JPH04360593A - 半導体レーザ装置 - Google Patents
半導体レーザ装置Info
- Publication number
- JPH04360593A JPH04360593A JP16358491A JP16358491A JPH04360593A JP H04360593 A JPH04360593 A JP H04360593A JP 16358491 A JP16358491 A JP 16358491A JP 16358491 A JP16358491 A JP 16358491A JP H04360593 A JPH04360593 A JP H04360593A
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- JP
- Japan
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- light
- semiconductor laser
- package
- cap
- stem
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信用機器、光情報
処理装置あるいは光センサ等の光源として用いられる半
導体レーザ装置に関する。
処理装置あるいは光センサ等の光源として用いられる半
導体レーザ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は、この種従来の半導体レーザ装置
の破砕断面図である。同図において、1は半導体レーザ
素子、2は半導体レーザ素子が搭載されるサブマウント
、3はサブマウント2およびリード4を保持するステム
、5は光透過部分に透明板6を有し、半導体レーザ素子
を気密封止するキャップである。
の破砕断面図である。同図において、1は半導体レーザ
素子、2は半導体レーザ素子が搭載されるサブマウント
、3はサブマウント2およびリード4を保持するステム
、5は光透過部分に透明板6を有し、半導体レーザ素子
を気密封止するキャップである。
【0003】ここで、サブマウントはSi等によって形
成されており、ステムおよびキャップ5はコバーやニッ
ケル等の素材を用い、その表面に金メッキを施したもの
である。また、透明板6にはサファイヤのような安定し
た材料のものが用いられている。
成されており、ステムおよびキャップ5はコバーやニッ
ケル等の素材を用い、その表面に金メッキを施したもの
である。また、透明板6にはサファイヤのような安定し
た材料のものが用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の半導体
レーザ装置では、ステムおよびキャップの表面が金、ニ
ッケル等の材料で形成されているためパッケージ内面で
の反射率が極めて高い。半導体レーザ素子の共振器端面
から放出される前方出射光は透明板6に向かうが一部は
そこで反射される。また、後方出射光は直接あるいはサ
ブマウントの表面で反射された後,ステムの表面に到達
しここで反射される。また、レーザ素子の出射光の一部
は直接あるいは他の部分で反射された後、キャップの内
側表面に到達しここで反射される。これら反射光はレー
ザ素子の主出射光とともに透明板を透過して出力される
のであるが、従来例ではパッケージ内面が反射率の高い
材料で形成されているため、反射光成分のレベルが極め
て高いものとなる。そのため、従来のレーザ装置では雑
音レベルが高く正確な出力光を得ることが困難であった
。
レーザ装置では、ステムおよびキャップの表面が金、ニ
ッケル等の材料で形成されているためパッケージ内面で
の反射率が極めて高い。半導体レーザ素子の共振器端面
から放出される前方出射光は透明板6に向かうが一部は
そこで反射される。また、後方出射光は直接あるいはサ
ブマウントの表面で反射された後,ステムの表面に到達
しここで反射される。また、レーザ素子の出射光の一部
は直接あるいは他の部分で反射された後、キャップの内
側表面に到達しここで反射される。これら反射光はレー
ザ素子の主出射光とともに透明板を透過して出力される
のであるが、従来例ではパッケージ内面が反射率の高い
材料で形成されているため、反射光成分のレベルが極め
て高いものとなる。そのため、従来のレーザ装置では雑
音レベルが高く正確な出力光を得ることが困難であった
。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体レーザ装
置は、半導体レーザ素子の気密封止用ステムの内側の面
および/またはキャップの内側の面に前記レーザ素子の
光出力を吸収する被膜を形成したものである。
置は、半導体レーザ素子の気密封止用ステムの内側の面
および/またはキャップの内側の面に前記レーザ素子の
光出力を吸収する被膜を形成したものである。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の一実施例を示す破砕断面
図である。同図において、1は半導体レーザ素子、3は
サブマウント2およびリード4を支持するステム、5は
透明板6を有するキャップ、7はステム3及びキャップ
5の内面に形成された、カーボンを含有する黒色樹脂に
よる光吸収膜である。
て説明する。図1は、本発明の一実施例を示す破砕断面
図である。同図において、1は半導体レーザ素子、3は
サブマウント2およびリード4を支持するステム、5は
透明板6を有するキャップ、7はステム3及びキャップ
5の内面に形成された、カーボンを含有する黒色樹脂に
よる光吸収膜である。
【0007】図1の実施例において、半導体レーザ素子
1の後方から出射された光は直接あるいはサブマウント
2の表面で反射されてステム3に向かい、その表面に設
けられた光吸収膜7によって吸収される。また、キャッ
プ5の内側表面に進行した光もここで吸収される。よっ
て、上記構成により、従来例で数十%含まれていた反射
光成分を1%以下に低減させることができた。
1の後方から出射された光は直接あるいはサブマウント
2の表面で反射されてステム3に向かい、その表面に設
けられた光吸収膜7によって吸収される。また、キャッ
プ5の内側表面に進行した光もここで吸収される。よっ
て、上記構成により、従来例で数十%含まれていた反射
光成分を1%以下に低減させることができた。
【0008】図2は、本発明の他の実施例を示す破砕断
面図である。同図において、図1の部分と同等の部分に
は同一の参照番号が付されているので重複する説明は省
略する。本実施例では、光吸収膜7が、透明板6内面の
主射出光透過部分を除く部分に塗布されている。
面図である。同図において、図1の部分と同等の部分に
は同一の参照番号が付されているので重複する説明は省
略する。本実施例では、光吸収膜7が、透明板6内面の
主射出光透過部分を除く部分に塗布されている。
【0009】この構成により、半導体レーザ素子1から
の光出力のうち反射により透明板6から出ていく分を少
なくすることができ、また、透明板6からの再反射を防
ぐことができる。
の光出力のうち反射により透明板6から出ていく分を少
なくすることができ、また、透明板6からの再反射を防
ぐことができる。
【0010】以上好ましい実施例について説明したが、
本発明はこれら実施例に限定されるものではなく、例え
ば、光吸収膜7の材料としては樹脂塗布膜に代えて金属
化合物膜を用いることができる。また、レーザ素子1の
後方に、後方出射光を受光するモニタ受光素子を配置し
てもよいし、また、レーザ素子を複数個配置してマルチ
ビームレーザ装置を構成するようにしてもよい。
本発明はこれら実施例に限定されるものではなく、例え
ば、光吸収膜7の材料としては樹脂塗布膜に代えて金属
化合物膜を用いることができる。また、レーザ素子1の
後方に、後方出射光を受光するモニタ受光素子を配置し
てもよいし、また、レーザ素子を複数個配置してマルチ
ビームレーザ装置を構成するようにしてもよい。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、半導体
レーザ素子を気密封止するパッケージの内壁に光吸収膜
を形成したものであるので、本発明によれば、パッケー
ジ内部での反射によって放出される迷光のレベルを抑制
することができ、雑音の少ない光源を提供することがで
きる。
レーザ素子を気密封止するパッケージの内壁に光吸収膜
を形成したものであるので、本発明によれば、パッケー
ジ内部での反射によって放出される迷光のレベルを抑制
することができ、雑音の少ない光源を提供することがで
きる。
【図1】本発明の一実施例を示す破砕断面図。
【図2】本発明の他の実施例を示す破砕断面図。
【図3】従来例の破砕断面図。
1…半導体レーザ素子
2…サブマウント
3…ステム
4…リード
5…キャップ
6…透明板
7…光吸収膜
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体レーザ素子と、一部が光透過部
材によって構成され、前記半導体レーザ素子を気密封止
するパッケージと、を有する半導体レーザ装置において
、前記半導体レーザ素子の出力光を取り出す部分を除く
前記パッケージの内側には光吸収膜が形成されているこ
とを特徴とする半導体レーザ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16358491A JPH04360593A (ja) | 1991-06-07 | 1991-06-07 | 半導体レーザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16358491A JPH04360593A (ja) | 1991-06-07 | 1991-06-07 | 半導体レーザ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04360593A true JPH04360593A (ja) | 1992-12-14 |
Family
ID=15776692
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16358491A Pending JPH04360593A (ja) | 1991-06-07 | 1991-06-07 | 半導体レーザ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04360593A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002026439A (ja) * | 2000-07-03 | 2002-01-25 | Denso Corp | 半導体発光素子 |
| JP2003086830A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-20 | Sunx Ltd | レーザセンサ |
| JP2008085259A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光双方向通信モジュール |
| JP2018170454A (ja) * | 2017-03-30 | 2018-11-01 | 住友電気工業株式会社 | 光半導体装置 |
| WO2022185970A1 (ja) | 2021-03-05 | 2022-09-09 | 株式会社堀場製作所 | 半導体レーザ装置 |
-
1991
- 1991-06-07 JP JP16358491A patent/JPH04360593A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002026439A (ja) * | 2000-07-03 | 2002-01-25 | Denso Corp | 半導体発光素子 |
| JP2003086830A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-20 | Sunx Ltd | レーザセンサ |
| JP2008085259A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光双方向通信モジュール |
| JP2018170454A (ja) * | 2017-03-30 | 2018-11-01 | 住友電気工業株式会社 | 光半導体装置 |
| WO2022185970A1 (ja) | 2021-03-05 | 2022-09-09 | 株式会社堀場製作所 | 半導体レーザ装置 |
| US12542415B2 (en) | 2021-03-05 | 2026-02-03 | Horiba, Ltd. | Semiconductor laser device |
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