JPH044284U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH044284U
JPH044284U JP4467990U JP4467990U JPH044284U JP H044284 U JPH044284 U JP H044284U JP 4467990 U JP4467990 U JP 4467990U JP 4467990 U JP4467990 U JP 4467990U JP H044284 U JPH044284 U JP H044284U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
circuit pattern
probing
inspected
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4467990U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP4467990U priority Critical patent/JPH044284U/ja
Publication of JPH044284U publication Critical patent/JPH044284U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案の一実施例を示す機能ブロツ
ク図、第2図は、第1図の装置における動作を示
すフローチヤート図、第3図は、従来の技術の一
例を示すフローチヤート図である。 1……検査部、3……制御部、5……フオール
トフアイル。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 プリント基板の回路パターンにおける検査対象
    パツドをプロービングして検査するプロービング
    方式による回路パターン検査装置であつて、 検査するプリント基板をセツトすると、前記検
    査対象パツドを物理的にプロービングして検査す
    る検査部と、 回路パターンの検査結果を格納するフアイルと
    、 前記検査部から入力した検査結果を前記フアイ
    ルに格納し、全回路パターンの検査が終了後に、
    不良箇所があれば前記検査部にプリント基板を再
    セツトし、前記検査結果による再検査を実施して
    検査結果の擬似不良をなくする制御部とを有する
    ことを特徴とするプロービング方式による回路パ
    ターン検査装置。
JP4467990U 1990-04-27 1990-04-27 Pending JPH044284U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4467990U JPH044284U (ja) 1990-04-27 1990-04-27

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4467990U JPH044284U (ja) 1990-04-27 1990-04-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH044284U true JPH044284U (ja) 1992-01-16

Family

ID=31558200

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4467990U Pending JPH044284U (ja) 1990-04-27 1990-04-27

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH044284U (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE180065T1 (de) Fabrikationsfehleranalysator mit verbesserter fehlererfassung
JPH044284U (ja)
JP4345945B2 (ja) 基板検査装置
JP2523483B2 (ja) プロ―ブポイント決定装置
JPH03227100A (ja) 印刷配線板の布線試験データ処理装置
JPS6078362A (ja) 自動試験装置の機能チエツク方式
JPH0714926Y2 (ja) 半導体試験装置の波形入出力装置
JP2003307543A (ja) Lsi検査装置及び検査手法
JP2964523B2 (ja) インサーキットテスト装置
JPS63188579U (ja)
JPS5834063U (ja) インサ−キツトテスタ用万能接続治具
JPH0348181A (ja) プリント基板の分割導通検査方法
JPH03211856A (ja) 半導体装置製造データのシフト量の検査方法
JPH0458197B2 (ja)
JPS63201575A (ja) プリント基板搭載回路試験方法
JPH0261717B2 (ja)
JPS586538U (ja) 静止形継電器の点検装置
JPH0529412A (ja) テスト用パツド付icパツケージ
JPH02129572A (ja) ボードテスタ
JPS62155376U (ja)
JPH01155681A (ja) 印刷配線基板装置
JPS63181947U (ja)
JPH01214773A (ja) プリント基板ショート検査方法
JPH0714033B2 (ja) 複合集積回路の検査装置
JPH01120373U (ja)