JPH04144164A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH04144164A JPH04144164A JP26679890A JP26679890A JPH04144164A JP H04144164 A JPH04144164 A JP H04144164A JP 26679890 A JP26679890 A JP 26679890A JP 26679890 A JP26679890 A JP 26679890A JP H04144164 A JPH04144164 A JP H04144164A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract description 2
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- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
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Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置に関し、特に同−島領域内に複数の
抵抗層を有する半導体装置に関する。
抵抗層を有する半導体装置に関する。
従来の半導体装置は、第2図(a)、(b)に示すよう
に、P型シリコン基板1の上に高濃度N型埋込層2を選
択的に形成し、N型埋込層2を含む表面にN型エピタキ
シャル層3を成長させ、N型エピタキシャル層3にP型
シリコン基板1に達する素子分離用のP型拡散層4を選
択的に設けてN型エピタキシャル層3を電気的に分離し
、島領域を形成する。その島領域内に、P型不純物を選
択的に拡散し、N型埋込層2の領域上からはみ出さない
ように、複数個の抵抗層5a、5bを形成する。抵抗層
5a、5bを含む表面に堆積した絶縁層6を選択的に開
孔して設けたコンタクト窓7を介して、抵抗層5a、5
bと接続し絶縁層6の上に延在する配線8a、8b及び
9a、9bを形成する。
に、P型シリコン基板1の上に高濃度N型埋込層2を選
択的に形成し、N型埋込層2を含む表面にN型エピタキ
シャル層3を成長させ、N型エピタキシャル層3にP型
シリコン基板1に達する素子分離用のP型拡散層4を選
択的に設けてN型エピタキシャル層3を電気的に分離し
、島領域を形成する。その島領域内に、P型不純物を選
択的に拡散し、N型埋込層2の領域上からはみ出さない
ように、複数個の抵抗層5a、5bを形成する。抵抗層
5a、5bを含む表面に堆積した絶縁層6を選択的に開
孔して設けたコンタクト窓7を介して、抵抗層5a、5
bと接続し絶縁層6の上に延在する配線8a、8b及び
9a、9bを形成する。
N型埋込層2は、P型紙抗層5a、5bをエミッタ、N
型エピタキシャル層3をベース、P型シリコン基板1を
コレクタとする寄生PNP)ランジスタ動作を防止する
為に形成されている。
型エピタキシャル層3をベース、P型シリコン基板1を
コレクタとする寄生PNP)ランジスタ動作を防止する
為に形成されている。
この従来の半導体装置は、外部端子につながる複数の抵
抗層を一つの島領域内に形成すると外部端子間にサージ
あるいは静電気による過大電圧にさらされた場合、電流
が一方の抵抗層から抵抗層直下の埋込層を通り、さらに
、他方の抵抗層に抜けるルートを通り、抵抗が破壊され
るという問題点があった。
抗層を一つの島領域内に形成すると外部端子間にサージ
あるいは静電気による過大電圧にさらされた場合、電流
が一方の抵抗層から抵抗層直下の埋込層を通り、さらに
、他方の抵抗層に抜けるルートを通り、抵抗が破壊され
るという問題点があった。
本発明の半導体装置は、−導電型の半導体基板上に形成
した逆導電型の島領域と、前記島領域の底部に分割して
設けた複数の逆導電型埋込層と、前記埋込層の夫々に対
応し且つ前記埋込層の領域内の前記島領域の表面に設け
た一導電型の抵抗層とを有することを特徴とする。
した逆導電型の島領域と、前記島領域の底部に分割して
設けた複数の逆導電型埋込層と、前記埋込層の夫々に対
応し且つ前記埋込層の領域内の前記島領域の表面に設け
た一導電型の抵抗層とを有することを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例を示す半導体
チップの平面図及びA−A′線断面図である。
チップの平面図及びA−A′線断面図である。
第1図<a)、(b)に示すように、P型シリコン基板
1の上に高濃度のN型埋込層2a、2bを選択的に形成
する。次に、N型埋込層2a2bを含む表面にN型エピ
タキシャル層3を形成し、N型エピタキシャル層3にP
型シリコン基板]に達するP型拡散層4を形成してN型
埋込層2a、2bを含む島領域を区画し、島領域内のN
型埋込層2a、2bの夫々に対応してP型の抵抗層5a
、5bを形成する。次に、抵抗層5a5bを含む表面に
絶縁層6を堆積し、抵抗層5a、5bの上の絶縁層6を
選択的に開孔してコンタクト窓7を設け、コンタクト窓
7を含む表面に金属層を堆積して選択的にエツチングし
、コンタクト窓の抵抗層5a、5bと夫々接続し絶縁層
6の上に延在する配線8a、8b及び配線9a9bを形
成する。
1の上に高濃度のN型埋込層2a、2bを選択的に形成
する。次に、N型埋込層2a2bを含む表面にN型エピ
タキシャル層3を形成し、N型エピタキシャル層3にP
型シリコン基板]に達するP型拡散層4を形成してN型
埋込層2a、2bを含む島領域を区画し、島領域内のN
型埋込層2a、2bの夫々に対応してP型の抵抗層5a
、5bを形成する。次に、抵抗層5a5bを含む表面に
絶縁層6を堆積し、抵抗層5a、5bの上の絶縁層6を
選択的に開孔してコンタクト窓7を設け、コンタクト窓
7を含む表面に金属層を堆積して選択的にエツチングし
、コンタクト窓の抵抗層5a、5bと夫々接続し絶縁層
6の上に延在する配線8a、8b及び配線9a9bを形
成する。
ここで、配線8a、8bが外部端子に接続され、過大電
圧が加わった場合、抵抗層5aから直下のN型埋込層2
aに電流が抜けてもN型埋込層2bは分割されており、
他方の抵抗層5bに抜けず、抵抗が破壊されることがな
い。
圧が加わった場合、抵抗層5aから直下のN型埋込層2
aに電流が抜けてもN型埋込層2bは分割されており、
他方の抵抗層5bに抜けず、抵抗が破壊されることがな
い。
以上説明したように本発明は、一つの島領域内に設けた
複数の抵抗層の夫々に対応して島領域の底部に夫々の抵
抗層に対応して分割された複数の埋込層を形成すること
により、過大電圧による抵抗素子の破壊を防止すること
ができるという効果を有する。
複数の抵抗層の夫々に対応して島領域の底部に夫々の抵
抗層に対応して分割された複数の埋込層を形成すること
により、過大電圧による抵抗素子の破壊を防止すること
ができるという効果を有する。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例を示す半導体
チップの平面図及びA−A’線断面図、第2図(a>、
(b)は従来の半導体装置の一例を示す半導体チップの
平面図及びB−B’線断面図である。 1・・・P型シリコン基板、2.2a、2b・・・N型
埋込層、3・・・N型エピタキシャル層、4・・・P型
拡散層、5a、5b・・・抵抗層、6・・・絶縁層、7
・・・コンタクト窓、8a、8b、9a、9b−配線。
チップの平面図及びA−A’線断面図、第2図(a>、
(b)は従来の半導体装置の一例を示す半導体チップの
平面図及びB−B’線断面図である。 1・・・P型シリコン基板、2.2a、2b・・・N型
埋込層、3・・・N型エピタキシャル層、4・・・P型
拡散層、5a、5b・・・抵抗層、6・・・絶縁層、7
・・・コンタクト窓、8a、8b、9a、9b−配線。
Claims (1)
- 一導電型の半導体基板上に形成した逆導電型の島領域
と、前記島領域の底部に分割して設けた複数の逆導電型
埋込層と、前記埋込層の夫々に対応し且つ前記埋込層の
領域内の前記島領域の表面に設けた一導電型の抵抗層と
を有することを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26679890A JPH04144164A (ja) | 1990-10-04 | 1990-10-04 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26679890A JPH04144164A (ja) | 1990-10-04 | 1990-10-04 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04144164A true JPH04144164A (ja) | 1992-05-18 |
Family
ID=17435834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26679890A Pending JPH04144164A (ja) | 1990-10-04 | 1990-10-04 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04144164A (ja) |
-
1990
- 1990-10-04 JP JP26679890A patent/JPH04144164A/ja active Pending
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