JPH04144164A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH04144164A
JPH04144164A JP26679890A JP26679890A JPH04144164A JP H04144164 A JPH04144164 A JP H04144164A JP 26679890 A JP26679890 A JP 26679890A JP 26679890 A JP26679890 A JP 26679890A JP H04144164 A JPH04144164 A JP H04144164A
Authority
JP
Japan
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resistance
layer
type
island region
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Pending
Application number
JP26679890A
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English (en)
Inventor
Toshiji Ayabe
綾部 利治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特に同−島領域内に複数の
抵抗層を有する半導体装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置は、第2図(a)、(b)に示すよう
に、P型シリコン基板1の上に高濃度N型埋込層2を選
択的に形成し、N型埋込層2を含む表面にN型エピタキ
シャル層3を成長させ、N型エピタキシャル層3にP型
シリコン基板1に達する素子分離用のP型拡散層4を選
択的に設けてN型エピタキシャル層3を電気的に分離し
、島領域を形成する。その島領域内に、P型不純物を選
択的に拡散し、N型埋込層2の領域上からはみ出さない
ように、複数個の抵抗層5a、5bを形成する。抵抗層
5a、5bを含む表面に堆積した絶縁層6を選択的に開
孔して設けたコンタクト窓7を介して、抵抗層5a、5
bと接続し絶縁層6の上に延在する配線8a、8b及び
9a、9bを形成する。
N型埋込層2は、P型紙抗層5a、5bをエミッタ、N
型エピタキシャル層3をベース、P型シリコン基板1を
コレクタとする寄生PNP)ランジスタ動作を防止する
為に形成されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
この従来の半導体装置は、外部端子につながる複数の抵
抗層を一つの島領域内に形成すると外部端子間にサージ
あるいは静電気による過大電圧にさらされた場合、電流
が一方の抵抗層から抵抗層直下の埋込層を通り、さらに
、他方の抵抗層に抜けるルートを通り、抵抗が破壊され
るという問題点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体装置は、−導電型の半導体基板上に形成
した逆導電型の島領域と、前記島領域の底部に分割して
設けた複数の逆導電型埋込層と、前記埋込層の夫々に対
応し且つ前記埋込層の領域内の前記島領域の表面に設け
た一導電型の抵抗層とを有することを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例を示す半導体
チップの平面図及びA−A′線断面図である。
第1図<a)、(b)に示すように、P型シリコン基板
1の上に高濃度のN型埋込層2a、2bを選択的に形成
する。次に、N型埋込層2a2bを含む表面にN型エピ
タキシャル層3を形成し、N型エピタキシャル層3にP
型シリコン基板]に達するP型拡散層4を形成してN型
埋込層2a、2bを含む島領域を区画し、島領域内のN
型埋込層2a、2bの夫々に対応してP型の抵抗層5a
、5bを形成する。次に、抵抗層5a5bを含む表面に
絶縁層6を堆積し、抵抗層5a、5bの上の絶縁層6を
選択的に開孔してコンタクト窓7を設け、コンタクト窓
7を含む表面に金属層を堆積して選択的にエツチングし
、コンタクト窓の抵抗層5a、5bと夫々接続し絶縁層
6の上に延在する配線8a、8b及び配線9a9bを形
成する。
ここで、配線8a、8bが外部端子に接続され、過大電
圧が加わった場合、抵抗層5aから直下のN型埋込層2
aに電流が抜けてもN型埋込層2bは分割されており、
他方の抵抗層5bに抜けず、抵抗が破壊されることがな
い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、一つの島領域内に設けた
複数の抵抗層の夫々に対応して島領域の底部に夫々の抵
抗層に対応して分割された複数の埋込層を形成すること
により、過大電圧による抵抗素子の破壊を防止すること
ができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)は本発明の一実施例を示す半導体
チップの平面図及びA−A’線断面図、第2図(a>、
(b)は従来の半導体装置の一例を示す半導体チップの
平面図及びB−B’線断面図である。 1・・・P型シリコン基板、2.2a、2b・・・N型
埋込層、3・・・N型エピタキシャル層、4・・・P型
拡散層、5a、5b・・・抵抗層、6・・・絶縁層、7
・・・コンタクト窓、8a、8b、9a、9b−配線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  一導電型の半導体基板上に形成した逆導電型の島領域
    と、前記島領域の底部に分割して設けた複数の逆導電型
    埋込層と、前記埋込層の夫々に対応し且つ前記埋込層の
    領域内の前記島領域の表面に設けた一導電型の抵抗層と
    を有することを特徴とする半導体装置。
JP26679890A 1990-10-04 1990-10-04 半導体装置 Pending JPH04144164A (ja)

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