JPH0419482B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

この発明は、物体の寸法、変位量等を測定する
ための投影画像のエツジ検出装置に係り、特に、
測定対象物に、測定用の光線を照照し、これによ
り生じる透過光又は反射光による測定対象物の投
影像を、受光素子からなるセンサーで走査して電
気信号を取り出し、この信号に基づき該測定物の
寸法測定、位置判別、形状判断等を行うための光
学式測定機器における投影画像のエツジ検出装置
に関する。

【従来の技術】

従来この種光学式測定機器、例えば、投影機
は、載物台上の測定対象物を平行な光線により照
射して、その透過光又は反射光に基づきスクリー
ン上に該測定対象物の投影像を結像させ、この結
像から測定対象物の寸法形状等を測定するもので
あるが、スクリーンに投影された測定対象物の像
のエツジ（端部）は一般的にいわゆるにじみがあ
り、従つて、載物台上の測定対象物を移動させ、
そのスクリーン上の結像とヘアラインとの一致か
ら測定値を正確に読み込むことは困難である。 かかる問題点を解消するために、従来は、結像
のエツジを光電素子を相対移動させることによ
り、光電素子の受光面に投影された像の明部と暗
部との面積の割合の変化から光電素子から出力す
る電気信号の大きさの変化を、参照電圧と比較し
て、投影画像の端部を検出するものがある。 しかしながら、この方法は、外乱光等のノイズ
の影響が大きいと共に、光電素子から得られる信
号又は参照電圧の変動による測定精度の低下が大
きいという問題点がある。 更に、スクリーン上の投影画像の境界（エツ
ジ）に対して光電素子を相対移動させ、その時の
出力信号を２階微分して波形信号を得、これと参
照電圧との比較によつてエツジを検出するものが
あるが、光電素子と投影画像との相対移動速度の
大小によつて、検出されるエツジの位置が異なる
ことがあり、更に、前記と同様に参照電圧の変動
による測定精度の低下が大きいという問題点があ
る。 更に、光電素子を２個配置して、これを投影画
像のエツジに対して相対移動させ、これにより得
られた複数の出力信号から波形の信号を得、これ
と参照電圧との比較によつてエツジを検出するも
のがあるが、前記と同様に光電素子から得られた
出力信号と参照電圧との相対変化、レベル変動等
から測定が非常に不安定となり、更に、照射光線
の照度に対する適用範囲が狭く、又、測定態様が
限定され且つ、センサー部あるいは回路部分が複
雑になるという問題点がある。 特に、投影機においては、照射用の光源ランプ
の疲労、投影系のレンズ特性、外乱光によりスク
リーン上の投影画像の明るさが変化し、また、投
影倍率の切替により投影画像の明るさが変化した
り、更には測定者側の条件として、例えば測定者
の瞳の色（人種により異なる）により作業が好適
な明るさが異なるため、これを適宜に選択しなけ
ればならないが、前記のように照射光線の照度に
対する適用範囲が狭いと、結果として投影機の能
力を低下させてしまうことになる。 又、従来のエツジ検出方法では、投影画像のフ
オーカスがずれていた場合は、光電素子による出
力波形がなだらかになつてしまうので、正確なエ
ツジ検出ができないという問題点があつた。 この問題点は、投影機のみならず、一般的に透
過光又は反射光を検出して、直接的又は間接的に
測定対象物の寸法測定等をするための光学式測定
機器におけるエツジ検出に共通の問題である。 これに対して例えば特開昭58−173408号に開示
されるように、透過光又は反射光を検出して、直
接的又は間接的に測定対象物の寸法測定をするた
めの光学式測定機器におけるエツジ検出装置にお
いて、前記測定対象物との相対移動時に生ずる明
暗に基づき、少なくとも２組の位相ずれ信号を発
生するよう移動面と略平行な面内に配設された４
個の受光素子からなるセンサーと、前記各組の位
相ずれ信号の差を演算する第１及び第２の演算手
段と、これら第１及び第２の演算手段の出力信号
の差を演算する第３の演算手段及び和を演算する
第４の演算手段と、この第４の演算手段の出力信
号が所定レベルにある間に生じる、前記第３の演
算手段の出力信号と基準レベルのクロス信号を出
力する検知手段を設けたものが提案されている。 このエツジ検出装置は、測定対象物を照射する
光強度、測定中の外乱光等のノイズ、光電素子の
出力信号あるいは参照電圧の変動による影響を伴
なうことなく、しかも簡単な構成で、測定対象物
のエツジを検出することができ、又投影機におい
て、投影画像の焦点ずれがあつても、正確にエツ
ジを検出することができ、更に、光電素子からの
アナログ信号を直接処理することにより、測定対
象物のエツジを検出することができるという利点
がある。 しかしながら、上記特開昭58−173408号公報に
開示されるエツジ検出装置は、センサからの出力
信号が基準信号とクロスする点、即ち、測定対象
物のエツジ位置を含む特定領域を、判別するため
の手段として、第４の演算手段の出力信号が所定
レベルにある間に領域信号を出力するようにされ
ているが、前記第４の演算手段の出力信号のレベ
ルが低い場合は、実際のエツジ位置で、領域信号
を発生することができない場合があるという問題
点を有する。 即ち、測定対象物が、例えば半透明硝子製品等
の、光を完全に遮断することができない材料で形
成されている場合は、測定対照物を照明すること
によつて得られた投影画像の明部と暗部の比が小
さくなり、明部を「１」、完全暗部を「０」とし
た場合、半透明硝子製品の投影画像における暗部
は１よりも小さく、且つ「０」よりも大きい範囲
となり、明部と暗部の差が小さいために、所定レ
ベル以上の信号を得ることができず、従つて、領
域信号を発生することができないことがある。 更に、前記エツジ検出装置は、そのセンサーが
田型に配置された４個の受光素子から形成されて
いるために、例えば投影機におけるスクリーン上
の投影画像に対する相対移動時に、受光素子の境
界線と移動方向が一致したとき、投影画像のエツ
ジを検出できない場合があり、従つて、投影画像
に対するセンサーの移動方向の制限が生じるとい
う問題点がある。 これに対して、本出願人は特願昭59−249278号
により測定対象物が例えば半透明硝子製品等の、
光を完全に遮断することができない材質の場合で
あつても、そのエツジを確実に検出することがで
きるようにした光学式測定機器におけるエツジ検
出装置を提案している。 上記のようなエツジ検出装置における領域信号
発生器は、アナログのサンプル・ホールド回路を
用いて領域信号を発生するようにされているの
で、領域信号が励起されずに、誤計測をする恐れ
があつた。 即ち、アナログのサンプル・ホールド回路は、
一般的にトランスミツシヨンゲート、コンデン
サ、アンプ等を備え、これらにおいて電流がリー
クするため、ホールド信号が一定の減衰率で変化
することになる。 特に、測定対象物を載置する載物台の送り速度
が非常に遅い場合や、アナログ信号たるホールド
信号のホールド後に暫く測定を行わないで載物台
を停止した後、再び測定を始める場合等には、ハ
イホールド信号が減衰してセンサー出力信号より
も小さくなるときがあり、このような場合は、領
域信号がローレベルとなつて、本来出力されるは
ずのエツジ信号が出力されることなく、誤計測が
生じる。 又、サンプル・ホールド回路で基準値を設定す
る方式は、エツジ検出装置の電源投入時には基準
値がなく、スクリーン上の投影画像における明部
又は暗部でも領域信号が励起されてしまい、この
対策のために、別途の初期セツト回路を設けなけ
ればならないという問題点がある。

【発明の目的】

この発明は、上記問題点に鑑みてなされたもの
であつて、投影画像に対するセンサーの相対的移
動速度が遅い場合や、センサーの受光部近傍に投
影画像のエツジがあり、且つ測定を休止した後で
測定を再開する場合であつても、領域信号が確実
に励起されるようにして誤計測を防止した投影画
像のエツジ検出装置を提供することを目的とす
る。 又、初期セツト回路を設ける必要がない投影画
像のエツジ検出装置を提供することを目的とす
る。

【問題点を解決するための手段】

この発明は、透過光又は反射光による測定対象
物の投影画像によつて寸法測定をするための光学
式測定機器における投影画像のエツジ検出装置に
おいて、外周が円形の内側受光素子、及び、この
内側受光素子を囲んでこれと同心で面積の実質的
に等しい輪帯状に配置されてなる外側受光素子を
備え、且つ、これら内側受光素子及び外側受光素
子の一方が、円周方向に少なくとも４個の偶数に
等区画された分割受光素子から構成され、前記測
定対象物との相対移動時に生ずる明暗に基づき、
位相ずれ信号を発生するセンサーと、前記分割受
光素子のうちの１つの直径方向に対向する分割受
光素子の出力の差が所定値を越えるときに領域信
号を出力する領域信号発生回路と、この領域信号
発生回路から領域信号が出力されている間であつ
て、前記複数の分割受光素子の出力の総和と他方
の受光素子の出力の値が一致するときに、エツジ
信号を出力する検知回路と、を設けることにより
上記目的を達成するものである。 又、前記一方の受光素子を、４区画されて、円
周方向に第１乃至第４の分割受光素子から構成す
ることにより上記目的を達成するものである。 又、前記領域信号発生回路を、前記第１及び第
３の分割受光素子の出力の差を演算する第１の差
演算器と、前記第２及び第４の分割受光素子の出
力を差を演算する第２の差演算器と、前記第１の
差演算器の出力信号とプラス側参照信号及びマイ
ナス側参照信号と比較し、該出力信号がこれらの
参照信号の値の間にないとき信号を出力する第１
のウインドコンパレータと、前記第２の差演算器
の出力信号とプラス側参照信号及びマイナス側参
照信号と比較し、該出力信号がこれらの合照信号
の値の間にないとき信号を出力する第２のウイン
ドコンパレータと、前記第１及び第２のウインド
コンパレータの少なくとも一方が信号を出力する
とき領域信号を出力するORゲートと、を有する
ようにして上記目的を達成するものである。

【作用】

この発明においては、領域信号発生回路におけ
るウインドコンパレータに入力される信号が、分
割受光素子の出力信号の差であつて、且つ、これ
らの信号と比較されるべき信号は予め設定された
プラス側及びマイナス側の参照信号Vref⁺と
Vref^-であるので、センサーの投影画像に対する
相対速度が遅い場合、あるいは、センサーが投影
画像のエツジ近傍で測定を一時休止した後再開す
る場合等であつても、確実に領域信号を発生する
ことができる。 又、初期セツト回路等を設けることなく、領域
信号が電源投入時に誤つて励起されるようなこと
を防止できる。

【実施例】

以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。 この実施例は、本発明を、投影機に適用したも
のであり、第１図及び第２図に示されるように、
光源ランプ１からの光をコンデンサレンズ２を介
して載物台３の下方から、あるいは他の光路を介
して載物台３の上方から、該載物台３上の測定対
象物４を照射して、その透過光又は反射光に基づ
き、投影レンズ５を介してスクリーン６上に、測
定対象物４の投影画像４Ａを結像させ、この投影
画像４Ａにより、間接的に測定対象物４の寸法測
定等をするための投影機１０における投影画像の
エツジ検出装置において、円形の内側受光素子１
２、及び、この内側受光素子１２を囲んでこれと
同心で面積の等しい輪帯状に配置されてなる外側
受光素子１４を備え、且つ、この外側受光素子１
４が、円周方向に等しく区画された第１〜第４の
分割受光素子１４Ａ〜１４Ｄからなり、前記測定
対象物４との相対移動時に生ずる明暗に基づき、
位相ずれ信号を発生するセンサー１６と、前記分
割受光素子１４Ａ〜１４Ｄのうちの直径方向に対
向する第１、第３の分割受光素子１４Ａ，１４Ｃ
又は第２、第４の分割受光素子１４Ｂ，１４Ｄの
出力の差が所定値を越えるときに領域信号を出力
する領域信号発生回路１８と、この領域信号発生
回路１８から領域信号が出力されている間であつ
て、前記複数の分割受光素子１４Ａ〜１４Ｄの出
力の総和と内側受光素子１２の出力の値が一致す
るときに、エツジ信号を出力する検知回路２０と
を設けたものである。 前記領域信号発生回路１８は、前記第１及び第
３の分割受光素子１４Ａ，１４Ｃの出力の差を演
算する第１の差演算器２２と、前記第２及び第４
の分割受光素子１４Ｂ，１４Ｄの出力の差を演算
する第２の差演算器２４と、前記第１の差演算器
２２の出力信号とプラス側参照信号Vref⁺及びマ
イナス側参照信号Vref^-とを比較し、該出力信号
がこれらの参照信号Vref⁺とVref^-の値の間にな
いとき信号を出力する第１のウインドコンパレー
タ２６と、前記第２の差演算器２４の出力信号と
プラス側参照信号Vref⁺及びマイナス側参照信号
Vref^-と比較し、該出力信号がこれらの参照信号
Vref⁺とVref^-の値の間にないとき信号を出力す
る第２のウインドコンパレータ２８と、前記第１
及び第２のウインドコンパレータ２６，２８の少
なくとも一方が信号を出力するとき領域信号を出
力するORゲート３０とを備えている。 前記センサー１６は、第１図に示されるよう
に、投影機１０のスクリーン６の上面にこれと平
行に且つ摺動可能に載置された透明板７と一体的
に設けられ、前記透明板７と共に、移動できるよ
うにされている。 前記センサー１６の外側受光素子１４は、内側
受光素子１２の周囲に、半径方向の間隔をおいて
同心の輪状に形成されている。ここで外側受光素
子１４の総和面積は内側受光素子１２の面積と必
ずしも一致する必要はない。その場合にはプリア
ンプ１２Ａ及び１５Ａ〜１５Ｄのゲイン調整によ
つて、例えば全体が明部にあるときに和演算器３
２の出力ｂとプリアンプ１２Ａの出力ａとが一致
するようになればよい。プリアンプのゲイン調整
によつて出力が一致する場合に、両受光素子の面
積は実質的に等しいと考える。 又、前記検知回路２０は、プリアンプ１５Ａ〜
１５Ｄを介して入力される前記４個の分割受光素
子１４Ａ〜１４Ｄの出力信号の和を演算する和演
算器３２と、この和演算器３２の出力信号とプリ
アンプ１２Ａにより増幅された内側受光素子１２
の出力信号との差を演算する差演算器３４と、こ
の差演算器３４の出力信号と基準レベルの信号と
を比較して、両者が一致するとき、即ちクロスポ
イントにおいて信号を出力する比較器３６と、こ
の比較器３６から信号が出力されたとき、これに
基づいてエツジパルス信号を発生するパルス信号
発生器３８と、このパルス信号発生器３８及び前
記領域信号発生回路１８の両者から信号が出力さ
れているときのみエツジ検出信号を出力する
ANDゲート４０と、を備えている。 このANDゲート４０からの出力信号は、載物
台３に連動する変位検出装置４２のカウンタ４４
にエツジ検出信号を出力するようにされている。 この変位検出装置４２は、前記載物台３に連動
してその移動量に応じてパルス信号を発生するエ
ンコーダ４６と、このエンコーダ４６から出力さ
れるパルス信号を読取る前記カウンタ４４とから
構成されている。 このカウンタ４４は、前記ANDゲート４０か
らエツジ検出信号が入力されるときに、その読取
り値を記憶装置４８に出力するようにされてい
る。 次に上記実施例の作用を説明する。 スクリーン６上に結像された測定対象物４の投
影画像４Ａを、載物台３を移動させることによ
り、センサー１６に対して第２図のＸ方向に相対
的に移動させ、投影画像４Ａのエツジがセンサー
１６を横切るようにする。 投影画像４Ａが、センサー１６に相対的に接近
し且つこれを通過した場合は、内側受光素子１２
により得られ、プリアンプ１２Ａにより調整され
て、検知回路２０に入力される信号、及び受光素
子１４により得られ、プリアンプ１５Ａ〜１５Ｄ
により調整されて、検知回路２０における和演算
器３２を経た信号は、第３図Ａに符号ａ及びｂに
よつて示されるように、振幅の等しい位相ずれ信
号となる。これらの出力信号は、第３図Ｂに示さ
れるように、差演算器３４によりｃ＝ｂ−ａに演
算され、出力される。 前記外側受光素子１４における第１及び第３の
分割受光素子１４Ａ，１４Ｃによつて得られた信
号はプリアンプ１５Ａ，１５Ｃを経て、信号Ａ，
Ｃとして第１の差演算器２２に入力される。 この第１の差演算器は入力された２つの信号
Ａ，Ｃの差を演算して、その結果の信号ｆ＝Ａ−
Ｃを第１のウインドコンパレータ２６に出力す
る。 又、前記外側受光素子１４における第２及び第
４の分割受光素子１４Ｂ，１４Ｄによつて得られ
た信号がプリアンプ１５Ｂ，１５Ｄによつて調整
された後、信号Ｂ，Ｄとして第２の差演算器２４
に出力される。 この第２の差演算器２４は入力された２つの信
号Ｂ，Ｄの差を演算してその信号ｇ＝Ｂ−Ｄを第
２のウインドコンパレータ２８に出力する。 ここで、前記センサー１６が、投影画像４Ａに
対して、第２図に示されるように、第１及び第３
の分割受光素子１４Ａ，１４Ｃの中心を通る直径
の方向に、第１の分割受光素子１４Ａ側から相対
的に接近した場合、第１の差演算器２２の出力信
号ｆは第３図Ｄで示されるようになる。 これに対して、第２及び第４の分割受光素子１
４Ｂ，１４Ｄは投影画像４Ａのエツジに対して常
に等距離となるように相対的に移動されるので、
両者の出力信号の差、即ち第２の差演算器２４の
出力信号ｇ＝０となる。 前記第１のウインドコンパレータ２６は、第１
の差演算器２２からの入賄信号ｆの値が予め設定
されたプラス側参照信号Vref⁺及びマイナス側参
照信号Vref^-と比較して、出力信号ｇがこれら参
照信号の値の間にないときにその出力信号ｈがハ
イレベルとなる。 即ち、第３図Ｅに示されるような信号ｈがOR
ゲート３２に対して出力されることになる。 一方、第２の差演算器２４の出力信号はｇ＝０
となり、プラス及びマイナス側参照信号Vref⁺と
Vref^-との間にあるので、第２のウインドコンパ
レータ２８は信号を出力しない。 従つて、ORゲート３０に対しては第１のウイ
ンドコンパレータ２６の出力信号ｈのみが入力さ
れ、このため、該ORゲート３０は第３図Ｆに示
されるような領域信号ｊを検知回路２０のAND
ゲート４０に対して出力することになる。 一方、前記差演算器３４によつて出力される差
動出力信号ｃは比較器３６に入力され、この比較
器３６は、差動出力信号ｃが０の基準レベル信号
とクロスする時に信号ｋを出力する。比較器３６
の出力信号ｋに基づき、パルス信号発生器３８
は、第３図Ｃに示されるようなパルス信号ｌを
ANDゲート４０に出力する。 前記パルス信号発生器３８からのパルス信号ｌ
と、ORゲート３０からのデジタル信号ｊは、
ANDゲート４０に入力され、このANDゲート
は、該入力信号が共にハイレベルの時に、第３図
Ｇで示されるように、例えば、10μSecのパルス
信号ｍを出力し、この時点で、投影画像４Ａのエ
ツジを検出する。 ここで、前記比較器３６は、入力信号ｃが零レ
ベルを横切る際に信号ｋを出力する。 従つて、比較器３６は、センサー１６が投影画
像４Ａのエツジの外側あるいは内側、即ち、明部
や暗部であつても不要な信号ｋを出力し、その都
度、パルス信号発生器３８は第３図Ｃにおいて示
されるような不要なパルス信号L₁あるいはL₂を
出力してしまうことになるが、これは、領域信号
発生回路１８からの領域信号ｊとパルス信号発生
器３８からのパルス信号ｌの両者がANDゲート
４０に入力されたときのみエツジ信号が出力され
るので、不要なパルス信号L₁及びL₂に基づくエ
ツジ信号が出力されることはない。 この実施例においては、領域信号発生回路１８
における第１及び第２のウインドコンパレータ２
６，２８に入力される信号が、分割受光素子１４
Ａ，１４Ｃ及び１４Ｂ，１４Ｄの出力信号の差で
あつて、且つ、これらの信号と比較されるべき信
号は予め設定されたプラス側及びマイナス側の参
照信号Vref⁺とVref^-であるので、センサー１６
の投影画像４Ａに対する相対速度が遅い場合、あ
るいは、センサー１６が投影画像４Ａのエツジ近
傍で測定を一時休止した後再開する場合等であつ
ても、確実に領域信号を発生することができる。 又、初期セツト回路等を設けることなく、領域
信号が電源投入時に誤つて励起されるようなこと
を防止できる。 なお上記実施例の作用は、第２図に示されるよ
うに、第１及び第３の分割受光素子１４Ａ，１４
Ｃの中心を通る直径方向に、センサー１６が投影
画像４Ａのエツジに対してこれを横切るようにし
た場合のものであるが、センサー１６が上記と直
交する方向（Ｙ方向）に移動する場合あるいは斜
めに移動する場合であつても、前記と同様にエツ
ジ信号ｍを得ることができる。 更に、上記実施例において、センサー１６を構
成する内側受光素子１２が円形であつて、且つ外
側受光素子１４が円周方向に４等分された分割受
光素子１４Ａ〜１４Ｄから構成されているが、本
発明はこれに限定されるものでなく、内側受光素
子１２が分割されるものであつてもよい。 又、内側受光素子１２及び外側受光素子１４が
共に輪状であつてもよい。 更に、内側又は外側受光素子１２，１４の分割
区画の数は、４個以上の偶数であればよい。 従つて、内側受光素子１２又は外側受光素子１
４を６個あるいは８個に等分割するようにしても
よい。 更に前記実施例は、載物台３を移動させること
により投影画像４Ａをセンサー１６に対して移動
させるものであるが、これは、投影画像４Ａに対
してセンサー１６を移動させるようにしてもよ
い。 又、上記実施例は、投影機においてそのスクリ
ーン上の投影画像のエツジを測定する場合のもの
であるが、本発明はこれに限定されるものでな
く、光学式測定機器等における投影画像のエツジ
検出装置に一般的に適用されるものである。 従つて、例えば、光学格子を形成したメインス
ケール及びインデツクススケールの相対移動か
ら、光電的に寸法等を測定するための光電式測長
器、あるいはレーザー光等により測定対象物を平
行走査して、その明部と暗部から該測定対象物の
寸法等を測定する測定機器等におけるエツジ検出
装置にも適用されるものである。

【発明の効果】

本発明は上記のように構成したので、投影画像
に対するセンサーの移動速度が遅い場合、あるい
は投影画像のエツジ近傍においてセンサーを一時
停止させ、再度移動させた場合であつても、確実
に領域信号を励起させて、投影画像のエツジを検
出することができるという優れた効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る投影画像のエツジ検出装
置を投影機に実施した場合の実施例を示す光学系
統図、第２図は同実施例の構成を示すブロツク
図、第３図は同実施例における信号処理の過程を
示す線図である。 ４……測定対象物、４Ａ……投影画像、１２…
…内側受光素子、１４……外側受光素子、１４Ａ
〜１４Ｄ……分割受光素子、１６……センサー、
１８……領域信号発生回路、２０……検知手段、
２２……第１の差演算器、２４……第２の差演算
器、２６……第１のウインドコンパレータ、２８
……第２のウインドコンパレータ、３０……OR
ゲート、３２……和演算器、３８……パルス信号
発生器、４０……ANDゲート。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 透過光又は反射光による測定対象物の投影画
   像によつて寸法測定をするための光学式測定機器
   における投影画像のエツジ検出装置において、外
   周が円形の内側受光素子、及び、この内側受光素
   子を囲んでこれと同心で面積の実質的に等しい輪
   帯状に配置されてなる外側受光素子を備え、且
   つ、これら内側受光素子及び外側受光素子の一方
   が、円周方向に少なくとも４個の偶数に等区画さ
   れた分割受光素子から構成され、前記測定対象物
   との相対移動時に生ずる明暗に基づき、位相ずれ
   信号を発生するセンサーと、前記分割受光素子の
   うちの１つの直径方向に対向する分割受光素子の
   出力の差が所定値を越えるときに領域信号を出力
   する領域信号発生回路と、この領域信号発生回路
   から領域信号が出力されている間であつて、前記
   複数の分割受光素子の出力の総和と他方の受光素
   子の出力の値が一致するときに、エツジ信号を出
   力する検知回路と、を設けてなる投影画像のエツ
   ジ検出装置。 ２ 前記一方の受光素子は、４区画されて、円周
   方向に第１乃至第４の分割受光素子から構成され
   てなる特許請求の範囲第１項記載の投影画像のエ
   ツジ検出装置。 ３ 前記領域信号発生回路は、前記第１及び第３
   の分割受光素子の出力の差を演算する第１の差演
   算器と、前記第２及び第４の分割受光素子の出力
   の差を演算する第２の差演算器と、前記第１の差
   演算器の出力信号とプラス側参照信号及びマイナ
   ス側参照信号と比較し、該出力信号がこれらの参
   照信号の値の間にないとき信号を出力する第１の
   ウインドコンパレータと、前記第２の差演算器の
   出力信号とプラス側参照信号及びマイナス側参照
   信号と比較し、該出力信号がこれらの参照信号の
   値の間にないとき信号を出力する第２のウインド
   コンパレータと、前記第１及び第２のウインドコ
   ンパレータの少なくとも一方が信号を出力すると
   き領域信号を出力するORゲートと、を有してな
   る特許請求の範囲第２項記載の投影画像のエツジ
   検出装置。