JPH0436422A - 焼結原料の造粒方法 - Google Patents
焼結原料の造粒方法Info
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- JPH0436422A JPH0436422A JP14258590A JP14258590A JPH0436422A JP H0436422 A JPH0436422 A JP H0436422A JP 14258590 A JP14258590 A JP 14258590A JP 14258590 A JP14258590 A JP 14258590A JP H0436422 A JPH0436422 A JP H0436422A
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Landscapes
- Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は焼l!原料の造粒方法に係り、さらに詳しくは
、鉄鉱石などの焼結原料をDL式焼結機に供給してm結
鉱を焼成する際、tR帖原料の通気性を改善する焼結原
料の造粒方法に係る。
、鉄鉱石などの焼結原料をDL式焼結機に供給してm結
鉱を焼成する際、tR帖原料の通気性を改善する焼結原
料の造粒方法に係る。
従 来 の 技 術
第12図は従来例のDL式焼結機の全体フロシートを示
すものであって、焼結原料配合槽1には、焼結原料(粉
鉱石、石灰石、粉コークス、生石灰および返鉱なと)が
収納されており、配合槽下部に設けられたコンスタント
フィーダ2により定量切出された後、ベルトコンベヤ3
上で多l!楡み配合される。その配合原料はドラム型ミ
キサ4にて4〜5%の水分を添加して混合造粒される。
すものであって、焼結原料配合槽1には、焼結原料(粉
鉱石、石灰石、粉コークス、生石灰および返鉱なと)が
収納されており、配合槽下部に設けられたコンスタント
フィーダ2により定量切出された後、ベルトコンベヤ3
上で多l!楡み配合される。その配合原料はドラム型ミ
キサ4にて4〜5%の水分を添加して混合造粒される。
造粒物は給鉱ホッパ14に搬送され、下部のドラムフィ
ーダ15および給鉱シュート16を介してOL′i!:
、m結機17のパレット18内へ装入される。その後点
火バーナ19にて原料中の粉コークスに着火し、焼結が
進行する。
ーダ15および給鉱シュート16を介してOL′i!:
、m結機17のパレット18内へ装入される。その後点
火バーナ19にて原料中の粉コークスに着火し、焼結が
進行する。
この場合、60μm未満の粒子が60%以上であるよう
な、微粉鉄鉱石(以下PFという)も使用される。PF
を多配合使用(主原料に対し10%以上)すると焼結ベ
ツドの通気を阻害し、生産性が低下する。あるいは通気
を改善するためのバインダ(生石灰、消石灰等)を多量
に必要とし、バインダコストが8諺する等の欠点がある
。
な、微粉鉄鉱石(以下PFという)も使用される。PF
を多配合使用(主原料に対し10%以上)すると焼結ベ
ツドの通気を阻害し、生産性が低下する。あるいは通気
を改善するためのバインダ(生石灰、消石灰等)を多量
に必要とし、バインダコストが8諺する等の欠点がある
。
上記の問題点を解決するため、PF(約60%)と核に
なる原料(返鉱または鉄鉱6約40%)をドラム型ミキ
サまたはディスク型ベレタイザ4にて事前造粒した後、
通常の焼結原料と混ぜてドラム型ミキサ4に装入し、混
合造粒するPFの核造粒法が提示されている(鉄と鋼:
Vol、71、&、10(1985)r焼結原料の造粒
とその役割」)。この場合は、核になる原料が必要であ
るため、同−PF配合比では、混合機の能力が1.4倍
大きいものが必要となり、設備コストが高くつくという
欠点がある。
なる原料(返鉱または鉄鉱6約40%)をドラム型ミキ
サまたはディスク型ベレタイザ4にて事前造粒した後、
通常の焼結原料と混ぜてドラム型ミキサ4に装入し、混
合造粒するPFの核造粒法が提示されている(鉄と鋼:
Vol、71、&、10(1985)r焼結原料の造粒
とその役割」)。この場合は、核になる原料が必要であ
るため、同−PF配合比では、混合機の能力が1.4倍
大きいものが必要となり、設備コストが高くつくという
欠点がある。
さらに別の方法として、通常の焼結原料(粉鉱石60%
)にPFを40%程度多配合し、ディスク型ペレタイザ
に供給して混合造粒し、5〜10I!lのベレットを作
る。その後微粉コークスを添加し、ベレットの外周に外
装コークスをまぶしたものを給鉱ホッパ14に搬送し、
焼結する方法が提示されている(鉄と鋼: VO1,7
3、kll(1987B高炉用新塊成鉱の製造条件に関
する基礎的研究及び品質の評価」)。
)にPFを40%程度多配合し、ディスク型ペレタイザ
に供給して混合造粒し、5〜10I!lのベレットを作
る。その後微粉コークスを添加し、ベレットの外周に外
装コークスをまぶしたものを給鉱ホッパ14に搬送し、
焼結する方法が提示されている(鉄と鋼: VO1,7
3、kll(1987B高炉用新塊成鉱の製造条件に関
する基礎的研究及び品質の評価」)。
この方法の欠点として、生ボールの見掛けの密度が小さ
(、ボールの圧潰強度が低いので、焼結ベツドまでの搬
送過程で壊れ易(、ベツドの通気を阻害する。また、成
品の平均粒径が8〜10闘と大きく外装コークスが必要
である。
(、ボールの圧潰強度が低いので、焼結ベツドまでの搬
送過程で壊れ易(、ベツドの通気を阻害する。また、成
品の平均粒径が8〜10闘と大きく外装コークスが必要
である。
さらに外装コークスがベレットの外周に均一に付着しな
い場合はボール内部が未溶融となり破砕工程で単一のベ
レットになるか返鉱になり易いという欠点がある。
い場合はボール内部が未溶融となり破砕工程で単一のベ
レットになるか返鉱になり易いという欠点がある。
一方、古い技術であるが、温式磨砕混練方式造粒成形法
(特公昭43−6256号公報)が知られており、ボー
ルミル、ロッドミルその他の温式磨砕混練機にて原料の
磨砕、水分調整、混線を行なった後、竪型、円筒型その
他の造粒機を用いて生ベレットを造粒するものである。
(特公昭43−6256号公報)が知られており、ボー
ルミル、ロッドミルその他の温式磨砕混練機にて原料の
磨砕、水分調整、混線を行なった後、竪型、円筒型その
他の造粒機を用いて生ベレットを造粒するものである。
この方法は旧来の湿式または乾式の磨砕工程と水分調整
混線工程とを′M潤状態で1工程で達成するものである
。この方法は設備の割に生産量が少なく、動力原単位が
大きく、現時点では経済性に乏しい。
混線工程とを′M潤状態で1工程で達成するものである
。この方法は設備の割に生産量が少なく、動力原単位が
大きく、現時点では経済性に乏しい。
そこで、本発明者等は上記問題を解決する方法としてさ
きに焼結原料に水を添加し、原料を圧密媒体を内蔵した
圧密可塑化混練機に装入し、振動加速度3g〜10Q(
Qは重力の加速度)を加えて加振圧密混練して可塑化状
態の混練フレクを形成させ、この混練原料を加振円筒型
造粒機内に装入し、造粒機の円筒軸を±10度の範囲の
勾配に傾斜させ、または振動加速度を3Q〜5Qの範囲
に調整のうえ原料を転動塊成化して、強固なミニペレッ
トを造粒し、この造粒後のミニペレットの粒径+101
1111のオーバーサイズ率を測定し、測定値を設定値
と比較し偏差値をもとに、混練機並びに造粒機の加振力
および添加水分を調整する焼結原料のオーバーサイズ率
制御方法を提案した。しかしながら、この方法によれば
焼結原料のオーバーサイズ率を制御され、強固なミニペ
レットを得ることは可能であるが、ミニペレットの粒径
を自動検出することができず、規定の造粒範囲への自動
制御がむずかしいという問題があった。
きに焼結原料に水を添加し、原料を圧密媒体を内蔵した
圧密可塑化混練機に装入し、振動加速度3g〜10Q(
Qは重力の加速度)を加えて加振圧密混練して可塑化状
態の混練フレクを形成させ、この混練原料を加振円筒型
造粒機内に装入し、造粒機の円筒軸を±10度の範囲の
勾配に傾斜させ、または振動加速度を3Q〜5Qの範囲
に調整のうえ原料を転動塊成化して、強固なミニペレッ
トを造粒し、この造粒後のミニペレットの粒径+101
1111のオーバーサイズ率を測定し、測定値を設定値
と比較し偏差値をもとに、混練機並びに造粒機の加振力
および添加水分を調整する焼結原料のオーバーサイズ率
制御方法を提案した。しかしながら、この方法によれば
焼結原料のオーバーサイズ率を制御され、強固なミニペ
レットを得ることは可能であるが、ミニペレットの粒径
を自動検出することができず、規定の造粒範囲への自動
制御がむずかしいという問題があった。
発明が解決しようとする課題
本発明者らは上記問題の解決を目的とし、具体的には、
焼結原料に圧密媒体を混入し円運動振動によってこれを
強力に加振することにより、高能率高生産」で品質の優
れた加振圧密混練を行ない、ざらに造粒用加振円筒型造
粒器を用いて口れを加振転動塊成化し焼結機用原料とす
る際に、このミニペレットの粒径を連続的に検出し規定
粒度範囲に自動制御することができる焼結原料の造粒方
法を提案することを目的とする。
焼結原料に圧密媒体を混入し円運動振動によってこれを
強力に加振することにより、高能率高生産」で品質の優
れた加振圧密混練を行ない、ざらに造粒用加振円筒型造
粒器を用いて口れを加振転動塊成化し焼結機用原料とす
る際に、このミニペレットの粒径を連続的に検出し規定
粒度範囲に自動制御することができる焼結原料の造粒方
法を提案することを目的とする。
課題を解決するための
手段ならびにその作用
本発明は、微粉焼結原料に水分を添加し、該原料を圧密
媒体の内蔵する圧密可塑化混練機に装入し、振動加速度
3g以上を加え混線フレークを形成させ、該可塑化状態
の混線フレークを加振円筒型造粒機内に装入し、振動加
速度3g以上を加え、該混練フレークを転動塊成化して
ミニペレットとし焼結原料として利用するに際し、転勤
塊成化後のミニペレット表閣部をレザ距離計で測定し、
ミニペレット粒径を検出し、該検出値に基づいて混練機
ならびに造粒機の振動加速度および/′または焼結原料
の添加水分を制御することを特徴とする。
媒体の内蔵する圧密可塑化混練機に装入し、振動加速度
3g以上を加え混線フレークを形成させ、該可塑化状態
の混線フレークを加振円筒型造粒機内に装入し、振動加
速度3g以上を加え、該混練フレークを転動塊成化して
ミニペレットとし焼結原料として利用するに際し、転勤
塊成化後のミニペレット表閣部をレザ距離計で測定し、
ミニペレット粒径を検出し、該検出値に基づいて混練機
ならびに造粒機の振動加速度および/′または焼結原料
の添加水分を制御することを特徴とする。
以下本発明の手段たる構成ならびにその作用について詳
しく説明すると、次の通りである。
しく説明すると、次の通りである。
本発明者等は焼結原料に水分を添加し、この焼結原料を
圧密可塑化混練機と加振円筒型造粒機とを用いて強固な
ミニペレットに造粒した後、このミニペレットの粒径を
自動検出し、PF銘柄、PF粗粒径PF供給量、生石灰
供給量、添加原料水分等の外乱要素を制御し、規定粒度
範囲への自動制御する方法について検討したところ、例
えば造粒機の排出部にミニペレットのサンプリング容器
を配置し、一定量収納した後、その表一部の凹凸をレー
ザー距離計からの距離の変化として捉え表一部の形状を
検出し、この形状検出後のデータ処理結果に基づいて製
造造粒径分布を判別し、これをフィードバックして(1
)設定粒径通りのものを製造すること、(2)設定粒径
オーバーサイズ率+10s以上の比率を設定値以下に抑
え込むことという2つのPID調節演算に基づき開ルー
プ制御すればよいという知見を得た。
圧密可塑化混練機と加振円筒型造粒機とを用いて強固な
ミニペレットに造粒した後、このミニペレットの粒径を
自動検出し、PF銘柄、PF粗粒径PF供給量、生石灰
供給量、添加原料水分等の外乱要素を制御し、規定粒度
範囲への自動制御する方法について検討したところ、例
えば造粒機の排出部にミニペレットのサンプリング容器
を配置し、一定量収納した後、その表一部の凹凸をレー
ザー距離計からの距離の変化として捉え表一部の形状を
検出し、この形状検出後のデータ処理結果に基づいて製
造造粒径分布を判別し、これをフィードバックして(1
)設定粒径通りのものを製造すること、(2)設定粒径
オーバーサイズ率+10s以上の比率を設定値以下に抑
え込むことという2つのPID調節演算に基づき開ルー
プ制御すればよいという知見を得た。
ざらに進んで研究開発を行ない、この研究に基づいて本
発明は成立したものである。
発明は成立したものである。
以下図面を参照しながら本発明を説明する。
なお、第1図は本発明を実施する際に用いられる造粒機
から造粒物収納箱に排出されたミニペレット表回部の粒
径分布をレーザー距離計により測定する場合の斜視図で
あり、第2図(イ)ならびに(ロ)はそれぞれレーザー
距離計による粒径分布の測定イメージを示し、(イ)は
粒度小の場合、(ロ)は粒度大の場合の説明図であり、
第3図(alは第2図の造粒物表置部の形状をレザー距
離計で検出する場合の原理を示し、(イ)は粒径小の場
合の説明図、(ロ)は粒径大の場合の説明図であり、第
3図(b)、(C)、(d)、(e)ならびに(flは
それぞれ造粒物をレーザ距離計で検出し、この検出デー
タに基づく粒径分布判別法を示し、(b)は極大値−極
小値法、(C)は微分パルス化法、(d)はFFT法、
telはサンプリングヒストクラム法、(f)はtel
のサンプリングヒストグラムの標準偏差グラフ法の各説
明図であり、第4図は粒径分布判別法の一例を示す粒径
と粒度分布との関係グラフであり、第5図は本発明の制
御方法の一例を示す説明図であり、第6図(a)は水分
をパラメータとした場合の振動加速度qと粒径+10@
のオバーサイズ率との関係グラフ、第6図(b)は振動
加速度qをパラメータとした場合の水分と粒径+101
II11のオーバーサイズ率との関係グラフであり、第
7図は本発明の実施する際に用いられる装置の一例を示
す系統説明図であり、第8図は粒径測定装置の処理タイ
ミングの説明図であり、第9図はPIDilllllを
起動させる仕組みの説明図であり、第10図はPVD演
算結果に不惑率を設ける場合の説明図であり、第11図
は従来例のPIDII@方法の説明図であり、第12図
は従来例の焼結機のフローの説明図である。
から造粒物収納箱に排出されたミニペレット表回部の粒
径分布をレーザー距離計により測定する場合の斜視図で
あり、第2図(イ)ならびに(ロ)はそれぞれレーザー
距離計による粒径分布の測定イメージを示し、(イ)は
粒度小の場合、(ロ)は粒度大の場合の説明図であり、
第3図(alは第2図の造粒物表置部の形状をレザー距
離計で検出する場合の原理を示し、(イ)は粒径小の場
合の説明図、(ロ)は粒径大の場合の説明図であり、第
3図(b)、(C)、(d)、(e)ならびに(flは
それぞれ造粒物をレーザ距離計で検出し、この検出デー
タに基づく粒径分布判別法を示し、(b)は極大値−極
小値法、(C)は微分パルス化法、(d)はFFT法、
telはサンプリングヒストクラム法、(f)はtel
のサンプリングヒストグラムの標準偏差グラフ法の各説
明図であり、第4図は粒径分布判別法の一例を示す粒径
と粒度分布との関係グラフであり、第5図は本発明の制
御方法の一例を示す説明図であり、第6図(a)は水分
をパラメータとした場合の振動加速度qと粒径+10@
のオバーサイズ率との関係グラフ、第6図(b)は振動
加速度qをパラメータとした場合の水分と粒径+101
II11のオーバーサイズ率との関係グラフであり、第
7図は本発明の実施する際に用いられる装置の一例を示
す系統説明図であり、第8図は粒径測定装置の処理タイ
ミングの説明図であり、第9図はPIDilllllを
起動させる仕組みの説明図であり、第10図はPVD演
算結果に不惑率を設ける場合の説明図であり、第11図
は従来例のPIDII@方法の説明図であり、第12図
は従来例の焼結機のフローの説明図である。
まず、本発明法のミニペレットの製造法がら説明する。
本発明法は圧密媒体と共に強力な円運動を行なう振動加
速度を焼結原料に付与することによって、圧密媒体が同
一方向に回転し、隣接する圧密媒体同士の面の相対逆方
向運動により、その圧密媒体間に存在する粒子に圧密、
剪断、転勤、圧潰作用を与え、粒子の内部水分の絞り出
し、表面水分の均−展拡作用をなす。その結果粒子群は
一体化すると共に可塑化する。この場合、振動加速度が
3g未層では、圧密可塑化が不十分で製造されるベレッ
トの乾燥密度が低く、10Qを越えると飽和して効果が
ないので上限を10Qとする。
速度を焼結原料に付与することによって、圧密媒体が同
一方向に回転し、隣接する圧密媒体同士の面の相対逆方
向運動により、その圧密媒体間に存在する粒子に圧密、
剪断、転勤、圧潰作用を与え、粒子の内部水分の絞り出
し、表面水分の均−展拡作用をなす。その結果粒子群は
一体化すると共に可塑化する。この場合、振動加速度が
3g未層では、圧密可塑化が不十分で製造されるベレッ
トの乾燥密度が低く、10Qを越えると飽和して効果が
ないので上限を10Qとする。
次に造粒工程では、圧密可塑化した原料に強力な加振に
よる転勤を与えると、充填密度の増大、表面への水分の
透出、この水分による付着、粒度成長が起こり、強力な
ミニペレットを得ることができる。この造粒工程の振動
加速度が3Q未満では、ミニペレットの粒径が小さく、
5Qを越えるとオーバーサイズが増加するので振動加速
度の範囲を限定した。
よる転勤を与えると、充填密度の増大、表面への水分の
透出、この水分による付着、粒度成長が起こり、強力な
ミニペレットを得ることができる。この造粒工程の振動
加速度が3Q未満では、ミニペレットの粒径が小さく、
5Qを越えるとオーバーサイズが増加するので振動加速
度の範囲を限定した。
第6図(a)は水分をパラメータとした場合の振動加速
度Qと粒径+1011IIlのオーバーサイズ率(以下
+10IIIIIlという)の関係グラフ、また、第6
図+11)は加振力Qをパラメータとした場合の水分と
+10IIIIIの関係グラフを示したものであり、振
動加速度qあるいは添加水分を調整することによって+
1011I11のオーバーサイズ率が制御可能であるこ
とを示している。
度Qと粒径+1011IIlのオーバーサイズ率(以下
+10IIIIIlという)の関係グラフ、また、第6
図+11)は加振力Qをパラメータとした場合の水分と
+10IIIIIの関係グラフを示したものであり、振
動加速度qあるいは添加水分を調整することによって+
1011I11のオーバーサイズ率が制御可能であるこ
とを示している。
水分添加量は原料の保有水分と造粒最適含水比との差を
添加すればよく0〜2%である。すなわち、粒度範囲の
広い焼結原料の全量を加振圧密する時は、原料の保有水
分5〜6%に対して、最適含水比は5〜7%に調整する
。また、PFのみを造粒する場合は、PFは8〜11%
の保有水分を有し、最適含水比は9〜12%である。
添加すればよく0〜2%である。すなわち、粒度範囲の
広い焼結原料の全量を加振圧密する時は、原料の保有水
分5〜6%に対して、最適含水比は5〜7%に調整する
。また、PFのみを造粒する場合は、PFは8〜11%
の保有水分を有し、最適含水比は9〜12%である。
上述のようにして製造されたミニペレットの内、粒径+
10IIllのオーバーサイズ率をレーザ距離計ならび
に粒度分布の各センサにより自動的に測定し、この測定
値と設定値との偏差値をもとに、混練機ならびに造粒機
の振動加速度および1.・または焼結原料添加水分を調
整することにより、焼結機に装入するミニペレットの粒
度分布を狭くすると共に設定粒径以上のものの比率を設
定値以下にするように粒度制御することが可能となり、
ミニペレットの強度の向上、通気性の改善を図ることが
でき、PFの多配合が可能となると共に返鉱発生量を少
なくし、原料コストを低減させることができる。また、
主排風様の省受電が期待できる。
10IIllのオーバーサイズ率をレーザ距離計ならび
に粒度分布の各センサにより自動的に測定し、この測定
値と設定値との偏差値をもとに、混練機ならびに造粒機
の振動加速度および1.・または焼結原料添加水分を調
整することにより、焼結機に装入するミニペレットの粒
度分布を狭くすると共に設定粒径以上のものの比率を設
定値以下にするように粒度制御することが可能となり、
ミニペレットの強度の向上、通気性の改善を図ることが
でき、PFの多配合が可能となると共に返鉱発生量を少
なくし、原料コストを低減させることができる。また、
主排風様の省受電が期待できる。
まず、第1図の符号21はサンプリング容器を示し、こ
のサンプリング容器21はベルトコンベヤ9の上方に設
けられた造粒機6の排出部から排出されるミニペレット
を一定量収納すると共に、ベルトコンベヤ9の上方に設
けられたレーザー距離計22によりサンプリング容器内
のミニペレット表目部の凹凸形状を検出する口とができ
るようにしたものであり、第2図にその測定イメージを
示す。
のサンプリング容器21はベルトコンベヤ9の上方に設
けられた造粒機6の排出部から排出されるミニペレット
を一定量収納すると共に、ベルトコンベヤ9の上方に設
けられたレーザー距離計22によりサンプリング容器内
のミニペレット表目部の凹凸形状を検出する口とができ
るようにしたものであり、第2図にその測定イメージを
示す。
この粒径測定原理は第3図(a)に示すようにミニペレ
ット表目部の凹凸をレーザー距離計からの距離の変化と
して捉え、表■部の形状を検出する。この形状検出後の
データ処理は例えば第3図(bJ、(C)、(d)、(
elならびに(flに示す粒径判別法に従って粒径大と
粒径小の粒度分布を対比し、その粒径分布を知ることが
でき、さらにこれらデータをフーリエ交換し、パワスペ
クトルを求めることにより粒径分布を得ることができる
。例えば、第4図に示すように予め求めた粒径と周波数
との対応をとることにより粒径分布を求めることができ
る。
ット表目部の凹凸をレーザー距離計からの距離の変化と
して捉え、表■部の形状を検出する。この形状検出後の
データ処理は例えば第3図(bJ、(C)、(d)、(
elならびに(flに示す粒径判別法に従って粒径大と
粒径小の粒度分布を対比し、その粒径分布を知ることが
でき、さらにこれらデータをフーリエ交換し、パワスペ
クトルを求めることにより粒径分布を得ることができる
。例えば、第4図に示すように予め求めた粒径と周波数
との対応をとることにより粒径分布を求めることができ
る。
さらに上記の粒径判別法について説明をすると、形状検
出後のデータを(b)凹部間の凸部の高さを求めた判別
する極大値−極小II法、(Cl凹部間のピッチを求め
てパルス信号を得、このパルス数で判別する微分パルス
化法、(dl凹凸のカーブを周波数として周波数比較で
粒径の判別する周波数比較fFFTI法、(イ)凹部間
のピッチのヒストグラムを求め、粒径を判別するサンプ
リングヒストグラム法、(flさらにtelによって求
められたヒストグラムからその標準偏差グラフを求め、
粒径の判別を行なうなどの方法があり、これらを適用す
る口とができる。
出後のデータを(b)凹部間の凸部の高さを求めた判別
する極大値−極小II法、(Cl凹部間のピッチを求め
てパルス信号を得、このパルス数で判別する微分パルス
化法、(dl凹凸のカーブを周波数として周波数比較で
粒径の判別する周波数比較fFFTI法、(イ)凹部間
のピッチのヒストグラムを求め、粒径を判別するサンプ
リングヒストグラム法、(flさらにtelによって求
められたヒストグラムからその標準偏差グラフを求め、
粒径の判別を行なうなどの方法があり、これらを適用す
る口とができる。
次に、粒径+10mm+のオーバーサイズ率(以下+1
0mという)の制御を第5図により詳しく説明する。
0mという)の制御を第5図により詳しく説明する。
じl+10mmが通常の調整範囲(点線で示す)内にあ
る場合 +110l1が点線の範囲内にある時は、振動加速度Q
は図示した制御範囲内でフィードバック制御を行なう。
る場合 +110l1が点線の範囲内にある時は、振動加速度Q
は図示した制御範囲内でフィードバック制御を行なう。
例えば、振動加速度Q、X点に在る時は振動加速度を+
△Q増加してやれば、+10mは設定値に制御されるこ
とになる。
△Q増加してやれば、+10mは設定値に制御されるこ
とになる。
+21+ 101111が点線の範囲外で低い時、例え
ば0点に在る場合 ■ 振動加速度Qを振動加速度Qの制御範囲の上限まで
大きくするよう制御する。その結果+10閣が点線の範
囲内に入れば、上述の(1)の制御を行なう。
ば0点に在る場合 ■ 振動加速度Qを振動加速度Qの制御範囲の上限まで
大きくするよう制御する。その結果+10閣が点線の範
囲内に入れば、上述の(1)の制御を行なう。
■ ■の制御を行なっても+101111が点線の範囲
より低い時、例えば◎貞に在る時は、現在設定されてい
る水分の特性との+10a差△Omに相当する水分Δm
を求め、+Δmの添加水量の調整を行なうと共に、振動
加速度Qを振動加速度qの制御範囲内に戻すように制御
する。その結果、+10mが点線の範囲内に入れば、上
述の(1)の制御を行なう。
より低い時、例えば◎貞に在る時は、現在設定されてい
る水分の特性との+10a差△Omに相当する水分Δm
を求め、+Δmの添加水量の調整を行なうと共に、振動
加速度Qを振動加速度qの制御範囲内に戻すように制御
する。その結果、+10mが点線の範囲内に入れば、上
述の(1)の制御を行なう。
なお、6mは図から次のようにして求められる。すなわ
ち、 △0=01o Oq、Δm=ΔQ m 、、/△0t
3)+10mmが点線の範囲外で高い時、例えば0点に
在る時は、 ■ 振動加速度qを振動加速度Qの制御範囲の下限まで
小さくするよう制御する。その結果+1011が点線の
範囲内に入れば、上述の(1)の制御を行なう。
ち、 △0=01o Oq、Δm=ΔQ m 、、/△0t
3)+10mmが点線の範囲外で高い時、例えば0点に
在る時は、 ■ 振動加速度qを振動加速度Qの制御範囲の下限まで
小さくするよう制御する。その結果+1011が点線の
範囲内に入れば、上述の(1)の制御を行なう。
■ ■の制御を行なっても+10mが点線の範囲より高
い時、例えばΔ点に在る時は、現在設定されている水分
の特性との+10閤差△Om + に相当する水分Δm
、を求め、−△m、の添加水量の調整を行なうと共に、
振動加速度Qを振動加速度Qの制御範囲内に戻すように
制御する。その結果、+11011Iが点線の範囲内に
入れば、上述の(1)の制御を行なう。
い時、例えばΔ点に在る時は、現在設定されている水分
の特性との+10閤差△Om + に相当する水分Δm
、を求め、−△m、の添加水量の調整を行なうと共に、
振動加速度Qを振動加速度Qの制御範囲内に戻すように
制御する。その結果、+11011Iが点線の範囲内に
入れば、上述の(1)の制御を行なう。
なお、Δm1は上述の6mと同様に図から次のようにし
て求められる。すなわち、 △0I=011−0.。、 Δm+ =△Om1/△01 ここに、添字9.10.11は含有水分量(%)を示し
ている。
て求められる。すなわち、 △0I=011−0.。、 Δm+ =△Om1/△01 ここに、添字9.10.11は含有水分量(%)を示し
ている。
以上、振動加速度qを調節して粒径+1011I11の
オーバーサイズ率の制御方法を説明したが、水分を調節
しても、振動加速度Qの場合と同様に、粒径+10關の
オーバーサイズ率を制御することができる。
オーバーサイズ率の制御方法を説明したが、水分を調節
しても、振動加速度Qの場合と同様に、粒径+10關の
オーバーサイズ率を制御することができる。
本発明では、粒径+10III11が振動加速度制御の
制御範囲内にあるときは、水分は一定とし、粒径+10
1I+1IIIIaの結果を振動加速度制御装置ヘカス
ケード制御し、振動加速度制御の制御範囲を越えた時、
水分制御の設定変更を行なう様にしている。また、振動
加速度制御と水分制御の一方を一定に制御し、他方のみ
をカスケード制御してもよい。
制御範囲内にあるときは、水分は一定とし、粒径+10
1I+1IIIIaの結果を振動加速度制御装置ヘカス
ケード制御し、振動加速度制御の制御範囲を越えた時、
水分制御の設定変更を行なう様にしている。また、振動
加速度制御と水分制御の一方を一定に制御し、他方のみ
をカスケード制御してもよい。
このようにして、振動加速度および添加水分を調整する
ことにより、ミニペレットの粒径十10IlllIlの
オーバーサイズ率を制御することができる。
ことにより、ミニペレットの粒径十10IlllIlの
オーバーサイズ率を制御することができる。
以上説明したようにレーザー距離計によりミベレットの
表回部の凹凸を自動検出してこの検出後のデータ処理を
粒度センサによりミニペレットの粒径を測定しPIDi
lltl11方法により粒径を制御することが可能であ
る。しかしながら、従来のPIDIIIt11方法では
次のような問題があある。すなわち、第11図の従来例
は連続制御系PIDIIJIah法であり、[PV]値
として連続値(オンラインリアルタイム処理)を得るセ
ンサ(アナログ系)が使用されていたが、近年、ディジ
タル計装の進歩ならびに高度な機能の要求により[PV
]値をサンプル値とするようになった。
表回部の凹凸を自動検出してこの検出後のデータ処理を
粒度センサによりミニペレットの粒径を測定しPIDi
lltl11方法により粒径を制御することが可能であ
る。しかしながら、従来のPIDIIIt11方法では
次のような問題があある。すなわち、第11図の従来例
は連続制御系PIDIIJIah法であり、[PV]値
として連続値(オンラインリアルタイム処理)を得るセ
ンサ(アナログ系)が使用されていたが、近年、ディジ
タル計装の進歩ならびに高度な機能の要求により[PV
]値をサンプル値とするようになった。
第7図に示す本発明では粒径測定装置がレザー距離計セ
ンサに基づく粒度センサから構成され、この粒度センサ
部がディジタル処理装置から成っている。従って、出力
はサンプル値系(バッチ処理)であり、主にセンシブル
でしかもデリケートな処理のため、不定期のバッチ処理
となる。すなわち、粒径測定装置からの出力[PV]値
が不定期のサンプル値であるのに対し、調節計部のPI
D演算部は連続系であるため、両者にギャップを生じ、
制御系の安定化は計ることはできない。なお、第11図
の制御1Iil差値[e]、操作量値[MV]は正常動
作(点II)を模して表現したものであって、実際には
発散、暴走することになる。
ンサに基づく粒度センサから構成され、この粒度センサ
部がディジタル処理装置から成っている。従って、出力
はサンプル値系(バッチ処理)であり、主にセンシブル
でしかもデリケートな処理のため、不定期のバッチ処理
となる。すなわち、粒径測定装置からの出力[PV]値
が不定期のサンプル値であるのに対し、調節計部のPI
D演算部は連続系であるため、両者にギャップを生じ、
制御系の安定化は計ることはできない。なお、第11図
の制御1Iil差値[e]、操作量値[MV]は正常動
作(点II)を模して表現したものであって、実際には
発散、暴走することになる。
そこで、本発明においては粒径測定装置の処理タイミン
グを優先独立させて、これに同期させてPID演算部を
走らせる処理方式により制御系の安定化を計るものであ
る。
グを優先独立させて、これに同期させてPID演算部を
走らせる処理方式により制御系の安定化を計るものであ
る。
次に、第8図の粒径測定装置の処理タイミングを示す説
明図により特徴ならびにその作用について説明する。図
面■のデータ状変信号をレザー距離計より成る粒径測定
装置に発信する。
明図により特徴ならびにその作用について説明する。図
面■のデータ状変信号をレザー距離計より成る粒径測定
装置に発信する。
この信号はディスクリートな信号であり、この信号出力
[PV]値の測定変更毎に発信するが、その発信幅は同
一信号が発信している間の[PV]値の各Tsacとす
る。プロセス量PVの測定値がサンプル値系であった場
合、すなわち、リアルタイムの連続測定でなくバッチ系
測定であった場合、当然制御系についてもサンプリング
制御でなければ制御系の安定化は計られない。
[PV]値の測定変更毎に発信するが、その発信幅は同
一信号が発信している間の[PV]値の各Tsacとす
る。プロセス量PVの測定値がサンプル値系であった場
合、すなわち、リアルタイムの連続測定でなくバッチ系
測定であった場合、当然制御系についてもサンプリング
制御でなければ制御系の安定化は計られない。
さらには、P[DilJlillの出力である操作信号
MV値とPVi!とは制御プロセス装置を介して同期タ
イミング化されていなければならない。そこで、第9図
に示す如く制御同期△Tsとプロセス量PVの測定同期
とを同期させ、さらには一致させてPV値の変化タイミ
ング毎PID制御を起動させる方式とするものでプロセ
スIPVの変化タイミングがPID制御のキック(外部
起動型)となる。図面の■に入力される■のデータ状変
信号をトリか−とし、この信号が発信している間(T5
ez)だけDIP演算部を走らせる。すなわち、常時演
算するのではなく、外部状況変化のみ演算し出力するこ
とになる。これは外部起動同期型の意味である。図面の
■のAD変換とホールド回路に入力される[PVJ値は
不定期サンプル値であるため、A/′D変換と小−4ド
回]:r [PV] −[PV’ J に示す様にアナ
ログ−ディジタル変換とホールド処理がされ、この[P
V]に基づいてP[D演算が行なわれる。図面の■のD
7A変換と積分形ホールド回路に入力される[MV’
]は■のブタ状信号と同期したパルス状のため、D
、’ A変換とホールド回路にて[MV’ ]→[MV
]に示す様にアナログ−ディジタル変換とホールド処理
が行なわれる。
MV値とPVi!とは制御プロセス装置を介して同期タ
イミング化されていなければならない。そこで、第9図
に示す如く制御同期△Tsとプロセス量PVの測定同期
とを同期させ、さらには一致させてPV値の変化タイミ
ング毎PID制御を起動させる方式とするものでプロセ
スIPVの変化タイミングがPID制御のキック(外部
起動型)となる。図面の■に入力される■のデータ状変
信号をトリか−とし、この信号が発信している間(T5
ez)だけDIP演算部を走らせる。すなわち、常時演
算するのではなく、外部状況変化のみ演算し出力するこ
とになる。これは外部起動同期型の意味である。図面の
■のAD変換とホールド回路に入力される[PVJ値は
不定期サンプル値であるため、A/′D変換と小−4ド
回]:r [PV] −[PV’ J に示す様にアナ
ログ−ディジタル変換とホールド処理がされ、この[P
V]に基づいてP[D演算が行なわれる。図面の■のD
7A変換と積分形ホールド回路に入力される[MV’
]は■のブタ状信号と同期したパルス状のため、D
、’ A変換とホールド回路にて[MV’ ]→[MV
]に示す様にアナログ−ディジタル変換とホールド処理
が行なわれる。
これによりプロセスには常時アナログ連続値が供給され
ることになる。図面の■のPID演算部においては下記
式(1)、(2)に従ってPID演算が行なわれる。
ることになる。図面の■のPID演算部においては下記
式(1)、(2)に従ってPID演算が行なわれる。
但し、PB:比例率(%)
T工:積分時間
TD:微分時間
△T:処理周期=PIGスキャン時間
ΔMV′7L=操作I M V ’xf) 1 回前(
7)操作量、MV′几−lがらの変化 量 ΔM V ’O几:微分項の変化量 1/α:微分ゲイン n:時系列的変化を示すサフィックス △MV’ 二△MVW不惑率 そのPID演算結果ΔMVルに不惑率(△MVDZA
)を第10図に示すように設は不惑率処理をする。更
に上記ディジタル値の6M V ’nをD2A変換して
△MVルとし、積分形ホールド回路にて積分処理しIV
I Vとする。すなわち、Σ△MVルーMV変化量△M
Vaを累積して操作量[M V ]とする。
7)操作量、MV′几−lがらの変化 量 ΔM V ’O几:微分項の変化量 1/α:微分ゲイン n:時系列的変化を示すサフィックス △MV’ 二△MVW不惑率 そのPID演算結果ΔMVルに不惑率(△MVDZA
)を第10図に示すように設は不惑率処理をする。更
に上記ディジタル値の6M V ’nをD2A変換して
△MVルとし、積分形ホールド回路にて積分処理しIV
I Vとする。すなわち、Σ△MVルーMV変化量△M
Vaを累積して操作量[M V ]とする。
実 施 例
第7図に示す装置を用いて焼結原料を造粒した。原料P
Fおよび生石灰は、添加水分と共に圧密媒体を内蔵した
圧密可塑化混練機5に装入され、加振力3Q〜10C]
を加えて加振圧密混練して可塑化状態のフレークを形成
さゼた後、混練原料を加振円筒からなる造粒機6に装入
し、円筒の円筒軸を+10度の範囲の勾配に傾斜させ、
または加振力を3Q〜5gの範囲に調整のうえ原料を転
動塊成化して、強固なミニペレットに造粒される。次い
で、粉鉱、生石灰、コークスおよび返鉱かうなる通常の
焼結原料を前述のミニペレットと共にドラムミキサーで
混合、再造粒の上、焼結機パレットに装入される。
Fおよび生石灰は、添加水分と共に圧密媒体を内蔵した
圧密可塑化混練機5に装入され、加振力3Q〜10C]
を加えて加振圧密混練して可塑化状態のフレークを形成
さゼた後、混練原料を加振円筒からなる造粒機6に装入
し、円筒の円筒軸を+10度の範囲の勾配に傾斜させ、
または加振力を3Q〜5gの範囲に調整のうえ原料を転
動塊成化して、強固なミニペレットに造粒される。次い
で、粉鉱、生石灰、コークスおよび返鉱かうなる通常の
焼結原料を前述のミニペレットと共にドラムミキサーで
混合、再造粒の上、焼結機パレットに装入される。
本発明方法は、上述の転動塊成化して造粒されたミニペ
レットの粒径+1011I11のオーバーサイズ率を測
定する。
レットの粒径+1011I11のオーバーサイズ率を測
定する。
この測定はベルトコンベア9上の焼結原料中、造粒原料
10の表層部をレーザー距離計22により測定しその表
層の凹凸を測定する(別途造粒原料をサンプルして測定
してもかまわない)。
10の表層部をレーザー距離計22により測定しその表
層の凹凸を測定する(別途造粒原料をサンプルして測定
してもかまわない)。
この測定はデータ処理順に記載したfb)〜(f)のい
ずれかの方法で行ない、この結果であるPV値は第7図
のPID調節演算部23を有す粒径コントロールに出力
されて目標filitsV)を達成するための操作II
MVが求められる。このMV値に基づいてVVVF制御
部24では、造粒機6の振動加速度Qを制御するもので
、その粒径の調節が行なわれる。図中5は、造粒機6へ
造粒原料を供給する混練機を示し、この混練機としては
振動型混練機が最適であり、混線に際し水分を供水弁7
から添加し、水分制御を行なった後、振動加速度を加え
混練した原料を造粒機6に送給する。造粒機6では上記
原料に対し円筒ドラム内で振動加速度を加えることによ
り造粒が行なわれ、粒径は振動力の速度Qを調節するこ
とにより変更が可能である。8は混練機5に原料を供給
するベルトコンベアを示し、と特に微粉原料を送給して
これを所定粒径に造粒し、焼結機へ供給するもので、9
は通常で用いられる原料を供給するベルトコンベアを示
す。
ずれかの方法で行ない、この結果であるPV値は第7図
のPID調節演算部23を有す粒径コントロールに出力
されて目標filitsV)を達成するための操作II
MVが求められる。このMV値に基づいてVVVF制御
部24では、造粒機6の振動加速度Qを制御するもので
、その粒径の調節が行なわれる。図中5は、造粒機6へ
造粒原料を供給する混練機を示し、この混練機としては
振動型混練機が最適であり、混線に際し水分を供水弁7
から添加し、水分制御を行なった後、振動加速度を加え
混練した原料を造粒機6に送給する。造粒機6では上記
原料に対し円筒ドラム内で振動加速度を加えることによ
り造粒が行なわれ、粒径は振動力の速度Qを調節するこ
とにより変更が可能である。8は混練機5に原料を供給
するベルトコンベアを示し、と特に微粉原料を送給して
これを所定粒径に造粒し、焼結機へ供給するもので、9
は通常で用いられる原料を供給するベルトコンベアを示
す。
なお、べLトロンベア8ならびに9へ原料を供給するた
めにそれぞれホッパ11を有しており、このホッパ11
にはトリッパコンベア12で原料が供給される。また、
本例ではベルトコンベア9の途中より造粒原料10が搭
載され、その表層の造粒原料10をレーザー距離・計2
2にて測定し、続いて原料はドラムミキサ13へ供給さ
れ、混合、一部の造粒が行なわれ、焼結機へ供給される
。
めにそれぞれホッパ11を有しており、このホッパ11
にはトリッパコンベア12で原料が供給される。また、
本例ではベルトコンベア9の途中より造粒原料10が搭
載され、その表層の造粒原料10をレーザー距離・計2
2にて測定し、続いて原料はドラムミキサ13へ供給さ
れ、混合、一部の造粒が行なわれ、焼結機へ供給される
。
以上述べたように本発明では造粒原料の粒径が簡単に測
定できるから、所定粒径の制御に簡単に反映でき、もっ
て焼結操業の最適化が実現され得る。
定できるから、所定粒径の制御に簡単に反映でき、もっ
て焼結操業の最適化が実現され得る。
〈発明の効果〉
以上詳しく説明したように、本発明は、微粉焼結原料に
水分を添加し、該原料を圧密媒体の内蔵する圧密可塑化
混練機に装入し、振動加速度3g以上を加え混練フレー
クを形成させ、該可塑化状態の混線フレークを加振円筒
型造粒機内に装入し、振動加速度3g以上を加え、該混
線フレークを転勤塊成化してミニペレットとし焼結原料
として利用するに際し、転動塊成化後のミニペレット表
層部をレーザ距離計で測定し、ミニペレット粒径を検出
し、該検出値に基づいて混練機ならびに造粒機の振動加
速度および、/または焼結原料の添加水分を制御するこ
とを特徴とする。
水分を添加し、該原料を圧密媒体の内蔵する圧密可塑化
混練機に装入し、振動加速度3g以上を加え混練フレー
クを形成させ、該可塑化状態の混線フレークを加振円筒
型造粒機内に装入し、振動加速度3g以上を加え、該混
線フレークを転勤塊成化してミニペレットとし焼結原料
として利用するに際し、転動塊成化後のミニペレット表
層部をレーザ距離計で測定し、ミニペレット粒径を検出
し、該検出値に基づいて混練機ならびに造粒機の振動加
速度および、/または焼結原料の添加水分を制御するこ
とを特徴とする。
本発明の効果を列記すると次の通りである。
■ミニペレット内の粉体粒子の充填度が密になり、生ミ
ニペレット、乾燥ミニペレットおよび焼成ミニペレット
の強度が向上し、焼結時の通気性が改善され、主排風機
の電力経費の節減が可能となる。
ニペレット、乾燥ミニペレットおよび焼成ミニペレット
の強度が向上し、焼結時の通気性が改善され、主排風機
の電力経費の節減が可能となる。
■焼結時の通気性が改善されるために、PFを多量に配
合することが可能となり、原料コストの低減を図ること
ができる。
合することが可能となり、原料コストの低減を図ること
ができる。
(l+ミニペレットの造粒径が自動検出され、規定造粒
範囲への自動コントロールができ、PF銘柄、PF粗粒
径PF供給量、生石灰供給量、原料水分等の外乱要素を
起越し現場密着運転から解放される。
範囲への自動コントロールができ、PF銘柄、PF粗粒
径PF供給量、生石灰供給量、原料水分等の外乱要素を
起越し現場密着運転から解放される。
第1図は本発明を実施する際に用いられる造粒機がら造
粒物収納箱に排出されたミニペレット表層部の粒径分布
をレーザー距離計により測定する場合の斜視図、第2図
(イ)ならひに(ロ)はそれぞれレーザー距離計による
粒径分布の測定イメージを示し、(イ)は粒度小の場合
、(ロ)は粒度大の場合の説明図、第3図(a)は第2
図の造粒物表1部の形状をレーザー距離計で検出する場
合の原理を示し、(イ)は粒径小の場合の説明図、(ロ
)は粒径大の場合の説明図、第3図(b)、(C)、(
d)、(e)ならびにlfJはそれぞれ造粒物をレーザ
ー距離計て検出し、この検出データに基づく粒径分布判
別法を示し、(blは極大値−極小値法、tc+は微分
パルス化法、(d)はFFT法、(elはサンプリング
ヒストクラム法、tf)は(e)のサンプリングヒスト
グラムの標準偏差グラフ法の各説明図、第4図は粒径分
布判別法の一例を示す粒径と粒度分布との関係グラフ、
第5図は本発明の制御方法の一例を示す説明図、第6図
t8)は水分をパラメータとした場合の振動加速度Qと
粒径+IONのオバーサイズ率との関係グラフ、第6図
(b)は振動加速度Qをパラメータとした場合の水分と
粒径+10−のオーバーサイズ率との関係グラフ、第7
図は本発明の実施する際に用いられる装置の一例を示す
系統説明図、第8図は粒径測定装置の処理タイミングの
説明図、第9図はPIDIIJIIIを起動させる仕組
みの説明図、第10図はPVD演算結果に不惑率を設け
る場合の説明図、第11図は従来例のPIDIIII1
1方法の説明図、第12図は従来例の焼結機のフローの
説明図である。 符号5・・・・・・混練機 6・・・・・・造粒機 7・・・・・・給水弁 8・・・・・・ベルトコンベア 9・・・・・・ベルトコンベア 10・・・・・・造粒原料 11・・・・・・ホッパ 12・・・・・・トリッパコンベア 13・・・・・・ドラムミキサ 21・・・・・・サンプル容器 22・・・・・・レーザー距離計 23・・・・・・PID調節演算部 24 ・−・・−・V V V F III fill
部m1図 第4図 第2図 □紅L(、、小) (イ) (ロ) 第3図 (の) (ロ) (J) (ロ) 粒 乳 小 舷鉢た (C) (d) (イ) (ロ) (イ) (ロ) 畝 d \F IL 1 1乞 ニL (−5’) (ロ) (イ) (ロ) サレトリシ7zZk?ラム床 銑声普:lr、ニア7床 第6図 (a/) 緻動か4凛(9) 第6図 (紗) 東分(%) IIo図
粒物収納箱に排出されたミニペレット表層部の粒径分布
をレーザー距離計により測定する場合の斜視図、第2図
(イ)ならひに(ロ)はそれぞれレーザー距離計による
粒径分布の測定イメージを示し、(イ)は粒度小の場合
、(ロ)は粒度大の場合の説明図、第3図(a)は第2
図の造粒物表1部の形状をレーザー距離計で検出する場
合の原理を示し、(イ)は粒径小の場合の説明図、(ロ
)は粒径大の場合の説明図、第3図(b)、(C)、(
d)、(e)ならびにlfJはそれぞれ造粒物をレーザ
ー距離計て検出し、この検出データに基づく粒径分布判
別法を示し、(blは極大値−極小値法、tc+は微分
パルス化法、(d)はFFT法、(elはサンプリング
ヒストクラム法、tf)は(e)のサンプリングヒスト
グラムの標準偏差グラフ法の各説明図、第4図は粒径分
布判別法の一例を示す粒径と粒度分布との関係グラフ、
第5図は本発明の制御方法の一例を示す説明図、第6図
t8)は水分をパラメータとした場合の振動加速度Qと
粒径+IONのオバーサイズ率との関係グラフ、第6図
(b)は振動加速度Qをパラメータとした場合の水分と
粒径+10−のオーバーサイズ率との関係グラフ、第7
図は本発明の実施する際に用いられる装置の一例を示す
系統説明図、第8図は粒径測定装置の処理タイミングの
説明図、第9図はPIDIIJIIIを起動させる仕組
みの説明図、第10図はPVD演算結果に不惑率を設け
る場合の説明図、第11図は従来例のPIDIIII1
1方法の説明図、第12図は従来例の焼結機のフローの
説明図である。 符号5・・・・・・混練機 6・・・・・・造粒機 7・・・・・・給水弁 8・・・・・・ベルトコンベア 9・・・・・・ベルトコンベア 10・・・・・・造粒原料 11・・・・・・ホッパ 12・・・・・・トリッパコンベア 13・・・・・・ドラムミキサ 21・・・・・・サンプル容器 22・・・・・・レーザー距離計 23・・・・・・PID調節演算部 24 ・−・・−・V V V F III fill
部m1図 第4図 第2図 □紅L(、、小) (イ) (ロ) 第3図 (の) (ロ) (J) (ロ) 粒 乳 小 舷鉢た (C) (d) (イ) (ロ) (イ) (ロ) 畝 d \F IL 1 1乞 ニL (−5’) (ロ) (イ) (ロ) サレトリシ7zZk?ラム床 銑声普:lr、ニア7床 第6図 (a/) 緻動か4凛(9) 第6図 (紗) 東分(%) IIo図
Claims (1)
- 1)微粉焼結原料に水分を添加し、該原料を圧密媒体の
内蔵する圧密可塑化混練機に装入し、振動加速度3g以
上を加え混練フレークを形成させ、該可塑化状態の混練
フレークを加振円筒型造粒機内に装入し、振動加速度3
g以上を加え、該混練フレークを転動塊成化してミニペ
レットとし焼結原料として利用するに際し、転動塊成化
後のミニペレット表層部をレーザ距離計で測定し、ミニ
ペレット粒径を検出し、該検出値に基づいて前記混練機
ならびに造粒機の振動加速度および/または前記焼結原
料の添加水分を制御することを特徴とする焼結原料の造
粒方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14258590A JPH0436422A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 焼結原料の造粒方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14258590A JPH0436422A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 焼結原料の造粒方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0436422A true JPH0436422A (ja) | 1992-02-06 |
Family
ID=15318733
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14258590A Pending JPH0436422A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | 焼結原料の造粒方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0436422A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108342568A (zh) * | 2018-02-27 | 2018-07-31 | 首钢京唐钢铁联合有限责任公司 | 一种参数自适应调整方法及装置 |
| US11187637B2 (en) * | 2018-04-03 | 2021-11-30 | Jfe Steel Corporation | Particle size distribution measurement apparatus and particle size distribution measurement method |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP14258590A patent/JPH0436422A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108342568A (zh) * | 2018-02-27 | 2018-07-31 | 首钢京唐钢铁联合有限责任公司 | 一种参数自适应调整方法及装置 |
| CN108342568B (zh) * | 2018-02-27 | 2020-05-15 | 首钢京唐钢铁联合有限责任公司 | 一种参数自适应调整方法及装置 |
| US11187637B2 (en) * | 2018-04-03 | 2021-11-30 | Jfe Steel Corporation | Particle size distribution measurement apparatus and particle size distribution measurement method |
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