JPH04223519A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ディスク装置Info
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- JPH04223519A JPH04223519A JP41301590A JP41301590A JPH04223519A JP H04223519 A JPH04223519 A JP H04223519A JP 41301590 A JP41301590 A JP 41301590A JP 41301590 A JP41301590 A JP 41301590A JP H04223519 A JPH04223519 A JP H04223519A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- routine
- control
- magnetic disk
- control processing
- disk device
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、サーボ系により速度制
御及び位置制御を行ってヘッドを指定されたのトラック
位置に位置決めする等、磁気ディスク装置の制御をマイ
クロプログラムにより制御する磁気ディスク装置のマイ
クロプログラム制御方式に関する。
御及び位置制御を行ってヘッドを指定されたのトラック
位置に位置決めする等、磁気ディスク装置の制御をマイ
クロプログラムにより制御する磁気ディスク装置のマイ
クロプログラム制御方式に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、磁気ディスク装置については、そ
の高速化、小型化、高信頼化、低価格化が益々要求され
るようになり、それに伴って、磁気ディスク装置の制御
をマイクロプログラム制御化することが行われている。 例えば、ヘッドを所定のトラック位置に持っていく磁気
ディスク装置のヘッドの位置決め機構において、ヘッド
の位置を検出する状態検出方式も多数提案されている。
の高速化、小型化、高信頼化、低価格化が益々要求され
るようになり、それに伴って、磁気ディスク装置の制御
をマイクロプログラム制御化することが行われている。 例えば、ヘッドを所定のトラック位置に持っていく磁気
ディスク装置のヘッドの位置決め機構において、ヘッド
の位置を検出する状態検出方式も多数提案されている。
【0003】このヘッド位置検出方式として、互いに9
0度位相をずらしたPosN及びPosQという二つの
位置信号を用いてヘッドの位置検出を行う、いわゆる二
相サーボ検出方法が広く用いられている。すなわち、前
記位置信号を作成する回路、この位置信号に基づいてヘ
ッドが媒体面上のトラックの境界を横切ったことを検出
する回路、同一トラック内におけるヘッドのトラック中
心に対する位置偏差を検出する回路等を用いてヘッドの
状態を検出して、ヘッドの位置決め制御を行っている。
0度位相をずらしたPosN及びPosQという二つの
位置信号を用いてヘッドの位置検出を行う、いわゆる二
相サーボ検出方法が広く用いられている。すなわち、前
記位置信号を作成する回路、この位置信号に基づいてヘ
ッドが媒体面上のトラックの境界を横切ったことを検出
する回路、同一トラック内におけるヘッドのトラック中
心に対する位置偏差を検出する回路等を用いてヘッドの
状態を検出して、ヘッドの位置決め制御を行っている。
【0004】次に、図8を参照して、磁気ディスク装置
の構成及びそのセーボ制御動作について説明する。図8
において、31はボイスコイルモータ(VCM)であり
、ヘッドを移動させるための力を発生させる電動機とし
て機能する。32はサーボヘッド(磁気ヘッド)であり
、磁気ディスク33に記録されている位置決めに必要な
情報を電気信号に変換する。
の構成及びそのセーボ制御動作について説明する。図8
において、31はボイスコイルモータ(VCM)であり
、ヘッドを移動させるための力を発生させる電動機とし
て機能する。32はサーボヘッド(磁気ヘッド)であり
、磁気ディスク33に記録されている位置決めに必要な
情報を電気信号に変換する。
【0005】34は位置信号作成回路であり、サーボヘ
ッド32の読み取り信号に基づいて位置信号Psを作成
する。35は速度検出回路であり、この位置信号Psと
後述する電流検出信号ic等に基づいて、ヘッドの実際
の速度である実速度Vrを検出する。
ッド32の読み取り信号に基づいて位置信号Psを作成
する。35は速度検出回路であり、この位置信号Psと
後述する電流検出信号ic等に基づいて、ヘッドの実際
の速度である実速度Vrを検出する。
【0006】36は速度エラー検出回路であり、後述す
る目標速度Vcと実速度Vrとの誤差を示す速度エラー
ΔVを発生する。37はポジションエラー検出回路であ
り、位置信号Ps及び電流検出信号icに基づいて、ト
ラック上の目標位置と実際のヘッド位置との誤差を示す
位置エラー信号ΔPを発生する。
る目標速度Vcと実速度Vrとの誤差を示す速度エラー
ΔVを発生する。37はポジションエラー検出回路であ
り、位置信号Ps及び電流検出信号icに基づいて、ト
ラック上の目標位置と実際のヘッド位置との誤差を示す
位置エラー信号ΔPを発生する。
【0007】38は切替え/パワーアンプ回路であり、
後述するコアース/ファイン切替え信号を受け、コアー
ス(速度制御)の場合は、速度エラー検出回路36から
の速度エラー信号ΔVに切り替え、ファイン(位置制御
)の場合は、ポジションエラー検出回路17からの位置
エラー信号ΔPに切り替える。更に、この切り替えられ
た速度エラー信号ΔV又は位置エラー信号ΔPを電力増
幅して、ボイスコイルモータ31に駆動する制御電流I
sを発生する。
後述するコアース/ファイン切替え信号を受け、コアー
ス(速度制御)の場合は、速度エラー検出回路36から
の速度エラー信号ΔVに切り替え、ファイン(位置制御
)の場合は、ポジションエラー検出回路17からの位置
エラー信号ΔPに切り替える。更に、この切り替えられ
た速度エラー信号ΔV又は位置エラー信号ΔPを電力増
幅して、ボイスコイルモータ31に駆動する制御電流I
sを発生する。
【0008】39は制御電流検出回路であり、切替え/
パワーアンプ回路38の出力する制御電流Isを検出し
て、制御電流Isに比例する電流検出信号icを発生し
、速度検出回路35及びポジションエラー検出回路37
に供給する。
パワーアンプ回路38の出力する制御電流Isを検出し
て、制御電流Isに比例する電流検出信号icを発生し
、速度検出回路35及びポジションエラー検出回路37
に供給する。
【0009】40はトラッククロッシングパルス発生回
路であり、位置信号作成回路34からの位置信号Psに
基づいてトラッククロッシング、すなわちヘッドが媒体
面に同心円状に描かれたトラックとトラックの境界を横
切る時点を検出し、トラッククロッシングパルスを発生
して、速度検出回路35及び次に説明する主制御回路4
1に供給する。
路であり、位置信号作成回路34からの位置信号Psに
基づいてトラッククロッシング、すなわちヘッドが媒体
面に同心円状に描かれたトラックとトラックの境界を横
切る時点を検出し、トラッククロッシングパルスを発生
して、速度検出回路35及び次に説明する主制御回路4
1に供給する。
【0010】主制御回路41は、内部にプロセッサ41
1及び記憶手段412等を備え、マイクロプログラム制
御によりヘッドの位置決め等の各種サーボ制御を行うと
ともに、磁気ディスク装置全体の動作を制御する。記憶
手段412には、そのサーボ制御を指示する制御用の各
種ルーチンが格納されている。なお、符号21及び22
については、本発明の実施例の項の所で説明する。
1及び記憶手段412等を備え、マイクロプログラム制
御によりヘッドの位置決め等の各種サーボ制御を行うと
ともに、磁気ディスク装置全体の動作を制御する。記憶
手段412には、そのサーボ制御を指示する制御用の各
種ルーチンが格納されている。なお、符号21及び22
については、本発明の実施例の項の所で説明する。
【0011】主制御回路41のプロセッサ411は、記
憶手段412により読み出した制御ルーチンに従って、
トラッククロッシングパルス発生回路40からのトラッ
ククロッシングパルスを計数して移動トラック数(ヘッ
ドの移動量)を求め、この移動トラック数に対応した目
睫速度Vcのカーブを生成し、速度エラー検出回路36
に供給する。更に、コアース/ファイン切替え信号を発
生して切替え/パワーアンプ回路38に供給し、ヘッド
が目標位置近傍に到達したときに、コアース(速度制御
)からファイン(位置制御)に切り替えるように制御す
る。
憶手段412により読み出した制御ルーチンに従って、
トラッククロッシングパルス発生回路40からのトラッ
ククロッシングパルスを計数して移動トラック数(ヘッ
ドの移動量)を求め、この移動トラック数に対応した目
睫速度Vcのカーブを生成し、速度エラー検出回路36
に供給する。更に、コアース/ファイン切替え信号を発
生して切替え/パワーアンプ回路38に供給し、ヘッド
が目標位置近傍に到達したときに、コアース(速度制御
)からファイン(位置制御)に切り替えるように制御す
る。
【0012】以上説明した磁気ディスク装置において、
位置信号作成回路34、速度検出回路35、速度エラー
検出回路36、ポジションエラー検出回路37、切替え
/パワーアンプ回路38、制御電流検出回路39、トラ
ッククロッシングパルス発生回路40及び主制御回路4
1によってサーボ制御回路か構成される。
位置信号作成回路34、速度検出回路35、速度エラー
検出回路36、ポジションエラー検出回路37、切替え
/パワーアンプ回路38、制御電流検出回路39、トラ
ッククロッシングパルス発生回路40及び主制御回路4
1によってサーボ制御回路か構成される。
【0013】次に図8の動作について説明する。制御動
作開始時に、主制御回路21はコアース(速度制御)を
指示するコアース/ファイン切替え信号を発生して、切
替え/パワーアンプ回路38に供給する。切替え/パワ
ーアンプ回路38は、このコアース/ファイン切替え信
号を受けて速度エラー検出回路36からの速度エラー信
号ΔVに切り替え、この速度エラー信号ΔVを電力増幅
して制御電流Isを発生し、ボイスコイルモータ31に
供給する。
作開始時に、主制御回路21はコアース(速度制御)を
指示するコアース/ファイン切替え信号を発生して、切
替え/パワーアンプ回路38に供給する。切替え/パワ
ーアンプ回路38は、このコアース/ファイン切替え信
号を受けて速度エラー検出回路36からの速度エラー信
号ΔVに切り替え、この速度エラー信号ΔVを電力増幅
して制御電流Isを発生し、ボイスコイルモータ31に
供給する。
【0014】ボイスコイルモータ(VCM)31が、こ
の制御電流Isを受けてサーボヘッド12を指定トラッ
ク方向に駆動すると、サーボヘッド32は、磁気ディス
ク33に記録されている位置決めに必要な情報を読み取
って電気信号に変換する。位置信号作成回路34は、サ
ーボヘッド32の読み取り信号に基づいて位置信号Ps
を作成して、速度検出回路35、ポジションエラー検出
回路37及びトラッククロッシングパルス発生回路40
に供給する。
の制御電流Isを受けてサーボヘッド12を指定トラッ
ク方向に駆動すると、サーボヘッド32は、磁気ディス
ク33に記録されている位置決めに必要な情報を読み取
って電気信号に変換する。位置信号作成回路34は、サ
ーボヘッド32の読み取り信号に基づいて位置信号Ps
を作成して、速度検出回路35、ポジションエラー検出
回路37及びトラッククロッシングパルス発生回路40
に供給する。
【0015】また、制御電流検出回路39は、切替え/
パワーアンプ回路38の出力する制御電流Isを検出し
て電流検出信号icを発生し、速度検出回路35及びポ
ジションエラー検出回路37に供給する。トラッククロ
ッシングパルス発生回路40は、位置信号作成回路34
からの位置信号Psに基づいてトラッククロッシングパ
ルスを発生して、速度検出回路35及び主制御回路41
に供給する。
パワーアンプ回路38の出力する制御電流Isを検出し
て電流検出信号icを発生し、速度検出回路35及びポ
ジションエラー検出回路37に供給する。トラッククロ
ッシングパルス発生回路40は、位置信号作成回路34
からの位置信号Psに基づいてトラッククロッシングパ
ルスを発生して、速度検出回路35及び主制御回路41
に供給する。
【0016】主制御回路41ロセッサ411は、記憶手
段412により読み出した制御ルーチンに従って、トラ
ッククロッシングパルス発生回路40からのトラックク
ロッシングパルスを計数して移動トラック数(ヘッドの
移動量)を求め、この移動トラック数に対応した目睫速
度Vcのカーブを生成して、速度エラー検出回路36に
供給する。
段412により読み出した制御ルーチンに従って、トラ
ッククロッシングパルス発生回路40からのトラックク
ロッシングパルスを計数して移動トラック数(ヘッドの
移動量)を求め、この移動トラック数に対応した目睫速
度Vcのカーブを生成して、速度エラー検出回路36に
供給する。
【0017】速度検出回路35は、位置信号作成回路3
4からの位置信号Ps、制御電流検出回路39からの電
流検出信号ic及びトラッククロッシングパルス発生回
路40からのトラッククロッシングパルスに基づいて、
ヘッドの実際の速度(実速度)Vrを検出し、速度エラ
ー検出回路36に供給する。
4からの位置信号Ps、制御電流検出回路39からの電
流検出信号ic及びトラッククロッシングパルス発生回
路40からのトラッククロッシングパルスに基づいて、
ヘッドの実際の速度(実速度)Vrを検出し、速度エラ
ー検出回路36に供給する。
【0018】速度エラー検出回路36は、この実速度V
rと主制御回路41からの目標速度Vcとの差である速
度エラーΔVを発生して、切替え/パワーアンプ回路3
8に供給する。一方、ポジションエラー検出回路37か
らは、位置エラー信号ΔPが切替え/パワーアンプ回路
38に供給される。以下、前述のボイスコイルモータ3
1、サーボヘッド32、位置信号作成回路34、速度検
出回路35、速度アラー検出回路36、切替え/パワー
アンプ回路38、制御電流検出回路39、トラッククロ
ッシングパルス発生回路40及び主制御回路41によっ
て形成されるサーボループによるサーボ制御動作が繰り
返されて、サーボヘッド32は目標トラック位置に到達
する。
rと主制御回路41からの目標速度Vcとの差である速
度エラーΔVを発生して、切替え/パワーアンプ回路3
8に供給する。一方、ポジションエラー検出回路37か
らは、位置エラー信号ΔPが切替え/パワーアンプ回路
38に供給される。以下、前述のボイスコイルモータ3
1、サーボヘッド32、位置信号作成回路34、速度検
出回路35、速度アラー検出回路36、切替え/パワー
アンプ回路38、制御電流検出回路39、トラッククロ
ッシングパルス発生回路40及び主制御回路41によっ
て形成されるサーボループによるサーボ制御動作が繰り
返されて、サーボヘッド32は目標トラック位置に到達
する。
【0019】サーボヘッド32が目標トラック位置に到
達すると、主制御回路41のプロセッサ411は、切替
え/パワーアンプ回路38に供給するコアース/ファイ
ン切替え信号を切り替えて、ファイン(位置制御)を指
示する。切替え/パワーアンプ回路38は、このファイ
ン(位置制御)指示を受けると、ポジションエラー検出
回路37からの位置エラー信号ΔPに切り替え、この位
置エラー信号ΔPを電力増幅して制御電流Isを発生し
、ボイスコイルモータ31に供給する。
達すると、主制御回路41のプロセッサ411は、切替
え/パワーアンプ回路38に供給するコアース/ファイ
ン切替え信号を切り替えて、ファイン(位置制御)を指
示する。切替え/パワーアンプ回路38は、このファイ
ン(位置制御)指示を受けると、ポジションエラー検出
回路37からの位置エラー信号ΔPに切り替え、この位
置エラー信号ΔPを電力増幅して制御電流Isを発生し
、ボイスコイルモータ31に供給する。
【0020】この場合、ポジションエラー検出回路37
は、位置信号作成回路32からの位置信号Ps及び制御
電流検出回路39からの電流検出信号icに基づいて、
トラック上の目標位置と実際のヘッド位置との位置エラ
ー信号ΔPを発生して、切替え/パワーアンプ回路38
に供給している。
は、位置信号作成回路32からの位置信号Ps及び制御
電流検出回路39からの電流検出信号icに基づいて、
トラック上の目標位置と実際のヘッド位置との位置エラ
ー信号ΔPを発生して、切替え/パワーアンプ回路38
に供給している。
【0021】以下、前述のボイスコイルモータ31、サ
ーボヘッド32、位置信号作成回路34、ポジションエ
ラー検出回路37、切替え/パワーアンプ回路38、制
御電流検出回路39、トラッククロッシングパルス発生
回路40及び主制御回路41によって形成されるサーボ
ループによるサーボ制御動作が繰り返されて、サーボヘ
ッド12は所定の目標トラック上の中心位置に位置付け
される。
ーボヘッド32、位置信号作成回路34、ポジションエ
ラー検出回路37、切替え/パワーアンプ回路38、制
御電流検出回路39、トラッククロッシングパルス発生
回路40及び主制御回路41によって形成されるサーボ
ループによるサーボ制御動作が繰り返されて、サーボヘ
ッド12は所定の目標トラック上の中心位置に位置付け
される。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】従来の磁気ディスク装
置は、図8で説明したように、サーボ制御回路によりヘ
ッドを目標トラック位置に位置づけする制御を行ってい
るが、このサーボ制御回路は位置信号作成回路34、速
度検出回路35、速度アラー検出回路36、ポジション
エラー検出回路37、切替え/パワーアンプ回路38、
制御電流検出回路39、トラッククロッシングパルス発
生回路40といった等の多数の回路で構成される。
置は、図8で説明したように、サーボ制御回路によりヘ
ッドを目標トラック位置に位置づけする制御を行ってい
るが、このサーボ制御回路は位置信号作成回路34、速
度検出回路35、速度アラー検出回路36、ポジション
エラー検出回路37、切替え/パワーアンプ回路38、
制御電流検出回路39、トラッククロッシングパルス発
生回路40といった等の多数の回路で構成される。
【0023】このサーボ制御回路の各回路は、多数の部
品で構成されているが、各部品の製造時のばらつきや組
立て時のばらつき等のために、出来上がった各回路の機
能や特性にばらつきが生じる。そこで、各回路のに生じ
るばらつきを吸収して所定の機能や特性を実現するため
に各回路に対する調整が必要である。
品で構成されているが、各部品の製造時のばらつきや組
立て時のばらつき等のために、出来上がった各回路の機
能や特性にばらつきが生じる。そこで、各回路のに生じ
るばらつきを吸収して所定の機能や特性を実現するため
に各回路に対する調整が必要である。
【0024】この調整は、以前は人手で行っていたが、
最近では、磁気ディスク装置自体が調整の機能を持ち、
いわゆるサーボの自動調整が行われている。この自動調
整として、例えば、調整の正しい手順を主制御回路の記
憶手段にマイクロプログラムとして予め記述しておき、
この調整手順を順次実行することで行われる。
最近では、磁気ディスク装置自体が調整の機能を持ち、
いわゆるサーボの自動調整が行われている。この自動調
整として、例えば、調整の正しい手順を主制御回路の記
憶手段にマイクロプログラムとして予め記述しておき、
この調整手順を順次実行することで行われる。
【0025】このような自動調整を行うと、個人差や測
定器の誤差による調整成績のばらつきや調整コストが改
善される反面、自動調整の手順を作成するための設計工
数、例えば、自動調整プログラムの作成といった工数が
増大するという不都合があった。更に、磁気ディスク装
置の構成部品が変更される度に、最適な調整方法を作成
又は変更しなければならないため、その都度プログラム
のの作成又は変更を余儀なくされるという不都合があっ
た。このような問題は、他の制御動作の手順の作成や変
更に際しても同様に生じる問題である。
定器の誤差による調整成績のばらつきや調整コストが改
善される反面、自動調整の手順を作成するための設計工
数、例えば、自動調整プログラムの作成といった工数が
増大するという不都合があった。更に、磁気ディスク装
置の構成部品が変更される度に、最適な調整方法を作成
又は変更しなければならないため、その都度プログラム
のの作成又は変更を余儀なくされるという不都合があっ
た。このような問題は、他の制御動作の手順の作成や変
更に際しても同様に生じる問題である。
【0026】本発明は、磁気ディスク装置の構成部品の
変更等により、制御処理の作成や変更等を行う必要が生
じた場合に、制御プログラム本体に修正を加えず、機能
プログラムや流れ制御要素の記述を変更するだけの簡単
な処理で制御処理手順の作成や変更を効率良く実現でき
るように改良した磁気ディスク装置のマイクロプログラ
ム制御方式を提供することを目的とする。
変更等により、制御処理の作成や変更等を行う必要が生
じた場合に、制御プログラム本体に修正を加えず、機能
プログラムや流れ制御要素の記述を変更するだけの簡単
な処理で制御処理手順の作成や変更を効率良く実現でき
るように改良した磁気ディスク装置のマイクロプログラ
ム制御方式を提供することを目的とする。
【0027】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに本発明が採用した手段を、図1を参照して説明する
。図1は、本発明の原理を説明したものである。図1に
おいて、11は通常処理ルーチンであり、磁気ディスク
装置の制御動作を複数の基本動作に分け、各基本動作の
動作手順が、一つの命令と解釈されて記述されるルーチ
ンである。
めに本発明が採用した手段を、図1を参照して説明する
。図1は、本発明の原理を説明したものである。図1に
おいて、11は通常処理ルーチンであり、磁気ディスク
装置の制御動作を複数の基本動作に分け、各基本動作の
動作手順が、一つの命令と解釈されて記述されるルーチ
ンである。
【0028】12は制御処理ルーチンであり、通常処理
ルーチン11における前記基本動作を記述した命令を用
いて、磁気ディスク装置の制御処理を実行するために必
要な手順が記述されるルーチンである。13は制御処理
インタプリタルーチンであり、制御処理ルーチン12を
参照して、その制御処理手順を実際に実行するルーチン
である。
ルーチン11における前記基本動作を記述した命令を用
いて、磁気ディスク装置の制御処理を実行するために必
要な手順が記述されるルーチンである。13は制御処理
インタプリタルーチンであり、制御処理ルーチン12を
参照して、その制御処理手順を実際に実行するルーチン
である。
【0029】前記制御処理ルーチン12は、通常処理ル
ーチン11及び制御処理インタプリタルーチン13と同
じ記憶手段に格納されるか、又は両記憶手段とは別個の
記憶手段に格納される。これらの記憶手段は図示しない
磁気ディスク装置の動作をマイクロプログラム制御する
主制御回路内に設けられる。
ーチン11及び制御処理インタプリタルーチン13と同
じ記憶手段に格納されるか、又は両記憶手段とは別個の
記憶手段に格納される。これらの記憶手段は図示しない
磁気ディスク装置の動作をマイクロプログラム制御する
主制御回路内に設けられる。
【0030】
【作用】通常処理ルーチン11には、磁気ディスク装置
の通常の制御動作、例えば、サーボ系として必要な通常
動作の各基本動作手順が一つの命令と解釈されて記述さ
れて、図示しない主制御回路の記憶手段に格納される。 また、この通常処理ルーチン11に記述された命令を用
いて制御処理磁気ディスク装置の制御処理を実行するた
めに必要な手順が記述され制御処理ルーチン12も、予
め作成されて同じく図示しない主制御回路の記憶手段に
格納される。
の通常の制御動作、例えば、サーボ系として必要な通常
動作の各基本動作手順が一つの命令と解釈されて記述さ
れて、図示しない主制御回路の記憶手段に格納される。 また、この通常処理ルーチン11に記述された命令を用
いて制御処理磁気ディスク装置の制御処理を実行するた
めに必要な手順が記述され制御処理ルーチン12も、予
め作成されて同じく図示しない主制御回路の記憶手段に
格納される。
【0031】一方、磁気ディスク装置の制御処理を、前
記制御処理ルーチン12を参照して実際に実行する制御
処理インタプリタルーチン13は、通常処理ルーチン1
1及び自動調整インタプリタ13と同じ記憶手段又は両
者とは別個の記憶手段(図示せず)に格納される。
記制御処理ルーチン12を参照して実際に実行する制御
処理インタプリタルーチン13は、通常処理ルーチン1
1及び自動調整インタプリタ13と同じ記憶手段又は両
者とは別個の記憶手段(図示せず)に格納される。
【0032】回路部品の変更等により制御処理手順を新
たに作成又は変更するときは、制御処理ルーチン12を
新たに作成又は変更して実現する。制御処理ルーチン1
2には、前述のように、通常処理ルーチン11に記述さ
れた各基本動作を指示する命令を用いて磁気ディスク装
置の制御動作を実行するために必要な手順が記述されて
いるので、新たな制御処理手順の作成や変更は、作成や
変更を必要とする制御動作の基本動作に対応する命令を
その制御動作手順に従って再配列又は変更することによ
り容易に実現することができる(その具体例については
、実施例の項で説明する)。
たに作成又は変更するときは、制御処理ルーチン12を
新たに作成又は変更して実現する。制御処理ルーチン1
2には、前述のように、通常処理ルーチン11に記述さ
れた各基本動作を指示する命令を用いて磁気ディスク装
置の制御動作を実行するために必要な手順が記述されて
いるので、新たな制御処理手順の作成や変更は、作成や
変更を必要とする制御動作の基本動作に対応する命令を
その制御動作手順に従って再配列又は変更することによ
り容易に実現することができる(その具体例については
、実施例の項で説明する)。
【0033】また、通常処理ルーチン11及び制御処理
インタプリタ13を変更することなく、制御処理ルーチ
ン12を変更するたけでよいので、新たな制御処理プロ
グラムの作成や変更が容易になり、プログラムの開発を
効率的かつ低コストで行うことができる。
インタプリタ13を変更することなく、制御処理ルーチ
ン12を変更するたけでよいので、新たな制御処理プロ
グラムの作成や変更が容易になり、プログラムの開発を
効率的かつ低コストで行うことができる。
【0034】更に、制御処理を作成又は変更するときは
、制御処理ルーチン12を変更するたけでよいので、制
御処理ルーチン12を通常処理ルーチン11及び制御処
理インタプリタルーチン13とは別の記憶手段に格納す
るようにすれば、例えは制御処理ルーチン12に対する
アクセスが容易になるので、制御処理手順を作成又は変
更する際の処理工数やコスト等を更に低減することがで
きる。
、制御処理ルーチン12を変更するたけでよいので、制
御処理ルーチン12を通常処理ルーチン11及び制御処
理インタプリタルーチン13とは別の記憶手段に格納す
るようにすれば、例えは制御処理ルーチン12に対する
アクセスが容易になるので、制御処理手順を作成又は変
更する際の処理工数やコスト等を更に低減することがで
きる。
【0035】
【実施例】本発明の各実施例を、図2〜図7を参照して
説明する。図2は本発明の第1の実施例に使用される第
1の記憶手段における各ルーチンの配置の説明図、図3
は本発明の各実施例における制御処理ルーチン(自動調
整ルーチン)の説明図、図4は本発明の各実施例におけ
る制御処理ルーチン(自動調整インタプリタルーチン)
の説明図である。
説明する。図2は本発明の第1の実施例に使用される第
1の記憶手段における各ルーチンの配置の説明図、図3
は本発明の各実施例における制御処理ルーチン(自動調
整ルーチン)の説明図、図4は本発明の各実施例におけ
る制御処理ルーチン(自動調整インタプリタルーチン)
の説明図である。
【0036】図5は本発明の各実施例の制御処理ルーチ
ン(自動調整ルーチン)処理フローチャートの説明図、
図6は本発明の各実施例における制御処理ルーチン(自
動調整ルーチン)変更処理の具体例の説明図、図7は図
2は本発明の第2の実施例に使用される第1記憶手段及
び第2記憶手段における各ルーチンの配置の説明図であ
る。
ン(自動調整ルーチン)処理フローチャートの説明図、
図6は本発明の各実施例における制御処理ルーチン(自
動調整ルーチン)変更処理の具体例の説明図、図7は図
2は本発明の第2の実施例に使用される第1記憶手段及
び第2記憶手段における各ルーチンの配置の説明図であ
る。
【0037】以下、制御処理ルーチン12が、サーボ系
により速度制御及び位置制御を行ってヘッドを所望のト
ラック位置に位置決めする自動調整ルーチン(同じ符号
12で示す)であり、制御処理インタプリタルーチン1
3が、この自動調整ルーチン12のインタプリタルーチ
ン(自動調整インタプリタルーチン12で示す)である
場合を例にとって、本発明の各実施例について説明する
。先ず、本発明の第1の実施例について説明する。
により速度制御及び位置制御を行ってヘッドを所望のト
ラック位置に位置決めする自動調整ルーチン(同じ符号
12で示す)であり、制御処理インタプリタルーチン1
3が、この自動調整ルーチン12のインタプリタルーチ
ン(自動調整インタプリタルーチン12で示す)である
場合を例にとって、本発明の各実施例について説明する
。先ず、本発明の第1の実施例について説明する。
【0038】(A)第1の実施例の構成自動調整インタ
プリタルーチン13により、自動調整ルーチンを実行す
る場合の磁気ディスク装置の構成は、図8で説明した磁
気ディスク装置の構成と共通である。その構成について
は「従来の技術」の項で説明した内容と同じであるので
、詳細な説明は省略し、以下、第1記憶手段の構成を中
心に説明する。
プリタルーチン13により、自動調整ルーチンを実行す
る場合の磁気ディスク装置の構成は、図8で説明した磁
気ディスク装置の構成と共通である。その構成について
は「従来の技術」の項で説明した内容と同じであるので
、詳細な説明は省略し、以下、第1記憶手段の構成を中
心に説明する。
【0039】図2の第1記憶手段段21は、図8の主制
御回路41内に設けられ、図8で説明したの記憶手段4
12に対応するものである。その、通常処理ルーチン1
1、制御処理ルーチンすなわち自動調整ルーチン12及
び制御処理インタプリタルーチンすなわち自動調整イン
タプリタルーチン13については、図1で説明したとお
りである。14は診断ルーチンであり、磁気ディスク装
置のハードウェア及びソフトウェアの正常性を診断する
手順が記述される。
御回路41内に設けられ、図8で説明したの記憶手段4
12に対応するものである。その、通常処理ルーチン1
1、制御処理ルーチンすなわち自動調整ルーチン12及
び制御処理インタプリタルーチンすなわち自動調整イン
タプリタルーチン13については、図1で説明したとお
りである。14は診断ルーチンであり、磁気ディスク装
置のハードウェア及びソフトウェアの正常性を診断する
手順が記述される。
【0040】この第1記憶手段21は、第1の実施例で
は、前記通常処理ルーチン11、自動調整ルーチン12
、自動調整インタプリタルーチン13及び診断ルーチン
14がともに格納され、図8の主制御回路41に設けら
れる。
は、前記通常処理ルーチン11、自動調整ルーチン12
、自動調整インタプリタルーチン13及び診断ルーチン
14がともに格納され、図8の主制御回路41に設けら
れる。
【0041】図3は、自動調整ルーチン12の一例を示
したものである。この自動調整ルーチンは、図示のよう
に、Rezero、AGCGainAdj、Seek、
BiasAdj、Wait等の基本動作を指示する各命
令語からなっている。SeekやWait等の命令語の
後に記載されている4桁の数字はその命令のパラメータ
であり、例えば、Seek(シーク)に付いては第1記
憶手段21のアドレスを示し、Wait(待ち)につい
ては待ち時間を示している。
したものである。この自動調整ルーチンは、図示のよう
に、Rezero、AGCGainAdj、Seek、
BiasAdj、Wait等の基本動作を指示する各命
令語からなっている。SeekやWait等の命令語の
後に記載されている4桁の数字はその命令のパラメータ
であり、例えば、Seek(シーク)に付いては第1記
憶手段21のアドレスを示し、Wait(待ち)につい
ては待ち時間を示している。
【0042】図4は自動調整インタプリタルーチン13
の各命令語を示したものである。Rezero、See
k、BiasAdj、AGCGainAdj等は、基本
動作を指示する各命令語である。Call、Rerur
n、Wait、Nop等は、フロー制御用の命令語であ
る。これらの各命令を組み合わせて、所望の自動調整イ
ンタプリタルーチンが記述される。
の各命令語を示したものである。Rezero、See
k、BiasAdj、AGCGainAdj等は、基本
動作を指示する各命令語である。Call、Rerur
n、Wait、Nop等は、フロー制御用の命令語であ
る。これらの各命令を組み合わせて、所望の自動調整イ
ンタプリタルーチンが記述される。
【0043】(B)第1の実施例の動作第1の実施例の
動作を、図3〜図6を参照して説明する。回路部品等の
変更によりサーボ自動調整手順に変更が生じた場合は、
通常処理ルーチン11、自動調整インタプリタルーチン
13及び診断ルーチン14は変更されず、自動調整ルー
チン12の内容だけが変更される。
動作を、図3〜図6を参照して説明する。回路部品等の
変更によりサーボ自動調整手順に変更が生じた場合は、
通常処理ルーチン11、自動調整インタプリタルーチン
13及び診断ルーチン14は変更されず、自動調整ルー
チン12の内容だけが変更される。
【0044】なお、この自動調整は、先に図8で説明し
たように、その調整の正しい手順を主制御回路41の第
1記憶手段21にマイクロプログラムとして予め記述し
ておき、プロセッサ411が、第1記憶手段21から所
定のルーチンを読み出して、その調整手順を順次実行す
ることで行われる。なお、各ルーチンの処理は、プロセ
ッサ411が各ルーチンの内容を読み出して実行もので
あるが、説明を簡単にするために、以下、単に「各ルー
チンが実行する」と記載して説明する。
たように、その調整の正しい手順を主制御回路41の第
1記憶手段21にマイクロプログラムとして予め記述し
ておき、プロセッサ411が、第1記憶手段21から所
定のルーチンを読み出して、その調整手順を順次実行す
ることで行われる。なお、各ルーチンの処理は、プロセ
ッサ411が各ルーチンの内容を読み出して実行もので
あるが、説明を簡単にするために、以下、単に「各ルー
チンが実行する」と記載して説明する。
【0045】以下、第1の実施例の動作を、図3の自動
調整ルーチン中の第8番及び第10番のSeek命令に
変更が生じた場合を例にとり、図4の処理フローチャー
トの処理ステップに従って説明する。この自動調整手順
変更処理は、自動調整インタプリタルーチン13によっ
て実行される。
調整ルーチン中の第8番及び第10番のSeek命令に
変更が生じた場合を例にとり、図4の処理フローチャー
トの処理ステップに従って説明する。この自動調整手順
変更処理は、自動調整インタプリタルーチン13によっ
て実行される。
【0046】■ステップS1
オペレータは、変更を必要とするサーボ自動調整手順の
中の一つの命令を指定するコマンドを入力する。本実施
例では、先ず図3の第8番目のSeek命令を変更する
ために、第8番目のSeek命令が指定される。
中の一つの命令を指定するコマンドを入力する。本実施
例では、先ず図3の第8番目のSeek命令を変更する
ために、第8番目のSeek命令が指定される。
【0047】■ステップS2
自動調整インタプリタルーチン13は、この指定された
命令が正しいか否かをチェックする。指定された命令に
誤りがあるときは、エラーメッセージを表示して正しい
命令を再入力させる。
命令が正しいか否かをチェックする。指定された命令に
誤りがあるときは、エラーメッセージを表示して正しい
命令を再入力させる。
【0048】■ステップS3
指定された命令が正しいときは、自動調整インタプリタ
ルーチン13は、記録単体21をアクセスして、指定さ
れた命令が指示した変更対象Seek命令を取り出し、
図示しない表示器に表示する。表示器には、図3に示す
ような変更対象Seek命令「Seek 0100」
が表示される。オペレータは、この変更対象Seek命
令のパラメータ「0100」を新しいSeek命令のパ
ラメータ「0500」に変更する。
ルーチン13は、記録単体21をアクセスして、指定さ
れた命令が指示した変更対象Seek命令を取り出し、
図示しない表示器に表示する。表示器には、図3に示す
ような変更対象Seek命令「Seek 0100」
が表示される。オペレータは、この変更対象Seek命
令のパラメータ「0100」を新しいSeek命令のパ
ラメータ「0500」に変更する。
【0049】これにより、変更対象Seek命令「Se
ek 0100」が、図6に示すように、新しいSe
ek命令「Seek 0500」に変更される。
図6の(A)の第8番目は変更前の変更対象Seek命
令のアドレス「0100」を示し、同図(B)の第8番
目はは変更後のSeek命令「Seek 0500」
を示したものである。なお、この新しいSeek命令は
、回路部品等の変更に対応して予め作成されている。
ek 0100」が、図6に示すように、新しいSe
ek命令「Seek 0500」に変更される。
図6の(A)の第8番目は変更前の変更対象Seek命
令のアドレス「0100」を示し、同図(B)の第8番
目はは変更後のSeek命令「Seek 0500」
を示したものである。なお、この新しいSeek命令は
、回路部品等の変更に対応して予め作成されている。
【0050】■ステップS4
自動調整インタプリタルーチン13は、変更されたSe
ek命令が正常に終了したか否かチェックする。命令が
正常に終了しなかった場合は、エラーメッセージを表示
してSeek命令の変更処理を再実行させる。
ek命令が正常に終了したか否かチェックする。命令が
正常に終了しなかった場合は、エラーメッセージを表示
してSeek命令の変更処理を再実行させる。
【0051】第8番目のSeek命令の変更が正常に終
了した場合は、次の第10番のSe13命令「「See
k 0200」を変更するために、前述のステップS
1 〜S4 の処理が繰り返される。これにより、図6
の10番目に示す変更対象Seek命令「Seek
0200」が、図6の(B)の10番目に示す新しいS
eek命令「Seek 0600」に変更される。以
上のようにして、自動調整ルーチン12を容易に変更す
ることができる。
了した場合は、次の第10番のSe13命令「「See
k 0200」を変更するために、前述のステップS
1 〜S4 の処理が繰り返される。これにより、図6
の10番目に示す変更対象Seek命令「Seek
0200」が、図6の(B)の10番目に示す新しいS
eek命令「Seek 0600」に変更される。以
上のようにして、自動調整ルーチン12を容易に変更す
ることができる。
【0052】(C)本発明の第2の実施例図7は、本発
明の第2の実施例を示したものである。図7において、
通常処理ルーチン11、自動調整インタプリタルーチン
13及び診断ルーチン14及び第1記憶手段21につい
ては、図2と同じである。第2の実施例では、第1記憶
手段21に、自動調整ルーチン12を除く前記各ルーチ
ンが格納される。22は第2記憶手段であり、自動調整
ルーチン12が格納される。この第1記憶手段21及び
第2記憶手段21は、ともに図8の主制御回路21内に
設けられる。
明の第2の実施例を示したものである。図7において、
通常処理ルーチン11、自動調整インタプリタルーチン
13及び診断ルーチン14及び第1記憶手段21につい
ては、図2と同じである。第2の実施例では、第1記憶
手段21に、自動調整ルーチン12を除く前記各ルーチ
ンが格納される。22は第2記憶手段であり、自動調整
ルーチン12が格納される。この第1記憶手段21及び
第2記憶手段21は、ともに図8の主制御回路21内に
設けられる。
【0053】プロセッサ411は、この第1記憶手段2
1及び第2記憶手段21より所定のルーチンを読み出し
て体2の実施例の動作を制御する。この第2の実施例の
自動調整手順変更処理も、自動調整インタプリタルーチ
ン13によって、図5の処理フローチャートに従って行
われる。その処理内容は前記第1の実施例と同様である
ので、説明は省略する。
1及び第2記憶手段21より所定のルーチンを読み出し
て体2の実施例の動作を制御する。この第2の実施例の
自動調整手順変更処理も、自動調整インタプリタルーチ
ン13によって、図5の処理フローチャートに従って行
われる。その処理内容は前記第1の実施例と同様である
ので、説明は省略する。
【0054】自動調整ルーチン12を、第2の実施例よ
うに他のルーチンが格納される第1記憶手段21とは別
個の第2記録単体22に格納するようにすると、例えば
、自動調整ルーチン12に対するアクセスが容易になる
ので、自動調整手順変更処理の際の工数、コスト等を第
1の実施例よりも更に低減することができる。
うに他のルーチンが格納される第1記憶手段21とは別
個の第2記録単体22に格納するようにすると、例えば
、自動調整ルーチン12に対するアクセスが容易になる
ので、自動調整手順変更処理の際の工数、コスト等を第
1の実施例よりも更に低減することができる。
【0055】以上、本発明の各実施例について説明した
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではなく
、その発明の主旨に従った各種の変形か可能である。 すなわち、制御処理手順を変更する他、新たな制御処理
手順の作成処理も同様に行うことができる。
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではなく
、その発明の主旨に従った各種の変形か可能である。 すなわち、制御処理手順を変更する他、新たな制御処理
手順の作成処理も同様に行うことができる。
【0056】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、通常処
理ルーチン11に記述された各基本動作を指示する命令
を用いて、制御処理ルーチン12に、磁気ディスク装置
の制御動作を実行するために必要な手順を記述するよう
にしたので、新たな制御処理手順の作成や変更は、作成
や変更を必要とする制御動作の基本動作に対応する命令
をその制御動作手順に従って再配列又は変更することに
より容易に実現することができる。
理ルーチン11に記述された各基本動作を指示する命令
を用いて、制御処理ルーチン12に、磁気ディスク装置
の制御動作を実行するために必要な手順を記述するよう
にしたので、新たな制御処理手順の作成や変更は、作成
や変更を必要とする制御動作の基本動作に対応する命令
をその制御動作手順に従って再配列又は変更することに
より容易に実現することができる。
【0057】また、通常処理ルーチン11及び制御処理
インタプリタ13を変更することなく、制御処理ルーチ
ン12を変更するたけでよいので、新たな制御処理プロ
グラムの作成や変更が容易になり、プログラムの開発を
効率的かつ低コストで行うことができる。
インタプリタ13を変更することなく、制御処理ルーチ
ン12を変更するたけでよいので、新たな制御処理プロ
グラムの作成や変更が容易になり、プログラムの開発を
効率的かつ低コストで行うことができる。
【0058】更に、制御処理を作成又は変更するときは
、制御処理ルーチン12を変更するたけでよいので、制
御処理ルーチン12を通常処理ルーチン11及び制御処
理インタプリタルーチン13とは別の記憶手段に格納す
るようにすれば、制御処理ルーチン12に対するアクセ
スが容易になるので、制御処理手順を作成又は変更する
際の処理工数やコスト等を更に低減することができる。
、制御処理ルーチン12を変更するたけでよいので、制
御処理ルーチン12を通常処理ルーチン11及び制御処
理インタプリタルーチン13とは別の記憶手段に格納す
るようにすれば、制御処理ルーチン12に対するアクセ
スが容易になるので、制御処理手順を作成又は変更する
際の処理工数やコスト等を更に低減することができる。
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】本発明の第1の実施例に使用される第1記憶手
段における各ルーチンの配置の説明図である。
段における各ルーチンの配置の説明図である。
【図3】本発明の各実施例における制御処理ルーチン(
自動調整ルーチン)の説明図である。
自動調整ルーチン)の説明図である。
【図4】本発明の各実施例の制御処理インタプリタルー
チン(自動調整インタプリタルーチン)における各命令
の説明図である。
チン(自動調整インタプリタルーチン)における各命令
の説明図である。
【図5】本発明の各実施例の制御処理ルーチン(自動調
整ルーチン)処理フローチャートの説明図である。
整ルーチン)処理フローチャートの説明図である。
【図6】本発明の各実施例における制御処理ルーチン(
自動調整ルーチン)変更処理の具体例に付いての説明図
である。
自動調整ルーチン)変更処理の具体例に付いての説明図
である。
【図7】本発明の第2の実施例に使用される第1記憶手
段及び第2記憶手段における各ルーチンの配置の説明図
である。
段及び第2記憶手段における各ルーチンの配置の説明図
である。
【図8】磁気ディスク装置とそのサーボ制御方式の説明
図である。
図である。
11 通常処理ルーチン
12 制御処理ルーチン(自動調整ルーチン)13
制御処理インタプリタルーチン(自動調整インタプリ
タルーチン) 14 診断ルーチン 21 第1記憶手段 22 第2記憶手段
制御処理インタプリタルーチン(自動調整インタプリ
タルーチン) 14 診断ルーチン 21 第1記憶手段 22 第2記憶手段
Claims (3)
- 【請求項1】 磁気ディスク装置の制御をマイクロプ
ログラムにより制御する磁気ディスク装置のマイクロプ
ログラム制御方式において、磁気ディスク装置の制御動
作を複数の基本動作に分け、各基本動作の動作手順が、
一つの命令と解釈されて記述される通常処理ルーチン(
11)と通常処理ルーチン(11)における前記基本動
作を記述した命令を用いて、磁気ディスク装置の制御処
理を実行するために必要な手順が記述される制御処理ル
ーチン(12)と、制御処理ルーチン(12)を参照し
て、その制御処理手順を実行する制御処理インタプリタ
ルーチン(13)とを備え、新たな制御処理手順を作成
し、又は制御処理の内容を変更するときは、制御処理ル
ーチン(12)を新たに作成又は変更することにより実
現すること、を特徴とする磁気ディスク装置のマイクロ
プログラム制御方式。 - 【請求項2】 制御処理ルーチン(12)が、通常処
理ルーチン(11)及び制御処理インタプリタルーチン
(13)が格納される第1記憶手段(21)とは別個の
記憶手段(22)に格納されていることを特徴とする請
求項1記載の磁気ディスク装置のマイクロプログラム制
御方式。 - 【請求項3】 制御処理ルーチン(12)が、サーボ
系により速度制御及び位置制御を行って、ヘッドを所望
のトラック位置に位置決めする磁気ディスク装置におけ
る自動調整ルーチンであり、制御処理インタプリタルー
チン(13)が、前記自動調整ルーチンを参照して、そ
の自動調整手順を実行する自動調整インタプリタルーチ
ンであることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の
磁気ディスク装置のマイクロプログラム制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41301590A JP3173804B2 (ja) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | 磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41301590A JP3173804B2 (ja) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | 磁気ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04223519A true JPH04223519A (ja) | 1992-08-13 |
| JP3173804B2 JP3173804B2 (ja) | 2001-06-04 |
Family
ID=18521733
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP41301590A Expired - Fee Related JP3173804B2 (ja) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3173804B2 (ja) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4999443A (ja) * | 1973-01-30 | 1974-09-19 | ||
| JPS63152067A (ja) * | 1986-12-16 | 1988-06-24 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスク装置のシ−ク制御方式 |
| JPS63223821A (ja) * | 1987-03-12 | 1988-09-19 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスク制御装置 |
| JPS6446126A (en) * | 1987-08-13 | 1989-02-20 | Sony Corp | Floppy disk device |
| JPS6464178A (en) * | 1987-09-03 | 1989-03-10 | Fujitsu Ltd | Automatic adjusting device for magnetic disk device tester |
| JPH0199129A (ja) * | 1987-10-12 | 1989-04-18 | Fujitsu Ltd | マイクロプログラム修正方式 |
| JPH01311478A (ja) * | 1988-06-09 | 1989-12-15 | Hitachi Ltd | アクセス制御自動調整方法 |
-
1990
- 1990-12-25 JP JP41301590A patent/JP3173804B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4999443A (ja) * | 1973-01-30 | 1974-09-19 | ||
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| JPS63223821A (ja) * | 1987-03-12 | 1988-09-19 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスク制御装置 |
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| JPS6464178A (en) * | 1987-09-03 | 1989-03-10 | Fujitsu Ltd | Automatic adjusting device for magnetic disk device tester |
| JPH0199129A (ja) * | 1987-10-12 | 1989-04-18 | Fujitsu Ltd | マイクロプログラム修正方式 |
| JPH01311478A (ja) * | 1988-06-09 | 1989-12-15 | Hitachi Ltd | アクセス制御自動調整方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3173804B2 (ja) | 2001-06-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980901 |
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