JPH04167322A - ヒューズの形成方法及びヒューズ - Google Patents
ヒューズの形成方法及びヒューズInfo
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- JPH04167322A JPH04167322A JP29459890A JP29459890A JPH04167322A JP H04167322 A JPH04167322 A JP H04167322A JP 29459890 A JP29459890 A JP 29459890A JP 29459890 A JP29459890 A JP 29459890A JP H04167322 A JPH04167322 A JP H04167322A
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- Fuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、ヒユーズエレメントと端子を接合して行なう
ヒユーズの形成方法、及びこの方法により形成したヒユ
ーズに関する。
ヒユーズの形成方法、及びこの方法により形成したヒユ
ーズに関する。
従来より、種々の電気回路中において、規定以上の電流
が流れたときに回路を遮断するためにヒユーズが用いら
れている。このヒユーズとして、例えば自動車等では、
過電流により溶断するヒユーズエレメントの両端に端子
を接合し、これを絶縁耐熱樹脂製のハウジング内に固定
したカセットタイプのものが用いられている。このヒユ
ーズの1例を第12図から第15図に示している。 図示したヒユーズは、第12図に示すようにヒユーズエ
レメント31の両端にかしめ部32aをかしめて端子3
2を接合し、これを第13図のようにヒユーズエレメン
ト31の中央で折り曲げて、ケース本体33とケースカ
バー34(第1411)とからなるケース35内に、中
央縦断面図である第15図に示すように固定したもので
ある。このタイプのヒユーズでは、エレメント31の材
質や寸法は適宜設定すれば良いが、例えば20A〜50
A程度の中電流用として用いる場合には、一般に、材料
としてPb、Sn、 I n、Zn、Ag及びsb等の
中の2種以上の金属からなる低融点(一般に300℃〜
450℃程度)の合金が用いられ、その線径が0.7〜
2.0mm。 長さが15++un〜25mm程度に設定される。また
、端子32の材料としては、一般に銅または銅合金(黄
銅など)が用いられる。
が流れたときに回路を遮断するためにヒユーズが用いら
れている。このヒユーズとして、例えば自動車等では、
過電流により溶断するヒユーズエレメントの両端に端子
を接合し、これを絶縁耐熱樹脂製のハウジング内に固定
したカセットタイプのものが用いられている。このヒユ
ーズの1例を第12図から第15図に示している。 図示したヒユーズは、第12図に示すようにヒユーズエ
レメント31の両端にかしめ部32aをかしめて端子3
2を接合し、これを第13図のようにヒユーズエレメン
ト31の中央で折り曲げて、ケース本体33とケースカ
バー34(第1411)とからなるケース35内に、中
央縦断面図である第15図に示すように固定したもので
ある。このタイプのヒユーズでは、エレメント31の材
質や寸法は適宜設定すれば良いが、例えば20A〜50
A程度の中電流用として用いる場合には、一般に、材料
としてPb、Sn、 I n、Zn、Ag及びsb等の
中の2種以上の金属からなる低融点(一般に300℃〜
450℃程度)の合金が用いられ、その線径が0.7〜
2.0mm。 長さが15++un〜25mm程度に設定される。また
、端子32の材料としては、一般に銅または銅合金(黄
銅など)が用いられる。
ところが、このような構成では、ヒユーズエレメント3
1が柔らかいために、エレメント31に対する端子32
のかしめ強度が十分に得られず、その間の接触抵抗が不
安定となって、導通状態も不安定となることかある。し
たかつて、ヒユーズが溶断する際の電流の大きさや通電
時間などの溶断条件がばらつき、ヒユーズとしての長期
的な信頼性が確保できないという問題があった。 したがって、本発明の解決すべき技術的課題は、エレメ
ントと端子との接合を確実にして、ヒユーズとしての信
頼性を向上させることにある。
1が柔らかいために、エレメント31に対する端子32
のかしめ強度が十分に得られず、その間の接触抵抗が不
安定となって、導通状態も不安定となることかある。し
たかつて、ヒユーズが溶断する際の電流の大きさや通電
時間などの溶断条件がばらつき、ヒユーズとしての長期
的な信頼性が確保できないという問題があった。 したがって、本発明の解決すべき技術的課題は、エレメ
ントと端子との接合を確実にして、ヒユーズとしての信
頼性を向上させることにある。
【課題を解決するための手段及び作用・効果】本発明に
係るヒユーズの形成方法は、ヒユーズエレメントと、か
しめ部を有する端子とを接合する方法であって、上述の
技術的課題を解決するために以下のように構成されてい
る。 すなわち、ヒユーズエレメントに対して端子をかしめた
状態でヒユーズエレメントの表面を露出すべき切欠き凹
部をかしめ部に予め形成し、この切欠き凹部内で、エレ
メントと端子とをはんだ等のろうを用いて接合すること
を特徴としている。 そして、この方法により、かしめ部がヒユーズエレメン
トの表面を露出する切欠き凹部を有し、エレメントと端
子とが切欠き凹部内でろう付けjこより接合されたこと
を特徴とするヒユーズが提供される。 このようにしてヒユーズを形成すると、ヒユーズエレメ
ントに対して端子を単にかしめるだけで接合するよりも
、その接合状態が安定して接触抵抗が小さくなるので導
通が安定する。したがって、上述したような溶断条件の
ばらつきが少なくなり、ヒユーズとしての信頼性が大き
く向上する。
係るヒユーズの形成方法は、ヒユーズエレメントと、か
しめ部を有する端子とを接合する方法であって、上述の
技術的課題を解決するために以下のように構成されてい
る。 すなわち、ヒユーズエレメントに対して端子をかしめた
状態でヒユーズエレメントの表面を露出すべき切欠き凹
部をかしめ部に予め形成し、この切欠き凹部内で、エレ
メントと端子とをはんだ等のろうを用いて接合すること
を特徴としている。 そして、この方法により、かしめ部がヒユーズエレメン
トの表面を露出する切欠き凹部を有し、エレメントと端
子とが切欠き凹部内でろう付けjこより接合されたこと
を特徴とするヒユーズが提供される。 このようにしてヒユーズを形成すると、ヒユーズエレメ
ントに対して端子を単にかしめるだけで接合するよりも
、その接合状態が安定して接触抵抗が小さくなるので導
通が安定する。したがって、上述したような溶断条件の
ばらつきが少なくなり、ヒユーズとしての信頼性が大き
く向上する。
以下に、第1図から第11図に示した本発明の実施例に
係るヒユーズとその形成方法について詳細に説明する。 第1図はヒユーズエレメントlの斜視図、第2図は端子
2の斜視図である。このヒユーズエレメント1は20A
〜50A程度の中電流用として用いるものであって、従
来例で示したものと同様の線材を用い、同程度の寸法に
形成されている。一方、端子2も従来例と同様に銅また
は銅合金で形成されたものであるが、その形状は従来の
、ものとは異なり、かしめ部2aに切欠き凹部2bが形
成されている。ヒユーズエレメントlの両端部にかしめ
部2aをかしめて端子2を接合した状態を第3図に示し
ており、その■−TV線断面を第4図に示している。 これらの図に示されたのは、かしめ部2aの同室端部2
cの間に隙間が生じた状態であるが、実際には強くかし
めることにより各内置端部2c間はほぼ密着するように
なる。またこのとき、かしめ部2aに形成された切欠き
凹部2bが一体となり、その部分ではヒユーズエレメン
ト1の表面が露出する。 そして、一体となった切欠き凹部2b内にはんだ等のろ
うを一定量供給し、適当な加熱方法によってヒユーズエ
レメントlと端子2とを接合する。 この状態を第5図、及び第5図の■−■線断面である第
6図に示している。はんだ3は、加熱により切欠き凹部
2b内に均一に広がるので、固化したときにエレメント
1と端子2とが良好に接合される。なお、はんだ3の切
欠き凹部2b内での広がりを良くするために、はんだ3
の中にフラックスを混合したり、フラックスをはんだ3
とは別に供給したりするようにするのが好ましい。また
、はんだ3は、レーザービームや赤外線等を用いて非接
触で加熱するのが、自動化を容易に行なえるという観点
から好ましい。 このようにして接合されたエレメントlと端子2は、従
来例で説明したものと同様にエレメント1の中央部で2
つに折り曲げられ、ケース内に固定されて、自動車等の
電気回路中に用いられる。 このヒユーズでは、ヒユーズエレメントIと端子2とが
安定して接合されているので、その間の接触抵抗は小さ
く、導通が安定する。また、ヒユーズとしての溶断条件
(電流と時間の関係など)のばらつきが小さくなり、そ
の信頼性が向上する。 次に、第7図から第11図に示した第2実施例について
説明する。 第7図は帯状のヒユーズエレメント11を示しており、
第1実施例のものとは形状は異なっているが、同じく中
電流用として使用するために、同一の材料を用いて長さ
及び断面積を同一に形成している。また、第8図に示し
た端子I2は、かしめ部が長片12aと短片12bとて
構成されており、長片12aに切欠き凹部12cが形成
されている。 そして、ヒユーズエレメント11の両端に長片12aと
短片12bとからなるかしめ部をかしめて端子12を接
合し、さらに、切欠き凹部12c内ではんだ13を用い
てエレメント11と端子12とを接合した状態を第9図
、及びそのX−X線断面図である第10図に示している
。 この構成では、第1実施例と同様にヒユーズとしての信
頼性が向上するほか、ヒユーズエレメント11が帯状で
あって接合部が平坦であるため、はんだの供給や塗布が
第1実施例よりも容易であり、且つ接合時の加熱もより
安定して行うことができる。 なお、本発明は上述の各実施例に限定されるものではな
く、その他種々の態様で実施することが可能である。 例えば、第2実施例において使用した帯状のヒユーズエ
レメント11の代わりに、第1+図に示すような、断面
円形の線材の両端部21aを平坦にしたヒユーズエレメ
ント21を用いてもよい。 このようにしても、接合を安定して行なえ、且つ、ヒユ
ーズとしての信頼性が向上する。
係るヒユーズとその形成方法について詳細に説明する。 第1図はヒユーズエレメントlの斜視図、第2図は端子
2の斜視図である。このヒユーズエレメント1は20A
〜50A程度の中電流用として用いるものであって、従
来例で示したものと同様の線材を用い、同程度の寸法に
形成されている。一方、端子2も従来例と同様に銅また
は銅合金で形成されたものであるが、その形状は従来の
、ものとは異なり、かしめ部2aに切欠き凹部2bが形
成されている。ヒユーズエレメントlの両端部にかしめ
部2aをかしめて端子2を接合した状態を第3図に示し
ており、その■−TV線断面を第4図に示している。 これらの図に示されたのは、かしめ部2aの同室端部2
cの間に隙間が生じた状態であるが、実際には強くかし
めることにより各内置端部2c間はほぼ密着するように
なる。またこのとき、かしめ部2aに形成された切欠き
凹部2bが一体となり、その部分ではヒユーズエレメン
ト1の表面が露出する。 そして、一体となった切欠き凹部2b内にはんだ等のろ
うを一定量供給し、適当な加熱方法によってヒユーズエ
レメントlと端子2とを接合する。 この状態を第5図、及び第5図の■−■線断面である第
6図に示している。はんだ3は、加熱により切欠き凹部
2b内に均一に広がるので、固化したときにエレメント
1と端子2とが良好に接合される。なお、はんだ3の切
欠き凹部2b内での広がりを良くするために、はんだ3
の中にフラックスを混合したり、フラックスをはんだ3
とは別に供給したりするようにするのが好ましい。また
、はんだ3は、レーザービームや赤外線等を用いて非接
触で加熱するのが、自動化を容易に行なえるという観点
から好ましい。 このようにして接合されたエレメントlと端子2は、従
来例で説明したものと同様にエレメント1の中央部で2
つに折り曲げられ、ケース内に固定されて、自動車等の
電気回路中に用いられる。 このヒユーズでは、ヒユーズエレメントIと端子2とが
安定して接合されているので、その間の接触抵抗は小さ
く、導通が安定する。また、ヒユーズとしての溶断条件
(電流と時間の関係など)のばらつきが小さくなり、そ
の信頼性が向上する。 次に、第7図から第11図に示した第2実施例について
説明する。 第7図は帯状のヒユーズエレメント11を示しており、
第1実施例のものとは形状は異なっているが、同じく中
電流用として使用するために、同一の材料を用いて長さ
及び断面積を同一に形成している。また、第8図に示し
た端子I2は、かしめ部が長片12aと短片12bとて
構成されており、長片12aに切欠き凹部12cが形成
されている。 そして、ヒユーズエレメント11の両端に長片12aと
短片12bとからなるかしめ部をかしめて端子12を接
合し、さらに、切欠き凹部12c内ではんだ13を用い
てエレメント11と端子12とを接合した状態を第9図
、及びそのX−X線断面図である第10図に示している
。 この構成では、第1実施例と同様にヒユーズとしての信
頼性が向上するほか、ヒユーズエレメント11が帯状で
あって接合部が平坦であるため、はんだの供給や塗布が
第1実施例よりも容易であり、且つ接合時の加熱もより
安定して行うことができる。 なお、本発明は上述の各実施例に限定されるものではな
く、その他種々の態様で実施することが可能である。 例えば、第2実施例において使用した帯状のヒユーズエ
レメント11の代わりに、第1+図に示すような、断面
円形の線材の両端部21aを平坦にしたヒユーズエレメ
ント21を用いてもよい。 このようにしても、接合を安定して行なえ、且つ、ヒユ
ーズとしての信頼性が向上する。
第1図から第6図は本発明の1実施例に係るヒユーズの
形成方法を示し、第1図はヒユーズエレメントの斜視図
、第2図は端子の斜視図、第3図はヒユーズエレメント
と端子とをかしめた状態の平面図、第4図は第3図の■
−IV線断面図、第5図はろう付は後の平面図、第6図
は第5図のVI−Vl線断面図、第7図から第11図は
第2実施例に係るヒユーズの形成方法を示し、第7図は
ヒユーズエレメントの斜視図、第8図は端子の斜視図、
第9図はヒユーズエレメントと端子とをろう付けした状
態の平面図、第10図は第9図のx−X線断面図、第1
1図は変形例に係るヒユーズエレメントの斜視図、第1
2図から第15図は従来例に係るヒユーズの形成方法を
示し、第12図はヒユーズエレメントと端子とをかしめ
て接合した状態での斜視図、第13図はその接合体を折
り曲げた状態を示す正面図、第14図はケースの斜視図
、第15図はケース内に接合体を収納した状態での中央
縦断面図である。 !・・・ヒユーズエレメント、2・・端子、2a・・・
かしめ部、2b・・・切欠き凹部、2c・・・内置端部
、3・・はんだ、11・・ヒユーズエレメント、12一
端子、12a、 12b−かしめ部(12a−長片、1
2b・短片)、12c・・切欠き凹部、13・・・はん
だ、21・・ヒユーズエレメント、21a・・・両端部 特許出願人 株式会社東海理化電機製作所代 理 人
弁理士 前出 葆 (ほか1名)第1図
第2図 第3図 第4図 C 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 ′M10図 ■3 第11図 第12図
形成方法を示し、第1図はヒユーズエレメントの斜視図
、第2図は端子の斜視図、第3図はヒユーズエレメント
と端子とをかしめた状態の平面図、第4図は第3図の■
−IV線断面図、第5図はろう付は後の平面図、第6図
は第5図のVI−Vl線断面図、第7図から第11図は
第2実施例に係るヒユーズの形成方法を示し、第7図は
ヒユーズエレメントの斜視図、第8図は端子の斜視図、
第9図はヒユーズエレメントと端子とをろう付けした状
態の平面図、第10図は第9図のx−X線断面図、第1
1図は変形例に係るヒユーズエレメントの斜視図、第1
2図から第15図は従来例に係るヒユーズの形成方法を
示し、第12図はヒユーズエレメントと端子とをかしめ
て接合した状態での斜視図、第13図はその接合体を折
り曲げた状態を示す正面図、第14図はケースの斜視図
、第15図はケース内に接合体を収納した状態での中央
縦断面図である。 !・・・ヒユーズエレメント、2・・端子、2a・・・
かしめ部、2b・・・切欠き凹部、2c・・・内置端部
、3・・はんだ、11・・ヒユーズエレメント、12一
端子、12a、 12b−かしめ部(12a−長片、1
2b・短片)、12c・・切欠き凹部、13・・・はん
だ、21・・ヒユーズエレメント、21a・・・両端部 特許出願人 株式会社東海理化電機製作所代 理 人
弁理士 前出 葆 (ほか1名)第1図
第2図 第3図 第4図 C 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 ′M10図 ■3 第11図 第12図
Claims (2)
- (1)、ヒューズエレメント(1、11、21)と、か
しめ部(2a、12a、12b)を有する端子(2、1
2)とを接合するヒューズの形成方法において、 上記ヒューズエレメント(1、11、21)に対して端
子(2、12)をかしめた状態で該ヒューズエレメント
(1、11、21)の表面を露出すべき切欠き凹部(2
b、12c)を上記かしめ部(2a、12a、12b)
に予め形成し、上記ヒューズエレメント(1、11、2
1)と端子(2、12)とを、上記切欠き凹部(2b、
12c)内でろう付けにより接合することを特徴とする
ヒューズの形成方法。 - (2)、ヒューズエレメント(1、11、21)と、か
しめ部(2a、12a、12b)を有する端子(2、1
2)とからなるヒューズにおいて、 上記かしめ部(2a、12a、12b)は、上記ヒュー
ズエレメント(1、11、21)に対して端子(2、1
2)をかしめた状態で該ヒューズエレメント(1、11
、21)の表面を露出する切欠き凹部(2b、12c)
を有し、上記ヒューズエレメント(1、11、21)と
端子(2、12)とが、上記切欠き凹部(2b、12c
)内でろう付けにより接合されたことを特徴とするヒュ
ーズ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29459890A JPH04167322A (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | ヒューズの形成方法及びヒューズ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29459890A JPH04167322A (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | ヒューズの形成方法及びヒューズ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04167322A true JPH04167322A (ja) | 1992-06-15 |
Family
ID=17809835
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29459890A Pending JPH04167322A (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | ヒューズの形成方法及びヒューズ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04167322A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5752310A (en) * | 1993-10-28 | 1998-05-19 | Yazaki Corporation | Method of making a slowly-breaking fuse |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5531225B2 (ja) * | 1976-03-29 | 1980-08-16 | ||
| JPH02132785A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-05-22 | Yazaki Corp | 圧着端子の導電体結合構造およびその形成法 |
-
1990
- 1990-10-30 JP JP29459890A patent/JPH04167322A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5531225B2 (ja) * | 1976-03-29 | 1980-08-16 | ||
| JPH02132785A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-05-22 | Yazaki Corp | 圧着端子の導電体結合構造およびその形成法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5752310A (en) * | 1993-10-28 | 1998-05-19 | Yazaki Corporation | Method of making a slowly-breaking fuse |
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