JPH0436167B2 - - Google Patents
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- -1 fluoroalkyl α-chloroacrylate Chemical compound 0.000 claims description 42
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 36
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims description 33
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 30
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 claims description 20
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 13
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims description 10
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 9
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 claims description 9
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 claims description 8
- 125000004206 2,2,2-trifluoroethyl group Chemical group [H]C([H])(*)C(F)(F)F 0.000 claims description 6
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 5
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- GYCMBHHDWRMZGG-UHFFFAOYSA-N Methylacrylonitrile Chemical compound CC(=C)C#N GYCMBHHDWRMZGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XYLMUPLGERFSHI-UHFFFAOYSA-N alpha-Methylstyrene Chemical compound CC(=C)C1=CC=CC=C1 XYLMUPLGERFSHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N benzyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1=CC=CC=C1 AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- QIWKUEJZZCOPFV-UHFFFAOYSA-N phenyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1=CC=CC=C1 QIWKUEJZZCOPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000005395 methacrylic acid group Chemical group 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 16
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 16
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 14
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 13
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 11
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2-(2-cyanopropan-2-yldiazenyl)-2-methylpropanenitrile Chemical compound N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 7
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 7
- XLLIQLLCWZCATF-UHFFFAOYSA-N 2-methoxyethyl acetate Chemical compound COCCOC(C)=O XLLIQLLCWZCATF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 6
- 238000010528 free radical solution polymerization reaction Methods 0.000 description 6
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- DKGAVHZHDRPRBM-UHFFFAOYSA-N Tert-Butanol Chemical compound CC(C)(C)O DKGAVHZHDRPRBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 235000019400 benzoyl peroxide Nutrition 0.000 description 4
- 238000012662 bulk polymerization Methods 0.000 description 4
- 125000002057 carboxymethyl group Chemical group [H]OC(=O)C([H])([H])[*] 0.000 description 4
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 4
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 4
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 4
- 238000012673 precipitation polymerization Methods 0.000 description 4
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 description 4
- 239000004342 Benzoyl peroxide Substances 0.000 description 3
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 3
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 3
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 3
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 3
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJVRPNIWWODHHA-UHFFFAOYSA-N 2-cyanoprop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C(=C)C#N IJVRPNIWWODHHA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SYBYTAAJFKOIEJ-UHFFFAOYSA-N 3-Methylbutan-2-one Chemical compound CC(C)C(C)=O SYBYTAAJFKOIEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- URVVFIAUKSGYOG-UHFFFAOYSA-N 4-methylpentan-2-one;propan-2-ol Chemical compound CC(C)O.CC(C)CC(C)=O URVVFIAUKSGYOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OZAIFHULBGXAKX-VAWYXSNFSA-N AIBN Substances N#CC(C)(C)\N=N\C(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-VAWYXSNFSA-N 0.000 description 2
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N Acrylamide Chemical compound NC(=O)C=C HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N Benzoylperoxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N Butylmethacrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C(C)=C SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N Ethylbenzene Chemical compound CCC1=CC=CC=C1 YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N Methyl acrylate Chemical compound COC(=O)C=C BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FUSUHKVFWTUUBE-UHFFFAOYSA-N buten-2-one Chemical compound CC(=O)C=C FUSUHKVFWTUUBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N butyl acetate Chemical compound CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N diacetyl peroxide Chemical compound CC(=O)OOC(C)=O ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- FJKIXWOMBXYWOQ-UHFFFAOYSA-N ethenoxyethane Chemical compound CCOC=C FJKIXWOMBXYWOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- ZXEKIIBDNHEJCQ-UHFFFAOYSA-N isobutanol Chemical compound CC(C)CO ZXEKIIBDNHEJCQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 2
- BHIWKHZACMWKOJ-UHFFFAOYSA-N methyl isobutyrate Chemical compound COC(=O)C(C)C BHIWKHZACMWKOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- QYZFTMMPKCOTAN-UHFFFAOYSA-N n-[2-(2-hydroxyethylamino)ethyl]-2-[[1-[2-(2-hydroxyethylamino)ethylamino]-2-methyl-1-oxopropan-2-yl]diazenyl]-2-methylpropanamide Chemical compound OCCNCCNC(=O)C(C)(C)N=NC(C)(C)C(=O)NCCNCCO QYZFTMMPKCOTAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003208 petroleum Substances 0.000 description 2
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- UOCLXMDMGBRAIB-UHFFFAOYSA-N 1,1,1-trichloroethane Chemical compound CC(Cl)(Cl)Cl UOCLXMDMGBRAIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 1,1-Dichloroethane Chemical compound CC(Cl)Cl SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N 1-ethenoxybutane Chemical compound CCCCOC=C UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IGGDKDTUCAWDAN-UHFFFAOYSA-N 1-vinylnaphthalene Chemical compound C1=CC=C2C(C=C)=CC=CC2=C1 IGGDKDTUCAWDAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WDHFRWNUJIDVAZ-UHFFFAOYSA-N 2-(1-cyanobutyldiazenyl)pentanenitrile Chemical compound CCCC(C#N)N=NC(C#N)CCC WDHFRWNUJIDVAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YAAYJRKCGZQWCB-UHFFFAOYSA-N 2-(1-cyanopropyldiazenyl)butanenitrile Chemical compound CCC(C#N)N=NC(CC)C#N YAAYJRKCGZQWCB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 2-(3-fluorophenyl)-1h-imidazole Chemical compound FC1=CC=CC(C=2NC=CN=2)=C1 JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MTLWTRLYHAQCAM-UHFFFAOYSA-N 2-[(1-cyano-2-methylpropyl)diazenyl]-3-methylbutanenitrile Chemical compound CC(C)C(C#N)N=NC(C#N)C(C)C MTLWTRLYHAQCAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YBXYCBGDIALKAK-UHFFFAOYSA-N 2-chloroprop-2-enamide Chemical compound NC(=O)C(Cl)=C YBXYCBGDIALKAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OYUNTGBISCIYPW-UHFFFAOYSA-N 2-chloroprop-2-enenitrile Chemical compound ClC(=C)C#N OYUNTGBISCIYPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RUMACXVDVNRZJZ-UHFFFAOYSA-N 2-methylpropyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(C)COC(=O)C(C)=C RUMACXVDVNRZJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CFVWNXQPGQOHRJ-UHFFFAOYSA-N 2-methylpropyl prop-2-enoate Chemical compound CC(C)COC(=O)C=C CFVWNXQPGQOHRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGIGUEBEKRSTEW-UHFFFAOYSA-N 2-vinylpyridine Chemical compound C=CC1=CC=CC=N1 KGIGUEBEKRSTEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N Acrylonitrile Chemical compound C=CC#N NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001651 Cyanoacrylate Polymers 0.000 description 1
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acrylate Chemical compound CCOC(=O)C=C JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MWCLLHOVUTZFKS-UHFFFAOYSA-N Methyl cyanoacrylate Chemical compound COC(=O)C(=C)C#N MWCLLHOVUTZFKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N Trichloroethylene Chemical group ClC=C(Cl)Cl XSTXAVWGXDQKEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N Vinyl ether Chemical compound C=COC=C QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 125000005396 acrylic acid ester group Chemical group 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- GCTPMLUUWLLESL-UHFFFAOYSA-N benzyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC1=CC=CC=C1 GCTPMLUUWLLESL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JSWTUBJPNIKZJF-UHFFFAOYSA-N bis(1-phenylethyl)diazene Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(C)N=NC(C)C1=CC=CC=C1 JSWTUBJPNIKZJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IWTBWSGPDGPTIB-UHFFFAOYSA-N butanoyl butaneperoxoate Chemical compound CCCC(=O)OOC(=O)CCC IWTBWSGPDGPTIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N butyl acrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C=C CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003763 carbonization Methods 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012933 diacyl peroxide Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- UIWXSTHGICQLQT-UHFFFAOYSA-N ethenyl propanoate Chemical compound CCC(=O)OC=C UIWXSTHGICQLQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CVUNPKSKGHPMSY-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-chloroprop-2-enoate Chemical compound CCOC(=O)C(Cl)=C CVUNPKSKGHPMSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SUPCQIBBMFXVTL-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)=C SUPCQIBBMFXVTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003709 fluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 150000008282 halocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229920001519 homopolymer Polymers 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N methacrylamide Chemical compound CC(=C)C(N)=O FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GBMDVOWEEQVZKZ-UHFFFAOYSA-N methanol;hydrate Chemical compound O.OC GBMDVOWEEQVZKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AWJZTPWDQYFQPQ-UHFFFAOYSA-N methyl 2-chloroprop-2-enoate Chemical compound COC(=O)C(Cl)=C AWJZTPWDQYFQPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XJRBAMWJDBPFIM-UHFFFAOYSA-N methyl vinyl ether Chemical compound COC=C XJRBAMWJDBPFIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N methylenebutanedioic acid Natural products OC(=O)CC(=C)C(O)=O LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KKFHAJHLJHVUDM-UHFFFAOYSA-N n-vinylcarbazole Chemical compound C1=CC=C2N(C=C)C3=CC=CC=C3C2=C1 KKFHAJHLJHVUDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- BKCXMAJNKHQRGE-UHFFFAOYSA-N o-ethyl 2-methylprop-2-enethioate Chemical compound CCOC(=S)C(C)=C BKCXMAJNKHQRGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VHALHNJABQFTEG-UHFFFAOYSA-N o-methyl 2-methylprop-2-enethioate Chemical compound COC(=S)C(C)=C VHALHNJABQFTEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- UCUUFSAXZMGPGH-UHFFFAOYSA-N penta-1,4-dien-3-one Chemical compound C=CC(=O)C=C UCUUFSAXZMGPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N pent‐4‐en‐2‐one Natural products CC(=O)CC=C PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WRAQQYDMVSCOTE-UHFFFAOYSA-N phenyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC1=CC=CC=C1 WRAQQYDMVSCOTE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000286 phenylethyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- HJWLCRVIBGQPNF-UHFFFAOYSA-N prop-2-enylbenzene Chemical compound C=CCC1=CC=CC=C1 HJWLCRVIBGQPNF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BOQSSGDQNWEFSX-UHFFFAOYSA-N propan-2-yl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(C)OC(=O)C(C)=C BOQSSGDQNWEFSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LYBIZMNPXTXVMV-UHFFFAOYSA-N propan-2-yl prop-2-enoate Chemical compound CC(C)OC(=O)C=C LYBIZMNPXTXVMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KOPQZJAYZFAPBC-UHFFFAOYSA-N propanoyl propaneperoxoate Chemical compound CCC(=O)OOC(=O)CC KOPQZJAYZFAPBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NHARPDSAXCBDDR-UHFFFAOYSA-N propyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCCOC(=O)C(C)=C NHARPDSAXCBDDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNXMTCDJUBJHQJ-UHFFFAOYSA-N propyl prop-2-enoate Chemical compound CCCOC(=O)C=C PNXMTCDJUBJHQJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- UBOXGVDOUJQMTN-UHFFFAOYSA-N trichloroethylene Natural products ClCC(Cl)Cl UBOXGVDOUJQMTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/039—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
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Description
〔産業上の利用分野〕
本発明はポリ(フルオロアルキルα−クロロア
クリラート)ないしそのコポリマの製造法に関す
るものである。 さらに詳しくは、高感度、高解像度のポジ型感
放射線レジストである、ポリ(フルオロアルキル
α−クロロアクリラート)ないしそのコポリマー
の製造法に関するものである。 〔従来技術〕 従来、IC,LSI等の製造のための微細パターン
の形成方法としては、紫外線に感光するフオトレ
ジストを利用する方法が広く実用化されている。
しかし最近LSI等の高密度化、高集積化の要請か
ら、電子線、X線、イオンビーム等、光より波長
の短い放射線を用いる技術が開発され、これに伴
なつて、高感度、高解像度の感放射線レジストが
要望されている。 従来、ポジ型感放射線レジストとしては、メタ
クリラート系ポリマが多く用いられているが、一
般に感度が高ければガラス転位点が低く、耐熱性
に劣るという欠点を有していた。 一方、島崎ら(特公昭57−969号公報)によつ
て提案されたポリ(フルオロアルキルα−クロロ
アクリラート)およびそのコポリマは極めて高感
度で、かつガラス転移点が高く、感放射線レジス
トとして有用な物質である。 従来ビニル系モノマのラジカル重合としては、
溶媒を用いない塊状重合、モノマおよび生成ポリ
マを溶解する溶媒を用いる溶液重合、モノマを溶
解し、ポリマは溶解しない溶媒を用いる沈殿重合
等が知られている。 本発明者は感放射線レジストとして用い得る、
ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラー
ト)およびそのコポリマを上記各種のラジカル重
合で製造すべく検討した所、以下の結果が判明し
た。 通常感放射線レジストは微細なパターンを描く
ために用いられるので、製造工程において0.2μ又
は0.4μのメンブランフイルターでの過が不可欠
である。ポリ(フルオロアルキルα−クロロアク
リラート)またはそのコポリマの製造を塊状重合
または溶液重合で行なつた場合には、溶媒に不溶
のゲルが多量に生成し、メンブランフイルターで
の過がきわめて困難となる。 また塊状重合および溶液重合においては、生成
するポリマは流動性のない固体または流固体とな
り反応装置からの取り出しが、困難となる。もち
ろん、収率の低い状態であると流動性は得られる
が経済性に劣るプロセスとなる。 さらに溶液重合においては、重合時間が極めて
長いという欠点を有している。 次に沈殿重合について述べる。通常沈殿重合は
かくはん下に行われるが、ポリ(フルオロアルキ
ルα−クロロアクリラート)およびそのコポリマ
の製造においては、重合をかくはん下に行なうと
収率、分子量共に低下し、しかも再現性が失われ
ることが判明した。 〔発明が解決しようとする問題点〕 本発明は、かかる従来技術の諸欠点に鑑み創案
されたもので、その目的は上記ポリ(フルオロア
ルキルα−クロロアクリラート)およびそのコポ
リマを収率良く、かつ再現性良く製造する方法を
提供することにある。 〔問題点を解決するための手段〕 すなわち本発明は、フルオロアルキルα−クロ
ロアクリラート系モノマの1種又は2種以上を、
該モノマは溶解するが、生成ポリマは溶解しない
溶媒中でラジカル静置重合することを特徴とする
ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラー
ト)の製造法およびフルオロアルキルα−クロロ
アクリラート系モノマの1種又は2種以上と他の
ビニル系モノマの1種又は2種以上とを上記モノ
マは溶解するが、生成ポリマは溶解しない溶媒中
でラジカル静置重合することを特徴とするポリ
(フルオロアルキルα−クロロアクリラート)コ
ポリマの製造法である。 すなわち本発明は、モノマは溶解し、生成ポリ
マは溶解しない溶媒中、ラジカル重合により、ポ
リ(フルオロアルキルα−クロロアクリラート)
及びそのコポリマを静置重合により製造するもの
で、静置沈殿重合を同一反応装置で行なうことに
より分子量、収率の再現性が極めて良いうえ、塊
状重合、溶液重合の場合のように溶媒に不溶のゲ
ルが生成することが無く、溶液重合に比べ重合時
間は1/3〜1/20となすことができる。 本発明に用いる重合溶液としては、モノマを溶
解し、生成ポリマを溶解しないものであれば、い
かなるものでも良い。通常はメタノール、エタノ
ール、イソプロパノール、n−プロパノール、n
−ブタノール、イソブタノール、t−ブタノール
等の低級アルコール、石油エーテル、石油ベンジ
ン、n−ペンタン、n−ヘキサン、n−ヘプタ
ン、シクロヘキサン等の炭化水素、ベンゼン、ト
ルエン、キシレン、エチルベンゼン等の芳香族炭
化水素、ジクロロメタン、クロロホルム、ジクロ
ロエタン、トリクロロエタン、トリクロロエチレ
ン、等のハロゲン下炭化水素が挙げられる。 重合に用いる溶媒の量は通常モノマに対し1〜
20倍量、好ましくは2〜10倍量が用いられる。溶
媒の量は少ないと重合時間が短くなるが、重合熱
の発生は著しくなり制御が困難となる。逆に溶媒
が多いと、重合時間は長くなるが、重合の制御が
し易くなる。 本発明の方法は静置重合であるため重合熱を除
く方法に注意する必要がある。すなわち通常の反
応容器を用いてスケールアツプした場合は、体積
当りの表面積は小さくなるため、重合中に中心部
分の温度が異常に上昇する。従つて重合物あたり
一定以上の伝熱面積を有する反応装置を用いるこ
とが望ましい。重合物当りの伝熱面積は通常0.1
cm2/cm3以上、望ましくは0.2cm2/cm3以上が好まし
い。反応器の材質としてはステンレス、チタン、
グラスライニング、ガラス等が用いられるが、水
で測定した場合の総括伝熱係数は30以上、好まし
くは50以上である。 重合物当り一定の伝熱面積を得るための反応装
置の形は特に制限されないが、パイプ型、直方形
型、内部に放熱用蛇管を有する型、内部に放熱板
を有する型、等が考えられる。あるいは大型の反
応装置に少量の反応物を入れ、伝熱面積を確保す
ることも可能である。 静置重合であるため反応容器内でのある程度の
温度の不均一は避けられないが、温度のバラツキ
は15℃以下、好ましくは10℃以下におさえること
が好ましい。 重合温度は用いる開始剤、溶媒により当然異な
るが通常は30〜90℃、好ましくは40〜70℃が用い
られる。 反応時間も当然のことながら他の反応条件、す
なわち重合温度、開始剤の種類及び量、溶媒の種
類及び量、用いるモノマの種類及び量により異な
るが通常は2〜30時間、好ましくは5〜20時間で
ある。また重合時間は重合の収率が90〜97%にな
るよう設定することが好ましい。 重合に用いるラジカル開始剤としては、通常の
ラジカル重合に用いられるものであれば特に制限
はないが、過酸化ジアセチル、過酸化ジプロピオ
ニル、過酸化ジブチリル、過酸化ジベンゾイル、
等の過酸化ジアシル類、2,2′−アゾビス(プロ
オニトリル)、2,2′−アゾビス(ブチロニトリ
ル)、2,2′−アゾビス(バレロニトリル)、2,
2′−アゾビス(3−メチルブチロニトリル)、2,
2′−アゾビス(2−メチルプロオニトリル)、2,
2′−アゾビス(メチル−2−メチル−プロピオナ
ート)、1,1′−アゾビス(1−フエニルエタ
ン)、アゾビスジフエニルメタン等のアゾビス類
が好ましい。 本発明により製造されるポジ型感放射線レジス
トとしては、 (1) 下記一般式で示されるモノマのホモポリマー (R1は一個以上の水素原子をフツ素原子で置
換したアルキル基)、 (2) 上記一般式()のアクリラート系モノマの
群より選ばれた二種以上のモノマよりなるコポリ
マ、 (3) 上記一般式()のアクリラート系モノマと
他のビニル系モノマよりなるコポリマに大別され
る。 上記(1)のポジ型感放射線レジストとしては、式
()においてアルキル基(R)が2位以上の位
置に1個以上のフツ素原子を有するアルキル基で
あるものが用いられる。好ましくは炭素数2〜10
個のフルオロアルキル基である。例えば2,2,
2−トリフルオロエチル、1−トリフルオロメチ
ルエチル、ヘキサフルオロプロピル、3,3,3
−トリフルオロプロピル、2,2,3,3,3−
ペンタフルオロプロピル、2,2,3,3−テト
ラフルオロプロピル、2,2,3,3,4,4,
4−ペプタフルオロブチル、2,2,3,4,
4,4−ヘキサフルオロブチル、2,2,3,
4,4,4−ヘキサフルオロ−1−メチルブチ
ル、1−トリフルオロメチル−1−メチルエチ
ル、2,2,3,3,3−ペンタフルオロ−1,
1−ジメチルプロピル、2,2,3,3,4,
4,4−ペプタフルオロ−1,1−ジメチルブチ
ル等であるがこれらに限られたものではない。 上記(2)のポジ型感放射線レジストとしては、(1)
に述べたモノマー()の共重合体であり、組成
等に特に制限はない。 上記(3)のピジ型感放射線レジストとしては、(1)
に述べたポリマと他のビニル系モノマの1種又は
2種以上とのコポリマ、あるいは上記(2)に述べた
ポリマと他のビニル系モノマの1種又は2種以上
とのコポリマである。 他のビニルモノマとしては、 (R2はメチル基又は水素原子、Arは芳香族基)
にて表わされる芳香族ビニル系モノマ、例えばス
チレン、α−メチルスチレン、ビニルナフタレ
ン、ビニルピリジン、ビニルトルエン、ビニルカ
ルバゾールおよびその芳香環上にハロゲン、メト
キシ、炭素数4以下のアルキル等の置換基を有す
る誘導体等、 (R3はメチル基又は水素原子、R4はアルキル
基、アリール基又はアラルキル基)にて表わされ
るビニルエーテル系モノマ、例えば、メチルビニ
ルエーテル、エチルビニルエーテル、n−ブチル
ビニルエーテル等、 (R5はメチル基又は水素原子、R6はアルキル
基、アリール基又はアラルキル基)にて表わされ
るビニルケトン系モノマ、例えばメチルビニルケ
トン、メチルイソプロピルケトン等、 (R7は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル)にて表わされるシアノアクリ
ラート系モノマ、例えばアクリロニトリル、メタ
クリロニトリル、2−クロロアクリロニトリル
等、 (R8は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシル基)にて表わ
されるアクリルアミド系モノマ、例えばアクリル
アミド、メタクリルアミド、2−クロロアクリル
アミド等、 (R9は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシル基、シアノ
基、カルボキシメチル基にて表わされるアクリル
酸系モノマ、例えば、アクリル酸、メタクリル
酸、2−クロロメタクリル酸、2−シアノアクリ
ル酸、イタコン酸等、 (R10は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシル基、シアノ
基、カルボキシメチル基、R11はアルキル基、ア
リール基、アラルキル基) にて表わされるアクリル酸エステル系モノマ、例
えば、メチルアクリラート、エチルアクリラー
ト、イソプロピルアクリラート、n−プロピルア
クリラート、イソブチルアクリラート、n−ブチ
ルアクリラート、ベンジルアクリラート、フエニ
ルアクリラート、メチル−α−クロロアクリラー
ト、エチルα−クロロアクリラート、イソプロピ
ルα−クロロアクリラート、n−プロピルα−ク
ロロアクリラート、イソブチルα−クロロアクリ
ラート、n−ブチルα−クロロアクリラート、ベ
ンジルα−クロロアクリラート、フエニルα−ク
ロロアクリラート、メチルメタクリラート、エチ
ルメタクリラート、イソプロピルメタクリラー
ト、n−プロピルメタクリラート、イソブチルメ
タクリラート、n−ブチルメタクリラート、ベン
ジルメタクリラート、フエニルメタクリラート、
2−シアノアクリラートおよびそのベンゼン環上
にハロゲン、メトキシ、炭素数4以下のアルキル
等の置換基を有する誘導体等、 (R12は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシメチル基、シア
ノ基、カルボキシメチル基、R13はアルキル基、
アリール基又はアラルキル基)にて表わされるチ
オアクリラート系モノマ、例えばメチルチオメタ
クリラート、エチルチオメタクリラート等、 (R14は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、シアノ基、R15はアルキル
基、アリール基又はアラルキル基)にて表わされ
るビニルアセタート系モノマ、例えば、ビニルア
セタート、ビニルプロピオナート等が考えられる
が、これに限られるものではない。 なお、上記説明様、R4,R6,R11,R13および
R15のアルキル基とは炭素数1〜8のものをい
い、アリール基とはベンゼン環又はナフタリン環
を有するものをいい、アラルキル基とはベンジル
又はフエニルエチルをいう。 以上の内R2,R3,R5,R7,R8,R9,R10,
R12、R14が水素原子以外の基をもつもの、すな
わち、重合後4級炭素になるものが好ましい。ま
た水素原子以外の基のなかでハロゲン原子を持つ
ものが特に好ましい。 コモノマ中に占めるこれらビニル系モノマの割
合は50wt%以下にすることが好ましい。 コポリマにすることにより一般的に基板に対す
る接着性が向上し、芳香族系コモノマを共重合す
ることにより一般的にドライエツチング耐性を改
善することができる。 以上(1)(2)(3)で示されるポジ型感放射線レジスト
の分子量としては、メチルエチルケトン中25℃で
測定された極限粘度が、0.3〜3.0のもの、好まし
くは0.5〜2.0のものが用いられる。分子量が高い
方が、一般に感度は高くなり有利であるが、あま
り高いと、レジスト溶液としての溶液粘度が高く
なり、過が困難になる。またパターン形成時
に、基板への塗膜が困難になり、現像時の膨潤が
起りパターンに悪影響を及ぼす。 重合反応の後は、沈殿したポリマ粉末を取、
洗浄、乾燥するか、溶媒にいつたん溶解した後、
非溶媒中で再沈殿し、取、洗浄、乾燥する。 次に本発明のポジ型感放射線レジストの感度を
測定する方法を述べる。 まず、ポリマをメチルセロソルブアセタート、
シクロヘキサノン、n−ブチルアセタート等の適
当な溶媒に溶解した後、0.2〜0.4μのメンブラン
フイルターにて過しレジスト溶液を調製する。
このレジスト溶液を基板上にスピンナーを用いて
スピンコートし0.4〜1.0μの均一なレジスタ膜を
形成する。次に溶媒を除き、かつ基板との密着性
を向上させるためプリベーク処理を行なう。本発
明のポジ型感放射線レジストの場合は160℃〜210
℃で15分−1時間プリベークすることが好まし
い。 電子線露光装置を用い、基板上の一定面積を一
定の電流量で、露光時間を等比級数的に変えなが
ら10〜20カ所露光する。各露光部分について面
積、電流量、露光時間より、単位面積当りの電気
量(μc/cm2)を計算する。 次に基板を適当な現像液中に、一定温度で一定
時間浸漬し、このあと非溶媒中に浸してリンスす
る。乾燥後、基板をポストベークする。ポストベ
ーク温度は一般にポリマのガラス転移温度より低
い温度で行なうことが好ましい。 基板上の露光部分及び未露光部分の膜厚を表面
粗さ計等で測定する。横軸に電気量(露光量)、
縦軸に露光部分の膜厚をプロツトし感度曲線を作
成する。この感度曲線が横軸と交わる時を感度と
する。 露光前の膜厚も測定しておき、現像後の未露光
部分の膜厚と比較して減少分を膜減りとする。 一般にポジ型感放射線レジストにおいては、露
光部分のポリマは主鎖切断を起し分子量が低下し
ている。これを現像すると露光部分のポリマは未
露光部分のポリマより速い速度で溶解し、従つて
レジストパターンが形成される。このように現像
時には未露光部分の膜厚は必ず、現像前に比べて
減少する。 ポジ型感放射線レジストの感度は、現像液の種
類、温度、現像時間、レジスト膜厚によつて変化
しこれらを記載しないと感度のみのデータは意味
がない。すなわち、長い現像時間、高い現像温度
を用いると感度は見かけ上高くなるが、膜減りも
大きくなる。 〔実施例〕 次に実施例にて本発明を詳述する。 実施例 1 2,2,2−トリフルオロエチルα−クロロア
クリラート200g、アゾビスイソブチロニトリル
6.9g、t−ブタノール800mlを2三ツ口フラス
コに仕込み、かくはんして溶解させた。フラスコ
内を窒素で置換した後、50℃の湯浴内で6.5時間
静置した。 得られる寒天状かたまりを、アセトン3に溶
解する。ポリマ溶液をメタノール4、水2の
混合物中に注ぎ、ポリマを再沈する。析出するポ
リマを取し、メタノール−水2:1で洗浄後真
空乾燥器内で乾燥した。 ポリマ粉末186gが得られた。メチルエチルケ
トン中、25℃での極限粘度は1.00であつた。同様
の重合を5回行なつた場合の収量及び極限粘度は
次の通りであつた。190g・1.01,188g・1.02,
192g・0.99,189g・0.98,191g・1.00。 ポリマ粉末6.2gを取りメチルセロソルブアセタ
ート94gに溶解しレジスト溶液を調製した。レジ
スト溶液をクロロブランクス上に1000回転でスピ
ンコートし、200℃で30分間プリベークした。レ
ジスト膜厚は5560Åであつた。 電子線露光装置を用い、加速電圧20kv、電流
量1ηAで0.45×0.6mmの面積を順次露光時間を変え
て走査露光した。 基板をメチルイソブチルケトン−イソプロパノ
ール8:2の現像液中、25℃、かくはん下に5分
間浸漬し、次いでイソプロパノールに30秒間浸漬
した。 未露光部分および露光部分のレジスト膜厚を順
次測定し、感度曲線を作成した。感度は4.7μc/
cm2、未露光部分の膜減りは100Åであつた。 比較例 1 実施例1と同様の重合をかくはん下に行なつ
た。5回重合を行なつた場合の収量及び極限粘度
は次の通りであつた。 138g・0.77,146g・0.59,151g・0.83,155g・
0.79,160g・0.86。 実施例 2 2,2,2−トリフルオロエチルα−クロロア
クリラート160g、フエニルα−クロロアクリラ
ート40g、アゾビスイソブチロニトリル3.28g、n
−ヘキサン1600mlを5三ツ口フラスコに仕込み
かくはんして溶解させた。フラスコ内を窒素で置
換した後、50℃の湯浴内で8時間静置した。 イソプロパノール1を加え攪拌した後、粉末
ポリマを取し、イソプロパノールで洗浄した。
ポリマをイソプロパノール4中に加え、30分間
放置した後、過した。得られた白色粉末を真空
乾燥器内で乾燥すると、189gのポリマ粉末が得
られた。メチルエチルケトン中25℃での極限粘度
は1.21であつた。 同様の重合を5回行なつた場合の収量及び極限
粘度は次の通りであつた。 188g・1.18,182g・1.19,190g・1.22,191g・
1.21,180g・1.21。 ポリマ粉末8.0gを取りメチルセロソルブアセタ
ート92gに溶解しレジスト溶液を調製した。レジ
スト溶液をクロロブランクス上に2900回転でスピ
ンコートし、200℃で30分間プリベークした。レ
ジスト膜厚は5640Åであつた。 電子線露光装置を用い、加速電圧20kv、電流
量1ηAで、0.45×0.6mmの面積を順次露光時間を変
えて走査露光した。 基板をメチルイソブチルケトン−イソプロパノ
ール7:3の現像液中、25℃で撹拌下5分間浸漬
し、次いでイソプロパノールに30秒間浸漬した。 未露光部分および露光部分のレジスト膜厚を順
次測定し、感度曲線を作成した。感度は6.8μc/
cm2未露光部分の膜減りは270Åであつた。 比較例 2 実施例2と同様の重合を撹拌下に行なつた。5
回重合を行なつた場合の収量及び極限粘度は次の
通りであつた。 140g・0.67,143g・0.84,150g・0.79,160g・
1.03,150g・0.79。 実施例 3 下記の構造式で示される14種類のモノマ(〜
)を用い、これらを表−1に示す条件でそれ
ぞれ静置重合を行なつた。得られたポリマおよび
コポリマをそれぞれ実施例1および実施例2に準
じて粉末化、レジスト膜形成を行ない、膜厚、膜
減り、感度およびドライエツチング耐性を測定
し、結果を表−1に示した。 なお表−1において、重合の湯浴温度:50℃、
現像温度:25℃を用いた。又表−1において、
AIBN,BPO,〔η〕およびドライエツチング耐
性とは次のものをいう。 AIBN:アゾビスイソブチロニトリル BPO:過酸化ベンゾイル 〔η〕:極限粘度 ドライエツチング耐性:テトラフルオロメタン −酸素60:40のエツチングガスを用い
1Torr200wでエツチングした場合のエツチング
速度をポリ(2,2,2−トリフルオロエチルα
−クロロアクリラート)の場合を1.00として示
す。
クリラート)ないしそのコポリマの製造法に関す
るものである。 さらに詳しくは、高感度、高解像度のポジ型感
放射線レジストである、ポリ(フルオロアルキル
α−クロロアクリラート)ないしそのコポリマー
の製造法に関するものである。 〔従来技術〕 従来、IC,LSI等の製造のための微細パターン
の形成方法としては、紫外線に感光するフオトレ
ジストを利用する方法が広く実用化されている。
しかし最近LSI等の高密度化、高集積化の要請か
ら、電子線、X線、イオンビーム等、光より波長
の短い放射線を用いる技術が開発され、これに伴
なつて、高感度、高解像度の感放射線レジストが
要望されている。 従来、ポジ型感放射線レジストとしては、メタ
クリラート系ポリマが多く用いられているが、一
般に感度が高ければガラス転位点が低く、耐熱性
に劣るという欠点を有していた。 一方、島崎ら(特公昭57−969号公報)によつ
て提案されたポリ(フルオロアルキルα−クロロ
アクリラート)およびそのコポリマは極めて高感
度で、かつガラス転移点が高く、感放射線レジス
トとして有用な物質である。 従来ビニル系モノマのラジカル重合としては、
溶媒を用いない塊状重合、モノマおよび生成ポリ
マを溶解する溶媒を用いる溶液重合、モノマを溶
解し、ポリマは溶解しない溶媒を用いる沈殿重合
等が知られている。 本発明者は感放射線レジストとして用い得る、
ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラー
ト)およびそのコポリマを上記各種のラジカル重
合で製造すべく検討した所、以下の結果が判明し
た。 通常感放射線レジストは微細なパターンを描く
ために用いられるので、製造工程において0.2μ又
は0.4μのメンブランフイルターでの過が不可欠
である。ポリ(フルオロアルキルα−クロロアク
リラート)またはそのコポリマの製造を塊状重合
または溶液重合で行なつた場合には、溶媒に不溶
のゲルが多量に生成し、メンブランフイルターで
の過がきわめて困難となる。 また塊状重合および溶液重合においては、生成
するポリマは流動性のない固体または流固体とな
り反応装置からの取り出しが、困難となる。もち
ろん、収率の低い状態であると流動性は得られる
が経済性に劣るプロセスとなる。 さらに溶液重合においては、重合時間が極めて
長いという欠点を有している。 次に沈殿重合について述べる。通常沈殿重合は
かくはん下に行われるが、ポリ(フルオロアルキ
ルα−クロロアクリラート)およびそのコポリマ
の製造においては、重合をかくはん下に行なうと
収率、分子量共に低下し、しかも再現性が失われ
ることが判明した。 〔発明が解決しようとする問題点〕 本発明は、かかる従来技術の諸欠点に鑑み創案
されたもので、その目的は上記ポリ(フルオロア
ルキルα−クロロアクリラート)およびそのコポ
リマを収率良く、かつ再現性良く製造する方法を
提供することにある。 〔問題点を解決するための手段〕 すなわち本発明は、フルオロアルキルα−クロ
ロアクリラート系モノマの1種又は2種以上を、
該モノマは溶解するが、生成ポリマは溶解しない
溶媒中でラジカル静置重合することを特徴とする
ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラー
ト)の製造法およびフルオロアルキルα−クロロ
アクリラート系モノマの1種又は2種以上と他の
ビニル系モノマの1種又は2種以上とを上記モノ
マは溶解するが、生成ポリマは溶解しない溶媒中
でラジカル静置重合することを特徴とするポリ
(フルオロアルキルα−クロロアクリラート)コ
ポリマの製造法である。 すなわち本発明は、モノマは溶解し、生成ポリ
マは溶解しない溶媒中、ラジカル重合により、ポ
リ(フルオロアルキルα−クロロアクリラート)
及びそのコポリマを静置重合により製造するもの
で、静置沈殿重合を同一反応装置で行なうことに
より分子量、収率の再現性が極めて良いうえ、塊
状重合、溶液重合の場合のように溶媒に不溶のゲ
ルが生成することが無く、溶液重合に比べ重合時
間は1/3〜1/20となすことができる。 本発明に用いる重合溶液としては、モノマを溶
解し、生成ポリマを溶解しないものであれば、い
かなるものでも良い。通常はメタノール、エタノ
ール、イソプロパノール、n−プロパノール、n
−ブタノール、イソブタノール、t−ブタノール
等の低級アルコール、石油エーテル、石油ベンジ
ン、n−ペンタン、n−ヘキサン、n−ヘプタ
ン、シクロヘキサン等の炭化水素、ベンゼン、ト
ルエン、キシレン、エチルベンゼン等の芳香族炭
化水素、ジクロロメタン、クロロホルム、ジクロ
ロエタン、トリクロロエタン、トリクロロエチレ
ン、等のハロゲン下炭化水素が挙げられる。 重合に用いる溶媒の量は通常モノマに対し1〜
20倍量、好ましくは2〜10倍量が用いられる。溶
媒の量は少ないと重合時間が短くなるが、重合熱
の発生は著しくなり制御が困難となる。逆に溶媒
が多いと、重合時間は長くなるが、重合の制御が
し易くなる。 本発明の方法は静置重合であるため重合熱を除
く方法に注意する必要がある。すなわち通常の反
応容器を用いてスケールアツプした場合は、体積
当りの表面積は小さくなるため、重合中に中心部
分の温度が異常に上昇する。従つて重合物あたり
一定以上の伝熱面積を有する反応装置を用いるこ
とが望ましい。重合物当りの伝熱面積は通常0.1
cm2/cm3以上、望ましくは0.2cm2/cm3以上が好まし
い。反応器の材質としてはステンレス、チタン、
グラスライニング、ガラス等が用いられるが、水
で測定した場合の総括伝熱係数は30以上、好まし
くは50以上である。 重合物当り一定の伝熱面積を得るための反応装
置の形は特に制限されないが、パイプ型、直方形
型、内部に放熱用蛇管を有する型、内部に放熱板
を有する型、等が考えられる。あるいは大型の反
応装置に少量の反応物を入れ、伝熱面積を確保す
ることも可能である。 静置重合であるため反応容器内でのある程度の
温度の不均一は避けられないが、温度のバラツキ
は15℃以下、好ましくは10℃以下におさえること
が好ましい。 重合温度は用いる開始剤、溶媒により当然異な
るが通常は30〜90℃、好ましくは40〜70℃が用い
られる。 反応時間も当然のことながら他の反応条件、す
なわち重合温度、開始剤の種類及び量、溶媒の種
類及び量、用いるモノマの種類及び量により異な
るが通常は2〜30時間、好ましくは5〜20時間で
ある。また重合時間は重合の収率が90〜97%にな
るよう設定することが好ましい。 重合に用いるラジカル開始剤としては、通常の
ラジカル重合に用いられるものであれば特に制限
はないが、過酸化ジアセチル、過酸化ジプロピオ
ニル、過酸化ジブチリル、過酸化ジベンゾイル、
等の過酸化ジアシル類、2,2′−アゾビス(プロ
オニトリル)、2,2′−アゾビス(ブチロニトリ
ル)、2,2′−アゾビス(バレロニトリル)、2,
2′−アゾビス(3−メチルブチロニトリル)、2,
2′−アゾビス(2−メチルプロオニトリル)、2,
2′−アゾビス(メチル−2−メチル−プロピオナ
ート)、1,1′−アゾビス(1−フエニルエタ
ン)、アゾビスジフエニルメタン等のアゾビス類
が好ましい。 本発明により製造されるポジ型感放射線レジス
トとしては、 (1) 下記一般式で示されるモノマのホモポリマー (R1は一個以上の水素原子をフツ素原子で置
換したアルキル基)、 (2) 上記一般式()のアクリラート系モノマの
群より選ばれた二種以上のモノマよりなるコポリ
マ、 (3) 上記一般式()のアクリラート系モノマと
他のビニル系モノマよりなるコポリマに大別され
る。 上記(1)のポジ型感放射線レジストとしては、式
()においてアルキル基(R)が2位以上の位
置に1個以上のフツ素原子を有するアルキル基で
あるものが用いられる。好ましくは炭素数2〜10
個のフルオロアルキル基である。例えば2,2,
2−トリフルオロエチル、1−トリフルオロメチ
ルエチル、ヘキサフルオロプロピル、3,3,3
−トリフルオロプロピル、2,2,3,3,3−
ペンタフルオロプロピル、2,2,3,3−テト
ラフルオロプロピル、2,2,3,3,4,4,
4−ペプタフルオロブチル、2,2,3,4,
4,4−ヘキサフルオロブチル、2,2,3,
4,4,4−ヘキサフルオロ−1−メチルブチ
ル、1−トリフルオロメチル−1−メチルエチ
ル、2,2,3,3,3−ペンタフルオロ−1,
1−ジメチルプロピル、2,2,3,3,4,
4,4−ペプタフルオロ−1,1−ジメチルブチ
ル等であるがこれらに限られたものではない。 上記(2)のポジ型感放射線レジストとしては、(1)
に述べたモノマー()の共重合体であり、組成
等に特に制限はない。 上記(3)のピジ型感放射線レジストとしては、(1)
に述べたポリマと他のビニル系モノマの1種又は
2種以上とのコポリマ、あるいは上記(2)に述べた
ポリマと他のビニル系モノマの1種又は2種以上
とのコポリマである。 他のビニルモノマとしては、 (R2はメチル基又は水素原子、Arは芳香族基)
にて表わされる芳香族ビニル系モノマ、例えばス
チレン、α−メチルスチレン、ビニルナフタレ
ン、ビニルピリジン、ビニルトルエン、ビニルカ
ルバゾールおよびその芳香環上にハロゲン、メト
キシ、炭素数4以下のアルキル等の置換基を有す
る誘導体等、 (R3はメチル基又は水素原子、R4はアルキル
基、アリール基又はアラルキル基)にて表わされ
るビニルエーテル系モノマ、例えば、メチルビニ
ルエーテル、エチルビニルエーテル、n−ブチル
ビニルエーテル等、 (R5はメチル基又は水素原子、R6はアルキル
基、アリール基又はアラルキル基)にて表わされ
るビニルケトン系モノマ、例えばメチルビニルケ
トン、メチルイソプロピルケトン等、 (R7は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル)にて表わされるシアノアクリ
ラート系モノマ、例えばアクリロニトリル、メタ
クリロニトリル、2−クロロアクリロニトリル
等、 (R8は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシル基)にて表わ
されるアクリルアミド系モノマ、例えばアクリル
アミド、メタクリルアミド、2−クロロアクリル
アミド等、 (R9は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシル基、シアノ
基、カルボキシメチル基にて表わされるアクリル
酸系モノマ、例えば、アクリル酸、メタクリル
酸、2−クロロメタクリル酸、2−シアノアクリ
ル酸、イタコン酸等、 (R10は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシル基、シアノ
基、カルボキシメチル基、R11はアルキル基、ア
リール基、アラルキル基) にて表わされるアクリル酸エステル系モノマ、例
えば、メチルアクリラート、エチルアクリラー
ト、イソプロピルアクリラート、n−プロピルア
クリラート、イソブチルアクリラート、n−ブチ
ルアクリラート、ベンジルアクリラート、フエニ
ルアクリラート、メチル−α−クロロアクリラー
ト、エチルα−クロロアクリラート、イソプロピ
ルα−クロロアクリラート、n−プロピルα−ク
ロロアクリラート、イソブチルα−クロロアクリ
ラート、n−ブチルα−クロロアクリラート、ベ
ンジルα−クロロアクリラート、フエニルα−ク
ロロアクリラート、メチルメタクリラート、エチ
ルメタクリラート、イソプロピルメタクリラー
ト、n−プロピルメタクリラート、イソブチルメ
タクリラート、n−ブチルメタクリラート、ベン
ジルメタクリラート、フエニルメタクリラート、
2−シアノアクリラートおよびそのベンゼン環上
にハロゲン、メトキシ、炭素数4以下のアルキル
等の置換基を有する誘導体等、 (R12は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、カルボキシメチル基、シア
ノ基、カルボキシメチル基、R13はアルキル基、
アリール基又はアラルキル基)にて表わされるチ
オアクリラート系モノマ、例えばメチルチオメタ
クリラート、エチルチオメタクリラート等、 (R14は水素原子、メチル基、ハロゲン原子、
ハロゲン化メチル基、シアノ基、R15はアルキル
基、アリール基又はアラルキル基)にて表わされ
るビニルアセタート系モノマ、例えば、ビニルア
セタート、ビニルプロピオナート等が考えられる
が、これに限られるものではない。 なお、上記説明様、R4,R6,R11,R13および
R15のアルキル基とは炭素数1〜8のものをい
い、アリール基とはベンゼン環又はナフタリン環
を有するものをいい、アラルキル基とはベンジル
又はフエニルエチルをいう。 以上の内R2,R3,R5,R7,R8,R9,R10,
R12、R14が水素原子以外の基をもつもの、すな
わち、重合後4級炭素になるものが好ましい。ま
た水素原子以外の基のなかでハロゲン原子を持つ
ものが特に好ましい。 コモノマ中に占めるこれらビニル系モノマの割
合は50wt%以下にすることが好ましい。 コポリマにすることにより一般的に基板に対す
る接着性が向上し、芳香族系コモノマを共重合す
ることにより一般的にドライエツチング耐性を改
善することができる。 以上(1)(2)(3)で示されるポジ型感放射線レジスト
の分子量としては、メチルエチルケトン中25℃で
測定された極限粘度が、0.3〜3.0のもの、好まし
くは0.5〜2.0のものが用いられる。分子量が高い
方が、一般に感度は高くなり有利であるが、あま
り高いと、レジスト溶液としての溶液粘度が高く
なり、過が困難になる。またパターン形成時
に、基板への塗膜が困難になり、現像時の膨潤が
起りパターンに悪影響を及ぼす。 重合反応の後は、沈殿したポリマ粉末を取、
洗浄、乾燥するか、溶媒にいつたん溶解した後、
非溶媒中で再沈殿し、取、洗浄、乾燥する。 次に本発明のポジ型感放射線レジストの感度を
測定する方法を述べる。 まず、ポリマをメチルセロソルブアセタート、
シクロヘキサノン、n−ブチルアセタート等の適
当な溶媒に溶解した後、0.2〜0.4μのメンブラン
フイルターにて過しレジスト溶液を調製する。
このレジスト溶液を基板上にスピンナーを用いて
スピンコートし0.4〜1.0μの均一なレジスタ膜を
形成する。次に溶媒を除き、かつ基板との密着性
を向上させるためプリベーク処理を行なう。本発
明のポジ型感放射線レジストの場合は160℃〜210
℃で15分−1時間プリベークすることが好まし
い。 電子線露光装置を用い、基板上の一定面積を一
定の電流量で、露光時間を等比級数的に変えなが
ら10〜20カ所露光する。各露光部分について面
積、電流量、露光時間より、単位面積当りの電気
量(μc/cm2)を計算する。 次に基板を適当な現像液中に、一定温度で一定
時間浸漬し、このあと非溶媒中に浸してリンスす
る。乾燥後、基板をポストベークする。ポストベ
ーク温度は一般にポリマのガラス転移温度より低
い温度で行なうことが好ましい。 基板上の露光部分及び未露光部分の膜厚を表面
粗さ計等で測定する。横軸に電気量(露光量)、
縦軸に露光部分の膜厚をプロツトし感度曲線を作
成する。この感度曲線が横軸と交わる時を感度と
する。 露光前の膜厚も測定しておき、現像後の未露光
部分の膜厚と比較して減少分を膜減りとする。 一般にポジ型感放射線レジストにおいては、露
光部分のポリマは主鎖切断を起し分子量が低下し
ている。これを現像すると露光部分のポリマは未
露光部分のポリマより速い速度で溶解し、従つて
レジストパターンが形成される。このように現像
時には未露光部分の膜厚は必ず、現像前に比べて
減少する。 ポジ型感放射線レジストの感度は、現像液の種
類、温度、現像時間、レジスト膜厚によつて変化
しこれらを記載しないと感度のみのデータは意味
がない。すなわち、長い現像時間、高い現像温度
を用いると感度は見かけ上高くなるが、膜減りも
大きくなる。 〔実施例〕 次に実施例にて本発明を詳述する。 実施例 1 2,2,2−トリフルオロエチルα−クロロア
クリラート200g、アゾビスイソブチロニトリル
6.9g、t−ブタノール800mlを2三ツ口フラス
コに仕込み、かくはんして溶解させた。フラスコ
内を窒素で置換した後、50℃の湯浴内で6.5時間
静置した。 得られる寒天状かたまりを、アセトン3に溶
解する。ポリマ溶液をメタノール4、水2の
混合物中に注ぎ、ポリマを再沈する。析出するポ
リマを取し、メタノール−水2:1で洗浄後真
空乾燥器内で乾燥した。 ポリマ粉末186gが得られた。メチルエチルケ
トン中、25℃での極限粘度は1.00であつた。同様
の重合を5回行なつた場合の収量及び極限粘度は
次の通りであつた。190g・1.01,188g・1.02,
192g・0.99,189g・0.98,191g・1.00。 ポリマ粉末6.2gを取りメチルセロソルブアセタ
ート94gに溶解しレジスト溶液を調製した。レジ
スト溶液をクロロブランクス上に1000回転でスピ
ンコートし、200℃で30分間プリベークした。レ
ジスト膜厚は5560Åであつた。 電子線露光装置を用い、加速電圧20kv、電流
量1ηAで0.45×0.6mmの面積を順次露光時間を変え
て走査露光した。 基板をメチルイソブチルケトン−イソプロパノ
ール8:2の現像液中、25℃、かくはん下に5分
間浸漬し、次いでイソプロパノールに30秒間浸漬
した。 未露光部分および露光部分のレジスト膜厚を順
次測定し、感度曲線を作成した。感度は4.7μc/
cm2、未露光部分の膜減りは100Åであつた。 比較例 1 実施例1と同様の重合をかくはん下に行なつ
た。5回重合を行なつた場合の収量及び極限粘度
は次の通りであつた。 138g・0.77,146g・0.59,151g・0.83,155g・
0.79,160g・0.86。 実施例 2 2,2,2−トリフルオロエチルα−クロロア
クリラート160g、フエニルα−クロロアクリラ
ート40g、アゾビスイソブチロニトリル3.28g、n
−ヘキサン1600mlを5三ツ口フラスコに仕込み
かくはんして溶解させた。フラスコ内を窒素で置
換した後、50℃の湯浴内で8時間静置した。 イソプロパノール1を加え攪拌した後、粉末
ポリマを取し、イソプロパノールで洗浄した。
ポリマをイソプロパノール4中に加え、30分間
放置した後、過した。得られた白色粉末を真空
乾燥器内で乾燥すると、189gのポリマ粉末が得
られた。メチルエチルケトン中25℃での極限粘度
は1.21であつた。 同様の重合を5回行なつた場合の収量及び極限
粘度は次の通りであつた。 188g・1.18,182g・1.19,190g・1.22,191g・
1.21,180g・1.21。 ポリマ粉末8.0gを取りメチルセロソルブアセタ
ート92gに溶解しレジスト溶液を調製した。レジ
スト溶液をクロロブランクス上に2900回転でスピ
ンコートし、200℃で30分間プリベークした。レ
ジスト膜厚は5640Åであつた。 電子線露光装置を用い、加速電圧20kv、電流
量1ηAで、0.45×0.6mmの面積を順次露光時間を変
えて走査露光した。 基板をメチルイソブチルケトン−イソプロパノ
ール7:3の現像液中、25℃で撹拌下5分間浸漬
し、次いでイソプロパノールに30秒間浸漬した。 未露光部分および露光部分のレジスト膜厚を順
次測定し、感度曲線を作成した。感度は6.8μc/
cm2未露光部分の膜減りは270Åであつた。 比較例 2 実施例2と同様の重合を撹拌下に行なつた。5
回重合を行なつた場合の収量及び極限粘度は次の
通りであつた。 140g・0.67,143g・0.84,150g・0.79,160g・
1.03,150g・0.79。 実施例 3 下記の構造式で示される14種類のモノマ(〜
)を用い、これらを表−1に示す条件でそれ
ぞれ静置重合を行なつた。得られたポリマおよび
コポリマをそれぞれ実施例1および実施例2に準
じて粉末化、レジスト膜形成を行ない、膜厚、膜
減り、感度およびドライエツチング耐性を測定
し、結果を表−1に示した。 なお表−1において、重合の湯浴温度:50℃、
現像温度:25℃を用いた。又表−1において、
AIBN,BPO,〔η〕およびドライエツチング耐
性とは次のものをいう。 AIBN:アゾビスイソブチロニトリル BPO:過酸化ベンゾイル 〔η〕:極限粘度 ドライエツチング耐性:テトラフルオロメタン −酸素60:40のエツチングガスを用い
1Torr200wでエツチングした場合のエツチング
速度をポリ(2,2,2−トリフルオロエチルα
−クロロアクリラート)の場合を1.00として示
す。
【表】
【表】
【表】
【表】
本発明は上述のごとく構成したので、高純度の
ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラー
ト)およびそのコポリマを収率良く、安定に、し
かも経済的に得ることができるという利点を有す
る。
ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラー
ト)およびそのコポリマを収率良く、安定に、し
かも経済的に得ることができるという利点を有す
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 フルオロアルキルα−クロロアクリラート系
モノマの1種又は2種以上を、該モノマは溶解す
るが、生成ポリマは溶解しない溶媒中でラジカル
静置重合することを特徴とするポリ(フルオロア
ルキルα−クロロアクリラート)の製造法。 2 フルオロアルキルα−クロロアクリラート
が、2,2,2−トリフルオロエチルα−クロロ
アクリラートである特許請求第1項記載のポリ
(フルオロアルキルα−クロロアクリラート)の
製造法。 3 フルオロアルキルα−クロロアクリラート系
モノマの1種又は2種以上と他のビニル系モノマ
の1種又は2種以上とを、上記モノマは溶解する
が、生成ポリマは溶解しない溶媒中でラジカル静
置重合することを特徴とするポリ(フルオロアル
キルα−クロロアクリラート)コポリマの製造
法。 4 他のビニル系モノマが、メタクリル酸、ベン
ジルメタクリラート又はそのベンゼン環上に置換
基を有する誘導体、ベンジルα−クロロアクリラ
ート又はそのベンゼン環上に置換基を有する誘導
体、フエニルメタクリラート又はそのベンゼン環
上に置換基を有する誘導体、フエニルα−クロロ
アクリラート又はそのベンゼン環上に置換基を有
する誘導体、スチレン又はそのベンゼン環上に置
換基を有する誘導体、α−メチルスチレン又はそ
のベンゼン環上に置換基を有する誘導体あるいは
メタクリロニトリルの群から選ばれた少なくとも
1種である特許請求の範囲第3項記載のポリ(フ
ルオロアルキルα−クロロアクリラート)の製造
法。 5 フルオロアルキルα−クロロアクリラートが
2,2,2−トリフルオロエチルα−クロロアク
リラートである特許請求の範囲第4項記載のポリ
(フルオロアルキルα−クロロアクリラート)コ
ポリマの製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1094185A JPS61170735A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラ−ト)ないしそのコポリマの製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1094185A JPS61170735A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラ−ト)ないしそのコポリマの製造法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61170735A JPS61170735A (ja) | 1986-08-01 |
| JPH0436167B2 true JPH0436167B2 (ja) | 1992-06-15 |
Family
ID=11764233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1094185A Granted JPS61170735A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | ポリ(フルオロアルキルα−クロロアクリラ−ト)ないしそのコポリマの製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61170735A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62223750A (ja) * | 1986-03-26 | 1987-10-01 | Toray Ind Inc | 放射線感応ポジ型レジストおよび該レジスト組成物 |
| JP4484690B2 (ja) * | 2004-12-21 | 2010-06-16 | ダイセル化学工業株式会社 | フォトレジスト用樹脂の製造方法 |
| JP6801679B2 (ja) * | 2016-01-29 | 2020-12-16 | 日本ゼオン株式会社 | 重合体、ポジ型レジスト組成物、およびレジストパターン形成方法 |
| JP6935669B2 (ja) * | 2016-12-27 | 2021-09-15 | 日本ゼオン株式会社 | レジストパターン形成方法 |
| US11644752B2 (en) | 2016-12-27 | 2023-05-09 | Zeon Corporation | Polymer, positive resist composition, and method of forming resist pattern |
| JP6958039B2 (ja) * | 2017-07-06 | 2021-11-02 | 日本ゼオン株式会社 | レジスト膜形成方法および積層体の製造方法 |
| JP6958040B2 (ja) * | 2017-07-06 | 2021-11-02 | 日本ゼオン株式会社 | 積層体 |
| US11402753B2 (en) * | 2017-09-29 | 2022-08-02 | Zeon Corporation | Positive resist composition, resist film formation method, and laminate manufacturing method |
| JP7013900B2 (ja) * | 2018-02-02 | 2022-02-01 | 日本ゼオン株式会社 | ポジ型レジスト組成物、レジスト膜形成方法、及び積層体の製造方法 |
| JP7207332B2 (ja) * | 2018-02-05 | 2023-01-18 | 日本ゼオン株式会社 | レジストパターン形成方法 |
| CN112368308B (zh) * | 2018-09-25 | 2023-01-13 | 日本瑞翁株式会社 | 共聚物和正型抗蚀剂组合物 |
| KR20230029619A (ko) * | 2020-06-22 | 2023-03-03 | 니폰 제온 가부시키가이샤 | 공중합체, 포지티브형 레지스트 조성물, 및 레지스트 패턴 형성 방법 |
| JPWO2023189586A1 (ja) * | 2022-03-29 | 2023-10-05 | ||
| KR20250164193A (ko) * | 2023-03-30 | 2025-11-24 | 니폰 제온 가부시키가이샤 | 공중합체, 포지티브형 레지스트 조성물, 및 레지스트 패턴 형성 방법 |
-
1985
- 1985-01-25 JP JP1094185A patent/JPS61170735A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61170735A (ja) | 1986-08-01 |
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