JPH0374923B2 - - Google Patents
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- JPH0374923B2 JPH0374923B2 JP59253113A JP25311384A JPH0374923B2 JP H0374923 B2 JPH0374923 B2 JP H0374923B2 JP 59253113 A JP59253113 A JP 59253113A JP 25311384 A JP25311384 A JP 25311384A JP H0374923 B2 JPH0374923 B2 JP H0374923B2
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- JP
- Japan
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- frame
- displacement
- frame memory
- video signal
- video
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、物体の変位量を非接触で計測する物
体変位量の計測装置に関するものである。
体変位量の計測装置に関するものである。
従来の技術
近年、変位量を非接触で計測する装置として、
ITVカメラなどからの映像信号をマイクロ・コ
ンピユータを用いて、処理・計測するものが出現
している。
ITVカメラなどからの映像信号をマイクロ・コ
ンピユータを用いて、処理・計測するものが出現
している。
以下に従来の物体の変位量の計測装置について
説明する。
説明する。
第8図は、従来の物体の変位量の計測装置のブ
ロツク図であり、1は映像入力部、2は記憶部、
3は変位量算出部、4は表示部である。
ロツク図であり、1は映像入力部、2は記憶部、
3は変位量算出部、4は表示部である。
以上のように構成された従来の物体の変位量の
計測装置について説明する。
計測装置について説明する。
今、変位量を計測する対象である物体を映像入
力部1で撮像し、映像信号に変換する。映像入力
部1は、一般にはITVカメラなどが用いられる。
映像入力部1からの映像信号は、フレームとして
記憶部2に記憶・保持され、この記憶部2の内容
を読み出し変位量算出部3で変位量を算出する。
力部1で撮像し、映像信号に変換する。映像入力
部1は、一般にはITVカメラなどが用いられる。
映像入力部1からの映像信号は、フレームとして
記憶部2に記憶・保持され、この記憶部2の内容
を読み出し変位量算出部3で変位量を算出する。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記のような構成では、変位量
算出部3で変位量を算出するための処理時間を要
するので、この時間に比して十分おそい変位には
追従するが、速い変位に対して追従できないとい
う問題点を有していた。
算出部3で変位量を算出するための処理時間を要
するので、この時間に比して十分おそい変位には
追従するが、速い変位に対して追従できないとい
う問題点を有していた。
また、記憶部2を多数設け、映像入力部1から
の映像信号を1つのフレームとして記憶部2に順
次記憶保持し、記憶部2に記憶されたうち必要な
ものを読出し、変位量算出部3で変位量を算出す
る方式では、高速の変位に追従できるが、その反
面記憶部2を多数設ける必要があり、記憶部2の
容量が多くなり、経済的でないという問題点を有
していた。
の映像信号を1つのフレームとして記憶部2に順
次記憶保持し、記憶部2に記憶されたうち必要な
ものを読出し、変位量算出部3で変位量を算出す
る方式では、高速の変位に追従できるが、その反
面記憶部2を多数設ける必要があり、記憶部2の
容量が多くなり、経済的でないという問題点を有
していた。
さらに、特開昭57−169607で示されるように、
あらかじめ設定した間隔で測定された測定値が一
定値以上変化したものだけを記憶させ、効率的に
低速変位および高速変位に対応して変位量を求め
る方法もあるが、急激な変化点が予測できない物
体の変位量を連続的に計測できない問題点を有し
ていた。
あらかじめ設定した間隔で測定された測定値が一
定値以上変化したものだけを記憶させ、効率的に
低速変位および高速変位に対応して変位量を求め
る方法もあるが、急激な変化点が予測できない物
体の変位量を連続的に計測できない問題点を有し
ていた。
このため、加熱や時間の経過などによつて、低
速で変位してある点に達すると高速で変位する物
体(例えば、非線形な熱応動素子)の変位量を計
測することが困難であつた。
速で変位してある点に達すると高速で変位する物
体(例えば、非線形な熱応動素子)の変位量を計
測することが困難であつた。
そこで、本発明は上記問題点に鑑み、加熱や時
間の経過などによつて、計測対象が低速で変位し
てある点に達すると高速で変位する物体の変位量
を正確に計測する計測装置を安価に提供すること
を目的とする。
間の経過などによつて、計測対象が低速で変位し
てある点に達すると高速で変位する物体の変位量
を正確に計測する計測装置を安価に提供すること
を目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明の物体の変位量の計測装置は、計測対象
を映像としてとらえて、その映像信号より計測対
象の変位量を求める計測装置において、映像信号
をフレームごと記憶する第1のフレームメモリ
と、この第1のフレームメモリに記憶された映像
信号の直前のフレームを記憶する第2のフレーム
メモリと、映像信号ごとの計測対象の位置が所定
の値以上変化したことを検知する検知部と、この
検知部が所定の値以上の変化を検知したときに、
その直後の映像信号のフレームを記憶する第3の
フレームメモリと、この第1,第2,第3のフレ
ームメモリに記憶された映像信号を記憶する記録
媒体と、この記録媒体に記憶した情報から計測対
象の変位量を算出する変位量算出部とを有し、検
知部が所定の値以上の変化を検知したときに記録
媒体に第2,第3のフレームメモリに記憶された
映像信号を記憶するように制御する制御部を有す
るものである。
を映像としてとらえて、その映像信号より計測対
象の変位量を求める計測装置において、映像信号
をフレームごと記憶する第1のフレームメモリ
と、この第1のフレームメモリに記憶された映像
信号の直前のフレームを記憶する第2のフレーム
メモリと、映像信号ごとの計測対象の位置が所定
の値以上変化したことを検知する検知部と、この
検知部が所定の値以上の変化を検知したときに、
その直後の映像信号のフレームを記憶する第3の
フレームメモリと、この第1,第2,第3のフレ
ームメモリに記憶された映像信号を記憶する記録
媒体と、この記録媒体に記憶した情報から計測対
象の変位量を算出する変位量算出部とを有し、検
知部が所定の値以上の変化を検知したときに記録
媒体に第2,第3のフレームメモリに記憶された
映像信号を記憶するように制御する制御部を有す
るものである。
作 用
以上の構成によれば、条件検出部の条件により
物体の低速の変位を映像信号としてとらえ、検知
部により物体の高速変位を検知して、制御部によ
りその直前直後の映像信号を記憶するように制御
することにより高速の変位をとらえて、低速およ
び高速で変位する物体の変位量を正確に計測可能
としたものであり、記録媒体として安価で大容量
の磁気媒体を用いることにより装置のコストを下
げることができるものである。
物体の低速の変位を映像信号としてとらえ、検知
部により物体の高速変位を検知して、制御部によ
りその直前直後の映像信号を記憶するように制御
することにより高速の変位をとらえて、低速およ
び高速で変位する物体の変位量を正確に計測可能
としたものであり、記録媒体として安価で大容量
の磁気媒体を用いることにより装置のコストを下
げることができるものである。
実施例
第1図は本発明の実施例における物体の変位量
の計測装置のブロツク図を示すものである。第1
図において、1は映像入力部、10は第1のフレ
ームメモリとしてのフレームメモリA、11は第
2のフレームメモリとしてのフレームメモリB、
12は第3のフレームメモリとしてのフレームメ
モリC、13は検知部、14は条件検出部、15
は記録媒体としての磁気媒体、16は変位量算出
部、17は表示部、18は制御部である。
の計測装置のブロツク図を示すものである。第1
図において、1は映像入力部、10は第1のフレ
ームメモリとしてのフレームメモリA、11は第
2のフレームメモリとしてのフレームメモリB、
12は第3のフレームメモリとしてのフレームメ
モリC、13は検知部、14は条件検出部、15
は記録媒体としての磁気媒体、16は変位量算出
部、17は表示部、18は制御部である。
以上のように構成された物体変位量の計測装置
について以下その動作を説明する。
について以下その動作を説明する。
まず、映像入力部1について説明する。映像入
力部1は、変位量を計測する対象物体を映像とし
てとらえるもので、ITVカメラやテレセントリ
ツク光学系を用いた投影光学系と固体撮像素子を
組合せたものなどがある。映像入力部1では、対
象物体を1フレームごとの映像として得、常時、
1フレームごとの映像信号(電気信号)に変換す
る。
力部1は、変位量を計測する対象物体を映像とし
てとらえるもので、ITVカメラやテレセントリ
ツク光学系を用いた投影光学系と固体撮像素子を
組合せたものなどがある。映像入力部1では、対
象物体を1フレームごとの映像として得、常時、
1フレームごとの映像信号(電気信号)に変換す
る。
条件検出部14は、決められた温度間隔や時間
間隔で計測対象である物体の変位量を計測するた
め、これらの条件を設定したり検出したりする。
条件検出部14で、設定された条件に達すると、
条件検出信号が条件検出部14から制御部18に
送られる。制御部18では、条件検出信号が送ら
れて来ると、これに同期して映像入力部1からの
映像信号を1つのフレームまたは1つのフレーム
の一部を切り出した信号としてフレームメモリA
10に記憶するための記憶指令A(図示せず)が
発生する。この記憶指令Aで1つのフレームの映
像信号がフレームメモリA10に記憶されるとこ
のフレームメモリA10に書込まれた内容を磁気
媒体13に転送する。すなわち、条件検出部14
で、設定された条件を検出するとその設定された
条件に達するたびに、これに同期して映像入力部
14からの映像信号をフレームメモリA10を介
して磁気媒体15に順次記憶する。
間隔で計測対象である物体の変位量を計測するた
め、これらの条件を設定したり検出したりする。
条件検出部14で、設定された条件に達すると、
条件検出信号が条件検出部14から制御部18に
送られる。制御部18では、条件検出信号が送ら
れて来ると、これに同期して映像入力部1からの
映像信号を1つのフレームまたは1つのフレーム
の一部を切り出した信号としてフレームメモリA
10に記憶するための記憶指令A(図示せず)が
発生する。この記憶指令Aで1つのフレームの映
像信号がフレームメモリA10に記憶されるとこ
のフレームメモリA10に書込まれた内容を磁気
媒体13に転送する。すなわち、条件検出部14
で、設定された条件を検出するとその設定された
条件に達するたびに、これに同期して映像入力部
14からの映像信号をフレームメモリA10を介
して磁気媒体15に順次記憶する。
フレームメモリB11は、映像入力部1からの
1フレームごとの映像信号を常時書替え記憶す
る。ただし、フレームメモリB11では、現在映
像入力部1で走査入力中のフレームの直前1フレ
ームを記憶・保持する。
1フレームごとの映像信号を常時書替え記憶す
る。ただし、フレームメモリB11では、現在映
像入力部1で走査入力中のフレームの直前1フレ
ームを記憶・保持する。
検知部13は、映像入力部1からの映像信号を
用いて計測する対象物体が条件検出部14での検
出間隔に比べて短かく、映像信号のフレーム間の
変位が所定の値以上に高速で変位したことを検知
する。
用いて計測する対象物体が条件検出部14での検
出間隔に比べて短かく、映像信号のフレーム間の
変位が所定の値以上に高速で変位したことを検知
する。
この高速の変位を検知部13が検知すると、検
知部13から制御部18へ検知信号が送られる。
制御部18は検知信号が送られて来ると、フレー
ムメモリB11の書替えを中止するとともに検知
直後の映像信号の1フレームをフレームメモリC
12に記憶する。ここで、フレームメモリB11
は検知直前のフレームが記憶される。記憶後、フ
レームメモリB11およびフレームメモリC12
の内容を磁気媒体15に転送する。
知部13から制御部18へ検知信号が送られる。
制御部18は検知信号が送られて来ると、フレー
ムメモリB11の書替えを中止するとともに検知
直後の映像信号の1フレームをフレームメモリC
12に記憶する。ここで、フレームメモリB11
は検知直前のフレームが記憶される。記憶後、フ
レームメモリB11およびフレームメモリC12
の内容を磁気媒体15に転送する。
なお、フレームメモリB11およびフレームメ
モリC12の内容を磁気媒体15に転送するとき
には、フレームメモリA10の内容を磁気媒体1
5への転送を終えていることを制御部18で確認
をする。
モリC12の内容を磁気媒体15に転送するとき
には、フレームメモリA10の内容を磁気媒体1
5への転送を終えていることを制御部18で確認
をする。
磁気媒体15は、磁気デイスクや磁気テープな
どである。この磁気媒体15のかわりに半導体メ
モリなどの固定の記憶素子を用いた場合では、設
定条件の変更などによる記憶容量の変化に対して
最大の記憶容量を用意しなければならない上に、
その利用率も低い。これに対して磁気媒体15を
用いることにより、記憶容量を計測状態に応じて
変位させることができ、しかも、変位量の計測と
変位量の算出とを磁気媒体15を介して分離し
て、オフライン処理ができる。
どである。この磁気媒体15のかわりに半導体メ
モリなどの固定の記憶素子を用いた場合では、設
定条件の変更などによる記憶容量の変化に対して
最大の記憶容量を用意しなければならない上に、
その利用率も低い。これに対して磁気媒体15を
用いることにより、記憶容量を計測状態に応じて
変位させることができ、しかも、変位量の計測と
変位量の算出とを磁気媒体15を介して分離し
て、オフライン処理ができる。
変位量算出部16は、磁気媒体13の内容を読
出し、対象物体の変位量を算出し、表示部17に
表示する。
出し、対象物体の変位量を算出し、表示部17に
表示する。
ここで、計測対象を熱応動素子の接点とし、制
御部18にマイクロコンピユータを利用した例を
用いて、本発明の実施例をさらに詳しく説明す
る。熱応動素子は第2図に示すように、周囲温度
の変化によつてその接点が変位する。こうした変
位量特性を知るためには、20から29までの測
定点の変位量を求めれば良い。このうち特に20
から25までの測定点の変位量が求められれば、
25から29までの測定点についても同様の方法
で変位量が求められる。したがつて、ここでは、
20から25までの測定点の接点の変位量の計測
について述べる。
御部18にマイクロコンピユータを利用した例を
用いて、本発明の実施例をさらに詳しく説明す
る。熱応動素子は第2図に示すように、周囲温度
の変化によつてその接点が変位する。こうした変
位量特性を知るためには、20から29までの測
定点の変位量を求めれば良い。このうち特に20
から25までの測定点の変位量が求められれば、
25から29までの測定点についても同様の方法
で変位量が求められる。したがつて、ここでは、
20から25までの測定点の接点の変位量の計測
について述べる。
また、第3図は、本例のマイクロコンピユータ
を利用した計測装置のブロツク図を示すものであ
り、30は、マイクロコンピユータ、31はメモ
リである。
を利用した計測装置のブロツク図を示すものであ
り、30は、マイクロコンピユータ、31はメモ
リである。
メモリ31には、本例の計測装置を制御するマ
イクロコンピユータ31のプログラムが格納され
ている。このプログラムのフローチヤートは、第
4図に示すものである。以下、その動作について
第3図および第4図を参照しながら述べる。
イクロコンピユータ31のプログラムが格納され
ている。このプログラムのフローチヤートは、第
4図に示すものである。以下、その動作について
第3図および第4図を参照しながら述べる。
熱応動素子の周囲温度を条件検出部14を検出
し、これをマイクロコンピユータ30で常時監視
する。設定条件すなわち設定した周囲温度になる
と、これをマイクロコンピユータ30で見い出
し、フレームメモリA10に映像信号を1フレー
ムごとに取込む。次に、フラツグF1を設定する
とともに、フレームメモリA10に取込んだ内容
を磁気媒体15へ転送する。転送を終えるとフラ
ツグF1を取消すとともに設定条件の監視へ動作
が移る。
し、これをマイクロコンピユータ30で常時監視
する。設定条件すなわち設定した周囲温度になる
と、これをマイクロコンピユータ30で見い出
し、フレームメモリA10に映像信号を1フレー
ムごとに取込む。次に、フラツグF1を設定する
とともに、フレームメモリA10に取込んだ内容
を磁気媒体15へ転送する。転送を終えるとフラ
ツグF1を取消すとともに設定条件の監視へ動作
が移る。
これをくり返すことによつて、それぞれ設定し
た周囲温度に対する映像信号が磁気媒体13に記
憶される。これで、第2図における20から23
までの測定点の測定ができる。
た周囲温度に対する映像信号が磁気媒体13に記
憶される。これで、第2図における20から23
までの測定点の測定ができる。
第3図における測定点24および25では、熱
応動素子の接点が急激に変位し、これを映像入力
部1からの映像信号から検知部13で検知する。
検知部13からの検知信号はマイクロコンピユー
タ30の割込信号32としてマイクロコンピユー
タ30に接続される。すなわち、熱応動素子の接
点が急激に変位すると、検知部13でこれを検知
し、検知信号を割込信号32としてマイクロコン
ピユータ30に入力する。マイクロコンピユータ
30に割込信号32が入力されると、第4図の割
込みルーチンへ処理が移り、フレームメモリB1
1の書替えを中止するとともにフレームメモリC
12に急激な変化の直後の1フレームの映像信号
を取込む。この結果フレームメモリB11には、
急激な変化の直前の1フレームの映像信号が、フ
レームメモリC12には急激な変化直後の1フレ
ームの映像信号が記憶される。そして、フラツグ
F1がないときは、フレームメモリB11および
フレームメモリC12の内容を磁気媒体13に順
次転送する。フラツグF1があるときはフレーム
メモリA10の内容を磁気媒体15へ転送中であ
るので、フラツグF2をたてて、割込み前の元の
処理へ移る。このとき、フレームメモリA10の
内容の転送が終わると、フラツグF2があるので、
処理はフレームメモリB11およびフレームメモ
リC12の内容を磁気媒体15へ転送する処理に
移る。フレームメモリB11およびフレームメモ
リC12の内容を磁気媒体15に記憶すること
で、第2図における測定点24および25に対応
する映像信号が磁気媒体15に得られる。
応動素子の接点が急激に変位し、これを映像入力
部1からの映像信号から検知部13で検知する。
検知部13からの検知信号はマイクロコンピユー
タ30の割込信号32としてマイクロコンピユー
タ30に接続される。すなわち、熱応動素子の接
点が急激に変位すると、検知部13でこれを検知
し、検知信号を割込信号32としてマイクロコン
ピユータ30に入力する。マイクロコンピユータ
30に割込信号32が入力されると、第4図の割
込みルーチンへ処理が移り、フレームメモリB1
1の書替えを中止するとともにフレームメモリC
12に急激な変化の直後の1フレームの映像信号
を取込む。この結果フレームメモリB11には、
急激な変化の直前の1フレームの映像信号が、フ
レームメモリC12には急激な変化直後の1フレ
ームの映像信号が記憶される。そして、フラツグ
F1がないときは、フレームメモリB11および
フレームメモリC12の内容を磁気媒体13に順
次転送する。フラツグF1があるときはフレーム
メモリA10の内容を磁気媒体15へ転送中であ
るので、フラツグF2をたてて、割込み前の元の
処理へ移る。このとき、フレームメモリA10の
内容の転送が終わると、フラツグF2があるので、
処理はフレームメモリB11およびフレームメモ
リC12の内容を磁気媒体15へ転送する処理に
移る。フレームメモリB11およびフレームメモ
リC12の内容を磁気媒体15に記憶すること
で、第2図における測定点24および25に対応
する映像信号が磁気媒体15に得られる。
以上によつて、第3図における測定点20から
25までに対応する映像信号が磁気媒体15に記
憶される。この磁気媒体15の内容から、変位量
算出部16で変位量を求め、第2図のようなグラ
フとして表示部16に表示する。
25までに対応する映像信号が磁気媒体15に記
憶される。この磁気媒体15の内容から、変位量
算出部16で変位量を求め、第2図のようなグラ
フとして表示部16に表示する。
ここで、映像信号とフレームメモリB11およ
びフレームメモリC12との関係について第5図
を用いて説明を加える。第5図は、映像信号と検
知信号を時間軸上に表わした図であり、映像信号
の50,51,52,53はおのおのフレーム
を、検知信号の54は計測の対象物体である熱応
動素子の接点が高速度で変位したことを検知部1
3で検知したことを表わす信号である。
びフレームメモリC12との関係について第5図
を用いて説明を加える。第5図は、映像信号と検
知信号を時間軸上に表わした図であり、映像信号
の50,51,52,53はおのおのフレーム
を、検知信号の54は計測の対象物体である熱応
動素子の接点が高速度で変位したことを検知部1
3で検知したことを表わす信号である。
映像信号のフレーム52は、熱応動素子の接点
が移動中であるため、変位量を計測するには不適
当である。そこで、フレームメモリB11は映像
信号のフレーム51を、フレームメモリC12は
映像信号のフレーム53を記憶する。なお、フレ
ームメモリB11は検知信号54の直前フレーム
51を記憶するため、第6図に示す構成とする。
第6図において、61は前処理部、62はメモリ
A、63はメモリBであり、映像入力部1からの
映像信号は、前処理部61で、メモリA62に書
込み易い形(例えば2値化処理)に処理し、メモ
リA62に書込む。メモリA62に映像信号が1
フレーム分書込まれるとメモリB63にその内容
を1度に転送した上で、メモリA62には次のフ
レームを書込む。これによつて、メモリB63に
はフレームメモリB11としての内容が常に得ら
れる。また、フレームメモリB11は、第7図に
示す構成として、メモリC64およびメモリD6
5に映像信号を交互に書込むものとすれば、メモ
リC64またはメモリD65にフレームメモリB
11として内容が得られる。
が移動中であるため、変位量を計測するには不適
当である。そこで、フレームメモリB11は映像
信号のフレーム51を、フレームメモリC12は
映像信号のフレーム53を記憶する。なお、フレ
ームメモリB11は検知信号54の直前フレーム
51を記憶するため、第6図に示す構成とする。
第6図において、61は前処理部、62はメモリ
A、63はメモリBであり、映像入力部1からの
映像信号は、前処理部61で、メモリA62に書
込み易い形(例えば2値化処理)に処理し、メモ
リA62に書込む。メモリA62に映像信号が1
フレーム分書込まれるとメモリB63にその内容
を1度に転送した上で、メモリA62には次のフ
レームを書込む。これによつて、メモリB63に
はフレームメモリB11としての内容が常に得ら
れる。また、フレームメモリB11は、第7図に
示す構成として、メモリC64およびメモリD6
5に映像信号を交互に書込むものとすれば、メモ
リC64またはメモリD65にフレームメモリB
11として内容が得られる。
以上のように、本実施例によれば、条件検出
部、検知部、磁気媒体および3つのフレームメモ
リを設けたことにより、熱応動素子のように低速
で変位した後、高速で変位する物体の変位量を正
確に計測することができる。
部、検知部、磁気媒体および3つのフレームメモ
リを設けたことにより、熱応動素子のように低速
で変位した後、高速で変位する物体の変位量を正
確に計測することができる。
発明の効果
本発明の変位量の計測装置は、条件検出部設定
された測定条件を検出すると計測対象の急激な変
位を検知する検知部と計測対象である物体の映像
信号を記憶する記録媒体と映像信号をフレームご
とに記憶する3つのフレームメモリと記録媒体に
記録された映像信号情報より物体の変位量を算出
する変位量算出部とこれらを制御する制御部を設
けることにより、計測対象である物体の変位が大
きく変化する場合、たとえば加熱や時間の経過に
よつて、低速で変位し、ある点に達すると高速で
変位する物体の変位量を正確に計測することが安
価に提供できるものである。
された測定条件を検出すると計測対象の急激な変
位を検知する検知部と計測対象である物体の映像
信号を記憶する記録媒体と映像信号をフレームご
とに記憶する3つのフレームメモリと記録媒体に
記録された映像信号情報より物体の変位量を算出
する変位量算出部とこれらを制御する制御部を設
けることにより、計測対象である物体の変位が大
きく変化する場合、たとえば加熱や時間の経過に
よつて、低速で変位し、ある点に達すると高速で
変位する物体の変位量を正確に計測することが安
価に提供できるものである。
第1図は本発明の実施例における物体の変位量
の計測装置のブロツク図、第2図は本発明の変位
量の計測装置の対象物体の一例である熱応動素子
の変位量特性図、第3図は同制御部にマイクロコ
ンピユータを用いた例のブロツク図、第4図はマ
イクロコンピユータのプログラムのフローチヤー
ト、第5図は映像信号と検知信号を時系列的に表
わした図、第6図はフレームメモリBの構成の一
例を示した図、第7図はフレームメモリBの他の
構成を示した図、第8図は従来の物体の変位量の
計測装置のブロツク図である。 1……映像入力部、10……フレームメモリ
A、11……フレームメモリB、12……フレー
ムメモリC、13……検知部、14……条件検出
部、15……磁気媒体、16……変位量算出部、
18……制御部。
の計測装置のブロツク図、第2図は本発明の変位
量の計測装置の対象物体の一例である熱応動素子
の変位量特性図、第3図は同制御部にマイクロコ
ンピユータを用いた例のブロツク図、第4図はマ
イクロコンピユータのプログラムのフローチヤー
ト、第5図は映像信号と検知信号を時系列的に表
わした図、第6図はフレームメモリBの構成の一
例を示した図、第7図はフレームメモリBの他の
構成を示した図、第8図は従来の物体の変位量の
計測装置のブロツク図である。 1……映像入力部、10……フレームメモリ
A、11……フレームメモリB、12……フレー
ムメモリC、13……検知部、14……条件検出
部、15……磁気媒体、16……変位量算出部、
18……制御部。
Claims (1)
- 1 設定された条件を検出する条件検出部と、前
記条件検出部により検出された条件に基づき計測
対象を映像としてとらえる映像入力部と、前記映
像入力部からの映像から前記計測対象の位置が所
定の値以上に急激に変化したことを検知する検知
部と、前記映像入力部により前記条件検出部によ
り検出された条件に基づき入力された映像信号を
順次1フレームごとに記憶する第1のフレームメ
モリと、前記第1のフレームメモリに記憶された
映像信号の直前のフレームを記憶する第2のフレ
ームメモリと、前記検知部により前記所定の値以
上の変化が検知された直後のフレームを記憶する
第3のフレームメモリと、前記第1,第2,第3
のフレームメモリに記憶された映像信号を記憶す
る記録媒体と、前記記録媒体に記憶した情報から
前記計測対象の変位量を算出する変位量算出部と
を具備し、前記検知部が前記計測対象の位置が所
定の値以上に変化したことを検知した場合には、
前記記録媒体に前記第2,第3のフレームメモリ
に記憶された映像信号を記憶するように制御する
制御部を有する物体の変位量の計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59253113A JPS61130804A (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | 物体の変位量の計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59253113A JPS61130804A (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | 物体の変位量の計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61130804A JPS61130804A (ja) | 1986-06-18 |
| JPH0374923B2 true JPH0374923B2 (ja) | 1991-11-28 |
Family
ID=17246676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59253113A Granted JPS61130804A (ja) | 1984-11-30 | 1984-11-30 | 物体の変位量の計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61130804A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57169607A (en) * | 1981-04-10 | 1982-10-19 | Toyoda Mach Works Ltd | Measuring device for curved surface |
-
1984
- 1984-11-30 JP JP59253113A patent/JPS61130804A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61130804A (ja) | 1986-06-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |