JPH0424856B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0424856B2 JPH0424856B2 JP57026285A JP2628582A JPH0424856B2 JP H0424856 B2 JPH0424856 B2 JP H0424856B2 JP 57026285 A JP57026285 A JP 57026285A JP 2628582 A JP2628582 A JP 2628582A JP H0424856 B2 JPH0424856 B2 JP H0424856B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor substrate
- substrate support
- resin
- frame
- strips
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/01—Manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/0198—Manufacture or treatment batch processes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
Landscapes
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は樹脂封止形半導体装置の製造方法に関
する。
する。
近年、比較的大きな電力を取り扱うことのでき
る半導体装置、たとえば、パワートランジスタと
呼ばれるような大型半導体装置も樹脂封止形構造
が用いられている。この場合、半導体装置の放熱
特性については十分に配慮する必要がある。
る半導体装置、たとえば、パワートランジスタと
呼ばれるような大型半導体装置も樹脂封止形構造
が用いられている。この場合、半導体装置の放熱
特性については十分に配慮する必要がある。
第１図および第２図は、上述の樹脂封止形パワ
ートランジスタの製造工程途上における状態を示
すものの一例であり、以下、本発明をこれらの図
示装置を参照して詳しくのべる。
ートランジスタの製造工程途上における状態を示
すものの一例であり、以下、本発明をこれらの図
示装置を参照して詳しくのべる。
このパワートランジスタの製造工程をのべる
と、先ず、所定のプレス加工法で仕上げられたリ
ードフレームと称す構体の枠体１と一体形成され
た半導体基板支持体の上に所定半導体基板を、通
常のダイボンド法で固定したのち、各電極結線を
行なつて、ついで、これを成型樹脂２で封止す
る。前記リードフレーム１はこれに多数の外部リ
ード３を連結してなり、そのうちの１つが半導体
基板支持体につながつている。そして、前記外部
リード３と半導体基板上の各電極とは、たとえ
ば、アルミニウム細線で結線される。また、前記
成型樹脂２の外枠他端に突出し、もう１つの枠体
４に連結された細条５は半導体基板支持体とつな
がつており、前記成型樹脂２の形成時に半導体基
板支持体の浮動を阻止する、いわゆる位置規正に
用いるものである。すなわち、この半導体基板支
持体の位置規正用細条５は、樹脂成形時の金型と
同半導体基板支持体との間の位置を規正し、同半
導体基板支持体の裏面に薄く均一な樹脂層を形成
し、同樹脂層が十分な電気的絶縁とともに、放熱
効果の支障とならないようにするためのものであ
る。
と、先ず、所定のプレス加工法で仕上げられたリ
ードフレームと称す構体の枠体１と一体形成され
た半導体基板支持体の上に所定半導体基板を、通
常のダイボンド法で固定したのち、各電極結線を
行なつて、ついで、これを成型樹脂２で封止す
る。前記リードフレーム１はこれに多数の外部リ
ード３を連結してなり、そのうちの１つが半導体
基板支持体につながつている。そして、前記外部
リード３と半導体基板上の各電極とは、たとえ
ば、アルミニウム細線で結線される。また、前記
成型樹脂２の外枠他端に突出し、もう１つの枠体
４に連結された細条５は半導体基板支持体とつな
がつており、前記成型樹脂２の形成時に半導体基
板支持体の浮動を阻止する、いわゆる位置規正に
用いるものである。すなわち、この半導体基板支
持体の位置規正用細条５は、樹脂成形時の金型と
同半導体基板支持体との間の位置を規正し、同半
導体基板支持体の裏面に薄く均一な樹脂層を形成
し、同樹脂層が十分な電気的絶縁とともに、放熱
効果の支障とならないようにするためのものであ
る。
樹脂成形工程が完了すると、第１図中のＸ−Ｘ
およびＹ−Ｙの線に沿つて切断し、前記外部リー
ド３とその枠体１および前記細条５とその枠体４
をそれぞれ切り放して、第２図の半導体装置単体
を得る。ところが、単に枠体１および枠体４から
切り放しただけの上記半導体装置は、前記細条５
の切断端面が前記成型樹脂２の外面から突出した
ままの状態であり、これを電子機器の所定位置に
取り付けた際、前記細条５の切断端面での接触事
故ないしは絶縁不良の発生の危惧がある。なお、
外形構造中に設けられた貫通孔６は、この半導体
装置を電子機器に組み込む際に用いる取付け孔で
ある。
およびＹ−Ｙの線に沿つて切断し、前記外部リー
ド３とその枠体１および前記細条５とその枠体４
をそれぞれ切り放して、第２図の半導体装置単体
を得る。ところが、単に枠体１および枠体４から
切り放しただけの上記半導体装置は、前記細条５
の切断端面が前記成型樹脂２の外面から突出した
ままの状態であり、これを電子機器の所定位置に
取り付けた際、前記細条５の切断端面での接触事
故ないしは絶縁不良の発生の危惧がある。なお、
外形構造中に設けられた貫通孔６は、この半導体
装置を電子機器に組み込む際に用いる取付け孔で
ある。
本発明は、前記細条５の切断端面の突出部を除
去する工程をそなえることにより、上述の問題点
をも排除し、安定な半導体装置を提供するもので
ある。
去する工程をそなえることにより、上述の問題点
をも排除し、安定な半導体装置を提供するもので
ある。
第３図は本発明の実施によつて実現した半導体
装置の一部切欠断面図であり、前記細条５の切断
端面の突出部を科学的に溶解解除して、同端面を
前記成型樹脂２の外面から窪む位置まで引つ込め
たものである。前記細条５の切断端面の突出部を
取り除く方法は、強酸（例えば、塩酸）で前記突
出部の金属面を食刻除去する工程による。また、
前記細条５は、銅材を主体としたものであるか
ら、この部分を機械的方法、たとえば、ドリルで
研削することによつても、その端面を前記成型樹
脂２の外面から窪む位置まで削り除くことが可能
である。なお、図中の７が放熱板を兼ねる半導体
基板支持体である。
装置の一部切欠断面図であり、前記細条５の切断
端面の突出部を科学的に溶解解除して、同端面を
前記成型樹脂２の外面から窪む位置まで引つ込め
たものである。前記細条５の切断端面の突出部を
取り除く方法は、強酸（例えば、塩酸）で前記突
出部の金属面を食刻除去する工程による。また、
前記細条５は、銅材を主体としたものであるか
ら、この部分を機械的方法、たとえば、ドリルで
研削することによつても、その端面を前記成型樹
脂２の外面から窪む位置まで削り除くことが可能
である。なお、図中の７が放熱板を兼ねる半導体
基板支持体である。
さらに、前記細条５の端面部は、上記の除去工
程で形成された窪み部分に絶縁性樹脂を詰め込む
ことにより、一段と安定化がはかられる。すなわ
ち、この端面が絶縁性樹脂で覆われていると、塵
埃の堆積、あるいは端面金属の腐食物生成による
絶縁性の劣化が少なく、経時安定性が良好であ
る。
程で形成された窪み部分に絶縁性樹脂を詰め込む
ことにより、一段と安定化がはかられる。すなわ
ち、この端面が絶縁性樹脂で覆われていると、塵
埃の堆積、あるいは端面金属の腐食物生成による
絶縁性の劣化が少なく、経時安定性が良好であ
る。
以上に実施例で詳しくのべたように、本発明
は、放熱板を兼ねる半導体基板支持体の一方の側
から導出される外部リードをつなぐ枠体と、前記
半導体基板支持体の他方の側から導出される細条
をつなぐ枠体とを有するリードフレームを用い
て、所定半導体基板を前記半導体基板支持体の表
面に載置したのち、同支持体を前記外部リードと
前記細条とによつて金型に固定して、前記半導体
基板支持体の裏面に薄い樹脂層が形成されるよう
に樹脂封止成型したのち、前記外部リードおよび
前記細条をそれぞれの枠体から切り離す工程、前
記細条の切断端面を樹脂封止成型部の外部から窪
む位置まで引つ込める端面処理工程および前記端
面処理により形成された窪み部分を絶縁性樹脂で
埋める工程をそなえた樹脂封止形半導体装置の製
造方法である。本発明によれば、放熱特性ならび
に電子機器類に装着して使用する際の絶縁性を十
分に保障し得る樹脂封止形構造の大型半導体装置
を実現することができ、同半導体装置の信頼性を
向上させることができる。
は、放熱板を兼ねる半導体基板支持体の一方の側
から導出される外部リードをつなぐ枠体と、前記
半導体基板支持体の他方の側から導出される細条
をつなぐ枠体とを有するリードフレームを用い
て、所定半導体基板を前記半導体基板支持体の表
面に載置したのち、同支持体を前記外部リードと
前記細条とによつて金型に固定して、前記半導体
基板支持体の裏面に薄い樹脂層が形成されるよう
に樹脂封止成型したのち、前記外部リードおよび
前記細条をそれぞれの枠体から切り離す工程、前
記細条の切断端面を樹脂封止成型部の外部から窪
む位置まで引つ込める端面処理工程および前記端
面処理により形成された窪み部分を絶縁性樹脂で
埋める工程をそなえた樹脂封止形半導体装置の製
造方法である。本発明によれば、放熱特性ならび
に電子機器類に装着して使用する際の絶縁性を十
分に保障し得る樹脂封止形構造の大型半導体装置
を実現することができ、同半導体装置の信頼性を
向上させることができる。
第１図および第２図は本発明の実施過程におけ
る状態を示す斜視図、第３図は本発明の実施例に
より得られた半導体装置の一部切欠断面図であ
る。 １……リードフレームの枠体、２……成型樹
脂、３……外部リード、４……枠体、５……細
条、６……貫通孔、７……半導体基板支持体。
る状態を示す斜視図、第３図は本発明の実施例に
より得られた半導体装置の一部切欠断面図であ
る。 １……リードフレームの枠体、２……成型樹
脂、３……外部リード、４……枠体、５……細
条、６……貫通孔、７……半導体基板支持体。
Claims (1)
- １ 放熱板を兼ねる半導体基板支持体の一方の側
から導出される外部リードをつなぐ枠体と、前記
半導体基板支持体の他方の側から導出される細条
をつなぐ枠体とを有するリードフレームを用い
て、所定半導体基板を前記半導体基板支持体の表
面に載置したのち、同支持体を前記外部リードと
前記細条とによつて金型に固定して、前記半導体
基板支持体の裏面に薄い樹脂層が形成されるよう
に樹脂封止成型したのち、前記外部リードおよび
前記細条をそれぞれの枠体から切り離す工程、前
記細条の切断端面を樹脂封止成型部の外部から窪
む位置まで引つ込める端面処理工程および前記端
面処理により形成された窪み部分を絶縁性樹脂で
埋める工程をそなえた樹脂封止形半導体装置の製
造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57026285A JPS58143538A (ja) | 1982-02-19 | 1982-02-19 | 樹脂封止形半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57026285A JPS58143538A (ja) | 1982-02-19 | 1982-02-19 | 樹脂封止形半導体装置の製造方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11722691A Division JPH0618241B2 (ja) | 1991-05-22 | 1991-05-22 | 樹脂封止形半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58143538A JPS58143538A (ja) | 1983-08-26 |
| JPH0424856B2 true JPH0424856B2 (ja) | 1992-04-28 |
Family
ID=12189016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57026285A Granted JPS58143538A (ja) | 1982-02-19 | 1982-02-19 | 樹脂封止形半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58143538A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57147260A (en) * | 1981-03-05 | 1982-09-11 | Matsushita Electronics Corp | Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor |
| JPS60128646A (ja) * | 1983-12-16 | 1985-07-09 | Hitachi Ltd | 絶縁型パワートランジスタの製造方法 |
| JPS60128645A (ja) * | 1983-12-16 | 1985-07-09 | Hitachi Ltd | 絶縁型パワートランジスタの製造方法 |
| JPS60172346U (ja) * | 1984-04-23 | 1985-11-15 | 新電元工業株式会社 | 樹脂密封型半導体装置 |
| JPS60247952A (ja) * | 1984-05-23 | 1985-12-07 | Nec Corp | 樹脂絶縁形半導体装置 |
| JPS62180957U (ja) * | 1986-05-06 | 1987-11-17 |
-
1982
- 1982-02-19 JP JP57026285A patent/JPS58143538A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58143538A (ja) | 1983-08-26 |
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