JPH0371669B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0371669B2 JPH0371669B2 JP56164617A JP16461781A JPH0371669B2 JP H0371669 B2 JPH0371669 B2 JP H0371669B2 JP 56164617 A JP56164617 A JP 56164617A JP 16461781 A JP16461781 A JP 16461781A JP H0371669 B2 JPH0371669 B2 JP H0371669B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arithmetic circuit
- deviation
- converter
- find
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、計器、変換器、電圧発生器等の校正
試験に使用して好適なデイジタル電圧型に関する
ものである。
試験に使用して好適なデイジタル電圧型に関する
ものである。
計器、変換器、電圧発生器等の検査や校正試験
においては、一般に零(またはスパンの最小値)
とフルケース値のほかそのスパン等分割したいわ
ゆる新目も試験点としてチエツクする場合が多
い。例えば、12Vフルスケールのような機器の場
合に試験点を12、10、8、6、4、2、0とする
などがその例である。これらの試験点における偏
差をチエツクするような場合、従来のデイジタル
電圧計では被試験機器に与えるアナログ電圧を単
に測定して表示するのみであるので、各試験点の
誤差は試験者がその表示を読み取つて別途計算を
行なうことにより求める必要があつた。また、特
に試験点が端数になるような場合は、計算自体も
複雑となり、一層面倒であつた。
においては、一般に零(またはスパンの最小値)
とフルケース値のほかそのスパン等分割したいわ
ゆる新目も試験点としてチエツクする場合が多
い。例えば、12Vフルスケールのような機器の場
合に試験点を12、10、8、6、4、2、0とする
などがその例である。これらの試験点における偏
差をチエツクするような場合、従来のデイジタル
電圧計では被試験機器に与えるアナログ電圧を単
に測定して表示するのみであるので、各試験点の
誤差は試験者がその表示を読み取つて別途計算を
行なうことにより求める必要があつた。また、特
に試験点が端数になるような場合は、計算自体も
複雑となり、一層面倒であつた。
本発明の目的は、このような点に鑑み、各試験
点に対する偏差を自動的に直接求めることのでき
るデイジタル電圧計を提供することにある。
点に対する偏差を自動的に直接求めることのでき
るデイジタル電圧計を提供することにある。
以下図面を用いて本発明を実施例につき詳しく
説明する。第1図は本発明に係るデイジタル電圧
計の一実施例を示す要部構成図である。同図にお
いて、1はアナログ・デイジタル変換器(以下
AD変換器と略す)、2は演算回路、3は定数設
定器、4は表示器である。AD変換器1は、被試
験機器(図示せず)に与えるアナログ電圧xを測
定するために、ある一定周期でこのアナログ信号
をサンプリングしかつその値をデイジタル変換し
て出力するものである。演算回路2は、AD変換
器1を介して読み取つた入力xの試験点に対する
偏差を算出するものであり、この演算回路として
はマイクロコンピユータを使用するのが望まし
い。演算回路2では、定数設定器3により設定さ
れた2つの定数、フルスケール値Yと分割数mを
記憶し、入力xをn/m・Yと比較して(x−n/m・ Y)が最小となるnの値を自動的に選ぶことがで
きる。そして、このときの100(x−n/m・Y)/ Yを演算して、フルスケールに対するm分割の試
験点nの偏差%を求める。表示器4は、演算回路
2より送出される偏差%及び試験点nを数字等で
表示するものである。なお、各部を作動させるた
めに必要な制御信号は図示しないコントローラよ
り与えられるか又は演算回路2にマイクロコンピ
ユータを用いた場合はこのマイクロコンピユータ
から発せられるようになつている。しかしなが
ら、この点は本発明と直接に関係しないのでここ
ではその詳細な説明は省略する。
説明する。第1図は本発明に係るデイジタル電圧
計の一実施例を示す要部構成図である。同図にお
いて、1はアナログ・デイジタル変換器(以下
AD変換器と略す)、2は演算回路、3は定数設
定器、4は表示器である。AD変換器1は、被試
験機器(図示せず)に与えるアナログ電圧xを測
定するために、ある一定周期でこのアナログ信号
をサンプリングしかつその値をデイジタル変換し
て出力するものである。演算回路2は、AD変換
器1を介して読み取つた入力xの試験点に対する
偏差を算出するものであり、この演算回路として
はマイクロコンピユータを使用するのが望まし
い。演算回路2では、定数設定器3により設定さ
れた2つの定数、フルスケール値Yと分割数mを
記憶し、入力xをn/m・Yと比較して(x−n/m・ Y)が最小となるnの値を自動的に選ぶことがで
きる。そして、このときの100(x−n/m・Y)/ Yを演算して、フルスケールに対するm分割の試
験点nの偏差%を求める。表示器4は、演算回路
2より送出される偏差%及び試験点nを数字等で
表示するものである。なお、各部を作動させるた
めに必要な制御信号は図示しないコントローラよ
り与えられるか又は演算回路2にマイクロコンピ
ユータを用いた場合はこのマイクロコンピユータ
から発せられるようになつている。しかしなが
ら、この点は本発明と直接に関係しないのでここ
ではその詳細な説明は省略する。
このような構成における本発明の動作を次に説
明する。被試験機器に対応して定数設定器3にフ
ルスケール値Yと分割数mをそれぞれ設定する。
演算回路2は、前記定数Y、mを記憶した後、被
試験機器が親目の点を指示するに要しているアナ
ログ電圧xをAD変換器1を介して読み取り、続
いて、n/m・Yがxに最も近くなるようなnの値 を見い出す。更に、演算回路2はそのnに基づき
偏差%100(x−n/m・Y)/Yを算出する。例え ば、Y=100(V)、m=10に設定したものとすれ
ば、入力xが12(V)のときはn=1及び偏差%
は+2%、入力xが22(V)のときはn=2で偏
差%は+2%と求められる。各親目(n=0、
1、2、…、m)に対する入力xの偏差%は第2
図に示すような関係にある。このようにして演算
回路3で求められた親目の番号nと偏差%の値は
表示器4で導かれ、ここでnと偏差%を同時に数
値表示する。なお、表示器4の表示は数字表示に
限らず、例えばバーグラフ形式の表示とすること
もできる。
明する。被試験機器に対応して定数設定器3にフ
ルスケール値Yと分割数mをそれぞれ設定する。
演算回路2は、前記定数Y、mを記憶した後、被
試験機器が親目の点を指示するに要しているアナ
ログ電圧xをAD変換器1を介して読み取り、続
いて、n/m・Yがxに最も近くなるようなnの値 を見い出す。更に、演算回路2はそのnに基づき
偏差%100(x−n/m・Y)/Yを算出する。例え ば、Y=100(V)、m=10に設定したものとすれ
ば、入力xが12(V)のときはn=1及び偏差%
は+2%、入力xが22(V)のときはn=2で偏
差%は+2%と求められる。各親目(n=0、
1、2、…、m)に対する入力xの偏差%は第2
図に示すような関係にある。このようにして演算
回路3で求められた親目の番号nと偏差%の値は
表示器4で導かれ、ここでnと偏差%を同時に数
値表示する。なお、表示器4の表示は数字表示に
限らず、例えばバーグラフ形式の表示とすること
もできる。
また、工業計器等の場合ば1〜5V(または4〜
20mA)スパンであるが、これを4分割した親目
でチエツクする場合、Y=4(V)(または16(m
A))としてm=4とすればn=1〜4で直接親
目に対する偏差%を求めることができる。
20mA)スパンであるが、これを4分割した親目
でチエツクする場合、Y=4(V)(または16(m
A))としてm=4とすればn=1〜4で直接親
目に対する偏差%を求めることができる。
なお、演算回路2はn及び偏差%の値を外部出
力し、プリンタ等を用いてそれらの値を記録さ
せ、校正試験成績データとして用いるのに役立た
せることもできる。
力し、プリンタ等を用いてそれらの値を記録さ
せ、校正試験成績データとして用いるのに役立た
せることもできる。
また、実施例では、偏差を求め得る機能のみ有
するデイジタル電圧計について示したが、第3図
に示すように通常の電圧測定も行ない得る機能を
併合させてもよい。すなわち、第3図において、
21は前述した演算回路1の機能と、単に入力x
を測定しデイジタル表示させるための直読表示の
ための出力を得る機能とを有する演算制御回路で
あり、いずれの機能を作動させるかは切換スイツ
チ31の操作により選択できるようになつてい
る。
するデイジタル電圧計について示したが、第3図
に示すように通常の電圧測定も行ない得る機能を
併合させてもよい。すなわち、第3図において、
21は前述した演算回路1の機能と、単に入力x
を測定しデイジタル表示させるための直読表示の
ための出力を得る機能とを有する演算制御回路で
あり、いずれの機能を作動させるかは切換スイツ
チ31の操作により選択できるようになつてい
る。
以上説明したように、本発明によれば、従来は
手動により別途計算によつて求められていた親目
に対する偏差%を自動的に求め得るデイジタル電
圧計を実現することができる。まま、通常の電圧
測定機能を有するデイジタル電圧計に本発明を組
合わせ、その機能を任意に切換え選択できるよう
に構成して、実用上校正試験用に極めて便利なデ
イジタル電圧計を実現することもできる。
手動により別途計算によつて求められていた親目
に対する偏差%を自動的に求め得るデイジタル電
圧計を実現することができる。まま、通常の電圧
測定機能を有するデイジタル電圧計に本発明を組
合わせ、その機能を任意に切換え選択できるよう
に構成して、実用上校正試験用に極めて便利なデ
イジタル電圧計を実現することもできる。
第1図は本発明に係るデイジタル電圧計の一実
施例を示す構成図、第2図は入力信号と偏差%の
関係を説明するための図、第3図は本発明の他の
実施例を示す構成図である。 1……AD変換器、2,21……演算回路、3
……定数設定器、4……表示器、31……切換ス
イツチ。
施例を示す構成図、第2図は入力信号と偏差%の
関係を説明するための図、第3図は本発明の他の
実施例を示す構成図である。 1……AD変換器、2,21……演算回路、3
……定数設定器、4……表示器、31……切換ス
イツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 アナログ入力電圧をデイジタル化するAD変
換器と、被試験機器のフルスケール値Y及び試験
点を定めるために必要な分割数mを設定する定数
設定器と、前記AD変換器を介して得た入力xを
nY/m(ただし、n=0、1、2、…、m)と比
較し、nY/mがxに最も近くなるようなnを求
め、かつそのnにおける偏差%(100(x−nY/
m)/Y)を演算する演算回路と、該演算回路が
送出するn及び偏差%の値を表示する表示器を具
備したことを特徴とするデイジタル電圧計。 2 アナログ入力電圧をデイジタル化するAD変
換器と、被試験機器のフルスケール値Y及び試験
点を定めるために必要な分割数mを設定する定数
設定器と、前記AD変換器を介して得た入力xを
直読するためのデータに変換して出力する機能と
入力xをnY/m(ただし、n=0、1、2、…、
m)と比較し、nY/mがxに最も近くなるよう
なnを求めてそのnにおける偏差%(100(x−
nY/m)/Y)を演算して出力する機能を有し、
その機能が択一的に選択可能に構成された演算回
路と、該演算回路の出力を表示することのできる
表示器を具備したことを特徴とするデイジタル電
圧計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56164617A JPS5866066A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | ディジタル電圧計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56164617A JPS5866066A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | ディジタル電圧計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5866066A JPS5866066A (ja) | 1983-04-20 |
| JPH0371669B2 true JPH0371669B2 (ja) | 1991-11-14 |
Family
ID=15796592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56164617A Granted JPS5866066A (ja) | 1981-10-15 | 1981-10-15 | ディジタル電圧計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5866066A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6183989B2 (ja) * | 2013-02-28 | 2017-08-23 | 横河電機株式会社 | 電圧電流発生器 |
-
1981
- 1981-10-15 JP JP56164617A patent/JPS5866066A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5866066A (ja) | 1983-04-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20120023768A1 (en) | Multiple Display Electronic Caliper | |
| IE46337B1 (en) | Error correction in electrical meters | |
| JPS6020114A (ja) | 測長器の表示装置 | |
| JPH0522182B2 (ja) | ||
| JP2588391B2 (ja) | デジタル指示計におけるゲインの初期較正方法 | |
| JPH03200085A (ja) | デジタル計測器自動校正システム | |
| JPS5866066A (ja) | ディジタル電圧計 | |
| SU1755070A1 (ru) | Устройство дл измерени и контрол температуры | |
| JP3102153B2 (ja) | 測定器のスケーリング方法 | |
| JPS6314784B2 (ja) | ||
| JPH01184416A (ja) | 計器 | |
| JP2000338142A (ja) | デジタル測定方法と装置 | |
| SU966632A1 (ru) | Устройство дл автоматизированной поверки приборов | |
| JPH0641178Y2 (ja) | スケール変換装置 | |
| JPS6347619A (ja) | 電子天びん | |
| SU1191805A1 (ru) | Устройство дл измерени относительной влажности воздуха | |
| GB1596581A (en) | Determining the uncertainty value of electrical measurements | |
| JPS6050417A (ja) | 工業計器自動試験装置 | |
| SU855990A1 (ru) | Цифровой измеритель отрицательных приращений аналогового сигнала | |
| JPH0525072B2 (ja) | ||
| JPH0743624Y2 (ja) | 温度測定装置 | |
| JPH01119720A (ja) | 試験検査作業自動化システム | |
| KR19980059567A (ko) | 기계 가공품의 간단차 측정 시스템 | |
| JPH01264526A (ja) | ディジタル形保護継電装置 | |
| JPH0758303B2 (ja) | 電子負荷装置 |