JPH04182955A - 光磁気記録媒体用成膜装置および光滋気記録媒体の製造方法 - Google Patents

光磁気記録媒体用成膜装置および光滋気記録媒体の製造方法

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JPH04182955A
JPH04182955A JP31318690A JP31318690A JPH04182955A JP H04182955 A JPH04182955 A JP H04182955A JP 31318690 A JP31318690 A JP 31318690A JP 31318690 A JP31318690 A JP 31318690A JP H04182955 A JPH04182955 A JP H04182955A
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JP
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film
magneto
optical recording
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torr
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JP31318690A
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Yoshio Tawara
俵 好夫
Arata Sakaguchi
阪口 新
Masaki Ejima
正毅 江島
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は光磁気記録媒体用成膜装置、特には透明基板上
に形成する誘電体膜、磁性膜、保護膜をスパッタリング
法で形成するための特定の条件を備えた成膜装置、およ
びこの装置を用いて、膜質の改善された光磁気記録媒体
を製造する方法に関するものである。
[従来の技術] 近年、情報化社会の進展に伴なって大容量、媒体可換、
書換可能ということから光磁気記録媒体が注目を集めて
おり、この光磁気記録媒体についてはガラス、石英ガラ
ス、ポリカーボネート樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリ
メチルメタクリレート樹脂などで作られた基板の上に誘
電体膜、磁性膜、反射膜などを設けたものが公知とされ
ている。
しかして、この誘電体膜は一般にSin、 SiC。
SiN、八flNなどを500〜1,000人の厚さで
成膜したもの、この磁性膜は希土類元素−遷移金属元素
膜からなるもの、したがってTb、 Dy、 Gd、 
Ndなどの希土類元素とFe、 Co、 Niなどの遷
移金属元素からなる、例えばTbFe、 TbFeCo
、 GdTbFe、 GdDyFeC。
などの非晶質金属膜を200〜1.000人の厚さで成
膜したものとされており、この反射膜はAu2゜Cu、
 Au、 Agなどの金属膜を厚さ200〜1,000
人程度に成膜したものどされているか、これにはさらに
保護膜を形成させることも行なわれている。
[発明が解決しようとする課題] しかし、現状の光磁気記録媒体はCNR,BER1耐久
性などの特定が必ずしも十分ではないし、ディスク間の
特性の変動も大きく、生産歩留りも低いということから
、その普及が阻害されている。
これは基板に用いられる高分子材料の物性にも起因して
いるが、現在使用されている成膜装置が9−クガス量が
lXl0−’トール・fL/秒以下であって、かつ放出
ガス量が1xxo−’トール・fl/秒より多く、また
スパッター室中の水分子の残存量が露点−25℃(30
01][1111)の水準に止まっているために、この
装置を用いてスパッタリングすると光磁気記録媒体を構
成する上記した8膜が雰囲気中に残存する02あるいは
H2Oによる0原子の混入で汚染されて膜特性に悪影響
が与えられ、長期にわたフて劣化が促進されるようにな
るためとされている。
[課題を解決するための手段〕 本発明はこのような課題を解決することのできる光磁気
記録媒体用成膜装置およびこれを用いた光磁気記録媒体
の製造方法に関するもので、これは光の入射側に置かれ
た透明基板上に誘電体膜、磁性膜、反射膜をスパッタリ
ング法で形成する光磁気記録媒体用成膜装置において、
スパッター室内のリークガス量をlXl0−61−−ル
・f!、7秒以下とし、かつ室内の放出ガス量をlXl
0−’I−−ル・β/秒以下および/または室内の残存
水分量を露点−40℃(100111p111)以下の
条件を満足することによって到達真空度を1xBr7ト
ール以下とすることを特徴とする光磁気記録媒体用成膜
装置、および透明基板上に誘電体膜、磁性膜、反射膜を
この成膜装置を用いてスパッタリング法で成膜してなる
ことを特徴とする光磁気記録媒体の製造方法を要旨とす
るものである。
すなわち、本発明者らは膜質の改良された光磁気記録媒
体の製造方法について種々検討した結果、基板上に誘電
体膜、磁性膜、反射膜などを形成するに当り、これらを
形成するスパッタリング法を実施するために使用される
スパッター室内へのリークガス量を1xlO’トール・
fl/秒以下とし、かつ室内の放出ガス量をlXl0−
’トール・β/秒以下および/または室内の残存水分量
を露点−40℃ (100ppm)以下とすることによ
って到達真空度をIXIG〜7トール以下とした成膜装
置を用いてスパッタリング法を実施すわば、得られる誘
電体膜、磁性膜、反射膜が改質されて密着性が向上する
と共にその耐候性、耐湿性が改良され、機械的強度も大
きいものになるということを見出して本発明を完成させ
た。
以下にこれをざらに詳述する。
[作用] 本発明は透明基板上に誘電体膜、磁性膜、反射膜を股6
ブでなる光磁気記録媒体用の成膜装置およびこれを用い
た光磁気記録媒体の製造方法に関するものである。
この光磁気記録媒体の構成は公知のものであり、これは
例えば第1図に示したように、トラッキング用ガイドグ
ループが形成されたガラス、石英ガラス、ポリカーボネ
ート樹脂あるいはポリメチルメタクリレート樹脂などか
らなる透明基板1の上に誘電体膜2、磁性膜3、誘電体
膜2と同質の誘電体膜4および反射膜5を順次積層され
たものであるが、これは第2図に示したように透明基板
7の上に磁性膜8、誘電体膜9、反射@10を順次積層
した3層構造のものであってもよい。
この光磁気記録媒体の製造は、上記したような透明基板
上に誘電体膜、磁性膜、反射膜をスパッタリング法で設
けることによって行なわれるが、本発明の光磁気記録媒
体用成膜装置ではスパッタリングによる膜の汚染を防止
するということから、スパッター室へのリークガス量を
I X 10−6トール・fl/秒以下とし、かつ室内
の放出ガス量をlXl0−’トール・l/秒以下および
/または室内の残存水分量を露点−40℃(1oo p
pm)以下とし、これによって到達真空度をtxto−
’トール以下とすることが必要とされる。
本発明の光磁気記録媒体用成膜装置はこのように従来に
ない極めて高い密閉性と清浄度を維持できるが、これに
よればスパッター室における0□、N20の量が極めて
少ないものとなるのでこの02、N20によって目的と
する誘電体膜、磁性膜、反射膜などの汚染されることが
少なくなり、結果において膜特性がすぐれ、劣下するこ
ともないものが得られるのであるが、このような装置の
構成は例えば半導体IC素子の製造装置におけるように
、1)装置構成材料はできるだけ高分子材料を用いずに
、ピンホールの少ない金属材料(SIJS 31Bまた
はAfl)を用い、この表面も加工変質のない鏡面仕上
げしたものとする。
2)配管材料も電解研磨法により鏡面仕上げしたものを
使用する。
3)構造設計をガスの漏洩部のないものとし、パルプも
集積化バルブを使用する。
4)接合部分はできるだけ少ない構造とし、溶接部は突
き合わせ溶接性を採用する。
5)リングはメタルOリング、メタルCリングを使用す
る。
ということを採用すれば目的とするクリーン度の高いも
のとすることができる。
本発明による光磁気記録媒体の製造は上記した成膜装置
を用いるスパッタリング法によフて行なわれる。
この誘電体膜は例えばSiQ、 SiC,SiNあるい
はA42Nなどで作られたものとされるが、これはスパ
ッター室内にSt、AJ2 、 SiCあるいはSiN
などをターゲットとして設置し、アルゴンガスに酸素ガ
ス、炭酸ガスあるいは窒素ガスなどを添加した、ガス雰
囲気中で100〜300Wの高周波電力を印加してスパ
ッタリングすればよいし、この磁性膜はスパッター室に
例えばTbFeC0からなる三元素磁性膜を形成させる
ときには膜を形成するTbとFeCo合金をターゲット
とするか、あるいはTb−Fe−Coの三成分をターゲ
ットとして設置し、アルゴンガス雰囲気中においてスパ
ッタリングすればよく、この反射膜はAjl 、 Cu
、 AuあるいはAgなとの金属をターゲットとし、ア
ルゴンガス雰囲気中においてスパッタリングすればよい
。なお、これらのスパッター室内では主としてアルゴン
ガスによるプラズマが発生し、ターゲット材料がスパッ
タされた基体上に密着してそれぞれ誘電体膜、磁性膜、
反射膜が形成されるのであるが、この成膜−装置はその
成膜室内へのリークガス量、室内の放出ガス量、残存水
分量を所定の水準以下に抑制することによって到達真空
度が前記のようにされているので、ここに形成される誘
電体膜、磁性膜、反射膜、保護膜などは膜質が改善され
たものとなり、誘電体膜は基板に対する密着性が向上さ
れたものとなるし、これらの膜はいずれも耐候性、耐湿
性、機械的強度が向上されたものとなるので、このよう
にして得られる光磁気記録媒体は記録再生特性にすぐれ
、かつ長期の信頼性が高いというすぐれた物性をもつも
のになるという有利性が与えられる。
[実施例] つぎに本発明の実施例、比較例をあげる。
実施例、比較例 ガラス基板上にSJNからなる誘電体膜、TbFeC。
からなる磁性膜、SiNからなる第2の誘電体膜よよび
Anからなる反射膜を順次スパッター法で成膜して光磁
気記録媒体を作成するにさいし、予めそれぞれの膜を形
成するためのスパッター室をいずれも室内のリークガス
量がI X 10−’トール・1/秒になるように十分
調整した。また、室内構造物などからの放出ガス量をl
Xl0−’トール・17秒以下に抑制することによって
室内の真空度がlXl0−’トール以下となることを確
認し、このさい、室内の残存水分量を測定すると各室と
も100ppo+以下であった。
SiNの成膜は室内をArガス80%、N2ガス20%
の組成比とし、圧力2ミリトールに保ち、高周波マグネ
トロンスパッター法で行ない、第1層は1.00OA、
′s3層ハ350人トシタ。342層の磁性膜はTbF
eCoの合金ターゲットを用い、Arガスのみの!囲気
で同じく2ミルトールの圧力を保って直流マグネトロン
スパッター法にょフて厚さ250人に成膜した。第4層
の八で反射層は同じく2ミルトールのArガス雰囲気中
での直流マグネトロンスパッター法によって400 人
の厚さに成膜した。
このよにして得られた光磁気記録媒体は誘電体膜、磁性
膜、反射膜がいずれも膜質の改良されたものとなり、最
適記録パワーが5.8mW、再生特性CNRが58dB
でカー回転角が1.02°というすぐれた特性を有する
ものであることが確認された。
しかし、比較のためにスパッター室の気密の保持が十分
でなく、リークガス量が5xlO−’トール・l7秒で
到達真空度が8 X 10−’ トールの状態で上記と
同様の成膜条件でSiN膜(1,000人)、丁bFe
Co膜(250人)、SiN M (350人)、へ1
反射膜(400人)を順次成膜して得た記録媒体は最適
記録パワーが8.5 mW、再生特定CNHの値は48
dB、カー回転角は0.89°で特に特性のすぐわたも
のとはならなかった。
[発明の効果コ 本発明は光磁気記録媒体用成膜装置および光磁気記録媒
体の製造方法に関するもので、これは前記したように透
明基板上に誘電体膜、磁性膜、反射膜をスパッタリング
法で形成する光磁気記録媒体用成膜装置において、各成
膜室内へのリークガス量をI X 10−’l−−ル・
U/秒以下とし、かつ室内の放出ガス量を1xlO−’
)−−ル・11/秒以下および/または室内残存水分量
を露点−40℃(100ppm)以下とすることによっ
て到達真空度を1×10−7トール以下とした成膜装置
、およびこのような成膜装置を用いて基板上に誘電体膜
、磁性膜、反射膜をスパッタリング法により成膜してな
ることを特徴とする光磁気記録媒体の製造方法を要旨と
するものであるが、これによれば得られる誘N体膜、磁
性膜、反射膜がいずれも@質の改良されたものとなるの
で、記録再生特性にすぐれ、かつ長期にわたり信頼性の
高いすぐれた光磁気記録媒体を容易に得ることができる
という有利性が与えられる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第2図は本発明の光磁気記録媒体の構成図を示
したものである6 1.7・・・透明基板 2.4,8.10・・・誘電体膜 3.9・・・磁性膜 5・・・反射膜 特許出願人  信越化学工業株式会社 代理人・弁理士 山 木  亮 −−

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.光の入射側に置かれる透明基板上に、誘電体膜、磁
    性膜、反射膜をスパッタリング法で形成する光磁気記録
    媒体用成膜装置において、スパッター各室について室内
    のリークガス量を1×10^−^6トール・l/秒以下
    とし、かつ室内の放出ガス量を1×10^−^8トール
    ・l/秒以下あるいは室内の残存水分量を露点−40℃
    (100ppm)以下とするいずれか、または両方の条
    件を満足することによって室内の到達真空度を1×10
    ^−^7トール以下とすることを特徴とする光磁気記録
    媒体用成膜装置。
  2. 2.光の入射側に置かれた透明基板上に、誘電体膜、磁
    性膜、反射膜を請求項1に記載した成膜装置を用いてス
    パッタリング法で成膜してなることを特徴とする光磁気
    記録媒体の製造方法。
JP31318690A 1990-11-19 1990-11-19 光磁気記録媒体用成膜装置および光滋気記録媒体の製造方法 Pending JPH04182955A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011026707A (ja) * 2010-09-13 2011-02-10 Sumitomo Electric Ind Ltd 薄膜製造方法および薄膜製造設備

Cited By (1)

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