JPH04137449A - 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 - Google Patents

高周波誘導結合プラズマ質量分析計

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Publication number
JPH04137449A
JPH04137449A JP2259624A JP25962490A JPH04137449A JP H04137449 A JPH04137449 A JP H04137449A JP 2259624 A JP2259624 A JP 2259624A JP 25962490 A JP25962490 A JP 25962490A JP H04137449 A JPH04137449 A JP H04137449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate valve
ion
aperture
analysis
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2259624A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Kuze
久世 秀一
Kenichi Sakata
健一 阪田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2259624A priority Critical patent/JPH04137449A/ja
Publication of JPH04137449A publication Critical patent/JPH04137449A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、高周波誘導コイルに高周波エネルギを供給し
高周波磁界を形成して高周波誘導結合プラズマを生じさ
せ該プラズマを利用して試料中の被測定元素を分析する
高周波誘導結合プラズマ質量分析計(以下、rIcP−
MSJという)に関し、更に詳しくは、イオンレンズ、
四重後マスフィルタ、及び光電子増倍管などを一体的に
移動できるようにして分析感度を向上させたICPMS
に関する。
〈従来の技術〉 第3図は、ICP−MSの従来例構成説明図である。こ
の図において、プラズマトーチ1の外室1bと最外室1
cにはガス調節器2を介してアルゴンガス供給源3から
アルゴンガスが供給され、内室1aには試料導入装置4
内の固体試料がレーザ光源5から照射されたレーザ光に
よって気化されてのちキャリアガスであるアルゴンガス
によって搬入されるようになっている。尚、試料が液体
の場合は、第3図の試料導入装ff4とレーザ光源5か
除去され、導入される液体試料を霧化してプラズマトー
チ1の内室1aに供給するネプライザか装着される。ま
た、試料は固体であることよりも液体であることが多い
更に、プラズマトーチ1に巻回された高周波誘導コイル
6には高周波電源10によって高周波電流か流され、該
コイル6の周囲に高周波磁界(図示せず)が形成されて
いる。この状態で上記高周波磁界の近傍でアルゴンガス
中に電子かイオンが植え付けられると、該高周波磁界の
作用によって瞬時に高周波誘導結合プラズマ7か生ずる
また、ノズル8とスキマー9に挟まれたフォアチャンバ
ー本体11内は、真空ポンプ12によって例えばI T
 o r r 、に吸引されている。更に、センターチ
ャンバー13内には、アパーチャーレンズ14b、四重
径レンズ14c、及びアパーチャー14dか設けられる
と共に、該センターチャンバー13の内部は第1油拡散
ポンプ15によって例えば10−’Torr、に吸引さ
れ、エントランスレンズ14eと八重極マスフィルタ1
6を収容しているリアチャンバー17内は第2油拡散ポ
ンプ18によって例えば10−’Torr、に吸引され
ている。また、スキマー9の後方に引出し電極14aが
ある。
この状態で高周波誘導結合プラズマ中に上述のようにし
て気化された試料が導入され、イオン化や発光が行われ
る。該プラズマ7内のイオンは、ノズル8やスキマー9
を経由してのち引出し電極14aの間とイオンレンズ系
4b〜14eの間を通って収束され、八重極マスフィル
タ16に導入される。八重極マスフィルタ16に入った
イオンのうち目的の質量電荷比のイオンだけが、通過し
一次電子増倍管19に導かれて検出されるにの検出信号
が信号処理部20に送出されて演算・処理されることに
よって、前記試料中の被測定元素分析値が求められるよ
うになっている。
一方、21はハウジングが金属で構成されると共に電位
が各チャンバー11.13.17と同様アース電位に保
たれているゲートバルブである。
また、ゲートバルブ21は次のような必要性があるため
設けられている。即ち、ICP−MSの質量分析計部分
やイオンレンズ系14b〜14eは高真空(10″〜1
0′torr、以下の真空)の下で動作させることが必
要であり、分析しないときであっても真空の解除や立ち
上げに伴なって生ずる時間ロスを回避するため、真空ポ
ンプを動作させて真空チャンバーを高真空にしておくこ
とが必要である。このため、非分析時(例えばスタンバ
イ時など)にはフォアチャンバー11とセンターチャン
バー13を遮断し、分析時にはフォアチャンバー11と
センターチャンバー13を連通させることが必要である
。〈発明が解決しようとする問題点〉 然しなから、上記従来例においては、ゲートバルブ21
を設けているため、ゲートバルブ21が厚み分だけイオ
ン軌道長が長くなり引出し電極14aとイオンレンズ系
14b〜14eの距離が長くなっていた。このため、イ
オンビームか細く維持できずに発散する傾向が大となり
、イオンの透過率が低下して究極的にICP−MSとし
ての感度が低下するという欠点があった。
また、イオンビームが一旦発散するとイオンレンズで再
び収束させようとしても、イオンレンズに入るイオンの
数が大きく減少するため、イオンレンズ系14b〜14
e全体のイオン透過効率は大きく低下するという欠点も
あった。
本発明は、かかる状況に鑑みてなされものであり、その
課題は、ゲートバルブの厚さ分のイオン軌道長さを短縮
化してイオンの透過率を向上させて分析感度を改善した
ICP−MSを提供することにある。
く問題点を解決するための手段〉 本発明は、フォアチャンバーとセンターチャンバーの間
にゲートバルブが設けられると共に前記ゲートバルブが
閉の時に引き出しt極とアパーチャーレンズが前記ゲー
トバルブを挟んで反対側に設けられているICP−MS
において、伸縮性部材でなりリアチャンバーと信号処理
部を接続する胴部を設け、非分析時には前記ゲートバル
ブが閉となって前記センターチャンバーとフォアチャン
バーの連通を遮断すると共に前記胴部か伸びて前記アパ
ーチャーレンズが前記ゲートバルブから離れた位置にな
り、分析時には、前記ゲートバルブを開にすると共に前
記胴部が縮み前記アパーチャーレンズか前記ゲートバル
ブの開口部に位置するようにしたことにある。
〈実施例〉 以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第1
図及び第2図は本発明実施例の構成説明図であり、図中
、第3図と同一記号は同一意味をもたせて使用しここで
の重複説明は省略する。また、22は例えばステンレス
製ベローズのような伸縮性部材でなりリアチャンバー1
7と信号処理部20を接続する胴部である。
このような要部構成からなる本発明の実施例において、
分析開始前の所謂スタンバイ時には、ゲートバルブ21
が第1図の破線で示すように閉となっており、ゲートバ
ルブ21がセンターチャンバー13とフォアチャンバー
11の連通を遮断している。この状態では、イオンレン
ズ系1.4 a〜14eに電圧は印加されていない、ま
た、センタチャンバー13内とりアチャンバー17内が
真空に保たれているか、回転ポンプ12がオフでフォア
チャンバー11内は真空が解除されている(即ち、真空
となりいない)。このため、ノズル8、スキマー9.或
いは引き出し電[i 14 aを取り外して洗浄などの
保守作業が容易に行なえるようになる。
一方、分析時には、第1図の破線で示すようにゲートバ
ルブ21が開となっており、ゲートバルブ21を介して
センターチャンバー13とフォアチャンバー11が連通
ずる。この状態で5手動または空気圧若しくは電動など
による自動操作で信号処理部20の左側から押圧される
と、胴部22が縮んで第2図のようになる。即ち、胴部
22の縮みに伴ない、イオンレンズ14b〜14e、四
重極マスフィルタ16.及び光電子増倍管19が一体的
に第2図の紙面上で右方向に移動し、アパチャーレンズ
14bがゲートバルブ21の開口部に位置するようにな
る。このため、引出し電極14aとアパーチャーレンズ
14bの距離は、第3図で示した前記従来例における引
出し電極14aとアパーチャーレンズ14bの距離に比
して著しく短くなっている(例えば、約1/3)、従っ
て、引出しt極14aを通過したイオンビームが発散し
たとしても、アパーチャーレンズ14bで再び細く絞る
ことがことができる。このため、引出し電極14aとア
パーチャーレンズ14bの距離か大でイオンビームが発
散しなのち再び収束させてもイオンレンズに入るイオン
数が大きく減少していた前記従来例に比し、イオンビー
ム発散時のイオンのロスが激減し、その結果、イオンレ
ンズ系14b〜14e全体のイオン透過効率が大きく改
善されるようになる。
尚、本発明実施例の他の部分の動作は、第2図を用いて
詳述した前記従来例の場合と同一であるためここでの重
複説明は省略する0、tな、本発明は上述の実施例に限
定されることなく種々の変形が可能である。
〈発明の効果〉 以上詳しく説明したように、本発明は、ICPMSにお
いて、非分析時にはゲートバルブが閉となってセンター
チャンバーとフォアチャンバーの連通を遮断すると共に
アパーチャーレンズをゲートバルブから離れた位置に待
機させ、分析時には、ゲートバルブに駆動電圧を印加し
て開にすると共にアパーチャーレンズをゲートバルブの
開口に位置させるような構成であるため、引出し電極を
通過したイオンビームが発散したとしても、アパーチャ
ーレンズで再び細く絞ることができるようになる。
このなめ、分析時に引出し電極とアパーチャーレンズの
距離が大でイオンビームが発散したのち再び収束させて
もイオンレンズに入るイオン数が大きく減少していた前
記従来例に比し、イオンビーム発散時のイオンのロスが
激減し、その結果、イオンレンズ系全体のイオン透過効
率が大きく改善され、究極的に、イオンの透過率を向上
させて分析感度を改善したICP−MSが実現する。
従って、本発明によれば、ゲートバルブの厚さ分のイオ
ン軌道長さを短縮化してイオンの透過を向上させて分析
感度を改善したICP−MS
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明実施例の構成説明第3図は従
来例の要部構成説明図である。 1・・・・・・プラズマトーチ、6・・・・・・高周波
誘導コイ7・・・・・・高周波誘導結合プラズマ、8・
・・・・・ノズル9・・・・・・スキマー、11・・・
・・・フォアチャンバ13・・・・・・センターチャン
バー 14a・・・・・・引出電極、14b〜14e・
・・・・・イオンレンズ、16・・四重極マスフィルタ
、17・・・・・・リアチャンバ1つ・・・・・・検出
器、、20・・・・・・信号処理部−21・・・ゲート
バルブ、22・・・・・・胴部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フォアチャンバーとセンターチャンバーの間にゲートバ
    ルブが設けられると共に前記ゲートバルブが閉の時に引
    き出し電極とアパーチャーレンズが前記ゲートバルブを
    挟んで反対側に設けられている高周波誘導結合プラズマ
    質量分析計において、伸縮性部材でなりリアチャンバー
    と信号処理部を接続する胴部を具備し、非分析時には前
    記ゲートバルブが閉となって前記センターチャンバーと
    フォアチャンバーの連通を遮断すると共に前記胴部が伸
    びて前記アパーチャーレンズが前記ゲートバルブから離
    れた位置になり、分析時には、前記ゲートバルブに駆動
    電圧を印加して開にすると共に前記胴部が縮み前記アパ
    ーチャーレンズが前記ゲートバルブの開口に位置するよ
    うになることを特徴とする高周波誘導結合プラズマ質量
    分析計。
JP2259624A 1990-09-28 1990-09-28 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 Pending JPH04137449A (ja)

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JP2259624A Pending JPH04137449A (ja) 1990-09-28 1990-09-28 高周波誘導結合プラズマ質量分析計

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100824693B1 (ko) * 2006-11-20 2008-04-24 한국기초과학지원연구원 혼성 이온 전송 장치

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