JPH04361088A - 光記録媒体 - Google Patents
光記録媒体Info
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- JPH04361088A JPH04361088A JP3137566A JP13756691A JPH04361088A JP H04361088 A JPH04361088 A JP H04361088A JP 3137566 A JP3137566 A JP 3137566A JP 13756691 A JP13756691 A JP 13756691A JP H04361088 A JPH04361088 A JP H04361088A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
くは、記録層にアゾ化合物と金属とのアゾ金属キレート
化合物を含有する、65%以上の反射率を有する高反射
率光記録媒体に関する。
情報記録保存及び再生を可能とするため、近年特にその
開発が進められている。光学記録の一例としては、光デ
ィスクを挙げることができる。一般に光ディスクは、円
形の基体に設けられた薄い記録層に、1μm程度に集束
したレーザー光を照射し、高密度の情報記録を行うもの
である。その記録は、照射されたレーザー光エネルギー
の吸収によって、その個所の記録層に、分解、蒸発、溶
解等の熱的変形が生成することにより行われる。また、
記録された情報の再生は、レーザー光により変形が起き
ている部分と起きていない部分の反射率の差を読み取る
ことにより行われる。従って、記録層はレーザー光のエ
ネルギーを効率良く吸収する必要があり、このため、レ
ーザー吸収色素が用いられている。
種々のものが知られているが、近年、特に、コンパクト
ディスク(CD)が広く家庭に普及している。CDは、
アルミニウム等の金属の反射層を有するもので、再生専
用タイプの媒体である。これに対して最近になって、記
録できる(追記型)タイプのCD媒体の提案がなされて
いるが、市販のCDプレイヤーとの互換性のためには、
反射率65%以上の高い反射率の記録媒体であることが
要求される。このような高反射率の媒体として、例えば
、特開平2−42652号、特開平2−87339号、
特開平2−87340号等には、シアニン系色素を記録
層として設けたものが開示されている。
アニン系色素を主として用いた媒体は、溶解性が高く、
塗布によるコーティングが可能であるという利点の反面
、耐光性が劣るという問題点を有している。
性に優れた高反射率光記録媒体を提供することを目的と
する。
、基板上に記録層、金属反射層及び保護層を順次積層し
てなる光記録媒体であって、65%以上の反射率を有す
る光記録媒体において、該記録層が、下記一般式[I]
で示されるアゾ系化合物と金属とのアゾ金属キレート化
合物を1種又は2種以上含有することを特徴とする。
及び窒素原子と一緒になって複素環を形成する残基を表
わし、Bはそれが結合している二つの炭素原子と一緒に
なって芳香環又は複素環を形成する残基を表わし、Xは
活性水素を有する基を表わす。)請求項2の光記録媒体
は、請求項1の光記録媒体において、アゾ化合物が下記
一般式[II]で示される化合物であることを特徴とす
る。
と窒素原子と一緒になって複素環を形成する残基を表わ
し、R1及びR2はそれぞれ独立して水素原子、置換さ
れていても良いアルキル基、置換されていても良いアリ
ール基、置換されていても良いアルケニル基又は置換さ
れていても良いシクロアルキル基を表わし、Xは活性水
素を有する基を表わす。環Dは置換基を有していても良
い。)請求項3の光記録媒体は、請求項2の光記録媒体
において、アゾ化合物が下記一般式[III]で示され
る化合物であることを特徴とする。
と窒素原子と一緒になって複素環を形成する残基を表わ
し、R1及びR2はそれぞれ独立して水素原子、置換さ
れていても良いアルキル基、置換されていても良いアリ
ール基、置換されていても良いアルケニル基又は置換さ
れていても良いシクロアルキル基を表わす。環Dは置換
基を有していても良い。)以下に本発明を詳細に説明す
る。一般式[I]で示されるアゾ系化合物において、A
はそれが結合している炭素原子及び窒素原子と一緒に複
素環を形成する残基を表わし、好ましくは、少なくとも
1個の5〜7員の複素環を形成するのに必要な複数個の
原子を表わす。Aにより形成される複素環上の水素原子
は1つ以上の置換基で置換されていても良い。この場合
、置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、アリー
ルオキシ基、アラルキル基、アリール基、ハロゲン原子
、シアノ基、ニトロ基、エステル基、カルバモイル基、
アシル基、アシルアミノ基、スルファモイル基、スルホ
ンアミド基、アミノ基、アルキルアミノ基、アリールア
ミノ基、ヒドロキシル基、フェニルアゾ基、ピリジノア
ゾ基等が挙げられ、置換基のうち好ましいものとしては
、炭素数1〜25の置換されていても良いアルキル基、
炭素数8〜25の置換されていても良いアルコキシ基、
ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、炭素数1〜25の
置換されていても良いアルキルスルファモイル基、炭素
数6〜30の置換されていても良いフェニルスルファモ
イル基、フェニルアゾ基、ピリジノシゾ基、炭素数1〜
25のエステル基、炭素数1〜25のカルバモイル基、
炭素数1〜25のアシル基、炭素数1〜25のアシルア
ミノ基、炭素数1〜25のスルホンアミド基、下記一般
式[IV]で示されるアルキルアミノ基、アリールアミ
ノ基、水素基等が挙げられる。
1〜25の置換されていても良いアルキル基又はフェニ
ル基を表わす。R3及びR4は一緒になって5又は6員
環を形成しても良い。)Aにより形成される複素環の中
で好ましいものとしては、チアゾール環、ベンゾチアゾ
ール環、ピリドベンゾチアゾール環、ベンゾピリドチア
ゾール環、ピリドチアゾール環、ピリジン環、キノリン
環等が挙げられる。
物において、Bはそれが結合している二つの炭素原子と
一緒になって芳香環又は複素環を形成する残基を表わし
、好ましくは、少なくとも1個の5〜7員の芳香環又は
複素環を形成するのに必要な複数個の原子を表わす。 Bにより形成される環上の水素原子は1つ以上の置換基
で置換されていても良い。この場合、置換基としては、
アルキル基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アラル
キル基、アリール基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ
基、エステル基、カルバモイル基、アシル基、アシルア
ミノ基、スルファモイル基、スルホンアミド基、アミノ
基、アルキルアミノ基、アリールアミノ基、ヒドロキシ
ル基等が挙げられ、置換基のうち好ましいものとしては
炭素数1〜25の置換されていても良いアルキル基、炭
素数8〜25の置換されていても良いアルコキシ基、ハ
ロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、炭素数1〜25の置
換されていても良いアルキルスルファモイル基、炭素数
6〜30の置換されていても良いフェニルスルファモイ
ル基、フェニルアゾ基、ピリジノアゾ基、炭素数1〜2
5のエステル基、炭素数1〜25のカルバモイル基、炭
素数1〜25のアシル基、炭素数1〜25のアシルアミ
ノ基、炭素数1〜25のスルホンアミド基、前記一般式
[IV]で示されるアルキルアミノ基、アリールアミノ
基、水素基等が挙げられる。
としては、ベンゼン環、ナフタレン環、ピリジン環、ピ
リドン環又はピラゾール環等が挙げられる。
物において、Xとしては活性水素を有する基であれば良
く、特に制限されないが、好ましいものとしては、−O
H、−COOH、−SO3H、−B(OH)2、−HN
SO2R5(R5は水素原子、炭素数1〜25の置換さ
れていても良いアルキル基又はフェニル基を表わす。)
、−CONH2、−SO2NH2、−NH2等が挙げら
れ、特に好ましいものとしては、−OH、−COOH、
−SO3H、−HNSO2R5(R5は前記定義に同じ
。)が挙げられる。なお、Xが−COOH、−OH、−
SO3Hなどのように陰イオンを解離し得る基である場
合には、アゾ金属キレート化合物の形成に際してはこの
ままの形で用いても良く、また、陽イオンとの塩の形で
用いても良い。陽イオンとしては、Na+、Li+、K
+等の無機系の陽イオン又はP+(Ph)、N+(C2
H4)4、N+(C4H9(n))4、Ph−N+(C
H3)3等の有機系の陽イオンが挙げられる(なお、上
記においてPhはベンゼン核を示す。)。
で好ましいものとしては、前記一般式[II]で示され
るアゾ系化合物が、また、特に好ましいアゾ系化合物と
しては、前記一般式[III]で示されるアゾ系化合物
が挙げられる。なお、環Dの置換基としては、アルキル
基、アルコキシ基、ハロゲン原子が好ましい。
キレート化合物を形成する金属としては、一般に該アゾ
化合物とキレート化合物を形成する能力のある金属であ
れば良く、特に制限はないが、ニッケル(Ni)、コバ
ルト(Co)、鉄(Fe)、ルテニウム(Ru)、ロジ
ウム(Rh)、パラジウム(Pd)、銅(Cu)、オス
ミウム(Os)、イリジウム(Ir)、白金(Pt)等
の遷移元素が好ましく、特にNi、Coである場合が好
ましい。これらは製造時Ni(CH3COO)2、Ni
Cl2、CoCl2、Co(BF4)2、Co(CH3
COO)2等の塩の形で用いられ、Ni2+、Co2+
、Co3+等が配位したキレート化合物として得られる
。
ト化合物の合成は、例えば、「古川;Analytic
a Chimica Acta 140(198
2)281−289」の記載に準じて行なうことができ
る。具体的には、前記一般式[II]で示されるアゾ系
化合物の金属キレート化合物は、まず、下記一般式[V
]で示されるアミノ化合物を、常法に従って、ジアゾ化
し、下記一般式[VI]で示される置換アニリンスルホ
ン酸誘導体とカップリングして前記一般式[II]で示
されるアゾ化合物を得、次いで得られたアゾ化合物と金
属塩とを水及び/又はジオキサン、テトラヒドロフラン
、アセトン、エタノール等の有機溶媒中で反応させるこ
とによって製造することができる。
びXは前記定義に同じ。)上記アゾ金属キレート化合物
の製造に用いるNi2+、Co2+等の金属塩の陰イオ
ンとしては、好ましくはSCN−,SbF6−、Cl−
、Br−、F−,ClO4−、BF4−、PF6−、C
H3COO−、TiF62−、SiF62−、ZrF6
2−、Ph−SO3−、CH3−Ph−SO3−、B−
(Ph)4等の一価または二価の陰イオンが好ましく、
特にBF4−、PF6−、CH3COO−が好ましく用
いられる(なお、Phはベンゼン核を示す。)。
明する。
は基板上に、少なくとも1種以上の前記アゾ金属キレー
ト化合物を含む記録層、金属反射層及び保護層を順次積
層した層構成をとる。
ーザー光に対して透明又は不透明のいずれでも良い。基
板の材質としては、ガラス、プラスチック、紙、板状又
は箔状の金属等の一般の記録材料の支持体が挙げられる
が、プラスチックが種々の点から好適に使用できる。プ
ラスチックとしては、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、
酢酸ビニル樹脂、塩化ビニル樹脂、ニトロセルロース、
ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリカーボネ
ート樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ポリサルホ
ン樹脂等が挙げられるが、生産性、コスト、耐吸湿性の
点から射出成形型のポリカーボネート樹脂基板が特に好
ましく用いられる。
ゾ金属キレート化合物を含有する記録層は、膜厚100
Å〜5μmであることが好ましく、更に好ましくは10
00Å〜3μmである。
ング法、ドクターブレード法、キャスト法、スピナー法
、浸漬法など一般に行われている薄膜形成法で成膜する
ことができるが、量産性、コスト面等からスピナー法が
好ましい。スピナー法による成膜の場合、回転数は50
0〜5000r.p.m.が好ましく、スピンコートの
後、必要に応じて加熱或いは溶媒蒸気にあてる等の処理
を行うことができる。なお、成膜に際しては、必要に応
じてバインダーを使用することもできる。バインダーと
しては、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン
、ケトン樹脂、ニトロセルロース、酢酸セルロース、ポ
リビニルブチラール、ポリカーボネート等の既知のもの
が用いられる。また、記録層は、その安定性や耐光性向
上のために、一重項酸素クエンチャーとして遷移金属キ
レート化合物(例えば、アセチルアセトナートキレート
、ビスフェニルジチオール、サリチルアルデヒドオキシ
ム、ビスジチオ−α−ジケトン等)を含有しても良く、
更に同系統の色素或いはトリアリールメタン系色素、ア
ゾ染料、シアニン系色素、スクワリリウム系色素、ニッ
ケル−インドアニリン系色素等の他系統の色素を併用す
ることもできる。ドクターブレード法、キャスト法、ス
ピナー法、浸漬法、特にスピナー法等の塗布方法により
記録層を形成する場合の塗布溶媒としては、テトラフル
オロプロパノール、オクタフルオロペンタノール、テト
ラクロロエタン、ブロモホルム、ジブロモエタン、ジア
セトンアルコール、エチルセロソルブ、キシレン、3−
ヒドロキシ−3−メチル−2−ブタノン、クロロベンゼ
ン、シクロヘキサノン、乳酸メチル等の沸点120〜1
60℃のものが好適に使用される。
優れる射出成形ポリカーボネート樹脂基板に対して、該
基板をおかすことなく好適に使用できる溶媒として、特
にジアセトンアルコール、3−ヒドロキシ−3−メチル
−2−ブタノン等のケトンアルコール系溶媒;メチルセ
ロソルブ、エチルセロソルブ等のセロソルブ系溶媒;テ
トラフルオロプロパノール、オクタフルオロペンタノー
ル等のパーフルオロアルキルアルコール系溶媒;乳酸メ
チル、イソ酪酸メチル等のヒドロキシエステル系溶媒が
挙げられる。
g)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)等の金属或い
はこれらの合金が挙げられる。
による鉛筆硬度試験でH以上の硬度を有する化合物がキ
ズ防止の観点から有効で、この条件を満たす限り任意の
化合物が使用できるが、製造工程の簡便さから、スピン
コート法で塗布できるものが好ましい。スピンコート法
、その他通常の塗布法で成膜できる保護層材料としては
、シリコーン系、アクリル系、メラミン系、エポキシ系
などの熱硬化型樹脂、アルキルトリアルコキシシラン、
テトラアルコキシシラン等の部分共加水分解物や、それ
らにコロイダルシリカを配合したシリコーン系ハードコ
ーティング剤、及びアクリレート系等の光重合系フォト
ポリマー、光架橋性フォトポリマー、アジド系フォトポ
リマー等が挙げられる。保護層の膜厚は、1〜200μ
m、特に2〜100μm程度であることが好ましい。
1μm程度に集束したレーザー光、好ましくは半導体レ
ーザーの光を基板を通して照射することにより行う。レ
ーザー光の照射された部分には、レーザーエネルギーの
吸収による、分解、蒸発、溶融等の記録層の熱的変形が
生じる。従って、レーザー光により熱的変形が起きてい
る部分と起きていない部分の反射率の差を読み取ること
により、記録された情報の再生を行うことができる。
生に使用されるレーザー光としては、N2、He−Cd
、Ar、He−Ne、ルビー、半導体、色素レーザー等
が挙げられるが、特に軽量性、取扱いの容易さ、コンパ
クト性などの点から半導体レーザーが好適に使用される
。
とりわけ前記一般式[III]で示されるアゾ化合物と
金属とのアゾ金属キレート化合物は、塗布によるコーテ
ィングが可能で、しかも耐光性に優れ、耐久性に優れた
高反射率光記録媒体を低コストに提供することができる
。
説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の
実施例に限定されるものではない。
Niキレート化合物0.15gをオクタフルオロペンタ
ノール7.5gに溶解し、0.22μmのフィルターで
濾過して溶解液を得た。この溶液5mlを深さ700Å
、幅0.7μmの溝(グルーブ)付き、射出成形ポリカ
ーボネート樹脂基板(5インチ)上に滴下し、スピナー
法により500rpmの回転数で塗布した。塗布後、6
0℃で10分間乾燥した。塗布膜の最大吸収波長は64
5及び712nmであった。次に、この塗布膜の上に、
スパッタリング法により、膜厚2000ÅのAu膜を成
膜し、反射層を形成した。更に、この反射層の上に紫外
線硬化性樹脂をスピンコートし、これに紫外線を照射し
て硬化させ、厚み10μmの保護膜を形成した。
がら、中心波長780nmの半導体レーザー光で、記録
パワー7.0mWで照射し、EFM信号を記録した。次
に、この記録部を中心波長780nmの半導体レーザー
を有するCDプレーヤーで再生したところ、良好な再生
信号を得た。本光記録媒体は、耐光性(キセノンフェー
ドメーター加速テスト;60時間)及び保存安定性(7
0℃、85%RH;500時間)試験を行なった結果、
初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみられず、光学
記録媒体として極めて優れたものであった。
Niキレート化合物を用いたこと以外は、実施例1の(
a)と同様にして、塗布、乾燥を行った。塗布膜の最大
吸収波長は644及び714nmであった。次に、この
塗布膜の上に、スパッタリング法により、膜厚2000
ÅのAg膜を成膜し、反射層を形成した。更に、この反
射層の上に紫外線硬化性樹脂をスピンコートした後、紫
外線を照射して硬化させ、厚み10μmの保護層を形成
した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
Niキレート化合物0.10g及び上記構造式(4)で
示されるアゾ化合物のNiキレート化合物0.05gの
配合組成物をテトラフルオロプロパノール7.5gに溶
解し、0.22μmのフィルターで濾過して溶解液を得
、実施例1の(a)と同様にして塗布、乾燥を行った。 塗布膜の最大吸収波長は644及び712nmであった
。次に、この塗布膜の上に、スパッタリング法により、
膜厚2000ÅのCu膜を成膜し、反射層を形成した。 更に、この反射層の上に紫外線硬化性樹脂をスピンコー
トした後、紫外線を照射して硬化させ、厚み10μmの
保護層を形成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
Niキレート化合物0.15gを乳酸メチル7.5gに
溶解し、0.22μmのフィルターで濾過して溶解液を
得、実施例1の(a)と同様にして塗布、乾燥を行った
。塗布膜の最大吸収波長は646及び717nmであっ
た。次に、この塗布膜の上に、スパッタリング法により
、膜厚2000ÅのAu膜を成膜し、反射層を形成した
。更に、この反射層の上にシリコン系ハードコート剤を
スピンコートして、厚み10μmの保護層を形成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
アゾ化合物のNiキレート化合物を用いたこと以外は実
施例1の(a)と同様にして塗布、乾燥を行った。塗布
膜の最大吸収波長は652及び723nmであった。次
に、この塗布膜の上に、スパッタリング法により、膜厚
2000ÅのAl膜を成膜し、反射層を形成した。更に
、この反射層の上に紫外線硬化性樹脂をスピンコートし
た後、紫外線を照射して硬化させ、厚み10μmの保護
層を形成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
アゾ化合物のNiキレート化合物を用いたこと以外は実
施例1の(a)と同様にして塗布、乾燥を行った。塗布
膜の最大吸収波長は642及び711nmであった。次
に、この塗布膜の上に、スパッタリング法により、膜厚
2000ÅのAg膜を成膜し、反射層を形成した。更に
、この反射層の上に紫外線硬化性樹脂をスピンコートし
た後、紫外線を照射して硬化させ、厚み10μmの保護
層を形成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
Niキレート化合物0.12g及び上記構造式(9)で
示されるシアニン系色素0.03gの混合色素をオクタ
フルオロペンタノール7.5gに溶解し、0.22μm
のフィルターで濾過して溶解液を得、実施例1の(a)
と同様にして塗布、乾燥を行った。塗布膜の最大吸収波
長は634、702及び716nmであった。次に、こ
の塗布膜の上に、スパッタリング法により、膜厚200
0ÅのAg膜を成膜し、反射層を形成した。更に、この
反射層の上に紫外線硬化性樹脂をスピンコートした後、
紫外線を照射して硬化させ、厚み10μmの保護層を形
成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
のNiキレート化合物0.15gをテトラフルオロプロ
パノール5gに溶解し、0.22μmのフィルターで濾
過して溶解液を得、実施例1の(a)と同様にして塗布
、乾燥を行った。塗布膜の最大吸収波長は637及び6
97nmであった。次に、この塗布膜の上に、スパッタ
リング法により、膜厚2000ÅのAu膜を成膜し、反
射層を形成した。更に、この反射層の上に紫外線硬化性
樹脂をスピンコートし、これに紫外線を照射して、硬化
させ、厚み10μmの保護層を形成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
のNiキレート化合物0.14g及び上記構造式(12
)で示されるNiインドアニリン系色素0.01gの混
合色素をジアセトンアルコール5gに溶解し、0.22
μmのフィルターで濾過して溶解液を得た。この溶液5
mlを実施例1の(a)で用いたと同様の射出成形ポリ
カーボネート樹脂基板上に滴下し、スピナー法により7
00rpmの回転数で塗布した。塗布後、60℃で10
分間乾燥した。塗布膜の最大吸収波長は642、711
及び805nmであった。次に、この塗布膜の上に、ス
パッタリング法により、膜厚2000ÅのAu膜を成膜
し、反射層を形成した。更に、この反射層の上に紫外線
硬化性樹脂をスピンコートし、これに紫外線を照射して
、硬化させ、厚み10μmの保護層を形成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
のNiキレート化合物0.15gをテトラフルオロプロ
パノール5gに溶解し、0.22μmのフィルターで濾
過して溶解液を得、実施例1の(a)と同様にして塗布
、乾燥した。塗布膜の最大吸収波長は643nm及び7
14nmであった。次に、この塗布膜の上に、スパッタ
リング法により、膜厚2000ÅのAu膜を成膜し、反
射層を形成した。更に、この反射層の上にエポキシ系熱
硬化性樹脂をスピンコートし、これを熱で硬化させ、厚
み10μmの保護層を形成した。
と同様にして記録、再生を行ったところ、良好な再生信
号を得た。また、同様の耐光性及び保存安定性試験を行
った結果、初期と比べて感度及び再生信号の劣化はみら
れず、光学記録媒体として極めて優れたものであった。
〜13に示したアゾ化合物と金属とのアゾ金属キレート
化合物の単体或いは混合系を使用して得た溶液を基板上
に塗布して、その他は同様にして光学記録媒体を得た。 なお、塗布膜の最大吸収波長は表1〜13に示す通りで
あった。得られた光記録媒体について、実施例1の(b
)と同様にして記録、再生を行ったところ、いずれも感
度が良好で、良好な再生信号を得た。また、同様の耐光
性及び保存安定性試験を行った結果、初期と比べて感度
及び再生信号の劣化はみられず、光学記録媒体として極
めて優れたものであった。
によれば、高感度で耐光性、保存安定性に優れ、特に耐
光性に著しく優れ、例えば、記録可能なCD媒体として
有用な高反射率光記録媒体が提供される。
Claims (2)
- 【請求項1】 基板上に記録層、金属反射層及び保護
層を順次積層してなる光記録媒体であって、65%以上
の反射率を有する光記録媒体において、該記録層が、下
記一般式[I]で示されるアゾ系化合物と金属とのアゾ
金属キレート化合物の1種又は2種以上を含有すること
を特徴とする光記録媒体。 【化1】 (式中、Aはそれが結合している炭素原子及び窒素原子
と一緒になって複素環を形成する残基を表わし、Bはそ
れが結合している二つの炭素原子と一緒になって芳香環
又は複素環を形成する残基を表わし、Xは活性水素を有
する基を表わす。) - 【請求項2】 アゾ化合物が下記一般式[II]で示
される化合物であることを特徴とする請求項1に記載の
光記録媒体。 【化2】 (式中、Aはそれが結合している炭素原子と窒素原子と
一緒になって複素環を形成する残基を表わし、R1及び
R2はそれぞれ独立して水素原子、置換されていても良
いアルキル基、置換されていても良いアリール基、置換
されていても良いアルケニル基又は置換されていても良
いシクロアルキル基を表わし、Xは活性水素を有する基
を表わす。環Dは置換基を有していても良い。)【請求
項3】 アゾ化合物が下記一般式[III]で示され
る化合物であることを特徴とする請求項2に記載の光記
録媒体。 【化3】 (式中、Aはそれが結合している炭素原子と窒素原子と
一緒になって複素環を形成する残基を表わし、R1及び
R2はそれぞれ独立して水素原子、置換されていても良
いアルキル基、置換されていても良いアリール基、置換
されていても良いアルケニル基又は置換されていても良
いシクロアルキル基を表わす。環Dは置換基を有してい
ても良い。)
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|---|---|---|---|
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ID=15201716
Family Applications (1)
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Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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1991
- 1991-06-10 JP JP3137566A patent/JP3019469B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US7879986B2 (en) * | 2005-02-04 | 2011-02-01 | Berry & Associates, Inc. | Dark quenchers, probes and other conjugates incorporating the same, and their use |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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