JPH04117643A - 両面記録型光磁気記録媒体 - Google Patents
両面記録型光磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPH04117643A JPH04117643A JP2171678A JP17167890A JPH04117643A JP H04117643 A JPH04117643 A JP H04117643A JP 2171678 A JP2171678 A JP 2171678A JP 17167890 A JP17167890 A JP 17167890A JP H04117643 A JPH04117643 A JP H04117643A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- magneto
- optical recording
- group
- cyclic olefin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
1肌辺韮薫11
本発明は、優れた耐酸化性および光磁気記録特性を有す
るとともに、機械的特性にも優れた両面記録型光磁気記
録媒体に関し、さらに詳しくは、優れた耐酸化性を有す
るとともに記録パワーマージンが広く、 しかも記録感
度の線速依存性が小さく、かつC/N比が高いような優
れた光磁気記録特性を有し、その五 基板と記録層積層
体との密着性に優蜆 かつ反りなどがなく機械的特性に
優れた両面記録型光磁気記録媒体に関する。
るとともに、機械的特性にも優れた両面記録型光磁気記
録媒体に関し、さらに詳しくは、優れた耐酸化性を有す
るとともに記録パワーマージンが広く、 しかも記録感
度の線速依存性が小さく、かつC/N比が高いような優
れた光磁気記録特性を有し、その五 基板と記録層積層
体との密着性に優蜆 かつ反りなどがなく機械的特性に
優れた両面記録型光磁気記録媒体に関する。
i団立狡玉上11
鉄、コバルトなどの遷移金属と、テルビウム(Tb)、
カドリニウム(Gd)などの希土類元素との合金からな
る光磁気記録膜は、膜面と垂直な方向に磁化容易軸を有
し、一方向に全面磁化された膜面にこの全面磁化方向と
は逆向きの小さな反転磁区を形成することができること
が知られている。゛この反転磁区の有無を「1」、 「
0」に対応させることによって、」二重のような光磁気
記録膜にデジタル48号を記録させることが可能となる
。
カドリニウム(Gd)などの希土類元素との合金からな
る光磁気記録膜は、膜面と垂直な方向に磁化容易軸を有
し、一方向に全面磁化された膜面にこの全面磁化方向と
は逆向きの小さな反転磁区を形成することができること
が知られている。゛この反転磁区の有無を「1」、 「
0」に対応させることによって、」二重のような光磁気
記録膜にデジタル48号を記録させることが可能となる
。
このような遷移金属と希土類元素とからなる光磁気記録
膜としては、たとえば特公昭57−20691号公報に
15〜30原子%のTbを含むTb−Fe系光磁気記録
膜が開示されている。またTb−Feに第3の金属を添
加してなる光磁気記録膜も用いられている。さらにTb
−Co系、Tb−Fe−Co系などの光磁気記録膜も知
られている。
膜としては、たとえば特公昭57−20691号公報に
15〜30原子%のTbを含むTb−Fe系光磁気記録
膜が開示されている。またTb−Feに第3の金属を添
加してなる光磁気記録膜も用いられている。さらにTb
−Co系、Tb−Fe−Co系などの光磁気記録膜も知
られている。
コノようなTb−Fe系、Tb−Co系などの光磁気記
録膜中に、この薄膜の耐酸化性を向上させるためへ 第
3の金属を添加する方法が種々試みられている。
録膜中に、この薄膜の耐酸化性を向上させるためへ 第
3の金属を添加する方法が種々試みられている。
このような光磁気記録膜を基板上に積層してる光磁気記
録媒体では、基板と光磁気記録I偏積J体との密着性に
優れていることが望まれている。
録媒体では、基板と光磁気記録I偏積J体との密着性に
優れていることが望まれている。
またこのような光磁気記録膜を基板上に積層でなる光磁
気記録媒体は、耐酸化性が充分ではンく、また記録感度
の向上も望まれていたさらにこのような光磁気記録媒体
に情報を書^む際には、記録パワーマージンが広く、し
かも81録パワーの線速依存性が小さいことが望まれて
しる。ここで情報を會込む際の記録パワーマージ;が広
いとは、光磁気記録媒体にレーザ光などにJっでfHi
を書込む際に、會込み光としてのレーザ光のパワーが多
少変化しても正確に光磁気記録特性に情報を書込むこと
ができることを意味し、記録パワーの線速依存性が小さ
いとは、光磁気配5J媒体にレーザ光などによって情報
を書込む際に、記録媒体の内周部と外周部とで、書込み
光としてのレーザ光の最適の記録パワーの変化のしがた
がlトさいことを意味している。
気記録媒体は、耐酸化性が充分ではンく、また記録感度
の向上も望まれていたさらにこのような光磁気記録媒体
に情報を書^む際には、記録パワーマージンが広く、し
かも81録パワーの線速依存性が小さいことが望まれて
しる。ここで情報を會込む際の記録パワーマージ;が広
いとは、光磁気記録媒体にレーザ光などにJっでfHi
を書込む際に、會込み光としてのレーザ光のパワーが多
少変化しても正確に光磁気記録特性に情報を書込むこと
ができることを意味し、記録パワーの線速依存性が小さ
いとは、光磁気配5J媒体にレーザ光などによって情報
を書込む際に、記録媒体の内周部と外周部とで、書込み
光としてのレーザ光の最適の記録パワーの変化のしがた
がlトさいことを意味している。
このように基板との密着性に優れるとともに耐酸化性に
便法 しかもC/N比が高く、かつ記録パワーマージン
が広く、その上記録感度の線速依存性が小さく、 しか
も反りなどがない光磁気配≦漬媒体の出現が望まれてい
る。
便法 しかもC/N比が高く、かつ記録パワーマージン
が広く、その上記録感度の線速依存性が小さく、 しか
も反りなどがない光磁気配≦漬媒体の出現が望まれてい
る。
本発明者らは、このような従来技術に鑑みて鋭意検討し
たところ、基板上に、特定の第1保護校と、特定の光磁
気記録膜と、特定の第2保&tJiと、特定の金属膜と
をこの順序で積層してなる光磁気記録媒体を、同様の光
磁気記録媒体と接着剤層を介して貼る合わせることによ
り優れた耐酸化性および光磁気記録特性を有するととも
に反りなどのない8!械的特性に優れた両面記録型光磁
気記録媒体が得られることを見いだして、本発明を完成
するに至り九 l囲L1濃 本発明は、優れた耐酸化性を有するとともに記録パワー
マージンが広く、 しかも!l!12録感度の線速依存
性が小さく、がっC/N比が高いような優れた光磁気記
録特性を有し、その五 基板と記録層積層体との密着性
に優へ しかも反りなどのない機械的特性に優れた両面
記録型光磁気記録媒体を提供することを目的としている
。
たところ、基板上に、特定の第1保護校と、特定の光磁
気記録膜と、特定の第2保&tJiと、特定の金属膜と
をこの順序で積層してなる光磁気記録媒体を、同様の光
磁気記録媒体と接着剤層を介して貼る合わせることによ
り優れた耐酸化性および光磁気記録特性を有するととも
に反りなどのない8!械的特性に優れた両面記録型光磁
気記録媒体が得られることを見いだして、本発明を完成
するに至り九 l囲L1濃 本発明は、優れた耐酸化性を有するとともに記録パワー
マージンが広く、 しかも!l!12録感度の線速依存
性が小さく、がっC/N比が高いような優れた光磁気記
録特性を有し、その五 基板と記録層積層体との密着性
に優へ しかも反りなどのない機械的特性に優れた両面
記録型光磁気記録媒体を提供することを目的としている
。
は、
基板(1a)上に第1保護!(2a)と光磁気記録膜(
3a)と第2保護膜(4a)と金属膜(5a)とをこの
順序で積層してなる第1光磁気記録媒体と、 基板(1b)上に第1保11t!(2b)と光磁気記録
膜(3b)と@2保護膜(4b)と金属膜(5b)とを
この順序で積層してなる第2光磁気記録媒体と力C1 第1光磁気記録媒体の金属膜(5a)と第2光磁気記録
媒体の金属膜(5b)とが接着剤層を介して向かい合う
ようにして積層してなり、第1保護M (2a )、
(2b)および第2保護M(4a)、 (4b)力’、
SiNXがらなり、光磁気記録膜(3a)および(3b
)が、 (i)3d遷移金属から選ばれる少なくともi
iiと、(ii)耐腐食性金属と、 (iii)希土類
から選ばれる少なくとも1種の元素とからなり、前記耐
腐食性金属の含有量が5〜30原子%である、膜面に垂
直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜からなり、金J
jEM(5a)および(5b)5f、アルミニウム合金
からなることを特徴としている。
3a)と第2保護膜(4a)と金属膜(5a)とをこの
順序で積層してなる第1光磁気記録媒体と、 基板(1b)上に第1保11t!(2b)と光磁気記録
膜(3b)と@2保護膜(4b)と金属膜(5b)とを
この順序で積層してなる第2光磁気記録媒体と力C1 第1光磁気記録媒体の金属膜(5a)と第2光磁気記録
媒体の金属膜(5b)とが接着剤層を介して向かい合う
ようにして積層してなり、第1保護M (2a )、
(2b)および第2保護M(4a)、 (4b)力’、
SiNXがらなり、光磁気記録膜(3a)および(3b
)が、 (i)3d遷移金属から選ばれる少なくともi
iiと、(ii)耐腐食性金属と、 (iii)希土類
から選ばれる少なくとも1種の元素とからなり、前記耐
腐食性金属の含有量が5〜30原子%である、膜面に垂
直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜からなり、金J
jEM(5a)および(5b)5f、アルミニウム合金
からなることを特徴としている。
この゛ような本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体は
、記録膜積層体が」二重のような較構成および摸紹成を
有しているため、耐酸化性に優れており、長期間使用し
ても記録特性が低下することがなく、C/N比が高く、
かつ記録パワーマージンが広く、しかも記録感度の線速
依存性が小さく、その上反りなどがなく機械的特性に優
れている。
、記録膜積層体が」二重のような較構成および摸紹成を
有しているため、耐酸化性に優れており、長期間使用し
ても記録特性が低下することがなく、C/N比が高く、
かつ記録パワーマージンが広く、しかも記録感度の線速
依存性が小さく、その上反りなどがなく機械的特性に優
れている。
l豆立見盗力五」
以下、本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体について
具体的に説明する。
具体的に説明する。
本発明の両面記録型光磁気記録媒体10は、たとえば第
1図に示すように、基板(1a)上に第1保護膜(2a
)と光磁気記録jg(3a)と第2保護M(4a)と金
JE膜(5a)とをこの順序で積層してなる第1光磁気
記録媒体と、同様に基板(1b)上に第1保護膜(2b
)と光磁気記録膜(3b)と第2保護膜(4b)と金属
膜(5b)とをこの順序で積層してなる第2光磁気記録
媒体とが、第1光記録媒体の金属J5E(5a)と第2
光記録媒体の金属膜(5b)とが接着剤層を介して向か
い合うようにして積層してなる構造を有している。
1図に示すように、基板(1a)上に第1保護膜(2a
)と光磁気記録jg(3a)と第2保護M(4a)と金
JE膜(5a)とをこの順序で積層してなる第1光磁気
記録媒体と、同様に基板(1b)上に第1保護膜(2b
)と光磁気記録膜(3b)と第2保護膜(4b)と金属
膜(5b)とをこの順序で積層してなる第2光磁気記録
媒体とが、第1光記録媒体の金属J5E(5a)と第2
光記録媒体の金属膜(5b)とが接着剤層を介して向か
い合うようにして積層してなる構造を有している。
本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体10では、基板
(1a)と(1b)とは、同一の材質で構成されていて
もよく、また異なった相質で構成されていてもよい。ま
た保護膜(2a)、 (4a)、(2b)および(4b
)は下記に説明するような物質から形成されている限り
同一であっても異なっていてもよい。さらに光磁気記録
膜(3a)と(3b)および、金属膜(5a)と(5b
)も同様に同一であっても異なっていてもよい。
(1a)と(1b)とは、同一の材質で構成されていて
もよく、また異なった相質で構成されていてもよい。ま
た保護膜(2a)、 (4a)、(2b)および(4b
)は下記に説明するような物質から形成されている限り
同一であっても異なっていてもよい。さらに光磁気記録
膜(3a)と(3b)および、金属膜(5a)と(5b
)も同様に同一であっても異なっていてもよい。
以下、この基板、保護IL 光磁気記録11L 金
属膜および接着剤層について順次説明する。
属膜および接着剤層について順次説明する。
羨−−1
本発明において、基板(1a)および(l b)を形成
するための材料は、特定のものに限定されないが、透明
な材料から形成されていることが好ましい。ガラス、ア
ルミニウムなどの無機材料に加えて、ポリ(メチルメタ
クリレート)、ポリカーボネート、ポリカーボネートと
ポリスチレンとのポリマーアロイ、たとえば下記のよう
な環状オレフィン系ランダム共重合体などの米国特許第
4、614.778号明細會に開示されているような環
状オレフィン系ランダム共重合本 ポリ−4−メチル−
1−ペンテン、エポキシ樹脂、ポリエーテルスルフォン
、ポリスルフォン、ポリエーテルイミドなとの透明な有
機材料が挙げられる。これらの有機材料のうち、ポリ(
メチルメタクリレート)、ポリカーボネート、米国特許
第4.614.778号明細會に開示された環状オレフ
ィン系ランダム共重合体および下記のような環状オレフ
ィン系ランダム共重合体が好ましい。
するための材料は、特定のものに限定されないが、透明
な材料から形成されていることが好ましい。ガラス、ア
ルミニウムなどの無機材料に加えて、ポリ(メチルメタ
クリレート)、ポリカーボネート、ポリカーボネートと
ポリスチレンとのポリマーアロイ、たとえば下記のよう
な環状オレフィン系ランダム共重合体などの米国特許第
4、614.778号明細會に開示されているような環
状オレフィン系ランダム共重合本 ポリ−4−メチル−
1−ペンテン、エポキシ樹脂、ポリエーテルスルフォン
、ポリスルフォン、ポリエーテルイミドなとの透明な有
機材料が挙げられる。これらの有機材料のうち、ポリ(
メチルメタクリレート)、ポリカーボネート、米国特許
第4.614.778号明細會に開示された環状オレフ
ィン系ランダム共重合体および下記のような環状オレフ
ィン系ランダム共重合体が好ましい。
本発明に係る同面記録型光磁気記録媒体の基板(1a)
および(1b)としては、 エチレンと、下記式[+]または[I′]で表される環
状オレフィンとの共重合体であって、135℃のデカリ
ン中で測定した極限粘度[1]が0.05〜1oam/
gの範囲にある環状オレフィン系ランダム共重合体が好
ましく用いられる。特に本発明では、上記のような環状
オレフィン系ランダム共重合体のうち軟化温度(TMA
)が70℃以上である環状オレフィン系ランダム共重合
体(以下環状オレフィン系ランダム共重合体[A]とい
う)が好ましく用いられる。また所望により、環状オレ
フィン系ランダム共重合体[A]に、エチレンと、下記
式[r]または[I゛]で表される環状オレフィンとの
共重合体であって、135℃のデカリン中で測定した極
限粘度[η]が0.05〜5a11/ gの範囲にあり
、軟化温度(TMA)が70℃未満である環状オレフィ
ン系ランダム共重合体(以下環状オレフィン系ランダム
共重合体[B]という)を配合してmいることが特に好
ましい。
および(1b)としては、 エチレンと、下記式[+]または[I′]で表される環
状オレフィンとの共重合体であって、135℃のデカリ
ン中で測定した極限粘度[1]が0.05〜1oam/
gの範囲にある環状オレフィン系ランダム共重合体が好
ましく用いられる。特に本発明では、上記のような環状
オレフィン系ランダム共重合体のうち軟化温度(TMA
)が70℃以上である環状オレフィン系ランダム共重合
体(以下環状オレフィン系ランダム共重合体[A]とい
う)が好ましく用いられる。また所望により、環状オレ
フィン系ランダム共重合体[A]に、エチレンと、下記
式[r]または[I゛]で表される環状オレフィンとの
共重合体であって、135℃のデカリン中で測定した極
限粘度[η]が0.05〜5a11/ gの範囲にあり
、軟化温度(TMA)が70℃未満である環状オレフィ
ン系ランダム共重合体(以下環状オレフィン系ランダム
共重合体[B]という)を配合してmいることが特に好
ましい。
・・・ [1]
(式中、nは0または1であり、mは0または正の整数
であって、qは0またはIであり、R1−R111およ
びR−、R’は、それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン
原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子もし
くは基を表し、RIs−R+−は、互いに結合して単環
または多環を形成していてもよく、かつ該単環または多
環が二重結合を有していてもよく、 また、 RIsとR”とで、 またはR17とR1・と
でアルキリデン基を形成していてもよい)。
であって、qは0またはIであり、R1−R111およ
びR−、R’は、それぞれ独立に、水素原子、ハロゲン
原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子もし
くは基を表し、RIs−R+−は、互いに結合して単環
または多環を形成していてもよく、かつ該単環または多
環が二重結合を有していてもよく、 また、 RIsとR”とで、 またはR17とR1・と
でアルキリデン基を形成していてもよい)。
・・・ [1′]
(式[I°]中、pはOまたは1以上の整数であり、q
およびrは、0. 1または2であり、R1〜RI6は
それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、脂肪族炭化水
素基 芳香族炭化水素基 およびアルコキシ基よりなる
群から選ばれる原子もしくは基を表り、R’(またはR
6)とRe(またはR?)とは、炭素数1〜3のアルキ
レン基を介して結合していてもよく、また何の基も介さ
ずに直接結合していてもよい。) ただし、上記式[■]において、nは0またはlであり
、好ましくはOである。また、mはOまたは正の整数で
あり、好ましくはO〜3である。
およびrは、0. 1または2であり、R1〜RI6は
それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、脂肪族炭化水
素基 芳香族炭化水素基 およびアルコキシ基よりなる
群から選ばれる原子もしくは基を表り、R’(またはR
6)とRe(またはR?)とは、炭素数1〜3のアルキ
レン基を介して結合していてもよく、また何の基も介さ
ずに直接結合していてもよい。) ただし、上記式[■]において、nは0またはlであり
、好ましくはOである。また、mはOまたは正の整数で
あり、好ましくはO〜3である。
そして、qは0またはlである。
また上記式[■゛]において、pは0または1以上の整
数であり、好ましくはO〜3の整数である。
数であり、好ましくはO〜3の整数である。
そし゛て、R1−R1・ならびにR−およびRh(式[
I])、またはR1−R目(式[r’コ)は、それぞれ
独立に、水素原子、ハロゲン原子および炭化水素基より
なる群から選ばれる原子もしくは基を表す。ここで、ハ
ロゲン原子としては、たとえば、フッ素原子、塩素原子
、臭素原子およびヨウ素原子をあげることができる。ま
た、炭化水素基としては、それぞれ独立に、通常は炭素
原子数1〜6のアルキル基 炭素原子数3〜6のシクロ
アルキル基をあげることができ、アルキル基の具体的な
例としては、メチル基 エチル幕 イソプロピル五 イ
ソブチル基 アミル基をあげることができ、シクロアル
キル基の具体的な例としては、シクロヘキシル基 シク
ロプロピル幕 シクロブチル基 シクロペンチル基をあ
げることができる。
I])、またはR1−R目(式[r’コ)は、それぞれ
独立に、水素原子、ハロゲン原子および炭化水素基より
なる群から選ばれる原子もしくは基を表す。ここで、ハ
ロゲン原子としては、たとえば、フッ素原子、塩素原子
、臭素原子およびヨウ素原子をあげることができる。ま
た、炭化水素基としては、それぞれ独立に、通常は炭素
原子数1〜6のアルキル基 炭素原子数3〜6のシクロ
アルキル基をあげることができ、アルキル基の具体的な
例としては、メチル基 エチル幕 イソプロピル五 イ
ソブチル基 アミル基をあげることができ、シクロアル
キル基の具体的な例としては、シクロヘキシル基 シク
ロプロピル幕 シクロブチル基 シクロペンチル基をあ
げることができる。
また上記式[I°]において、R%(またはR6)とR
@(またはR?)とは、炭素数1〜3のアルキレン基を
介して結合していてもよく、また何の基も介さずに直接
結合していてもよい。
@(またはR?)とは、炭素数1〜3のアルキレン基を
介して結合していてもよく、また何の基も介さずに直接
結合していてもよい。
なお、上記式[+]において、qがOの場合は、qを用
いて表わされる環は五員環を形成する。
いて表わされる環は五員環を形成する。
さらに、上記式[I]において、R16〜R11は互い
に結合して(共同して)単環または多環を形成していて
もよく、かつ該単環または多環が二重結合を有していて
もよい。また、RI6とR111とで、またはR1マと
RI*とでアルキリデン基を形成していてもよい。この
ようなアルキリデン基は、通常は炭素原子数2〜4のア
ルキリデン基をあげることができ、その具体的な例とし
ては、エチリデン基 プロピリデン基 イソプロピリデ
ン基およびインブチリデン基をあげることができる。
に結合して(共同して)単環または多環を形成していて
もよく、かつ該単環または多環が二重結合を有していて
もよい。また、RI6とR111とで、またはR1マと
RI*とでアルキリデン基を形成していてもよい。この
ようなアルキリデン基は、通常は炭素原子数2〜4のア
ルキリデン基をあげることができ、その具体的な例とし
ては、エチリデン基 プロピリデン基 イソプロピリデ
ン基およびインブチリデン基をあげることができる。
前記式[1]または【■゛]で表される環状オレフィン
は、シクロペンタジェン類と、相応するオレフィン類あ
るいは環状オレフィン類とをディールス・アルダ−反応
により縮合させることにより容易に製造することができ
る。
は、シクロペンタジェン類と、相応するオレフィン類あ
るいは環状オレフィン類とをディールス・アルダ−反応
により縮合させることにより容易に製造することができ
る。
前記式[1]または[I゛]で表される環状オレフィン
としては、具体的には、たとえ1!、(以下余白) なとのようなビシクロ [2,2,1]ヘブI・ エン誘導体: し■コ ナトノテトラシクCff [4,4,0,1” 、17
”] −3−ドデセン誘導体; などのヘキサシクロ[6,6,1,l @、1”°13
.Of、70””]−]4−ヘプタデセン誘導体 ;オクタンク ロどのオクタシクロ[8,8,O,I’゛”、1″7
、 f ++、+s11″、+1 、 OL l 、
g Il+? ]−]5−トコセン誘導体などのペンタ
シクロ[6,6,1,I” 、0” ’、0”’]4−
へキサデセン誘導体; などのヘプタンクロー5−エイコセン誘導体あるいはへ
ブタンクロー5−ヘンエイコセン誘導体:などのトリシ
クロ[4,3,0,1” ]−]3−デセン誘導体など
のトリシクロ[4,4,0,1”“]3−ウンデセン誘
導体; なとのペンタシクロ [G、5.li” 、0” 、0’ 5] 4−ペンタデセン誘導体: などのジエン化合物。
としては、具体的には、たとえ1!、(以下余白) なとのようなビシクロ [2,2,1]ヘブI・ エン誘導体: し■コ ナトノテトラシクCff [4,4,0,1” 、17
”] −3−ドデセン誘導体; などのヘキサシクロ[6,6,1,l @、1”°13
.Of、70””]−]4−ヘプタデセン誘導体 ;オクタンク ロどのオクタシクロ[8,8,O,I’゛”、1″7
、 f ++、+s11″、+1 、 OL l 、
g Il+? ]−]5−トコセン誘導体などのペンタ
シクロ[6,6,1,I” 、0” ’、0”’]4−
へキサデセン誘導体; などのヘプタンクロー5−エイコセン誘導体あるいはへ
ブタンクロー5−ヘンエイコセン誘導体:などのトリシ
クロ[4,3,0,1” ]−]3−デセン誘導体など
のトリシクロ[4,4,0,1”“]3−ウンデセン誘
導体; なとのペンタシクロ [G、5.li” 、0” 、0’ 5] 4−ペンタデセン誘導体: などのジエン化合物。
なとのペンタシクロ
[7,4,0,1”、1”
2.0′
3]
3−ペンタデセン誘導体:
Ql+
]
エイコセン誘導体
0″1.Of
6 g+!、Il。
0+′
9]
5−ベンタコセン誘導体
なとのペンタシクロ[8,4,0,I’ s、 I”
”、 O’ 1′] −3−へキサデセン誘導体へブタ
シクロ b−ヘノエイ:Jτノ なとのへブタンクロ[8,8,0,1’−’、 15−
ヘンエイコセン誘導体 1B、+6.011.0盲!・11] なとのノナシクロ[10,10,1,l”、I” ”、
l” ”、0”′04”、01コ!t、 Q Il、W
6 ] −5−へキサデセン誘導体そしてさらには、 を挙げることができる。
”、 O’ 1′] −3−へキサデセン誘導体へブタ
シクロ b−ヘノエイ:Jτノ なとのへブタンクロ[8,8,0,1’−’、 15−
ヘンエイコセン誘導体 1B、+6.011.0盲!・11] なとのノナシクロ[10,10,1,l”、I” ”、
l” ”、0”′04”、01コ!t、 Q Il、W
6 ] −5−へキサデセン誘導体そしてさらには、 を挙げることができる。
(以下余白)
この上記のような環状オレフィン類とエチレンとの共重
合体である環状オレフィン系ランダム共重合体[A]お
よび[B]は、エチレンおよび前記環状オレフィンを必
須成分とするものであるが、該必須の二成分の他に本発
明の目的を損なわない範囲で、必要に応じて他の共重合
可能な不飽和単量体成分を含有していてもよい。任意に
共重合されていてもよい該不飽和単量体として、具体的
には、たとえば生成するランダム共重合体中のエチレン
成分単位と等モル未満の範囲のプロピレン、1−ブテン
、4−メチル−1−ペンテン、1−ヘキセン、1−オク
テン、 1−デセン、 1−ドデセン、 1−テトラデ
セン、1−へキサデセン、1−オクタデセン、1−エイ
コセンなどの炭素原子数が3〜20のσ−オレフィンな
どを例示することができる。
合体である環状オレフィン系ランダム共重合体[A]お
よび[B]は、エチレンおよび前記環状オレフィンを必
須成分とするものであるが、該必須の二成分の他に本発
明の目的を損なわない範囲で、必要に応じて他の共重合
可能な不飽和単量体成分を含有していてもよい。任意に
共重合されていてもよい該不飽和単量体として、具体的
には、たとえば生成するランダム共重合体中のエチレン
成分単位と等モル未満の範囲のプロピレン、1−ブテン
、4−メチル−1−ペンテン、1−ヘキセン、1−オク
テン、 1−デセン、 1−ドデセン、 1−テトラデ
セン、1−へキサデセン、1−オクタデセン、1−エイ
コセンなどの炭素原子数が3〜20のσ−オレフィンな
どを例示することができる。
上記のような環状オレフィン系ランダム共重合体[A]
では、エチレンに由来する繰り返し単位(a)は、40
〜85モル%、好ましくは50〜75モル%の範囲で存
在しており、また該環状オレフィンに由来する繰り返し
単位(b)は15〜60モル%、好ましくは25〜50
モル%の範囲で存在しており、エチレンに由来する繰り
返し単位(a)および該環状オレフィンに由来する繰り
返し単位(b)は、ランダムに実質上線状に配列してい
る。なお、エチレン組成および環状オレフィン組成は”
C−NMRによって測定し八 この環状オレフィン系ラ
ンダム共重合体が実質上線状であり、ゲル状架橋構造を
有していないことは、該共重合体が135℃のデカリン
中に完全に溶解することによって確認できる。
では、エチレンに由来する繰り返し単位(a)は、40
〜85モル%、好ましくは50〜75モル%の範囲で存
在しており、また該環状オレフィンに由来する繰り返し
単位(b)は15〜60モル%、好ましくは25〜50
モル%の範囲で存在しており、エチレンに由来する繰り
返し単位(a)および該環状オレフィンに由来する繰り
返し単位(b)は、ランダムに実質上線状に配列してい
る。なお、エチレン組成および環状オレフィン組成は”
C−NMRによって測定し八 この環状オレフィン系ラ
ンダム共重合体が実質上線状であり、ゲル状架橋構造を
有していないことは、該共重合体が135℃のデカリン
中に完全に溶解することによって確認できる。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体[A]の
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[r/]は、
0.05〜10di! / g、好ましくは0.08〜
5ag/gの範囲にある。
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[r/]は、
0.05〜10di! / g、好ましくは0.08〜
5ag/gの範囲にある。
また環状オレフィン系ランダム共重合体[A]のサーマ
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA)は、70℃以L 好ましくは90〜250℃、さ
らに好ましくは100〜200℃の範囲にある。なお軟
化温度(TMA)は、デュポン社製Thermomec
hanical Analyserを用いて厚さl−の
シートの熱変形挙動により測定しμ すなわちシ−ト上
に石英製針をのせ、荷重49gをかけ、 5℃分で昇温
していき、剣が0.635.侵入した温度をTMAとし
ち また、該環状オレフィン系ラン6ム共重合体のガラ
ス転移温度(T g)は、通常50230℃、好ましく
は70〜210℃の範囲にあること力望ましい。
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA)は、70℃以L 好ましくは90〜250℃、さ
らに好ましくは100〜200℃の範囲にある。なお軟
化温度(TMA)は、デュポン社製Thermomec
hanical Analyserを用いて厚さl−の
シートの熱変形挙動により測定しμ すなわちシ−ト上
に石英製針をのせ、荷重49gをかけ、 5℃分で昇温
していき、剣が0.635.侵入した温度をTMAとし
ち また、該環状オレフィン系ラン6ム共重合体のガラ
ス転移温度(T g)は、通常50230℃、好ましく
は70〜210℃の範囲にあること力望ましい。
また、この環状オレフィン系ランダム共重合付[AJの
X線回折法によって測定した結晶化度は0〜10%、好
ましくは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の範囲で
ある。
X線回折法によって測定した結晶化度は0〜10%、好
ましくは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の範囲で
ある。
本発明では、また上記のような軟化温度(TMA)が7
0℃以上である環状オレフィン系ランダム共重合体[A
Jに、 エチレンと、上記式ErJまたは[r’lで表オされる
環状オレフィンとの共重合体であって、135℃のデカ
リン中で測定した極限粘度[V]が0.05〜5dQ/
gの範囲にあり、軟化温度(TMA)が70℃未満であ
る環状オレフィン系ランダム共重合体[BIを配合して
なる環状オレフィン系ランダム共重合体組成物から基板
を形成することが好ましい。
0℃以上である環状オレフィン系ランダム共重合体[A
Jに、 エチレンと、上記式ErJまたは[r’lで表オされる
環状オレフィンとの共重合体であって、135℃のデカ
リン中で測定した極限粘度[V]が0.05〜5dQ/
gの範囲にあり、軟化温度(TMA)が70℃未満であ
る環状オレフィン系ランダム共重合体[BIを配合して
なる環状オレフィン系ランダム共重合体組成物から基板
を形成することが好ましい。
上記のような軟化点(TMA)が70t:未満である環
状オレフィン系ランダム共重合体[BIでは、エチレン
に由来する繰り返し単位(a)は、60〜98モル%、
好ましくは60〜98モル%の範囲で存在しており、ま
た該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)は2
〜40モル%、好ましくは5〜40モル%の範囲で存在
しており、エチレンに由来する栓り返し単位(a)およ
び該環状オレフィンに由来する政秒返し単位(b)は、
ランダムに実質上線状に配列している。なお、エチレン
組成および環状オレフィン組成は13C−NMRによっ
て測定しμ この環状オレフィン系ランダム共重合体[
BIが実質上線状であり、ゲル状架橋措造を有していな
いことは、該共重合体が135℃のデカリン中に完全に
溶解することによって確認できる。
状オレフィン系ランダム共重合体[BIでは、エチレン
に由来する繰り返し単位(a)は、60〜98モル%、
好ましくは60〜98モル%の範囲で存在しており、ま
た該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)は2
〜40モル%、好ましくは5〜40モル%の範囲で存在
しており、エチレンに由来する栓り返し単位(a)およ
び該環状オレフィンに由来する政秒返し単位(b)は、
ランダムに実質上線状に配列している。なお、エチレン
組成および環状オレフィン組成は13C−NMRによっ
て測定しμ この環状オレフィン系ランダム共重合体[
BIが実質上線状であり、ゲル状架橋措造を有していな
いことは、該共重合体が135℃のデカリン中に完全に
溶解することによって確認できる。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体[BIの
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[lコは、0
.05〜5 fIQ/ gl 好t t、 < Ii
o、08〜311IQ/gの範囲にある。
135℃のデカリン中で測定した極限粘度[lコは、0
.05〜5 fIQ/ gl 好t t、 < Ii
o、08〜311IQ/gの範囲にある。
また環状オレフィン系ランダム共重合体[BIのサーマ
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA)は、70℃未満、好ましくは一10〜60℃、さ
らに好ましくは10〜55℃の範囲にある。さらに、該
環状オレフィン系ランダム共重合体[BJのガラス転移
温度(Tg)は、通常−30〜60℃、好ましくは一2
0〜50℃の範囲にあることが望ましい。
ル・メカニカル・アナライザーで測定した軟化温度(T
MA)は、70℃未満、好ましくは一10〜60℃、さ
らに好ましくは10〜55℃の範囲にある。さらに、該
環状オレフィン系ランダム共重合体[BJのガラス転移
温度(Tg)は、通常−30〜60℃、好ましくは一2
0〜50℃の範囲にあることが望ましい。
また、この環状オレフィン系ランダl、共重合体[BI
のX線回折法によって測定した結晶化度は、0〜10%
、好ましくは0〜7%、 とくに9丁ましくは0〜5%
の範囲である。
のX線回折法によって測定した結晶化度は、0〜10%
、好ましくは0〜7%、 とくに9丁ましくは0〜5%
の範囲である。
本発明において、基板として環状オレフィンランダム共
重合体組成物を用いる場合には、該環状オレフィン系ラ
ンダム共重合体[A]/該環状オレフィン系ランダム共
重合体[BIの重量比は10010、1〜100/10
、 好ましくは10010.3〜100/7、とく
に好ましくは10010.5〜10015の範囲である
ことが望ましい。 [B]酸成分この範囲で[A]酸成
分配合することによって基板自体の優れた透明性と表面
平滑性を維持したままで本発明で用いる保護膜との苛酷
な条件下での密着性が[A]酸成分みの場合に比べさら
に向上するという効果があり、 [AJと[BIとのブ
レンドよりなるこの上記の環状オレフィンランダム共重
合体組成物を基板として用いれば、本発明で用いる保護
膜との優れた密着性は高温、高湿条件下放置後において
さえも変化がないという特性を有している。
重合体組成物を用いる場合には、該環状オレフィン系ラ
ンダム共重合体[A]/該環状オレフィン系ランダム共
重合体[BIの重量比は10010、1〜100/10
、 好ましくは10010.3〜100/7、とく
に好ましくは10010.5〜10015の範囲である
ことが望ましい。 [B]酸成分この範囲で[A]酸成
分配合することによって基板自体の優れた透明性と表面
平滑性を維持したままで本発明で用いる保護膜との苛酷
な条件下での密着性が[A]酸成分みの場合に比べさら
に向上するという効果があり、 [AJと[BIとのブ
レンドよりなるこの上記の環状オレフィンランダム共重
合体組成物を基板として用いれば、本発明で用いる保護
膜との優れた密着性は高温、高湿条件下放置後において
さえも変化がないという特性を有している。
本発明における基板を構成する」−記の環状オレフィン
共重合体[AJおよび[BIは、特開昭60−1687
08号公報、特開昭61−120816す公報、特開昭
61−115912号公報 特開昭61−115916
号公報、特開昭62−252406号公報、特開昭62
−252407号公報、特開昭61−271308号公
報、特開昭61−272216号公報などにおいて本出
願人が提案した方法に従い適宜条件を選択することによ
り、製造することができる。
共重合体[AJおよび[BIは、特開昭60−1687
08号公報、特開昭61−120816す公報、特開昭
61−115912号公報 特開昭61−115916
号公報、特開昭62−252406号公報、特開昭62
−252407号公報、特開昭61−271308号公
報、特開昭61−272216号公報などにおいて本出
願人が提案した方法に従い適宜条件を選択することによ
り、製造することができる。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体中におい
て、前記式[I]または[I′〕で表される環状オレフ
ィンがら導かれる構成が位(b)は下記式[n]または
[i°]で表される構造の繰り返し単位を形成している
と考えられるが、一部の構成単位(b)が開環重合によ
って結合している場合もあり、また必要に応じて水素添
加することも可能である。
て、前記式[I]または[I′〕で表される環状オレフ
ィンがら導かれる構成が位(b)は下記式[n]または
[i°]で表される構造の繰り返し単位を形成している
と考えられるが、一部の構成単位(b)が開環重合によ
って結合している場合もあり、また必要に応じて水素添
加することも可能である。
[n]
(式[n]中、m、 n、 qおよびRI−Rl・
ならびにR=、Rhはり11記式 [11における定義
と同様である。
ならびにR=、Rhはり11記式 [11における定義
と同様である。
[■ °]
(式[■°]中、 p、 q、 rおよびRI−R
ISは前記式[I′〕における定義と同様である。)本
発明に係る両面記録型光磁気記録媒体の基板としては、
前述したとおり、上記のエヂレンと環状オレフィンとの
ランダム共重合体のほかに、同種または異種の環状オレ
フィン単員体を開環して得られる環状オレフィン開環重
合<L 開環共重合体またはそれらの水素添加物を用
いることもできる。このような環状オレフィン開環重合
& 開環共重合体およびこれらの水素添加物について
、nII記式[T]で表される環状オレフィンを例にし
て説明すると、以下に記載するように反応して開環共重
合体およびこれらの水素添加物を構成していると考えら
れる。
ISは前記式[I′〕における定義と同様である。)本
発明に係る両面記録型光磁気記録媒体の基板としては、
前述したとおり、上記のエヂレンと環状オレフィンとの
ランダム共重合体のほかに、同種または異種の環状オレ
フィン単員体を開環して得られる環状オレフィン開環重
合<L 開環共重合体またはそれらの水素添加物を用
いることもできる。このような環状オレフィン開環重合
& 開環共重合体およびこれらの水素添加物について
、nII記式[T]で表される環状オレフィンを例にし
て説明すると、以下に記載するように反応して開環共重
合体およびこれらの水素添加物を構成していると考えら
れる。
↓
開環
↓水素添加
このような重合体の例として、テトラシクロドデセンと
ノルボルネン及びそれらの誘導体との開環共電合本 及
びその水素添加物をあげることができる。
ノルボルネン及びそれらの誘導体との開環共電合本 及
びその水素添加物をあげることができる。
なお、本発明においては上記のような開環重合木 開環
共重合QE、 これらの水素添加物および環状オレフ
ィン系ランダム共重合体の一部が無水マレイン酸等の不
飽和カルボン酸等で変性されていてもよい。このような
変性物は、」1記のような環状オレフィン系樹脂と、不
飽和カルボン酸、これらの無水物、および不飽和カルボ
ン酸のアルキルエステル等の誘導体とを反応させること
により製造することができる。なお、この場合の環状オ
レフィン系樹脂の変性物中における変性剤から導かれる
構成単位の含有率は、通常は50〜10モル%以下であ
る。このような環状オレフィン系樹脂変性物は、所望の
変性率になるように環状オレフィン系樹脂に変性剤を配
合してグラフト重合させて製造することもできるし、予
め高変性率の変性物を調製し、次いでこの変性物と未変
性の環状オレフィン系樹脂とを混合することによっても
製造することができる。
共重合QE、 これらの水素添加物および環状オレフ
ィン系ランダム共重合体の一部が無水マレイン酸等の不
飽和カルボン酸等で変性されていてもよい。このような
変性物は、」1記のような環状オレフィン系樹脂と、不
飽和カルボン酸、これらの無水物、および不飽和カルボ
ン酸のアルキルエステル等の誘導体とを反応させること
により製造することができる。なお、この場合の環状オ
レフィン系樹脂の変性物中における変性剤から導かれる
構成単位の含有率は、通常は50〜10モル%以下であ
る。このような環状オレフィン系樹脂変性物は、所望の
変性率になるように環状オレフィン系樹脂に変性剤を配
合してグラフト重合させて製造することもできるし、予
め高変性率の変性物を調製し、次いでこの変性物と未変
性の環状オレフィン系樹脂とを混合することによっても
製造することができる。
本発明において、上記の開環重合未 開環共重合木 こ
れらの水素添加物および環状オレフィン系ランダム共重
合体ならびにその変性物は、単独で、あるいは組み合わ
せて使用することができる。
れらの水素添加物および環状オレフィン系ランダム共重
合体ならびにその変性物は、単独で、あるいは組み合わ
せて使用することができる。
さらに、本発明において1戯 上記のような環状オレフ
ィン系ランダム共重合体を製造するに際して、得られる
重合体等の物性を損なわない範囲で、前記式[I]また
はしI°]で表される環状オレフィン以外の環状オレフ
ィンを重合させることもできる。このような環状オレフ
ィンとしては、たとえば、 シクロブチス ジクロベンテン、 シクロヘキセン、 3.4−ジメチルシクロヘキセン、 3−メチルシクロヘキセン、 2−(2−メチルブチル)−1−シクロヘキセン、2、
3.3a、 7a−テトラヒドロ−4,7−メタノ−I
H−インデン 3a、 5.6.7a−テトラヒトo −4,7−メタ
ノ−IH−インデンなどをあげることができる。このよ
うな他の環状オレフィンは単独で、あるし1は組み合わ
せて使用することができ、通常、0〜50モル%の量で
用いられる。
ィン系ランダム共重合体を製造するに際して、得られる
重合体等の物性を損なわない範囲で、前記式[I]また
はしI°]で表される環状オレフィン以外の環状オレフ
ィンを重合させることもできる。このような環状オレフ
ィンとしては、たとえば、 シクロブチス ジクロベンテン、 シクロヘキセン、 3.4−ジメチルシクロヘキセン、 3−メチルシクロヘキセン、 2−(2−メチルブチル)−1−シクロヘキセン、2、
3.3a、 7a−テトラヒドロ−4,7−メタノ−I
H−インデン 3a、 5.6.7a−テトラヒトo −4,7−メタ
ノ−IH−インデンなどをあげることができる。このよ
うな他の環状オレフィンは単独で、あるし1は組み合わ
せて使用することができ、通常、0〜50モル%の量で
用いられる。
また本発明の両面記録型光磁気記録媒体の基板には、上
記[A]および[B]酸成分他に、衝撃強度を向上させ
るためのゴム成分を配合したり、耐熱安定剤、耐候安定
剤、帯電防止剤、スリップ剤、アンチブロッキング剤、
防曇剤、滑剤、染料、顔料、天然流 合成流 ワックス
などを配合することができ、その配合割合は適宜πであ
る。たとえば、任意成分として配合される安定剤として
具体的には、テトラキス[メチレン−3(3,5−ジー
七−ブチルー4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート
コメタン、β−(3,5−ジーし一ブチルー4−ヒドロ
キシフェニル)プロピオン酸アルキルエステル、2.2
゛−オキザミドビス[エチル−3(3,5−ジーし一ブ
チルー4−ヒドロキシフェニル)コブロビオネートなど
のフェノール系酸化防止剤、ステアリン酸亜鉛、ステア
リン酸カルシウム、12−ヒドロキシステアリン酸カル
シウムなどの脂肪酸金属塩、グリセリンモノステアレー
ト、グリセリンモノラウレート、グリセリンジステアレ
ート、ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタ
エリスリトールジステアレート、ペンタエリスリトール
トリステアレート等の多価アルコールの脂肪酸エステル
などを挙げることができる。
記[A]および[B]酸成分他に、衝撃強度を向上させ
るためのゴム成分を配合したり、耐熱安定剤、耐候安定
剤、帯電防止剤、スリップ剤、アンチブロッキング剤、
防曇剤、滑剤、染料、顔料、天然流 合成流 ワックス
などを配合することができ、その配合割合は適宜πであ
る。たとえば、任意成分として配合される安定剤として
具体的には、テトラキス[メチレン−3(3,5−ジー
七−ブチルー4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート
コメタン、β−(3,5−ジーし一ブチルー4−ヒドロ
キシフェニル)プロピオン酸アルキルエステル、2.2
゛−オキザミドビス[エチル−3(3,5−ジーし一ブ
チルー4−ヒドロキシフェニル)コブロビオネートなど
のフェノール系酸化防止剤、ステアリン酸亜鉛、ステア
リン酸カルシウム、12−ヒドロキシステアリン酸カル
シウムなどの脂肪酸金属塩、グリセリンモノステアレー
ト、グリセリンモノラウレート、グリセリンジステアレ
ート、ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタ
エリスリトールジステアレート、ペンタエリスリトール
トリステアレート等の多価アルコールの脂肪酸エステル
などを挙げることができる。
これらは単独で配合してもよいが、組み合わせて配合し
てもよく、たとえば、テトラキス[メチレン−3(3,
5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピ
オネートコメタンとステアリン酸亜鉛およびグリセリン
モノステアレートとの組合せ等を例示することができる
。
てもよく、たとえば、テトラキス[メチレン−3(3,
5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピ
オネートコメタンとステアリン酸亜鉛およびグリセリン
モノステアレートとの組合せ等を例示することができる
。
本発明では特に、フェノール系酸化防止剤および多価ア
ルコールの脂肪酸エステルとを組み合わせて用いること
が好ましく、該多価アルコールの脂肪酸エステルは3価
以上の多価アルコールのアルコール性水酸基の一部がエ
ステル化された多価アルコール脂肪酸エステルであるこ
とが好ましし)。
ルコールの脂肪酸エステルとを組み合わせて用いること
が好ましく、該多価アルコールの脂肪酸エステルは3価
以上の多価アルコールのアルコール性水酸基の一部がエ
ステル化された多価アルコール脂肪酸エステルであるこ
とが好ましし)。
このような多価アルコールの脂肪酸エステルとしては、
具体的には、グリセリンモノステアレート、 グリセリ
ンモノラウレート、グリセリンモノミリステート、グリ
セリンモノパルミテート、グリセリンジステアレート、
グリセリンジラウレート等のグリセリン脂肪酸エステル
、ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタエリ
スリ)・−ルモノラウレート、ペンタエリスリトールジ
ラウレート、ペンタエリスリトールジステアレート、ペ
ンタエリスリトールトリステアレート等のペンタエリス
リトールの脂肪酸エステルが用いられる。
具体的には、グリセリンモノステアレート、 グリセリ
ンモノラウレート、グリセリンモノミリステート、グリ
セリンモノパルミテート、グリセリンジステアレート、
グリセリンジラウレート等のグリセリン脂肪酸エステル
、ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタエリ
スリ)・−ルモノラウレート、ペンタエリスリトールジ
ラウレート、ペンタエリスリトールジステアレート、ペ
ンタエリスリトールトリステアレート等のペンタエリス
リトールの脂肪酸エステルが用いられる。
このようなフェノール系酸化防止剤は、前記[A]酸成
分よび[B]酸成分合計重量100重景重量対して0〜
10重量部好ましくはO〜5重景部さらに好ましくは0
〜2重量部の量で用いら瓢 また多価アルコールの脂肪
酸エステルは[A]酸成分よび[B]酸成分合計重量1
00重量部に対してO〜10重景δ翫 好ましくはO〜
5盾雇部の量でmいられる。
分よび[B]酸成分合計重量100重景重量対して0〜
10重量部好ましくはO〜5重景部さらに好ましくは0
〜2重量部の量で用いら瓢 また多価アルコールの脂肪
酸エステルは[A]酸成分よび[B]酸成分合計重量1
00重量部に対してO〜10重景δ翫 好ましくはO〜
5盾雇部の量でmいられる。
本発明の両面記録型光磁気記録媒体の基板には、本発明
の目的および透明性を損なわない範囲で、シリカ、ケイ
藻土、アルミナ、酸化チタン、酸化マグネシウム、軽石
粉、軽石バルーン、水酸化アルミニウム、水酸化マグネ
シウム、塩基t1=、炭酸マグネシウム、 ドロマイト
、硫酸カルシウム、チタンffl カリウム、硫酸バリ
ウム、亜硫酸カルシウム、タルク、クレー マイカ、ア
スベスト、ガラス繊iL ガラスフレーク、ガラスピ
ーズ、ケイ酸カルシウム、モンモリロナイト、ベントナ
イト、グラファイト、アルミニウド粉、硫化モリブデン
、ボロンM!糺 炭化ケイ素繊維、ポリアミド繊維、
ポリプロピレン繊維、ポリエステル繊維、ポリアミド繊
維等の充填剤を配合してもよい。
の目的および透明性を損なわない範囲で、シリカ、ケイ
藻土、アルミナ、酸化チタン、酸化マグネシウム、軽石
粉、軽石バルーン、水酸化アルミニウム、水酸化マグネ
シウム、塩基t1=、炭酸マグネシウム、 ドロマイト
、硫酸カルシウム、チタンffl カリウム、硫酸バリ
ウム、亜硫酸カルシウム、タルク、クレー マイカ、ア
スベスト、ガラス繊iL ガラスフレーク、ガラスピ
ーズ、ケイ酸カルシウム、モンモリロナイト、ベントナ
イト、グラファイト、アルミニウド粉、硫化モリブデン
、ボロンM!糺 炭化ケイ素繊維、ポリアミド繊維、
ポリプロピレン繊維、ポリエステル繊維、ポリアミド繊
維等の充填剤を配合してもよい。
本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体では、基板とし
て」1記のような環状オレフィン系ランダム共重合体ま
たは環状オレフィン系ランダム共重合体組成物を用いる
と、基板と第1保1!JJiとは密着性に優れており、
したがって記録膜は長期安定性に優れるとともに記録膜
の酸化が効果的に防止される。したがってこの環状オレ
フィン系ランダム共重合体からなる基板上に記録膜を積
層してなる両面記録型光記録媒体は、耐久性および長期
安定性に優れている。また本発明に係る両面記録型光記
録媒体は反りがなく割れが生ずることがない。
て」1記のような環状オレフィン系ランダム共重合体ま
たは環状オレフィン系ランダム共重合体組成物を用いる
と、基板と第1保1!JJiとは密着性に優れており、
したがって記録膜は長期安定性に優れるとともに記録膜
の酸化が効果的に防止される。したがってこの環状オレ
フィン系ランダム共重合体からなる基板上に記録膜を積
層してなる両面記録型光記録媒体は、耐久性および長期
安定性に優れている。また本発明に係る両面記録型光記
録媒体は反りがなく割れが生ずることがない。
このような基板2の厚みは特に限定されないが、好まし
くは0.5〜5工特に好ましくは1〜2−である。
くは0.5〜5工特に好ましくは1〜2−である。
采1月
本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体1で用いられる
第1保護膜(2a)、 (2b)および第2保護!(4
a)、 (4b)は、SiNXで示される組成の膜から
形成されており、SiNXlliとしては、たとえば窒
化ケイ素膜または窒化ケイ素含有膜が例示できる。
第1保護膜(2a)、 (2b)および第2保護!(4
a)、 (4b)は、SiNXで示される組成の膜から
形成されており、SiNXlliとしては、たとえば窒
化ケイ素膜または窒化ケイ素含有膜が例示できる。
5iN、で示される保護膜では、原子比でO<x≦5/
3特に0〈χ≦473であることが好ましく、具体的に
は、5 i 3 N4(四窒化三ケイ素)などの窒化ケ
イ1g膜あるいはO< x < 4/3となるようにS
i3N、とSiとを混合した混合膜が特に好ましく用い
られる。このようなSiNXで示される保護膜は、たと
えばターゲットとして、 Si、N、または、 Si、
N、とSiとを用いて、スパッタリング法により成膜す
ることができる。またSiをAr/N2などの含窒素混
合ガス中でスパッタリングすることによって成膜するこ
ともできる。
3特に0〈χ≦473であることが好ましく、具体的に
は、5 i 3 N4(四窒化三ケイ素)などの窒化ケ
イ1g膜あるいはO< x < 4/3となるようにS
i3N、とSiとを混合した混合膜が特に好ましく用い
られる。このようなSiNXで示される保護膜は、たと
えばターゲットとして、 Si、N、または、 Si、
N、とSiとを用いて、スパッタリング法により成膜す
ることができる。またSiをAr/N2などの含窒素混
合ガス中でスパッタリングすることによって成膜するこ
ともできる。
このようなSiNXからなる第1保護膜(2a)、(2
b)および第2保護膜(4a)、 (4b)は、通常1
.8以上特に1,8〜2,2の屈折率を有していること
が好ましく、後述する光磁気記録膜(3a)、(3b)
を酸化などから保護する働き、あるいは光磁気記録膜の
記録特性を高めるエンハンス膜としての働き、あるいは
その両方の働きをしている。
b)および第2保護膜(4a)、 (4b)は、通常1
.8以上特に1,8〜2,2の屈折率を有していること
が好ましく、後述する光磁気記録膜(3a)、(3b)
を酸化などから保護する働き、あるいは光磁気記録膜の
記録特性を高めるエンハンス膜としての働き、あるいは
その両方の働きをしている。
またSiNX(0くx≦473)からなる第1保護膜お
よび第2保護膜は、特に耐クラツク性に優れている。
よび第2保護膜は、特に耐クラツク性に優れている。
本発明において、@11保膜(2a)、 (2b)の膜
厚は400〜2000人、好ましくは700〜1500
八であり、第2保護膜(4a)、 (4b)の膜厚は、
50〜100〇八、好ましくは50〜700人、さらに
好ましくは100〜400人程度である。
厚は400〜2000人、好ましくは700〜1500
八であり、第2保護膜(4a)、 (4b)の膜厚は、
50〜100〇八、好ましくは50〜700人、さらに
好ましくは100〜400人程度である。
本発明では、第1保護膜の膜厚を」1記のような範囲に
することによって、光磁気記録媒体の見かけのθkを大
きくすることができ、また第2保M膜の1!!原を上記
の範囲にすることによって、光磁気記録媒体は優れたC
/N比を保ったまま広い記録パワーマージンが得られる
という利点がある。
することによって、光磁気記録媒体の見かけのθkを大
きくすることができ、また第2保M膜の1!!原を上記
の範囲にすることによって、光磁気記録媒体は優れたC
/N比を保ったまま広い記録パワーマージンが得られる
という利点がある。
笈藍久E舅月
光磁気記録膜(3a)および(3b)は、 (i)3d
遷移金属から選ばれる少なくとも1秤と、(ii)耐腐
食性金属と、 (iio希土類から選ばれる少なくとも
1種の元素とがらなっている。
遷移金属から選ばれる少なくとも1秤と、(ii)耐腐
食性金属と、 (iio希土類から選ばれる少なくとも
1種の元素とがらなっている。
(i)3d遷移金属としては、Fe、 Co、 T
i、V、CrS Mn、NiS Cu1 Znなどが用
いられるが、このうちFeまたはCOあるいはこの両者
であることが好ましい。
i、V、CrS Mn、NiS Cu1 Znなどが用
いられるが、このうちFeまたはCOあるいはこの両者
であることが好ましい。
この3d遷移金属は、光磁気記録膜中に好ましくは20
〜90原子%、より好ましくは30〜85原子%、とく
に好ましくは35〜80原子%の員で存在している。
〜90原子%、より好ましくは30〜85原子%、とく
に好ましくは35〜80原子%の員で存在している。
(ii)耐腐食性金属は、光磁気記録膜に含ませること
によって、この光磁気記録膜の耐酸化性を高めることが
できる。このような耐腐食性金属としては、Pt、Pd
、Ti、Zr1 Ta、Nbなどが用いられるカー こ
のうちPtS PdS Tiが好ましくとくにptまた
はPdあるいはこの両者であることが好ましい。
によって、この光磁気記録膜の耐酸化性を高めることが
できる。このような耐腐食性金属としては、Pt、Pd
、Ti、Zr1 Ta、Nbなどが用いられるカー こ
のうちPtS PdS Tiが好ましくとくにptまた
はPdあるいはこの両者であることが好ましい。
この耐腐食性金属は、光磁気記録膜中に、 5〜30原
子%、好ましくは5〜25原子%、とくには10〜25
原子%、さらに好ましくは10〜20原子%の量で存在
している。
子%、好ましくは5〜25原子%、とくには10〜25
原子%、さらに好ましくは10〜20原子%の量で存在
している。
この耐腐食性金属の含有量が5原子%未満であると、得
られる光磁気記録膜の耐酸化性が充分には改善されず、
経時的に保磁力Hcが大きく変化したりあるいはカー回
転角θkが減少したりする傾向がある。また、30原子
%を超えて存在する場合には、得られる非晶質合金薄膜
のキュリー点が室温以下となる傾向もあるため好ましく
ない。光磁気記録膜1戴 上記(i)および(ii)に
加えて、下記の群(iii)から選ばれる少なくとも1
種の希土類元素を含んで構成されている。
られる光磁気記録膜の耐酸化性が充分には改善されず、
経時的に保磁力Hcが大きく変化したりあるいはカー回
転角θkが減少したりする傾向がある。また、30原子
%を超えて存在する場合には、得られる非晶質合金薄膜
のキュリー点が室温以下となる傾向もあるため好ましく
ない。光磁気記録膜1戴 上記(i)および(ii)に
加えて、下記の群(iii)から選ばれる少なくとも1
種の希土類元素を含んで構成されている。
Gd、TbS Dy、Ho、Er、Ta Yb。
Lu、La、Ce、PrS Nd、Pm、Sm。
u
このうちGd、Tb、Dy1 Ho、Nd、Sm。
Prが好ましく用いられる。
上記のような群から選ばれる少なくとも1種の希土類元
素(戴 光磁気記録膜中に、好ましくは5〜5ON、千
%、さらに好ましくは8〜45ffi千%とくに好まし
くは10〜40原子%の量で存在している。
素(戴 光磁気記録膜中に、好ましくは5〜5ON、千
%、さらに好ましくは8〜45ffi千%とくに好まし
くは10〜40原子%の量で存在している。
本発明では、光磁気記録膜力\ 特に、下記に記載する
ような組成を有することが好ましい。
ような組成を有することが好ましい。
(i)3d遷移元素
本発明に係る光磁気記録膜中には、 (i)3d遷移元
素として、好ましくはFeまたはCoあるいはこの両者
が含まれており、Feおよび/またはCOは、40原子
%以上80原子%以下、好ましくは40W、千%以上7
5N、千%未満、さらに好ましくは40原子%以上59
原子%以下の量で存在していることが望ましい。
素として、好ましくはFeまたはCoあるいはこの両者
が含まれており、Feおよび/またはCOは、40原子
%以上80原子%以下、好ましくは40W、千%以上7
5N、千%未満、さらに好ましくは40原子%以上59
原子%以下の量で存在していることが望ましい。
さらにFeおよび/またはCOは、Co/(Fe+Co
)比[原子比]が0以上0.3以下、好ましくは0以上
0.2以下、さらに好ましくは0.01以上0.2以下
であるような量で、光磁気記録膜中に存在していること
が望ましい。
)比[原子比]が0以上0.3以下、好ましくは0以上
0.2以下、さらに好ましくは0.01以上0.2以下
であるような量で、光磁気記録膜中に存在していること
が望ましい。
Feおよび/またはCOの量が40原子%以上で80原
子%以下の範囲にあると、耐酸化性に便法かつ膜面に垂
直な方向に磁化容易軸をもった光磁気記録膜が得られる
という利点を有する。
子%以下の範囲にあると、耐酸化性に便法かつ膜面に垂
直な方向に磁化容易軸をもった光磁気記録膜が得られる
という利点を有する。
ところで光磁気記録膜中に、COを添加すると、(イ)
光磁気記録膜のキュリー点が上Hし、また(口)カー回
転角(θk)が大きくなるという現象が認めら汰 その
結・果、COの添加量により、光磁気記録膜の記録感度
を調整することができ、しかもCOの添加により、再生
信号のキャリアレベルを増加することができる。本発明
に係る光磁気記録膜では、ノイズレベル、C/N比の点
からCo/ (Fe+Co)比[原子比コは0以上0.
3以下、好ましくは0以上0.2以下、さらに好ましく
は0.01以上0,2以下であることが望ましい。
光磁気記録膜のキュリー点が上Hし、また(口)カー回
転角(θk)が大きくなるという現象が認めら汰 その
結・果、COの添加量により、光磁気記録膜の記録感度
を調整することができ、しかもCOの添加により、再生
信号のキャリアレベルを増加することができる。本発明
に係る光磁気記録膜では、ノイズレベル、C/N比の点
からCo/ (Fe+Co)比[原子比コは0以上0.
3以下、好ましくは0以上0.2以下、さらに好ましく
は0.01以上0,2以下であることが望ましい。
このような本発明に用いる光磁気記録膜は、記録および
消去を繰り返し行なっても、膜変質が生ずることはない
。たとえば本発明に係るP t 、、T b2.F e
ssCJなる組成を有する光磁気記録膜は、 10万回
の記録および消去を繰り返し行なってもC/N比の低下
は認められない。
消去を繰り返し行なっても、膜変質が生ずることはない
。たとえば本発明に係るP t 、、T b2.F e
ssCJなる組成を有する光磁気記録膜は、 10万回
の記録および消去を繰り返し行なってもC/N比の低下
は認められない。
(ii)耐腐食性金属
本発明に用いる光磁気記録膜中には、 (ii)耐腐食
性金属として、好ましくはPtまたはPdあるいはこの
両者が含まれており、PLおよび/またはPdは、光磁
気記録膜中に5〜30原子%、好ましくは1ON、子%
を超えて30原子%以下、さらに好ましくは10原子%
を超えて20原子%未満、最も好ましくは11原子%以
上19原子%以下の量で存在していることが望ましい。
性金属として、好ましくはPtまたはPdあるいはこの
両者が含まれており、PLおよび/またはPdは、光磁
気記録膜中に5〜30原子%、好ましくは1ON、子%
を超えて30原子%以下、さらに好ましくは10原子%
を超えて20原子%未満、最も好ましくは11原子%以
上19原子%以下の量で存在していることが望ましい。
光磁気記録膜中のPtおよび/またはPdの景が5原子
%以ム 特に10原子%を超えて存在すると、光磁気記
録膜の耐酸化性に便法 長期間使用しても孔食が発生せ
ず、C/N比も劣化しないという利点を有する。
%以ム 特に10原子%を超えて存在すると、光磁気記
録膜の耐酸化性に便法 長期間使用しても孔食が発生せ
ず、C/N比も劣化しないという利点を有する。
たとえばP t +tT b2*F e、Cos (原
子比)あるいはP d12T b2@F e@3c O
t (原子比)で示される組成を有する本発明で用いら
れる光磁気記録膜は、相対湿度85%、80℃の環境下
に1000時間保持しても、C/N比は全く変化しない
。これに対してPtまたはPdを含まないT b2.F
e、。
子比)あるいはP d12T b2@F e@3c O
t (原子比)で示される組成を有する本発明で用いら
れる光磁気記録膜は、相対湿度85%、80℃の環境下
に1000時間保持しても、C/N比は全く変化しない
。これに対してPtまたはPdを含まないT b2.F
e、。
Co、で示される組成を有する光磁気記録膜は、相対湿
度85%、80℃の環境下に1000時間保持すると、
C/N比は大きく低下する。
度85%、80℃の環境下に1000時間保持すると、
C/N比は大きく低下する。
また光磁気記録膜中にPtおよび/またはPdを」1記
のような範囲の量で添加することにより、光磁気記録膜
に情報を記録したりあるいは情報を読出す際番ミ 小
さなバイアス磁界で充分に高いC/N比が得られる。小
さなバイアス磁界で充分に高いC/N比が得られると、
バイアス磁界発生用のマグネットを/INさくすること
ができ、しかもマグネットからの発熱も押えることがで
きるため、光磁気記録膜を有する光ディスクのドライブ
装置を簡素化することができる。しかも小さなバイアス
磁界で充分に大きなC/、N比が得られるため、オーバ
ーライド可能な磁界変調記録用のマグネットの設計も容
易となる。
のような範囲の量で添加することにより、光磁気記録膜
に情報を記録したりあるいは情報を読出す際番ミ 小
さなバイアス磁界で充分に高いC/N比が得られる。小
さなバイアス磁界で充分に高いC/N比が得られると、
バイアス磁界発生用のマグネットを/INさくすること
ができ、しかもマグネットからの発熱も押えることがで
きるため、光磁気記録膜を有する光ディスクのドライブ
装置を簡素化することができる。しかも小さなバイアス
磁界で充分に大きなC/、N比が得られるため、オーバ
ーライド可能な磁界変調記録用のマグネットの設計も容
易となる。
(1ii)希土類元素(RE)
本発明に係る光磁気記録膜中には、希土類元素(RE)
が含まれており、この希土類元素としては、 Nd、
Sm、 PrS CeS Eu、
Gd、 Tb。
が含まれており、この希土類元素としては、 Nd、
Sm、 PrS CeS Eu、
Gd、 Tb。
DyまたはHoが用いられる。
これらの中では、NdS Pr、Gd、Tb。
Dyが好ましく用いら札 特にTbが好ましい。
また希土類元素は2種以上併用してもよく、この場合に
Tbを希土類元素のうち50原子%以上含有しているこ
とが好ましい。
Tbを希土類元素のうち50原子%以上含有しているこ
とが好ましい。
この希土類元素は、膜面に垂直な方向に磁化容易軸をも
った光磁気を得るという点からRE/(RE+Fe+C
o)比[W、子比コをXで表わした場合に、0.15≦
X≦0.45、好ましくは0.20≦X≦0.4である
ような量で光磁気記録膜中に存在していることが望まし
い。
った光磁気を得るという点からRE/(RE+Fe+C
o)比[W、子比コをXで表わした場合に、0.15≦
X≦0.45、好ましくは0.20≦X≦0.4である
ような量で光磁気記録膜中に存在していることが望まし
い。
本発明においては、光磁気記録膜に種々の元素を少1添
加して、キュリー温度や補償温度あるいは保磁力Heや
カー回転角θにの改善あるいは低コスト化を計ることも
できる。これらの元素は、記録膜を構成する全原子数に
対してたとえば10w、千%未満の割合で用いることが
できる。
加して、キュリー温度や補償温度あるいは保磁力Heや
カー回転角θにの改善あるいは低コスト化を計ることも
できる。これらの元素は、記録膜を構成する全原子数に
対してたとえば10w、千%未満の割合で用いることが
できる。
併用できる他の元素の例としては、以下のような元素が
挙げられる。
挙げられる。
(1)Fe、Co以外の3d遷移元素
具体的には、Sc、Ti1 V、CrS Mn。
Ni、CuS Znが用いられる。
これらのうち、Ti、Ni、Cu1 Znなどが好まし
く用いられる。
く用いられる。
(■)Pd以外の4d遷移元素
具体的には、Y、 Zr、 Nb、 Mo5Tc
。
。
Ru1 Rh、Ag、Cdが用いられる。
このうちZrS Nbが好ましく用いられる。
(m)Pt以外の5d遷移元素
具体的には、HfS TaS W、Re、Os。
IrS Au、Hgが用いられる。
このうちTaが好ましく用いられる。
(rv)mB族元素
具体的には、B、Ag、Ga、 In、TRが用いられ
る。
る。
このうちBSA9、Gaが好ましく用いられる。
(v)rvB族元素
具体的には、 C,Si、GeS Sn、 Pbが用
いられる。
いられる。
このうち、SiS Ge、Sn、Pbが好ましく用いら
れる。
れる。
(Vl)VB族元素
具体的には、N、Pl As、Sb、Biが用いられる
。
。
このうちsbが好ましく用いられる。
(■)VTB族元素
具体的には、S、Se、Te、Poが用いられる。
このうちTeが好ましく用いられる。
上記のような組成を有する光磁気記録膜は、膜面に垂直
な磁化容易軸を有し、多くはカー・ヒステリシスが良好
な角形ループを示す垂直磁気および光磁気記録可能であ
り、また非晶質薄膜となることが、広角x#1回折など
により確かめられる。
な磁化容易軸を有し、多くはカー・ヒステリシスが良好
な角形ループを示す垂直磁気および光磁気記録可能であ
り、また非晶質薄膜となることが、広角x#1回折など
により確かめられる。
なお本明細書において、カー・ヒステリシスが良好な角
形ループを示すとは、最大外部磁場におけるカー回転角
である飽和カー回転角(θkl)と外部磁場ゼロにおけ
るカー回転角である残留カー回転角(θに2)との比θ
に2/θに、が0.8以上であることを意味している。
形ループを示すとは、最大外部磁場におけるカー回転角
である飽和カー回転角(θkl)と外部磁場ゼロにおけ
るカー回転角である残留カー回転角(θに2)との比θ
に2/θに、が0.8以上であることを意味している。
この光磁気記録膜の膜厚は100〜600人、好ましく
は100〜400人、より好ましくは150〜350人
程度である。
は100〜400人、より好ましくは150〜350人
程度である。
金属膜
本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体1oを構成する
第1光磁気記録媒体および第2光磁気記録媒体では、上
記のような光磁気記録膜上に前記第2保護膜が設けられ
ており、この第2保護膜上にさらに金属膜(5a)、
(5b)が設けられている。
第1光磁気記録媒体および第2光磁気記録媒体では、上
記のような光磁気記録膜上に前記第2保護膜が設けられ
ており、この第2保護膜上にさらに金属膜(5a)、
(5b)が設けられている。
本発明では、金属膜は、アルミニウム合金からなってい
る。このアルミニウム合金は、アルミニウムと、アルミ
ニウム以外の少なくとも1種の元素を含んで構成されて
いる。
る。このアルミニウム合金は、アルミニウムと、アルミ
ニウム以外の少なくとも1種の元素を含んで構成されて
いる。
このような金属膜を構成するアルミニウム合金として:
戯 具体的には以下のようなものが例示できる。
戯 具体的には以下のようなものが例示できる。
AU−Cr合金(Cr含有量0.1〜IOw、子%)、
AQ−Cu合金(Cu含有Jir0.1〜10原子%)
、AQ−Mn合金(Mn含有景0.1〜10原子%)、
Ay−Hf合金(Hf含有量0.1〜工0原子%)、A
Q−Nb合金(Nb含有t0.1〜10原子%)、AQ
−B合金(B含有量0.1〜10原子%)、AQ−Ti
合金(Ti含有量0.1〜10原子%)、Ag−Ti−
Nb合金(Ti含有量0,1〜5原了%、Nb含有量0
.1〜5原了%)、 AQ−Ti−Hf合金(Ti含有量0.1〜5原了%、
)(f含有Jit0.1〜10原子%)、AQ−Cr−
Hf合金(Cr含有量0.1〜5原了%、Hf含有量o
、i〜10原子%)、A++−Cr−Ti合金(Cr含
有量0.1−57W子%、Tj含有MO11〜10原子
%)、AQ−Cr−Zr合金(Cr含有景O91,−5
yy、子%、Zr含有M O,1−10原子%)、Ag
−Ti−Nb合金(Ti含有量0.1〜5原了%、Nb
含有量o、i〜5原子%)、 Ag−Ni合金(Ni含有量o、i〜10原子%)、A
Q−Mg合金(Mg含有量0.1〜10原子%)、AQ
−Mg−Ti合金(Mg含有量0.1〜10i子%、T
r含有景0.1〜10原子%)、AQ−Mg−Cr合金
(Mg含有量0.1−10原子%、Cr含有fco、1
−10原子%)、AQ−Mg−Hf合金(Mg含有量0
.1〜10原子%、Hf含有io、x〜10原子%)、
AQ −3e合金(Se含有量0.1−10原子%)、
AQ−Zr合金(Zr含有量0.1−10原子%)、A
Q−Ta合金(Ta含有量o、i 〜iox子%)、A
Q−Ta−Hf合金(Ta含有if(0,1〜10w。
AQ−Cu合金(Cu含有Jir0.1〜10原子%)
、AQ−Mn合金(Mn含有景0.1〜10原子%)、
Ay−Hf合金(Hf含有量0.1〜工0原子%)、A
Q−Nb合金(Nb含有t0.1〜10原子%)、AQ
−B合金(B含有量0.1〜10原子%)、AQ−Ti
合金(Ti含有量0.1〜10原子%)、Ag−Ti−
Nb合金(Ti含有量0,1〜5原了%、Nb含有量0
.1〜5原了%)、 AQ−Ti−Hf合金(Ti含有量0.1〜5原了%、
)(f含有Jit0.1〜10原子%)、AQ−Cr−
Hf合金(Cr含有量0.1〜5原了%、Hf含有量o
、i〜10原子%)、A++−Cr−Ti合金(Cr含
有量0.1−57W子%、Tj含有MO11〜10原子
%)、AQ−Cr−Zr合金(Cr含有景O91,−5
yy、子%、Zr含有M O,1−10原子%)、Ag
−Ti−Nb合金(Ti含有量0.1〜5原了%、Nb
含有量o、i〜5原子%)、 Ag−Ni合金(Ni含有量o、i〜10原子%)、A
Q−Mg合金(Mg含有量0.1〜10原子%)、AQ
−Mg−Ti合金(Mg含有量0.1〜10i子%、T
r含有景0.1〜10原子%)、AQ−Mg−Cr合金
(Mg含有量0.1−10原子%、Cr含有fco、1
−10原子%)、AQ−Mg−Hf合金(Mg含有量0
.1〜10原子%、Hf含有io、x〜10原子%)、
AQ −3e合金(Se含有量0.1−10原子%)、
AQ−Zr合金(Zr含有量0.1−10原子%)、A
Q−Ta合金(Ta含有量o、i 〜iox子%)、A
Q−Ta−Hf合金(Ta含有if(0,1〜10w。
子%、Hf含有量0.1〜10原子%)、/1−Si合
金(Si含有量0.1〜10原子%)、As+−Ag合
金(Ag含有量0.1〜10vy、子% )、AQ−P
d合金(Pd含有量0.1〜10原子%)、AQ−P
を合金(pt含有量0.1〜10原子%)。
金(Si含有量0.1〜10原子%)、As+−Ag合
金(Ag含有量0.1〜10vy、子% )、AQ−P
d合金(Pd含有量0.1〜10原子%)、AQ−P
を合金(pt含有量0.1〜10原子%)。
これらの金属膜を構成するアルミニウム合金のうち、特
に以下のようなものが、耐腐食性に優れているので好ま
しい。
に以下のようなものが、耐腐食性に優れているので好ま
しい。
ハフニウム0.1〜10ffl子%を含むアルミニウム
合金、 ニオブ0.1〜10原子%を含むアルミニウム合金、チ
タン0゜5〜5原了%とハフニウム0.5〜5原了−%
を含ベ チタンとハフニウムの金側含有量が1〜5.5
原子%であるアルミニウム合金、クロム0.1〜5I!
に子%とチタン0.1〜9.5原子%を含ベ クロムと
チタンの合計含有量が10原子%以下であるアルミニウ
ム合金、 マグネシウム0.1〜10原子%とクロム0.1〜1o
原千%を含ベ マグネシウムとクロムの置割含有量が1
5原子%以下であるアルミニウム合金、クロム0.1〜
5y!、千%とハフニウム0.1〜9.5原子%を含ベ
クロムとハフニウムの合計含有量が10原子%以下で
あるアルミニウム合金、 マグネシウム0.1〜10原子%とハフニウム0.1〜
10原子%を含へ マグネシウムとハフニウムの合計含
有量が157I!子%以下であるアルミニウム合金、ク
ロム0.1〜5原子%とジルコニウム0.1〜9.5原
子%を含へ クロムとジルコニウムの合計含有量がIO
W子%以下であるアルミニウム合金、タンタル0.1〜
10原子%とハフニウム0.1〜10原子%とを含ペ
タンタルとハフニウムの合計含有量が15原子%以下
であるアルミニウム合金、チタン0.5〜5原子%とニ
オブ0.5〜5原子%を含ベ チタンとニオブの合計含
有量が1〜5.5原子%であるアルミニウム合金、 マグネシウム0.1〜10原子%とチタン0,1〜10
原子%を含ベ マグネシウムとチタンの合計含有量が1
5原子%以下であるアルミニウム合へハフニウム0.1
〜9.5原子%、クロム0.1〜5原子%およびチタン
0.1〜9.5原子%を含永 ハフニウムとクロムとチ
タンとの合計含有量が10原子%以下であるアルミニウ
ム合へ ハフニウム0.1〜10原子%、マグネシウム0.1〜
10原子%およびチタン0.1〜10w、千%を含ベ
ハフニウムとクロムとマグネシウムとの合計含有量が1
51J!子%以下であるアルミニウム合金ヵハフニウム
0.1〜10原子%、マグネシウム0.1〜10原子%
およびクロム10W、子%以下とを含ベ ハフニウムと
マグネシウムとクロムとの合計含有量が15原子%以下
であるアルミニウム、合へハフニウム0.1〜10原子
%、マグネシウム0.1〜10JJf、子%、チタン0
.1〜10W、子%およびクロム10原子%以下とを含
ペ ハフニウムとマグネシウムとチタンとクロムとの合
計含有量が15原子%未満であるアルミニウム合へ チタン0.1〜10原子%、マグネシウム0.1〜10
原子%およびクロム1ON、子%以下とを含み、チタン
とマグネシウムとクロムとの合計含有量が15原子%以
下であるアルミニウム合へ このような金J7APAは、たとえば第2保護膜上に、
上記元素の複合ターゲットまたはその合金ターゲットを
用い、スパッタリング法等によって成膜することができ
る。
合金、 ニオブ0.1〜10原子%を含むアルミニウム合金、チ
タン0゜5〜5原了%とハフニウム0.5〜5原了−%
を含ベ チタンとハフニウムの金側含有量が1〜5.5
原子%であるアルミニウム合金、クロム0.1〜5I!
に子%とチタン0.1〜9.5原子%を含ベ クロムと
チタンの合計含有量が10原子%以下であるアルミニウ
ム合金、 マグネシウム0.1〜10原子%とクロム0.1〜1o
原千%を含ベ マグネシウムとクロムの置割含有量が1
5原子%以下であるアルミニウム合金、クロム0.1〜
5y!、千%とハフニウム0.1〜9.5原子%を含ベ
クロムとハフニウムの合計含有量が10原子%以下で
あるアルミニウム合金、 マグネシウム0.1〜10原子%とハフニウム0.1〜
10原子%を含へ マグネシウムとハフニウムの合計含
有量が157I!子%以下であるアルミニウム合金、ク
ロム0.1〜5原子%とジルコニウム0.1〜9.5原
子%を含へ クロムとジルコニウムの合計含有量がIO
W子%以下であるアルミニウム合金、タンタル0.1〜
10原子%とハフニウム0.1〜10原子%とを含ペ
タンタルとハフニウムの合計含有量が15原子%以下
であるアルミニウム合金、チタン0.5〜5原子%とニ
オブ0.5〜5原子%を含ベ チタンとニオブの合計含
有量が1〜5.5原子%であるアルミニウム合金、 マグネシウム0.1〜10原子%とチタン0,1〜10
原子%を含ベ マグネシウムとチタンの合計含有量が1
5原子%以下であるアルミニウム合へハフニウム0.1
〜9.5原子%、クロム0.1〜5原子%およびチタン
0.1〜9.5原子%を含永 ハフニウムとクロムとチ
タンとの合計含有量が10原子%以下であるアルミニウ
ム合へ ハフニウム0.1〜10原子%、マグネシウム0.1〜
10原子%およびチタン0.1〜10w、千%を含ベ
ハフニウムとクロムとマグネシウムとの合計含有量が1
51J!子%以下であるアルミニウム合金ヵハフニウム
0.1〜10原子%、マグネシウム0.1〜10原子%
およびクロム10W、子%以下とを含ベ ハフニウムと
マグネシウムとクロムとの合計含有量が15原子%以下
であるアルミニウム、合へハフニウム0.1〜10原子
%、マグネシウム0.1〜10JJf、子%、チタン0
.1〜10W、子%およびクロム10原子%以下とを含
ペ ハフニウムとマグネシウムとチタンとクロムとの合
計含有量が15原子%未満であるアルミニウム合へ チタン0.1〜10原子%、マグネシウム0.1〜10
原子%およびクロム1ON、子%以下とを含み、チタン
とマグネシウムとクロムとの合計含有量が15原子%以
下であるアルミニウム合へ このような金J7APAは、たとえば第2保護膜上に、
上記元素の複合ターゲットまたはその合金ターゲットを
用い、スパッタリング法等によって成膜することができ
る。
また上記のような金属膜は、それぞれの金属膜を構成す
る金属以外に下記のような金属(元素)を1種または2
種以上含ませることもできる。
る金属以外に下記のような金属(元素)を1種または2
種以上含ませることもできる。
このような金属としては、たとえば、チタン(Ti)、
クロム(Cr)、シリ:77 (S i)、タンタル(
T a )、銅(Cu)、タングステン(W)、ジルコ
ニウム(Zr)、マンガン(Mn)、マグネシウム(M
g L バナジウム(V)などが挙げら蜆 このよ
うな他の金属は通常5原子%以下好ましくは2原子%以
下の量で含まれる。 (ただし、金属膜には、上記に例
示するような金属(元素)のうち、既に金属膜に含まれ
ている金a<元X)をさらに上記の量で重ねて含ませる
ことはないものとする。たとえば、金属膜を構成するア
ルミニウム合金が、上記したAQ−Ti合金、Au−T
i−Hf合金等である場合には、上記の金属(元素)の
うちでチタン(Ti)がさらに上記のような量で上記ア
ルミニウム合金中に含まれることはない。) このような金属膜の膜厚14 100〜5000人好ま
しくは500〜3000人さらに好ましくは700〜2
000人程度であることが望ましい。
クロム(Cr)、シリ:77 (S i)、タンタル(
T a )、銅(Cu)、タングステン(W)、ジルコ
ニウム(Zr)、マンガン(Mn)、マグネシウム(M
g L バナジウム(V)などが挙げら蜆 このよ
うな他の金属は通常5原子%以下好ましくは2原子%以
下の量で含まれる。 (ただし、金属膜には、上記に例
示するような金属(元素)のうち、既に金属膜に含まれ
ている金a<元X)をさらに上記の量で重ねて含ませる
ことはないものとする。たとえば、金属膜を構成するア
ルミニウム合金が、上記したAQ−Ti合金、Au−T
i−Hf合金等である場合には、上記の金属(元素)の
うちでチタン(Ti)がさらに上記のような量で上記ア
ルミニウム合金中に含まれることはない。) このような金属膜の膜厚14 100〜5000人好ま
しくは500〜3000人さらに好ましくは700〜2
000人程度であることが望ましい。
本発明において金属膜は熱良伝導体層としての機能を果
しており、この金J/j4膜が存在することによって記
録層に記録されたビットの中心部が記録レーザ光によっ
て過度に高温になることが防止さ瓢 その結果 記録パ
ワーの線速依存性が小さくなると考えられる。
しており、この金J/j4膜が存在することによって記
録層に記録されたビットの中心部が記録レーザ光によっ
て過度に高温になることが防止さ瓢 その結果 記録パ
ワーの線速依存性が小さくなると考えられる。
11週1
本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体10では、第1
光磁気記録媒体の金属膜5aと、第2光磁気記録媒体の
金属膜5bと叫 接着剤層6を介して接合されている。
光磁気記録媒体の金属膜5aと、第2光磁気記録媒体の
金属膜5bと叫 接着剤層6を介して接合されている。
このような接着剤層6として14 ポリオレフィン、
EVA、 合成ゴム、ポリエステル、ポリアミF′
系のホントメルト接着剤やレゾルシノール、シアノアク
リレート、エポキシ、ウレタン、UV硬化型アクリレー
ト系などの反応型接着剤が使用できるが、本発明ではホ
ットメルト接着剤を用いることが好ましい。
EVA、 合成ゴム、ポリエステル、ポリアミF′
系のホントメルト接着剤やレゾルシノール、シアノアク
リレート、エポキシ、ウレタン、UV硬化型アクリレー
ト系などの反応型接着剤が使用できるが、本発明ではホ
ットメルト接着剤を用いることが好ましい。
本発明では、これらのホットメルト接着剤の巾で特に軟
化点130℃以上、好ましくは140℃を超える軟化点
、特に好ましくは141℃以上の軟化点を有するポリオ
レフィン系のホットメルト接着剤を使用することが好ま
しい。
化点130℃以上、好ましくは140℃を超える軟化点
、特に好ましくは141℃以上の軟化点を有するポリオ
レフィン系のホットメルト接着剤を使用することが好ま
しい。
この高軟化点のホットメルト接着剤を使用することによ
り本発明の両面記録型光磁気記録媒体を高温、高湿の条
件下で長期間使用しても2枚の貼り合わせた光磁気記録
媒体の間にズレが発生せず、ソリ等の変形が小さいとい
う利点がある。
り本発明の両面記録型光磁気記録媒体を高温、高湿の条
件下で長期間使用しても2枚の貼り合わせた光磁気記録
媒体の間にズレが発生せず、ソリ等の変形が小さいとい
う利点がある。
この130℃以上の軟化点を有するホットメルト接着剤
としては、ポリオレフィン(A)とスチレン系樹脂(B
)およびタッキファイヤ−(C)を含有するポリオレフ
ィン系ホットメルト接着剤が好ましい。
としては、ポリオレフィン(A)とスチレン系樹脂(B
)およびタッキファイヤ−(C)を含有するポリオレフ
ィン系ホットメルト接着剤が好ましい。
ポリオレフィン(A)としては、たとえばエチレン・プ
ロピレン・σ−オレフィンランダム共重合朱 エチレン
・プロピレンランダム共電合本 ポリイソブチレンなど
が用いられる。また上記エチレン・プロピレン・σ−オ
レフィンランダム共重合体を構成するσ−オレフィンと
しては、C4〜C3゜のa−オレフィンが挙げられるが
、特に1−ブテン、4−メチル−1−ペンテンが好まし
い。スチレン系樹脂(B)としては、ポリスチレン、ス
チレン・a−メチルスチレン共電合本 スチレン・σ−
メチルスチレン・ビニルトルエン共重合体などのスチレ
ンまたはスチレン誘導体を構成成分として含む重合体ま
たは共重合体が挙げられるが特にポリスチレンが好まし
い。またタッキファイヤ−としては、芳香族系石油樹脂
(たとえばC0系石油樹脂)、脂肪族系石油樹脂(Cs
系石油樹脂)芳香族−脂肪族共重合石油樹脂(C9C&
共重合樹脂)などの石油樹脂、あるいは重量平均分子量
5000以下好ましくは50〜3000の脂肪族系環化
樹脂などが使用できるが、この中で数平均分子量300
0以下、特に500〜3000、軟化点80〜150℃
の石油樹脂が望ましい。
ロピレン・σ−オレフィンランダム共重合朱 エチレン
・プロピレンランダム共電合本 ポリイソブチレンなど
が用いられる。また上記エチレン・プロピレン・σ−オ
レフィンランダム共重合体を構成するσ−オレフィンと
しては、C4〜C3゜のa−オレフィンが挙げられるが
、特に1−ブテン、4−メチル−1−ペンテンが好まし
い。スチレン系樹脂(B)としては、ポリスチレン、ス
チレン・a−メチルスチレン共電合本 スチレン・σ−
メチルスチレン・ビニルトルエン共重合体などのスチレ
ンまたはスチレン誘導体を構成成分として含む重合体ま
たは共重合体が挙げられるが特にポリスチレンが好まし
い。またタッキファイヤ−としては、芳香族系石油樹脂
(たとえばC0系石油樹脂)、脂肪族系石油樹脂(Cs
系石油樹脂)芳香族−脂肪族共重合石油樹脂(C9C&
共重合樹脂)などの石油樹脂、あるいは重量平均分子量
5000以下好ましくは50〜3000の脂肪族系環化
樹脂などが使用できるが、この中で数平均分子量300
0以下、特に500〜3000、軟化点80〜150℃
の石油樹脂が望ましい。
このポリオレフィン系ホットメルト接着剤を構成する各
成分の好ましい配合割合は、 (A)成分が1〜60重
量%、特に5〜40重量%であり、 (B)成分が1〜
30重量%、特に5〜20重量%であり、(C)成分が
30〜95重量%、特に50〜90重量%である。
成分の好ましい配合割合は、 (A)成分が1〜60重
量%、特に5〜40重量%であり、 (B)成分が1〜
30重量%、特に5〜20重量%であり、(C)成分が
30〜95重量%、特に50〜90重量%である。
次へ 本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体の製造方
法について説明する。
法について説明する。
まず基板温度を室温程度に保ち、第1保護罠光磁気記録
膜および第2保護膜をこの順で、複合ターゲット、所定
割合の組成を有する合金ターゲットまたはSi3N、タ
ーゲットを用い、スパッタリング法あるいは電子ビーム
蒸着法などの従来公知の成膜条件を採用して、この基板
(基板は固定していてもよく、また自転していてもよい
)上に被着させ、次いでこの上に金属膜を上記と同様に
して被着させることによって、第1光磁気記録媒体およ
び第2光磁気記録媒体を製造する。
膜および第2保護膜をこの順で、複合ターゲット、所定
割合の組成を有する合金ターゲットまたはSi3N、タ
ーゲットを用い、スパッタリング法あるいは電子ビーム
蒸着法などの従来公知の成膜条件を採用して、この基板
(基板は固定していてもよく、また自転していてもよい
)上に被着させ、次いでこの上に金属膜を上記と同様に
して被着させることによって、第1光磁気記録媒体およ
び第2光磁気記録媒体を製造する。
次に上記のようにして得られた第1光磁気記録媒体の金
属膜(5a)と第2光磁気記録媒体の金属膜(5b)と
を、接着剤層6を用いて接着して一体化する。接着剤層
としてホントメルト接着剤を用いる場合に代 たとえば
ロールコータ−装置等により第1および/または第2の
光磁気記録媒体の金属膜にホットメルト接着剤を塗布味
次に常温プレス装置等によりホットメルト接着剤が塗
布された光磁気記録媒体を圧縮して貼り合わせる方法が
採用できる。
属膜(5a)と第2光磁気記録媒体の金属膜(5b)と
を、接着剤層6を用いて接着して一体化する。接着剤層
としてホントメルト接着剤を用いる場合に代 たとえば
ロールコータ−装置等により第1および/または第2の
光磁気記録媒体の金属膜にホットメルト接着剤を塗布味
次に常温プレス装置等によりホットメルト接着剤が塗
布された光磁気記録媒体を圧縮して貼り合わせる方法が
採用できる。
なお本発明において、第1および第2の光磁気記録媒体
を製造するにあたり、常温で基板上に光磁気記録膜を成
膜することが可能であり、膜面に垂直な磁化容易軸を持
たせるために成膜後にアニール処理などの熱処理をする
必要がない。
を製造するにあたり、常温で基板上に光磁気記録膜を成
膜することが可能であり、膜面に垂直な磁化容易軸を持
たせるために成膜後にアニール処理などの熱処理をする
必要がない。
なお必要に応じてit 基板温度を50−100℃に
加熱しながら、または−50℃まで冷却しながら、基板
上に非晶質合金薄膜を形成することもできる。
加熱しながら、または−50℃まで冷却しながら、基板
上に非晶質合金薄膜を形成することもできる。
またスパッタリング時へ 基板を負電位になるようにバ
イアスすることもできる。このようにすると、電界で加
速されたアルゴンなどの不活性ガスイオンはターゲット
物質ばかりでなく成膜されつつある垂直磁化膜をもたた
くことになり、優れた特性を有する垂直磁化膜が得られ
ることがある。
イアスすることもできる。このようにすると、電界で加
速されたアルゴンなどの不活性ガスイオンはターゲット
物質ばかりでなく成膜されつつある垂直磁化膜をもたた
くことになり、優れた特性を有する垂直磁化膜が得られ
ることがある。
灸更n皇J
」1記のような本発明に係る両面記録型光磁気記録媒体
では、記録層積層体は特定のvL構成および膜組成(す
なわち基板/SiNxからなる第1保fl膜/特定の光
磁気記録11E/SiNxからなる第2保護膜/アルミ
ニウム合金からなる金属膜)を有している第1光磁気記
録媒体と第2光磁気記録媒体とを、両者の金A膜が向き
合うようにして接着剤層を介して接着してなり、耐酸化
性に便法長期間使用しても光磁気記録特性が低下するこ
とがなく、C/N比が高く、かつ記録パワーマージンが
広く、 しかも記録感度の線速依存性が小さく、しかも
反りなどがなく機械的特性が優れている。
では、記録層積層体は特定のvL構成および膜組成(す
なわち基板/SiNxからなる第1保fl膜/特定の光
磁気記録11E/SiNxからなる第2保護膜/アルミ
ニウム合金からなる金属膜)を有している第1光磁気記
録媒体と第2光磁気記録媒体とを、両者の金A膜が向き
合うようにして接着剤層を介して接着してなり、耐酸化
性に便法長期間使用しても光磁気記録特性が低下するこ
とがなく、C/N比が高く、かつ記録パワーマージンが
広く、 しかも記録感度の線速依存性が小さく、しかも
反りなどがなく機械的特性が優れている。
[実施例]
以下本発明を実施例によって説明するが、本発明はこれ
ら実施例に限定されるものではない。
ら実施例に限定されるものではない。
なお、本明細育において、最適記録パワーとはf =
I MHz、 duty 50%の會込み信号に対し
て再生信号の2次高調波が最小となる記録パワーのこと
を表わし、線速による最適記録パワーの差が小さい程線
速依存性が小さい。
I MHz、 duty 50%の會込み信号に対し
て再生信号の2次高調波が最小となる記録パワーのこと
を表わし、線速による最適記録パワーの差が小さい程線
速依存性が小さい。
以下の実施例において、光磁気記録膜および金s膜の組
成は、原子%である。
成は、原子%である。
下DMONと略記する〕とを共重合させて得られる非品
性共重合体[13C−NMR分析で測定したエチレン含
量59モル%、DMON含量41モル%、135℃デカ
リン中で測定した極陳粘度[7]がo、 42aa /
g 軟化温度(TMA) 154℃コからなる基板上
に、Sj、N、ターゲットを用いて、スパッタリング法
により第1保Wi膜としてのs+、NJJを1000人
の膜厚で被着させ八 このS I 3 NaM’A上に、FeとCoとからな
るターゲットにptおよびTbチフプを載置してなる複
合ターゲットを用いて、スパッタリング法によりP j
*T 1)2oF essC04JjJを270Aの膜
厚で被着させた。
性共重合体[13C−NMR分析で測定したエチレン含
量59モル%、DMON含量41モル%、135℃デカ
リン中で測定した極陳粘度[7]がo、 42aa /
g 軟化温度(TMA) 154℃コからなる基板上
に、Sj、N、ターゲットを用いて、スパッタリング法
により第1保Wi膜としてのs+、NJJを1000人
の膜厚で被着させ八 このS I 3 NaM’A上に、FeとCoとからな
るターゲットにptおよびTbチフプを載置してなる複
合ターゲットを用いて、スパッタリング法によりP j
*T 1)2oF essC04JjJを270Aの膜
厚で被着させた。
さらにこのP t、T b2.F essCot模膜上
、5i3Ntターゲツトを用いて、スパッタリング法に
より第2保護膜としてのSi、Na膜を160人の膜厚
で被着させ八 次にこの5i3Na膜上に、A9−Cr−Hfの複合タ
ーゲットを用いて、スパッタリング法によりA 11
sac r 2Hf tmを1800人の膜厚で被着さ
せて、光磁気ディスクを作成しへ 次にこのようにして得られた2枚の光磁気ディスクの金
属層の上にロールコータ−装置を用いて、軟化点145
℃のホットメルト接着剤(組成・エチレン・プロピレン
・1−ブテン三元共重合体21重量%、TgllO℃、
MFR25g/10分のポリスヂレン10重量%、数平
均分子i 1500の石油樹脂69重重景)を塗布しt
m 次にこのホットメルト接着剤が薄膜コーティングされた
2枚の光磁気記録媒体を金属層同士が向い合うようにし
て、常温プレス装置にて貼り合わせ両面記録型光磁気記
録媒体を得た。
、5i3Ntターゲツトを用いて、スパッタリング法に
より第2保護膜としてのSi、Na膜を160人の膜厚
で被着させ八 次にこの5i3Na膜上に、A9−Cr−Hfの複合タ
ーゲットを用いて、スパッタリング法によりA 11
sac r 2Hf tmを1800人の膜厚で被着さ
せて、光磁気ディスクを作成しへ 次にこのようにして得られた2枚の光磁気ディスクの金
属層の上にロールコータ−装置を用いて、軟化点145
℃のホットメルト接着剤(組成・エチレン・プロピレン
・1−ブテン三元共重合体21重量%、TgllO℃、
MFR25g/10分のポリスヂレン10重量%、数平
均分子i 1500の石油樹脂69重重景)を塗布しt
m 次にこのホットメルト接着剤が薄膜コーティングされた
2枚の光磁気記録媒体を金属層同士が向い合うようにし
て、常温プレス装置にて貼り合わせ両面記録型光磁気記
録媒体を得た。
さらにこのようにして得られた両面記録型光磁気記録媒
体の特性を、下記のようにして測定した最適記録パワー
:記録周波数I M Hz、デユーティ−比(duty
比)50%で記録し、再生レーザーパワー1mWで線速 5.7m/s、 11.3m/sについて計測した。
体の特性を、下記のようにして測定した最適記録パワー
:記録周波数I M Hz、デユーティ−比(duty
比)50%で記録し、再生レーザーパワー1mWで線速 5.7m/s、 11.3m/sについて計測した。
パワーマージン二下記の条件で測定したC/Nの最高値
から3dB低下するまでの記 録パワーの範囲をパワーマージンと した C/N (dB):記録周波数3.7M Hz、 d
uty比33.3%、再生レーザーパワーは1.0mW
とじt4 ΔC/N (dB):光磁気記録媒体を、80℃、相対
湿度85%の雰囲気下に1000時間放置してライフテ
ストを行い、この光 磁気記録媒体について再度C/N比 を測定して、下記の式がら求めた ΔC/N= (ライフテスト後のC/N比)−(ライフ
テスト前のC/N比) また基板と第1保護膜(エンハンス膜)との密着性を、
以下のようにして評価した 密着性試験[基盤目試験(JIS K5400) ]
:試料の記録IIλ エンハンス膜上に、直交する縦横
11本ずつの平行線をカッターナイフを用いて1mmの
間隔でひく。 1 cs 2の中に100個の升目がで
きるように基盤目状の切傷を付ける。
から3dB低下するまでの記 録パワーの範囲をパワーマージンと した C/N (dB):記録周波数3.7M Hz、 d
uty比33.3%、再生レーザーパワーは1.0mW
とじt4 ΔC/N (dB):光磁気記録媒体を、80℃、相対
湿度85%の雰囲気下に1000時間放置してライフテ
ストを行い、この光 磁気記録媒体について再度C/N比 を測定して、下記の式がら求めた ΔC/N= (ライフテスト後のC/N比)−(ライフ
テスト前のC/N比) また基板と第1保護膜(エンハンス膜)との密着性を、
以下のようにして評価した 密着性試験[基盤目試験(JIS K5400) ]
:試料の記録IIλ エンハンス膜上に、直交する縦横
11本ずつの平行線をカッターナイフを用いて1mmの
間隔でひく。 1 cs 2の中に100個の升目がで
きるように基盤目状の切傷を付ける。
セロハンテープにチバン製)を用いて剥l@評価する。
またライフテスト後に、光磁気記録媒体の反りを観察し
tら 結果を表1に示す。
tら 結果を表1に示す。
太夫■Lζ二J
実施例1において、第1保護膜の膜凰 光磁気記録膜の
組成およびj′!JW−、第2保II!膜の膜凰 金x
iの組成を表1に示すように変化させた以外は、実施例
Iと同様にしtも 結果を表1に示す。
組成およびj′!JW−、第2保II!膜の膜凰 金x
iの組成を表1に示すように変化させた以外は、実施例
Iと同様にしtも 結果を表1に示す。
第1図は、本発明に係る光磁気記録媒体の概略断面図で
ある。 a 2 a。 3 a。 4 a。 a b・・基板 b・第1保護膜 b・・光磁気記録膜 b・・・第2保護膜 b・金属膜 6・・・接着剤層 0・・・両面記録型光磁気記録媒体 A・・第1光磁気記録媒体 B・・第2光磁気記録媒体
ある。 a 2 a。 3 a。 4 a。 a b・・基板 b・第1保護膜 b・・光磁気記録膜 b・・・第2保護膜 b・金属膜 6・・・接着剤層 0・・・両面記録型光磁気記録媒体 A・・第1光磁気記録媒体 B・・第2光磁気記録媒体
Claims (4)
- (1)基板(1a)上に第1保護膜(2a)と光磁気記
録膜(3a)と第2保護膜(4a)と金属膜(5a)と
をこの順序で積層してなる第1光磁気記録媒体と、 基板(1b)上に第1保護膜(2b)と光磁気記録膜(
3b)と第2保護膜(4b)と金属膜(5b)とをこの
順序で積層してなる第2光磁気記録媒体とが、 第1光磁気記録媒体の金属膜(5a)と第2光磁気記録
媒体の金属膜(5b)とが接着剤層を介して向かい合う
ようにして接合してなり、 第1保護膜(2a)、(2b)および第2保護膜(4a
)、(4b)が、SiN_Xからなり、光磁気記録膜(
3a)および(3b)が、(i)3d遷移金属から選ば
れる少なくとも1種と、(ii)耐腐食性金属と、(i
ii)希土類から選ばれる少なくとも1種の元素とから
なり、前記耐腐食性金属の含有量が5〜30原子%であ
る、膜面に垂直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜か
らなり、 金属膜(5a)および(5b)が、アルミニウム合金か
らなることを特徴とする両面記録型光磁気記録媒体。 - (2)基板(1a)および基板(1b)が、エチレンと
次式[ I ]または[ I ′]で表わされる環状オレフィ
ンとの共重合体であって、135℃のデカリン中で測定
した極限粘度[η]が0.05〜10dl/gの範囲に
あり、軟化温度(TMA)が70℃以上である環状オレ
フイン系ランダム共重合体からなる請求項第1項に記載
の両面記録型光磁気記録媒体。 ▲数式、化学式、表等があります▼ ・・・[ I ] (式中、nは0または1であり、mは0または正の整数
であって、qは0または1であり、R^1〜R^1^8
およびR^a、R^bは、それぞれ独立に、水素原子、
ハロゲン原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる
原子もしくは基を表し、 R^1^5〜R^1^8は、互いに結合して単環または
多環を形成していてもよく、かつ該単環または多環が二
重結合を有していてもよく、 また、R^1^5とR^1^6とで、またはR^1^7
とR^1^8とでアルキリデン基を形成していてもよい
)。 ▲数式、化学式、表等があります▼ ・・・[ I ′] (式[ I ′]中、pは0または1以上の整数であり、
qおよびには、0、1または2であり、R^1〜R^1
^5はそれぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、脂肪族
炭化水素基、芳香族炭化水素基、およびアルコキシ基よ
りなる群から選ばれる原子もしくは基を表し、R^5(
またはR^6)とR^8(またはR^7)とは、炭素数
1〜3のアルキレン基を介して結合していてもよく、ま
た何の基も介さずに直接結合していてもよい。) - (3)基板(1a)上に第1保護膜(2a)と光磁気記
録膜(3a)と第2保護膜(4a)と金属膜(5a)と
をこの順序で積層してなる第1光磁気記録媒体と、 基板(1b)上に第1保護膜(2b)と光磁気記録膜(
3b)と第2保護膜(4b)と金属膜(5b)とをこの
順序で積層してなる第2光磁気記録媒体とが、 第1光磁気記録媒体の金属膜(5a)と第2光磁気記録
媒体の金属膜(5b)とが接着剤層を介して向かい合う
ようにして積層してなり、 基板(1a)および基板(1b)が、 エチレンと次式[ I ]または[ I ′]で表される環状
オレフィンとの共重合体であって、135℃のデカリン
中で測定した極限粘度[η]が0.05〜10dl/g
の範囲にあり、軟化温度(TMA)が70℃以上である
環状オレフィン系ランダム共重合体[A]と、エチレン
と次式[ I ]または[ I ′]で表される環状オレフィ
ンとの共重合体であって、135℃のデカリン中で測定
した極限粘度[η]が0.05〜5dl/gの範囲にあ
り、軟化温度(TMA)が70℃未満である環状オレフ
ィン系ランダム共重合体[B]とを配合してなる環状オ
レフィン系ランダム共重合体組成物からなり、 第1保護膜(2a)、(2b)および第2保護膜(4a
)、(4b)が、SiN_Xからなり、光磁気記録膜(
3a)および(3b)が、(i)3d遷移金属から選ば
れる少なくとも1種と、(ii)耐腐食性金属と、(i
ii)希土類から選ばれる少なくとも1種の元素とから
なり、前記耐腐食性金属の含有量が5〜30原子%であ
る、膜面に垂直な磁化容易軸を有する非晶質合金薄膜か
らなり、 金属膜(5a)および(5b)が、アルミニウム合金か
らなることを特徴とする両面記録型光磁気記録媒体; ▲数式、化学式、表等があります▼ ・・・[ I ] (式中、nは0または1であり、mは0または正の整数
であって、qは0または1であり、R^1〜R^1^8
およびR^a、R^bは、それぞれ独立に、水素原子、
ハロゲン原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる
原子もしくは基を表し、 R^1^5〜R^1^8は、互いに結合して単環または
多環を形成していてもよく、かつ該単環または多環が二
重結合を有していてもよく、 また、R^1^5とR^1^6とで、またはR^1^7
とR^1^8とでアルキリデン基を形成していてもよい
)。 ▲数式、化学式、表等があります▼ ・・・[ I ′] (式[ I ′]中、pは0または1以上の整数であり、
qおよびrは、0、1または2であり、R^1〜R^1
^5はそれぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、脂肪族
炭化水素基、芳香族炭化水素基、およびアルコキシ基よ
りなる群から選ばれる原子もしくは基を表し、R^5(
またはR^6)とR^9(またはR^7)とは、炭素数
1〜3のアルキレン基を介して結合していてもよく、ま
た何の基も介さずに直接結合していてもよい。) - (4)前記環状オレフィン系ランダム共重合体組成物が
、 前記環状オレフィン系ランダム共重合体[A]と前記環
状オレフィン系ランダム共重合体[B]とを、[A]/
[B](重量比)で100/0.1〜100/10の割
合で配合してなる環状オレフィン系ランダム共重合体組
成物であることを特徴とする請求項第3項に記載の両面
記録型光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2171678A JPH04117643A (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-29 | 両面記録型光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16876590 | 1990-06-27 | ||
| JP2-168765 | 1990-06-27 | ||
| JP2171678A JPH04117643A (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-29 | 両面記録型光磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04117643A true JPH04117643A (ja) | 1992-04-17 |
Family
ID=26492344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2171678A Pending JPH04117643A (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-29 | 両面記録型光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04117643A (ja) |
-
1990
- 1990-06-29 JP JP2171678A patent/JPH04117643A/ja active Pending
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