JPH04218730A - 光ファイバ・レーザドップラ振動計 - Google Patents
光ファイバ・レーザドップラ振動計Info
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- JPH04218730A JPH04218730A JP41160390A JP41160390A JPH04218730A JP H04218730 A JPH04218730 A JP H04218730A JP 41160390 A JP41160390 A JP 41160390A JP 41160390 A JP41160390 A JP 41160390A JP H04218730 A JPH04218730 A JP H04218730A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 35
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 101100191768 Caenorhabditis elegans pbs-4 gene Proteins 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光源から射出さ
れたレーザ光を光ファイバで伝送した後、振動する被測
定体に照射し、該被測定体から反射された反射光(物体
光)を再度光ファイバで伝送し、またこの光ファイバと
干渉性のある参照光を生成し、これら物体光と参照光と
を干渉させることにより上記被測定体の振動状態に対応
するビート信号を得る光ファイバ・レーザドップラ振動
計に関する。
れたレーザ光を光ファイバで伝送した後、振動する被測
定体に照射し、該被測定体から反射された反射光(物体
光)を再度光ファイバで伝送し、またこの光ファイバと
干渉性のある参照光を生成し、これら物体光と参照光と
を干渉させることにより上記被測定体の振動状態に対応
するビート信号を得る光ファイバ・レーザドップラ振動
計に関する。
【0002】振動する被測定体から反射した、該振動に
より周波数変調を受けたレーザ光(物体光)と該物体光
と干渉する一定周波数の参照光とを干渉させてうなりを
生じさせ、このうなりを光検出器で検出することにより
、上記被測定体の振動周波数や振幅に対応したビート信
号を得るレーザドップラ振動計が知られており、そのう
ち、該振動計本体と被測定体との位置関係にフレキシビ
リティを持たせるためにレーザ光を光ファイバで伝送す
るように構成した光ファイバ・レーザドップラ振動計と
呼ばれるものがある。図3は、従来の光ファイバ・レー
ザドップラ振動計の典型的な例を表わした概略構成図で
ある。以下、この図に沿って従来の技術について説明す
る。
より周波数変調を受けたレーザ光(物体光)と該物体光
と干渉する一定周波数の参照光とを干渉させてうなりを
生じさせ、このうなりを光検出器で検出することにより
、上記被測定体の振動周波数や振幅に対応したビート信
号を得るレーザドップラ振動計が知られており、そのう
ち、該振動計本体と被測定体との位置関係にフレキシビ
リティを持たせるためにレーザ光を光ファイバで伝送す
るように構成した光ファイバ・レーザドップラ振動計と
呼ばれるものがある。図3は、従来の光ファイバ・レー
ザドップラ振動計の典型的な例を表わした概略構成図で
ある。以下、この図に沿って従来の技術について説明す
る。
【0003】レーザ光源1から射出されたレーザ光2は
、ビームスプリッタ3により透過光と反射光とに2分割
される。このビームスプリッタ3は偏光ビームスプリッ
タ(以下、「PBS」と略す)とは異なり、レーザ光2
の偏光方向に拘らず該レーザ光を2分割するものである
。このビームスプリッタ3を透過した光2aはPBS4
に達する。このPBS4はもともと偏光しているレーザ
光2(透過光2a)を透過するように配置されており、
透過光2aはこのPBS4を透過し、ファイバ入光用レ
ンズ5により集光され、偏波面保存光ファイバ6にその
一端面6aから入射し、センサヘッド部20に伝送され
る。ここで偏波面保存光ファイバとは、互いに直交する
所定の2方向に偏光している光が伝送される単一モード
光ファイバをいう。この偏波面保存光ファイバ6により
センサヘッド部20に伝送された光は、該偏波面保存光
ファイバ6の端面6bから射出した後、λ/4板21、
対物レンズ22を通り、被測定体23を照射する。ここ
で被測定体23は、この照射光の光路に対し角度θだけ
傾いたA−B方向に繰り返し振動しているものとする。
、ビームスプリッタ3により透過光と反射光とに2分割
される。このビームスプリッタ3は偏光ビームスプリッ
タ(以下、「PBS」と略す)とは異なり、レーザ光2
の偏光方向に拘らず該レーザ光を2分割するものである
。このビームスプリッタ3を透過した光2aはPBS4
に達する。このPBS4はもともと偏光しているレーザ
光2(透過光2a)を透過するように配置されており、
透過光2aはこのPBS4を透過し、ファイバ入光用レ
ンズ5により集光され、偏波面保存光ファイバ6にその
一端面6aから入射し、センサヘッド部20に伝送され
る。ここで偏波面保存光ファイバとは、互いに直交する
所定の2方向に偏光している光が伝送される単一モード
光ファイバをいう。この偏波面保存光ファイバ6により
センサヘッド部20に伝送された光は、該偏波面保存光
ファイバ6の端面6bから射出した後、λ/4板21、
対物レンズ22を通り、被測定体23を照射する。ここ
で被測定体23は、この照射光の光路に対し角度θだけ
傾いたA−B方向に繰り返し振動しているものとする。
【0004】上記照射光は被測定体23により反射され
、この反射光(この反射光を「物体光」と称する。)は
再び対物レンズ22、λ/4板21を通って偏波面保存
光ファイバ6にその端面6bから入射する。ここで被測
定体23を照射する光はλ/4板21を一度通過するこ
とにより円偏光に変換された光であり、この被測定体2
3から反射された物体光はλ/4板21を再度通過する
ため、この物体光は偏波面保存光ファイバ6の端面6b
から射出された光とはその偏光方向が90度異なった直
線偏光光となる。この偏波面保存光ファイバ6に入射し
た物体光は、該偏波面保存光ファイバ6により伝送され
、その端面6aから射出され、ファイバ入光用レンズ5
によりコリメートされ、PBS4に入射する。この物体
光は前述したように偏光方向が90度回転しているため
このPBS4で反射され、この物体光のうちビームスプ
リッタ7を透過した成分が信号処理部30内の光検出器
31に入射する。
、この反射光(この反射光を「物体光」と称する。)は
再び対物レンズ22、λ/4板21を通って偏波面保存
光ファイバ6にその端面6bから入射する。ここで被測
定体23を照射する光はλ/4板21を一度通過するこ
とにより円偏光に変換された光であり、この被測定体2
3から反射された物体光はλ/4板21を再度通過する
ため、この物体光は偏波面保存光ファイバ6の端面6b
から射出された光とはその偏光方向が90度異なった直
線偏光光となる。この偏波面保存光ファイバ6に入射し
た物体光は、該偏波面保存光ファイバ6により伝送され
、その端面6aから射出され、ファイバ入光用レンズ5
によりコリメートされ、PBS4に入射する。この物体
光は前述したように偏光方向が90度回転しているため
このPBS4で反射され、この物体光のうちビームスプ
リッタ7を透過した成分が信号処理部30内の光検出器
31に入射する。
【0005】一方、ビームスプリッタ3で反射された光
は、物体光側の光路長とほぼ同一の光路長にして上記物
体光との干渉性を保持するため、以下の光路を経由して
光検出器31に入射される。即ち、このビームスプリッ
タ3で反射された光(以下この光を「参照光」と称する
。)は、PBS8を透過し、ファイバ入光用レンズ9に
より集光され、偏波面保存光ファイバ10にその一端面
10aから入射し、センサヘッド部20に伝送され、該
偏波面保存光ファイバ10の他端面10bから射出され
、λ/4板24を通過することにより円偏光に変換され
、参照光用レンズ25を通り、参照ミラー26に照射さ
れる。この参照ミラー26で反射された参照光は再び参
照光用レンズ25を通り、λ/4板24を通過して偏波
面保存光ファイバ10へその端面10bから入射する。 このとき参照光は、上記照射光(物体光)の場合と同様
に、偏波面保存光ファイバ10の端面10bから射出し
た光とはその偏光方向が90度回転している。この偏波
面保存光ファイバー10にその端面10bから入射した
参照光は、この偏波面保存光ファイバ10内を伝送され
、この偏波面保存光ファイバ10の端面10aから射出
され、ファイバ入光用レンズ9によりコリメートされて
PBS8に入射する。このPBS8に入射した参照光は
前述したように偏光方向が90度回転しているためこの
PBS8により反射され、信号処理部30内のドライバ
ー32により駆動される音響光学的光変調器11を通過
することにより周波数がシフトされ、ビームスプリッタ
7により反射された成分が前述した物体光とともに光検
出器31に入射する。上記のようにして光検出器31に
入射した物体光と参照光はこの光検出器31上で干渉し
、この干渉した光がこの光検出器31で検出されること
により周波数fbのビート信号が得られ、プリアンプ3
3で増幅された後、図示しない信号処理回路に入力され
、被測定体23の振動周波数等が求められる。
は、物体光側の光路長とほぼ同一の光路長にして上記物
体光との干渉性を保持するため、以下の光路を経由して
光検出器31に入射される。即ち、このビームスプリッ
タ3で反射された光(以下この光を「参照光」と称する
。)は、PBS8を透過し、ファイバ入光用レンズ9に
より集光され、偏波面保存光ファイバ10にその一端面
10aから入射し、センサヘッド部20に伝送され、該
偏波面保存光ファイバ10の他端面10bから射出され
、λ/4板24を通過することにより円偏光に変換され
、参照光用レンズ25を通り、参照ミラー26に照射さ
れる。この参照ミラー26で反射された参照光は再び参
照光用レンズ25を通り、λ/4板24を通過して偏波
面保存光ファイバ10へその端面10bから入射する。 このとき参照光は、上記照射光(物体光)の場合と同様
に、偏波面保存光ファイバ10の端面10bから射出し
た光とはその偏光方向が90度回転している。この偏波
面保存光ファイバー10にその端面10bから入射した
参照光は、この偏波面保存光ファイバ10内を伝送され
、この偏波面保存光ファイバ10の端面10aから射出
され、ファイバ入光用レンズ9によりコリメートされて
PBS8に入射する。このPBS8に入射した参照光は
前述したように偏光方向が90度回転しているためこの
PBS8により反射され、信号処理部30内のドライバ
ー32により駆動される音響光学的光変調器11を通過
することにより周波数がシフトされ、ビームスプリッタ
7により反射された成分が前述した物体光とともに光検
出器31に入射する。上記のようにして光検出器31に
入射した物体光と参照光はこの光検出器31上で干渉し
、この干渉した光がこの光検出器31で検出されること
により周波数fbのビート信号が得られ、プリアンプ3
3で増幅された後、図示しない信号処理回路に入力され
、被測定体23の振動周波数等が求められる。
【0006】以上のように構成された光ファイバ・レー
ザドップラ振動計において、レーザ光源から射出された
レーザ光2の波長,周波数をそれぞれλ,foとし、被
測定体23の振動速度をV(時刻tの関数)としたとき
、被測定体23から反射された物体光のレーザ光2から
の周波数シフト量fdは、 fd=(2・V/λ)・cosθ …… (1
)と表わされ、従って物体光の周波数fsは、 fs=fo+fd=fo+(2・V/
λ)・cosθ …… (2)となる。また参
照光は、前述したように音響光学的光変調器11で周波
数シフトを受けるため、この音響光学的光変調器11の
変調周波数をfmとすると、この音響光学的光変調器1
1を通過した後の参照光の周波数frは、fr=fo+
fm …… (3)となる。
ザドップラ振動計において、レーザ光源から射出された
レーザ光2の波長,周波数をそれぞれλ,foとし、被
測定体23の振動速度をV(時刻tの関数)としたとき
、被測定体23から反射された物体光のレーザ光2から
の周波数シフト量fdは、 fd=(2・V/λ)・cosθ …… (1
)と表わされ、従って物体光の周波数fsは、 fs=fo+fd=fo+(2・V/
λ)・cosθ …… (2)となる。また参
照光は、前述したように音響光学的光変調器11で周波
数シフトを受けるため、この音響光学的光変調器11の
変調周波数をfmとすると、この音響光学的光変調器1
1を通過した後の参照光の周波数frは、fr=fo+
fm …… (3)となる。
【0007】光検出器31上では上記物体光と参照光と
が干渉するため、上記(2)式と(3)式との和の周波
数と差の周波数とが現われるが、光検出器31ではこの
差の周波数が検出され、この差の周波数fbは、上記(
2),(3)式から fb=|fr−f
s| =|fm−(2・V/λ)
・cosθ| …… (4)となる。この差
の周波数fbがビート信号として検出され、これにより
被測定体23の、照射光の光軸方向の速度Vcosθが
検出される。
が干渉するため、上記(2)式と(3)式との和の周波
数と差の周波数とが現われるが、光検出器31ではこの
差の周波数が検出され、この差の周波数fbは、上記(
2),(3)式から fb=|fr−f
s| =|fm−(2・V/λ)
・cosθ| …… (4)となる。この差
の周波数fbがビート信号として検出され、これにより
被測定体23の、照射光の光軸方向の速度Vcosθが
検出される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記のような構成によ
り、光ファイバ・レーザドップラ振動計が実現されるが
、上記偏波面保存光ファイバ6,10に振動等の機械的
外乱が加わると参照光ないし物体光の位相が変化し、こ
の位相の変化が参照光と物体光とで独立に生じるとこれ
が上記ビート信号にノイズ成分として重畳され、測定誤
差の原因となるという問題点がある。
り、光ファイバ・レーザドップラ振動計が実現されるが
、上記偏波面保存光ファイバ6,10に振動等の機械的
外乱が加わると参照光ないし物体光の位相が変化し、こ
の位相の変化が参照光と物体光とで独立に生じるとこれ
が上記ビート信号にノイズ成分として重畳され、測定誤
差の原因となるという問題点がある。
【0009】本発明は、上記問題点に鑑み、光ファイバ
に振動等の機械的外乱が加わってもこの機械的外乱が測
定誤差の原因となりにくい構成を備えた光ファイバ・レ
ーザドップラ振動計を提供することを目的とする。
に振動等の機械的外乱が加わってもこの機械的外乱が測
定誤差の原因となりにくい構成を備えた光ファイバ・レ
ーザドップラ振動計を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の光ファイバ・レーザドップラ振動計は、レー
ザ光源と、該レーザ光源から射出されたレーザ光を伝送
する第一の光ファイバと、該第一の光ファイバから射出
された前記レーザ光を参照光と被測定体を照射する照射
光とに分離するとともに、該照射光が被測定体から反射
されることにより得られた物体光と前記参照光とを合成
する偏光ビームスプリッタ(PBS)と、該偏光ビーム
スプリッタにより合成された前記物体光と前記参照光と
の双方を伝送する第二の光ファイバと、該第二の光ファ
イバから射出された前記物体光と前記参照光とが干渉し
た光を検出してビート信号を得る光検出器と、を備えた
ことを特徴とするものである。
の本発明の光ファイバ・レーザドップラ振動計は、レー
ザ光源と、該レーザ光源から射出されたレーザ光を伝送
する第一の光ファイバと、該第一の光ファイバから射出
された前記レーザ光を参照光と被測定体を照射する照射
光とに分離するとともに、該照射光が被測定体から反射
されることにより得られた物体光と前記参照光とを合成
する偏光ビームスプリッタ(PBS)と、該偏光ビーム
スプリッタにより合成された前記物体光と前記参照光と
の双方を伝送する第二の光ファイバと、該第二の光ファ
イバから射出された前記物体光と前記参照光とが干渉し
た光を検出してビート信号を得る光検出器と、を備えた
ことを特徴とするものである。
【0011】ここで第一の光ファイバにより伝送される
レーザ光は、この第一の光ファイバに入射されるより前
に一旦参照光と照射光とに分離した後に合成した光であ
ってもよく、参照光と照射光との分離は第一の光ファイ
バから射出された後にのみ行なうこととし、この第一の
光ファイバには、レーザ光源から射出されたレーザ光を
参照光と照射光とに分離することなく入射するようにし
てもよい。
レーザ光は、この第一の光ファイバに入射されるより前
に一旦参照光と照射光とに分離した後に合成した光であ
ってもよく、参照光と照射光との分離は第一の光ファイ
バから射出された後にのみ行なうこととし、この第一の
光ファイバには、レーザ光源から射出されたレーザ光を
参照光と照射光とに分離することなく入射するようにし
てもよい。
【0012】
【作用】本発明の光ファイバ・レーザドップラ振動計は
、参照光と照射光(これら2つの光に分離する前のレー
ザ光を含む)を第一の光ファイバで一緒に伝送し、その
戻り光である参照光と物体光についても第二の光ファイ
バで一緒に伝送するようにしたため、第一もしくは第二
の光ファイバが振動しても参照光と照射光、ないし参照
光と物体光との双方に同時に位相変化が生じるだけであ
って参照光と照射光、ないし参照光と物体光との間で相
対的な位相変化は生じない。したがって光検出器では光
ファイバが振動したことによる、被測定体の振動の状態
を表わすビート信号に類似した疑似信号(ノイズ)はほ
とんど発生せず、したがって光ファイバの振動が測定誤
差の原因となることが防止され、高精度の振動測定を行
なうことができることとなる。
、参照光と照射光(これら2つの光に分離する前のレー
ザ光を含む)を第一の光ファイバで一緒に伝送し、その
戻り光である参照光と物体光についても第二の光ファイ
バで一緒に伝送するようにしたため、第一もしくは第二
の光ファイバが振動しても参照光と照射光、ないし参照
光と物体光との双方に同時に位相変化が生じるだけであ
って参照光と照射光、ないし参照光と物体光との間で相
対的な位相変化は生じない。したがって光検出器では光
ファイバが振動したことによる、被測定体の振動の状態
を表わすビート信号に類似した疑似信号(ノイズ)はほ
とんど発生せず、したがって光ファイバの振動が測定誤
差の原因となることが防止され、高精度の振動測定を行
なうことができることとなる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
1は、本発明の光ファイバ・レーザドップラ振動計の一
実施例の概略構成図である。レーザ光源51から射出さ
れたレーザ光52は、ファイバ入光用レンズ53により
集光され、偏波面保存光ファイバ54にその一端面54
aから入射し、この偏波面保存光ファイバ54によりセ
ンサヘッド部70にまで伝送され、この偏波面保存光フ
ァイバ54の他端面54bから射出される。この射出さ
れたレーザ光52は、コリメートレンズ71によりコリ
メートされた後PBS72に入射される。ここでこのレ
ーザ光2は、このPBS72の偏光軸に対し45度傾い
た状態でこのPBS72に入射されるように調整されて
いる。これによりPBS72に入射したレーザ光2は、
このPBS72により互いに直交する方向に偏光した透
過光と反射光とに2分割される。
1は、本発明の光ファイバ・レーザドップラ振動計の一
実施例の概略構成図である。レーザ光源51から射出さ
れたレーザ光52は、ファイバ入光用レンズ53により
集光され、偏波面保存光ファイバ54にその一端面54
aから入射し、この偏波面保存光ファイバ54によりセ
ンサヘッド部70にまで伝送され、この偏波面保存光フ
ァイバ54の他端面54bから射出される。この射出さ
れたレーザ光52は、コリメートレンズ71によりコリ
メートされた後PBS72に入射される。ここでこのレ
ーザ光2は、このPBS72の偏光軸に対し45度傾い
た状態でこのPBS72に入射されるように調整されて
いる。これによりPBS72に入射したレーザ光2は、
このPBS72により互いに直交する方向に偏光した透
過光と反射光とに2分割される。
【0014】このPBS72を透過した透過光は、被測
定体100を照射する照射光として用いられる。即ち、
この透過光は、λ/4板73および対物レンズ74を通
過した後被測定体100に照射される。この被測定体1
00は、図3を用いて説明した従来例の場合と同様に照
射光の光軸に対し角度θだけ傾いたA−B方向に繰り返
し振動している。ここで、センサヘッド部70と被測定
体100との間の距離をあらかじめ定められた一定距離
にセットするため、非接触距離センサを用いたトラバー
ス装置を備えてその距離を制御するようにしてもよく、
また照射光が被測定体100に常にピントのあった状態
で照射されるように、オートフォーカス機構を備えて対
物レンズ74が常に最適位置となるように制御するよう
にしてもよい。
定体100を照射する照射光として用いられる。即ち、
この透過光は、λ/4板73および対物レンズ74を通
過した後被測定体100に照射される。この被測定体1
00は、図3を用いて説明した従来例の場合と同様に照
射光の光軸に対し角度θだけ傾いたA−B方向に繰り返
し振動している。ここで、センサヘッド部70と被測定
体100との間の距離をあらかじめ定められた一定距離
にセットするため、非接触距離センサを用いたトラバー
ス装置を備えてその距離を制御するようにしてもよく、
また照射光が被測定体100に常にピントのあった状態
で照射されるように、オートフォーカス機構を備えて対
物レンズ74が常に最適位置となるように制御するよう
にしてもよい。
【0015】この被測定体100から反射された物体光
は、再度対物レンズ74,λ/4板73を通り、PBS
72に入射する。このときこの物体光はλ/4板73を
往復した光であるため偏光方向が90度回転しており、
したがってこのPBS72で反射されファイバ入光用レ
ンズ75で集光されて偏波面保存光ファイバ55にその
端面55aから入射する。ここでこの物体光の周波数は
、前述した従来例の場合と同様に、被測定体100の振
動に伴うドップラー効果により照射光の周波数を中心と
して繰り返し変化している。
は、再度対物レンズ74,λ/4板73を通り、PBS
72に入射する。このときこの物体光はλ/4板73を
往復した光であるため偏光方向が90度回転しており、
したがってこのPBS72で反射されファイバ入光用レ
ンズ75で集光されて偏波面保存光ファイバ55にその
端面55aから入射する。ここでこの物体光の周波数は
、前述した従来例の場合と同様に、被測定体100の振
動に伴うドップラー効果により照射光の周波数を中心と
して繰り返し変化している。
【0016】一方、PBS72で反射された参照光は、
λ/4板76を通過して参照ミラー77に照射され、そ
の反射光は再びλ/4板76を通りPBS72に入射す
る。この参照光もλ/4板76を往復することで偏光方
向が90度回転しているため今度はPBS72を透過し
、その後上記物体光と共にファイバ入光用レンズ75で
集光され、偏波面保存光ファイバ55にその端面55a
から入射する。
λ/4板76を通過して参照ミラー77に照射され、そ
の反射光は再びλ/4板76を通りPBS72に入射す
る。この参照光もλ/4板76を往復することで偏光方
向が90度回転しているため今度はPBS72を透過し
、その後上記物体光と共にファイバ入光用レンズ75で
集光され、偏波面保存光ファイバ55にその端面55a
から入射する。
【0017】上記のようにして偏波面保存光ファイバ5
5に入射した物体光と参照光は該偏波面保存光ファイバ
55により伝送されその端面55bから射出する。この
端面55bから射出した物体光と参照光は、コリメート
レンズ57によりコリメートされた後PBS58に入射
する。このPBS58に入射した物体光と参照光のうち
の参照光52aはこのPBS58で反射され、ミラー5
9によりさらに反射された後、信号処理部80のドライ
バー81により駆動される音響光学的光変調器60を通
過することにより周波数シフトを受け、その後ビームス
プリッタ61で反射された成分が光検出器82に入射す
る。またPBS58に入射した物体光と参照光のうちの
物体光52bは、この偏光ビームスプリッタ58を透過
し、λ/2板62を通過することにより偏光方向が90
度回転されて参照光52aと偏光方向が一致させられ、
ミラー63で反射されビームスプリッタ61を透過した
成分が光検出器82に入射される。ここで物体光52b
が上記λ/2板62を通過することにより参照光52a
と物体光52bの偏光方向が互いに一致することとなり
、これらの参照光52aと物体光52bは光検出器82
上で干渉することとなる。この干渉光がこの光検出器8
2で検出されたことにより得られたビート信号はプリア
ンプ83を経由して図示しない信号処理回路に入力され
、被測定体100の振動周波数等が求められる。
5に入射した物体光と参照光は該偏波面保存光ファイバ
55により伝送されその端面55bから射出する。この
端面55bから射出した物体光と参照光は、コリメート
レンズ57によりコリメートされた後PBS58に入射
する。このPBS58に入射した物体光と参照光のうち
の参照光52aはこのPBS58で反射され、ミラー5
9によりさらに反射された後、信号処理部80のドライ
バー81により駆動される音響光学的光変調器60を通
過することにより周波数シフトを受け、その後ビームス
プリッタ61で反射された成分が光検出器82に入射す
る。またPBS58に入射した物体光と参照光のうちの
物体光52bは、この偏光ビームスプリッタ58を透過
し、λ/2板62を通過することにより偏光方向が90
度回転されて参照光52aと偏光方向が一致させられ、
ミラー63で反射されビームスプリッタ61を透過した
成分が光検出器82に入射される。ここで物体光52b
が上記λ/2板62を通過することにより参照光52a
と物体光52bの偏光方向が互いに一致することとなり
、これらの参照光52aと物体光52bは光検出器82
上で干渉することとなる。この干渉光がこの光検出器8
2で検出されたことにより得られたビート信号はプリア
ンプ83を経由して図示しない信号処理回路に入力され
、被測定体100の振動周波数等が求められる。
【0018】ここで上記実施例では、レーザ光源51か
ら射出された、参照光と照射光とに分離される前のレー
ザ光52が偏波面保存光ファイバ54により伝送され、
またセンサヘッド部70で分離された参照光と照射光(
物体光)はともに偏波面保存光ファイバ55により伝送
されるように構成したため、偏波面保存光ファイバ54
もしくは偏波面保存光ファイバ55がそれぞれ独自に振
動しても参照光と照射光(ないし物体光)との間で相対
的な位相変化が生じることはなく、したがって偏波面保
存光ファイバ54,55が振動しても光検出器82に達
した参照光と物体光との干渉状態に悪影響を及ぼして被
測定体100の振動と近似した疑似信号(ノイズ)が生
じてしまうことがなく、高精度の振動測定を行なうこと
ができることとなる。
ら射出された、参照光と照射光とに分離される前のレー
ザ光52が偏波面保存光ファイバ54により伝送され、
またセンサヘッド部70で分離された参照光と照射光(
物体光)はともに偏波面保存光ファイバ55により伝送
されるように構成したため、偏波面保存光ファイバ54
もしくは偏波面保存光ファイバ55がそれぞれ独自に振
動しても参照光と照射光(ないし物体光)との間で相対
的な位相変化が生じることはなく、したがって偏波面保
存光ファイバ54,55が振動しても光検出器82に達
した参照光と物体光との干渉状態に悪影響を及ぼして被
測定体100の振動と近似した疑似信号(ノイズ)が生
じてしまうことがなく、高精度の振動測定を行なうこと
ができることとなる。
【0019】なお上記実施例では2本の光ファイバと5
4,55とも偏波面保存光ファイバを用いたが、必ずし
も偏波面保存光ファイバを用いなければならないもので
はなく、効率の低下を許容し偏光板等を適切に配置すれ
ば例えば偏波面保存光ファイバ以外の単一モード光ファ
イバ等を用いてもよいものであり、従って本発明にいう
光ファイバは偏波面保存光ファイバに限られるものでは
ない。
4,55とも偏波面保存光ファイバを用いたが、必ずし
も偏波面保存光ファイバを用いなければならないもので
はなく、効率の低下を許容し偏光板等を適切に配置すれ
ば例えば偏波面保存光ファイバ以外の単一モード光ファ
イバ等を用いてもよいものであり、従って本発明にいう
光ファイバは偏波面保存光ファイバに限られるものでは
ない。
【0020】図2は、本発明の光ファイバ・レーザドッ
プラ振動計の他の実施例の概略構成図である。図1に示
した光ファイバ・レーザドップラ振動計の各構成要素と
対応する構成要素には図1の各構成要素に付した符号と
同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
プラ振動計の他の実施例の概略構成図である。図1に示
した光ファイバ・レーザドップラ振動計の各構成要素と
対応する構成要素には図1の各構成要素に付した符号と
同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
【0021】レーザ光源51から射出されたレーザ光5
2は、PBS64に入射する。このときこのレーザ光5
2の偏光方向がこのPBS64の偏光軸に対し45度傾
いた状態で入射されるように調整されている。これによ
りこのPBS64に入射したレーザ光52は偏光方向が
互いに直交する透過光と反射光とに分離される。この透
過光は、後に被測定体100を照射する照射光となる光
であり、ミラー65で反射されPBS66を透過した後
ファイバ入光用レンズ53で集光されて偏波面保存光フ
ァイバ54にその端面54aから入射される。一方PB
S64で反射された光は、後に参照光となる光であり、
ミラー67で反射された後音響光学的光変調器60で周
波数シフトを受け、PBS66で反射された後偏波面保
存光ファイバ54にその端面54aから入射する。その
後は図1に示した光ファイバ・レーザドップラ振動計の
場合と同様に、センサヘッド部70′においてPBS7
2により2分割された後再度合成されるが、このPBS
72で合成された参照光と物体光は偏光板78に入力さ
れる。この偏光板78は、その偏光軸が参照光と物体光
との双方に対して45度傾いた角度で配置されており、
したがってこの偏光板78を透過した物体光と参照光は
偏光方向が揃い、干渉を起こすこととなる。この干渉を
起こした物体光と参照光は光ファイバ入光用レンズ75
により集光され、マルチモード光ファイバ68にその端
面68aから入射され、該マルチモード光ファイバ68
内を伝送されてその端面68bから射出され、コリメー
トレンズ57を経由して光検出器82に入射し、物体光
と参照光との干渉により生じるビート信号がこの光検出
器82により検出される。
2は、PBS64に入射する。このときこのレーザ光5
2の偏光方向がこのPBS64の偏光軸に対し45度傾
いた状態で入射されるように調整されている。これによ
りこのPBS64に入射したレーザ光52は偏光方向が
互いに直交する透過光と反射光とに分離される。この透
過光は、後に被測定体100を照射する照射光となる光
であり、ミラー65で反射されPBS66を透過した後
ファイバ入光用レンズ53で集光されて偏波面保存光フ
ァイバ54にその端面54aから入射される。一方PB
S64で反射された光は、後に参照光となる光であり、
ミラー67で反射された後音響光学的光変調器60で周
波数シフトを受け、PBS66で反射された後偏波面保
存光ファイバ54にその端面54aから入射する。その
後は図1に示した光ファイバ・レーザドップラ振動計の
場合と同様に、センサヘッド部70′においてPBS7
2により2分割された後再度合成されるが、このPBS
72で合成された参照光と物体光は偏光板78に入力さ
れる。この偏光板78は、その偏光軸が参照光と物体光
との双方に対して45度傾いた角度で配置されており、
したがってこの偏光板78を透過した物体光と参照光は
偏光方向が揃い、干渉を起こすこととなる。この干渉を
起こした物体光と参照光は光ファイバ入光用レンズ75
により集光され、マルチモード光ファイバ68にその端
面68aから入射され、該マルチモード光ファイバ68
内を伝送されてその端面68bから射出され、コリメー
トレンズ57を経由して光検出器82に入射し、物体光
と参照光との干渉により生じるビート信号がこの光検出
器82により検出される。
【0022】上記のようにこの図2に示す実施例におい
ても、光ファイバ54,68内を参照光と照射光(物体
光)との双方が同時に伝送され、従って各光ファイバ5
4,68にそれぞれ独自に振動等の機械的外乱が加わっ
ても参照光と照射光(物体光)との間に相対的な位相変
化は生じず、従ってこれらの光ファイバ54,68に加
わった機械的外乱に起因する疑似信号(ノイズ)が発生
することが防止され、高精度の振動測定が可能となる。
ても、光ファイバ54,68内を参照光と照射光(物体
光)との双方が同時に伝送され、従って各光ファイバ5
4,68にそれぞれ独自に振動等の機械的外乱が加わっ
ても参照光と照射光(物体光)との間に相対的な位相変
化は生じず、従ってこれらの光ファイバ54,68に加
わった機械的外乱に起因する疑似信号(ノイズ)が発生
することが防止され、高精度の振動測定が可能となる。
【0023】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の光
ファイバ・レーザドップラー振動計は、参照光と照射光
とに分離されるレーザ光を第一の光ファイバで伝送し、
参照光と物体光とを第二の光ファイバで一緒に伝送する
ようにしたため、第一の光ファイバもしくは第二の光フ
ァイバに振動等の機械的外乱が加わっても参照光と物体
光との間にこの光ファイバの振動に起因する相対的な位
相変化が生じることが防止され、従って被測定体の振動
に起因する信号と類似した、光ファイバの振動に起因し
た疑似信号が発生してしまうことが防止され、高精度の
振動測定を行なうことが可能となる。
ファイバ・レーザドップラー振動計は、参照光と照射光
とに分離されるレーザ光を第一の光ファイバで伝送し、
参照光と物体光とを第二の光ファイバで一緒に伝送する
ようにしたため、第一の光ファイバもしくは第二の光フ
ァイバに振動等の機械的外乱が加わっても参照光と物体
光との間にこの光ファイバの振動に起因する相対的な位
相変化が生じることが防止され、従って被測定体の振動
に起因する信号と類似した、光ファイバの振動に起因し
た疑似信号が発生してしまうことが防止され、高精度の
振動測定を行なうことが可能となる。
【図1】本発明の光ファイバ・レーザドップラ振動計の
一実施例の概略構成図
一実施例の概略構成図
【図2】本発明の光ファイバ・レーザドップラ振動計の
他の実施例の概略構成図
他の実施例の概略構成図
【図3】従来の光ファイバ・レーザドップラ振動計の典
型的な例を表わした概略構成図
型的な例を表わした概略構成図
51 レーザ光源
52 レーザ光
54,55 偏波面保存光ファイバ
58,64,66,72 偏光ビームスプリッタ
(PBS)60 音響光学的光変調器 61 ビームスプリッタ 70,70′ センサヘッド部77
参照ミラー 78 偏光板 82 光検出器
58,64,66,72 偏光ビームスプリッタ
(PBS)60 音響光学的光変調器 61 ビームスプリッタ 70,70′ センサヘッド部77
参照ミラー 78 偏光板 82 光検出器
Claims (1)
- 【請求項1】レーザ光源と、該レーザ光源から射出され
たレーザ光を伝送する第一の光ファイバと、該第一の光
ファイバから射出された前記レーザ光を参照光と被測定
体を照射する照射光とに分離するとともに、該照射光が
被測定体から反射されることにより得られた物体光と前
記参照光とを合成する偏光ビームスプリッタと、該偏光
ビームスプリッタにより合成された前記物体光と前記参
照光との双方を伝送する第二の光ファイバと、該第二の
光ファイバから射出された前記物体光と前記参照光とが
干渉した光を検出してビート信号を得る光検出器と、を
備えたことを特徴とする光ファイバ・レーザドップラ振
動計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41160390A JPH04218730A (ja) | 1990-12-19 | 1990-12-19 | 光ファイバ・レーザドップラ振動計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41160390A JPH04218730A (ja) | 1990-12-19 | 1990-12-19 | 光ファイバ・レーザドップラ振動計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04218730A true JPH04218730A (ja) | 1992-08-10 |
Family
ID=18520580
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP41160390A Pending JPH04218730A (ja) | 1990-12-19 | 1990-12-19 | 光ファイバ・レーザドップラ振動計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04218730A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2023027875A (ja) * | 2021-08-18 | 2023-03-03 | 沖電気工業株式会社 | 振動計及び振動測定方法 |
-
1990
- 1990-12-19 JP JP41160390A patent/JPH04218730A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2023027875A (ja) * | 2021-08-18 | 2023-03-03 | 沖電気工業株式会社 | 振動計及び振動測定方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19991109 |