JPH0369007A - 磁気ヘッドの製造方法 - Google Patents

磁気ヘッドの製造方法

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JPH0369007A
JPH0369007A JP20516089A JP20516089A JPH0369007A JP H0369007 A JPH0369007 A JP H0369007A JP 20516089 A JP20516089 A JP 20516089A JP 20516089 A JP20516089 A JP 20516089A JP H0369007 A JPH0369007 A JP H0369007A
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JP
Japan
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glass
low melting
film
substrate
melting point
Prior art date
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JP20516089A
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English (en)
Inventor
Takeshi Kijima
健 木島
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ビデオテープレコーダ等に用いられる磁気ヘ
ッドの製造方法に関するものである。
〔従来の技術〕
従来より、軟磁性薄膜をギャップ形成面に有した一対の
基板を低融点ガラスにて溶着する工程を含む磁気ヘッド
の製造方法が知られている。
かかる方法は、例えば、第5図(a)に示すように、感
光性結晶化ガラスからなる基板Bllの表面に、略■字
状の溝17・・・を例えばダイシングによって連続して
形成すると共に、一方の側壁17a・・・に真空蒸着法
あるいはスパッタリング法等の薄膜成形技術によって、
所定の膜厚、つまり磁気ヘッドのトラック幅のほぼ半分
に相当するl!厚となるようにFe−3t −A/!系
合金からなる軟磁性薄膜13を形成する。
そして、同図(b)に示すように、軟磁性薄膜13の上
に、Sin、からなる非磁性酸化膜14を保護膜として
底膜した後、溝17・・・全体を覆うように金属Ti膜
15→金属Cr膜16の順でこれらを連続して形成する
次いで、基板Bll上に、ナトリウムを含有する板状の
低融点ガラスを載せ、同図(C)に示すように、溝17
・・・全体に低融点ガラス12によるモールドを行うと
共に、低融点ガラス12の平坦化のための研削を行う。
そして、第6図(a)に示すように、基板B11をピッ
チEで切り出し、この切り出された基板Bllに対し外
部巻線溝および内部巻線溝を形成すると共に、ギャップ
面加工を行う。
そして、このように巻線溝の形成された基板B11を一
対用意し、互いのギャップ面が対向するように突き合わ
せて加圧固定し、低融点ガラス12が接着力を持つよう
な温度まで昇温してガラス溶着を行って接合し、同図(
b)に示すように、コアブロック18を得る。
このコアブロック18に対し一定幅で切断を行い、第7
図に示すように、ヘッドチップ本体20を得た後、この
ヘッドチップ本体20に対し、テープ摺動面研磨、コイ
ル巻線、ベース板への固定等の処理を施して磁気ヘッド
を得る。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、ガラス溶着に用いられるナトリウムを含む低
融点ガラス12は、耐摩耗性に劣る、硬度が低い、等の
欠点を有しており、製造された磁気ヘッドにおいて、テ
ープ摺動時にガラスの欠けや割れが生じ、長寿命化が図
れないという欠点を有している。
この場合、ナトリウムを含む低融点ガラス12の代わり
にカリウムを含む低融点ガラスを用いた磁気ヘッドの方
が長寿命化の点で優れているのであるが、このカリウム
を含む低融点ガラスは、ナトリウムを含む低融点ガラス
12に比べ、ガラス化が困難であるため、溶着性および
加工性に劣っており、磁気ヘッドを製造する上で著しい
欠点を持つものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る磁気ヘッドの製造方法は、上記の課題を解
決するために、基板表面に形成された略V字状の多溝に
対してその一方の側壁面に所定の膜厚で軟磁性薄膜を形
成する工程、および、この軟磁性薄膜の形成された一対
の基板を突き合わせて低融点ガラスにて溶着する工程を
有する磁気ヘッドの製造方法において、溶着後の低融点
ガラスに対してイオン交換処理を施す工程を有している
ことを特徴としている。
〔作 用〕
上記の槽底によれば、溶着前の低融点ガラスについては
、ガラス化が容易で溶着性および加工性に優れた例えば
ナトリウムを含むガラスを用いて磁気ヘッド製造の容易
化を図ることができる一方、ガラス溶着後においては、
イオン交換処理により、溶着済ガラスを例えばカリウム
を含むガラスに変化させ、当該カリウムを含むガラスの
有する高硬度、高耐摩耗性、高耐水性、高耐化学性の利
点を磁気ヘッドに持たせて、磁気ヘッドの長寿命化を図
ることができる。また、カリウムイオンはナトリウムイ
オンより体積が大きいので、これらの交換が行われたと
きには、ガラス内の引っ張り応力が増大し、ガラス強度
も高まり一層の長寿命化が図れることになる。
〔実施例〕
本発明の一実施例を第1図ないし第4図に基づいて説明
すれば、以下の通りである。
本発明に係る磁気ヘッドの製造方法により製造される磁
気ヘッドにおいて、その本体部分は、第3図(b)に示
すように、ギャップ対向面が山型に形成された一対の感
光性結晶化ガラスト1と、各山型部1cの一方の側壁部
に形成されたFe5i−Aj!(センダスト)合金等の
軟磁性薄膜3およびSiO2等からなる非磁性酸化膜4
と、各山型部1cの両側壁部に形成された金属Ti膜5
および金属Cr膜6と、カリウム(K)を含む低融点ガ
ラス2′を有して構成されている。また、各感光性結晶
化ガラス1は、外部巻線溝1aおよび内部巻線溝1bを
有しており、これら溝1a・1bに図示しない巻線が施
されるようになっている。
上記磁気ヘッドを製造するには、第1図(a)に示すよ
うに、感光性結晶化ガラスからなる基板Blの表面に、
最終的な磁気ヘッドの厚さ、および分断する際の切り代
を考慮したピッチA、で略■字状の溝7・・・を例えば
ダイシングによっ連続して形成する。各溝7の少なくと
も一方の側壁(前記山型部1Cの一方の側壁でもある)
7aと、基板B1の加工前表面の法線H,とのなす角e
lは、最終的な磁気ヘッド形態でのアジマス角にほぼ等
しいことが望ましい。なお、この角度については、ここ
では特に精度を要しない。この角olの精度は溝7のピ
ッチAIと、分断される際の加工ピッチ精度によって決
定されるからである。
次に、同図(b)に示すように、一方の側壁7a・・・
に真空蒸着法あるいはスパッタリング法等の薄膜成形技
術によって、所定の膜厚、つまり磁気ヘッドのトラック
幅のほぼ半分に相当する膜厚となるようにFe−3i−
Af系合金からなる軟磁性薄膜3を形成する。Fe−3
t−Af系合金の組織としては、例えば、5.5wt%
Al−bat。
Feといったものが一般的である。軟磁性薄膜3の成膜
において、真空蒸着法を用いた場合は、同図(C)に示
すように、成膜に寄与する蒸着粒子の飛来方向Rが一様
であるので、この飛来方向角Φを適当に設定すれば、隣
接する溝壁7a・・・の頂部による陰影効果により、各
側壁7aの底に近い部分で軟磁性薄膜3を途切れさせる
ことができる、なお、蒸着粒子の飛来方向角Φは、軟磁
性薄膜3としてFe−3t −All!系合金を用いた
場合、その特性を考慮すると、0〜45°の範囲に設定
するのが望ましい。
次に、同図(d)に示すように、軟磁性薄膜3の上に、
Stowからなる非磁性酸化膜4を保護膜として成膜す
る。なお、本実施例では、軟磁性薄膜3の上にのみ非磁
性酸化膜4を形成しているが、溝7全体を被覆するよう
に形成しても良いものである。また、非磁性酸化膜4と
してSin。
膜を示したが、これに限るものではない。
次に、同図(e)に示すように、溝7・・・全体を覆う
ように金属Ti成膜→金属Cr膜6の順でこれらを連続
して形成する。この金属Ti膜5と金属Cr成膜が形成
されるときには、軟磁性薄膜3との間に保護層として前
記の非磁性酸化膜4が介在しており、軟磁性薄膜3上に
直接に形成する場合に比べると、軟磁性薄膜3と金属T
i膜との間での拡散が抑止され、この拡散に起因する特
性劣化を低減することができる。
次に、基板Bl上に、ナトリウムを含有する板状の低融
点ガラスを載せ、同図(f)に示すように、溝7・・・
全体に低融点ガラス2によるモールドを行ってこれを平
坦化する。このガラスモールドが行われるときには、前
述の金属Cr成膜が溝7・・・全体を被覆しているので
、低融点ガラス2の溶融時における濡れ性が良好となり
、溶融したガラスの表面張力による縮みが生して玉状に
固着し全体が被覆されないといった欠点を解消すること
ができる。また、金属Cr成膜だけでは、これを非磁性
薄膜4や基板Bl上に直接形成した場合、反応を起こし
て発泡しがちとなるが、前記金属Ti膜5が介在されて
いることにより、かかる発泡の問題も解消される。なお
、実験により、低融点ガラス2でモールドする際、金属
Cr116がある場合とない場合とでは、ある場合の濡
れ角は60〜70°、ない場合の濡れ角は100〜11
0°であり、その差が30〜50’であることが6I 
L’Qされている。
次に、第2図(a)に示すように、ガラスモールドされ
た基板B1をピッチE1で切り出し、。この切り出され
た基板Blに対し同図(b)に示すように、外部巻線溝
Blaおよび内部巻線溝Blbを形成すると共に、ギャ
ップ面加工を行う。
そして、このように外部巻線溝Blaおよび内部巻線溝
Bib等の形成された基板B1を一対用意し、互いのギ
ャップ面が対向するように突き合わせて加圧固定し、低
融点ガラス2が接着力を持つような温度まで昇温しでガ
ラス溶着を行って接合し、同図(C)に示すように、コ
アブロック8を得る。
このコアブロック8に対し一定幅で切断を行い、第3図
(a)に示すように、ヘッドチップ本体10を得る。
次に、このヘッドチップ本体10を中性硝酸カリウム溶
液中に約20時間浸漬してナトリウムを含む低融点ガラ
ス2に対するイオン交換処理を行う。イオン交換により
、低融点ガラス2中の体積の小さい一価のイオンが、体
積の大きな一価の陽イオンと置き換わることになる。即
ち、第4図(a)(b)に示すように、小さなナトリウ
ムイオン(Na”)が大きなカリウムイオン(K“)に
交換され、前記のへラドチップ本体10において、ナト
リウムを含む低融点ガラス2は、第3図(b)に示すよ
うに、カリウムを含む低融点ガラス2′に変化する。
そして、このようにイオン交換されたヘッドチップ本体
10に対し、テープ摺動面研磨、コイル巻線、ベース板
への固定等の処理を施して磁気ヘッドを得る。
上記の構成によれば、ガラス溶着が完了されているヘッ
ドチップ本体10を得るまでは、ナトリウムを含む低融
点ガラス2によるので、当該低融点ガラス2の持つガラ
ス化の容易性を有効に引き出して溶着の高信頼化および
加工の容易化を図ることができる。そして、ガラス化を
考慮しなくてもよい段階に入ってからイオン交換処理が
施され、このイオン交換処理によって小さなナトリウム
イオンが大きなカリウムイオンに交換されるため、ガラ
ス中の引っ張り応力が増大し、ガラス強度を向上するこ
とができる。また、カリウムを含むガラスは硬度も高く
(なお、本実施例の場合、イオン交換前のピンカース硬
度が350であったのに対し、イオン交換後のビッカー
ス硬度が600に向上した。)、耐摩耗性並びに耐水性
、耐化学性も高いことから、カリウムを含む低融点ガラ
ス2′を有する当該磁気ヘッドは、その寿命が格段に高
められることになる。
〔発明の効果〕 、 本発明に係る磁気ヘッドの製造方法は、以上のように、
基板表面に形成された略■字状の多溝に対してその一方
の側壁面に所定の膜厚で軟磁性薄膜を形成する工程、お
よび、この軟磁性薄膜の形成された一対の基板を突き合
わせて低融点ガラスにて溶着する工程を有する磁気ヘッ
ドの製造方法において、溶着後の低融点ガラスに対して
イオン交換処理を施す工程を有している構成である。
これにより、溶着前の低融点ガラスについては、ガラス
化が容易で溶着性および加工性に優れた例えばナトリウ
ムを含むガラスを用いて磁気ヘッド製造の容易化を図る
ことができる一方、ガラス溶着後においては、イオン交
換処理により、溶着済ガラスを例えばカリウムを含むガ
ラスに変化させ、当該カリウムを含むガラスの有する高
硬度、高耐摩耗性、高耐水性、高耐化学性の利点、さら
には高強度化の利点を磁気ヘッドに持たせて、磁気ヘッ
ドの長寿命化を図ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明の一実施例を示すものであ
る。 第1図(a)(b)および(d)〜(f)はそれぞれ溝
加工からガラスモールディングに至るまでの磁気ヘッド
の製造方法の各段階を示す断面図、同図(c)は真空蒸
着法による場合の蒸着粒子飛来方向を示す説明図である
。 第2図(a)〜(C)はそれぞれガラスモールドされた
基板の切り出しからヘッドブロックを得るに至るまでの
磁気ヘッドの製造方法の各段階を示す斜視図である。 第3図(a)はイオン交換前のへラドチップ本体を示す
斜視図、同図(b)はイオン交換後のヘッドチップ本体
を示す斜視図である。 第4図(a)はイオン交換前のナトリウムを含むガラス
の状態を示す模式図、同図(b)はイオン交換後のカリ
ウムを含むガラスの状態を示す模式図である。 第5図ないし第7図は従来例を示すものである。 第5図(a)〜(C)はそれぞれ溝加工からガラスモー
ルデイン、グに至るまでの磁気ヘッドの製造方法の各段
階を示す断面図である。 第6図(a)および(b)はそれぞれガラスモールドさ
れた基板の切り出しからヘッドブロックを得るに至るま
での磁気ヘッドの製造方法の各段階を示す斜視図である
。 第7図はへラドチップ本体を示す斜視図である。 1は感光性結晶化ガラス、2はナトリウムを含む低融点
ガラス、2′はカリウムを含む低融点ガラス、3は軟磁
性薄膜、4は非磁性酸化膜、5は金属Ti膜、6は金属
Cr膜、7は溝、10はへラドチップ本体である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板表面に形成された略V字状の各溝に対してその
    一方の側壁面に所定の膜厚で軟磁性薄膜を形成する工程
    、および、この軟磁性薄膜の形成された一対の基板を突
    き合わせて低融点ガラスにて溶着する工程を有する磁気
    ヘッドの製造方法において、 溶着後の低融点ガラスに対してイオン交換処理を施す工
    程を有していることを特徴とする磁気ヘッドの製造方法
JP20516089A 1989-08-08 1989-08-08 磁気ヘッドの製造方法 Pending JPH0369007A (ja)

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JP20516089A JPH0369007A (ja) 1989-08-08 1989-08-08 磁気ヘッドの製造方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6559956B2 (en) * 1999-05-27 2003-05-06 Xerox Corporation Butted sensor array with supplemental chip in abutment region

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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