JPH04105468U - 電気コネクタ - Google Patents

電気コネクタ

Info

Publication number
JPH04105468U
JPH04105468U JP1513491U JP1513491U JPH04105468U JP H04105468 U JPH04105468 U JP H04105468U JP 1513491 U JP1513491 U JP 1513491U JP 1513491 U JP1513491 U JP 1513491U JP H04105468 U JPH04105468 U JP H04105468U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
plastic
electrical connector
flux
holding hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1513491U
Other languages
English (en)
Inventor
資生 小堀
史夫 篠崎
智也 大槻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
DDK Ltd
Original Assignee
DDK Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by DDK Ltd filed Critical DDK Ltd
Priority to JP1513491U priority Critical patent/JPH04105468U/ja
Publication of JPH04105468U publication Critical patent/JPH04105468U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Multi-Conductor Connections (AREA)
  • Connector Housings Or Holding Contact Members (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案は接触部、固定部、端子部からなるコ
ンタクトを絶縁ブロックに設けたコンタクト保持孔内に
圧入し上記固定部により保持して形成された電気コネク
タにおいて、コンタクトの端子部を配線基板のパターン
に半田付けしたときのフラックスが固定部と保持孔間の
隙間からコンタクトを上昇して接触部を汚染することに
よる接触不良や腐蝕の防止にある。 【構成】 本考案はコンタクトの固定部寄りの表面全周
にプラスチックを被覆し、その撥水性によりフラックス
の接触部への上昇を阻止して目的を達成したものであ
る。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、絶縁ブロックに設けたコンタクト保持孔に、コンタクトを挿入して 、保持・固定する電気コネクタに関し、特に、配線基板に取り付け、半田付で接 続する電気コネクタに係るものである。
【0002】
【従来の技術】 従来、絶縁ブロックにコンタクトを固定する方法として図 3(a)に示すように、接触部(1a)、固定部(1b)及び端子部(1c)の 3部分からなるコンタクト(1)の固定部(1b)に、矢じり状の突起(11) を設けてこれを図3(b)のように絶縁ブロック(2)の所定位置に設けた、上 記矢じり状突起(11)の寸法よりやや小さい寸法のコンタクト保持孔(21) に、図3(c)のように圧入して、コンタクト(1)を絶縁ブロック(2)に保 持固定する方法が広く行われている。 ところでこの場合コンタクト(1)の矢じり状突起(11)が陣笠状の場合に は、絶縁ブロック(2)のコンタクト保持孔(21)とコンタクト(1)の突起 (11)との間には、殆ど間隙を生ずることがなく、高い気密性が得られるが、 その一方コンタクト(1)の圧入に大きな力が必要となる。このため特に最近に おいて強く要求されるコネクタの小形化,細密化に伴いコンタクト(1)が薄く 、かつ細くなると、コンタクト(1)は圧入力に抗しきれずに延びて細くなった り、場合によっては引張破断するという欠点がある。 そこで、薄いコンタクト(1)や細いコンタクト(1)の場合には、コンタク ト(1)の固定部(1b)の断面を図4のように四方形として、その1辺に、半 円状突起(11)を設け、このコンタクト(1)を四方形に作られたコンタクト 保持孔(21)内に圧入して、突起(11)と突起(11)を有しない面(12 )において保持・固定することが行われている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のように、断面四方形の1辺に突起(11)を設けた場合 には、図4に示すように、突起(11)を有する面及びその直角方向の両側面側 には間隙(3)が生ずる。このように間隙(3)が生ずると、コネクタを配線基 板に取付け、加熱して半田を溶かしてコンタクト(1)の端子部(1c)と配線 基板のパターンとを接続すると、その半田付時に溶融した流体状のフラックスが 表面張力等の作用によってコンタクト(1)の端子部(1c)、固定部(1b) を順次昇り、やがて接触部(1a)にまで達してその表面をフラックスの被膜に より覆って表面を汚染する。 このため相手コネクタと嵌合したときに期待通りの電気的接続が得られにくい ばかりか、やがてその部分がフラックスにより腐蝕して、コネクタとしての機能 を低下してしまうという欠点があった。
【0004】
【課題を解決するための本考案の手段】
本考案は上記欠点の解決を目的とするもので、その目的は、次の手段即ち図1 に示すようにコンタクト(1)の端子部(1c)の固定部(1b)寄りの表面に 全周にプラスチック(4)を被着することにより目的を達成できるようにしたも のである。固定部(1b)の表面に被着できるプラスチックの具体例としては、 次のものを上げることができる。 (1)熱硬化性プラスチック、例えば エポキシ樹脂 ポリウレタン樹脂 不飽和ポリエステル樹脂 シリコン樹脂 及び上記樹脂の発泡物 (2)2液硬化性プラスチック、例えば エポキシ樹脂 ポリウレタン樹脂 不飽和ポリエステル樹脂 シリコン樹脂 及び上記樹脂の発泡物 (3)紫外線硬化性プラスチック、例えば エポキシ樹脂 ポリウレタン樹脂 不飽和ポリエステル樹脂 シリコン樹脂 及び上記樹脂の発泡物 また本考案において、コンタクト(1)の固定部(1b)にプラスチック(4 )を被着する手段としては、公知の如何なる手段によっても差し支えないが、具 体例として図2に示す各種の方法を挙げることができる。 図2(イ)はディスペンサ(5)により連状コンタクト(1)の各固定部(1 b)にプラスチック(4)を被着する例である。(ロ)はインクジェクトプリン タ(6)によりプラスチック(4)を噴射して被着させるものであり、(ハ)は スプレー(7)によりプラスチック(4)を吹きつけて被着させるものである。 また、(ニ)は転写ローラ(8)により被着させる方法であり、この外スクリン 印刷法を用いることもできる。
【0005】
【作用】
本考案においては、コンタクト(1)の端子部(1c)の固定部(1b)寄り に被着したプラスチック(4)が、例えは熱硬化性プラスチックの場合には、本 考案のコネクタを配線基板に搭載し、これを加熱して半田付けする際に、加熱硬 化する。硬化したプラスチック(4)は半田付時のフラックスを撥くので、半田 付の際のフラックスは端子部の固定部(1b)寄りに被着したプラスチック(4 )により上昇が阻止され、それより上に昇ることがない。 また、例えばプラスチック(4)が熱膨張性の場合には、配線基板搭載後の半 田付時の熱によりプラスチック(4)が熱膨張してその撥水性により上記と同様 の作用効果を発揮する。また更に例えばプラスチック(4)が発泡性の場合には 、配線基板搭載後の半田付時の熱により、プラスチック(4)が発泡して膨らみ 上記と同様の作用効果を発揮する。 次に本考案の実施例について説明する。
【0006】
【実施例1】 材質リン青銅の金属板から打抜法により、固定部が横 0.6mm、縦 0.3mmの断面 長方形で、横の一面には高さ0.15mmの突起を有するコンタクト(1)を作成した 。なお、コンタクト全体の長さは10mmで端子部(1c)の長さは2mmである。 次にコンタクトの端子部(1c)の固定部(1b)寄りの表面全周に亘り、プ ラスチック(4)として熱硬化性のエポキシ樹脂を図2(イ)に示したディスペ ンサ法により被着して厚さ 0.1mmの被着層を施した。そして端子部(1c)に被 着層を施したコンタクトを、横 0.7mm、縦 0.4mmの保持孔を有する、材質ポリブ チレンテレフタレートの絶縁ブロック(2)のコンタクト保持孔(21)に挿入 して、保持固定してモデルコネクタを作成した。 このモデルコネクタをサンプル配線基板に搭載し、温度230℃の加熱炉に1 分間保持した後、常温空気による強制冷却により、室温まで冷却した。 以上のようにして得たサンプル配線基板上のモデルコネクタの接触部(1a) をイソプロピルアルコール液(IPA)中に浸漬し、そのIPA液を約1/10 00に濃縮して分析したが、フラックス成分は全く検出されなかった。 また、上記試験後モデルコネクタを切断して、コンタクトの寸法を測定したが 、挿入時と測定誤差範囲内で同寸法であって、圧入時の圧縮による増加、引張に よる延び等は生じていないものと判断された。 (比較例) 端子部(1c)にプラスチック(4)を施さないモデルコネクタを実施例と同 様にサンプル回路基板上に搭載し、加熱により半田付したのち、そのサンプル回 路基板上のコネクタの接触部をIPA液中に浸漬して、その液を1/1000に 蒸発乾固してIR分析したところ、プラスチック成分は検出されなかった。
【0007】
【実施例2】 材質リン青銅の金属板から、打抜き法により、固定部が横 0.6mm、縦 0.3mmの 断面長方形で、横の一面には高さ0.15mmの突起を有するコンタクト(1)を作成 した。なお、コンタクト全体の長さは10mmで、次にコンタクトの端子部(1c )の固定部(1b)寄りの表面全周に亘り、プラスチックとして2液硬化性のエ ポキシ樹脂を図2(イ)に示したディスペンサ法により厚さ 0.1mmプラスチック (4)の被着層を施した。そしてコンタクトを、横 0.7mm、縦 0.4mmのコンタク ト保持孔(21)を有する、材質ポリブチレンテレフタレートの絶縁ブロック( 2)のコンタクト保持孔(21)に挿入して、保持固定してモデルコネクタを作 成した。 モデルコネクタをサンプル配線基板に搭載し、温度230℃の加熱炉に1分間 保持した後、常温空気による強制冷却により、室温まで冷却した。 以上のようにして得たサンプル配線基板上のモデルコネクタの接触部をイソプ ロピルアルコール液(IPA)中に浸漬し、そのIPA液を約1/1000に濃 縮して分析したが、フラックス成分は全く検出されなかった。 また、上記試験後モデルコネクタを切断して、コンタクトの寸法を測定したが 、挿入時と測定誤差範囲内で同寸法であって、圧入時の圧縮による増加,引張に よる延び等は生じていないものと判断された。 (比較例) 端子部(1c)にプラスチック(4)を施さないモデルコネクタを実施例と同 様にサンプル回路基板上に搭載して加熱により半田付したのち、そのサンプル回 路基板上のコネクタの接触部(1b)をIPA液中に浸漬し、その液を1/10 00に蒸発乾固して分析したところ、プラスチック成分が検出された。
【0008】
【実施例3】 材質リン青銅の金属板から、打抜き法により、固定部(1b)が横 0.6mm、縦 0.3mmの断面長方形で、横の一面には高さ0.15mmの突起を有するコンタクトを作 成した。なお、コンタクト全体の長さは10mmである。次にコンタクトの端子部 (1c)の固定部(1b)寄りの表面全周に亘り、プラスチック(4)として紫 外線硬化性のエポキシ樹脂を用いて図2(イ)に示したディスペンサ法により厚 さ 0.1mmの被着層を施した。端子固定部(1c)にプラスチックの被着層を施し たコンタクトを、横 0.7mm、縦 0.4mmのコンタクト保持孔(21)を有する、材 質ポリブチレンテレフタレートの絶縁ブロック(2)のコンタクト保持孔(21 )に挿入して、保持固定してモデルコネクタを作成した。 モデルコネクタをサンプル配線基板に搭載し、温度230℃の加熱炉に1分間 保持した後、常温空気による強制冷却により、室温まで冷却した。 以上のようにして得たサンプル配線基板上のモデルコネクタの接触部をイソプ ロピルアルコール液(IPA)中に浸漬し、そのIPA液を約1/1000に濃 縮して分析したが、フラックス成分は全く検出されなかった。 また、上記試験後モデルコネクタを切断して、コンタクトの寸法を測定したが 、挿入時と測定誤差範囲内で同寸法であって、圧入時の圧縮による増加,引張に よる延び等は生じていないものと判断された。 (比較例) 端子部(1c)にプラスチック(4)を施さないものを実施例と同様にサンプ ル回路基板上に搭載し、加熱により半田付したのち、そのサンプル回路基板上の コネクタの接触部(1b)をIPA液中に浸漬し、その液を1/1000に濃縮 して分析したところ、プラスチック成分が検出された。
【0009】
【考案の効果】
本考案においては、電気コネクタの絶縁ブロック(2)に設けられたコンタク ト保持孔(2)と、ここに圧入されたコンタクト(1)の端子部(1c)の固定 部(1b)寄りの表面にプラスチック(4)が被着されているので、配線基板等 に搭載後、半田付の熱により、フラックスが液状化して、表面表力等によりコン タクト表面に沿って流動してきても、その流れは上記プラスチック(4)に阻止 され、それ以上上昇して接触部(1a)までは侵入することはない。 従って、プラスチック汚染による嵌合相手のコンタクトとの接触不良や腐蝕事 故は防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係る電気コネクタの構造説明図であ
る。
【図2】本考案に係る電気コネクタのコンタクトにプラ
スチックを被着する手段の具体例図である。
【図3】従来の電気コネクタの構造説明図である。
【図4】従来の電気コネクタのコンタクト保持構造の説
明図である。
【符号の説明】
(1) コンタクト (1a) 接触部 (1b) 固定部 (1c) 端子部 (11) 固定突起 (2) 絶縁ブロック (21) コンタクト保持孔 (3) 間隙 (4) プラスチック (5) ディスペンサ (6) インジェクトプリンタ (7) スプレー (8) 転写ローラ

Claims (4)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 接触部と表面に突起を有する固定部と端
    子部の3部分よりなるコンタクトを絶縁ブロックに設け
    たコンタクト保持孔に挿入して、前記固定部により絶縁
    ブロックに前記コンタクトを保持固定してなる電気コネ
    クタにおいて、前記コンタクトの端子部の固定部寄り表
    面にプラスチックを被着してなる電気コネクタ。
  2. 【請求項2】 請求項1のプラスチックが熱硬化性プラ
    スチックである電気コネクタ。
  3. 【請求項3】 請求項1のプラスチックが熱膨張性プラ
    スチックである電気コネクタ。
  4. 【請求項4】 請求項1のプラスチックが発泡性プラス
    チックである電気コネクタ。
JP1513491U 1991-02-22 1991-02-22 電気コネクタ Pending JPH04105468U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1513491U JPH04105468U (ja) 1991-02-22 1991-02-22 電気コネクタ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1513491U JPH04105468U (ja) 1991-02-22 1991-02-22 電気コネクタ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04105468U true JPH04105468U (ja) 1992-09-10

Family

ID=31902432

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1513491U Pending JPH04105468U (ja) 1991-02-22 1991-02-22 電気コネクタ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04105468U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7802999B2 (en) 1996-10-10 2010-09-28 Fci Americas Technology Llc High density connector and method of manufacture

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4945389A (ja) * 1972-07-27 1974-04-30

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4945389A (ja) * 1972-07-27 1974-04-30

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7802999B2 (en) 1996-10-10 2010-09-28 Fci Americas Technology Llc High density connector and method of manufacture

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4230385A (en) Printed circuit board, electrical connector and method of assembly
US2915678A (en) Electrical mounting devices
CN1233387A (zh) 一种电气或电子电路的屏蔽方法以及屏蔽罩
MXPA03005795A (es) Procedimiento para la fabricacion de un conjunto constructivo electronico.
US20180005733A1 (en) Mounting structure for mounting shunt resistor and method of manufacturing mounting structure for mounting shunt resistor
EP0321525B1 (en) A pin fastened to a printed circuit board by soldering
KR100415940B1 (ko) 인쇄회로기판 고정장치
US4688867A (en) Circuit board with integral positioning means
JPH04105468U (ja) 電気コネクタ
EP0856556A3 (en) Electronic component material containing pest repellent, electronic component using the same, and its manufacturing method
JPH0644178U (ja) 回路基板
JP2551332Y2 (ja) 電気コネクタ
US5175023A (en) Method for forming insulating coating material for electronic circuit board
JPH1186987A (ja) 電気コネクタ
JPH0644131Y2 (ja) 基板用スペーサー
US4818784A (en) Insulating coating layer for electronic circuit board, insulating coating material for electronic circuit board, and method for forming insulating coating layer for electronic circuit board
US8096464B2 (en) Solder-bearing articles and method of retaining a solder mass along a side edge thereof
US20030094689A1 (en) Electrical apparatus having resistance to atmospheric effects and method of manufacture therefor
JPS60194550A (ja) 混成集積回路
JP2697987B2 (ja) 接続用端子付き電子部品およびその実装方法
JPH0356031Y2 (ja)
JPS588560B2 (ja) 電気的接触子の係止機構
JPH10289971A (ja) Ledの固定装置
JPH0227529Y2 (ja)
JPH09260815A (ja) 半導体装置の製造方法