JPH0424081U - - Google Patents

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JPH0424081U
JPH0424081U JP6530390U JP6530390U JPH0424081U JP H0424081 U JPH0424081 U JP H0424081U JP 6530390 U JP6530390 U JP 6530390U JP 6530390 U JP6530390 U JP 6530390U JP H0424081 U JPH0424081 U JP H0424081U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の波形測定装置の構成ブロツク
図、第２図は第１図で示した波形測定装置の動作
を示すタイミングチヤート、第３図はメモリに読
み込まれるデータの内容の説明図、第４図は従来
のＬＳＩテスタによつて波形を測定する場合の説
明図である。 １……モジユールコントローラ、４……波形測
定モジユール、４２……デイレイタイマ、４４…
…サイクリツクカウンタ、４５……メモリ、４６
……アドレスラツチ、４７……ライトパルス発生
器、５０……トリガ後カウンタ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 ＤＵＴから出力される被測定信号の測定ポイン
    トをサンプリングクロツク信号に同期して測定す
    る波形測定装置であつて、 前記ＤＵＴに与える検査信号に同期してモジユ
    ール同期トリガを出力するモジユールコントロー
    ラと、 前記モジユール同期トリガでイネーブルされた
    後、前記モジユールコントローラで設定されたア
    ドレスをサイクリツクにカウントしてメモリに出
    力するサイクリツクカウンタと、 前記モジユール同期トリガを前記モジユールコ
    ントローラで設定された時間遅延するデイレイタ
    イマと、 このデイレイタイマで遅延して得たトリガ信号
    によつて前記サイクリツクカウンタから出力され
    たアドレスをラツチし、測定ポイントを前記モジ
    ユールコントローラに出力するアドレスラツチと
    、 前記デイレイタイマからのトリガ信号で前記サ
    ンプリングクロツクをカウントし、前記モジユー
    ルコントローラで設定されたカウント数で、前記
    サイクリツクカウンタとメモリをデイスエイブル
    するトリガ−後カウンタと、 前記サイクリツクカウンタから出力されたアド
    レスと前記ＤＵＴからの出力データとが入力され
    たメモリに、前記サンプリングクロツクに同期し
    てライト信号を出力するライトパルス発生器とを
    設け、 前記アドレスラツチでラツチしたアドレスを基
    準に、任意の測定ポイントを連続してメモリから
    読出して検査することができることを特徴とした
    波形測定装置。
JP6530390U 1990-06-20 1990-06-20 波形測定装置 Expired - Lifetime JP2543721Y2 (ja)

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JPH0424081U true JPH0424081U (ja) 1992-02-27
JP2543721Y2 JP2543721Y2 (ja) 1997-08-13

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN121254047A (zh) * 2025-12-04 2026-01-02 南京宏泰半导体科技股份有限公司 一种扫描芯片电压电流翻转点的方法和设备

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN121254047A (zh) * 2025-12-04 2026-01-02 南京宏泰半导体科技股份有限公司 一种扫描芯片电压电流翻转点的方法和设备

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JP2543721Y2 (ja) 1997-08-13

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