JPH0330911B2

JPH0330911B2 -

Info

Publication number: JPH0330911B2
Application number: JP58071872A
Authority: JP
Inventors: Shunsaku Nakauchi; Akifusa Takahashi; Shigeji Sakashita
Original assignee: Laurel Bank Machine Co Ltd
Current assignee: Laurel Bank Machine Co Ltd
Priority date: 1983-04-23
Filing date: 1983-04-23
Publication date: 1991-05-01
Also published as: JPS59197988A

Description

【発明の詳細な説明】

「産業上の利用分野」本発明は硬貨判別装置に関するものである。「従来技術」従来、硬貨入出金機等における硬貨の真偽およ
び金種の判別は、硬貨の径、厚さ、材質などの測
定データに基づいて行われているが、比較的高額
の500円硬貨の流通量の増加に伴い、精密な判別
方式、例えば硬貨表面のパターン（図柄）を読み
取つて判別を行う方式の必要性が高まつている。この硬貨の表面パターンはを読み取る技術の従
来例として下記の文献に記憶されたものが知られ
ている。 ◎ 実開昭53−67294号公報（第１従来例）硬貨
を所定の経路に沿つて直線的に移動させつつ、
その表面形状の相違に起因するる磁気特性の変
化を測定するようにしたもので、前記移動経路
とセンサとの位置関係から必然的に得られる測
定ライン（硬貨を円とするばその弦に相当す
る）に沿る磁気特性の変化を基準値と比較し
た、その判別の行う技術。 ◎ 特開昭51−97496号公報（第２従来例）硬貨
状のコイン（例えば、ゲーム機用の私製コイン
やトークンのような円板状の物体）の表面に刻
まれた傾斜面（コインと中心を同じくする円錐
の一部をなす面）からの反射光の有無により真
偽を判別する技術。 ◎ 特公昭47−45039号公報（第３従来例）には、
硬貨表面に円弧状に並んだ多数の測定点におけ
る反射光量を測定し、この光量の総和を基準値
と比較することにより真偽を判別する技術。「発明が解決しようとする課題」しかしながら上記各従来例の技術には下記のよ
うな問題がある。 ◎ 第１従来列の問題点硬貨は円板状であるから、種々の姿勢で硬貨計
数装置、判別装置等に投入される可能性あり、同
一の図柄を持つた硬貨であつても、無限に多くの
測定ライン（弦）についてのパターンが検出され
る可能性がある。したがつて、測定される可能性
のあるすべての弦に沿うパターンをそれぞれ基準
値として記憶して、これらを順次検出データと比
較することが必要になり、数多くの基準パターン
を記憶しておくために膨大な容量のメモリが必要
になるという問題があらる。また、上記メモリ容
量の制限を考慮して、基準となるパターンの数を
制限すると、測定されたパターンに該当する基準
パターンが存在しない場合が多々発生し、誤判別
となる可能性が高い。 ◎ 第２従来例の問題点硬貨の姿勢によつて、検出されるパターンが変
化しないから、コインの判別に好適な方式ではあ
るが、特定の傾斜面が形成されたコインを前提と
するため、一般の硬貨の判別にそのまま適用する
ことができない。 ◎ 第３従来例の問題点厳密な意味での表面パターンを検出し得るもの
ではないから、パターンが相違しても、光量の総
和が一致している限り真と判別してしまう可能性
がある。本発明は上記事情に鑑みて提案されたもので、
一定の凹凸が表面に形成されている硬貨ならば確
実に判別することができ、予め測定して記憶して
おかなければならない判別のための基準データの
量が少なくて済む硬貨判別装置を提供することを
目的としている。「問題点を解決するための手段」特許請求の範囲第１項記載の硬貨判別装置は、
光源と、基端部が該光源に対向させられて先端部
が被測定硬貨の表面に向けられる多数の投光用光
フアイバとからなり、これら投光用光フアイバの
先端部が、被測定硬貨の中心を通る垂線を軸線と
する円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定硬貨の
周方向に同一ピツチで配置される構成とされた投
光装置と、光信号を電気信号に変換する多数の受光素子
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定の表面に該測定硬貨の中心と同心円となる
円弧に沿つて同一ピツチで全周にわたり連続的に
配列された多数の測定点に前記受光用光フアイバ
の先端がそれぞれ対向させられる構成とされた読
み取り装置と、前記投光装置によつて均質な反射面に光源を照
射した場合に前記読み取り装置の各受光素子から
出力されたデータに基づいて、各受光素子の電気
信号に補正を加え各受光素子の光学的不均一を是
正する補正回路と、前記投光装置によつて被測定硬貨表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力された前記補正回路によつて補正された電気
信号のデータ群が、前記測定点の配列に対応して
配列された測定データ列として書き込まれる記憶
手段であつて、前記投光装置及び読み取り装置と同じ構成の装
置によつて基準硬貨ついて測定された前記測定デ
ータ列に相当する基準データ列が、予め書き込ま
れる記憶手段と、該記憶手段を制御して前記基準データ列あるい
は測定データ列のいずれか一方における各データ
の配置を一つずつシフトさせつつ、これら基準デ
ータ列と測定データ列との比較を繰り返し実行し
て、基準硬貨と被測定硬貨との同一性を判別する
中央処理装置とを備えていることを特徴としてい
る。特許請求の範囲第２項記載の硬貨判別装置は光
源と、基端部が該光源に対向させられて先端部が
被測定硬貨の表面に向けられる多数の投光用光フ
アイバとからなり、これら投光用光フアイバの先
端部が、被測定硬貨の中心を通る垂線を軸線とす
る円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定硬貨の周
方向に同一ピツチで配置される構成とされた投光
装置と、光信号と電気信号に変換する多数の受光素子
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定硬貨の表面に該被測定硬貨の中心と同心円
となる円弧に沿つて同一ピツチで全周の一部にわ
たり連続的に配列された多数の測定点に前記受光
用光フアイバの先端がそれぞれ対向させられる構
成された読み取り装置と、前記投光装置によつて均質によつて均質な反射
面に光線を照射した場合に前記読み取り装置の各
受光素子から出力されたデータに基づいて、各受
光素子の電気信号に補正を加え各受光素子の光学
的不均一を是正する補正回路と、前記投光装置によつて被測定硬貨表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力され前記補正回路により補正された電気信号
のデータが、前記測定点の配列に対応して配列さ
れた測定データ列として書き込まれる記憶手段で
あつて、前記投光装置及び読み取り装置と同様な構成の
装置であつて前記受光用光フアイバが全周にわた
り連続的に配列されたものによつて基準硬貨つい
て測定された前記測定データ列に相当する基準デ
ータ列が、予め書き込まれる記憶手段と、前記基準データ列のうちの前記測定データ列と
同数のデータからなる連続する一部分と、前記測
定データ列とを、前記記憶手段を制御して前記部
分を前記基準データ列全体内において一データ分
ずつシフトさせつつ選択した上で、繰り返した上
で、繰り返し比較することにより、基準硬貨と被
被測定硬貨との同性を判別する中央処理装置とを
備えていることを特徴としている。「作用」特許請求の範囲第１項記載の硬貨判別装置は、
投光装置から被測定硬貨表面への光りの照射状態
は被測定硬貨の中心線に対して一様に対して一様
になるため、投光装置に対して被測定硬貨の中心
線さえ所定の位置に配置されていればその姿勢に
かかわらず、その表面の同じ位置にはその位置の
凹凸に応じた一定の陰影が生じる。このため、読み取り装置の各受光素子に出力さ
れる電気信号は、その受光素子に基端が対向した
光フアイバの先端が位置する被測定硬貨の測定点
の陰影、すなわちその受光素子に対応する測定点
の凹凸のデータとなる。したがつて、記憶手段に書き込まぜる基準デー
タ列と測定データ列とは、それぞれ、基準硬貨表
面あるいは被測定硬貨表面の同一位置に同一ピツ
チで周方向に環状に配例された複数の測定点にお
ける凹凸のデータの集合となる。しかも、これら
データ列は個々のデータが対応する測定点と同じ
並びで配列されたもの、すなわち、硬貨表面にお
いて隣り合う測定点の凹凸のデータであればデー
タ列内においても隣合うものとされている。（こ
こで“データが隣合う”とは、基準データ列と測
定データ列との比較の際に個々のデータがどのよ
に対応するかを決定付ける概念的な配列をいい、
具体的には、各データが記憶される記憶手段のメ
モリエリアの番号等により意味付けられる配列で
ある。）このため、測定時の硬貨の姿勢（表面に垂直な
中心線の回りに回転する方向の姿勢）にかかわら
ず、どちらかのデータ列内において、データのこ
の隣合う関係を維持しつつデータの配置を移動
（つまり、シフト）させれば、どこかで、両デー
タ列を比較する際に対応させられる全てのデータ
の対が基準硬貨表面あるいは被測定硬貨表面の略
同一位置で測定されたものとなる。したがつて、被測定硬貨と基準硬貨とが同一性
を有するものであれば、本方法法の基準データ列
と測定データ列との比較において、データのシフ
トが一巡するはでの間に、殆ど全てのデータが僅
かな誤差で一致する場合が必ず一度生じるので、
このデータの一致の有無により確実に硬貨を判別
することができる。しかも、基準データとしては、上記のように基
準硬貨表面に配列された一列の測定点に対応する
数のデータさえあればよい。また、この装置には受光素子の光学的不均一を
是正する補正回路が設けられているので、多数設
けられる受光素子の特性に不均一があつたとして
も精度良く硬貨判別を行うことができる。例えば、各受光素子に光学的不均一があれば、
本装置の投光装置によつて均質な反射面に光線を
照射して本装置の読み取り装置の各受光素子から
出力された各信号には、の不均一に応じた差が生
じるので、この差を予め登録しておき被測定硬貨
測定時にこの加減算すれば前記不均一を補正でき
る。さらに、特許請求の範囲第２項記載の硬貨判別
方法によると、基準硬貨については全周の一部に
配列された測定点について測定する構成であるの
で、硬貨判別装置の小型化あるいは判別時間の短
縮等を図ることができるのであり、この場合で
も、基準硬貨表面が周方向に変化に富んだ凹凸を
有するものである限り上記第１項の装置と同様に
信頼性の高い硬貨判別を行うことができる。「実施例」以下、本発明を図面に示す硬貨判別装置の実施
例に基づいて説明する。第１図ないし第９図は硬貨判別装置の第１実施
例を示すもので、この硬貨判別装置は、第１図な
いし第７図に示す如く投光装置１によつて被測定
硬貨Ｃの表面に陰影を生じさせるとともに、この
陰影を受光装置２によつて読取り、されに、受光
装置２で読取つた信号を第８図に示す補正回路１
０を経由して判別回路３で判別するようにした基
本構成となつている。前記投光装置１は、光源４と該光源４から発せ
られた光線を被測定硬貨Ｃの表面に導く投光用光
フアイバー５とから構成され、該光フアイバー５
は、硬貨Ｃの中心を通る軸線と交差する方向に沿
い、かつ前記被測定硬貨Ｃと同心状の円弧６に交
差する方向に沿つて、すなわち、前記軸線を軸と
する円錐面に沿つて配置されている。そして、前
記投光用光フアイバー５は、第６図に示すように
円弧６の周方向に一定ピツチで並ぶ測定点P₁〜
P_2oの内ｎ個（例えば、P₁〜P_oあるいはP₃〜
P_o+2）に光線を投光している。また、前記受光装置２は、受光アレーΣR（受光
素子R₁〜R_o）と、前記硬貨Ｃの表面に現われた
陰影を受光素子R₁〜R_oにそれぞれ伝達する多数
（ｎ本）の受光用光フアイバー７とから構成され
ている。そして、受光用光フアイバー７の先端部
７ａは、前記受光素子R₁〜R_oに対向して、第５
図に示す如く直線状に配列され、一方先端部７ｂ
は、第４図に示すように、被測定硬貨Ｃ上の円弧
６とそれぞれ直交する如く、すなわち、被測定硬
貨Ｃの中心と直交る直線を軸とする円錐面に沿つ
て配列されている。そして、各受光用光フアイバ
ー７の先端部７ｂは、測定点P₁〜P_2oの一部（例
えばP₁〜P_oあるいはP₃〜P_o+2）にそれぞれ対向
させられて、測定点P₁〜P_2oにおける陰影を測定
している。したがつて、この第１実施例では、被
測定硬貨Ｃの全周にわたる2n個の測定点P₁〜P_2o
にうちｎ個所、すなわち、半周にわたつて測定が
行なわれることになる。そして、前記硬貨装置１の記憶用光フアイバー
５によつて第７図矢印で示す如く被測定硬貨Ｃに
投光すると、被測定硬貨Ｃが第７図イに示す位置
にある場合、被測定硬貨Ｃが第７図ロに示す位置
にある場合のいずれの場合にも、被測定硬貨Ｃの
凸部８の内側に同一形状の影９が生じ、この影９
が、受光用光フアイバー７を介して、受光アレー
ΣRに読取られる。次いで、前記半別回路３を第８図を参照して説
明すれば、この判別回路３は、受光アレーΣRに
補正回路１０を介して接続さえており、該補正回
路１０により、前記投光用、受光用の光フアイバ
ーの品質、加工精度の不均一による誤差が補正さ
れるようになつている。例えば、各受光素子R₁
〜R_oに光学的不均一があれば、本装置の投光装
置１によつて均質な反射面に光線を照射して本装
置の受光装置２の各受光素子R₁〜R_oから出力さ
れた各信号には、この不均一に応じた差が生じる
ので、この差を予め補正用CPU１０ａに接続さ
れるメモリ等に登録しておき被測定硬貨測定時に
この値を加減算すれば前記不均一を補正できる。そして、判別回路３は、受光アレーΣRにAD
変換器１１およびンターフエイス１２を介して接
続されたCPU１３と、該CPU１３に接続された
RAM１４およびROM１５とから構成されてい
る。前記ROM１５には、基準硬貨CSの全周にわ
たる測定点P₁〜P_2o（第６図参照）の基準データ
m₁〜m_2oが記憶されており、これらの基準データ
m₁〜m_2oは、第１表のｉ＝１の欄に示す如く、
RAM１４のアドレスA₁〜A_2oにそれぞれ対応さ
せて読込まれる。また、このRAM１４の前記A₁
〜A_2o以外のアドレスには、受光アレーΣRの測
定データd₁〜d_oが記憶される。

【表】また、前記補正回路１０は、補正用CPU１０
ａと、インターフエイス１０ｂと、DA変換器１
０ｃと、演算器１０とからなり、前記補正用
CPU１０ａには、例えば、均一な反射面に投光
装置１から光線を照射した際に受光装置２で得ら
れる測定データがデジタル信号として記憶されて
いる。したがつて、光フアイバーに加工誤差、材
質の不均一がある場合には、これらの原因によつ
て不均一となつた信号が補正用データとして補正
用CPU１０ａに記憶される。そてて、補正用CUP１０ａに記憶されたデー
タをDA変換器１０ｃによつてアナログ信号化
し、さらにこのデータと被測定硬貨Ｃの測定デー
タとを演算器１０ｄで演算する（例えば測定デー
タを補正データで除す）ことにより、投光装置１
の照射光量、および受光装置２の受光感度の不均
一が補正される。次いで、前記判別回路３の動作を第９図を参照
して説明する。なお、以下の説明中SNは、Ｎ番
目のステツプを示すものとする。 S1：スタート S2：受光アレーΣRにより、被測定硬貨Ｃの測定
点P₁〜Ｐ2nのうち周方向に連続するｎ個所の
データd₁〜d_oを読取つてRAM１４に記憶させ
る。 S3：ｉに１を代入する。 S4：d₁〜d_oとA₁〜A_o内のデータ（ｉ＝１におい
ては、A₁＝m₁、A₂＝m₂……A_o＝m_o）とをそ
れぞれ比垣し、両データを比較して、一致度を
検出する。 S5：所定の一致度を満足するか否か（例えば一
致度95％とは、A₁〜A_o内のデータと測定デー
タd₁〜d_oの95％が一致していることをいう）を
判断し、所定の一致度を満足する場にはS6へ、
満足しない場合にはS7へ進む。 S6：Accept信号、すなわち、硬貨が受入れ可能
でることを表わす信号を発生させる。 S7：ｉ＝ｉ＋１を代入する。 S8：ｉ≦2nか否か、すなわち所定回数の判別動
作が行なわれたか否かを判別し、所定回数行な
われている場合には、換言すれば、2n回連続
して一致度が所定値を下回る場合には、S9へ
進んでNon−Accept信号、すなわち、硬貨受
入れ可能であることを表わす信号を発生させ
る。また、所定回数の判別動作が行なわれてい
ない場合には、S10へ進む。 S10：第１表に示すように、ｉ＝ｉ＋１によりｉ
が増加するに従い、アドレスA₁内のデータを
アドレスA_2oに移すとともに、ｊ番目のアドレ
ス（例えばアドレスA_2oのデータ）ｊ−１番目
のアドレス（例えばアドレスA_2o-1）に順次移
動させてS4へもどる。以下、S4，S5，S6もし
くは、S4，S5，S7，S8，S9を経てS11に到つ
て動作するか、あるいは、S4，S5，S7，S8，
S10の動作を繰り返す。 S11：動作終了。さらに、前記動作で受入れ可能となつた場合、
基準硬貨CSの他の面についての基準データm′₁〜
m′_2oと測定データd₁〜d_oとをS1〜S11のによつて
比垣して、硬貨の両面についてNon−Acceptと
判別された硬貨のみを排除すればよい。また、前記動作では真偽の判別のみが行なわれ
るが、各金属の硬貨の基準データについて前記動
作を繰り返すことにより、金属の判別を行なうこ
とも可能である。次いで、第１０図に従つて、硬貨判別装置の第
２実施例に係る判別回路の動作を説明する。な
お、この判別回路のROMは、基準となるデータ
m₁〜m_2oに対して（3n−１）個のアドレスA₁〜
A_3o-1を有し、これらのアドレスA₁〜A_3o-1には、
第２表に示す如く、m₁〜m_2oおよびm₁〜m_o-1の
データが記憶されている。また、RAMには、測
定データd₁〜d_oが記憶される。

【表】 S21：スタート S22：受光アレーΣRにより、硬貨Ｃの測定点P₁
〜P_2oのうち、周方向に連続するｎ個所のデー
タd₁〜d_o読取つてRAM１４に記憶させる。 S23：ｉ＝０を代入する。 S24：測定データd₁〜d_oとアドレスA_1+i〜A_o+iの
基準データ（例えばm₁〜m_o）との一致度を判別
する。 S25：所定の一致度（例えば95％）を満足するか
否かを判断し、満足する場合にはS26へ、満足
しない場合にはS27へ進む。 S26：Accept信号を発生する。 S27：ｉにｉ＋１を代入する。 S28：ｉ＜2nか、すなわち所定回数の判別動作が
行なわれたか否かを判断し、NOの場合には
S29へ進んでNon−Accept信号を発生させ、
YESの場合には、S24へもどる。そして、ｉを一つずつ加算しながら、アドレ
スA_1+i〜A_2+i内の基準データと測定データとの
比較を繰り返す。 S29：所定の一致度が満たされないまま2n回の判
別動作が行なわれると、Non−Accept信号を
発生させる。 S30：動作終了。さらに、前述の動作で受入れ不能となつて場
合、前述の第１実施例で説明したように、基準硬
貨CSの他の面の基準データと測定データとを比
較して、硬貨の両面についてNon−Acceptと判
別されたものを排除すればよい。なお、本発明に係る硬貨判別方法は前記各実施
例に限定さるものではなく、例えば下記のごとき
態様による実施も可能である。 (i) 前記各実施例では、測定硬貨の円弧に沿つて
ほぼ半周にわたつて測定を行なつたが（すなわ
ち、2n個の基準データと個の測定データとを
比較したが）、前記円弧の全周にわたつて被測
定硬貨表面の凹凸を測定してこのデータを用い
て同様に硬貨判別を行つてもよい、また、前記
円弧の任意に一部について測定して同様に硬貨
判別を行つてもよい。すなわち、被測定硬貨表
面の測定点の数は、硬貨表面の凹凸の程度等に
より判別精度を考慮して適宜設定すればよい。 (ii) 被測定硬貨の姿勢を検出して、この検出信号
によつて基準データと測定データとのいずれか
を修正した後に両データを比較し、データを円
弧の周方向にずらす動作を省略する。「発明の効果」以上の説明で明らかなよに、特許請求の範囲第
１項記載の硬貨判別装置によれば、測定時の硬貨
の姿勢にかかわらず、一定の凹凸を表面に有する
硬貨ならば確実に判別することができるという効
果がある。しかも、基準データとしては、上記のように基
準硬貨表面に配列された一列の測定点に対応する
数のデータさえあればよい。また、この装置には受光素子の光学的不均一を
是正する補正回路が設けられているで、多数設け
られる受光素子の特性不均一があつたとしても精
度よく硬貨判別を行うことができる。まらに、特許請求の範囲第２項記載の硬貨判別
方法によると、基準硬貨については全周の一部に
配列された測定点についてのみ測定する構成であ
るので、硬貨判別装置の小型化あるいは判別時間
の短縮等を図ることができるのであり、この場合
でも、基準硬貨表面が周方向に変化に富んだ凹凸
を有するものである限り上記第１項の装置と同様
に信頼性の高い硬貨判別を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第９図は本発明を適用した硬貨判
別装置の第１実施例を示すもので、第１図は投光
装置および受光装置の側面図、第２図は第１図の
−線に沿う矢視図、第３図は投光用および受
光用の光フアイバーの配置を示す斜視図、第４図
は第１図の−線に沿う矢視図、第５図は第１
図の−線に沿う矢視図、第６図は測定点の説
明図、第７図イ，ロはそれぞれ投光装置の作用説
明図、第８図は判別回路のブロツク図、第９図は
判別回路の動作を示す流れ図、第１０図は硬貨判
別装置の第２実施例に係る判別回路の動作を示す
流れ図である。１……投光装置、２……読み取り装置（受光装
置）、３……判別回路、４……光源、５……投光
用光フアイバー、６……円弧、７……受光用光フ
アイバー、８……凸部、９……影、１０……補正
回路、１０ａ……補正用CPU、１０ｂ……イン
ターフエイス、１０ｃ……DA変換器、１０ｄ…
…演算器、１３……中央処理装置（CPU）、１
４，１５……記憶手段、（１４……RAM、１５
……ROM）、Ｃ……被測定硬貨、CS……基準硬
貨、A₁〜A_3o……アドレス、d₁〜d_o……測定デー
タ、m₁〜m_2o……基準データ、P₁〜P_2o……測定
点、ΣR……受光アレー、R₁〜R_o……受光素子。

Claims

【特許請求の範囲】１光源と、基端部が該光源に対向させられて先
端部が被測定硬貨の表面に向けられる多数の投光
用光フアイバとからなり、これら投光用光フアイ
バの先端部が、被測定硬貨の中心を通る垂線を軸
線とする円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定硬
貨の周方向に同一ピツチで配置される構成とされ
た投光装置と、光信号を電気信号に変換する多数の受光素子
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定硬貨の表面に該被測定硬貨の中心と同心円
となる円弧に沿つて同一ピツチで全周にわたり連
続的に配列された多数の測定点に前記受光用光フ
アイバの先端がそれぞれ対向させられる構成とさ
れた読み取り装置と、前記投光装置によつて均質な反射面に光線を照
射した場合に前記読み取り装置の各受光素子から
出力されたデータに基づいて、各受光素子の電気
信号に補正を加え各受光素子の光学的不均一を是
正する補正回路と、前記投光装置によつて被測定硬化表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力され前記補正回路によつて補正された電気信
号のデータ群が、前記測定点の配列に対応して配
列された測定データ列として書き込まれる記憶手
段であつて、前記投光装置及び読み取り装置と同じ構成の装
置によつて基準硬化ついて測定された前記測定デ
ータ列に相当する基準データ列が、予め書き込ま
れる記憶手段と、該記憶手段を制御して前記基準データ列あるい
は測定データ列のいずれか一方における各データ
の配置を一つずつシフトさせつつ、これら基準デ
ータ列と測定データ列との比較を繰り返し実行し
て、基準硬貨と被測定硬貨との同一性を判別する
中央処理装置とを備えていることを特徴とする硬貨判別装置。２光源と、基端部が該光源に対向させられて先
端部が被測定硬貨の表面に向けられる多数の投光
用光フアイバとからなり、これら投光用光フアイ
バの先端部が、被測定硬貨の中心を通る垂直を軸
線とする円錐面に沿つて傾斜した状態で被測定硬
貨の周方向に同一ピツチで配置される構成とされ
た投光装置と、光信号電気信号に変換する多数の受光素子と
と、基端部が前記多数の受光素子にそれぞれ対向
させられた多数の受光用光フアイバとからなり、
被測定硬貨の表面に該被測定硬貨の中心と同心円
となる円弧に沿つて同一ピツチ全周の一部部にわ
たり連続的に配列された多数の測定点に前記受光
用光フアイバの先端がそれぞれ対向させられる構
成とさらた読み取り装置と、前記投光装置によつて均質な反射面に光線を照
射した場合に前記読み取り装置の各受光素子から
出力されたデータに基づいて、各受光素子の電気
信号に補正を加え各受光素子の光学的不均一を是
正する補正回路と、前記投光装置によつて被測定硬貨表面に光が照
射された際に前記読み取り装置の各受光素子から
出力され前記補正回路により補正された電気信号
のデータが、前記測定点の配列に対応して配列さ
れた測定データ列とし書き込まれる記憶手段であ
つて、前記投光装置及び読み取り装置と同様な構成の
装置であつて前記受光用光フアイバが全周にわた
つたり連続的に配列されたものによつて基準硬貨
ついて測定された前記測定データ列に相当する基
準データ列が、予め書き込まれる記憶手段と、前記基準データ列のうちの前記測定データ列と
同数のデータからなる連続する一部分と、前記測
定データ列とを、前記記憶手段を制御して前記一
部分を前記基準データ列全体内において一データ
分ずつシフトさせつつ選択した上で、繰り返し比
較することにより、基準硬貨と被測定硬貨との同
一性を判別する中央処理装置とを備えたいることを特徴とする硬貨判別装置。