JPH0376416B2 - - Google Patents
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- JPH0376416B2 JPH0376416B2 JP58052111A JP5211183A JPH0376416B2 JP H0376416 B2 JPH0376416 B2 JP H0376416B2 JP 58052111 A JP58052111 A JP 58052111A JP 5211183 A JP5211183 A JP 5211183A JP H0376416 B2 JPH0376416 B2 JP H0376416B2
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- Japan
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- signal
- flaw detection
- factor
- influence
- circuit
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は多重周波数渦電流探傷分析装置に係
り、特に腹水器冷却用伝熱管や高圧給水加熱管等
の火力、原子力プラント用熱交換器細管等の探傷
試験に適用できる多重周波数渦電流探傷分析装置
に関する。
り、特に腹水器冷却用伝熱管や高圧給水加熱管等
の火力、原子力プラント用熱交換器細管等の探傷
試験に適用できる多重周波数渦電流探傷分析装置
に関する。
渦電流（電磁誘導）探傷試験においてここ数年
来多重周波数渦電流探傷試験法が適用されるよう
になり、それに伴い例えば原子力蒸気発生器伝熱
管（SGチユーブ）検査の信頼性向上のため、細
管外面の支持板部およびFe3O4のような付着物又
は細管自身のデント（打痕）信号と複合している
欠陥を判別する方法として、近年欠陥以外の要因
を除去する演算方式が応用されるようになつてき
た。しかしながら従来の演算方式では、例えば細
管支持板と欠陥が複合している場合、又はデント
部の信号若しくは内径変化信号が複合している場
合の如く、欠陥信号と欠陥識別の妨害となる要因
が一つだけ含まれている場合には、この一つの妨
害要因の消去は可能であるが、例えば欠陥識別の
妨害となりうる複数の要因すなわち細管支持板
部、デント部、細管内径変化、および細管外面の
付着物信号等の複数の要因が同時に欠陥信号と重
複するような場合には、欠陥検出能力が低下して
欠陥識別が困難となる欠点があつた。これは従来
の演算方式では、欠陥識別の妨害となる複数の要
因が欠陥信号と同時に重複している場合には演算
器としての機能を充分発揮できなかつたからであ
る。
来多重周波数渦電流探傷試験法が適用されるよう
になり、それに伴い例えば原子力蒸気発生器伝熱
管（SGチユーブ）検査の信頼性向上のため、細
管外面の支持板部およびFe3O4のような付着物又
は細管自身のデント（打痕）信号と複合している
欠陥を判別する方法として、近年欠陥以外の要因
を除去する演算方式が応用されるようになつてき
た。しかしながら従来の演算方式では、例えば細
管支持板と欠陥が複合している場合、又はデント
部の信号若しくは内径変化信号が複合している場
合の如く、欠陥信号と欠陥識別の妨害となる要因
が一つだけ含まれている場合には、この一つの妨
害要因の消去は可能であるが、例えば欠陥識別の
妨害となりうる複数の要因すなわち細管支持板
部、デント部、細管内径変化、および細管外面の
付着物信号等の複数の要因が同時に欠陥信号と重
複するような場合には、欠陥検出能力が低下して
欠陥識別が困難となる欠点があつた。これは従来
の演算方式では、欠陥識別の妨害となる複数の要
因が欠陥信号と同時に重複している場合には演算
器としての機能を充分発揮できなかつたからであ
る。
本発明は上記事情に鑑みて提案されたもので、
その目的とするところは欠陥識別の妨害となる複
数の要因例えば細管支持板部、細管外面の付着
物、デント部、細管内径変化（寸法変化）等の複
数の複合信号を同時に除去し、欠陥信号のみを識
別し得る多重周波数渦電流探傷分析装置を提供す
るにある。
その目的とするところは欠陥識別の妨害となる複
数の要因例えば細管支持板部、細管外面の付着
物、デント部、細管内径変化（寸法変化）等の複
数の複合信号を同時に除去し、欠陥信号のみを識
別し得る多重周波数渦電流探傷分析装置を提供す
るにある。
本発明による多重周波数渦電流探傷分析装置
は、複数の試験周波数による探傷出力が同時に得
られる多重周波数渦電流探傷器本体からの出力を
入力とする多重演算装置において、f1周波数によ
る水平成分及び垂直成分からなる探傷出力とf3周
波数による水平成分及び垂直成分からなる探傷出
力とを組み合わせ、第１の演算回路に入力し、第
１番目の要因の影響を除去し、f3周波数による水
平成分及び垂直成分からなる探傷出力とf2周波数
による水平成分及び垂直成分からなる探傷出力と
を組み合わせ、第２の演算回路に入力し、第１番
目の要因の影響を除去し、第１の演算回路の水平
成分及び垂直成分からなる出力と第２の演算回路
の水平成分及び垂直成分からなる出力を組み合わ
せ第３の演算回路に入力し、第２番目の要因の影
響を除去し、これらにより、第１番目と、第２番
目の要因の影響とを除去し、第３番目の要因の影
響のみを出力させる機能を有することを特徴と
し、多重周波数渦電流探傷分析装置において、欠
陥識別の妨害となり得る要因を複数同時に除去し
て欠陥信号のみを検出するため、例えば周波数f1
およびf2信号に含まれるデント又は内径変化（寸
法変化）信号成分を周波数f3信号で消去し、その
後の信号成分に含まれる欠陥信号以外の妨害信号
成分をf1およびf2信号の減算処理により消去して
実質的に欠陥信号のみを検出して分析し得るもの
である。
は、複数の試験周波数による探傷出力が同時に得
られる多重周波数渦電流探傷器本体からの出力を
入力とする多重演算装置において、f1周波数によ
る水平成分及び垂直成分からなる探傷出力とf3周
波数による水平成分及び垂直成分からなる探傷出
力とを組み合わせ、第１の演算回路に入力し、第
１番目の要因の影響を除去し、f3周波数による水
平成分及び垂直成分からなる探傷出力とf2周波数
による水平成分及び垂直成分からなる探傷出力と
を組み合わせ、第２の演算回路に入力し、第１番
目の要因の影響を除去し、第１の演算回路の水平
成分及び垂直成分からなる出力と第２の演算回路
の水平成分及び垂直成分からなる出力を組み合わ
せ第３の演算回路に入力し、第２番目の要因の影
響を除去し、これらにより、第１番目と、第２番
目の要因の影響とを除去し、第３番目の要因の影
響のみを出力させる機能を有することを特徴と
し、多重周波数渦電流探傷分析装置において、欠
陥識別の妨害となり得る要因を複数同時に除去し
て欠陥信号のみを検出するため、例えば周波数f1
およびf2信号に含まれるデント又は内径変化（寸
法変化）信号成分を周波数f3信号で消去し、その
後の信号成分に含まれる欠陥信号以外の妨害信号
成分をf1およびf2信号の減算処理により消去して
実質的に欠陥信号のみを検出して分析し得るもの
である。
本発明の一実施例を添付図面に基いて詳細に説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例の多重周波数渦電流
探傷分析装置の全体の構成を示す概略図、 第２図は第１図における多重演算装置の回路構
成を示すブロツク線図、 第３図および第４図はそれぞれ第２図の各部の
詳細回路図、 第５図は第２図の概略ブロツク線図である。
探傷分析装置の全体の構成を示す概略図、 第２図は第１図における多重演算装置の回路構
成を示すブロツク線図、 第３図および第４図はそれぞれ第２図の各部の
詳細回路図、 第５図は第２図の概略ブロツク線図である。
第１図において０１は多重周波数渦電流探傷器
本体、０２は多重演算装置、０３は複数の異なる
周波数f1〜fnを発振する発振器、０４はミキサ、
０５は探傷ブローブコイル、０６はバランス回
路、０７は周波数f1〜fnの信号処理部である。第
１図において各発振器０３から発振された複数の
異なる渦電流探傷励磁周波数f1〜fnの励磁電流が
ミキサ０４を介して探傷ブローブコイル０５に同
時に通電されると、被分析体である例えば細管肉
質部（図示せず）にこれらの周波数f1〜fnに対応
した渦電流が流れる。この場合細管肉質部の欠陥
等により生ずる探傷ブローブコイル０５のインピ
ーダンス変化が上記各周波数により決定され、細
管肉質部に欠陥が存在すれば、探傷ブローブコイ
ル０５のインピーダンスの各周波数に対応した変
化をバランス回路０６を介して各信号処理部０７
により検出し、それらの出力信号を多重演算装置
０２の入力端子に入力するようになされている。
本体、０２は多重演算装置、０３は複数の異なる
周波数f1〜fnを発振する発振器、０４はミキサ、
０５は探傷ブローブコイル、０６はバランス回
路、０７は周波数f1〜fnの信号処理部である。第
１図において各発振器０３から発振された複数の
異なる渦電流探傷励磁周波数f1〜fnの励磁電流が
ミキサ０４を介して探傷ブローブコイル０５に同
時に通電されると、被分析体である例えば細管肉
質部（図示せず）にこれらの周波数f1〜fnに対応
した渦電流が流れる。この場合細管肉質部の欠陥
等により生ずる探傷ブローブコイル０５のインピ
ーダンス変化が上記各周波数により決定され、細
管肉質部に欠陥が存在すれば、探傷ブローブコイ
ル０５のインピーダンスの各周波数に対応した変
化をバランス回路０６を介して各信号処理部０７
により検出し、それらの出力信号を多重演算装置
０２の入力端子に入力するようになされている。
多重演算装置０２の回路構成は第２図にブロツ
ク線図で示されている。第２図において、１は渦
電流探傷励磁周波数f3信号水平成分の入力端子、
２はf3信号垂直成分の入力端子、３はf3信号の感
度調整及び無調整切替スイツチ、４はf3信号感度
調整（−10dB）回路、５はf3信号の位相調整及
び無調整切替スイツチ、６はf3信号位相調整回
路、７および８はそれぞれf3信号のモニター端
子、９はf3信号感度調整（＋10dB）回路、１０
はf3信号の位相調整及び無調整切替スイツチ、１
１はf3信号位相調整回路、１２および１３はそれ
ぞれf3信号のモニター端子、１４および１５それ
ぞれf1信号水平垂直成分の入力端子、１６はf1信
号におけるデント信号成分及び内径変化（寸法変
化）信号成分を消去する演算回路、１７はf1信号
の感度調整及び無調整切替スイツチ、１８はf1信
号感度調整回路、１９および２０はそれぞれf2信
号水平垂直成分の入力端子、２１はf2信号におけ
るデント信号成分及び内径変化（寸法変化）信号
成分を消去する演算回路、２２はf1信号の位相調
整及び無調整切替スイツチ、２３はf1信号位相調
整回路、２４および２５はそれぞれf1信号のモニ
ター端子、２６は細管外面付着物及び支持板消去
演算回路、２７は同信号の位相調整及び無調整切
替スイツチ、２８は同信号の位相調整回路、２９
および３０はそれぞれ多重演算出力信号端子であ
る。
ク線図で示されている。第２図において、１は渦
電流探傷励磁周波数f3信号水平成分の入力端子、
２はf3信号垂直成分の入力端子、３はf3信号の感
度調整及び無調整切替スイツチ、４はf3信号感度
調整（−10dB）回路、５はf3信号の位相調整及
び無調整切替スイツチ、６はf3信号位相調整回
路、７および８はそれぞれf3信号のモニター端
子、９はf3信号感度調整（＋10dB）回路、１０
はf3信号の位相調整及び無調整切替スイツチ、１
１はf3信号位相調整回路、１２および１３はそれ
ぞれf3信号のモニター端子、１４および１５それ
ぞれf1信号水平垂直成分の入力端子、１６はf1信
号におけるデント信号成分及び内径変化（寸法変
化）信号成分を消去する演算回路、１７はf1信号
の感度調整及び無調整切替スイツチ、１８はf1信
号感度調整回路、１９および２０はそれぞれf2信
号水平垂直成分の入力端子、２１はf2信号におけ
るデント信号成分及び内径変化（寸法変化）信号
成分を消去する演算回路、２２はf1信号の位相調
整及び無調整切替スイツチ、２３はf1信号位相調
整回路、２４および２５はそれぞれf1信号のモニ
ター端子、２６は細管外面付着物及び支持板消去
演算回路、２７は同信号の位相調整及び無調整切
替スイツチ、２８は同信号の位相調整回路、２９
および３０はそれぞれ多重演算出力信号端子であ
る。
なお第３図および第４図はそれぞれ上記第２図
の各部の詳細回路図であり、第５図は第２図の概
略ブロツク線図である。
の各部の詳細回路図であり、第５図は第２図の概
略ブロツク線図である。
次に上記本発明の一実施例の作用について説明
する。
する。
第２図乃至第５図において始めにf1，f2の基準
信号から演算回路１６（以下第１の演算回路とい
う）および２１（以下第２の演算回路という）に
よりデント信号成分及び内径変化信号成分（以下
第１番目の要因の影響という）を除去するために
比較的デント信号成分が顕著に得られるf3信号を
第３図の感度調整回路４によりf1デント信号電圧
振幅に感度を相わせ、これを位相調整回路６によ
り位相を同一にしf1信号のデント信号成分のみを
消去するに等しい信号成分に波形整形（以下第１
の演算という）を行う。またf3信号を感度調整回
路９によりf2デント信号電圧振幅に感度を相わ
せ、これを位相調整回路１１により位相を同一に
調整しf2信号のデント信号成分のみを消去するに
等しい信号成分に波形整形（以下第２の演算とい
う）を行う。これらの信号は第４図の多重演算回
路の演算回路１６（第１の演算回路）によりf1信
号のデント信号成分及び内径変化信号成分が消去
され、また演算回路２１（第２の演算回路）によ
りf2信号のデント信号成分及び内径変化信号成分
が消去される。このようにしてデント及び内径変
化の各信号成分（第１番目の要因の影響）が消去
されたf1，f3の各信号には、欠陥信号（以下第３
番目の要因の影響という）の他に例えば管板、支
持板若しくは細管外面付着物等（以下第２番目の
要因の影響という）に基因する残余の妨害信号成
分が残るが、これらの妨害信号成分を消去するた
めに第４図図示のf1信号感度調整回路１８により
f2信号をf1信号で減算するための最良の感度に調
整し、f1信号位相調整回路２３によりf2信号の位
相と同一に相わせ、演算回路２６（以下第３の演
算回路という）によりf1，f2信号を演算処理して
支持板及び外面付着物等に基因する残余の妨害信
号成分が除去される。これにより欠陥信号（第３
番目の要因の影響）のみが位相調整回路２８を経
て多重演算出力信号端子２９および３０から出力
され、この欠陥信号が検出分析されることとな
る。この場合多重演算後の出力信号位相は比較的
高くなるために位相調整回路２８で補正し減肉量
の推定を行うようにする。
信号から演算回路１６（以下第１の演算回路とい
う）および２１（以下第２の演算回路という）に
よりデント信号成分及び内径変化信号成分（以下
第１番目の要因の影響という）を除去するために
比較的デント信号成分が顕著に得られるf3信号を
第３図の感度調整回路４によりf1デント信号電圧
振幅に感度を相わせ、これを位相調整回路６によ
り位相を同一にしf1信号のデント信号成分のみを
消去するに等しい信号成分に波形整形（以下第１
の演算という）を行う。またf3信号を感度調整回
路９によりf2デント信号電圧振幅に感度を相わ
せ、これを位相調整回路１１により位相を同一に
調整しf2信号のデント信号成分のみを消去するに
等しい信号成分に波形整形（以下第２の演算とい
う）を行う。これらの信号は第４図の多重演算回
路の演算回路１６（第１の演算回路）によりf1信
号のデント信号成分及び内径変化信号成分が消去
され、また演算回路２１（第２の演算回路）によ
りf2信号のデント信号成分及び内径変化信号成分
が消去される。このようにしてデント及び内径変
化の各信号成分（第１番目の要因の影響）が消去
されたf1，f3の各信号には、欠陥信号（以下第３
番目の要因の影響という）の他に例えば管板、支
持板若しくは細管外面付着物等（以下第２番目の
要因の影響という）に基因する残余の妨害信号成
分が残るが、これらの妨害信号成分を消去するた
めに第４図図示のf1信号感度調整回路１８により
f2信号をf1信号で減算するための最良の感度に調
整し、f1信号位相調整回路２３によりf2信号の位
相と同一に相わせ、演算回路２６（以下第３の演
算回路という）によりf1，f2信号を演算処理して
支持板及び外面付着物等に基因する残余の妨害信
号成分が除去される。これにより欠陥信号（第３
番目の要因の影響）のみが位相調整回路２８を経
て多重演算出力信号端子２９および３０から出力
され、この欠陥信号が検出分析されることとな
る。この場合多重演算後の出力信号位相は比較的
高くなるために位相調整回路２８で補正し減肉量
の推定を行うようにする。
以上により本発明によれば、欠陥識別の妨害と
なる複数の要因が同一場所に存在している場合で
も、これらの妨害となる要因を確実に消去して欠
陥信号のみを検出して分析することが可能とな
り、例えば管板および支持板直上、直下における
管外面の付着物とデントおよび欠陥の各信号が複
合している場合、従来はその信号評価が不明瞭で
あつたが、本発明によれば欠陥信号のみを明瞭に
判別できる。従つて分析評価枝術の同上が図れる
と共に分析評価が容易となる優れた効果が得られ
る。
なる複数の要因が同一場所に存在している場合で
も、これらの妨害となる要因を確実に消去して欠
陥信号のみを検出して分析することが可能とな
り、例えば管板および支持板直上、直下における
管外面の付着物とデントおよび欠陥の各信号が複
合している場合、従来はその信号評価が不明瞭で
あつたが、本発明によれば欠陥信号のみを明瞭に
判別できる。従つて分析評価枝術の同上が図れる
と共に分析評価が容易となる優れた効果が得られ
る。
なお本発明による多重周波数渦電流探傷分析装
置を例えば大型電算機や小型コンピユータと運動
させて使用してもよく、この場合には例えば加圧
水型軽水炉（PWR）蒸気発生器伝熱管等の検査
システムが著るしく改善されるものである。
置を例えば大型電算機や小型コンピユータと運動
させて使用してもよく、この場合には例えば加圧
水型軽水炉（PWR）蒸気発生器伝熱管等の検査
システムが著るしく改善されるものである。
第１図は本発明の一実施例の全体構成を示す概
略図、第２図は第１図における多重演算装置の回
路構成を示すブロツク線図、第３図および第４図
はそれぞれ第２図の各部の詳細回路図、第５図は
第２図の概略ブロツク線図である。 ０１……多重周波数渦電流探傷器本体、０２…
…多重演算装置、０３……発振器、０４……ミキ
サ、０５……探傷ブローブコイル、０６……バラ
ンス回路、０７……信号処理部、１，２……f3信
号の入力端子、３……f3信号の感度調整および無
調整切替スイツチ、４……f3信号感度調整回路、
５……f3信号の位相調整および無調整切替スイツ
チ、６……f3信号位相調整回路、７，８……f3信
号のモニター端子、９……f3信号感度調整回路、
１０……f3信号の位相調整および無調整切替スイ
ツチ、１１……f3信号位相調整回路、１２，１３
……f3信号のモニター端子、１４，１５……f1信
号の入力端子、１６……演算回路、１７……f1信
号の感度調整および無調整切替スイツチ、１８…
…f1信号感度調整回路、１９，２０……f2信号の
入力端子、２１……演算回路、２２……f1信号の
位相調整および無調整切替スイツチ、２３……f1
信号位相調整回路、２４，２５……f1信号のモニ
ター端子、２６……演算回路、２７……位相調整
および無調整切替スイツチ、２８……位相調整回
路、２９，３０……多重演算出力信号端子。
略図、第２図は第１図における多重演算装置の回
路構成を示すブロツク線図、第３図および第４図
はそれぞれ第２図の各部の詳細回路図、第５図は
第２図の概略ブロツク線図である。 ０１……多重周波数渦電流探傷器本体、０２…
…多重演算装置、０３……発振器、０４……ミキ
サ、０５……探傷ブローブコイル、０６……バラ
ンス回路、０７……信号処理部、１，２……f3信
号の入力端子、３……f3信号の感度調整および無
調整切替スイツチ、４……f3信号感度調整回路、
５……f3信号の位相調整および無調整切替スイツ
チ、６……f3信号位相調整回路、７，８……f3信
号のモニター端子、９……f3信号感度調整回路、
１０……f3信号の位相調整および無調整切替スイ
ツチ、１１……f3信号位相調整回路、１２，１３
……f3信号のモニター端子、１４，１５……f1信
号の入力端子、１６……演算回路、１７……f1信
号の感度調整および無調整切替スイツチ、１８…
…f1信号感度調整回路、１９，２０……f2信号の
入力端子、２１……演算回路、２２……f1信号の
位相調整および無調整切替スイツチ、２３……f1
信号位相調整回路、２４，２５……f1信号のモニ
ター端子、２６……演算回路、２７……位相調整
および無調整切替スイツチ、２８……位相調整回
路、２９，３０……多重演算出力信号端子。
Claims (1)
- １ 複数の試験周波数による探傷出力が同時に得
られる多重周波数渦電流探傷器本体からの出力を
入力とする多重演算装置において、f1周波数によ
る水平成分及び垂直成分からなる探傷出力とf3周
波数による水平成分及び垂直成分からなる探傷出
力とを組み合わせ、第１の演算回路に入力し、第
１番目の要因の影響を除去し、f3周波数による水
平成分及び垂直成分からなる探傷出力とf2周波数
による水平成分及び垂直成分からなる探傷出力と
を組み合わせ、第２の演算回路に入力し、第１番
目の要因の影響を除去し、第１の演算回路の水平
成分及び垂直成分からなる出力と第２の演算回路
の水平成分及び垂直成分からなる出力を組み合わ
せ第３の演算回路に入力し、第２番目の要因の影
響を除去し、これらにより、第１番目と、第２番
目の要因の影響とを除去し、第３番目の要因の影
響のみを出力させる機能を有することを特徴とす
る多重周波数渦電流探傷分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5211183A JPS59176664A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 多重周波数渦電流探傷分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5211183A JPS59176664A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 多重周波数渦電流探傷分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59176664A JPS59176664A (ja) | 1984-10-06 |
| JPH0376416B2 true JPH0376416B2 (ja) | 1991-12-05 |
Family
ID=12905748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5211183A Granted JPS59176664A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 多重周波数渦電流探傷分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59176664A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273158A (ja) * | 1985-09-27 | 1987-04-03 | Daizaburo Iwasaki | 渦流探傷試験における信号処理方法およびその装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5817353A (ja) * | 1981-06-12 | 1983-02-01 | Kobe Steel Ltd | 複数コイル方式による多重周波数渦流探傷法及び多重周波数渦流探傷装置 |
-
1983
- 1983-03-28 JP JP5211183A patent/JPS59176664A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59176664A (ja) | 1984-10-06 |
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