JPS6310780B2 - - Google Patents
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- JPS6310780B2 JPS6310780B2 JP55139146A JP13914680A JPS6310780B2 JP S6310780 B2 JPS6310780 B2 JP S6310780B2 JP 55139146 A JP55139146 A JP 55139146A JP 13914680 A JP13914680 A JP 13914680A JP S6310780 B2 JPS6310780 B2 JP S6310780B2
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- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- screw cap
- mode
- light
- screw
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は瓶の検査方法、特に光源よりの光線を
瓶口にあて一次元走査カメラで受光することによ
り検査を行なうネジ口瓶の検査方法に関する。
瓶口にあて一次元走査カメラで受光することによ
り検査を行なうネジ口瓶の検査方法に関する。
従来、投光器や受光器等の光電装置を使つて瓶
類を検査する方法は多く提案され又実施されてい
る。しかし瓶の検査でもネジ口の検査はネジ口の
ネジ山のために光線が複雑な変化をするために、
従来の光電装置を用いては十分正確な検査がなし
得ず、正確な検査を行なおうとすれば検査員の目
視に頼らざるを得なかつた。この検査員の目視に
よる検査方法はある程度の正確な検査をなし得る
が、検査員の疲労がともなうこと、検査速度に限
界がある等の欠点がある。
類を検査する方法は多く提案され又実施されてい
る。しかし瓶の検査でもネジ口の検査はネジ口の
ネジ山のために光線が複雑な変化をするために、
従来の光電装置を用いては十分正確な検査がなし
得ず、正確な検査を行なおうとすれば検査員の目
視に頼らざるを得なかつた。この検査員の目視に
よる検査方法はある程度の正確な検査をなし得る
が、検査員の疲労がともなうこと、検査速度に限
界がある等の欠点がある。
本発明の目的は従来の検査方法の欠点を解消
し、正確で高速でありかつ自動的にネジ口瓶を検
査し得る検査方法を提供することである。
し、正確で高速でありかつ自動的にネジ口瓶を検
査し得る検査方法を提供することである。
上記目的を達成するためにこの発明の検査方法
は、被検査瓶を回転させつつ、光源よりの光線を
ネジ口瓶のネジ部を透過するようにあて、その透
過光線を一次元走査カメラで受光するネジ口瓶の
検査方法であつて、前記光線の進行路に被検査ネ
ジ部以外のネジ部を透過する光線の侵入を防止す
る遮光板を設け、ネジ部を透過した水平光線をネ
ジ口の横に位置する一次元走査カメラで電気信号
に変え、得られた電気信号のパターンの変化によ
つてネジ口瓶のネジ山の良否を判定するようにし
たものである。
は、被検査瓶を回転させつつ、光源よりの光線を
ネジ口瓶のネジ部を透過するようにあて、その透
過光線を一次元走査カメラで受光するネジ口瓶の
検査方法であつて、前記光線の進行路に被検査ネ
ジ部以外のネジ部を透過する光線の侵入を防止す
る遮光板を設け、ネジ部を透過した水平光線をネ
ジ口の横に位置する一次元走査カメラで電気信号
に変え、得られた電気信号のパターンの変化によ
つてネジ口瓶のネジ山の良否を判定するようにし
たものである。
以下図面に示す実施例により本発明を詳細に説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例を示す概略図であ
る。
る。
第１図において、１は瓶口の割れ欠損やビリを
検査するネジ口瓶である。ネジ口瓶１は検査を受
けるため多量本、コンベア（図示せず）上を移送
される。２は光源であり、光源２より光線３がネ
ジ口瓶１のネジ口側壁４に投射される。５は光源
２より投射された光線３を受光する一次元走査カ
メラとしてのイメージセンサカメラである。イメ
ージセンサカメラ（以下単にカメラという）はた
とえばCCD素子（電荷結合素子）が多数個配列
され、これらCCD素子に光があたるとその光信
号を電気信号に変換して撮像信号を取出す一次元
走査の可能なカメラであり、これ自体は周知のカ
メラである。カメラ５はネジ口瓶１のネジ口側壁
６の直横に配設されている。７は遮光板であつ
て、ネジ口瓶１のネジ口上部８より光線が侵入す
るのを防止するために設けている。なお光源２は
光線３が遮光板７を上限としてネジ口側壁４に投
射されるように、遮光板７より下方にネジ口側壁
４のほぼ横方向の位置に配設されている。
検査するネジ口瓶である。ネジ口瓶１は検査を受
けるため多量本、コンベア（図示せず）上を移送
される。２は光源であり、光源２より光線３がネ
ジ口瓶１のネジ口側壁４に投射される。５は光源
２より投射された光線３を受光する一次元走査カ
メラとしてのイメージセンサカメラである。イメ
ージセンサカメラ（以下単にカメラという）はた
とえばCCD素子（電荷結合素子）が多数個配列
され、これらCCD素子に光があたるとその光信
号を電気信号に変換して撮像信号を取出す一次元
走査の可能なカメラであり、これ自体は周知のカ
メラである。カメラ５はネジ口瓶１のネジ口側壁
６の直横に配設されている。７は遮光板であつ
て、ネジ口瓶１のネジ口上部８より光線が侵入す
るのを防止するために設けている。なお光源２は
光線３が遮光板７を上限としてネジ口側壁４に投
射されるように、遮光板７より下方にネジ口側壁
４のほぼ横方向の位置に配設されている。
光源２より投射された光線３はネジ口側壁４に
投射されここで屈折を受け、瓶口内腔を経て他方
のネジ口側壁６に至る。ここで光線３は再び屈折
を受けるが、ネジ口側壁６のネジ山のために屈折
を受け、ネジ口側壁６より水平にカメラ５に向か
う光線は４本となる。ネジ口側壁６を透過する４
本の光線についてカメラ５側からみた像を描くと
第２図に示すように２１，２２，２３，２４の４
個の発光部が得られる。カメラ５の走査線は第２
図のＡのように配されるので、カメラ５には１走
査で４個のパルスの撮像信号を得ることができ
る。第２図にはネジ口瓶１と光源２およびカメラ
５のある相対的位置関係における瓶の発光部を示
しているが、良品瓶について瓶を１回転させた場
合の、45゜回転毎の発光部を示すと第３図のよう
になる。第３図で明らかなように、良品瓶の場合
の透過光による発光部は４個あるいは３個とな
る。３個の場合が存するのは、瓶の回転によるネ
ジ山の状況の相違によるものである。
投射されここで屈折を受け、瓶口内腔を経て他方
のネジ口側壁６に至る。ここで光線３は再び屈折
を受けるが、ネジ口側壁６のネジ山のために屈折
を受け、ネジ口側壁６より水平にカメラ５に向か
う光線は４本となる。ネジ口側壁６を透過する４
本の光線についてカメラ５側からみた像を描くと
第２図に示すように２１，２２，２３，２４の４
個の発光部が得られる。カメラ５の走査線は第２
図のＡのように配されるので、カメラ５には１走
査で４個のパルスの撮像信号を得ることができ
る。第２図にはネジ口瓶１と光源２およびカメラ
５のある相対的位置関係における瓶の発光部を示
しているが、良品瓶について瓶を１回転させた場
合の、45゜回転毎の発光部を示すと第３図のよう
になる。第３図で明らかなように、良品瓶の場合
の透過光による発光部は４個あるいは３個とな
る。３個の場合が存するのは、瓶の回転によるネ
ジ山の状況の相違によるものである。
一方不良瓶の場合を想定してみると、たとえば
第３図のト270゜の位置にて瓶の口欠があると、瓶
口の発光部は第４図イに示すように最上部の発光
部が消滅し２個の発光部となる。また第３図ヘ
225゜の位置にて瓶口のネジ山が欠損していると、
この部分で透過がスムージになされず第４図ロに
示すように中２個の発光部が消滅し残２個の発光
部となる。
第３図のト270゜の位置にて瓶の口欠があると、瓶
口の発光部は第４図イに示すように最上部の発光
部が消滅し２個の発光部となる。また第３図ヘ
225゜の位置にて瓶口のネジ山が欠損していると、
この部分で透過がスムージになされず第４図ロに
示すように中２個の発光部が消滅し残２個の発光
部となる。
以上のように第１図において瓶を１回転して各
回転角における発光部パターンをチエツクする
と、良品瓶に対して瓶口やネジ山に欠損がある瓶
はその部分における発光部分のパターンが相違す
る。ネジ口瓶１の１回転に対して、カメラ５はパ
ターン抽出に十分な回数サンプリング動作させて
走査を行ない、さらに後段に接続される電子回路
により、相違するパターンのチエツクを行ない良
品瓶と不良瓶の判定を行なう。
回転角における発光部パターンをチエツクする
と、良品瓶に対して瓶口やネジ山に欠損がある瓶
はその部分における発光部分のパターンが相違す
る。ネジ口瓶１の１回転に対して、カメラ５はパ
ターン抽出に十分な回数サンプリング動作させて
走査を行ない、さらに後段に接続される電子回路
により、相違するパターンのチエツクを行ない良
品瓶と不良瓶の判定を行なう。
第５図に良品瓶と不良瓶のパターン相違の検出
を行なう具体的な電子回路ブロツク図の一例を示
す。
を行なう具体的な電子回路ブロツク図の一例を示
す。
第５図において３１はカメラ５よりの信号を得
て矩形波パルスを導出する波形整形回路である。
カメラ５が第２図に示すネジ口瓶について走査動
作を行なうとすると、一走査で４個のパルスが波
形整形回路３１の出力端に導出される。３２はモ
ード計数器である。ここにモードとは１走査毎に
得られる撮像信号の矩形波のことをいい、モード
１とは矩形波が１個の場合、モード２とは矩形波
が２個の場合をいう。モード３、モード４につい
ても同様に考えてよい。モード計数器３２は走査
毎にリセツトされる。３３は数値信号４を設定す
る設定器、３４はモード計数器３２の出力と設定
器３３よりの数値信号をそれぞれ入力に受けて比
較する比較器、３５は数値信号３を設定する設定
器、３６はモード計数器３２の出力と設定器３５
よりの数値信号をそれぞれ入力に受けて比較する
比較器である。３７は比較器３４の出力端４＜ａ
の出力が「１」のとき、この信号すなわちモード
オーバ信号を導出する端子、３８は比較器３６の
出力端３＞ａの出力が「１」のとき、この信号す
なわちモードラツク信号を導出する端子である。
て矩形波パルスを導出する波形整形回路である。
カメラ５が第２図に示すネジ口瓶について走査動
作を行なうとすると、一走査で４個のパルスが波
形整形回路３１の出力端に導出される。３２はモ
ード計数器である。ここにモードとは１走査毎に
得られる撮像信号の矩形波のことをいい、モード
１とは矩形波が１個の場合、モード２とは矩形波
が２個の場合をいう。モード３、モード４につい
ても同様に考えてよい。モード計数器３２は走査
毎にリセツトされる。３３は数値信号４を設定す
る設定器、３４はモード計数器３２の出力と設定
器３３よりの数値信号をそれぞれ入力に受けて比
較する比較器、３５は数値信号３を設定する設定
器、３６はモード計数器３２の出力と設定器３５
よりの数値信号をそれぞれ入力に受けて比較する
比較器である。３７は比較器３４の出力端４＜ａ
の出力が「１」のとき、この信号すなわちモード
オーバ信号を導出する端子、３８は比較器３６の
出力端３＞ａの出力が「１」のとき、この信号す
なわちモードラツク信号を導出する端子である。
さらに３９，４０，４１，４２および４４，４
５，４６，４７はラツチ回路であつて、ラツチ回
路３９，４１，４５，４７は比較器３６の出力端
３＝ａの出力が「１」のとき、この信号を受けて
入力信号を出力側に導出し、ラツチ回路４０，４
２，４４，４６は比較器３６の出力端３＜ａの出
力が「１」のとき、この信号を受けて入力信号を
出力側に導出する。これらのラツチ回路でモード
パターンオーバ検出回路を構成する。４３および
４８はモードパターンオーバ信号を導出する端子
である。
５，４６，４７はラツチ回路であつて、ラツチ回
路３９，４１，４５，４７は比較器３６の出力端
３＝ａの出力が「１」のとき、この信号を受けて
入力信号を出力側に導出し、ラツチ回路４０，４
２，４４，４６は比較器３６の出力端３＜ａの出
力が「１」のとき、この信号を受けて入力信号を
出力側に導出する。これらのラツチ回路でモード
パターンオーバ検出回路を構成する。４３および
４８はモードパターンオーバ信号を導出する端子
である。
５１は比較器３４の出力端４＝ａの出力を入力
に受け、瓶１回転中におけるモード４の走査回数
を計数するモード４計数器である。５２は比較器
３６の出力端３＝ａの出力を入力に受け、瓶１回
転中におけるモード３の走査回数を計数するモー
ド３計数器である。５３はモード４計数器５１と
モード３計数器５２の両出力を入力に受け両者の
計数内容の差を求める演算回路、５４は一定幅の
数値を設定する設定器、５５は演算回路５３の出
力と設定器５４よりの数値信号を入力に受け、両
者を比較する比較器である。また５６は演算回路
５３の出力端に信号「１」を得たときすなわち差
の信号が設定器５４の数値幅を外れたとき、瓶不
良信号を導出する端子である。
に受け、瓶１回転中におけるモード４の走査回数
を計数するモード４計数器である。５２は比較器
３６の出力端３＝ａの出力を入力に受け、瓶１回
転中におけるモード３の走査回数を計数するモー
ド３計数器である。５３はモード４計数器５１と
モード３計数器５２の両出力を入力に受け両者の
計数内容の差を求める演算回路、５４は一定幅の
数値を設定する設定器、５５は演算回路５３の出
力と設定器５４よりの数値信号を入力に受け、両
者を比較する比較器である。また５６は演算回路
５３の出力端に信号「１」を得たときすなわち差
の信号が設定器５４の数値幅を外れたとき、瓶不
良信号を導出する端子である。
次に第５図に示す電子回路ブロツク図の動作に
ついて説明する。
ついて説明する。
先ずモードオーバもしくはモードラツクによる
不良瓶の検出について説明する。第３図に示すよ
うに検査瓶が良品瓶の場合、発光部の個数は４か
３でありしたがつて波形整形回路３１に出力され
る矩形パルスも１走査毎に４個あるいは３個であ
る。したがつてモード計数器３２の出力ａが、瓶
１回転中において４よりも大となることもないし
また３よりも小さくなることがない。したがつて
比較器３４の出力端４＜ａ、比較器３６の出力端
３＞ａのいずれにも信号「１」を導出せず、モー
ドオーバ信号導出端子３７およびモードラツク信
号導出端子３８から瓶不良信号が導出されること
はない。しかし検査瓶が第４図イに示すような不
良瓶の場合、発光部が２個の部分があり少なくと
もカメラ５がその部分を走査中、モード計数器３
２の出力ａは２となる。それゆえ比較器３６の出
力端３＜ａに信号「１」が得られる。この信号が
モードラツク信号端子３８より導出され、瓶の不
良の判定がなされる。同様にネジ山の切欠き等で
発光部が５個生じた場合は、モード計数器３２の
出力ａが５となる。このため比較器３４の出力端
４＜ａに信号「１」が得られ、この信号がモード
オーバ信号端子３８に導出される。この信号によ
つても不良瓶の判定がなされる。
不良瓶の検出について説明する。第３図に示すよ
うに検査瓶が良品瓶の場合、発光部の個数は４か
３でありしたがつて波形整形回路３１に出力され
る矩形パルスも１走査毎に４個あるいは３個であ
る。したがつてモード計数器３２の出力ａが、瓶
１回転中において４よりも大となることもないし
また３よりも小さくなることがない。したがつて
比較器３４の出力端４＜ａ、比較器３６の出力端
３＞ａのいずれにも信号「１」を導出せず、モー
ドオーバ信号導出端子３７およびモードラツク信
号導出端子３８から瓶不良信号が導出されること
はない。しかし検査瓶が第４図イに示すような不
良瓶の場合、発光部が２個の部分があり少なくと
もカメラ５がその部分を走査中、モード計数器３
２の出力ａは２となる。それゆえ比較器３６の出
力端３＜ａに信号「１」が得られる。この信号が
モードラツク信号端子３８より導出され、瓶の不
良の判定がなされる。同様にネジ山の切欠き等で
発光部が５個生じた場合は、モード計数器３２の
出力ａが５となる。このため比較器３４の出力端
４＜ａに信号「１」が得られ、この信号がモード
オーバ信号端子３８に導出される。この信号によ
つても不良瓶の判定がなされる。
次にモードパターンオーバによる不良瓶の検出
について述べる。良品の瓶の場合、瓶の回転にし
たがつてモード４が先ず続き次いでモード３が続
き再びモード４で１回転が終了するか、あるいは
逆にモード３群→モード４群→モード３群という
変化で１回転が終了するかのいずれかである。し
かしネジ山等に欠損がある不良瓶であると、瓶が
１回転する間にモード４群→モード３群→モード
４群→モード３群→モード４群、あるいはモード
３群→モード４群→モード３群→モード４群→モ
ード３群とモード群のくり返しが多くなる場合が
ある。したがつてくり返しモードパターンが３を
こえると不良瓶と判定する。
について述べる。良品の瓶の場合、瓶の回転にし
たがつてモード４が先ず続き次いでモード３が続
き再びモード４で１回転が終了するか、あるいは
逆にモード３群→モード４群→モード３群という
変化で１回転が終了するかのいずれかである。し
かしネジ山等に欠損がある不良瓶であると、瓶が
１回転する間にモード４群→モード３群→モード
４群→モード３群→モード４群、あるいはモード
３群→モード４群→モード３群→モード４群→モ
ード３群とモード群のくり返しが多くなる場合が
ある。したがつてくり返しモードパターンが３を
こえると不良瓶と判定する。
今仮に良品瓶が１回転でモード３群→モード４
群→モード３群とくり返されるものとすると、最
初のモード３群で比較器３６の出力端３＝ａの出
力に「１」の導出が続き、この信号を条件にラツ
チ回路３９はその入力に常に加えられているハイ
レベル信号“Ｈ”（論理「１」）を出力側に導出す
る。そしてこの出力信号「１」はラツチ回路４０
の入力端に加えられるが、モード３が続いている
間比較器３６の出力端３＜ａの出力は「１」でな
いので、ラツチ回路４０の出力端に出力信号
「１」が導出されない。モード３よりモード４に
移ると、比較器３６の出力端３＜ａの出力は
「１」となりこの信号を条件にラツチ回路４０は
入力に加えられていた信号「１」を出力側に導出
する。次に続いてモード３に再び移ると比較器３
６の出力端３＝ａの出力が「１」となる。この比
較器３６の出力「１」を条件にラツチ回路４１は
入力に加えられていた信号「１」を出力側に導出
する。しかし良品瓶の場合は、これで１回転の動
作を終了するのでラツチ回路４１の出力「１」が
ラツチ回路４２の入力に加えられるものの、ラツ
チ回路４２の出力側に導出されずモードパターン
オーバ信号端子４３には瓶不良信号が導出されな
い。しかし瓶が不良の場合モード３群→モード４
群→モード３群に続いてモード４群→モード３群
とくり返されるので、モード４への移行により比
較器３６の出力端３＜ａの出力が再び「１」とな
り、この信号を条件にラツチ回路４２の入力に加
えられている信号「１」が出力側に得られる。こ
の信号「１」がモードパターンオーバ信号として
端子４３より導出され、不良瓶の判定がなされ
る。また瓶がモード４群→モード３群→モード４
群と変化する場合のモードパターンオーバ検出
は、ラツチ回路４４，４５，４６，４７で上述し
たラツチ回路３９，４０，４１，４２と同様の動
作により行なうことができる。
群→モード３群とくり返されるものとすると、最
初のモード３群で比較器３６の出力端３＝ａの出
力に「１」の導出が続き、この信号を条件にラツ
チ回路３９はその入力に常に加えられているハイ
レベル信号“Ｈ”（論理「１」）を出力側に導出す
る。そしてこの出力信号「１」はラツチ回路４０
の入力端に加えられるが、モード３が続いている
間比較器３６の出力端３＜ａの出力は「１」でな
いので、ラツチ回路４０の出力端に出力信号
「１」が導出されない。モード３よりモード４に
移ると、比較器３６の出力端３＜ａの出力は
「１」となりこの信号を条件にラツチ回路４０は
入力に加えられていた信号「１」を出力側に導出
する。次に続いてモード３に再び移ると比較器３
６の出力端３＝ａの出力が「１」となる。この比
較器３６の出力「１」を条件にラツチ回路４１は
入力に加えられていた信号「１」を出力側に導出
する。しかし良品瓶の場合は、これで１回転の動
作を終了するのでラツチ回路４１の出力「１」が
ラツチ回路４２の入力に加えられるものの、ラツ
チ回路４２の出力側に導出されずモードパターン
オーバ信号端子４３には瓶不良信号が導出されな
い。しかし瓶が不良の場合モード３群→モード４
群→モード３群に続いてモード４群→モード３群
とくり返されるので、モード４への移行により比
較器３６の出力端３＜ａの出力が再び「１」とな
り、この信号を条件にラツチ回路４２の入力に加
えられている信号「１」が出力側に得られる。こ
の信号「１」がモードパターンオーバ信号として
端子４３より導出され、不良瓶の判定がなされ
る。また瓶がモード４群→モード３群→モード４
群と変化する場合のモードパターンオーバ検出
は、ラツチ回路４４，４５，４６，４７で上述し
たラツチ回路３９，４０，４１，４２と同様の動
作により行なうことができる。
第５図の電子回路ブロツク図はさらに他の方法
で不良瓶を検出することができる。瓶が１回転す
る間モード４の走査線数をモード４計数器５１で
計数し、モード３の走査線数をモード３計数器５
２で計数する。そして演算回路５３はモード４計
数器５１とモード計数器５２の内容の差を計算
し、比較器５５の入力の一端にその差値を加え
る。比較器５５は設定器５４よりの一定の巾を持
つ数値信号と演算回路５３よりの数値を比較す
る。良品瓶の場合モード４の走査線数とモード３
の走査線数は１定であり、その差値は設定器５４
で設定される数値幅内にあるから端子５６からは
信号が導出されない。これに対しネジ山等に欠損
のある不良瓶の場合はモード４の走査線数、ある
いはモード３の走査線数が増加、減少し、演算回
路５３より出力される差値は設定器５４で設定さ
れる数値幅内に入らないで小さいかあるいは数値
幅をこえて大きくなる。それゆえ比較器５５の出
力端に信号「１」が得られる。この信号「１」が
端子５６に導出され、不良瓶の判定がなされる。
で不良瓶を検出することができる。瓶が１回転す
る間モード４の走査線数をモード４計数器５１で
計数し、モード３の走査線数をモード３計数器５
２で計数する。そして演算回路５３はモード４計
数器５１とモード計数器５２の内容の差を計算
し、比較器５５の入力の一端にその差値を加え
る。比較器５５は設定器５４よりの一定の巾を持
つ数値信号と演算回路５３よりの数値を比較す
る。良品瓶の場合モード４の走査線数とモード３
の走査線数は１定であり、その差値は設定器５４
で設定される数値幅内にあるから端子５６からは
信号が導出されない。これに対しネジ山等に欠損
のある不良瓶の場合はモード４の走査線数、ある
いはモード３の走査線数が増加、減少し、演算回
路５３より出力される差値は設定器５４で設定さ
れる数値幅内に入らないで小さいかあるいは数値
幅をこえて大きくなる。それゆえ比較器５５の出
力端に信号「１」が得られる。この信号「１」が
端子５６に導出され、不良瓶の判定がなされる。
モード４とモード３の走査線数の差を求めて不
良瓶を検査する方法は、ネジ山のスタート部分に
欠損がある場合モードオーバ（モードラツク）検
出法、モードパターンオーバ検出法では検出でき
ないので、この方法が特に有効である。
良瓶を検査する方法は、ネジ山のスタート部分に
欠損がある場合モードオーバ（モードラツク）検
出法、モードパターンオーバ検出法では検出でき
ないので、この方法が特に有効である。
第５図の電子回路ブロツク図において、モード
オーバ検出法、モードパターンオーバ検出法、モ
ード４とモード３の走査線数差演算法のうちいず
れかでも不良瓶を検査できるが、３方法を併用す
ればより有効に不良瓶を検出できる。
オーバ検出法、モードパターンオーバ検出法、モ
ード４とモード３の走査線数差演算法のうちいず
れかでも不良瓶を検査できるが、３方法を併用す
ればより有効に不良瓶を検出できる。
第６図に本発明の他の実施例方法を示す概略図
を示す。光源２が遮光板７よりも上部に配され、
ネジ口瓶１の一方のネジ口側壁４には光線３を透
過させないで、光線３は他方のネジ口側壁６のみ
を透過させる点で第１図に示す実施例と相違す
る。この実施例のモードは良品瓶の場合モード１
とモード２のみとなる。
を示す。光源２が遮光板７よりも上部に配され、
ネジ口瓶１の一方のネジ口側壁４には光線３を透
過させないで、光線３は他方のネジ口側壁６のみ
を透過させる点で第１図に示す実施例と相違す
る。この実施例のモードは良品瓶の場合モード１
とモード２のみとなる。
以上のように本発明の検査方法は被検査瓶を回
転させつつ、被検査ネジ部のみに光があたるよう
に遮光板を設け、ネジ部を透過した水平光線を一
次元走査カメラで電気信号に変え、その電気信号
のパターンの変化によつてネジ口瓶のネジ山の良
否を判定するようにしたから、ネジ山等のため瓶
口部の複雑なネジ口瓶でも正確かつ高速に、しか
も何ら人手を介することなく瓶の良否判定を行な
うことができる。
転させつつ、被検査ネジ部のみに光があたるよう
に遮光板を設け、ネジ部を透過した水平光線を一
次元走査カメラで電気信号に変え、その電気信号
のパターンの変化によつてネジ口瓶のネジ山の良
否を判定するようにしたから、ネジ山等のため瓶
口部の複雑なネジ口瓶でも正確かつ高速に、しか
も何ら人手を介することなく瓶の良否判定を行な
うことができる。
第１図は本発明の一実施例を示す検査方法の概
略を示す図、第２図は一次元走査カメラの走査線
とネジ口瓶発光部との位置関係を示す図、第３図
は第１図実施例において良品瓶を検査した場合の
カメラ側より見た瓶口の発光状態を示す図、第４
図は不良瓶の瓶口の発光状態の一例を示す図、第
５図は第１図実施例に適用される電子回路ブロツ
ク図、第６図は本発明の他の実施例を示す検査方
法の概略を示す図である。１はネジ口瓶、２は光
源、３は光線、５は一次元走査カメラ、７は遮光
板。
略を示す図、第２図は一次元走査カメラの走査線
とネジ口瓶発光部との位置関係を示す図、第３図
は第１図実施例において良品瓶を検査した場合の
カメラ側より見た瓶口の発光状態を示す図、第４
図は不良瓶の瓶口の発光状態の一例を示す図、第
５図は第１図実施例に適用される電子回路ブロツ
ク図、第６図は本発明の他の実施例を示す検査方
法の概略を示す図である。１はネジ口瓶、２は光
源、３は光線、５は一次元走査カメラ、７は遮光
板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検査瓶を回転させつつ光源よりの光線をネ
ジ口瓶のネジ部を透過するようにあて、その透過
光線を一次元走査カメラで受光するネジ口瓶の検
査方法であつて、前記光線の進行路に、被検査ネ
ジ部以外のネジ部を透過する光線の侵入を防止す
る遮光線を設け、ネジ部を透過した水平光線をネ
ジ口の横に位置する一次元走査カメラで電気信号
に変え、得られた電気信号の一走査毎の矩形波の
数の計数手段及びその数を設定数と比較して判定
する手段、矩形波の所定数が現れる走査回数と異
なる所定数が現れる走査回数との差により判定す
る手段又は前記計数手段による同じ計数値が連続
する走査線群を１群とし、これらの群が現れる順
序が予め定められた順序であるか否かを判定する
手段のいずれかによつてネジ部の良否を判定する
ネジ口瓶の検査方法。 ２ 前記遮光板は、前記光源と前記ネジ口瓶間
に、前記ネジ口瓶のネジ口上部を遮う如くに設
け、かつ前記光源は前記遮光板より下方から前記
ネジ口瓶の瓶口に光線をあてるように構成し、前
記光線が前記瓶口の両側壁を透過するようにした
特許請求の範囲第１項記載のネジ口瓶の検査方
法。 ３ 前記遮光板は、前記光源と前記ネジ口間に、
前記ネジ口瓶のネジ口上部を遮う如くに設け、か
つ前記光源は前記遮光板より上方から前記ネジ口
瓶の瓶口に光線をあてるように構成し、前記光線
が前記瓶口の片側壁を透過するようにした特許請
求の範囲第１項記載のネジ口瓶の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13914680A JPS5763438A (en) | 1980-10-04 | 1980-10-04 | Inspection method of bottle with thereaded mouth |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13914680A JPS5763438A (en) | 1980-10-04 | 1980-10-04 | Inspection method of bottle with thereaded mouth |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5763438A JPS5763438A (en) | 1982-04-16 |
| JPS6310780B2 true JPS6310780B2 (ja) | 1988-03-09 |
Family
ID=15238632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13914680A Granted JPS5763438A (en) | 1980-10-04 | 1980-10-04 | Inspection method of bottle with thereaded mouth |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5763438A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59217141A (ja) * | 1983-05-26 | 1984-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | ビンのねじ部の検査装置 |
| US8941825B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-01-27 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container inspection |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5488184A (en) * | 1977-12-26 | 1979-07-13 | Sapporo Breweries Ltd | Inspector of rust of mouth part of bottles |
| JPS54107388A (en) * | 1978-02-09 | 1979-08-23 | Toyo Glass Co Ltd | Container defect detector |
-
1980
- 1980-10-04 JP JP13914680A patent/JPS5763438A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5763438A (en) | 1982-04-16 |
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