JPH0451926B2 - - Google Patents

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JPH0451926B2
JPH0451926B2 JP57064388A JP6438882A JPH0451926B2 JP H0451926 B2 JPH0451926 B2 JP H0451926B2 JP 57064388 A JP57064388 A JP 57064388A JP 6438882 A JP6438882 A JP 6438882A JP H0451926 B2 JPH0451926 B2 JP H0451926B2
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JP
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arc
container
light
energy
pores
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JP57064388A
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JPS58181236A (ja
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Hajime Yoshasu
Shiro Murata
Fumyuki Kujo
Nobuji Yamagata
Junichi Terachi
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Priority to DE8383103631T priority patent/DE3377437D1/de
Priority to US06/485,070 priority patent/US4521653A/en
Priority to EP83103631A priority patent/EP0092184B1/en
Publication of JPS58181236A publication Critical patent/JPS58181236A/ja
Publication of JPH0451926B2 publication Critical patent/JPH0451926B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は開閉器に関する。なおこの発明でい
う開閉器とは、特に回路しや断器、限流器、電磁
開閉器などをさし、通常は小型容器内でアークを
生じる開閉器を意味する。
以下この発明を回路しや断器を例に説明する。
第1図〜第3図は従来の回路しや断器を示す断面
図で、それぞれ異なつた動作状態を示している。
1はカバー、2はベースで、カバー1とベース
2とで容器3を構成する。4は固定接触子で、固
定導体5を有し、その一端に固定接点6を有し、
他端は外部導体(図示せず)に接続されるように
端子部になつている。7は可動接触子で、可動導
体8を有し、その一端に固定接点6に対向した可
動接点9を有している。10は可動接触子装置、
11は可動子腕でクロスバー12に固定され、各
極同時に開閉されるように成されている。13は
消弧室で消弧板14が側板15により保持されて
いる。16はトグルリンク機構で上リンク17と
下リンク18より構成されている。上リンク17
の一端はクレドル19に、また他端は下リンク1
8の一端にそれぞれ軸20,21により連結され
ている。なお下リンク18に他端は上記可動接触
子装置10の可動子腕11に連結されている。2
2は起倒形操作ハンドル、23は作動ばねでトグ
ルリンク機構16の軸21と上記操作ハンドル2
2との間に架張されている。24,25は、それ
ぞれ熱動および電磁引きはずし機構で作動時に
は、それぞれバイメタル26および可動鉄心27
によりトリツプバー28を反時計方向に回動させ
るようになつている。29は一端が上記トリツプ
バー28に係止され他端はクレドル19と係止し
ているラツチである。クレドル19がラツチ29
に係止した状態で操作ハンドル22を閉路位置に
倒せば、トグルリンク機構16が伸長して軸21
がクレドル19に係止され可動接点9は固定接点
6に接合される。この状態が第1図である。次い
で操作ハンドル22を開路位置に倒せば、トグル
リンク機構16は屈曲して可動接点9を固定接点
6より開離させて可動子腕11をクレドル軸30
に係止される。この状態が第2図である。また前
記第1図に示す閉路状態で回路に過電流が流れる
と、熱動引きはずし機構24あるいは電磁引きは
ずし機構25が作動してクレドル19とラツチ2
9の係合を解除し、それによりクレドル軸30を
中心に時計方向にクレドル19が回転しストツパ
ー軸31に係止される。クレドル19と上リンク
17の連結点が上記作動ばね23の作用線を越え
るため、作動ばね23のばね力によつてトグルリ
ンク機構16が屈曲してクロスバー12により各
極連動して自動しや断を行なう。この状態が第3
図である。
次に回路しや断器において電流しや断時に発生
するアークの振舞いについて説明する。
今、可動接点9と固定接点6とが接触している
場合においては、その電力は電源側より固定導体
5、固定接点6、可動接点9及び可動導体8を順
次経由して負荷側へ供給される。この状態におい
て、短絡電流などの大電流がこの回路に流れる
と、前述したように熱動引きはずし機構24ある
いは電磁引きはずし機構25が作用して、可動接
点9を固定接点6から開離させる。この際、上記
固定及び可動接点6,9間にはアーク32が発生
し、固定及び可動接点6,9アーク電圧が発生
し、それに伴つて固定接点6からの可動接点9の
開離距離が増大するに従つて上昇し、また、同時
にアーク32が消弧板14の方向へ磁気力によつ
て引き付けられ伸長するために、更に上昇する。
このようにして、アーク電流は電流零点を迎えて
アークを消弧し、しや断が完結する。しかし、こ
の注入された莫大なアークエネルギーは最終的に
は熱エネルギーの形になり完全に容器外に逃げ去
るが、それまでの過渡時には限られた容器内のガ
スの温度を上昇させ、引いてはガス圧力を急激に
上昇させることになる。これにより回路しや断器
内部の絶縁劣化、回路しや断器外部への放出火花
量の増大による電源短絡事故、回路しや断器本体
の破壊などの重大な欠点があつた。
詳述すれば、このような欠点が生ずる理由とし
て、アークのエネルギー消費のメカニズムが関係
している。即ち、第4図は、接触子4,7間にア
ークAが生じた図である。図中Tはアークから接
触子に伝導した逃げる熱エネルギーの流れ、mは
アーク空間から逃げる金属粒子のエネルギーの流
れ、Rはアーク空間から逃げる光によるエネルギ
ーの流れをそれぞれ示している。第3図におい
て、アークに注入されたエネルギーは、上記の三
つのエネルギーの流れ、T,m,Rによつて概ね
消費されてしまう。この内、電極への熱の逃げT
は微小であり、大半のエネルギーはmとRにて持
ち去られてしまう。
さて、従来、アークのエネルギーの消費のメカ
ニズムにおいては、図中のmが圧倒的であり、R
のエネルギーはほとんど無視されていたが、発明
者等の最近の研究により、Rのエネルギー即ち、
光によるエネルギーの消費がアークに注入された
エネルギーの約70%にも達する程莫大であること
がわかつた。
即ちアークに注入されたエネルギーの消費は次
のように解析できる。
Pw=V・I=Pk+Pth+PR Pk=1/2mv2+m・Cp・T 但し、 Pw:瞬時注入エネルギー V:アーク電圧 I:電流 V・I:アークに注入される瞬時電気エネルギ
ー Pk:金属粒子が持ち去る瞬時エネルギー消費
量 1/2mv2:mgの金属粒子が速度vで飛び去る時 に持ち去る瞬時エネルギー消費量 m・Cp・T:定圧比熱Cpのガス(金属粒子の
ガス)が温度Tにて逃げた時に持ち去る瞬時
エネルギー消費量 Pth:アーク空間から、電極へ熱伝導にて逃げ
去る瞬時エネルギー消費量 PR:光により、アークから直接放射される瞬
時エネルギー消費量 上記の消費量は電極形状やアーク長によつて変
化するが、10〜20mmのアークに対してはそれぞれ
Pk=10〜20%、Pth=5%、PR=75〜85%であ
る。
次にアークを容器に閉じ込めた時の状況を第5
図に示す。アークを容器に閉じ込めると、容器内
空間は、電極の金属粒子が充満しかつ高温の状態
となる。特に、アーク陽光柱Aの周辺ガス空間Q
(図中斜線で示した空間Q)は、上記の状態が著
しい。さて、アークから発した光は、アーク陽光
柱Aから放出され、容器3の壁に照射され反射す
る。反射された光は散乱され、再度、電極粒子の
充満した高温空間を通過し、再度、壁面に照射さ
れる、このような過程を光量が零になるまで繰り
返すのである。この間の、光の経路を図中Ra→
Rb→Rc→Rdにて示している。
上記の過程において、アークから発した光の消
費は次の二点である。
(1) 壁面での吸収 (2) ア−ク空間及び周辺(高温)ガス空間による
吸収、すなわちガス空間による吸収。アークか
ら発する光は、2000Å以下の遠紫外から、1μm
以上の遠赤外までのすべての波長領域に渡り、
連続スペクトルおよび線スペクトルからなる。
一般の容器壁面は、たとえ表面が黒色をしてい
ても、4000Å〜5500Å程度の範囲においのみ、
光の吸収能力を有するのみで、その他の範囲に
おいては、一部を吸収するにとどまりほとんど
反射してしまうものである。ところが、アーク
空間及び周辺高温ガス空間での吸収は次のよう
になる。
長さLの一様な組成・温度を有するガス空間
に波長λの光を照射した時におけるガス空間に
よる光の吸収量は、次のように算定出来る。
Ia=A・n・LIin ……(1) Ia:ガスによる吸収エネルギー A:吸収確率 Iin:照射する光エネルギー n:粒子密度 L:光が通過する光路長 但し、(1)式は、特定波長λに対する吸収エネル
ギー量を示す。Aは特定波長λに対する吸収確率
であり、波長λ、ガス温度、粒子の種類の関数で
ある。
(1)式について、量子力学の教えに従えば、吸収
係数Aは、連続、線スペクトルともに、光を発す
る光源ガスと同一状態のガス(即ち、粒子の種
類、温度が同一)が最も大きな値を有することに
なる。即ち、アーク空間から発する光は、アーク
空間及びその周辺ガス空間に最も多く吸収され
る。
(1)式において、光の吸収エネルギー量Iaは、光
路長Lに比例する。第5図に示すように、アーク
空間からの光が壁面にて反射されると、(1)式中の
Lは、その反射回数の倍数だけ増大することにな
り、アーク空間の高温部で吸収される光エネルギ
ー量が増大することになる。
これは、即ち、アークの発する光のエネルギー
が結局、容器内のガスに吸収され、これによつて
ガスの温度が上昇し、ガスの圧力が上昇すること
を意味している。
従つて、この発明は、前述の諸欠点を解消すべ
くなされたものであつて、導体とこれに固着され
た接点とからなり、開閉動作をする少なくとも1
対の電気接触子と、開放動作時に生ずるアークを
吸引消弧するために切欠部を有する消弧板と、上
記接触子や上記消弧板とを収納する容器とを備え
た開閉器において、繊維、網および見掛け気孔率
が35%以上の多孔質材料のうちの1種または2種
以上の複合材からなる1対の立壁を上記消弧板の
切欠部における対向内壁面にそれぞれ配置したこ
とよりなる開閉器を提供するものである。
以後、添付図面を参照しながら、この発明の好
ましい一実施例を詳述する。尚、この発明による
開閉器は、例えば回路しや断器を例にとれば、第
1図から第3図に示したものとほぼ同一構成であ
つても良いので、以後の説明においてはこの発明
の対象となつた要部のみを説明する。
先ず第9図と第10図とにおいて、当業者には
周知のごとく、各消弧板14は、磁性金属板から
なり、アーク駆動方向(矢印F方向)の後方側の
端面にほぼU字形状、あるいはコ字形状の切欠部
140を有している。換言すれば、磁性金属板の
一辺から切込みを設けることにより、切欠部14
0の両側に1対の脚部14aと両脚部14aを連
結する架橋部14bとからなる消弧板14を構成
している。これらの消弧板14は、可動導体8の
移動方向にほぼ沿つて、互いに所定間隔だけ隔離
して、消弧室13を形成する側板15に支持され
ている。(第1図から第3図参照。) 35,35は、たとえば無機質高多孔材料から
なる1対の立壁であつて、第9図に示すごとく、
切欠部140に対向する各脚部14aの対向内壁
面140a,140aに沿つてその平面が各消弧
板14の平面とほぼ直交するように配置されてい
る。各脚部14aに1枚の立壁35が用いられて
いるので、前述のように配置すれば、切欠部14
0の巾は狭くなつて細隙を形成することになる。
これら立壁35,35は、対応する脚部14aに
適当な方法で固着させることにより支持しても良
く、または、所定の配置を取るように消弧室13
の側板15または容器3の壁部で支持させても良
い。
以上のごとく構成すれば、下記のごとく効果が
得られる。即ち、消弧板は、一般に、アークを磁
気作用によつて吸引(伸長)し、接触することに
よりアークを冷却して消弧する作用を行うもので
あるが、場合によつては、消弧板の切欠部の奥深
くまで侵入しないで消弧板の脚部に膠着してしま
う。こうなると、アークは充分に伸長し得ず、従
つて、充分冷却されないまま、電流零点を迎える
ことになつて、しや断されないことがある。この
ようなことは、特に、アーク電流により生ずる磁
場が消弧板の一部分と局所的な相互作用を行うよ
な場合、即ち、通電電流が比較的小電流域の時に
見られる。
また、単に立壁を切欠部に配置して消弧板に細
隙をもたせただけでは、例えば大電流アークが生
じて、このアークが細隙に侵入したとしても、細
隙内におけるアーク陽光柱の急激な温度上昇と、
これに伴う圧力上昇のために、アークは消弧板に
より吸引力を受けているのにもかかわらず、細隙
の奥深くまで容易に侵入しない。従つて、消弧板
による吸引、伸長、そして冷却作用が充分ではな
く、しや断性能も充分でない。
以上のことから、この発明においては、各立壁
35を繊維、網および見掛け気孔率が35%以上の
多孔質材料のうち1種もしくは2種以上の複合材
で構成することによつて上述の問題を解消できる
ものである。たとえば前述のように立壁35,3
5を無機質高多孔質材料で構成した場合、1対の
立壁35,35の間に形成される細隙に存在する
アークAの光エネルギーは、各立壁35の孔に吸
収される。したがつて、細隙に侵入しようとする
アークAの陽光柱の温度上昇および圧力上昇は極
端に抑制され、消弧板14の磁気力による大電流
アークの吸引駆動は、細隙によつて防害されるこ
とはない。
上記繊維としては、無機系、金属、複合材、織
材および不織布などのうちから選択されるが、高
温アークにさらされる空間に設置する関係上、熱
的強度のあるものが必要である。
また、網としては、無機系、金属および複合材
などのほか、細線金網を多層に重ねたものや編素
線などもその選択の対象となり得るものである。
この網の場合も、熱的強度のあるものが必要であ
る。
上記繊維および網の材料のうち、無機系ではセ
ラミツク、カーボン、アスベストなどが好適であ
り、金属ではFe,Cuが最適であり、Zn,Niなど
にメツキを施したものも適用可能である。
多孔質素材とは、一般には固体構造内に多数の
細孔を持つ材料で、金属、無機系、有機質などの
多くの範囲における材料に存在するもので、材質
と細孔との関係において、一つは固体粒子相互の
接点で焼結固化したもの、他の1つは孔が主体で
孔を形成する隔壁が固体物質であるものに区別さ
れている。なおこの発明で素材とは、形状にとら
われない、形状加工前のもとの材料をいう。
さらに細かく分類すると粒子間の隙間が細孔と
して存在するもの、粒子間の隙間と粒子内の孔の
細孔を共有するもの、発泡の孔を内部に包含する
ものなどに分けることができる。また通気性・通
水性のあるものと、気孔が内部に独立し通気性の
ないものとに大別することもできる。
上記の細孔の形状は非常に複雑で、広義的には
開孔と閉孔に類別され、その構造は、細孔容積ま
たは気孔率、細孔経および細孔径分布、比表面積
などで表示する。
気孔率には真の気孔率と見掛け気孔率とがあつ
て、多孔質素材に含まれる開孔と閉孔のすべての
細孔容積の割合を素材の全容積(カサ容積)に対
する空隙比すなわち百分率で示したものを真の気
孔率とし、測定方法は液体または気体による置換
法および吸収法などによるが、簡便法として
JISR2614の耐火断熱レンガの比重および気孔率
の測定方法に定義されるとおり次のように計算さ
れる。
真の気孔率=(1−カサ比重/真比重)×100% 他方、見掛け気孔率とは、開孔の容積の割合を
素材の全容積(カサ容積)に対する空隙比すなわ
ち百分率で示したものであつて、JISR2205耐火
レンガの見掛け気孔率、吸収率及び比重の測定方
法に定義されるとおり、次のようにして計算され
る。なお見掛け気孔率は有効気孔率ともいう。
見掛けの気孔率=飽水重量−乾燥重量/飽水重量−水
中重量×100% 細孔径は細孔容積および比表面積の測定値より
求められるが、原子やイオンの大きさに近いもの
から粒子団の界面間隙まで数Å(オングストロー
ム)から数mmまで分布するが、一般に、その分布
の平均値として定義される。多孔質素材では顕微
鏡による方法や水銀圧入法で気孔の形状、大きさ
およびその分布を測定することができる。一般に
は複雑な気孔の形状や分布の状態を正確に知るた
めには顕微鏡を用いるのが直接的で好ましい。
比表面積の測定には、各種吸着ガス質の各温度
における吸着等温線を利用して求めるBET法が
多く用いられ、特に窒素ガスが多く用いられる。
次にこの発明の前提である、高多孔質材料によ
る光のエネルギーの吸収とそれによるガスの圧力
低下の模様を、無機質高多孔材料を例に説明す
る。
第6図は無機質高多孔素材を示した斜視図、第
7図は第6図の部分拡大断面図である。図におい
て33は無機質高多孔素材、34は無機質物表面
に通じる開孔を示している。開孔34の細孔径は
数μから数mmまであつて大小さまざまな分布を示
しているものである。
さて、この多孔素材33に第7図のRにて示す
ように、光が開孔34に入射すると、光は無機物
の壁面に当ると、反射され、その細孔の内部で繰
返して起り、ついには壁面に100%吸収されてし
まう。即ち開孔34に入射した光は、無機物表面
に直接吸収され、細孔内で熱になるのである。
第8図は無機質高多孔材料をモデル容器内に入
れたものにおいて、その無機質高多孔材料の見掛
けの気孔率を変化させた時のモデル容器内圧力変
化の曲線図を示している。第8図で横軸は見掛け
の気孔率、縦軸は容器内壁をCu,Fe,Alなどの
金属で構成した時の圧力を1として規格化してあ
る。実験条件としては、一辺10cmの立方体の密閉
容器内にAgW接点を10mmの定ギヤツプに設置し
ピーク10KAの正弦波電流のアークを8mS(ミリ
秒)発生させ、この時のエネルギーで生じる容器
内圧力を測定している。
上記実施例に使用した無機質高多孔材料として
は、コ−ジライト材質の陶磁器原料を可燃性もし
くは発泡剤を加えるなどの方法で成形し焼結し
て、多気孔にした多孔質陶磁器で、平均細孔径が
10〜300μの範囲、多孔質素材の見掛け気孔率が
それぞれ20%,30%,35%,40%,45%,50%,
60%,70%,80%,85%のもので、50mm×50mm×
8mmtの各種サンプルを使用しこれを容器壁面に
配置し、容器内面の表面積の50%を覆うようにし
た。
細孔径としては、吸収される光の波長領域を若
干越える程度の平均細孔径とその細孔が表面に占
める割合、即ち、軸孔の比表面積の多少が問題と
なる。また、光の細孔内吸収においては、細孔の
深いものが効果があり、連通孔が好ましい。開閉
器でアークから発生する光は数百Å〜10000Å
(1μm)に分布するので、これを若干越える程度、
即ち数千Å〜数1000μmの平均細孔径のものが適
しており、表面に占める穴の面積が、見掛け気孔
率35%以上となる高多孔質材料がアークの発する
光の吸収に適している。特に、細孔径上限が
1000μm以下の範囲にある細孔の比表面積が大き
い程効果がある。実験では平均細孔径が5μ〜1
mmの高多孔材料を用いれば、アークの発する光に
対して、良好な吸収特性を示すことを確認した。
また、材質がガラスで、平均細孔径が5μ,20μで
ある場合、アークの発する光に対して良好な光の
吸収を観測した。
第8図の特性曲線aからわかるように、無機質
高多孔材料の気孔は光エネルギーを吸収し、開閉
器内部の圧力を低下する効果がある。これは多孔
質素材の見掛け気孔率の増大とともに大きくな
り、特に気孔率が35%以上であれば顕著になり、
85%までの範囲で効果が確認された。気孔率がさ
らに増大すれば、高多孔材料の厚さを一層増加さ
せることにより対応させる必要がある。
ただし多孔質素材の見掛け気孔率と機械的強度
の関係において、気孔率が大きくなると、もろく
なつたり、熱伝導性が低下し高熱により溶融し易
く、反対に、気孔率が小さい場合には、開閉器内
減圧の効果が薄い。従つて実用的には多孔質素材
の見掛け気孔率が40〜70%の範囲の高多孔質材料
が最適である。
第8図の特性傾向は無機質多孔材料全般につい
て言えることであつて、これは光の吸収に関する
以上の説明からも推察できるところである。
従来の開閉器には無機質材料が使用されている
ものがあるが、その使用目的は、特に有機物容器
のアークからの保護が主であつて、そのため、無
機質材料の選定にあたつては、耐アーク性、寿
命、熱伝導、機械的強度、絶縁性、炭化対策など
の特性が重視されている。これらの特性を満す無
機質材料は必然的にち密化指向で構成され、目的
を異にするもので、その見かけ気孔率は20%前後
となつている。
高多孔質素材としては無機、金属、有機系など
があるが、中でも無機系は、絶縁物でかつ高融点
材料として特徴ずけられる。この2つの性質は、
開閉器の容器内部に設置する材料としては好適で
あり、電気的に絶縁物なので、しや断に対し悪影
響を及ぼすことはなく、又、高温にさらされて
も、融けたり、ガスを出したりしないので、圧力
抑制材料としては最適である。
無機質多孔材料としては、多孔質の陶磁器、耐
火物、ガラス、セメント硬化体などがあり、いず
れも開閉器内のガスの圧力の低下をさせるために
使用できる。なお、有機系の多孔質材料では、耐
熱性およびガス発生に問題があり、金属系の多孔
質材料では、絶縁性、耐圧に問題があるので、そ
れぞれ使用する場所が限定される。
第11図はこの発明の実施例にもとづく実測例
である。
同図において、横軸は見掛け気孔率、縦軸は標
準品におけるアーク発生時の容器内圧力を規格値
1として、これに対比して示す圧力値である。
実験条件はつぎの通りである。
50Aフレームの実機を使用した。内容積は2cm
×9cm×深さ5cmの密閉容器で、この容器は有機
物であるフエノール樹脂で構成されたものであ
る。この実験の接点はAgwからなるもので、こ
れにより通常のしや断動作を行ない、ピーク値が
14KAの正弦半波電流のア−クを8ms(ミリ秒)発
生させ、この時のエネルギーで生じる容器内圧を
測定したものである。
上記立壁35,35を構成する無機質高多孔材
料としては、前述のコージライトを使用した。平
均細孔径範囲10μ〜300μで見掛け気孔率20%,30
%,35%,40%,50%,70%のもので、10mm×20
mm×3mmtのサンプルを両側に1枚づつ合計2枚
使用した。
同図中、曲線bが実測値から得られた特性曲線
である。黒点aは第8図の測定値aと同一であ
る。
上記特性曲線bからも明らかなように、無機質
高多孔質材料からなる1対の立壁35,35を消
弧板14の切欠部140の対向内壁面140a,
140aにそれぞれ設置するだけで、しや断性の
低下を招くことなく、内圧を抑制できることがわ
かる。
ところで、立壁35の形状については、上記実
施例のものに限定されるものではなく、たとえば
第12図のようなL字形のもの等、他の形状を選
択できる。
また、上記実施例では立壁35,35を見掛け
気孔率35%以上の無機質高多孔材料で構成したも
のであるが、無機質以外の多孔質材料で構成して
もよく、また多孔質材に代えて繊維もしくは網で
構成することもできるほか、繊維、網および特定
の気孔率の多孔質材料のうち、2種以上の複合材
で構成することも可能である。
上述の如くこの発明を実施すれば、小電流から
大電流まですぐれたしや断性能を有する開閉器が
提供できるうえ、無機質高多孔材料のような特定
の材料からなる立壁をアークに近い空間に配置し
ていることから、アークからの光エネルギーを有
効に吸収させて開閉器の内部の圧力を著しく抑制
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は従来の回路しや断器の断面図
で、それぞれ異なつた動作状態を示す。第4図は
接触子間にアークが発生した様子を示す説明図、
第5図は容器内の接触子間にアークが発生した様
子を示す説明図、第6図は無機質高多孔素材を示
す斜視図、第7図は第6図の部分拡大断面図、第
8図はアークを発生させたときの、見掛けの気孔
率に対する容器内圧力変化を示す曲線図、第9図
はこの発明に係る開閉器を適用した回路しや断器
の消弧板部分を示す上面図、第10図は第9図の
−線断面図、第11図はこの発明の一実施例
による回路しや断器の内圧実測値から求めた特性
図、第12図は立壁の変形例の説明図である。 3……容器、4,7……電気接触子、5,8…
…導体、6,9……接点、14……消弧板、35
……立壁、140……切欠部、140a,140
a……対向内壁面、A……アーク、F……駆動方
向。なお、図中同一符号は同一もしくは相当部分
を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 導体およびこれに固着された接点でなり容器
    内で開閉動作する少なくとも1対の電気接触子
    と、解放動作時に生ずるアークを吸収消弧するた
    めにアーク駆動方向の後方側の端面に切欠部を形
    成した消弧板とを備えた開閉器において、前記切
    欠部の対向内壁面に前記アーク駆動方向に沿つて
    配置され、見掛け気孔率が35%〜70%で平均細孔
    径が5μ〜1mmの多孔質材料でなり、前記アーク
    の光エネルギーを吸収する1対の立壁を備えてな
    ることを特徴とする開閉器。
JP6438882A 1982-04-15 1982-04-15 開閉器 Granted JPS58181236A (ja)

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DE8383103631T DE3377437D1 (en) 1982-04-15 1983-04-14 Circuit breaker with arc light absorber
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EP83103631A EP0092184B1 (en) 1982-04-15 1983-04-14 Circuit breaker with arc light absorber

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JP6438882A JPS58181236A (ja) 1982-04-15 1982-04-15 開閉器

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JPS5415267U (ja) * 1977-07-05 1979-01-31
JPS5619052A (en) * 1979-07-25 1981-02-23 Fujitsu Ltd Pattern correcting device
JPS5652841U (ja) * 1979-09-30 1981-05-09
JPS5685340U (ja) * 1979-12-06 1981-07-09

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