JPH04217120A - ディジタル・アナログ変換器 - Google Patents
ディジタル・アナログ変換器Info
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- JPH04217120A JPH04217120A JP40318790A JP40318790A JPH04217120A JP H04217120 A JPH04217120 A JP H04217120A JP 40318790 A JP40318790 A JP 40318790A JP 40318790 A JP40318790 A JP 40318790A JP H04217120 A JPH04217120 A JP H04217120A
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- Japan
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- wiring
- ladder resistor
- analog converter
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、R−2Rラダー抵抗を
用いたディジタル・アナログ変換器(以下「DAC」と
いう。)に関する。
用いたディジタル・アナログ変換器(以下「DAC」と
いう。)に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のR−2Rラダー抵抗を用いたDA
C、例えば4bitのDAC110においては、図5に
示すようにカレントスイッチ2、3、4、5の差動対1
2、13、14、15を構成する一方のトランジスタ1
2a、13a、14a、15aのコレクタはR−2Rラ
ダー抵抗1に接続され、差動対12、13、14、15
を構成する他方のトランジスタ12b、13b、14b
、15bのコレクタは電源端子Aに接続されており、R
−2Rラダー抵抗1の電源端子Aへの配線とトランジス
タ12b、13b、14b、15bのコレクタの電源端
子Aへの配線は別々の配線により引き出され、1つの電
源端子Aに接続されていた。また、各bitへの入力コ
ードは各差動対12、13、14、15のベースに入力
される。
C、例えば4bitのDAC110においては、図5に
示すようにカレントスイッチ2、3、4、5の差動対1
2、13、14、15を構成する一方のトランジスタ1
2a、13a、14a、15aのコレクタはR−2Rラ
ダー抵抗1に接続され、差動対12、13、14、15
を構成する他方のトランジスタ12b、13b、14b
、15bのコレクタは電源端子Aに接続されており、R
−2Rラダー抵抗1の電源端子Aへの配線とトランジス
タ12b、13b、14b、15bのコレクタの電源端
子Aへの配線は別々の配線により引き出され、1つの電
源端子Aに接続されていた。また、各bitへの入力コ
ードは各差動対12、13、14、15のベースに入力
される。
【0003】接点A〜接点B間の配線長L1 は、電源
端子の配置によっては数mm程度になる場合がある。そ
して、接点A〜接点B間の配線抵抗RL1は、配線幅が
一定であるときには配線長L1 に比例して大きくなる
ことは一般に知られている。また、接点B〜接点C、接
点C〜接点D、接点D〜接点E間にも同様にRL2、R
L3、RL4が存在するが、それぞれの配線長、L2
、L3 の長さは数十μm程度でL1 にに比べ充分に
短く、RL1》RL2RL1》RL3RL1》RL4と
考えられるので無視できるものとする。
端子の配置によっては数mm程度になる場合がある。そ
して、接点A〜接点B間の配線抵抗RL1は、配線幅が
一定であるときには配線長L1 に比例して大きくなる
ことは一般に知られている。また、接点B〜接点C、接
点C〜接点D、接点D〜接点E間にも同様にRL2、R
L3、RL4が存在するが、それぞれの配線長、L2
、L3 の長さは数十μm程度でL1 にに比べ充分に
短く、RL1》RL2RL1》RL3RL1》RL4と
考えられるので無視できるものとする。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この従来例の
DACでは、トランジスタ12a、13a、14a、1
5aのON、OFFの状態により接点A〜接点B間を流
れる電流値が変化し、RL1の電位降下も同様に変化す
るため、ディジタル入力コードに比例したDAC出力電
圧が得られず、図6に示すような直線性誤差を示す変換
特性となり、DAC出力に悪い影響を与えていた。
DACでは、トランジスタ12a、13a、14a、1
5aのON、OFFの状態により接点A〜接点B間を流
れる電流値が変化し、RL1の電位降下も同様に変化す
るため、ディジタル入力コードに比例したDAC出力電
圧が得られず、図6に示すような直線性誤差を示す変換
特性となり、DAC出力に悪い影響を与えていた。
【0005】本発明の目的は、電源配線等の配線抵抗に
よる直線性誤差の少ないR−2Rラダー抵抗形のディジ
タル・アナログ変換器を提供することにある。
よる直線性誤差の少ないR−2Rラダー抵抗形のディジ
タル・アナログ変換器を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、R−2Rラダー抵抗1と、
差動対12、13、14、15及び定電流源22、23
、24、25を有するカレントスイッチ2、3、4、5
とを備えたディジタル・アナログ変換器において、差動
対12、13、14、15の各々のエミッタ共通接続点
は定電流源22、23、24、25に接続され、差動対
12、13、14、15のコレクタのうちの一方はR−
2Rラダー抵抗1に接続され、かつ、差動対12、13
、14、15のコレクタのうちの他方は電源端子Aから
の配線の配線抵抗RL1による電位降下の影響が少ない
点に接続されるように構成される。
に、請求項1記載の発明は、R−2Rラダー抵抗1と、
差動対12、13、14、15及び定電流源22、23
、24、25を有するカレントスイッチ2、3、4、5
とを備えたディジタル・アナログ変換器において、差動
対12、13、14、15の各々のエミッタ共通接続点
は定電流源22、23、24、25に接続され、差動対
12、13、14、15のコレクタのうちの一方はR−
2Rラダー抵抗1に接続され、かつ、差動対12、13
、14、15のコレクタのうちの他方は電源端子Aから
の配線の配線抵抗RL1による電位降下の影響が少ない
点に接続されるように構成される。
【0007】請求項2記載の発明は、請求項1記載のデ
ィジタル・アナログ変換器において、差動対12、13
、14、15のコレクタのうちの他方は、電源端子Aと
R−2Rラダー抵抗1の始点との間に接続されるように
構成される。
ィジタル・アナログ変換器において、差動対12、13
、14、15のコレクタのうちの他方は、電源端子Aと
R−2Rラダー抵抗1の始点との間に接続されるように
構成される。
【0008】
【作用】請求項1記載の発明によれば、差動対12、1
3、14、15のコレクタのうち、トランジスタ12b
、13b、14b、15b側のコレクタは、電源端子A
からの配線の配線抵抗RL1による電圧降下の影響が少
ない点に接続されているので、DAC出力の直線性が損
われることがないか、あっても非常に軽微なものとなる
。
3、14、15のコレクタのうち、トランジスタ12b
、13b、14b、15b側のコレクタは、電源端子A
からの配線の配線抵抗RL1による電圧降下の影響が少
ない点に接続されているので、DAC出力の直線性が損
われることがないか、あっても非常に軽微なものとなる
。
【0009】請求項2記載の発明によれば、差動対12
、13、14、15のコレクタのうち、トランジスタ1
2b、13b、14b、15b側のコレクタは、電源端
子AとR−2Rラダー抵抗1の始点に接続されるので、
出力レベルはシフトするが配線抵抗RL1の電圧降下の
影響はキャンセルできる。
、13、14、15のコレクタのうち、トランジスタ1
2b、13b、14b、15b側のコレクタは、電源端
子AとR−2Rラダー抵抗1の始点に接続されるので、
出力レベルはシフトするが配線抵抗RL1の電圧降下の
影響はキャンセルできる。
【0010】
【実施例】次に、本発明の好適な実施例を図面に基づい
て説明する。第1実施例図1に本発明の第1実施例を示
す。図1は、4bitのDACの例を示している。この
DAC100Aにおいて、カレントスイッチ2、3、4
、5の差動対12、13、14、15を構成するトラン
ジスタ12a、13a、14a、15aのコレクタはR
−2Rラダー抵抗1に接続され、トランジスタ12b、
13b、14b、15bのコレクタは電源端子端子Aと
R−2Rラダー抵抗1側の接点Bに接続されている。
て説明する。第1実施例図1に本発明の第1実施例を示
す。図1は、4bitのDACの例を示している。この
DAC100Aにおいて、カレントスイッチ2、3、4
、5の差動対12、13、14、15を構成するトラン
ジスタ12a、13a、14a、15aのコレクタはR
−2Rラダー抵抗1に接続され、トランジスタ12b、
13b、14b、15bのコレクタは電源端子端子Aと
R−2Rラダー抵抗1側の接点Bに接続されている。
【0011】このように、トランジスタ12b、13b
、14b、15bのコレクタを全て接点Bに接続するこ
とにより、接点A−接点B間の配線抵抗RL1にはR−
2Rラダー抵抗1に接続されるトランジスタ12a、1
3a、14a、15aのON、OFFの状態によらず電
流値4Iの一定電流が流れるため、配線抵抗RL1の電
位降下は一定のレベルシフトになり、図4のように直線
性誤差に影響を与えることはない。
、14b、15bのコレクタを全て接点Bに接続するこ
とにより、接点A−接点B間の配線抵抗RL1にはR−
2Rラダー抵抗1に接続されるトランジスタ12a、1
3a、14a、15aのON、OFFの状態によらず電
流値4Iの一定電流が流れるため、配線抵抗RL1の電
位降下は一定のレベルシフトになり、図4のように直線
性誤差に影響を与えることはない。
【0012】第2実施例次に、図2に本発明の第2実施
例を示す。図2は4bitのDACの例を示している。 このDAC100Bと第1実施例のDAC100Aとの
違いは、トランジスタ12b、13b、14b、15b
のコレクタをR−2Rラダー抵抗1の接点B、C、D、
Eにそれぞれ接続していることである。この場合も接点
A〜接点B間の電流はトランジスタ12a、13a、1
4a、15aのON、OFFの状態によらず一定となり
、配線抵抗RL1の電位降下による直線性誤差の影響を
キャンセルすることができる。また図5の従来例の説明
では無視できるとしたRL2、RL3、RL4の影響も
減少させることができる。
例を示す。図2は4bitのDACの例を示している。 このDAC100Bと第1実施例のDAC100Aとの
違いは、トランジスタ12b、13b、14b、15b
のコレクタをR−2Rラダー抵抗1の接点B、C、D、
Eにそれぞれ接続していることである。この場合も接点
A〜接点B間の電流はトランジスタ12a、13a、1
4a、15aのON、OFFの状態によらず一定となり
、配線抵抗RL1の電位降下による直線性誤差の影響を
キャンセルすることができる。また図5の従来例の説明
では無視できるとしたRL2、RL3、RL4の影響も
減少させることができる。
【0013】各bitが0111から1000(0:ト
ランジスタ12a〜15aがOFF、1:トランジスタ
12a〜15aがON)に変化する時の接点A〜接点B
間、接点B〜接点C間、接点C〜接点D間、接点D〜接
点E間に流れる電流の変化を第1実施例と第2実施例と
についてまとめたものが表1、表2である。表1、表2
からわかるように、第2実施例では、第1実施例に比べ
、RL2、RL3、RL4に流れる電流の変化が小さく
なっている。
ランジスタ12a〜15aがOFF、1:トランジスタ
12a〜15aがON)に変化する時の接点A〜接点B
間、接点B〜接点C間、接点C〜接点D間、接点D〜接
点E間に流れる電流の変化を第1実施例と第2実施例と
についてまとめたものが表1、表2である。表1、表2
からわかるように、第2実施例では、第1実施例に比べ
、RL2、RL3、RL4に流れる電流の変化が小さく
なっている。
【0014】
【表1】
【0015】
【表2】
【0016】第3実施例次に、図3に本発明の第3実施
例を示す。図3は4bitのDACの例を示している。 このDAC100Cでは、トランジスタ12b、13b
、14b、15bのコレクタを他のR−2Rラダー抵抗
6を通してそれぞれ接点B、C、D、Eに接続する。 これにより接点A〜接点B間の配線抵抗RL1の他に接
点B〜接点C、接点C〜接点D、接点D〜接点E間の配
線抵抗RL2、RL3、RL4にも各bitの論理に関
係なく一定電流が流れるため、接点A〜E間の配線抵抗
による直線性誤差の影響を全てキャンセルすることがで
きる。
例を示す。図3は4bitのDACの例を示している。 このDAC100Cでは、トランジスタ12b、13b
、14b、15bのコレクタを他のR−2Rラダー抵抗
6を通してそれぞれ接点B、C、D、Eに接続する。 これにより接点A〜接点B間の配線抵抗RL1の他に接
点B〜接点C、接点C〜接点D、接点D〜接点E間の配
線抵抗RL2、RL3、RL4にも各bitの論理に関
係なく一定電流が流れるため、接点A〜E間の配線抵抗
による直線性誤差の影響を全てキャンセルすることがで
きる。
【0017】この第3実施例ではRL1、RL2、RL
3、RL4の影響を完全にキャンセルすることができる
が、新たに他のR−2Rラダー抵抗6を追加する必要が
ある。一方、第2実施例では、従来例の電源配線の接続
を変更するのみでRL1の影響をキャンセルし、RL2
、RL3、RL4の影響を小さく抑えることができると
いう違いがある。
3、RL4の影響を完全にキャンセルすることができる
が、新たに他のR−2Rラダー抵抗6を追加する必要が
ある。一方、第2実施例では、従来例の電源配線の接続
を変更するのみでRL1の影響をキャンセルし、RL2
、RL3、RL4の影響を小さく抑えることができると
いう違いがある。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
R−2Rラダー抵抗を用いるDACにおいてR−2Rラ
ダー抵抗から電源端子への配線の配線抵抗による直線性
誤差を少なくすることができ、DACの性能向上に寄与
しうるという利点を有する。
R−2Rラダー抵抗を用いるDACにおいてR−2Rラ
ダー抵抗から電源端子への配線の配線抵抗による直線性
誤差を少なくすることができ、DACの性能向上に寄与
しうるという利点を有する。
【図1】本発明の第1実施例の構成を示す図である。
【図2】本発明の第2実施例の構成を示す図である。
【図3】本発明の第3実施例の構成を示す図である。
【図4】本発明の第1実施例のD/A変換特性を示す図
である。
である。
【図5】従来例のディジタル・アナログ変換器の構成を
示す図である。
示す図である。
【図6】従来例のディジタル・アナログ変換器のD/A
変換特性を示す図である。
変換特性を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 R−2Rラダー抵抗(1)と、差動対
(12、13、14、15)及び定電流源(22、23
、24、25)を有するカレントスイッチ(2、3、4
、5)とを備えたディジタル・アナログ変換器において
、前記差動対(12、13、14、15)の各々のエミ
ッタ共通接続点は前記定電流源(22、23、24、2
5)に接続され、前記差動対(12、13、14、15
)のコレクタのうちの一方は前記R−2Rラダー抵抗(
1)に接続され、かつ、前記差動対(12、13、14
、15)のコレクタのうちの他方は電源端子(A)から
の配線の配線抵抗(RL1)による電位降下の影響が少
ない点に接続されたことを特徴とするディジタル・アナ
ログ変換器。 - 【請求項2】 請求項1記載のディジタル・アナログ
変換器において、前記差動対(12、13、14、15
)のコレクタのうちの他方は、電源端子(A)とR−2
Rラダー抵抗(1)の始点との間に接続されたことを特
徴とするディジタル・アナログ変換器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2403187A JP2703120B2 (ja) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | ディジタル・アナログ変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2403187A JP2703120B2 (ja) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | ディジタル・アナログ変換器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04217120A true JPH04217120A (ja) | 1992-08-07 |
| JP2703120B2 JP2703120B2 (ja) | 1998-01-26 |
Family
ID=18512943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2403187A Expired - Lifetime JP2703120B2 (ja) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | ディジタル・アナログ変換器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2703120B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5706008A (en) * | 1996-03-01 | 1998-01-06 | Analog Devices, Inc. | High bandwidth parallel analog-to-digital converter |
| EP0939493A3 (en) * | 1998-02-26 | 2002-11-13 | Nec Corporation | Digital-to-analog converter accurately testable without complicated circuit configuration and testing method for the same |
| US7903013B2 (en) | 2008-09-22 | 2011-03-08 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
| EP4170911A1 (en) * | 2021-10-20 | 2023-04-26 | Socionext Inc. | Differential circuitry |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59131223A (ja) * | 1982-09-22 | 1984-07-28 | バ−・ブラウン・コ−ポレ−ション | 廃棄電流切換によるアナログ出力電流における非直線性を減小させるための回路及び方法 |
-
1990
- 1990-12-18 JP JP2403187A patent/JP2703120B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59131223A (ja) * | 1982-09-22 | 1984-07-28 | バ−・ブラウン・コ−ポレ−ション | 廃棄電流切換によるアナログ出力電流における非直線性を減小させるための回路及び方法 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5706008A (en) * | 1996-03-01 | 1998-01-06 | Analog Devices, Inc. | High bandwidth parallel analog-to-digital converter |
| EP0939493A3 (en) * | 1998-02-26 | 2002-11-13 | Nec Corporation | Digital-to-analog converter accurately testable without complicated circuit configuration and testing method for the same |
| US7903013B2 (en) | 2008-09-22 | 2011-03-08 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
| EP4170911A1 (en) * | 2021-10-20 | 2023-04-26 | Socionext Inc. | Differential circuitry |
| US11863199B2 (en) | 2021-10-20 | 2024-01-02 | Socionext Inc. | Differential circuitry |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2703120B2 (ja) | 1998-01-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970909 |