JPH04268653A - 入出力制御装置の試験方式 - Google Patents
入出力制御装置の試験方式Info
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- JPH04268653A JPH04268653A JP3029758A JP2975891A JPH04268653A JP H04268653 A JPH04268653 A JP H04268653A JP 3029758 A JP3029758 A JP 3029758A JP 2975891 A JP2975891 A JP 2975891A JP H04268653 A JPH04268653 A JP H04268653A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 26
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 22
- 238000001994 activation Methods 0.000 description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はチャネルプログラム列を
用いて入出力動作を行うことにより入出力制御装置（Ｉ
ＯＰ）を試験する方式に関し、特に入出力制御装置に対
し単位時間当たりの負荷数を自動的に変化させる入出力
制御装置の試験方式に関する。
用いて入出力動作を行うことにより入出力制御装置（Ｉ
ＯＰ）を試験する方式に関し、特に入出力制御装置に対
し単位時間当たりの負荷数を自動的に変化させる入出力
制御装置の試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来入出力制御装置の試験方式は、入出
力制御装置に対して単位時間内にできるだけ多くの入出
力動作を指示することにより、チャネルプログラムの実
行頻度を上げて入出力制御装置に対する高負荷試験を実
現している。
力制御装置に対して単位時間内にできるだけ多くの入出
力動作を指示することにより、チャネルプログラムの実
行頻度を上げて入出力制御装置に対する高負荷試験を実
現している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の入出力
制御装置の試験方式は高負荷を実現する事にだけ重点が
おかれており、実際に入出力制御装置をオペレーティン
グシステムの中で使用する際の時間的に負荷が変化する
状況とは大きくかけはなれているという問題点がある。
制御装置の試験方式は高負荷を実現する事にだけ重点が
おかれており、実際に入出力制御装置をオペレーティン
グシステムの中で使用する際の時間的に負荷が変化する
状況とは大きくかけはなれているという問題点がある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の入出力装置の試
験方式は、予め作成してあるチャネルプログラム列を用
いて、タスク制御によって同時に複数の入出力制御装置
に対して入出力動作を指示し、前記入出力制御装置から
の応答の正常性を確認することにより前記入出力制御装
置の正常性を連続して試験する方式であって、オペレー
タが前記入出力制御装置の指定と負荷増減の情報を入力
し前記情報を登録しておく登録手段と、前記情報におい
て指定された被試験入出力制御装置に対して連続的に入
出力動作指示を行う起動タスクの単位時間当たりの数を
前記情報をもとに決定するタスク数決定手段とを具備す
ることにより、現在実際に前記被試験入出力制御装置に
対して入出力動作指示を連続的に行っている前記起動タ
スクの数と前記タスク数決定手段で決定した前記起動タ
スク数との差分を求め前記起動タスクの数を増やしたり
減らしたりして前記起動タスク数を前記タスク数決定手
段で決定した前記起動タスク数になるように調整する処
理を予め定められている時間に１度実施することにより
前記被試験入出力制御装置に対する負荷を自動的に増減
する事を特徴とする。
験方式は、予め作成してあるチャネルプログラム列を用
いて、タスク制御によって同時に複数の入出力制御装置
に対して入出力動作を指示し、前記入出力制御装置から
の応答の正常性を確認することにより前記入出力制御装
置の正常性を連続して試験する方式であって、オペレー
タが前記入出力制御装置の指定と負荷増減の情報を入力
し前記情報を登録しておく登録手段と、前記情報におい
て指定された被試験入出力制御装置に対して連続的に入
出力動作指示を行う起動タスクの単位時間当たりの数を
前記情報をもとに決定するタスク数決定手段とを具備す
ることにより、現在実際に前記被試験入出力制御装置に
対して入出力動作指示を連続的に行っている前記起動タ
スクの数と前記タスク数決定手段で決定した前記起動タ
スク数との差分を求め前記起動タスクの数を増やしたり
減らしたりして前記起動タスク数を前記タスク数決定手
段で決定した前記起動タスク数になるように調整する処
理を予め定められている時間に１度実施することにより
前記被試験入出力制御装置に対する負荷を自動的に増減
する事を特徴とする。
【０００５】
【実施例】本発明について、図面を参照して詳細に説明
する。
する。
【０００６】図１は本発明の一実施例の構成図である。
この図に示す入出力制御装置の試験方式は、入力手段１
と登録手段２とタスク制御部６と各種の状態をもちなが
ら入出力制御装置に入出力指示を行う入出力制御装置起
動タスクとからなる。入出力制御装置起動タスクにはラ
ン（ＲＵＮ）状態入出力制御装置起動タスク７とレディ
（ＲＥＡＤＹ）状態入出力制御装置起動タスク８とウェ
イト（ＷＡＩＴ）状態入出力制御装置起動タスク９とデ
ッド（ＤＥＡＤ）状態入出力制御装置起動タスク１０と
いう４つの状態が存在する。さらにタスク制御部６は、
時刻起動手段３とタスク数決定手段４とタスク数増減手
段５とからなる。
と登録手段２とタスク制御部６と各種の状態をもちなが
ら入出力制御装置に入出力指示を行う入出力制御装置起
動タスクとからなる。入出力制御装置起動タスクにはラ
ン（ＲＵＮ）状態入出力制御装置起動タスク７とレディ
（ＲＥＡＤＹ）状態入出力制御装置起動タスク８とウェ
イト（ＷＡＩＴ）状態入出力制御装置起動タスク９とデ
ッド（ＤＥＡＤ）状態入出力制御装置起動タスク１０と
いう４つの状態が存在する。さらにタスク制御部６は、
時刻起動手段３とタスク数決定手段４とタスク数増減手
段５とからなる。
【０００７】図２は、利用者が入力手段１を用いて入力
する情報を登録しておく登録手段２の処理フローである
。登録手段２は、入出力制御装置指定入力処理部２１、
入出力制御装置指定記憶処理部２２、指定装置タスク総
数計算処理部２３、指定装置タスク総数記憶処理部２４
、増減情報入力処理部２５、および増減情報記憶処理部
２６から構成されている。
する情報を登録しておく登録手段２の処理フローである
。登録手段２は、入出力制御装置指定入力処理部２１、
入出力制御装置指定記憶処理部２２、指定装置タスク総
数計算処理部２３、指定装置タスク総数記憶処理部２４
、増減情報入力処理部２５、および増減情報記憶処理部
２６から構成されている。
【０００８】図３は、予め定められている単位時間に１
度だけタスク数決定手段を起動する時刻起動手段３の処
理フローである。時刻起動手段３は、時間計測処理部３
１、単位時間経過判定処理部３２、経過時間合計記憶処
理部３３、およびタスク数決定手段起動処理部３４から
構成されている。
度だけタスク数決定手段を起動する時刻起動手段３の処
理フローである。時刻起動手段３は、時間計測処理部３
１、単位時間経過判定処理部３２、経過時間合計記憶処
理部３３、およびタスク数決定手段起動処理部３４から
構成されている。
【０００９】図４は、登録手段２に登録されている情報
をもとに単位時間当たりの入出力制御装置起動タスクの
うち起動可能な数を決定するタスク数決定手段４の処理
フローである。タスク数決定手段４は、増減情報入力処
理部４１、指定装置タスク総数入力処理部４２、経過時
間合計入力処理部４３、タスク数計算処理部４４、決定
タスク数記憶処理部４５、およびタスク数増減手段起動
処理部４６から構成されている。
をもとに単位時間当たりの入出力制御装置起動タスクの
うち起動可能な数を決定するタスク数決定手段４の処理
フローである。タスク数決定手段４は、増減情報入力処
理部４１、指定装置タスク総数入力処理部４２、経過時
間合計入力処理部４３、タスク数計算処理部４４、決定
タスク数記憶処理部４５、およびタスク数増減手段起動
処理部４６から構成されている。
【００１０】図５は、起動可能な入出力制御装置起動タ
スクの数をタスク数決定手段４で決定した入出力制御装
置起動タスクの数になるように調整するタスク数増減手
段５の処理フローである。タスク数増減手段５は、決定
タスク数入力処理部５１、タスク数判定処理部５２、差
分数タスク起動処理部５３、および差分数タスク終了処
理部５４から構成されている。
スクの数をタスク数決定手段４で決定した入出力制御装
置起動タスクの数になるように調整するタスク数増減手
段５の処理フローである。タスク数増減手段５は、決定
タスク数入力処理部５１、タスク数判定処理部５２、差
分数タスク起動処理部５３、および差分数タスク終了処
理部５４から構成されている。
【００１１】次に、本発明の動作について、図面を参照
して説明する。
して説明する。
【００１２】まず利用者は、入力手段１から負荷の増減
を実施する被試験入出力制御装置の指定と、増減を実施
する際の増減周期、増減の変化パターン等を示す増減情
報の入力を行い登録手段２を動作させる。登録手段２で
は、まずステップ２１において入力手段１によって入出
力制御装置指定情報を入力し、ステップ２２において入
出力制御装置指定情報を登録する。次にステップ２３に
おいて登録された入出力制御装置指定情報内に指定され
ている被試験入出力制御装置に対して起動を行う入出力
制御装置起動タスクの総数を計算する。そしてステップ
２４において計算したタスク総数を登録する。ステップ
２５において入力手段１によって増減情報を入力し、最
後にステップ２６において増減情報を登録する。
を実施する被試験入出力制御装置の指定と、増減を実施
する際の増減周期、増減の変化パターン等を示す増減情
報の入力を行い登録手段２を動作させる。登録手段２で
は、まずステップ２１において入力手段１によって入出
力制御装置指定情報を入力し、ステップ２２において入
出力制御装置指定情報を登録する。次にステップ２３に
おいて登録された入出力制御装置指定情報内に指定され
ている被試験入出力制御装置に対して起動を行う入出力
制御装置起動タスクの総数を計算する。そしてステップ
２４において計算したタスク総数を登録する。ステップ
２５において入力手段１によって増減情報を入力し、最
後にステップ２６において増減情報を登録する。
【００１３】次に利用者は、試験環境を設定するための
初期設定完了後に入力手段１からタスク制御部６を動作
させ、入出力制御装置試験を開始する。タスク制御部６
は、複数の入出力制御装置起動タスクを時間的に同時動
作させるため、ディスパッチング処理を行う。ラン状態
入出力制御装置起動タスク７は現在、実行されているた
だ１つのタスクであり、レディ状態入出力制御装置起動
タスク８はタスク実行を進めるに必要な諸条件が整って
いる実行可能なタスクであり、ウェイト状態入出力制御
装置起動タスク９はタスクの実行を進めていくための条
件が満足されておらず、実行を進める事ができなくて、
その条件が満たされるのを待っているタスクであり、デ
ッド状態入出力制御装置起動タスク１０はタスクが実行
終了したかあるいは起動要求の発生していないタスクで
ある。ラン状態入出力制御装置起動タスク７は入出力制
御装置に対して起動要求を行い起動が成功した時点でウ
ェイト状態に変化し、ウェイト状態入出力制御装置起動
タスク９は、入出力制御装置起動による入出力動作が終
了した時点でレディ状態に変化する。レディ状態入出力
制御装置起動タスク８は、順に次々とラン状態に変化し
ていく。このラン状態からウェイト状態、ウェイト状態
からレディ状態、レディ状態からラン状態への状態変化
の制御はタスク制御部６が行う。なお、デッド状態入出
力制御装置起動タスクは通常は状態変化は起こらない。
初期設定完了後に入力手段１からタスク制御部６を動作
させ、入出力制御装置試験を開始する。タスク制御部６
は、複数の入出力制御装置起動タスクを時間的に同時動
作させるため、ディスパッチング処理を行う。ラン状態
入出力制御装置起動タスク７は現在、実行されているた
だ１つのタスクであり、レディ状態入出力制御装置起動
タスク８はタスク実行を進めるに必要な諸条件が整って
いる実行可能なタスクであり、ウェイト状態入出力制御
装置起動タスク９はタスクの実行を進めていくための条
件が満足されておらず、実行を進める事ができなくて、
その条件が満たされるのを待っているタスクであり、デ
ッド状態入出力制御装置起動タスク１０はタスクが実行
終了したかあるいは起動要求の発生していないタスクで
ある。ラン状態入出力制御装置起動タスク７は入出力制
御装置に対して起動要求を行い起動が成功した時点でウ
ェイト状態に変化し、ウェイト状態入出力制御装置起動
タスク９は、入出力制御装置起動による入出力動作が終
了した時点でレディ状態に変化する。レディ状態入出力
制御装置起動タスク８は、順に次々とラン状態に変化し
ていく。このラン状態からウェイト状態、ウェイト状態
からレディ状態、レディ状態からラン状態への状態変化
の制御はタスク制御部６が行う。なお、デッド状態入出
力制御装置起動タスクは通常は状態変化は起こらない。
【００１４】一方、タスク制御部が起動するとタスク制
御部内にある時刻起動手段３も動作する。時刻起動手段
３では、まずステップ３１において経過時間を計測し、
ステップ３２において予め定められている単位時間を経
過したかどうかを判定する。ステップ３２において単位
時間を経過していないと判定されると、再びステップ３
１において時間計測を行い、単位時間を経過したと判定
されるまでこれを繰り返す。ステップ３２において単位
時間を経過したと判断されるとステップ３３において試
験が開始してからの経過時間の合計を記憶し、ステップ
３４においてタスク数決定手段４を起動する。これによ
り、単位時間に１回タスク数決定手段４が起動されるこ
とになる。
御部内にある時刻起動手段３も動作する。時刻起動手段
３では、まずステップ３１において経過時間を計測し、
ステップ３２において予め定められている単位時間を経
過したかどうかを判定する。ステップ３２において単位
時間を経過していないと判定されると、再びステップ３
１において時間計測を行い、単位時間を経過したと判定
されるまでこれを繰り返す。ステップ３２において単位
時間を経過したと判断されるとステップ３３において試
験が開始してからの経過時間の合計を記憶し、ステップ
３４においてタスク数決定手段４を起動する。これによ
り、単位時間に１回タスク数決定手段４が起動されるこ
とになる。
【００１５】タスク数決定手段４では、まずステップ４
１において登録手段２で登録された増減情報を入力し、
ステップ４２において登録手段２で登録された指定装置
タスク総数の情報を入力し、ステップ４３において時刻
起動手段３が登録した試験が開始してからの経過時間の
合計を入力する。以上の３つの情報をもとに、ステップ
４４において予め定められている計算法で、次の単位時
間内の被試験入出力制御装置に対する起動可能な起動タ
スク数を計算し（例えば増減情報がタスク数最小値ａ個
、周期ｔ分の余弦波形であり、タスク総数がｂ個だとす
ると試験時間ｘ分におけるタスク数Ｔは、Ｔ＝（ｂ＋ｂ
＊ＣＯＳ（Ｘ／Ｔ））／２となる。）、決定した起動可
能な起動タスク数をステップ４５において登録する。 最後にステップ４６においてタスク数増減手段５を起動
する。
１において登録手段２で登録された増減情報を入力し、
ステップ４２において登録手段２で登録された指定装置
タスク総数の情報を入力し、ステップ４３において時刻
起動手段３が登録した試験が開始してからの経過時間の
合計を入力する。以上の３つの情報をもとに、ステップ
４４において予め定められている計算法で、次の単位時
間内の被試験入出力制御装置に対する起動可能な起動タ
スク数を計算し（例えば増減情報がタスク数最小値ａ個
、周期ｔ分の余弦波形であり、タスク総数がｂ個だとす
ると試験時間ｘ分におけるタスク数Ｔは、Ｔ＝（ｂ＋ｂ
＊ＣＯＳ（Ｘ／Ｔ））／２となる。）、決定した起動可
能な起動タスク数をステップ４５において登録する。 最後にステップ４６においてタスク数増減手段５を起動
する。
【００１６】タスク数増減手段５では、まずステップ５
１においてタスク数決定手段４が登録した決定タスク数
を入力する。この決定タスク数と被試験入出力制御装置
に対して現在起動可能な入出力制御装置起動タスク数を
ステップ５２において比較する。起動可能な起動タスク
の数とは、ラン状態入出力制御装置起動タスク７、レデ
ィ状態入出力制御装置起動タスク８、ウェイト状態入出
力制御装置起動タスク９の総数であり、状態変化が起こ
らずスケジュールされないデッド状態入出力制御装置起
動タスク１０は含まれない。ステップ５２において決定
タスク数の方が現在起動可能な起動タスク数より大きく
ないと判定された場合、ステップ５４において少ない差
分の数のレディ状態入出力制御装置起動タスク８、ある
いはウェイト状態入出力制御装置起動タスク９がデッド
状態入出力制御装置起動タスク１０に変化させる。逆に
ステップ５２において決定タスク数の方が現在起動可能
な起動タスク数より多いと判定された場合、ステップ５
３において、以前にステップ６４においてデッド状態に
したタスクを入出力制御装置起動による入出力動作が終
了していればレディ状態入出力制御装置起動タスク８に
、入出力動作が終了していなければウェイト状態入出力
制御装置起動タスク９に変化させる。
１においてタスク数決定手段４が登録した決定タスク数
を入力する。この決定タスク数と被試験入出力制御装置
に対して現在起動可能な入出力制御装置起動タスク数を
ステップ５２において比較する。起動可能な起動タスク
の数とは、ラン状態入出力制御装置起動タスク７、レデ
ィ状態入出力制御装置起動タスク８、ウェイト状態入出
力制御装置起動タスク９の総数であり、状態変化が起こ
らずスケジュールされないデッド状態入出力制御装置起
動タスク１０は含まれない。ステップ５２において決定
タスク数の方が現在起動可能な起動タスク数より大きく
ないと判定された場合、ステップ５４において少ない差
分の数のレディ状態入出力制御装置起動タスク８、ある
いはウェイト状態入出力制御装置起動タスク９がデッド
状態入出力制御装置起動タスク１０に変化させる。逆に
ステップ５２において決定タスク数の方が現在起動可能
な起動タスク数より多いと判定された場合、ステップ５
３において、以前にステップ６４においてデッド状態に
したタスクを入出力制御装置起動による入出力動作が終
了していればレディ状態入出力制御装置起動タスク８に
、入出力動作が終了していなければウェイト状態入出力
制御装置起動タスク９に変化させる。
【００１７】以後、時刻起動手段３によって単位時間に
１度タスク数決定手段４が起動され、タスク数決定手段
４によってタスク数増減手段５が起動される。これによ
り単位時間に１度被試験入出力制御装置に対する起動可
能な入出力制御装置起動タスクの数が変化し、単位時間
当たりに行われる入出力動作指示数も変化する。入出力
動作指示数が変化することにより被試験入出力制御装置
に対する負荷が次々と変化することになる。以上により
入出力制御装置に対する負荷増減試験を実現している。
１度タスク数決定手段４が起動され、タスク数決定手段
４によってタスク数増減手段５が起動される。これによ
り単位時間に１度被試験入出力制御装置に対する起動可
能な入出力制御装置起動タスクの数が変化し、単位時間
当たりに行われる入出力動作指示数も変化する。入出力
動作指示数が変化することにより被試験入出力制御装置
に対する負荷が次々と変化することになる。以上により
入出力制御装置に対する負荷増減試験を実現している。
【００１８】
【発明の効果】本発明は、指定した入出力制御装置に対
する単位時間当たりの起動数を与えられた増減情報に基
づいて自動的に変化させることによって、以下に示す効
果がある。
する単位時間当たりの起動数を与えられた増減情報に基
づいて自動的に変化させることによって、以下に示す効
果がある。
【００１９】（１） 実際に入出力制御装置をオペレー
ティングシステムの中で使用する際の負荷環境が設定可
能となる。
ティングシステムの中で使用する際の負荷環境が設定可
能となる。
【００２０】（２） 負荷を変化させることにより、入
出力制御装置の動作タイミングを任意に変化させること
ができる。
出力制御装置の動作タイミングを任意に変化させること
ができる。
【００２１】（１），（２） の環境において入出力制
御装置を試験することができる。
御装置を試験することができる。
【図１】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図２】図１中の登録手段の構成図である。
【図３】図１中の時刻起動手段の構成図である。
【図４】図１のタスク数決定手段の構成図である。
【図５】図１中のタスク数増減手段の構成図である。
１ 入力手段
２ 登録手段
３ 時刻起動手段
４ タスク数決定手段
５ タスク数増減手段
６ タスク制御部
Claims (1)
- 【請求項１】 予め作成してあるチャネルプログラム
列を用いて、タスク制御によって同時に複数の入出力制
御装置に対して入出力動作を指示し、前記入出力制御装
置からの応答の正常性を確認することにより前記入出力
制御装置の正常性を連続して試験する方式であって、オ
ペレータが前記入出力制御装置の指定と負荷増減の情報
を入力し前記情報を登録しておく登録手段と、前記情報
において指定された被試験入出力制御装置に対して連続
的に入出力動作指示を行う起動タスクの単位時間当たり
の数を前記情報をもとに決定するタスク数決定手段とを
具備することにより、現在実際に前記被試験入出力制御
装置に対して入出力動作指示を連続的に行っている前記
起動タスクの数と前記タスク数決定手段で決定した前記
起動タスク数との差分を求め前記起動タスクの数を増や
したり減らしたりして前記起動タスク数を前記タスク数
決定手段で決定した前記起動タスク数になるように調整
する処理を予め定められている時間に１度実施すること
により前記被試験入出力制御装置に対する負荷を自動的
に増減する事を特徴とする入出力装置の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3029758A JPH04268653A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | 入出力制御装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3029758A JPH04268653A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | 入出力制御装置の試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04268653A true JPH04268653A (ja) | 1992-09-24 |
Family
ID=12284980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3029758A Pending JPH04268653A (ja) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | 入出力制御装置の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04268653A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0713808A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-17 | Nec Corp | オンラインシステムの性能評価方法 |
| JP2010122998A (ja) * | 2008-11-20 | 2010-06-03 | Nec Computertechno Ltd | コンピュータシステム検査装置及びそれを備えたコンピュータシステム並びにコンピュータシステム検査方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61217737A (ja) * | 1985-03-23 | 1986-09-27 | Ngk Insulators Ltd | タ−ボチャ−ジャ−ロ−タの回転試験方法並びにそのための装置 |
| JPS63192915A (ja) * | 1987-02-05 | 1988-08-10 | Nissan Motor Co Ltd | タ−ボチヤ−ジヤの検査装置および検査方法 |
| JPH02251735A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-09 | Ngk Insulators Ltd | ターボチャージャのスピンプルーフ試験機およびそれを使用した試験方法 |
-
1991
- 1991-02-25 JP JP3029758A patent/JPH04268653A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
| JPS61217737A (ja) * | 1985-03-23 | 1986-09-27 | Ngk Insulators Ltd | タ−ボチャ−ジャ−ロ−タの回転試験方法並びにそのための装置 |
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