JPH04158574A - 読み取りセンサ - Google Patents
読み取りセンサInfo
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- JPH04158574A JPH04158574A JP2284082A JP28408290A JPH04158574A JP H04158574 A JPH04158574 A JP H04158574A JP 2284082 A JP2284082 A JP 2284082A JP 28408290 A JP28408290 A JP 28408290A JP H04158574 A JPH04158574 A JP H04158574A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はファクシミリ等の原稿読み取りに用いられる読
み取りセンサに関する。
み取りセンサに関する。
従来の読み取りセンサは、特開昭60−244062号
公報に記載のように、読み取り用の光を受光する第1の
光導電体と、光を受光しない第2の光導電体をそれぞれ
形成し1両者を接続して直列に電圧を印加した時の各光
導電体の接続点における電位を出力電圧として外部に取
り出していた。
公報に記載のように、読み取り用の光を受光する第1の
光導電体と、光を受光しない第2の光導電体をそれぞれ
形成し1両者を接続して直列に電圧を印加した時の各光
導電体の接続点における電位を出力電圧として外部に取
り出していた。
この例では、光導電体に付属する電極が、光導電体内に
印加する電場の方向と同じく基板に平行な方向に設けら
れており、従って光電流も、基板に平行な方向に流れて
いた。
印加する電場の方向と同じく基板に平行な方向に設けら
れており、従って光電流も、基板に平行な方向に流れて
いた。
又、他の従来の読み取りセンサは特開昭59−1197
59号公報に記載のように、ガラス基板上の透明電極に
、n型水素化アモルファスシリコンを介し、真性の水素
化アモルファスシリコン(a−5i)を重ねることによ
り受光素子を形成していた。
59号公報に記載のように、ガラス基板上の透明電極に
、n型水素化アモルファスシリコンを介し、真性の水素
化アモルファスシリコン(a−5i)を重ねることによ
り受光素子を形成していた。
上記の他の従来技術は、光電変換素子の活性層である真
性のアモルファスシリコン膜(a−3i膜)の光劣化に
よる出力の変動について配慮がされておらず、出力信号
が経時変化をするという問題があった。
性のアモルファスシリコン膜(a−3i膜)の光劣化に
よる出力の変動について配慮がされておらず、出力信号
が経時変化をするという問題があった。
また上記従来技術は原稿を照明する光源の照度ばらつき
について配慮がされておらず、光源の照度ばらつきによ
り、出力信号がばらつくという問題があり、また、読み
取りの出力が小さくS/N比が低いという問題があった
。
について配慮がされておらず、光源の照度ばらつきによ
り、出力信号がばらつくという問題があり、また、読み
取りの出力が小さくS/N比が低いという問題があった
。
本発明の目的は、透光性基板の一面に形成された光電変
換素子と、その反対面側に設けた光源とを備えた原稿密
着型の読み取りセンサにおいて、光電変換素子の活性層
である水素化アモルファスシリコン屡の光劣化を防止し
、出力の低下を防止することにある。
換素子と、その反対面側に設けた光源とを備えた原稿密
着型の読み取りセンサにおいて、光電変換素子の活性層
である水素化アモルファスシリコン屡の光劣化を防止し
、出力の低下を防止することにある。
また本発明の他の目的は、上記読み取りセンサにおいて
、光源のばらつきにより生ずる出力のばらつきを低減す
ることにある。
、光源のばらつきにより生ずる出力のばらつきを低減す
ることにある。
上記目的を達成するために、読み取りセンサの光電変換
素子は、透光性基板上に順次積層した下部電極とn型水
素化アモルファスシリコン層と真性水素化アモルファス
シリコン層と別のn型水素化アモルファスシリコン層と
上部電極とから構成したものである。
素子は、透光性基板上に順次積層した下部電極とn型水
素化アモルファスシリコン層と真性水素化アモルファス
シリコン層と別のn型水素化アモルファスシリコン層と
上部電極とから構成したものである。
また上記他の目的を達成するために、読み取りセンサの
光電変換素子は、光源から透光性基板を透過する直接光
を光電変換する基準素子と、光源から光があたり原稿か
ら反射する反射光を光電変換する読み取り素子とから構
成し、それら基準素子と読み取り素子を直列接続してそ
れぞれ透光性基板上に形成し、供給電圧を直列接続の基
準素子と読み取り素子とで分圧し、該分圧した電圧のい
ずれかを読み取り信号に変換するものである。
光電変換素子は、光源から透光性基板を透過する直接光
を光電変換する基準素子と、光源から光があたり原稿か
ら反射する反射光を光電変換する読み取り素子とから構
成し、それら基準素子と読み取り素子を直列接続してそ
れぞれ透光性基板上に形成し、供給電圧を直列接続の基
準素子と読み取り素子とで分圧し、該分圧した電圧のい
ずれかを読み取り信号に変換するものである。
基準素子と読み取り素子は、それぞれ透光性基板上に順
次積層した下部電極とn型水素化アモルファスシリコン
層と真性水素化アモルファスシリコン層と別のn型水素
化アモルファスシリコン層と上部電極とから構成するの
がよい。
次積層した下部電極とn型水素化アモルファスシリコン
層と真性水素化アモルファスシリコン層と別のn型水素
化アモルファスシリコン層と上部電極とから構成するの
がよい。
また基準素子の下部電極をくし歯形状とし、光源からの
直接光を基準電極部の真性水素化アモルファスシリコン
層に入射させるのがよく、同様に読み取り素子の上部電
極をくし歯形状とし、原稿からの反射光を読み取り素子
部の真性アモルファスシリコン層に入射させるのがよい
。
直接光を基準電極部の真性水素化アモルファスシリコン
層に入射させるのがよく、同様に読み取り素子の上部電
極をくし歯形状とし、原稿からの反射光を読み取り素子
部の真性アモルファスシリコン層に入射させるのがよい
。
さらに読み取りセンサの光電変換素子の上面に、該上面
に接する側の面が凹凸である梨地透明導電フィルムを装
着するのが、ノイズの防止に有効である。また光電変換
素子の水素化アモルファスシリコン層に流れる電流は透
光性基板の表面と直角方向に流れるように光電変換素子
を構成するのがい。
に接する側の面が凹凸である梨地透明導電フィルムを装
着するのが、ノイズの防止に有効である。また光電変換
素子の水素化アモルファスシリコン層に流れる電流は透
光性基板の表面と直角方向に流れるように光電変換素子
を構成するのがい。
透光性基板上に積層して形成された、光導電型の光電変
換素子は、光源ま輝度に比例したキャリアをJll水素
化7ルルフアスシリコンa−5i)層中に生成する。こ
の時、光電変換素子の上部電極と下部電極間は薄い層を
介して隔てられ距離が非常に小さいため、a−5i中に
印加される電場は非常に大きいものとなり、生成された
キャリアは再結合することなく、外部に取り出されるの
で。
換素子は、光源ま輝度に比例したキャリアをJll水素
化7ルルフアスシリコンa−5i)層中に生成する。こ
の時、光電変換素子の上部電極と下部電極間は薄い層を
介して隔てられ距離が非常に小さいため、a−5i中に
印加される電場は非常に大きいものとなり、生成された
キャリアは再結合することなく、外部に取り出されるの
で。
水素アモルファスシリコン(a−8i)の光劣化がない
。
。
原稿を照明する光源からの直接光を光電変換する基準素
子は、光源の輝度に比例した出力を出し、また原稿から
の反射光を光電変換する読み取り素子は原稿面の照度に
比例し、かつ、M稿面の反射率に比例した出力を出す。
子は、光源の輝度に比例した出力を出し、また原稿から
の反射光を光電変換する読み取り素子は原稿面の照度に
比例し、かつ、M稿面の反射率に比例した出力を出す。
そのため、読み取り素子の出力は1本来読み出したい原
稿面の反射率に対応する出力に光源の照度ばらつきによ
るノイズ成分が入ったものになる。基準素子の出力は光
源の輝度に比例するが、光源の輝度と原稿面の照度は比
例するため、この基準素子の出力を用いて、読み取り素
子の出力を補正することにより、原稿の反射率に対応す
る出力のみを取り出すことができる。
稿面の反射率に対応する出力に光源の照度ばらつきによ
るノイズ成分が入ったものになる。基準素子の出力は光
源の輝度に比例するが、光源の輝度と原稿面の照度は比
例するため、この基準素子の出力を用いて、読み取り素
子の出力を補正することにより、原稿の反射率に対応す
る出力のみを取り出すことができる。
すなわち、読み取り素子と基準素子を電気的に直列に接
続し、供給電圧を分圧して、読み取り出力とすると、出
力電圧は画素子の抵抗の比により分圧される。読み取り
素子及び基準素子の抵抗は導電率に反比例し、導電率は
素子へ入射する光の強度に比例するため、分圧出力は読
み取り素子と基準素子に入射する光の強度の比例に反比
例することになる。出力電圧が読み取り素子と基準素子
の導電率の比によって決まるので、光源のばらつきによ
る出力むらを無くすことができる。
続し、供給電圧を分圧して、読み取り出力とすると、出
力電圧は画素子の抵抗の比により分圧される。読み取り
素子及び基準素子の抵抗は導電率に反比例し、導電率は
素子へ入射する光の強度に比例するため、分圧出力は読
み取り素子と基準素子に入射する光の強度の比例に反比
例することになる。出力電圧が読み取り素子と基準素子
の導電率の比によって決まるので、光源のばらつきによ
る出力むらを無くすことができる。
また基準素子の下部電極の形状をくし歯型にすることに
より、読み取り素子の水素化アモルファスシリコン(a
−3,i)層内に、−様な電場を印加することができ、
入射光による生成されたキャリアを効率良く外部へ取り
出すことができるので、a−3iの光劣化が生ぜず、基
準素子の出力が変動することがない。
より、読み取り素子の水素化アモルファスシリコン(a
−3,i)層内に、−様な電場を印加することができ、
入射光による生成されたキャリアを効率良く外部へ取り
出すことができるので、a−3iの光劣化が生ぜず、基
準素子の出力が変動することがない。
さらに読み取り素子の上部電極の形状をくし歯型にする
ことにより、原稿からの反射光を、効率良く、読み取り
素子のa−5i中に取り入れることができる。それによ
って、生成されるキャリアの数が増加するので、読み取
り素子の出力が大きくなり、S/N比が改善される。ま
た、a−5i内に−様な電場を印加することができる。
ことにより、原稿からの反射光を、効率良く、読み取り
素子のa−5i中に取り入れることができる。それによ
って、生成されるキャリアの数が増加するので、読み取
り素子の出力が大きくなり、S/N比が改善される。ま
た、a−5i内に−様な電場を印加することができる。
それによって、入射光により生成されたキャリアを効率
良く取り出すことができるので、a−8iの光劣化が生
ぜず、読み取り素子の出力が変動することがない。更に
、読み取り素子の出力が大きくなり、S/N比が改善さ
れる。
良く取り出すことができるので、a−8iの光劣化が生
ぜず、読み取り素子の出力が変動することがない。更に
、読み取り素子の出力が大きくなり、S/N比が改善さ
れる。
また、梨地透明導電フィルムを読み取りセンサに装着し
て、完全密着読み取りを行うことによって、原稿走行時
に発生する静電気による電場がシールドされるので、読
み取り素子と基準素子の配線等に電場の変動による誘動
ノイズが誘起されないので、薄膜トランジスタが誤動作
することがなく、また微小な読み取り信号が変動するこ
とを防止する。梨地透明導電フィルムとは弾性変形が可
能な透明フィルムで面積抵抗がLookΩ/口以下の導
電性があり、センサ面と接触する側の面が凹凸形状をし
ており光が散乱される面となっているフィルムを言う。
て、完全密着読み取りを行うことによって、原稿走行時
に発生する静電気による電場がシールドされるので、読
み取り素子と基準素子の配線等に電場の変動による誘動
ノイズが誘起されないので、薄膜トランジスタが誤動作
することがなく、また微小な読み取り信号が変動するこ
とを防止する。梨地透明導電フィルムとは弾性変形が可
能な透明フィルムで面積抵抗がLookΩ/口以下の導
電性があり、センサ面と接触する側の面が凹凸形状をし
ており光が散乱される面となっているフィルムを言う。
また、梨地面は読み取りセンサ基板側となるようにフィ
ルムを装着するが、これは、透光性基板の背面より原稿
を照明する光源からの光がフィルム表面の梨地面で散乱
されるので、原稿を押しつけて密着した状態で梨地導電
フィルムが変形し、凹面鏡形状となった時にも、反射に
よる集光で読み取り出力が異常となることを防止するこ
とができる。
ルムを装着するが、これは、透光性基板の背面より原稿
を照明する光源からの光がフィルム表面の梨地面で散乱
されるので、原稿を押しつけて密着した状態で梨地導電
フィルムが変形し、凹面鏡形状となった時にも、反射に
よる集光で読み取り出力が異常となることを防止するこ
とができる。
以下本発明の実施例を第1図〜第11図を用いて説明す
る。第1図は本発明の一実施例の読み取りセンサの断面
図、第2図は第1図のH〜■矢視図である。読み取りセ
ンサは、第1図に示すように透光性基板101の一方の
面上に直列に形成された基準素子1と読み取り素子2か
らなる光電変換素子を、第2図に示すよう並列に配置し
て構成されている。このように構成された読み取りセン
サにおいて、光電変換素子の上面に、原稿112がプラ
テンローラ114により押しつけられて送給され、一方
透光性基板101の他方の面側に設けられた光源114
から光が照射される。そして読み取りセンサは、原稿1
12から反射する反射光を検出して原稿を読み取る。
る。第1図は本発明の一実施例の読み取りセンサの断面
図、第2図は第1図のH〜■矢視図である。読み取りセ
ンサは、第1図に示すように透光性基板101の一方の
面上に直列に形成された基準素子1と読み取り素子2か
らなる光電変換素子を、第2図に示すよう並列に配置し
て構成されている。このように構成された読み取りセン
サにおいて、光電変換素子の上面に、原稿112がプラ
テンローラ114により押しつけられて送給され、一方
透光性基板101の他方の面側に設けられた光源114
から光が照射される。そして読み取りセンサは、原稿1
12から反射する反射光を検出して原稿を読み取る。
上記光電変換素子は次のように形成される。まず透光性
基板101上に下部電極102を、そしてその上にオー
ミックコンタクトのためのn型水素化アモルファスシリ
コン層103を形成し、つぎに活性層である真性の水素
化アモルファスシリコン層(以下a−8i層という)1
04を形成する。続いて、オーミックコンタクトのため
の別のn型水素化アモルファスシリコ2層109および
110を互いに隣あって形成し、それぞれの上に読み取
り素子用上部電極105と基準電極用上部電極106を
形成し、全体を透光性保護層107で覆う。これら各層
の形成にはICのパターン形成に用いられるのと同様の
フォトリングラフィ技術が用いられ、所定のパターンの
層、例えばくし歯形状の部分を有する下部電極102及
び同上部電極105が形成される。そして形成された透
光性保護層107の上にはさらに梨地導電フィルム11
5を装着される。
基板101上に下部電極102を、そしてその上にオー
ミックコンタクトのためのn型水素化アモルファスシリ
コン層103を形成し、つぎに活性層である真性の水素
化アモルファスシリコン層(以下a−8i層という)1
04を形成する。続いて、オーミックコンタクトのため
の別のn型水素化アモルファスシリコ2層109および
110を互いに隣あって形成し、それぞれの上に読み取
り素子用上部電極105と基準電極用上部電極106を
形成し、全体を透光性保護層107で覆う。これら各層
の形成にはICのパターン形成に用いられるのと同様の
フォトリングラフィ技術が用いられ、所定のパターンの
層、例えばくし歯形状の部分を有する下部電極102及
び同上部電極105が形成される。そして形成された透
光性保護層107の上にはさらに梨地導電フィルム11
5を装着される。
このように構成された読み取りセンサにおいて、光源1
14から照射された光は、透光性基板101、透光性保
護層107及び梨地導電フィルム115を通り、プラテ
ンローラ113により押し付けられたg@112の表面
にあたって乱反射する。
14から照射された光は、透光性基板101、透光性保
護層107及び梨地導電フィルム115を通り、プラテ
ンローラ113により押し付けられたg@112の表面
にあたって乱反射する。
原稿112からの反射光108は、原稿112表面の反
射濃度(文字のあるなし等)に対応した強度で、読み取
り素子2の上部型[105に形成されたくし歯のすき間
を通って活性層であるa−5i層104に入射し、光電
変換される。
射濃度(文字のあるなし等)に対応した強度で、読み取
り素子2の上部型[105に形成されたくし歯のすき間
を通って活性層であるa−5i層104に入射し、光電
変換される。
しかし、原稿112からの反射光108は、基準電極の
上部電極106がすき間を持たず遮光層の役割をするた
め、基準電極1のa−3i層104には入射しない。
上部電極106がすき間を持たず遮光層の役割をするた
め、基準電極1のa−3i層104には入射しない。
一方光源からの直接光111は下部電極102が存在す
るため、読み取り素子2へは入射せず、透光性基板10
1と、基準素子1の下部電極102のくし歯部分を通っ
て、基準素子1のa−Si層104に入射する。原稿か
らの反射光108と、光源からの直接光111が、a−
3i層104に入射することにより、a−3i層104
中にキャリアの対(電子と正孔)が生成され、これが外
部に取り出されて信号となるが、一般には、これらのキ
ャリアの対は、a−8i層104中で再結合し、欠陥を
作ることによって、a−5i層104の光電変換効率を
低下させることになる。又、この再結合によって、本来
、外部へ取り出されるべきキャリアが失われるため出力
の低下が生じる6本実施例のように、a−5i層104
の膜厚分だけへだったところに、読み取り素子の上部電
極105、基準素子の上部電極106と、下部電極10
2を配置すればこれらの電極間に印加される電圧によっ
て、a−8i層104中に生じる電場を非常に強くする
ことが可能となり、光電変換により生じた電流は透光性
基板101の表面と直角をなす方向に流れ、キャリアの
対の再結合が生ずる前に、キャリアの対を、外部に取り
出すことができる。そのために、高い光電変換出力と、
光劣化のない素子を構成できる。なお、第2図に示す読
み取りセンサは、下部電極102、上部電極105及び
上部電極106の形状がわかりやすいように、第1図で
は示すa−5i層104.保護層107、n ’M水水
素化7ルルフアスシリコン103.109.110、透
光性基板101等を省略して示している。
るため、読み取り素子2へは入射せず、透光性基板10
1と、基準素子1の下部電極102のくし歯部分を通っ
て、基準素子1のa−Si層104に入射する。原稿か
らの反射光108と、光源からの直接光111が、a−
3i層104に入射することにより、a−3i層104
中にキャリアの対(電子と正孔)が生成され、これが外
部に取り出されて信号となるが、一般には、これらのキ
ャリアの対は、a−8i層104中で再結合し、欠陥を
作ることによって、a−5i層104の光電変換効率を
低下させることになる。又、この再結合によって、本来
、外部へ取り出されるべきキャリアが失われるため出力
の低下が生じる6本実施例のように、a−5i層104
の膜厚分だけへだったところに、読み取り素子の上部電
極105、基準素子の上部電極106と、下部電極10
2を配置すればこれらの電極間に印加される電圧によっ
て、a−8i層104中に生じる電場を非常に強くする
ことが可能となり、光電変換により生じた電流は透光性
基板101の表面と直角をなす方向に流れ、キャリアの
対の再結合が生ずる前に、キャリアの対を、外部に取り
出すことができる。そのために、高い光電変換出力と、
光劣化のない素子を構成できる。なお、第2図に示す読
み取りセンサは、下部電極102、上部電極105及び
上部電極106の形状がわかりやすいように、第1図で
は示すa−5i層104.保護層107、n ’M水水
素化7ルルフアスシリコン103.109.110、透
光性基板101等を省略して示している。
基準素子1と読み取り素子3との距離が、あるいは、主
走査方向(複数の光電変換素子が一線に並ぶ方向)に隣
り合う読み取り素子2間または基準素子1間の距離が透
光性基板101上で十分にあれば、これらの素子間のク
ロストークは生じないが、素子間の距離が比較的小さい
場合で、クロストークを避ける場合には、第3図に示す
様に、a−5i層104の素子を分離して島状に形成し
ても良い6なお、基準素子1と読み取り素子2、又は、
主走査方向の素子間距離によっては、素子分離を基準素
子1と読み取り素子2の間のみに施したり、主走査方向
の素子間にのみ施しても良いことは当然である。第1図
および第2図等に示す実施例によれば、基準素子1の下
部電極102及び、読み取り素子2の上部電極105の
、くし歯の数や、くし歯の切込みの量を調節することに
より、基準素子1及び読み取り素子2に入射する光の量
を制限でき、読み取りの出力の大きさを任意に調整でき
る。そのため、使用目的に合った特性の読み取りセンサ
を容易に製造可能で、設計の自由度が増す。基準素子1
の下部電極102及び、読み取り素子2の上部電極10
5の形状は、第4図に示すような、開口部401a、4
01bを持つ形状でも良い。
走査方向(複数の光電変換素子が一線に並ぶ方向)に隣
り合う読み取り素子2間または基準素子1間の距離が透
光性基板101上で十分にあれば、これらの素子間のク
ロストークは生じないが、素子間の距離が比較的小さい
場合で、クロストークを避ける場合には、第3図に示す
様に、a−5i層104の素子を分離して島状に形成し
ても良い6なお、基準素子1と読み取り素子2、又は、
主走査方向の素子間距離によっては、素子分離を基準素
子1と読み取り素子2の間のみに施したり、主走査方向
の素子間にのみ施しても良いことは当然である。第1図
および第2図等に示す実施例によれば、基準素子1の下
部電極102及び、読み取り素子2の上部電極105の
、くし歯の数や、くし歯の切込みの量を調節することに
より、基準素子1及び読み取り素子2に入射する光の量
を制限でき、読み取りの出力の大きさを任意に調整でき
る。そのため、使用目的に合った特性の読み取りセンサ
を容易に製造可能で、設計の自由度が増す。基準素子1
の下部電極102及び、読み取り素子2の上部電極10
5の形状は、第4図に示すような、開口部401a、4
01bを持つ形状でも良い。
原稿を原寸で読み取る、いわゆる完全密着型読み取りセ
ンサでは、センサ自体の寸法も原稿サイズと同じ幅が必
要であり、また光源14も、原稿サイズをすべて照明す
る必要がある。しかしながら光源として利用されている
螢光燈は中央と端では照度が異なり、また、発光ダイオ
ードを多数個並べた光源では、個々の発光ダイオードの
ばらつきにより照度むらを生じていた。原稿からの反射
光の強度は原稿面の照度に比例するため、光源が原稿を
照らす照度むらはそのまま読み取りセンサの出力むらと
なり、これはシェーディングとよばれている。
ンサでは、センサ自体の寸法も原稿サイズと同じ幅が必
要であり、また光源14も、原稿サイズをすべて照明す
る必要がある。しかしながら光源として利用されている
螢光燈は中央と端では照度が異なり、また、発光ダイオ
ードを多数個並べた光源では、個々の発光ダイオードの
ばらつきにより照度むらを生じていた。原稿からの反射
光の強度は原稿面の照度に比例するため、光源が原稿を
照らす照度むらはそのまま読み取りセンサの出力むらと
なり、これはシェーディングとよばれている。
このシェーディングのある読み取りセンサの出力を一定
の基準で白黒2値化を行うと、原稿の実際の反射濃度か
らずれたものとなり画像への劣化を引き起こすため好ま
しくない。一般には1、均一な白い原稿を読み取った時
のシューディングをあらかじめメモリに蓄え、実際に原
稿を読み取るときには、記憶したシェーディングの値を
参照して、あたかもシェーディングがないように補正を
行なっている。しかしながら、このような補正は補正回
路のA/D変換の精度や入力電圧振幅の制限から、実際
、工業的には大幅なシェーディング補正は離しい。
の基準で白黒2値化を行うと、原稿の実際の反射濃度か
らずれたものとなり画像への劣化を引き起こすため好ま
しくない。一般には1、均一な白い原稿を読み取った時
のシューディングをあらかじめメモリに蓄え、実際に原
稿を読み取るときには、記憶したシェーディングの値を
参照して、あたかもシェーディングがないように補正を
行なっている。しかしながら、このような補正は補正回
路のA/D変換の精度や入力電圧振幅の制限から、実際
、工業的には大幅なシェーディング補正は離しい。
本発明は、このようなシェーディングを読み取りセンサ
の構成の工夫によりなくそうとするものである。
の構成の工夫によりなくそうとするものである。
第5図にそのシェーディングをなくす読み取りセンサの
回路構成を示す。読み取り素子2の光電変換出力は原稿
の照度と反射率に比例し、基準素子1の光電変換出力は
光源の放射強度に比例するので、読み取り素子2の光電
変換出力を基準素子1の光電変換出力を用いて補正すれ
ば、原稿の照度むら、即ち、光源の放射強度のむらに依
存しない1反射率に依存した出力を取り出すことができ
る6本実施例では、読み取り素子2に基準素子1を直列
に接続しており、一定印加電圧VssとVDDの差を分
圧しており、読み取り素子2と基準素子1の接続点Aに
読み取り出力信号が電圧として出てくる構成となってい
る。
回路構成を示す。読み取り素子2の光電変換出力は原稿
の照度と反射率に比例し、基準素子1の光電変換出力は
光源の放射強度に比例するので、読み取り素子2の光電
変換出力を基準素子1の光電変換出力を用いて補正すれ
ば、原稿の照度むら、即ち、光源の放射強度のむらに依
存しない1反射率に依存した出力を取り出すことができ
る6本実施例では、読み取り素子2に基準素子1を直列
に接続しており、一定印加電圧VssとVDDの差を分
圧しており、読み取り素子2と基準素子1の接続点Aに
読み取り出力信号が電圧として出てくる構成となってい
る。
実際に読み取りセンサとして使用する際には、この出力
電圧を順次、外部回路等により読み出せば良い。シェー
ディングがなだらかな場合には読み取り素子複数個に対
して基準素子を1個設ける構成として良い。接続点Aの
電圧V s x aは読み取り素子2と基準素子1の抵
抗をそれぞれR2及びR。
電圧を順次、外部回路等により読み出せば良い。シェー
ディングがなだらかな場合には読み取り素子複数個に対
して基準素子を1個設ける構成として良い。接続点Aの
電圧V s x aは読み取り素子2と基準素子1の抵
抗をそれぞれR2及びR。
わされる。読み取り素子2の導電率σ2は光源114の
放射強度■及び原稿の反射率γに比例し。
放射強度■及び原稿の反射率γに比例し。
また基準素子1の導電率σ□は光源114の放射強度に
比例する6そのため、信号電圧V s r cはと表わ
され、光源のばらつきに依存せず、原稿の反射率によっ
てのみ変化する出力が得られる。ここでBは反射率r=
1の時の読み取り素子2と基準素子1の導電率の比であ
り、素子のレイアウトや光源と素子の配置により設計で
きる。出力電圧はこの比と逆比例関係にある。そのため
Bが大きい場合も小さい場合も出力電圧変化は小さくな
るので適当な値にする必要がある。
比例する6そのため、信号電圧V s r cはと表わ
され、光源のばらつきに依存せず、原稿の反射率によっ
てのみ変化する出力が得られる。ここでBは反射率r=
1の時の読み取り素子2と基準素子1の導電率の比であ
り、素子のレイアウトや光源と素子の配置により設計で
きる。出力電圧はこの比と逆比例関係にある。そのため
Bが大きい場合も小さい場合も出力電圧変化は小さくな
るので適当な値にする必要がある。
本実施例では、読み取り素子2と基準素子1は同一の光
電変換膜であり、同一の工程で作成しているため、読み
取り素子2と基準素子1の2つの光電変換素子を設けて
も工程が増えることはない。
電変換膜であり、同一の工程で作成しているため、読み
取り素子2と基準素子1の2つの光電変換素子を設けて
も工程が増えることはない。
又、膜および工程が同一なので材料のばらつきやバタン
精度のばらつきは共通に受けるため、2つの素子の導電
率の比による読み出しを行っている本発明では、素子の
ばらつきが小さくなる効果がある。
精度のばらつきは共通に受けるため、2つの素子の導電
率の比による読み出しを行っている本発明では、素子の
ばらつきが小さくなる効果がある。
本実施例では、光電変換出力として電圧を用いているが
、この他、電流、電荷も考えられる。出力としては、素
子に入射する光量と比例関係にあるものであれば、どれ
でもよい。いずれにせよ、本実施例の様な、積層型の光
導電型光電変換素子を用いた場合、出力信号を大きくと
れるため、ノイズ等に強く、原稿の白と黒の中間値を多
階調で読み取る必要がある場合にも、これを容易に達成
できる。
、この他、電流、電荷も考えられる。出力としては、素
子に入射する光量と比例関係にあるものであれば、どれ
でもよい。いずれにせよ、本実施例の様な、積層型の光
導電型光電変換素子を用いた場合、出力信号を大きくと
れるため、ノイズ等に強く、原稿の白と黒の中間値を多
階調で読み取る必要がある場合にも、これを容易に達成
できる。
本発明に係る別の実施例の平面図を第6図に示す。本実
施例の全体の積層構成は、第1図及び第2図に示す実施
例と同様であるが、原稿を照射する光量を増すため、読
み取り素子2の近傍の下部電極102に、光を導入する
ための開口部601を設け、更にa−3i層により、光
が妨げられないように基準素子部のa −S i層60
2aと、読み取り素子部のa−3i層602bとに分離
整形したものである。光源より放射された光は、第6図
には図示しないが、透光性基板101と、下部電極の開
口部601と図示しない保護層107を通過した後、原
稿により反射されて再び保護層107を通過して、読み
取り素子2に入射する。
施例の全体の積層構成は、第1図及び第2図に示す実施
例と同様であるが、原稿を照射する光量を増すため、読
み取り素子2の近傍の下部電極102に、光を導入する
ための開口部601を設け、更にa−3i層により、光
が妨げられないように基準素子部のa −S i層60
2aと、読み取り素子部のa−3i層602bとに分離
整形したものである。光源より放射された光は、第6図
には図示しないが、透光性基板101と、下部電極の開
口部601と図示しない保護層107を通過した後、原
稿により反射されて再び保護層107を通過して、読み
取り素子2に入射する。
一方基準素子1への入射光は、第1図で示した実施例と
同様の光路を通って入射する。
同様の光路を通って入射する。
本実施例によれば、効率良く、読み取り素子へ、原稿か
らの照射光を導けるため、光源の照度を低下させること
が可能となり、そのため、基準素子1のみの、光源から
直接光を受けるために起きるアンバランスな劣化を防止
することが可能となる。
らの照射光を導けるため、光源の照度を低下させること
が可能となり、そのため、基準素子1のみの、光源から
直接光を受けるために起きるアンバランスな劣化を防止
することが可能となる。
本発明に関する他の実施例を第7図及び第8図により説
明する。第7図は本実施例の断面図であり、第8図はそ
の平面図である。透光性基板1011に、基準素子1と
読み取り素子2と、それぞれの下部電極701及び70
2を形成し、それぞれの上にn型水素化アモルファスシ
リコ2層703a、703bを形成する。下部電極70
1には開口部801がある。そして、a−5i層704
a、704bを形成した後、再びn型水素化アモルファ
スシリコン11705a、705bを形成し、基準素子
1と読み取り素子2の共通の上部電極706を形成し、
さらにその上に透光性保護層107を形成している。な
お、第8図においては透光性基板101とn型水素化ア
モルファスシリml/層703a、703b、705a
。
明する。第7図は本実施例の断面図であり、第8図はそ
の平面図である。透光性基板1011に、基準素子1と
読み取り素子2と、それぞれの下部電極701及び70
2を形成し、それぞれの上にn型水素化アモルファスシ
リコ2層703a、703bを形成する。下部電極70
1には開口部801がある。そして、a−5i層704
a、704bを形成した後、再びn型水素化アモルファ
スシリコン11705a、705bを形成し、基準素子
1と読み取り素子2の共通の上部電極706を形成し、
さらにその上に透光性保護層107を形成している。な
お、第8図においては透光性基板101とn型水素化ア
モルファスシリml/層703a、703b、705a
。
705bとa−5i層704a、704bと透光性保護
層107は省略しである。本実施例では読み取り素子2
と基準素子1の分圧出力を、共通の上部電極706より
取り出している。
層107は省略しである。本実施例では読み取り素子2
と基準素子1の分圧出力を、共通の上部電極706より
取り出している。
本発明の実施例を第9図のブロック図を用いて説明する
。基準素子1と読み取り素子2を電気的に直列に接続し
、一定印加電圧のVDDとVssの分圧出力を1個、1
個の素子について、アンプとスイッチを介してシフトレ
ジスタに接続している。
。基準素子1と読み取り素子2を電気的に直列に接続し
、一定印加電圧のVDDとVssの分圧出力を1個、1
個の素子について、アンプとスイッチを介してシフトレ
ジスタに接続している。
クロック信号に同期して、スイッチを順次切り替えアン
プにより増帽された出力信号を順次転送してゆけば、休
止期間なく連続な出力が得られる。
プにより増帽された出力信号を順次転送してゆけば、休
止期間なく連続な出力が得られる。
第10図は第9図のブロック図に示した回路を。
透光性基板101上に形成した素子の構成により示すも
のである。ここでは分かりやすくするため、細部を省略
しているが、透光性基板101の上に、読み取り素子の
受光素子部151と読み取り信号の出力線152と、I
C接続部154,155と。
のである。ここでは分かりやすくするため、細部を省略
しているが、透光性基板101の上に、読み取り素子の
受光素子部151と読み取り信号の出力線152と、I
C接続部154,155と。
FPC接続部156を形成し、駆動用IC153とFP
C(フレキシブルプリント基板)157を接続している
。第9図におけるアンプ、スイッチ、シフトレジスタは
ドライバIC153中に収められており、読み取り出力
はFPC157を通じて、読み取りセンサより外部へと
取り出される。
C(フレキシブルプリント基板)157を接続している
。第9図におけるアンプ、スイッチ、シフトレジスタは
ドライバIC153中に収められており、読み取り出力
はFPC157を通じて、読み取りセンサより外部へと
取り出される。
また本発明の読み取りセンサをファクシミリに実装した
時の一例の断面図を第11図により説明する。この断面
図においては本発明の読み取りセンサアセンブリ300
、プラテンローラ113、感熱記録ヘッド301、感熱
紙302を示しており、他の回路・電源等は省略してい
る。読み取りセンサアセンブリ300は、第1図の断面
図に示すような構成となっており、梨地透明導電フィル
ム115及び光源114も含んでいるものである。
時の一例の断面図を第11図により説明する。この断面
図においては本発明の読み取りセンサアセンブリ300
、プラテンローラ113、感熱記録ヘッド301、感熱
紙302を示しており、他の回路・電源等は省略してい
る。読み取りセンサアセンブリ300は、第1図の断面
図に示すような構成となっており、梨地透明導電フィル
ム115及び光源114も含んでいるものである。
この図に示すように原稿を303の矢印方向より原稿面
を下側にして入れると、原稿はプラテンローラ113a
により読み取りセンサアセンブリ300に押付けられ、
すでに説明したような読み取りを行う。また、感熱ヘッ
ド301は感熱紙302をプラテンローラ113bで発
熱素子に押し付けて、所定の記録面を得る。
を下側にして入れると、原稿はプラテンローラ113a
により読み取りセンサアセンブリ300に押付けられ、
すでに説明したような読み取りを行う。また、感熱ヘッ
ド301は感熱紙302をプラテンローラ113bで発
熱素子に押し付けて、所定の記録面を得る。
このように、ファクシミリの実装は、読み取りセンサア
センブリ300及びプラテンローラ113aによって形
成される読み取り系と、感熱ヘッド301、プラテンロ
ーラ113b、感熱紙302で構成される記録系の配置
によりデザインが制約される。本発明の読み取りセンサ
を用いれば、第11図のようにコンパクトな設計が可能
となり、設計自由度が増す効果がある。
センブリ300及びプラテンローラ113aによって形
成される読み取り系と、感熱ヘッド301、プラテンロ
ーラ113b、感熱紙302で構成される記録系の配置
によりデザインが制約される。本発明の読み取りセンサ
を用いれば、第11図のようにコンパクトな設計が可能
となり、設計自由度が増す効果がある。
これは、従来多く用いられていた縮小光学系を要するC
CD (電荷結合素子)センサ読み取り系では困難であ
る。即ち、CCDセンサは小さなセンサ面に原稿表面を
縮小光学系で結像する必要があるため、光路長は25a
l+程度必要であった。また組立後の調整も必要であり
、設計は読み取り系により大きく制約されていた。これ
に対して、本構成の、原稿登院み取りセンサアセンブリ
と密着させて読み取るいわゆる、完全密着型読み取りセ
ンサでは光路長は100μm前後であり、大幅な小型化
及び設計自由度が増す。
CD (電荷結合素子)センサ読み取り系では困難であ
る。即ち、CCDセンサは小さなセンサ面に原稿表面を
縮小光学系で結像する必要があるため、光路長は25a
l+程度必要であった。また組立後の調整も必要であり
、設計は読み取り系により大きく制約されていた。これ
に対して、本構成の、原稿登院み取りセンサアセンブリ
と密着させて読み取るいわゆる、完全密着型読み取りセ
ンサでは光路長は100μm前後であり、大幅な小型化
及び設計自由度が増す。
次に梨地透明導電フィルム115について第1図により
説明する。原稿112はプラテンローラ113により透
明な梨地遮電フィルムを介して、読み取り素子に押しつ
けられ、所定の読み取りを行うことは先に説明した。こ
の時、梨地透明導電フィルム表面は原稿11の押付は走
行により静電帯電する。その帯電状態が変動すると(原
稿が走行すると)周囲の電場が変化し、梨地導電フィル
ム115がなければ、読み取りセンサの配線にノイズが
誘導され、読み取りセンサ出力が異常となる原因となる
。透明な梨地導電フィルムはポリエステル、゛アクリル
等の透明なフィルムベースとシールドのためのITO(
インジウムスズ酸化物)やスズ酸化物より成る透明導電
層及び梨地処理面から成っている。ITOは原稿の走行
によって原稿112が走行するベースフィルム面に発生
する静電気によるノイズをシールドする役割を持ち、ま
た梨地面は、これがない場合に発生する素子の異常出力
を防止する。
説明する。原稿112はプラテンローラ113により透
明な梨地遮電フィルムを介して、読み取り素子に押しつ
けられ、所定の読み取りを行うことは先に説明した。こ
の時、梨地透明導電フィルム表面は原稿11の押付は走
行により静電帯電する。その帯電状態が変動すると(原
稿が走行すると)周囲の電場が変化し、梨地導電フィル
ム115がなければ、読み取りセンサの配線にノイズが
誘導され、読み取りセンサ出力が異常となる原因となる
。透明な梨地導電フィルムはポリエステル、゛アクリル
等の透明なフィルムベースとシールドのためのITO(
インジウムスズ酸化物)やスズ酸化物より成る透明導電
層及び梨地処理面から成っている。ITOは原稿の走行
によって原稿112が走行するベースフィルム面に発生
する静電気によるノイズをシールドする役割を持ち、ま
た梨地面は、これがない場合に発生する素子の異常出力
を防止する。
梨地面がない場合には、プラテンローラ113の押し付
けによってフィルムが変形し、読み取り素子2の近傍で
凹面鏡形状となることがある。これにより、フィルムの
センサ面側が梨地面でない場合には、フィルムのセンサ
面側の光源からの光が、凹面鏡のような効果で集光され
、異常に高い出力となることがある。梨地面は凹凸形状
をしており、これによって透過光及び反射光が散乱され
る面を言うが、これにより、光源の光は散乱され。
けによってフィルムが変形し、読み取り素子2の近傍で
凹面鏡形状となることがある。これにより、フィルムの
センサ面側が梨地面でない場合には、フィルムのセンサ
面側の光源からの光が、凹面鏡のような効果で集光され
、異常に高い出力となることがある。梨地面は凹凸形状
をしており、これによって透過光及び反射光が散乱され
る面を言うが、これにより、光源の光は散乱され。
フィルムが凹型に変形しても安定な読み取りが可能とな
る。なお、梨地透明導電フィルムはITOを片面につけ
たフィルムと、梨地加工したフィルムとをITO面及び
非梨地面で接着して得ることができる。
る。なお、梨地透明導電フィルムはITOを片面につけ
たフィルムと、梨地加工したフィルムとをITO面及び
非梨地面で接着して得ることができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、読み取りセンサを、光電変換素子中の
上部電極と下部電極が活性層なる水素化アモルファスシ
リコン層を挾んでその膜厚程度の非常に小さい距離に位
置するように、構成したので、水素化アモルファスシリ
コン層中に印加する電場を非常に大きくでき、また生成
されたキャリアは再結合することなく外部に取り出され
、水素化アモルファスシリコンの光劣化を防止でき、読
み取りセンサのS/N比を大きくすることができる。
上部電極と下部電極が活性層なる水素化アモルファスシ
リコン層を挾んでその膜厚程度の非常に小さい距離に位
置するように、構成したので、水素化アモルファスシリ
コン層中に印加する電場を非常に大きくでき、また生成
されたキャリアは再結合することなく外部に取り出され
、水素化アモルファスシリコンの光劣化を防止でき、読
み取りセンサのS/N比を大きくすることができる。
また、本発明によれば、別の読み取りセンサを光源から
の直接光を光電変換する基準素子と、原稿からの反射光
を光電変化する読み取り素子とからなる光電変換素子を
備え、基準素子と読み取り素子を直列に接続し、供給電
圧をそれら画素子で分圧し、その分圧のいずれかを読み
取り信号に変換するように構成したので、光電変換素子
の読み取り信号出力は、読み取り素子と基準素子の導電
率によりきめることができる、この読み取りセンサは光
源のばらつきによるシェーディングを補正して原稿を読
み取ることができる。
の直接光を光電変換する基準素子と、原稿からの反射光
を光電変化する読み取り素子とからなる光電変換素子を
備え、基準素子と読み取り素子を直列に接続し、供給電
圧をそれら画素子で分圧し、その分圧のいずれかを読み
取り信号に変換するように構成したので、光電変換素子
の読み取り信号出力は、読み取り素子と基準素子の導電
率によりきめることができる、この読み取りセンサは光
源のばらつきによるシェーディングを補正して原稿を読
み取ることができる。
さらに上記読み取りセンサ及び別の読み取りセンサにお
いて、光電変換素子上に透明な梨地導電フィルムを装着
したので、原稿走行時に発生する静電気による電場がシ
ールドでき、また原稿により押圧されて梨地導電フィル
ムが変形しても、梨地面で光源からの光は乱反射で散乱
させることができ、静電気や梨地フィルムの変形が、読
み取り素子の出力に影響を及ぼすことを防止できる。
いて、光電変換素子上に透明な梨地導電フィルムを装着
したので、原稿走行時に発生する静電気による電場がシ
ールドでき、また原稿により押圧されて梨地導電フィル
ムが変形しても、梨地面で光源からの光は乱反射で散乱
させることができ、静電気や梨地フィルムの変形が、読
み取り素子の出力に影響を及ぼすことを防止できる。
上記のように原稿を密着させる密着型の読み取、 リ
センサまたは別の読み取りセンサを採用することにより
、ファクシミリの小型化を図ることができ、また設計の
自由度を増すことができる。
センサまたは別の読み取りセンサを採用することにより
、ファクシミリの小型化を図ることができ、また設計の
自由度を増すことができる。
第1図は本発明の読み取りセンサの一実施例の構成図、
第2図は第1図の■−■矢視図で積層パターンを示す図
、第3図はa−5i層をした分離した積層パターンを示
す図、第4図は電極部に開口部を設けた積層パターンを
示す図、第5図は一実施例の回路図、第6図は他の積層
パターンを示す図、第7図は本発明の別の実施例を示す
図、第8図は別の実施例の積層パターンを示す図、第9
図は別の実施例の回路図、第10図は第9図の回路の素
子配置を示す図、第11図は本発明の読み取りセンサを
実装したファクシミリの例を示す図である。 1・・・基準素子、2・・・読み取り素子、101・・
・透光性基板、102,701・・・下部電極、103
゜109.110,703,705・・D製水素化アモ
ルファスシリコン層、104,704・・真性水素化ア
モルファスシリコン(a−Si)M、105.106,
706・・・上部電極、IO2゜705・・・反射光、
111・・・直接光、112・・・原稿113・・・プ
ラテンローラ、114・・・光源、115・・梨地導電
フィルム。
第2図は第1図の■−■矢視図で積層パターンを示す図
、第3図はa−5i層をした分離した積層パターンを示
す図、第4図は電極部に開口部を設けた積層パターンを
示す図、第5図は一実施例の回路図、第6図は他の積層
パターンを示す図、第7図は本発明の別の実施例を示す
図、第8図は別の実施例の積層パターンを示す図、第9
図は別の実施例の回路図、第10図は第9図の回路の素
子配置を示す図、第11図は本発明の読み取りセンサを
実装したファクシミリの例を示す図である。 1・・・基準素子、2・・・読み取り素子、101・・
・透光性基板、102,701・・・下部電極、103
゜109.110,703,705・・D製水素化アモ
ルファスシリコン層、104,704・・真性水素化ア
モルファスシリコン(a−Si)M、105.106,
706・・・上部電極、IO2゜705・・・反射光、
111・・・直接光、112・・・原稿113・・・プ
ラテンローラ、114・・・光源、115・・梨地導電
フィルム。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、透光性基板の一方の面上に形成された光電変換素子
と、透光性基板の他方の面側に配置された光源とから成
り、光電変換素子上に密着して送給される原稿に光源か
ら光を照射し、反射光により原稿を読み取る読み取りセ
ンサにおいて、前記光電変換素子は、前記透光性基板上
に順次積層した下部電極とn型水素化アモルファスシリ
コン層と真性水素化アモルファスシリコン層と別のn型
水素化アモルファスシリコン層と上部電極とから構成し
たことを特徴とする読み取りセンサ。 2、透光性基板の一方の面上に形成された光電変換素子
と、透光性基板の他方の面側に配置された光源とから成
り、光電変換素子上に密着して送給される原稿に光源か
ら光を照射し、反射光により原稿を読み取る読み取りセ
ンサにおいて、前記光電変換素子は、前記光源から透光
性基板を透過する直接光を光電変換する基準素子と、前
記光源から光があたり原稿から反射する反射光を光電変
換する読み取り素子とから構成し、供給電圧をそれぞれ
透光性基板上に形成した直列接続の前記基準素子と前記
読み取り素子とで分圧し、該分圧した電圧のいずれかを
読み取り信号に変換することを特徴とする読み取りセン
サ。 3、前記基準素子と前記読み取り素子は、それぞれ透光
性基板上に順次積層した下部電極とn型水素化アモルフ
ァスシリコン層と真性水素化アモルファスシリコン層と
別のn型水素化アモルファスシリコン層と上部電極とか
ら構成したことを特徴とする請求項2記載の読み取りセ
ンサ。 4、前記基準素子の下部電極をくし歯形状としたことを
特徴とする請求項3記載の読み取りセンサ。 5、前記読み取り素子の上部電極をくし歯形状としたこ
とを特徴とする請求項4記載の読み取りセンサ。 6、請求項1〜5いずれかに記載の読み取りセンサの光
電変換素子の上面に、該上面に接する側の面が凹凸であ
る梨地透明導電フィルムを装着したことを特徴とする読
み取りセンサ。 7、前記光電変換素子の真性水素化アモルファスシリコ
ン層に流れる電流は透光性基板の表面と直角方向に流れ
ることを特徴とする請求項6記載の読み取りセンサ。 8、請求項7に記載の読み取りセンサを装備したファク
シミリ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284082A JPH04158574A (ja) | 1990-10-22 | 1990-10-22 | 読み取りセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284082A JPH04158574A (ja) | 1990-10-22 | 1990-10-22 | 読み取りセンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04158574A true JPH04158574A (ja) | 1992-06-01 |
Family
ID=17674025
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2284082A Pending JPH04158574A (ja) | 1990-10-22 | 1990-10-22 | 読み取りセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04158574A (ja) |
-
1990
- 1990-10-22 JP JP2284082A patent/JPH04158574A/ja active Pending
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