JPH0442711B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、たとえば、IC部品を回路基板に
搭載するときに必要となる、撮像装置から得られ
る画像パターン中に存在する特定パターンの位置
を高速に検出する、２次元位置検出方法等に使用
するパターンマツチング方法に関するものであ
る。

従来の技術 従来のパターンマツチングによる位置検出方法
を大別すると、 １ 撮像装置から得た画像パターン１フレーム分
を半導体メモリなどの画像パターン記憶装置に
格納した後、標準パターンとの照合処理を行う
方法。

と、 ２ 撮像装置を走査している位置の座標を発生す
る装置と、標準パターンとの照合処理に必要な
最少限度の容量を持つた半導体メモリなどの画
像パターン記憶装置によつて、標準パターンと
の照合処理を画像パターンを取り込みながら行
う方法。

の２つの分類できる。

そこでこれら２つのパターンマツチング方法に
ついて、処理速度・処理の拡張性、コストの３項
目について検討してみる。

まず処理速度であるが、第１の方法は画像パタ
ーン１フレーム分を記憶装置に取り込んだ後で照
合処理を行うため、一般的に処理時間を要しリア
ルタイム処理には向いていない。画像パターン１
フレーム分を記憶装置に取り込むのに要する時間
をT_i、記憶装置に取り込んだ画像パターンと標準
パターンとの照合処理に要する時間をT_pとする
と、第１の方法によるパターンマツチングに要す
る時間T_n1は、T_iとT_pの和によつて(1)式のように
表わされる。

T_n1＝T_i＋T_p ……(1) (1)式において、画像取り込みに要する時間T_iは
一定であるが、画像パターンと標準パターンの照
合処理に要する時間T_pは処理方法によつて大き
く異なり、照合処理を粗い照合と詳しい照合にわ
けて階層化した高速手法を用いることにより、リ
アルタイム処理が可能となる程度にまで短縮する
ことができる。第２の方法は画像パターンを取り
込みながら照合処理を行うため、処理時間は短く
リアルタイム処理に向いている。第２の方法によ
るパターンマツチングに要する時間T_n2は、T_iに
等しく、(2)式のように表わされる。

T_n2＝T_i ……(2) 次に処理の拡張性について述べる。第１の方法
は撮像装置より得た画像パターンを記憶装置に保
持しているため、標準パターンとの照合処理の前
処理であるフイルタリングなどの処理において演
算子の重みづけを自由に設定したり、照合処理の
終了後その結果によつて画像パターンの特定領域
をもう一度取り出して確認処理を施すといつたこ
とが選択的にできる。また照合処理を行う際に
も、照合基準点を、撮像装置の走査する方向と直
角の方向に走査させることも可能である。第２の
方法においてもフイルタリングなどの前処理や照
合処理後の確認処理は可能であるが、前処理に関
しては固定でフイルタリング処理時の演算子の重
みなどを容易に変更することはできないし、また
照合処理後の確認処理も照合結果を得た同一画面
に対して行うことはできない。

最後にこれら２つの方法によつてパターンマツ
チング装置を実現した時の価格について述べる。
第１の方法は画像パターンを１フレーム分記憶す
るために、第２の方法に比べて半導体ICメモリ
などの記憶素子を多く必要とする。この時の画像
パターンと標準パターンとの照合処理は、マイク
ロコンピユータとマイクロコンピユータの制御プ
ログラムによつて、上述の処理の拡張性を検討す
る中で述べたような柔軟な処理が行われる。一方
第２の方法では、リアルタイムで送られてくる画
像パターンを標準パターンと照合処理するため、
第１の方法のように画像パターンを記憶するため
に大量の半導体ICメモリを必要としないが、画
像パターンと標準パターンの照合を映像信号をデ
ジタル化した画像パターンを表わす信号が流れる
速さで行うため、第１の方法に比べて論理ICを
多く必要とする。従来、半導体ICメモリが高価
であり第１の方法を安価に実現することは難しか
つたが、近年半導体ICメモリの集積度が急速に
高まり、単位記憶容量あたりの価格は低下して第
２の方法を実現するための論理ICの価格よりも
安価になつてきている。したがつて現在では、第
１の方法を採用した方が安価にパターンマツチン
グ装置を実現できる。

本発明は上記の第１の方法によつて、２次元の
位置検出をリアルタイムで行うためのパターンマ
ツチング方法に関するものである。高速処理に不
向きな第１の方法をあえて採用したのは、上述し
たようにパターンマツチング処理の拡張性が高く
柔軟な処理ができることと、第２の方法より安価
に実現できることによる。本発明では、第１の方
法によるパターンマツチング方法において、画像
パターンと標準パターンの照合処理に要する時間
T_p短縮するために、粗い照合と詳しい照合から
成る階層化パターンマツチング法を取り入れてい
る。特に本発明では、画像パターン上に数画素毎
に粗く設けられた、第１の照合基準点において照
合を行い、第１の合格基準値以上の一致度が得ら
れた場合には、即座に合格となつた第１の照合基
準点を基準として１画素毎に第２の照合基準点を
発生させ、第２の照合を行つて認識点を探し、以
上の過程をあらかじめ定められた点数の認識点が
検出されるまで続けるという方法をとつている。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、ある１つ
の認識点が複数個の第１の照合基準点から複数回
にわたつて検出されてしまい、認識点が検出され
るたびに過去に検出された認識点と同じ点である
かどうかの判定を行う必要が生じる。

第２図は、画像パターン上に４画素ごとに設け
られた２つの第１の照合基準点２１，２２と、第
２の照合を行う一辺が５画素の大きさを持つ正方
形小領域２３，２４、およびこれら２つの小領域
に含まれる認識点２５を表わしている。認識点の
検出もれを無くすため、隣り合う第１の照合基準
点に対応して設定される第２の照合を行う小領域
は、第２図に示すようにたがいに少しずつ重なり
合うように設けられる。このため認識点が第２図
の場合のように、第２の照合を行う２つの小領域
の共通部分に含まれる場合には、第１の照合基準
点２１における第１の照合処理に合格した後、第
１の照合基準点２１を基準として小領域２３が設
定され、その小領域２３内に１画素おきに設けら
れた第２の照合基準点において第２の照合処理が
行われ、認識点２５がまず検出される。次に処理
は第１の照合基準点２２に移つて、前に行つた第
１の照合基準点２１における第１の照合処理に始
まる一連の照合処理が行われ、認識点２５が再び
検出される。第２図の例では、認識点の位置によ
つて最大４個の第１の照合基準点から４回に渡つ
て同一認識点が検出される可能性がある。この場
合には２回目以降に検出された認識点が、最初に
検出された認識点と同一の点であるかどうか判定
しなければならない。また、パターンマツチング
処理を行つている過程においては、正確な認識点
数がわからないので処理を所望の認識点数が得ら
れた時点で終了させることができない。

本発明は上記問題点に鑑み、画像パターン上に
ｎ画素おきに設けられた第１の照合基準点に対応
するフラグを設け、ある第１の照合基準点から認
識点が検出された場合には、その第１の照合基準
点のまわりの第１の照合基準点に対するフラグ
“１”にすることによつて、複数個の第１の照合
基準点から複数回にわたつて同一の認識点が検出
されることを避けることによつて、検出される認
識点の数を正確に数え、所望の点数の認識点が得
られた場合には処理をその時点で終了させてしま
うことにより、処理の高速化を図るパターンマツ
チング方法を提供するものである。

問題点を解決するための手段 本発明は、二段階以上のマツチングを行う階層
化されたパターンマツチング方法を用いる際に、
前記画像パターン全域を対象として数画素毎に設
定された前記第１の照合基準点に対して１点につ
き１ビツトの初期値“０”を持つフラグ記憶領域
を設け、第１の照合基準点における第１の照合に
合格し第２の照合において認識点が検出された場
合には、前記認識点を検出するに至つた第１の照
合基準点とその近傍に存在する複数個の第１の照
合基準点に対応する前記フラグ記憶領域のビツト
を“０”から“１”に書きかえ、以後の処理にお
いては前記フラグ記憶領域の“１”になつている
ビツトに対応する前記第１の照合基準点において
は第１の照合を行わないようにするものである。

このような方法は、撮像手段より得られる映像
信号をデジタル化して画像パターンとするアナロ
グ・デジタル変換手段、デジタル化された画像パ
ターンを保持しておくフレームメモリなどの記憶
手段、画像パターン中に存在する特徴的なパター
ンをあらかじめ標準パターンとして保持しておく
レジスタなどの記憶手段、画像パターン上に数画
素おきに設けられた第１の照合基準点に対応する
フラグ記憶手段、フラグ記憶領域を制御するフラ
グ制御手段、画像パターンと標準パターンの照合
を行う照合処理手段、照合の結果得られる一致度
を算出する一致度算出手段、上記の各手段を総合
的に制御するマイクロコンピユータなどの中東処
理手段により実現されるものである。

作 用 上記方法により、１つの認識点を検出するに至
つた第１の照合基準点とその近傍に存在する複数
個の第１の照合基準点において第１の照合を行わ
ないため、ある１つの認識点が複数個の第１の照
合基準点から複数回にわたつて検出されることを
防ぐことになる。

また、上記技術手段による作用についても図面
を参照しながら説明する。

第３図は、Ｍ×Ｍの大きさを持つた標準パター
ン３１、標準パターン側の照合基準点３２、Ｎ×
Ｎの大きさを持つた画像パターン３３（ただしパ
ターンは図示されていない）、画像パターン上に
ｎ画素おきに設けられた第１の照合基準点３４を
示している。画像パターン３３上に存在する第１
の照合基準点３４の数は次の(3)式で与えられる。

〔Ｎ−Ｎ／ｎ＋１〕² ……(3) 〔ａ〕はガウスの記号でａを越えない最大の整
数を表わしている。この第１の照合基準点の数
は、たとえば、Ｍ＝16，Ｎ＝512，ｎ＝４とすれ
ば、約15600となり、このビツト数だけフラグ記
憶領域が必要となる。第４図に示すように、フラ
グ記憶領域４１は画像パターン上に設けられた第
１の照合基準点の並びと一対一に対応するよう
に、ｘとｙのアドレスで選択されるようになつて
おり、初期値“０”が与えられている。パターン
マツチング処理は第１の照合処理を行う前に、対
象としている第１の照合基準点に対応するフラグ
を調べ、フラグが“０”であればその照合基準点
において第１の照合処理を行い、フラグ“１”に
なつていれば第１の照合処理を行わずに次の第１
の照合基準点に移つて同様の処理を続けることに
なる。

第５図は、パターンマツチング処理を撮像装置
の走査方向と同じ方向で行つて認識点が検出され
た場合に、フラグ記憶領域５１中でビツトを
“１”にセツトする領域５２を示している。ビツ
トを“１”にセツトする領域５２は、認識点を検
出するに至つた第１の照合基準点に対応するフラ
グ５３を中心にして、１つの認識点に収束する第
１の照合基準点が存在する範囲と、隣り合う認識
点が存在する最小距離を基にして設定されるが、
この時に既に処理を終えた領域５４に対してはフ
ラグを操作する必要はない。またフラグを“１”
にセツトする時、そのビツトにおいて以前フラグ
が“０”であつたか、“１”であつたかにかかわ
らず、常に“１”にセツトされる。先に、画像パ
ターン上に設ける第１の照合基準点の数が約
15600になると述べたが、これだけの第１の照合
基準点に対し１ビツトのフラグを設けるとその時
に必要な記憶領域は、およそ2Kバイトにもなつ
てしまう。そこで次のようにしてフラグ記憶領域
の容量を大幅に削減することにした。第６図はフ
ラグ記憶領域６１中で、現在処理を行つている第
１の照合基準点が存在している行６２から４行分
のフラグ記憶領域６３を示している。画像パター
ン上に存在する多数の第１の照合基準点に対応す
るフラグ記憶領域６１において、処理上必要なの
はこの４行分のフラグ記憶領域６３だけである。
現在処理を行つている第１の照合基準点が存在し
ている第０行62は、処理対象となつている第１の
照合基準点に対応するフラグが“０”であるか
“１”であるか調べるために必要であり、第０行
から第３行までの４行分のフラグ記憶領域６３
は、認識点が検出された時に第５図に示した小領
域５２において、フラグを“１”にセツトするた
めに必要となる。したがつて、既に処理を済ませ
た領域６３や今後処理を行おうとしている領域６
４に対応するフラグ記憶領域を同時に設ける必要
はない。そこで、第７図に示すように、上記の４
行分のフラグ記憶領域を行ごとにブロツク化し、
ブロツク化された各記憶領域７１の先頭アドレス
７２を別に設けた４ワードの記憶領域７３に保持
しておき、ブロツク化された記憶領域７１をスク
ロールする代りに、各ブロツクの先頭アドレスを
保持している記憶領域７３の内容をスクロールす
ることによつて、フラグ記憶領域の節約とフラグ
処理の高速化を図つている。第８図は、第７図の
状態が１回スクロールされたフラグ記憶領域の各
ブロツク８１と各ブロツクの先頭アドレス８２、
およびブロツク先頭アドレス記憶領域８３を示し
ている。ブロツク先頭アドレス記憶領域８３で
は、１番上にあつた“adr0”が１番下になり、
残りのアドレスが１つずつ上に上つている。この
操作によりそれまで第１行目だつた“adr1”か
ら始まるフラグ記憶領域が、第０行目フラグ記憶
領域となり、第０行目だつた“adr0”から始ま
るフラグ記憶領域は第３行目フラグ記憶領域とな
る。この新たに第３行目フラグ記憶領域となつた
ブロツクは、第６図では４行分のフラグ記憶領域
６３の下に存在する行に対応するものであり、上
記のスクロール終了時に全てのビツトが“０”に
リセツトされる。

本発明の特徴である、第１の照合基準点に対応
するフラグ記憶領域を設けてそのフラグの値によ
つて照合処理を行うことは、そもそも１点の認識
点が複数回検出された場合の後処理を無くし処理
を高速化することが目的であつた。したがつて、
上記のようなフラグ操作に要する時間が、１点の
認識点が複数回検出された場合の後処理に要する
時間を上まわつてはならない。そこで本発明で
は、フラグ記憶領域のアドレスを計算するために
専用の回路を設け処理時間の節約を図つている。
第９図は、10進数“368”の２進化表現９１を示
している。第１の照合基準点が４画素毎に設定さ
れ、フラグ記憶領域が１６ビツト単位で構成され
ていたとすると、画像パターン上のｘ座標値
“368”に対応するフラグ記憶領域中のビツトは、
２進数で表現した時の下位２ビツトを削減した後
の２つのデイジツト“0101”９２と“1100”９３
によつて指定することができる。フラグ記憶領域
は現在処理中の第１の照合基準点が常に第０行に
なるように設定されるため、第１の照合基準点に
対応するフラグ記憶領域中のビツトを指定するた
めには、第１の照合基準点のｘ座標だけを指定す
ればよい。第９図の例では、“368”というｘ座標
値に対して“0101”すなわち“５”という値と
“1100”を反転した“0011”すなわち“３”とい
う値が得られるが、第１０図に示すように前者は
第０行フラグ記憶領域１０１中のワードポジシヨ
ン（以下、WPと略す）5102を表わし、後者は
WP５の中のビツトポジシヨン（以下、BPと略
す）3103を表わしている。またWPとBPで指定
されたビツトを抽出するためには、WPで指定さ
れた１ワードのデータをBPで指定された数だけ
右にシフトして、BP＝０のビツト内容を判定す
ることによつて一般化することができる。

以上のようにして、画像パターン上に数画素毎
に設けられた第１の照合基準点に対応するフラグ
記憶領域を設け、このフラグに基づいて第１の照
合処理を行うことによつて認識点が重複すること
なく順次検出され、認識点の座標を検定する後処
理を無くすだけでなく、あらかじめ定められた点
数の認識点が検出された時点でパターンマツチン
グ処理を中断することにより、パターンマツチン
グ処理を高速化することができる。

実施例 以下本発明の一実施例のパターンマツチング方
法について、図面を参照しながら説明する。

第１図は本発明の一実施例であるパターンマツ
チング方法のブロツク図を示すものである。第１
図において、テレビカメラなどの撮像手段１より
得られた映像信号は、２値化手段２により２値化
され画像パターンとなつて画像パターン記憶手段
３に格納される。標準パターンは、パターンマツ
チング処理に先だつて、教示時に画像パターン記
憶手段３より画像パターンの特徴的な部分が切り
出され、標準パターン記憶手段４に保持される。
中央処理手段５は、照合基準点の制御や照合結果
の合否判定をはじめ、第１図の各ブロツクを制御
する役割を持つている。パターンマツチング処理
は、中央処理手段５が定めた第１の照合基準点に
おけるフラグの判定から始まる。まず第１の照合
基準点のｘ座標をフラグ制御手段６へ送ると記憶
手段７より上記の第１の照合基準点に対応するフ
ラグが得られる。このフラグを中央処理手段５で
判定して、フラグが“０”であれば上記の第１の
照合基準点において第１の照合処理を行い、フラ
グが“１”あれば上記の第１の照合基準点の隣の
照合基準点において同様の処理を行うことにな
る。画像パターンと標準パターンとの照合処理
は、２つのパターンの対応するパターンデータが
それぞれの記憶手段から読み出されるように、中
央処理手段５から画像パターン制御手段８と標準
パターン制御手段９に対して読み出し信号が送ら
れる。２つのパターンの対応するデータは、画像
パターン記憶手段３と標準パターン記憶手段４か
ら照合処理手段１０へ入力され、そこで２つのパ
ターンデータの対応するビツトごとに排他的論理
和の否定がとられる。そして対応する画素のデー
タが一致する場合にビツトが“１”となり、この
データが一致度算出手段１１へ送られて、そこで
“１”になつているビツトの数が算出され一致度
が求められる。求められた一致度は中央処理手段
５において、第１の照合、第２の照合に応じた合
格基準値と比較され、第１の照合処理に合格とな
つた場合には処理は第２の照合処理へ移り、第２
の照合処理に合格となつた場合には合格となつた
照合基準点の座標値を認識点の座標値として保持
しておき、全ての処理が終つた段階で必要な認識
点の座標値をメインコントローラ１２へ送ること
になる。

第１１図は、第１図のフラグ制御手段６とフラ
グ記憶手段７を詳しく説明した図である。中央処
理手段５より送られた第１の照合基準点のｘ座標
値は、座標値格納用のレジスタ１１１にセツトさ
れる。第１の照合基準点が４画素毎に設けられる
場合には、レジスタ１１１の下位２ビツトを除い
て下から４ビツトの“０”，“１”を反転してレジ
スタ１１２に、その上の４ビツトをレジスタ１１
３に格納する。レジスタ１１２に格納されたデー
タは第９図に示した４ビツトデータ９３の“０”，
“１”を反転したものでBPを表わしており、レジ
スタ１１３に格納されたデータは第９図に示した
WPを表わす４ビツトデータ９２である。したが
つて、フラグ記憶領域１１４から読み出すべきフ
ラグを含んだデータは、レジスタ１１３に格納さ
れたWPの値と、フラグ０記憶領域の先頭アドレ
スが格納されたレジスタ１１５の内容を、加算機
１１６によつて加算し、そのアドレスをアドレス
選択用レジスタ１１７に格納することによつて読
み出され、シフトレジスタ１１８に格納される。
シフトレジスタ１１８ではセツトされたフラグデ
ータを、レジスタ１１２に格納されているBPの
数だけ右にシフトさせる。そして、BP0に格納さ
れている値が１ビツトのフラグ用レジスタ１１９
にセツトされ、中央処理手段はこのレジスタ１１
９の内容が“０”であるか、“１”であるかによ
つて第１の照合を行うかどうか判定するようにな
つている。

以上のように構成されたパターンマツチング方
法について、以下第１２図、第１３図、第１４図
を用いて、認識点が検出された付近の第１の照合
基準点が回避される様を説明する。第１２図にお
いてｎ画素毎に設けられた第１の照合基準点１２
１に対して、撮像装置が走査する方向で順次第１
の照合処理を行うものとする。第１の照合処理は
第１の照合基準点に対応するフラグが“０”のと
きに行われるが、最初の認識点が検出されるまで
はフラグ記憶領域は“０”に初期化されているの
で、第１の照合処理はA1の位置から次々と行わ
れて行く。次に、第１の照合基準点１２２から認
識点１２３が検出されたとすると、この第１の照
合基準点１２２を基準として小領域１２４が設定
され、この小領域１２４に含まれる第１の照合基
準点対するフラグが“１”にセツトされ、フラグ
記憶領域は第１３図のようになる。次に第１の照
合処理は、第１の照合基準点１２２の隣の照合基
準点１２５に移るが、照合基準点１２５から照合
基準点１２６までは、フラグが“１”になつてい
るのでこの間第１の照合処理は行われず、結局第
１の照合処理は第１の照合基準点１２７において
再開される。第１の照合処理が１段下の行に移る
と、フラグ記憶領域は第１４図のように一番上の
行が削除され、一番下に全ビツトが“０”に初期
化された行が追加される。そして、第１の照合処
理は第１の照合基準点１２８，１２９において行
われた後、小領域１２４を間にはんで照合基準点
１３０において行われ、このようにして認識点１
２３を検出するに至つた第１の照合基準点１２２
のまわりに存在する他の第１の照合基準点から、
認識点１２３が再び検出することがないようにし
ている。

以上のように本実施例によれば、画像パターン
上に複数個存在する認識点を点数を正確に数えな
がら検出することができ、所望の点数の認識点が
得られた時点で処理を終了するたとにより、パタ
ーンマツチング処理を高速化することができる。

発明の効果 第１５図は本発明の効果を説明する図である。

画像パターン１５１上にｎ画素毎に設けられた第
１の照合基準点１５２に対して、撮像装置が走査
する方向に順次照合処理を行つていくと、第１の
照合基準点１５３からの照合処理によつて上から
１本目の足に対する認識点１５４が検出され、そ
して第１の照合基準点１５３付近の他の第１の照
合基準点から、この認識点１５４が再び検出され
ないように、第１の照合基準点１５３付近に存在
する他の第１の照合基準点に対応するフラグ記憶
領域のビツトが“１”にセツトされる（フラグを
処理する領域は図示されていない）。そして第１
の照合処理を続けると第１の照合基準点１５５か
らの照合処理によつて、上から２本目の足に対す
る認識点１５６が検出される。仮に上から２本目
の足に対する認識点１５６が検出されるまで処理
を行うという条件があらかじめ与えられていたと
すると、パターンマツチング処理は、認識点１５
６を検出した時点で終了させることがきる。つま
り、本発明の方法によつて認識点の点数を正確に
数えながら処理を行うと、複数個の認識点の検出
を目的とするパターンマツチング処理を、所望の
点数の認識点が得られた段階で終了させ、処理時
間を大幅に短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例であるパターンマツ
チング方法の構成を示すブロツク図、第２図は１
つの認識点が複数個の第１の照合基準点から検出
されることを示す図、第３図は標準パターン画像
パターンに設けられた第１の照合基準点を示す
図、第４図は画像パターンに設けられた第１の照
合基準点に対応するフラグ記憶領域を示す図、第
５図は認識点が検出された時にビツトが“１”に
セツトされるフラグ記憶領域を示す図、第６図は
フラグ記憶領域の中で最低限必要な領域を示す
図、第７図はフラグ記憶領域の構成を示す図、第
８図はフラグ記憶領域がスクロールされるようす
を示す図、第９図はフラグ記憶領域のアドレスを
決定するため与えられた座標値から２つの数値が
抽出されることを示す図、第１０図は第９図に示
された２つの数値からフラグ記憶領域中の特定の
ビツトが選ばれることを示す図、第１１図はフラ
グ制御手段の構成を示す図、第１２図はフラグが
“１”になつている小領域を含む領域内の第１の
照合基準点がどのように選ばれて処理されるかを
示す図、第１３図は第１２図に対応するフラグ記
憶領域の内容を示す図、第１４図も第１２図に対
応するフラグ記憶領域の内容を示す図、第１５図
は本発明の効果を示す図である。 ３……画像パターン記憶手段、４……標準パタ
ーン記憶手段、５……中央処理手段、６……フラ
グ制御手段、７……フラグ記憶手段、８……画像
パターン制御手段、９……標準パターン制御手
段、２１，２２……第１の照合基準点、２３，２
４……第２の照合処理領域、２５……認識点、３
１……標準パターン、３２……標準パターン側照
合基準点、３３……画像パターン、３４……第１
の照合基準点、４１……フラグ記憶領域、５２…
…フラグを“１”にする領域、６３……処理上必
要なフラグ記憶領域、７１……フラグ記憶領域、
７２……フラグ記憶領域先頭アドレス、７３……
先頭アドレス記憶領域、８３……スクロールされ
た先頭アドレス記憶領域、９１……画像パターン
ｘ座標、１０２……フラグ記憶領域ワードポジシ
ヨン、１０３……フラグ記憶領域ビツトポジシヨ
ン、１０４……フラグ記憶領域先頭アドレス、１
０５……先頭アドレス記憶領域、１１１……画像
パターンｘ座標、１１２……ビツトポジシヨン格
納レジスタ、１１３……ワードポジシヨン格納レ
ジスタ、１１４……フラグ記憶領域、１１６……
加算機、１１７……フラグ記憶領域アドレス指定
レジスタ、１１８……シフトレジスタ、１１９…
…フラグレジスタ、１２１……第１の照合基準
点、１２３……認識点、１２４……フラグを
“１”にする領域、１５２……第１の照合基準点、
１５４，１５６……認識点。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 撮像装置より得られる映像信号をデジタル化
   し、画像パターンとして記憶手段に保持してお
   き、前記画像パターンの部分をあらかじめ記憶手
   段に保持しておいた標準パターンと照合し、照合
   の結果得られる一致度の高い標準パターンの特定
   位置の画素、すなわち認識点を上記画像パターン
   中より１個以上検出するパターンマツチング処理
   において、前記画像パターンと前記標準パターン
   との照合時の位置合せ点となる照合基準点を前記
   画像パターン全域を対象とした領域に数画素毎に
   設定してこれらを第１の照合基準点とし、前記標
   準パターンの特定位置の画素を前記第１の照合基
   準点と一致させて、前記標準パターンと前記画像
   パターンとの第１の照合を順次行い、前記第１の
   照合を行うごとに得られる第１の一致度をあらか
   じめ定められた第１の合格基準値と比較し、前記
   第１の一致度が前記第１の合格基準値より大きく
   なつたときにはその第１の照合基準点を基準とし
   て小領域を設定し、前記小領域内に１画素毎に第
   ２の照合基準点を設定して前記第２の照合基準点
   において第２の照合を行い、その結果得られる複
   数個の第２の一致度のうち最大になつた一致度の
   値をあらかじめ定められた第２の合格基準値と比
   較し、前記最大となつた第２の一致度の値が前記
   第２の合格基準値より大きくなつた時に前記最大
   となつた第２の一致度を与えた前記第２の照合基
   準点を認識点とする階層化されたパターンマツチ
   ング法を用いる時、前記画像パターン全域を対象
   として数画素毎に設定された前記第１の照合基準
   点に対して１点につき１ビツトの初期値“０”を
   持つフラグ記憶領域を設け、第１の照合基準点に
   おける第１の照合に合格し第２の照合において認
   識点が検出された場合には、前記認識点を検出す
   るに至つた第１の照合基準点とその近傍に存在す
   る複数個の第１の照合基準点に対応する前記フラ
   グ記憶領域のビツトを“０”から“１”に書きか
   え、以後の処理においては前記フラグ記憶領域の
   “１”になつているビツトに対応する前記第１の
   照合基準点においては第１の照合を行わないよう
   にすることを特徴とするパターンマツチング方
   法。