JPH04291776A - 半導体レーザ駆動回路 - Google Patents
半導体レーザ駆動回路Info
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- JPH04291776A JPH04291776A JP3056502A JP5650291A JPH04291776A JP H04291776 A JPH04291776 A JP H04291776A JP 3056502 A JP3056502 A JP 3056502A JP 5650291 A JP5650291 A JP 5650291A JP H04291776 A JPH04291776 A JP H04291776A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザを用いて
レーザ光の強度変調をし、光学的記録媒体に情報を記録
再生する装置等の半導体レーザ駆動回路に係わり、記録
再生装置の誤記録防止および半導体レーザの破壊防止に
関するものである。
レーザ光の強度変調をし、光学的記録媒体に情報を記録
再生する装置等の半導体レーザ駆動回路に係わり、記録
再生装置の誤記録防止および半導体レーザの破壊防止に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、半導体レーザを用いてレーザ
光の強度変調を行い、光学的記録媒体に情報を記録再生
する装置において、記録方法は、記録情報に対応して半
導体レーザ出力をパルス的に変化させ微小に絞り込み光
学的記録媒体に当て、記録膜の光学的性質を変化させる
ことで行われる。再生方法は、上記光学的性質の変化が
起きない程度の微小に絞り込んだ半導体レーザの光出力
を光学的記録媒体に当てることで行われる。すなわち、
記録・再生の違いは半導体レーザの光出力の大小による
違いである。
光の強度変調を行い、光学的記録媒体に情報を記録再生
する装置において、記録方法は、記録情報に対応して半
導体レーザ出力をパルス的に変化させ微小に絞り込み光
学的記録媒体に当て、記録膜の光学的性質を変化させる
ことで行われる。再生方法は、上記光学的性質の変化が
起きない程度の微小に絞り込んだ半導体レーザの光出力
を光学的記録媒体に当てることで行われる。すなわち、
記録・再生の違いは半導体レーザの光出力の大小による
違いである。
【０００３】そこで、温度依存性の大きな半導体レーザ
の光出力を一定の値に保ち、誤記録や半導体レーザの破
壊を防ぐために、光出力をモニターしその値が一定にな
るように動作電流を制御する必要がある。そのため、半
導体レーザはフォトダイオード等の光出力モニターを用
いてＡｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ（以下
ＡＰＣと略する）回路を構成している。
の光出力を一定の値に保ち、誤記録や半導体レーザの破
壊を防ぐために、光出力をモニターしその値が一定にな
るように動作電流を制御する必要がある。そのため、半
導体レーザはフォトダイオード等の光出力モニターを用
いてＡｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ（以下
ＡＰＣと略する）回路を構成している。
【０００４】図６はＡＰＣ回路の基本構成図である。１
は光出力モニターの電流信号を電圧信号に変換する電流
・電圧変換器、２は電流・電圧変換器の信号をあらかじ
め定めた値と比較する比較器Ａ、３はローパスフィルタ
ー、４は電流源、５はローパスフィルターの電圧信号を
電流信号に変換し半導体レーザ駆動電流２１を出力する
レーザ出力回路、６は半導体レーザ、７は半導体レーザ
の光出力をモニターする光出力モニターである。
は光出力モニターの電流信号を電圧信号に変換する電流
・電圧変換器、２は電流・電圧変換器の信号をあらかじ
め定めた値と比較する比較器Ａ、３はローパスフィルタ
ー、４は電流源、５はローパスフィルターの電圧信号を
電流信号に変換し半導体レーザ駆動電流２１を出力する
レーザ出力回路、６は半導体レーザ、７は半導体レーザ
の光出力をモニターする光出力モニターである。
【０００５】半導体レーザ６の光出力は光出力モニター
７によりモニターされ、光出力に応じたモニター電流２
２が得られる。このモニター電流２２を電流・電圧変換
器１により電圧に変換し、比較器Ａにより比較し、その
誤差信号をローパスフィルター３を通して半導体レーザ
出力回路５で電圧を電流に変換して出力し、誤差信号が
０となるように半導体レーザ６の動作電流を制御する。
７によりモニターされ、光出力に応じたモニター電流２
２が得られる。このモニター電流２２を電流・電圧変換
器１により電圧に変換し、比較器Ａにより比較し、その
誤差信号をローパスフィルター３を通して半導体レーザ
出力回路５で電圧を電流に変換して出力し、誤差信号が
０となるように半導体レーザ６の動作電流を制御する。
【０００６】このとき、ロジック回路や素子の故障・誤
動作が起きても、記録時・再生時において、そのそれぞ
れに対する半導体レーザのパワーが適正値からずれたこ
とを検出し、誤記録や半導体レーザが破壊されないよう
にする保護装置として、特開昭５８−１１８０４２に記
載されている装置が知られている。
動作が起きても、記録時・再生時において、そのそれぞ
れに対する半導体レーザのパワーが適正値からずれたこ
とを検出し、誤記録や半導体レーザが破壊されないよう
にする保護装置として、特開昭５８−１１８０４２に記
載されている装置が知られている。
【０００７】図４は、上記の従来例である。１３はレー
ザ出力回路のレーザ駆動電流２１を検出する電流検出回
路、８は電流検出回路の信号を平均化する平均化回路、
９は平均化回路の信号を、記録時・再生時それぞれ、あ
らかじめ定めた設定値と比較する比較器Ｂ、２０は記録
を行っている場合、該設定値を変える記録時信号発生器
、１２は比較器Ｂの信号により異常電流が流れた場合、
レーザ駆動電流２１をバイパスし半導体レーザに流され
ないようにする異常電流バイパス回路である。
ザ出力回路のレーザ駆動電流２１を検出する電流検出回
路、８は電流検出回路の信号を平均化する平均化回路、
９は平均化回路の信号を、記録時・再生時それぞれ、あ
らかじめ定めた設定値と比較する比較器Ｂ、２０は記録
を行っている場合、該設定値を変える記録時信号発生器
、１２は比較器Ｂの信号により異常電流が流れた場合、
レーザ駆動電流２１をバイパスし半導体レーザに流され
ないようにする異常電流バイパス回路である。
【０００８】この装置は、半導体レーザの光出力に対応
したモニター信号を平均化し、この平均値と記録モード
・再生モードそれぞれの設定値と比較し、設定値に対し
モニター信号の平均値が大きい場合、半導体レーザに電
流を流さないようバイパスするものである。
したモニター信号を平均化し、この平均値と記録モード
・再生モードそれぞれの設定値と比較し、設定値に対し
モニター信号の平均値が大きい場合、半導体レーザに電
流を流さないようバイパスするものである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、半
導体レーザの光出力モニター信号を平均化して用いてお
り、応答が遅かった。そのため、再生時にロジック回路
や素子の故障、誤動作など何らかの原因で瞬間的に記録
電流もしくは過大電流が流されたとき、保護装置が作動
する前に誤記録もしくは半導体レーザが破壊するという
問題があった。
導体レーザの光出力モニター信号を平均化して用いてお
り、応答が遅かった。そのため、再生時にロジック回路
や素子の故障、誤動作など何らかの原因で瞬間的に記録
電流もしくは過大電流が流されたとき、保護装置が作動
する前に誤記録もしくは半導体レーザが破壊するという
問題があった。
【００１０】本発明の目的は、再生時に何らかの原因で
瞬間的に記録電流もしくは過大電流が流されたときでも
、誤記録および半導体レーザを保護することにある。
瞬間的に記録電流もしくは過大電流が流されたときでも
、誤記録および半導体レーザを保護することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】通常、再生時における半
導体レーザの駆動電流は、ＡＰＣ回路により半導体レー
ザの温度保障や経年変化、しきい値電流のばらつき等の
補正がされ、常に光出力が一定となるように流れる。従
って、再生時で正常動作をしているときは急激な変化は
無い。そこで上記の目的を実現するには、再生時におけ
る半導体レーザの駆動電流の単位時間の電流変化を検出
しその変化量が大きければ記録電流もしくは過大電流で
あることを判断し、その時が再生時の場合にのみ半導体
レーザに駆動電流が流れないようにする。
導体レーザの駆動電流は、ＡＰＣ回路により半導体レー
ザの温度保障や経年変化、しきい値電流のばらつき等の
補正がされ、常に光出力が一定となるように流れる。従
って、再生時で正常動作をしているときは急激な変化は
無い。そこで上記の目的を実現するには、再生時におけ
る半導体レーザの駆動電流の単位時間の電流変化を検出
しその変化量が大きければ記録電流もしくは過大電流で
あることを判断し、その時が再生時の場合にのみ半導体
レーザに駆動電流が流れないようにする。
【００１２】
【作用】上記の手段における、単位時間の電流変化を検
出する動作は、単位時間を極短くすることで短時間に電
流変化を検出できるため、誤記録もしくは半導体レーザ
が破壊する動作電流に至る前に保護装置を動作させ駆動
電流が流れないようにすることができる。
出する動作は、単位時間を極短くすることで短時間に電
流変化を検出できるため、誤記録もしくは半導体レーザ
が破壊する動作電流に至る前に保護装置を動作させ駆動
電流が流れないようにすることができる。
【００１３】
【実施例】図１は本発明のブロック図を示す。１３は半
導体レーザの駆動電流を検出する電流検出回路、１０は
電流検出回路の信号の変化量を検出する電流変化検出回
路、１１は電流変化検出回路の信号をあらかじめ定めた
値と比較する比較器Ｃ、２０は記録を行っている場合、
記録時であることを示す記録時信号発生器、１２は比較
器Ｂと比較器Ｃおよび記録時信号発生器の信号により、
記録・再生時においてゆっくりと変化するような異常電
流が流れた場合、および再生時において急激に変化する
ような異常電流が流れた場合、レーザ駆動電流をバイパ
スし半導体レーザに流さないようにする異常電流バイパ
ス回路である。
導体レーザの駆動電流を検出する電流検出回路、１０は
電流検出回路の信号の変化量を検出する電流変化検出回
路、１１は電流変化検出回路の信号をあらかじめ定めた
値と比較する比較器Ｃ、２０は記録を行っている場合、
記録時であることを示す記録時信号発生器、１２は比較
器Ｂと比較器Ｃおよび記録時信号発生器の信号により、
記録・再生時においてゆっくりと変化するような異常電
流が流れた場合、および再生時において急激に変化する
ような異常電流が流れた場合、レーザ駆動電流をバイパ
スし半導体レーザに流さないようにする異常電流バイパ
ス回路である。
【００１４】以下本発明の詳細な説明を行う。電流検出
回路１３は、半導体レーザの駆動電流を検出し、検出し
た信号を電流変化検出回路１０に送る。電流変化検出回
路１０は、あらかじめ定めた単位時間半導体レーザ駆動
電流の電流変化量を比較器Ｃ１１に送る。比較器Ｃは、
電流変化検出回路１０から送られてきた電流変化量を、
ノイズ等の誤動作を考慮したあらかじめ定めた設定値と
比較する。このことにより、異常電流バイパス回路１２
は、比較器Ｃから送られてくるレーザ・オフ信号と、図
４の従来技術で示した比較器Ｂのレーザ・オフ信号によ
り、再生時に記録してしまうような駆動電流や半導体レ
ーザを破壊してしまうような駆動電流２１をバイパスす
る。また記録時には比較器Ｃは必ずレーザ・オフ信号を
出力するので、記録時信号発生器２０の制御信号により
駆動電流のバイパスを禁止する。
回路１３は、半導体レーザの駆動電流を検出し、検出し
た信号を電流変化検出回路１０に送る。電流変化検出回
路１０は、あらかじめ定めた単位時間半導体レーザ駆動
電流の電流変化量を比較器Ｃ１１に送る。比較器Ｃは、
電流変化検出回路１０から送られてきた電流変化量を、
ノイズ等の誤動作を考慮したあらかじめ定めた設定値と
比較する。このことにより、異常電流バイパス回路１２
は、比較器Ｃから送られてくるレーザ・オフ信号と、図
４の従来技術で示した比較器Ｂのレーザ・オフ信号によ
り、再生時に記録してしまうような駆動電流や半導体レ
ーザを破壊してしまうような駆動電流２１をバイパスす
る。また記録時には比較器Ｃは必ずレーザ・オフ信号を
出力するので、記録時信号発生器２０の制御信号により
駆動電流のバイパスを禁止する。
【００１５】図２は本発明のブロック図を示す。図２は
、図１の電流検出回路１３をレーザ出力回路５と電流源
４のあいだに設けたもので、レーザ出力５に流れ込む電
流を検出しても、図１と同様な効果を得ることができる
。
、図１の電流検出回路１３をレーザ出力回路５と電流源
４のあいだに設けたもので、レーザ出力５に流れ込む電
流を検出しても、図１と同様な効果を得ることができる
。
【００１６】図３は本発明の誤記録および半導体レーザ
保護装置のブロック図を示す。図３は、図１の電流検出
回路１３を光出力モニター７と電流・電圧変換器１のあ
いだに設けたもので、光出力モニター電流２２を検出し
ても、図１と同様な効果を得ることができる。
保護装置のブロック図を示す。図３は、図１の電流検出
回路１３を光出力モニター７と電流・電圧変換器１のあ
いだに設けたもので、光出力モニター電流２２を検出し
ても、図１と同様な効果を得ることができる。
【００１７】図５は本発明の誤記録および半導体レーザ
保護装置のブロック図を示す。図５は、図１の電流検出
回路１３の検出信号の代りに電流・電圧変換器１の信号
を利用したもので、図１と同様な効果を得ることができ
る。
保護装置のブロック図を示す。図５は、図１の電流検出
回路１３の検出信号の代りに電流・電圧変換器１の信号
を利用したもので、図１と同様な効果を得ることができ
る。
【００１８】図７は本発明の電流変化検出回路１０、比
較器Ｃ１１および異常電流バイパス回路１２の一実施例
を示す。１４および１８は異常電流バイパス回路１２の
一実施例であり、１５は電流検出回路１３の一実施例で
あり、１６は電流変化検出回路１０の一実施例であり、
１７は比較器Ｃの一実施例である。
較器Ｃ１１および異常電流バイパス回路１２の一実施例
を示す。１４および１８は異常電流バイパス回路１２の
一実施例であり、１５は電流検出回路１３の一実施例で
あり、１６は電流変化検出回路１０の一実施例であり、
１７は比較器Ｃの一実施例である。
【００１９】半導体レーザ６の駆動電流２１は抵抗器１
５ａにより電圧に変換され、駆動電流を検出する。前記
検出信号を電流検出回路１６を構成するコンデンサ１６
ａと抵抗器１６ｂからなるハイパスフィルターに入力し
、急峻な駆動電流２２の変化の立ち上がりを検出する。 再生時はＡＰＣ回路の働きにより正常動作をしていると
きは急激な変化は無い。したがって再生時において、何
らかの原因で瞬間的に記録電流もしくは過大電流が流れ
たときのみ検出信号を出力する。また、変化の立ち上が
りの部分で動作することになるので記録電流もしくは過
大電流に達する前に検出することができる。前記ハイパ
スフィルターの検出信号を比較器１７ｂに入力し、あら
かじめ定めた基準電圧１７ａと比較する。このときノイ
ズ等で保護装置が誤作動するのを防ぐことを考慮して基
準電圧を定める。前記比較器１７ｂの誤差信号をＤ−Ｆ
Ｆ１８ｂのクロックに入力し、スイッチ１８ａが再生時
はハイ、記録時はロウとなるようにセットされることで
記録時に前記レーザ・オフ信号を出力しないようにする
。スイッチ１４にはＤ−ＦＦ１８ｂの出力と、図４の従
来技術で示した比較器Ｂの出力信号が入力される。本実
施例の場合、前記レーザ・オフ信号はハイで駆動電流２
１をバイパスする。このことにより、スイッチ１４は再
生時において、何らかの原因で瞬間的に記録電流・過大
電流が流れたとき動作することになり、誤記録もしくは
半導体レーザの破壊を防ぐことができる。また従来技術
と同様にゆっくりと変化する記録電流・過大電流が流れ
たときにも動作する。
５ａにより電圧に変換され、駆動電流を検出する。前記
検出信号を電流検出回路１６を構成するコンデンサ１６
ａと抵抗器１６ｂからなるハイパスフィルターに入力し
、急峻な駆動電流２２の変化の立ち上がりを検出する。 再生時はＡＰＣ回路の働きにより正常動作をしていると
きは急激な変化は無い。したがって再生時において、何
らかの原因で瞬間的に記録電流もしくは過大電流が流れ
たときのみ検出信号を出力する。また、変化の立ち上が
りの部分で動作することになるので記録電流もしくは過
大電流に達する前に検出することができる。前記ハイパ
スフィルターの検出信号を比較器１７ｂに入力し、あら
かじめ定めた基準電圧１７ａと比較する。このときノイ
ズ等で保護装置が誤作動するのを防ぐことを考慮して基
準電圧を定める。前記比較器１７ｂの誤差信号をＤ−Ｆ
Ｆ１８ｂのクロックに入力し、スイッチ１８ａが再生時
はハイ、記録時はロウとなるようにセットされることで
記録時に前記レーザ・オフ信号を出力しないようにする
。スイッチ１４にはＤ−ＦＦ１８ｂの出力と、図４の従
来技術で示した比較器Ｂの出力信号が入力される。本実
施例の場合、前記レーザ・オフ信号はハイで駆動電流２
１をバイパスする。このことにより、スイッチ１４は再
生時において、何らかの原因で瞬間的に記録電流・過大
電流が流れたとき動作することになり、誤記録もしくは
半導体レーザの破壊を防ぐことができる。また従来技術
と同様にゆっくりと変化する記録電流・過大電流が流れ
たときにも動作する。
【００２０】図８は本発明の電流変化検出回路１０、比
較器Ｃ１１および異常電流バイパス回路１２の一実施例
を示す。１９は電流変化検出回路１０と比較器Ｃの一実
施例であり、他は図７の実施例と同じ動作を行う。駆動
電流のＩ−Ｖ変換抵抗からなる電流検出回路１５より送
られる検出信号を遅延回路１９ａにより一定時間経過し
た検出信号と比較器１９ｂで比較する。このとき遅延回
路１９ａの遅延時間を短く設定することで、瞬間的に記
録電流もしくは過大電流が流れたときのみ検出信号を出
力することができる。また、経過時間が短いため記録電
流もしくは過大電流に達する前に検出することができる
。比較器１９ｂの誤差信号をＤ−ＦＦ１８ｂのクロック
に入力し、レーザ・オフ信号を得る。以下図７と同様に
動作する。
較器Ｃ１１および異常電流バイパス回路１２の一実施例
を示す。１９は電流変化検出回路１０と比較器Ｃの一実
施例であり、他は図７の実施例と同じ動作を行う。駆動
電流のＩ−Ｖ変換抵抗からなる電流検出回路１５より送
られる検出信号を遅延回路１９ａにより一定時間経過し
た検出信号と比較器１９ｂで比較する。このとき遅延回
路１９ａの遅延時間を短く設定することで、瞬間的に記
録電流もしくは過大電流が流れたときのみ検出信号を出
力することができる。また、経過時間が短いため記録電
流もしくは過大電流に達する前に検出することができる
。比較器１９ｂの誤差信号をＤ−ＦＦ１８ｂのクロック
に入力し、レーザ・オフ信号を得る。以下図７と同様に
動作する。
【００２１】図９は電流検出回路１３の一実施例であり
、電流検出回路として検出コイル２３を用いても同様な
動作が得られる。
、電流検出回路として検出コイル２３を用いても同様な
動作が得られる。
【００２２】尚、レーザ駆動電流２１を流さない様にす
る回路として、レーザ出力回路５と半導体レーザ６との
間にスイッチを挿入し、レーザ・オフ信号により該スイ
ッチをオープンにするなど、本発明の実施例に記載の方
法以外でもかまわない。
る回路として、レーザ出力回路５と半導体レーザ６との
間にスイッチを挿入し、レーザ・オフ信号により該スイ
ッチをオープンにするなど、本発明の実施例に記載の方
法以外でもかまわない。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、再生時において瞬間的
な過大電流が流れたとき流れ初めで過大電流を検出する
ことができるので、何らかの原因で瞬間的に過大電流が
流れたとき、誤記録もしくは半導体レーザの破壊を防ぐ
ことができる。
な過大電流が流れたとき流れ初めで過大電流を検出する
ことができるので、何らかの原因で瞬間的に過大電流が
流れたとき、誤記録もしくは半導体レーザの破壊を防ぐ
ことができる。
【図１】本発明による半導体レーザ駆動回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】本発明による半導体レーザ駆動回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図３】本発明による半導体レーザ駆動回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図４】従来例による半導体レーザ駆動回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図５】本発明による半導体レーザ駆動回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図６】従来例による半導体レーザ駆動回路の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図７】本発明による電流変化検出回路、比較器Ｃ、異
常電流バイパス回路の一実施例を示す図である。
常電流バイパス回路の一実施例を示す図である。
【図８】本発明による電流変化検出回路、比較器Ｃ、異
常電流バイパス回路の一実施例を示す図である。
常電流バイパス回路の一実施例を示す図である。
【図９】電流検出回路の一実施例を示す図である。
１…電流・電圧変換器、
２…比較器Ａ、
３…ローパスフィルタ、
４…電流源、
５…レーザ出力回路、
６…半導体レーザ、
７…光出力モニタ、
８…平均化回路、
９…比較器Ｂ、
１０…電流変化検出回路、
１１…比較器Ｃ、
１２…異常電流バイパス回路、
１３…電流検出回路、
２０…記録時信号発生器、
２１…レーザ駆動電流、
２２…モニタ電流、
Claims (2)
- 【請求項１】半導体レーザの駆動信号もしくは光電変換
器による半導体レーザ光量のモニタ信号の単位時間あた
りの変化量が定められた設定値と比較する比較回路と該
比較回路において該変化量が該設定値以上であれば半導
体レーザに駆動電流を流さないようにするスイッチ回路
を設けたことを特徴とする半導体レーザ駆動回路。 - 【請求項２】請求項１において、レーザ光量のモニタ信
号をフィードバック信号としてレーザ光量を略一定に制
御を行うことを特徴とする半導体レーザ駆動回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3056502A JPH04291776A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 半導体レーザ駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3056502A JPH04291776A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 半導体レーザ駆動回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04291776A true JPH04291776A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=13028890
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3056502A Pending JPH04291776A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 半導体レーザ駆動回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04291776A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005078787A (ja) * | 2003-09-04 | 2005-03-24 | Hitachi-Lg Data Storage Inc | 光ディスク装置及び光ディスク装置の制御方法 |
| CN102254564A (zh) * | 2010-04-16 | 2011-11-23 | 安森美半导体贸易公司 | 激光检测电路 |
| JP2012244122A (ja) * | 2011-05-24 | 2012-12-10 | Funai Electric Co Ltd | 半導体レーザ素子破壊防止回路、及びそれを備える光ディスク装置 |
| JP2017059556A (ja) * | 2015-09-14 | 2017-03-23 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | レーザ発振装置 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP3056502A patent/JPH04291776A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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