JPH04216444A - 瓶検査装置 - Google Patents
瓶検査装置Info
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- JPH04216444A JPH04216444A JP2402610A JP40261090A JPH04216444A JP H04216444 A JPH04216444 A JP H04216444A JP 2402610 A JP2402610 A JP 2402610A JP 40261090 A JP40261090 A JP 40261090A JP H04216444 A JPH04216444 A JP H04216444A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
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- G—PHYSICS
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- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、瓶底部に混入の異物を
瓶底部に関する画像情報に基づき検出する瓶検査装置。
瓶底部に関する画像情報に基づき検出する瓶検査装置。
【０００２】
【従来の技術】一般にジュース、ビール等のほぼ透明な
液を収容する瓶には洗浄ミス等が原因で瓶の内面に付着
物などが残ったり、大きな傷等のつくことがあり、こう
いった欠陥のあるびんは、当然のことながら商品価値を
低下させるだけでなく、食品衛生および、安全上大きな
問題となる。
液を収容する瓶には洗浄ミス等が原因で瓶の内面に付着
物などが残ったり、大きな傷等のつくことがあり、こう
いった欠陥のあるびんは、当然のことながら商品価値を
低下させるだけでなく、食品衛生および、安全上大きな
問題となる。
【０００３】従来このような欠陥があるかどうかの検査
は目視によって行なわれてきたが、目視にて瓶内を検査
し欠陥の有無を判定するのでは、検査員の体調や、能力
等に結果が左右されることになり、時には信じられない
程大きな欠陥を見逃すこともある。このような目視検査
は人間の視覚に頼る部分が多いので欠陥の見逃しが多く
なることは、避けられない。これら提案は主に瓶胴部と
瓶底部を検査する方法・装置である。たとえば瓶胴部（
瓶口側面も含む）を検査する提案では高速回転している
被検査瓶に一方から光を照射し、その反対側に設置した
ＣＣＤカメラで透過画像を捉え、電気信号に変換し、画
像処理装置で欠陥の有無を判定する技術が示されている
。また、瓶底部を検査する提案では、瓶底面の下方から
照明をあて、その透過像を瓶口上部に設置したＣＣＤカ
メラで捉えて、この信号をデジタル化し画像処理を行う
技術が示されている。
は目視によって行なわれてきたが、目視にて瓶内を検査
し欠陥の有無を判定するのでは、検査員の体調や、能力
等に結果が左右されることになり、時には信じられない
程大きな欠陥を見逃すこともある。このような目視検査
は人間の視覚に頼る部分が多いので欠陥の見逃しが多く
なることは、避けられない。これら提案は主に瓶胴部と
瓶底部を検査する方法・装置である。たとえば瓶胴部（
瓶口側面も含む）を検査する提案では高速回転している
被検査瓶に一方から光を照射し、その反対側に設置した
ＣＣＤカメラで透過画像を捉え、電気信号に変換し、画
像処理装置で欠陥の有無を判定する技術が示されている
。また、瓶底部を検査する提案では、瓶底面の下方から
照明をあて、その透過像を瓶口上部に設置したＣＣＤカ
メラで捉えて、この信号をデジタル化し画像処理を行う
技術が示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の瓶検査装置は主として空瓶を対象としており、
液を充填した後の瓶検査については、目視に頼れるもの
が主流になってきた。また液充填後の瓶において特に重
大な欠陥として挙げられるのは、異物などが液中に混入
したり、瓶に付着したりする場合で、しかもそれが瓶底
に存在する場合、目視検査でもその確認が困難なものと
なっている。こうした液充填後の瓶底部の自動検査を撮
影画像により実施する場合、瓶上方に設置されたテレビ
（ＴＶ）カメラから得られる画像では瓶の王冠・栓など
により瓶底部全体の画像が得られない。また瓶胴部の側
方に設置されたＴＶカメラ等で、瓶底部を撮像して瓶底
部の欠陥を検査するには、数代のカメラによる画像処理
が必要で、コストと検査時間がかかることになる。この
ため、照明を瓶上方からかもしくは瓶側面から行い、画
像入力を瓶下方に設置したＴＶカメラで行なうことにな
る。
た従来の瓶検査装置は主として空瓶を対象としており、
液を充填した後の瓶検査については、目視に頼れるもの
が主流になってきた。また液充填後の瓶において特に重
大な欠陥として挙げられるのは、異物などが液中に混入
したり、瓶に付着したりする場合で、しかもそれが瓶底
に存在する場合、目視検査でもその確認が困難なものと
なっている。こうした液充填後の瓶底部の自動検査を撮
影画像により実施する場合、瓶上方に設置されたテレビ
（ＴＶ）カメラから得られる画像では瓶の王冠・栓など
により瓶底部全体の画像が得られない。また瓶胴部の側
方に設置されたＴＶカメラ等で、瓶底部を撮像して瓶底
部の欠陥を検査するには、数代のカメラによる画像処理
が必要で、コストと検査時間がかかることになる。この
ため、照明を瓶上方からかもしくは瓶側面から行い、画
像入力を瓶下方に設置したＴＶカメラで行なうことにな
る。
【０００５】一般的に、ジュース・ビール等の瓶には、
側面にエンボスや擦り傷（リサイクル瓶は瓶を繰り返し
使用するため、その製造工程のコンベア上で瓶と瓶とが
こすれて擦り傷になる）、等が存在する。このため、瓶
上方もしくは瓶側面から照明して瓶下方のＴＶカメラで
撮像した画像の中には、光の屈折・全反射・乱反射によ
り生じた上記擦り傷のノイズ画像が混在し、瓶内の異物
画像と識別し難いという問題があり、それらの影響を除
去するための処理が必要となる。
側面にエンボスや擦り傷（リサイクル瓶は瓶を繰り返し
使用するため、その製造工程のコンベア上で瓶と瓶とが
こすれて擦り傷になる）、等が存在する。このため、瓶
上方もしくは瓶側面から照明して瓶下方のＴＶカメラで
撮像した画像の中には、光の屈折・全反射・乱反射によ
り生じた上記擦り傷のノイズ画像が混在し、瓶内の異物
画像と識別し難いという問題があり、それらの影響を除
去するための処理が必要となる。
【０００６】そこで、本発明の目的は、上述したような
従来の問題点の解決を図り、瓶底部の撮影画像の中から
瓶底部等の擦傷により生じたノイズ部分を除去すること
の可能な瓶検査装置のノイズ除去を提案することにある
。
従来の問題点の解決を図り、瓶底部の撮影画像の中から
瓶底部等の擦傷により生じたノイズ部分を除去すること
の可能な瓶検査装置のノイズ除去を提案することにある
。
【０００７】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本目的は、瓶底部よりも上方から瓶胴部の下
半部に投射する光源と、前記瓶底部からの光情報を画像
信号に変換する撮像手段と、撮像の結果として得られた
１画面分の画像信号の内で前記瓶の画像から着目画素の
周辺の一定画素数以上連続する画像信号を用いて算出さ
れる参照値と着目画素の輝度レベルとの差を設定閾値と
比較してこれより小さい着目画素を検出除去し最終的に
残った１画面分の画像信号を欠陥として認識する画像信
号処理手段とを備えたことを特徴とする。
るために、本目的は、瓶底部よりも上方から瓶胴部の下
半部に投射する光源と、前記瓶底部からの光情報を画像
信号に変換する撮像手段と、撮像の結果として得られた
１画面分の画像信号の内で前記瓶の画像から着目画素の
周辺の一定画素数以上連続する画像信号を用いて算出さ
れる参照値と着目画素の輝度レベルとの差を設定閾値と
比較してこれより小さい着目画素を検出除去し最終的に
残った１画面分の画像信号を欠陥として認識する画像信
号処理手段とを備えたことを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明では、瓶内部に混入する異物はガラス破
片・ヘアピン・王冠等であり、瓶底部にカメラの焦点を
合わせておく限り、それらの画像の面積は小さく、輝度
変化は非常に大きく急激なものとなることに着目し、一
定画素数（面積）以上連続で一定値以上のレベルとなる
画像信号を瓶周辺部の擦傷に対応のノズル信号とみなし
て除去する。さらに、瓶側部にエンボスが有る場合、こ
のエンボスにより生じるノイズ信号も除去される。
片・ヘアピン・王冠等であり、瓶底部にカメラの焦点を
合わせておく限り、それらの画像の面積は小さく、輝度
変化は非常に大きく急激なものとなることに着目し、一
定画素数（面積）以上連続で一定値以上のレベルとなる
画像信号を瓶周辺部の擦傷に対応のノズル信号とみなし
て除去する。さらに、瓶側部にエンボスが有る場合、こ
のエンボスにより生じるノイズ信号も除去される。
【０００９】
【実施例】以下、図面を参照して本発明実施例の詳細を
説明する。
説明する。
【００１０】図１，２，３は本発明実施例の基本構成を
示す。
示す。
【００１１】本実施例の瓶検査装置は瓶の底部に対する
撮像の結果として得られた１画面分の 画像信号の中
から、前記瓶の外周部に生じた擦傷に対応のノイズ記号
を除去する瓶検査装置である。
撮像の結果として得られた１画面分の 画像信号の中
から、前記瓶の外周部に生じた擦傷に対応のノイズ記号
を除去する瓶検査装置である。
【００１２】以下、図１を用いて、本発明実施例の基本
構成を示す。図１において、１００は着目画素周辺の画
素の輝度レベルから参照値を算出する手段であり、入力
された画像信号より参照値を求める。次に２００にて、
入力画像の着目画素の輝度値から前記参照値を減算し差
値を算出する。
構成を示す。図１において、１００は着目画素周辺の画
素の輝度レベルから参照値を算出する手段であり、入力
された画像信号より参照値を求める。次に２００にて、
入力画像の着目画素の輝度値から前記参照値を減算し差
値を算出する。
【００１３】更に３００にて前記差値と設定閾値とを比
較し差値が設定閾値より大きい場合に欠陥と判断する。
較し差値が設定閾値より大きい場合に欠陥と判断する。
【００１４】次に本発明を適用した瓶検査装置について
図２および図３を参照して説明する。
図２および図３を参照して説明する。
【００１５】図２に示すように被検査瓶１は回転ホイー
ル６と瓶支持板７に保持されて搬送され、被検査瓶１が
撮像カメラ４の上部に位置したときに瓶底画像を検査カ
メラ４により撮像し、その後画像処理装置５において、
撮像結果に基き、瓶内に混入した異物の有無の検査を行
う。図３に示すように検査カメラ４の上方に遮光板３お
よび照明２が設置されており、被検査瓶１が検査位置に
きた時に照明２により瓶底部が照らされる。遮光版３は
照明２からの光が撮像カメラ４に直接入射するのを防ぐ
ためのものである。
ル６と瓶支持板７に保持されて搬送され、被検査瓶１が
撮像カメラ４の上部に位置したときに瓶底画像を検査カ
メラ４により撮像し、その後画像処理装置５において、
撮像結果に基き、瓶内に混入した異物の有無の検査を行
う。図３に示すように検査カメラ４の上方に遮光板３お
よび照明２が設置されており、被検査瓶１が検査位置に
きた時に照明２により瓶底部が照らされる。遮光版３は
照明２からの光が撮像カメラ４に直接入射するのを防ぐ
ためのものである。
【００１６】ここで、照明２と撮像カメラ４の位置は以
下の様に設定される。照明２から出射された光は被検査
瓶１に入射し瓶表面や瓶と内容液との界面等で屈折し透
過してゆくが、この屈折・透過光が撮像カメラ４のレン
ズに入射しない位置に設置される。この為、撮像カメラ
４がとらえる画像は基本的にエンボス・瓶表面の傷・内
容液中の異物等による乱反射光になる。
下の様に設定される。照明２から出射された光は被検査
瓶１に入射し瓶表面や瓶と内容液との界面等で屈折し透
過してゆくが、この屈折・透過光が撮像カメラ４のレン
ズに入射しない位置に設置される。この為、撮像カメラ
４がとらえる画像は基本的にエンボス・瓶表面の傷・内
容液中の異物等による乱反射光になる。
【００１７】本検査はこうした乱反射による画像から内
容液中の異物を検出しようとするものである。上述の処
理手順で得られたジュース瓶の底部の画像を図４に示す
。内容液中の欠陥８、擦り傷ノイズ９がとらえられてい
る。ここで、ジュース瓶の胴部側面には瓶どうしの接触
により生じた擦り傷が一面に存在しており、この部分に
照明２による光を照射すると、瓶表面で反射した光が瓶
中を全反射により伝わり、図４左部に示す様な擦り傷ノ
イズ９として現われる。この擦り傷は瓶の円周方向に沿
ってほぼ全周に生じているため、円周方向に長い画像と
なる。
容液中の異物を検出しようとするものである。上述の処
理手順で得られたジュース瓶の底部の画像を図４に示す
。内容液中の欠陥８、擦り傷ノイズ９がとらえられてい
る。ここで、ジュース瓶の胴部側面には瓶どうしの接触
により生じた擦り傷が一面に存在しており、この部分に
照明２による光を照射すると、瓶表面で反射した光が瓶
中を全反射により伝わり、図４左部に示す様な擦り傷ノ
イズ９として現われる。この擦り傷は瓶の円周方向に沿
ってほぼ全周に生じているため、円周方向に長い画像と
なる。
【００１８】こうした画像から欠陥８を認識する際、擦
り傷ノイズとして異物画像と区別する必要がある。一般
にこのような場合、出力画像の輝度値の大小で判定する
場合が多いが繰り返し使用した瓶の場合、擦り傷ノイズ
９が欠陥信号８と輝度レベルにおいて同程度かそれ以上
大きいことが多くあり、単純に輝度値の大小を比較する
だけでは実用に供しない。そこで、本発明ではこうした
擦り傷ノイズの画像が欠陥の画像に比べて、円周方向の
輝度の連続的な変化が緩やかである事を利用し、以下の
処理を画像処理装置５において実行し、擦り傷ノイズを
除去する。
り傷ノイズとして異物画像と区別する必要がある。一般
にこのような場合、出力画像の輝度値の大小で判定する
場合が多いが繰り返し使用した瓶の場合、擦り傷ノイズ
９が欠陥信号８と輝度レベルにおいて同程度かそれ以上
大きいことが多くあり、単純に輝度値の大小を比較する
だけでは実用に供しない。そこで、本発明ではこうした
擦り傷ノイズの画像が欠陥の画像に比べて、円周方向の
輝度の連続的な変化が緩やかである事を利用し、以下の
処理を画像処理装置５において実行し、擦り傷ノイズを
除去する。
【００１９】円周方向に画素の輝度値を入力する方法を
説明する為検査画像の一例を図５に示す。図中のマス目
は画素を示しており、直交座標系で画素位置を示してい
る。本処理の場合、瓶の円周方向に後述のフィルター処
理を行うため、予め円周方向に沿ったマス目のアドレス
値を画像処理装置５のメモリー内に記憶しておく。この
アドレスに従った円周方向の各画素の輝度値をａｌ〜ａ
ｋだとする。今着目画素の輝度値がａｉだとすると、以
下のフィルター処理により着目画素の輝度値を補正する
ことにより擦り傷ノイズを除去する。
説明する為検査画像の一例を図５に示す。図中のマス目
は画素を示しており、直交座標系で画素位置を示してい
る。本処理の場合、瓶の円周方向に後述のフィルター処
理を行うため、予め円周方向に沿ったマス目のアドレス
値を画像処理装置５のメモリー内に記憶しておく。この
アドレスに従った円周方向の各画素の輝度値をａｌ〜ａ
ｋだとする。今着目画素の輝度値がａｉだとすると、以
下のフィルター処理により着目画素の輝度値を補正する
ことにより擦り傷ノイズを除去する。
【００２０】
【数１】
【００２１】このフィルタ処理は、着目画素を中心とし
た２Ｎ＋１個の一定長さの輝度レベルの平均を算出しそ
の平均値にＸ倍を乗じた値（参照値）を着目画素の輝度
レベルから減ずることである。ここでＸは０．３〜５程
度の数値であり、大きな値にすると高輝度の画素が連続
して存在する部分の消去効果が強くなり擦り傷ノイズの
除去が容易に行なわれるが、欠陥が擦り傷ノイズと重な
った場合や大きな欠陥の場合に擦り傷ノイズと同様に消
去されることになるため、０．５〜２程度の数値が適当
である。
た２Ｎ＋１個の一定長さの輝度レベルの平均を算出しそ
の平均値にＸ倍を乗じた値（参照値）を着目画素の輝度
レベルから減ずることである。ここでＸは０．３〜５程
度の数値であり、大きな値にすると高輝度の画素が連続
して存在する部分の消去効果が強くなり擦り傷ノイズの
除去が容易に行なわれるが、欠陥が擦り傷ノイズと重な
った場合や大きな欠陥の場合に擦り傷ノイズと同様に消
去されることになるため、０．５〜２程度の数値が適当
である。
【００２２】より詳しく図８により説明する。
【００２３】図８は、撮像カメラ４で撮像された画像信
号において、瓶の円周方向の輝度分布を示したものおよ
び、前記輝度分布に（１）式で示されるフィルター処理
を施したもの、更に設定閾値と比較しこれより小さい画
素を検出除去した画像信号の分布を示したものである。 ここで（１）式のフィルター処理はＸ＝１として行なっ
ている。図８の上２つの図はフィルター処理前後の輝度
分布を示しており、フィルタ処理前の分布に示される様
に欠陥部の信号は急激に変化しているのに対して、擦り
傷ノイズは輝度が緩やかに変化しているのが分る。この
為、擦り傷部は着目画素の輝度レベルと平均値に大きな
差がなく、補正後の輝度レベルａｉ’は数値０に近い値
となる。
号において、瓶の円周方向の輝度分布を示したものおよ
び、前記輝度分布に（１）式で示されるフィルター処理
を施したもの、更に設定閾値と比較しこれより小さい画
素を検出除去した画像信号の分布を示したものである。 ここで（１）式のフィルター処理はＸ＝１として行なっ
ている。図８の上２つの図はフィルター処理前後の輝度
分布を示しており、フィルタ処理前の分布に示される様
に欠陥部の信号は急激に変化しているのに対して、擦り
傷ノイズは輝度が緩やかに変化しているのが分る。この
為、擦り傷部は着目画素の輝度レベルと平均値に大きな
差がなく、補正後の輝度レベルａｉ’は数値０に近い値
となる。
【００２４】一方、欠陥画像は欠陥の外縁部で輝度が急
激に変化しており、かつフィルタ処理の一定長さの範囲
（本例では２Ｎ＋１）が欠陥のサイズより大きい為、着
目画素の輝度レベルは平均値より大きなものとなる。
激に変化しており、かつフィルタ処理の一定長さの範囲
（本例では２Ｎ＋１）が欠陥のサイズより大きい為、着
目画素の輝度レベルは平均値より大きなものとなる。
【００２５】以上の処理により、図８中央に示す輝度分
布が得られ、設定閾値をＮ２とＳ２の中間の値とするこ
とにより図８の下図に示す様に、欠陥部と擦り傷ノイズ
部の判別可能となる。
布が得られ、設定閾値をＮ２とＳ２の中間の値とするこ
とにより図８の下図に示す様に、欠陥部と擦り傷ノイズ
部の判別可能となる。
【００２６】尚、本例ではフィルター処理の一定長さの
範囲が欠陥のサイズより大きなものの例を示したが、欠
陥サイズの方が大きいものに対しても、その外縁の輝度
が急激に変化している為、外縁部に対してはその輝度値
が平均値よりも充分大きな値となり擦り傷ノイズとの識
別が可能になる。
範囲が欠陥のサイズより大きなものの例を示したが、欠
陥サイズの方が大きいものに対しても、その外縁の輝度
が急激に変化している為、外縁部に対してはその輝度値
が平均値よりも充分大きな値となり擦り傷ノイズとの識
別が可能になる。
【００２７】このような処理を実行するための画像処理
装置５の回路構成の一例を図６に示す。
装置５の回路構成の一例を図６に示す。
【００２８】図６において、中央演算処理装置（ＣＰＵ
）１００、リードオンリメモリ１１０、ランダムアクセ
スメモリ（ＲＡＭ）１２０、キーボード入力装置１３０
、表示装置１４０、アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換
器１５０が共通バスに接続されている。ＣＰＵ１００は
キーボード入力装置１３０からの実行命令の入力に応じ
ＲＯＭ１１０に格納された図７の制御手順を実行する。
）１００、リードオンリメモリ１１０、ランダムアクセ
スメモリ（ＲＡＭ）１２０、キーボード入力装置１３０
、表示装置１４０、アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換
器１５０が共通バスに接続されている。ＣＰＵ１００は
キーボード入力装置１３０からの実行命令の入力に応じ
ＲＯＭ１１０に格納された図７の制御手順を実行する。
【００２９】すなわち、撮像カメラ４から撮像結果とし
て出力される１画面の画像信号（アナログ形態）はＡ／
Ｄ変換器１５０においてデジタル形態で画素毎の輝度レ
ベルを示す信号に変換され、ＣＰＵ１００によりＲＡＭ
１２０に書き込まれる（Ｕ７のステップ１０）。
て出力される１画面の画像信号（アナログ形態）はＡ／
Ｄ変換器１５０においてデジタル形態で画素毎の輝度レ
ベルを示す信号に変換され、ＣＰＵ１００によりＲＡＭ
１２０に書き込まれる（Ｕ７のステップ１０）。
【００３０】ＣＰＵ１００はＲＡＭ１２０の中から、円
周付近の画素の輝度データを読出し、上述のフィルタ処
理を施してフィルタ補正後の輝度データをＲＡＭ１２０
に更新的に書き込む（図７のステップＳ２０〜Ｓ５０の
ループ処理）フィルタ処理を終了した後、ＣＰＵ１００
はＲＡＭ１２０の画像データとしきい値比較を行って、
しきい以上の輝度データを有する欠陥画像を検出する。 この欠陥画像の有無についてはＣＰＵ１００の指示で表
示装置１４０に表示される（図７のステップＳ６０）。
周付近の画素の輝度データを読出し、上述のフィルタ処
理を施してフィルタ補正後の輝度データをＲＡＭ１２０
に更新的に書き込む（図７のステップＳ２０〜Ｓ５０の
ループ処理）フィルタ処理を終了した後、ＣＰＵ１００
はＲＡＭ１２０の画像データとしきい値比較を行って、
しきい以上の輝度データを有する欠陥画像を検出する。 この欠陥画像の有無についてはＣＰＵ１００の指示で表
示装置１４０に表示される（図７のステップＳ６０）。
【００３１】図４に示すようなフィルタ補正前の画像の
円周方向の輝度レベルの分布は図８に示したものとなる
。この信号レベル分布に対してフィルター処理を施した
結果を図８下部に示す。この図に示すように一定長さ以
上の擦り傷ノイズについては輝度信号レベルとノイズレ
ベルの比率Ｓ／Ｎ比が著しく改善されているのが判かる
。なお、本実施例では減算する平均値の平均範囲は円周
方向８ｄｅｇ分とした。
円周方向の輝度レベルの分布は図８に示したものとなる
。この信号レベル分布に対してフィルター処理を施した
結果を図８下部に示す。この図に示すように一定長さ以
上の擦り傷ノイズについては輝度信号レベルとノイズレ
ベルの比率Ｓ／Ｎ比が著しく改善されているのが判かる
。なお、本実施例では減算する平均値の平均範囲は円周
方向８ｄｅｇ分とした。
【００３２】ここで、本実施例のフィルター処理を行う
と図８に示すように信号レベルが小さくなり、欠陥レベ
ルとノイズレベルとのマージンが小さくなってしまうこ
とがある。このため、本実施例ではフィルター処理後の
信号に数値１〜３の定数を乗じることにより補正後の輝
度レベルを増幅し、閾値による欠陥判定を行った。
と図８に示すように信号レベルが小さくなり、欠陥レベ
ルとノイズレベルとのマージンが小さくなってしまうこ
とがある。このため、本実施例ではフィルター処理後の
信号に数値１〜３の定数を乗じることにより補正後の輝
度レベルを増幅し、閾値による欠陥判定を行った。
【００３３】本実施例に限らず、本実施例を種々変更し
て次のように本発明を実施することができる。
て次のように本発明を実施することができる。
【００３４】
１）本実施例では平均を行う範囲を円周方向８ｄｅｇ分
としたが２ｄｅｇ以上であれば有効である。この平均処
理の範囲は、大きくするほど、欠陥信号は大きな値で検
出できるが擦り傷ノイズの消去効果も小さなものとなる
。一方、平均化処理の範囲を小さくすると、擦り傷ノイ
ズも小さくなるが欠陥信号も小さいものとなる。平均化
処理の範囲は瓶の種類によって最適値に設定するべきで
あり、一般的には円周方向２〜９０ｄｅｇ程度が望まし
い。
としたが２ｄｅｇ以上であれば有効である。この平均処
理の範囲は、大きくするほど、欠陥信号は大きな値で検
出できるが擦り傷ノイズの消去効果も小さなものとなる
。一方、平均化処理の範囲を小さくすると、擦り傷ノイ
ズも小さくなるが欠陥信号も小さいものとなる。平均化
処理の範囲は瓶の種類によって最適値に設定するべきで
あり、一般的には円周方向２〜９０ｄｅｇ程度が望まし
い。
【００３５】
２）本実施例では円周方向の画素の抽出に際しては、メ
モリー内に記憶しておいたアドレスに従って各画素の輝
度値を読み出したが、適宜、瓶中心・瓶の半径からアド
レス値を計算により求めてもかまわない。また、あるア
ドレスの輝度値をそのまま用いたが、より円周方向に正
確な輝度値を求めるためには、近傍画素の輝度値から補
問により円周方向に沿った輝度値を求めることも可能で
ある。
モリー内に記憶しておいたアドレスに従って各画素の輝
度値を読み出したが、適宜、瓶中心・瓶の半径からアド
レス値を計算により求めてもかまわない。また、あるア
ドレスの輝度値をそのまま用いたが、より円周方向に正
確な輝度値を求めるためには、近傍画素の輝度値から補
問により円周方向に沿った輝度値を求めることも可能で
ある。
【００３６】
３）本実施例では瓶底部の擦傷ノイズについてのみ除去
する例を示したが瓶底部にエンボスが有るとき、このエ
ンボスにより生じるノイズ画像をも除去できる。この場
合、フィルタ処理は１画面文の画像信号に対して施す。
する例を示したが瓶底部にエンボスが有るとき、このエ
ンボスにより生じるノイズ画像をも除去できる。この場
合、フィルタ処理は１画面文の画像信号に対して施す。
【００３７】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれば
、瓶検査の対象とはならない瓶底部の擦傷画像を除去で
きるので、従来の空瓶底部検査方法より簡単な処理でし
かも短時間で、瓶底に存在している欠陥異物を検出でき
その検出精度が高まるという効果が得られる。
、瓶検査の対象とはならない瓶底部の擦傷画像を除去で
きるので、従来の空瓶底部検査方法より簡単な処理でし
かも短時間で、瓶底に存在している欠陥異物を検出でき
その検出精度が高まるという効果が得られる。
【図１】本発明実施例の基本構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明実施例の瓶の配置を示す上面図である。
【図３】本発明実施例の側面構成を示す構造図である。
【図４】本発明実施例のフィルタ処理前後の画像を模式
的に示す説明図である。
的に示す説明図である。
【図５】検査画像において円周方向に画素データを取り
込む手順を示す説明図である。
込む手順を示す説明図である。
【図６】図３の画像処理装置５の回路構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図７】図６のＣＰＵ１００の実行する処理手順を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図８】本発明実施例のフィルタ処理前後の輝度信号を
波形を示す波形図である。
波形を示す波形図である。
４ 撮像カメラ
５ 画像処理装置
１００ ＣＰＵ
１１０ ＲＯＭ
１２０ ＲＡＭ
Claims (1)
- 【請求項１】 瓶底部よりも上方から瓶胴部の下半部
に投射する光源と、前記瓶底部からの光情報を画像信号
に変換する撮像手段と、撮像の結果として得られた１画
面分の画像信号の内で前記瓶の画像から着目画素の周辺
の一定画素数以上連続する画像信号を用いて算出される
参照値と着目画素の輝度レベルとの差を設定閾値と比較
してこれより小さい着目画素を検出除去し、最終的に残
った１画面分の画像信号を欠陥として認識する画像信号
処理手段とを備えたことを特徴とする瓶検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2402610A JPH04216444A (ja) | 1990-12-17 | 1990-12-17 | 瓶検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2402610A JPH04216444A (ja) | 1990-12-17 | 1990-12-17 | 瓶検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04216444A true JPH04216444A (ja) | 1992-08-06 |
Family
ID=18512410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2402610A Withdrawn JPH04216444A (ja) | 1990-12-17 | 1990-12-17 | 瓶検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04216444A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0875674A (ja) * | 1994-09-05 | 1996-03-22 | Kirin Techno Syst:Kk | 壜内沈降異物の検査装置 |
| JPH10185824A (ja) * | 1996-12-24 | 1998-07-14 | Kooei:Kk | 小製品の製品検査装置及びそれを用いた小製品の製品検査方法 |
| JP2022134981A (ja) * | 2021-03-04 | 2022-09-15 | アンリツ株式会社 | 物品検査装置 |
-
1990
- 1990-12-17 JP JP2402610A patent/JPH04216444A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0875674A (ja) * | 1994-09-05 | 1996-03-22 | Kirin Techno Syst:Kk | 壜内沈降異物の検査装置 |
| JPH10185824A (ja) * | 1996-12-24 | 1998-07-14 | Kooei:Kk | 小製品の製品検査装置及びそれを用いた小製品の製品検査方法 |
| JP2022134981A (ja) * | 2021-03-04 | 2022-09-15 | アンリツ株式会社 | 物品検査装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980312 |