるパターンが変
化しないから、コインの判別に好適な方式ではあ
るが、特定の傾斜面が形成されたコインを前提と
するため、一般の硬貨の判別にそのまま適用する
ことができない。 ◎ 第３従来例の問題点厳密な意味での表面パターンを検出し得るもの
ではないから、パターンが相違していても、光量
の総和が一致している限り真と判別してしまう可
能性がある。本発明は上記事情に鑑みて提案されたもので、
一定の凹凸が表面に形成されている硬貨ならば、
測定の際の硬貨の姿勢にかかわらず確実に判別す
ることができ、しかも予め測定し記憶しておかな
ければならない判別のための基準データが限られ
た量で済む硬貨判別装置を提供することを目的と
している。「問題点を解決するための手段」特許請求の範囲第１項記載の硬貨判別装置は、
光源と、基端部が該光源に対向させられて先端部
が被測定硬貨の表面に向けられる多数の投光用光
フアイバとからなり、これら投光用光フアイバの
先端部が、被測定硬貨の中心を通る垂線を軸線と
する円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定硬貨の
周方向に同一ピツチで配置される構成とされた投
光装置と、光信号を電気信号に変換する多数の受光素子
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定硬貨の表面に該被測定硬貨の中心と同心円
となる円弧に沿つて同一ピツチで全周にわたり連
続的に配列された多数の測定点に前記受光用光フ
アイバの先端がそれぞれ対向させられる構成とさ
れた読み取り装置と、前記投光装置によつて被測定硬貨表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力される電気信号のデータ群が、前記測定点の
配列に対応して配列された測定データ列として書
き込まれる記憶手段であつて、前記投光装置及び読み取り装置と同じ構成の装
置によつて基準硬貨ついて測定された前記測定デ
ータ列に相当する基準データ列が、予め書き込ま
れる記憶手段と、該記憶手段を制御して前記基準データ列あるい
は測定データ列のいずれか一方における各データ
の配置を一つずつシフトさせつつ、これら基準デ
ータ列と測定データ列との比較を繰り返し実行し
て、基準硬貨と被測定硬貨との同一性を判別する
中央処理装置とを備えた硬貨判別装置であつて、前記測定点は被測定硬貨表面の複数の前記円弧
に沿つて複数列にわたつて配列されており、これ
ら全ての測定点について前記受光用光フアイバと
前記受光素子とが設けられていることを特徴とし
ている。また、特許請求の範囲第２項記載の硬貨判別装
置は、光源と、基端部が該光源に対向させられて
先端部が被測定硬貨の表面に向けられる多数の投
光用光フアイバとからなり、これら投光用光フア
イバの先端部が、被測定硬貨の中心を通る垂線を
軸線とする円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定
硬貨の周方向に同一ピツチで配置される構成とさ
れた投光装置と、光信号を電気信号に変換する多数の受光素子
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定硬貨の表面に該被測定硬貨の中心と同心円
となる円弧に沿つて同一ピツチで全周の一部にわ
たり連続的に配列された多数の測定点に前記受光
用光フアイバの先端がそれぞれ対向させられる構
成とされた読み取り装置と、前記投光装置によつて被測定硬貨表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力される電気信号のデータ群が、前記測定点の
配列に対応して配列された測定データ列として書
き込まれる記憶手段であつて、前記投光装置及び読み取り装置と同じ構成の装
置によつて基準硬貨ついて測定された前記測定デ
ータ列に相当する基準データ列が、予め書き込ま
れる記憶手段と、前記基準データ列のうちの前記測定データ列と
同数のデータからなる連続する一部分と、前記測
定データ列とを、前記記憶手段を制御して前記一
部分を前記基準データ列全体内において一データ
分ずつシフトさせつつ選択した上で、繰り返し比
較することによつて基準硬貨と被測定硬貨との同
一性を判別する中央処理装置とを備えた硬貨判別
装置であつて、前記測定点は被測定硬貨表面の複数の前記円弧
に沿つて複数列にわたつて配列されており、これ
ら全ての測定点について前記受光用光フアイバと
前記受光素子とが設けられていることを特徴とし
ている。「作用」特許請求の範囲第１項記載の硬貨判別装置によ
れば、投光装置から被測定硬貨表面への光り照射
状態は被測定硬貨の中心線に対して一様になるた
め、投光装置に対して被測定硬貨の中心線さえ所
定の位置に配置されていればその姿勢にかかわら
ず、その表面の同じ位置にはその位置の凹凸に応
じた一定の陰影が生じる。このため、読み取り装置の各受光素子に出力さ
れる電気信号は、その受光素子に基端が対向した
光フアイバの先端が位置する被測定硬貨の測定点
の陰影、すなわちその受光素子に対応する測定点
の凹凸のデータとなる。したがつて、記憶手段に書き込まれる基準デー
タ列と測定データ列とは、それぞれ、基準硬貨表
面あるいは被測定硬貨表面の同一半径位置に同一
ピツチで周方向に環状に配列された複数の測定点
における凹凸のデータの集合となる。しかも、こ
れらデータ列は個々のデータが対応する測定点と
同じ並びで配列されたもの、すなわち、硬貨表面
において隣合う測定点の凹凸のデータであればデ
ータ列内において隣合うものとされている。（こ
こで、“データが隣合う”とは、基準データ列と
測定データ列との比較の際に個々のデータがどの
ように対応するかを決定付ける概念的な配列をい
い、具体的には、各データが記憶される記憶手段
のメモリエリアの番号等により意味付けられる配
列である。）このため、測定時の硬貨の姿勢（表面に垂直な
中心線回りに回転する方向の姿勢）にかかわら
ず、どちらかのデータ列内において、データのこ
の隣合う関係を維持しつつデータの配置を移動
（つまり、シフト）させれば、どこかで、両デー
タ列を比較する際に対応させられる全てのデータ
の対が基準硬貨表面あるいは被測定硬貨表面の略
同一位置で測定されたものとなる。したがつて、被測定硬貨と基準硬貨とが同一性
を有するものであれば、中央処理装置における基
準データ列と測定データ列との比較において、デ
ータのシフトが一巡するまでの間に、殆ど全ての
データが僅かな誤差で一致する場合が必ず一度生
じるので、このデータの一致の有無により確実に
硬貨を判別することができる。しかも、本装置は、被測定硬貨表面の凹凸を測
定するための光フアイバが複数列にわたつて配設
され、前記測定データ列を一度の測定で複数列分
得ることができるので、複数列の測定点について
前述のような基準データ列との一致の有無を判断
してより信頼性の高い硬貨判別を行うことができ
る。また、いずれか一つの測定点の列を選択して
前記判断を行い硬貨判別をするようにすれば、硬
貨の種類に応じてもつとも最適な位置（凹凸が一
定している位置）の凹凸によつて硬貨判別を行つ
て、表面の一部（例えば、貨幣における製造年の
表示部分）が異なるような各種硬貨に対しても光
フアイバの位置を変更することなく容易に対応で
きる。そして、この装置は、上記のように任意の経路
で配置できる光フアイバを介して硬貨表面の陰影
を読み取ることにより間接的に硬貨表面の凹凸を
測定するものであるから、光フアイバの先端の配
置だけが被測定硬貨に対して規制されるものであ
り、他の受光素子や光源等の部品の配置は任意に
行えるので、装置の構成が非常に容易になる。また、特許請求の範囲第２項記載の装置は、基
準硬貨については全周の一部に配列された測定点
いついてのみ測定する構成なので、装置の小型化
あるいは判別時間の短縮等を図ることができるの
であり、この場合でも、基準硬貨表面が周方向に
変化に富んだ凹凸を有するものである限り上記第
１項記載の装置と同様に信頼性の高い硬貨判別を
行うことができる。「実施例」以下、本発明の第１実施例である硬貨判別装置
を第１図〜第９図に基づいて説明する。この硬貨判別装置は、第１図に示す如く投光装
置１によつて被測定硬貨Ｃの表面に陰影を生じさ
せるとともに、この陰影を複数の受光装置が層状
に配設されてなる読み取り装置２によつて読取
り、さらに、この読み取り装置２の各受光装置で
読取つた信号を第８図に示す判別回路３でそれぞ
れ判別するようにした基本構成となつている。前記投光装置１は、光源４と該光源４から発せ
られた光線を被測定硬貨Ｃの表面に導く投光用光
フアイバー５とから構成されている。ここで、投
光用光フアイバー５の先端は、第４図に示す如
く、硬貨Ｃの中心を通る軸線を軸とする円錐面に
沿つた配置されている。また、この投光用光フア
イバー５は、第６図に示すように、後述する円弧
６上に一定ピツチで並ぶ測定点PA₁〜PA_2oの内
ｎ個（例えば、PA₁〜PA_o）に、あるいは、測定
点PA₁〜PA_2oの内側に順次同芯状に配設された
測定点PB₁〜PB_2o，PC₁〜PC_2oの内のｎ個に光線
を投光している。また、前記読み取り装置２におけるに各受光装
置は、受光アレーΣRA，ΣRB，ΣRCと、硬貨Ｃ
の陰影をこれら受光アレーに伝達する複数の受光
用光フアイバ１６Ａ，１６Ｂ，１６Ｃとより、そ
れぞれ構成されるものである。例えば、最外層の受光装置は、受光素子RA₁〜
RA_oの集合である受光アレーΣRAと、硬貨Ｃの
表面に現われた陰影を前記受光素子RA₁〜RA_oに
それぞれ伝達する多数（ｎ本）の受光用光フアイ
バー１６Ａとから構成されている。そして、受光
用光フアイバー１６Ａの基端部７ａは、前記受光
素子RA₁〜RA_oに対向して、第１図、第２図に示
す如く直線状に配列され、一方先端部７ｂは、第
３図に示すように、被測定硬貨Ｃの中心と直交す
る直線を軸とする円筒面に沿つて配列され、前述
の測定点PA₁〜PA_2oの内のｎ個にそれぞれ対向
させられ、これら測定点における陰影を測定して
いる。したがつて、この実施例では、被測定硬貨
Ｃの半周にわたつて測定が行なわれることにな
る。なお、読み取り装置２における他の受光装置
は、第１図、第２図、第３図に示すように、上記
最外層の受光装置の内側に順次配設されており、
これらを構成する受光用光フアイバ１６Ｂ，１６
Ｃあるいは受光アレーΣRB，ΣRCは、前記受光
用光フアイバ１６Ａあるいは受光アレーΣRAと
同様な構成とされている。すなわち、受光用光フアイバー１６Ｂ，１６Ｃ
は、その基端部７ａがそれぞれ受光素子RB₁〜
RB_oあるいはRC₁〜RC_oに対向させられ、一方そ
の先端部７ｂが、前記測定点PA₁〜PA_2oの内側
に順次同様に設けられた測定点PB₁〜PB_2oある
いはPC₁〜PC_2oの半周分にそれぞれ対向させられ
ている。そして、読み取り装置２の各受光装置から出力
される信号は、それぞれ第８図に示す判別回路３
あるいはこれと同様な回路によつて処理されるよ
うに構成されている。また、受光用光フアイバー
１６Ａの先端部７ｂが対向する測定点PA₁〜
PA_2oは、例えば、第５図に示すように、特定金
種の硬貨Ｃ（この実施例では500円貨）の特徴ある
部分と重なり合うことが可能で、かつ硬貨Ｃの年
号が刻設された位置（すなわち、刻設されたパタ
ーンが変わるおそれのある位置）と重なり合うこ
とのない直径の円弧６上に設定されている。また、受光用光フアイバー１６Ｂ又は１６Ｃの
先端部７ｂが対向する測定点PB₁〜PB_2o，PC₁〜
PC_2oは、例えば、100円貨又は50円貨について前
記500円貨の場合の円弧６と同様にして設定した
直径の円弧上に配列されている。今、前記投光装置１の投光用光フアイバー５に
よつて第７図矢印で示す如く被測定硬貨Ｃに投光
すると、被測定硬貨Ｃが第７図イに示す位置にあ
る場合、被測定硬貨Ｃが第７図ロに示す位置にあ
る場合のいずれの場合にも、被測定硬貨Ｃの凸部
８の内側に同一形状の影９が生じ、この影９が、
受光用光フアイバー１６Ａ，１６Ｂ，１６Ｃを介
して、受光アレーΣRA，ΣRB，ΣRCに読取られ
る。次いで、前記判別回路３を第８図を参照して説
明すれば、この判別回路３は、受光アレーΣRA
に補正回路１０を介して接続されており、該補正
回路１０により、前記投光用、受光用の光フアイ
バーの品質、加工精度の不均一による誤差が補正
されるようになつている。そして、判別回路３
は、受光アレーΣRAにAD変換器１１およびイン
ターフエイス１２を介して接続されたCPU１３
（中央処理装置）と、該CPU１３に接続された
RAM１４およびROM１５（記憶手段）とから
構成されている。

【表】そして、前記ROM１５には、基準硬貨CSの全
周にわたる測定点PA₁〜PA_2o（第６図参照）の基
準硬データm₁〜m_2oが記憶されており、これらの
基準データm₁〜m_2oは、第１表のｉ＝１の欄に示
す如く、RAM１４のアドレスA₁〜A_2oにそれぞ
れ対応させて読込まれる。また、このRAM１４
の前記A₁〜A_2o以外のアドレスには、受光アレー
ΣRAの測定データd₁〜d_oが記憶される。次いで、前記判別回路３の動作（すなわち、本
実施例では500円硬貨の判別の動作）を第９図を
参照して説明する。なお、以下の説明中SNは、
Ｎ番目のステツプを示すものとする。 S1：スタート S2：受光アレーΣRAにより、被測定硬貨Ｃの
測定点PA₁〜PA_2oのうち周方向に連続するｎ個
所のデータd₁〜d_oを読取つてRAM１４に記憶さ
せる。 S3：ｉに１を代入する。 S4：d₁〜d_oとA₁〜A_o内のデータ（ｉ＝１にお
いては、A₁＝m₁，A₂＝m₂……A_o＝m_o）とをそ
れぞれ比較し、各データの一致度を検出する。 S5：所定の一致度を満足するか否か（例えば
一致度95％とは、A₁〜A_o内のデータと測定デー
タd₁〜d_oの95％が一致していることをいうものと
する）を判断し、所定の一致度を満足する場合に
ははS6へ、満足しない場合にはS7へ進む。 S6：Accept信号、すなわち、硬貨が受入れ可
能であることを表わす信号を発生させる。 S7：ｉにｉ＋１を代入する。 S8：ｉ≦2nか否か、すなわち所定回数の判別
動作が行なわれたか否かを判別し、所定回数行な
われている場合には、換言すれば、2n回連続し
て一致度が所定値を下回る場合には、S9へ進ん
でNon−Accept信号、すなわち、硬貨が受入れ
不可能であることを表わす信号を発生させる。ま
た、所定回数の判別動作が行なわれていない場合
には、S10へ進む。 S10：第１表に示すように、ｉ＝ｉ＋１により
ｉが増加するに従い、アドレスA₁内のデータを
アドレスA_2oに移すとともに、ｊ番目のアドレス
（例えばアドレスA_2oのデータ）をｊ−１番目の
アドレス（例えばアドレスA_2o-1）に順次移動さ
せてS4へもどる。以下、S4，S5，S6もしくは、
S4，S5，S7，S8，S9を経てS11に到つて動作が
終了するか、あるいは、S4，S5，S7，S8，S10
の動作を繰り返す。 S11：動作終了。さらに、前記動作で受入れ不能となつた場合、
基準硬貨CSの他の面についての基準データm′₁〜
m′_2oと測定データd₁〜d_oとをS1〜S11の動作によ
つて比較して、硬貨の両面についてNon−
Acceptと判別された硬貨のみを排除すればよい。なお、以上の処理によつて500円硬貨の真偽の
判別が行えるのであるが、他の受光アレーΣRB，
ΣRCについて同様の処理を行うことにより、100
円硬貨、50円硬貨についても同様に真偽の判別を
行うことができ、また、これら各処理を繰り返す
ことにより、金種の判別を行なうことも可能であ
る。また、以上説明した第１実施例は、基準データ
が読み込まれるRAM１４内において各基準デー
タをアドレス一つずつ移動させつつ、各測定デー
タを毎回RAM１４内の同じアドレスにある基準
データと比較することにより、「データの配置を
一つずつシフトさせつつ基準データ列と測定デー
タ列との比較を繰返す」という本発明の中央処理
装置の構成を達成したものである。しかし、本発
明はこれに限らず、基準データを一部重複して記
憶手段に登録しておき、各基準データが登録され
る記憶手段のアドレスは一定に保ちつつ、測定デ
ータと比較するこの記憶手段のアドレスを一つず
つシフトさせることにより、本発明の前記構成を
達成することもできる。以下、この場合の例を第
２実施例として説明する。この第２実施例の硬貨判別装置は、判別回路の
ROMが、基準となるデータm₁〜m_2oに対して
（3n−１）個のアドレスA₁〜A_3o-1を有するもの
とされ、これらのアドレスA₁〜A_3o-1に、第２表
に示す如く、m₁〜m_2oおよびm₁〜m_o-1の基準デ
ータが記憶されたもので、その他の構成は前記第
１実施例と同様である。そして、この第２実施例
の硬貨判別装置によると、第１０図に示すよう
に、以下のような動作により硬貨判別を行うこと
ができる。

【表】 S21：スタート S22：受光アレーΣRAにより、硬貨Ｃの測定点
PA₁〜PA_2oのうち、周方向に連続するｎ個所の
データd₁〜d_oを読取つてRAM１４に記憶させる。 S23：ｉ＝０を代入する。 S24：測定データd₁〜d_oとアドレスA_1+i〜A_o+i
の基準データ（例えばｉ＝１の場合、m₁〜m_o）
との一致度を判別する。 S25：所定の一致度（例えば95％）を満足する
か否かを判断し、満足する場合にはS26へ、満足
しない場合にはS27へ進む。 S26：Accept信号を発生する。 S27：ｉにｉ＋１を代入する。 S28：ｉ＜2nか否か、すなわち所定回数の判別
動作が行なわれたか否かを判断し、NOの場合に
はS29へ進んでNon−Accept信号を発生させ、
YESの場合には、S24へもどる。そして、ｉを一つずつ加算しながら、アドレス
A_1+i〜A_o+i内の基準データと測定データとの比較
を繰り返す。 S29：所定の一致度が満たされないまま2n回の
判別動作が行なわれると、Non−Accept信号を
発生させる。 S30：動作終了。さらに、この動作で受入れ不能となつた場合、
前述の第１実施例で説明したように、基準硬貨
CSの他の面の基準データと測定データとを同様
に比較して、硬貨の両面についてNon−Accept
と判別されたものを排除すればよい。なお、本発明に係る硬貨判別装置あるいはこれ
を用いた判別装置方法は上記実施例に限定される
ものではなく、例えば、下記の如き態様も可能で
ある。上記実施例では、被測定硬貨表面の円弧に沿
つて配設された測定点の半周分に対して受光用
光フアイバを配設したが、受光用光フアイバは
半周分よりも少ない数であつてもよいし、また
全周にわたつて配設されていてもよく、いずれ
にしても、上記実施例と同様な処理で硬貨判別
を行うことができる。また、受光用光フアイバ
を全周にわたつて設けたとしても、全ての受光
用光フアイバのデータについて上記処理を行う
必要もなく、前記円弧の任意の一部について測
定してこのデータを用いて同様に硬貨判別を行
つてもよい。すなわち、同芯円状に配列された
測定点の各配列において受光用光フアイバによ
り表面の陰影を検出して処理する測定点の数
（範囲）が、硬貨表面の凹凸の程度等により判
別精度を考慮して適宜設定された中央処理装置
等の構成とすればよい。上記実施例においては、読み取り装置を構成
する複数の受光装置を対応する種類の硬貨毎に
動作させて、各種硬貨について硬貨判別を行う
場合を述べたが、複数の受光装置を同時に動作
させて、一つの金種の硬貨を複数種の円弧に沿
う測定点で測定し、判別精度を高めることもで
きる。上記実施例では、受光アレーとして受光素子
が直線状に配列されたものを使用しているが、
受光用光フアイバの基端部は光フアイバの可と
う性によりいかなる配置にも対応できるので、
受光アレーにおける受光素子の配列は全く自由
であり、各種形状の受光アレーを使用できる。「発明の効果」以上の説明で明らかなように、特許請求の範囲
第１項記載の硬貨判別装置によると、一定の凹凸
が表面に形成されている硬貨ならば、測定時の硬
貨の姿勢にかかわらず確実に判別することができ
るという効果がある。しかも、本装置は、被測定硬貨表面の凹凸を測
定するための光フアイバが複数列にわたつて配設
されているので、硬貨表面の複数箇所の凹凸のデ
ータ群を一度の測定で得ることができこれに基づ
いて判別できるもので、きわめて信頼性の高い硬
貨判別を行うことができる。また、いずれか一つ
の列の光フアイバを選択して処理を行うようにす
れば、硬貨の種類に応じてもつとも最適な位置の
凹凸によつて硬貨判別を行つて、各種の硬貨に対
して光フアイバの位置を変更することなく容易に
対応できる。また、この装置は、上記のように任意の経路で
配置できる光フアイバを介して硬貨表面の凹凸を
測定するものであるから、光フアイバの先端の配
置だけが被測定硬貨に対して規制されるのであ
り、他の受光素子や光源等の部品の配置は任意に
行えるので、装置の構成が非常に容易になる。さらに、特許請求の範囲第２項記載の装置であ
ると、基準硬貨については全周の一部に配列され
た測定点についてのみ測定する構成なので、装置
の小型化あるいは判別時間の短縮化を図ることが
できるのであり、この場合でも、基準硬貨表面が
周方向に変化に富んだ凹凸を有するものである限
り上記第１項記載の装置と同様に信頼性の高い硬
貨判別を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第９図は本発明を適用した硬貨判別装
置の第１実施例を示すもので、第１図は投光装置
および読み取り装置の側面図、第２図は第１図の
−線に沿う矢視図、第３図は第１図の−
線に沿う矢視図、第４図は投光用光フアイバおよ
び最外層の投光用光フアイバーの配置を示す斜視
図、第５図は被測定硬貨の測定個所の説明図、第
６図は測定点の説明図、第７図イ，ロはそれぞれ
投光装置の作用説明図、第８図は判別回路のブロ
ツク図、第９図は判別回路の動作を示す流れ図で
ある。また、第１０図は本発明の第２実施例に係
る判別回路の動作を示す流れ図である。１……投光装置、２……読み取り装置、４……
光源、５……投光用光フアイバー、１６Ａ，１６
Ｂ，１６Ｃ……受光用光フアイバー、７ａ……基
端部、７ｂ……先端部、１３……中央処理装置
（CPU）、１４，１５……記憶手段（１４……
RAM、１５……ROM）、Ｃ……被測定硬貨、CS
……基準硬貨、d₁〜d_o……測定データ、m₁〜m_2o
……基準データ、PA₁〜PA_2o，PB₁〜PB_2o，PC₁
〜PC_2o……測定点、RA₁〜RA_o，RB₁〜RB_o，
RC₁〜RC_o……受光素子。

Claims

【特許請求の範囲】１光源と、基端部が該光源に対向させられて先
端部が被測定硬貨の表面に向けられる多数の投光
用光フアイバとからなり、これら投光用光フアイ
バの先端部が、被測定硬貨の中心を通る垂線を軸
線とする円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定硬
貨の周方向に同一ピツチで配置される構成とされ
た投光装置と、光信号を電気信号に変換する多数の受光素子
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定硬貨の表面に該被測定硬貨の中心と同心円
となる円弧に沿つて同一ピツチで全周にわたり連
続的に配列された多数の測定点に前記受光用光フ
アイバの先端がそれぞれ対向させられる構成とさ
れた読み取り装置と、前記投光装置によつて被測定硬貨表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力される電気信号のデータ群が、前記測定点の
配列に対応して配列された測定データ列として書
き込まれる記憶手段であつて、前記投光装置及び読み取り装置と同じ構成の装
置によつて基準硬貨ついて測定された前記測定デ
ータ列に相当する基準データ列が、予め書き込ま
れる記憶手段と、該記憶手段を制御して前記基準データ列あるい
は測定データ列のいずれか一方における各データ
の配置を一つずつシフトさせつつ、これら基準デ
ータ列と測定データ列との比較を繰り返し実行し
て、基準硬貨と被測定硬貨との同一性を判別する
中央処理装置とを備えた硬貨判別装置であつて、前記測定点は被測定硬貨表面の複数の前記円弧
に沿つて複数列にわたつて配列されており、これ
ら全ての測定点について前記受光用光フアイバと
前記受光素子とが設けられていることを特徴とす
る硬貨判別装置。２光源と、基端部が該光源に対向させられて先
端部が被測定硬貨の表面に向けられる多数の投光
用光フアイバとからなり、これら投光用光フアイ
バの先端部が、被測定硬貨の中心を通る垂線を軸
線とする円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定硬
貨の周方向に同一ピツチで配置される構成とされ
た投光装置と、光信号を電気信号に変換する多数の受光素子
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定硬貨の表面に該被測定硬貨の中心と同心円
となる円弧に沿つて同一ピツチで全周の一部にわ
たり連続的に配列された多数の測定点に前記受光
用光フアイバの先端がそれぞれ対向させられる構
成とされた読み取り装置と、前記投光装置によつて被測定硬貨表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力される電気信号のデータ群が、前記測定点の
配列に対応して配列された測定データ列として書
き込される記憶手段であつて、前記投光装置及び読み取り装置と同じ構成の装
置によつて基準硬貨ついて測定された前記測定デ
ータ列に相当する基準データ列が、予め書き込ま
れる記憶手段と、前記基準データ列のうちの前記測定データ列と
同数のデータからなる連続する一部分と、前記測
定データ列とを、前記記憶手段を制御して前記一
部分を前記基準データ列全体内において一データ
分ずつシフトさせつつ選択した上で、繰り返し比
較することによつて基準硬貨と被測定硬貨との同
一性を判別する中央処理装置とを備えた硬貨判別
装置であつて、前記測定点は被測定硬貨表面の複数の前記円弧
に沿つて複数列にわたつて配列されており、これ
ら全ての測定点について前記受光用光フアイバと
前記受光素子とが設けられていることを特徴とす
る硬貨判別装置。