JPH0452773A - 画像監視方法 - Google Patents
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- JPH0452773A JPH0452773A JP2155703A JP15570390A JPH0452773A JP H0452773 A JPH0452773 A JP H0452773A JP 2155703 A JP2155703 A JP 2155703A JP 15570390 A JP15570390 A JP 15570390A JP H0452773 A JPH0452773 A JP H0452773A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、例えば製造組立工程等において平面基板上
にIC素子等が正しく実装されたか、監視対象物に孔が
正しく開けられたか等の監視を行なうだめの画像監視方
法に関する。
にIC素子等が正しく実装されたか、監視対象物に孔が
正しく開けられたか等の監視を行なうだめの画像監視方
法に関する。
[従来の技術]
長さやパターン等の良否判別、すなわち例えば被検査物
(監視対象物)の長さが規定通りか、被検査物の形状が
規定通りか等の判別は、被検査物をテレビカメラ等で撮
像して、その長さや形状等が現れている特徴領域部分を
含む検査領域をウィンドウで指定して、その部分内の上
記長さや形状が現れている画素の数を数える等により物
理量として精度高く測定し、その画素数が許容値以内で
あるか否か等により良否判別が行われている。
(監視対象物)の長さが規定通りか、被検査物の形状が
規定通りか等の判別は、被検査物をテレビカメラ等で撮
像して、その長さや形状等が現れている特徴領域部分を
含む検査領域をウィンドウで指定して、その部分内の上
記長さや形状が現れている画素の数を数える等により物
理量として精度高く測定し、その画素数が許容値以内で
あるか否か等により良否判別が行われている。
ところで製造組立工程等での加工後の外観検査等、例え
ば孔開は工程での加工後、孔が正しく開けられているか
の監視は、孔の開けられている位置の精度、孔径の精度
は重要ではなく、たた所定径前後の孔が所定位置近傍に
開けられていればよいことも多い。また素子実装工程で
は、実装される素子は大きさのばらつきがあり、また実
装される位置は多少のばらつきがあってもよいことも多
い。
ば孔開は工程での加工後、孔が正しく開けられているか
の監視は、孔の開けられている位置の精度、孔径の精度
は重要ではなく、たた所定径前後の孔が所定位置近傍に
開けられていればよいことも多い。また素子実装工程で
は、実装される素子は大きさのばらつきがあり、また実
装される位置は多少のばらつきがあってもよいことも多
い。
[解決しようとする課題]
従って、このような外観検査等のあいまいな抽象的判断
基準による検査(以後、監視という)では、上記ずれ、
ばらつき等が許容されなければならない。
基準による検査(以後、監視という)では、上記ずれ、
ばらつき等が許容されなければならない。
そこて庫発明の目的は、特徴領域の大きさのばらつき1
位置ずれ等を許容することが可能であり、また監視条件
の変動も許容することが可能な画像監視方法を提供する
ことにある。
位置ずれ等を許容することが可能であり、また監視条件
の変動も許容することが可能な画像監視方法を提供する
ことにある。
[課題を解決するだめの手段]
ト記目的を達成するために、本発明は、監視画像を2値
化レベルで2値符号化し、この2値符号により監視判定
を行なう画像監視方法において、2値化レベル近傍にお
いて不感帯領域を設けて、この不感帯領域外で2値化さ
れた2値符号に基づいて、監視判定を行なう。
化レベルで2値符号化し、この2値符号により監視判定
を行なう画像監視方法において、2値化レベル近傍にお
いて不感帯領域を設けて、この不感帯領域外で2値化さ
れた2値符号に基づいて、監視判定を行なう。
[実施例]
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
まず、本発明に用いられる画像監視装置の全体構成につ
いて説明する。第4図において、監視対象物1は製造ラ
イン等の孔開は加工工程、素子実装上程等(図示省略)
中にあり、照明2の下で、撮像手段3により、加工され
る而の撮像が行われる。撮像は加工前の事前画像と、加
工後の事後画像の双方か行われる。加工機械における加
工準備終了や加工終了の入力制御信号は入力周囲線5に
より装置本体7に入力される。装置本体7の動作条件等
は、キーバット8て入力される。人力制御信号か回線5
より人力されるごとに装置本体7は事前監視や事後監視
を実行し1、結果を出力用回線6より出力制御信号とし
て出力する。なお装置本体7には、撮像手段3て撮像し
た映像、さらにそれを2値化し、た画像信号等を表示可
能なCRT 7aか設けである。
いて説明する。第4図において、監視対象物1は製造ラ
イン等の孔開は加工工程、素子実装上程等(図示省略)
中にあり、照明2の下で、撮像手段3により、加工され
る而の撮像が行われる。撮像は加工前の事前画像と、加
工後の事後画像の双方か行われる。加工機械における加
工準備終了や加工終了の入力制御信号は入力周囲線5に
より装置本体7に入力される。装置本体7の動作条件等
は、キーバット8て入力される。人力制御信号か回線5
より人力されるごとに装置本体7は事前監視や事後監視
を実行し1、結果を出力用回線6より出力制御信号とし
て出力する。なお装置本体7には、撮像手段3て撮像し
た映像、さらにそれを2値化し、た画像信号等を表示可
能なCRT 7aか設けである。
次に、装置本体7の内部構成を第5図を用いて説明する
。
。
ROM21にはCPU22を動作させるためのプログラ
ムが記憶されている。特に、ROM21には事前及び事
後監視における検査領域を抽出するためのプログラム、
検査画像と検査領域との積画像をとるためのプログラム
が記憶されている(第1図参照)。なお、検査領域を抽
出するだめのプログラム、検査画像と検査領域との積画
像をとるためのプログラムは別のハードウェアとして装
置本体7内に設けることも可能である。
ムが記憶されている。特に、ROM21には事前及び事
後監視における検査領域を抽出するためのプログラム、
検査画像と検査領域との積画像をとるためのプログラム
が記憶されている(第1図参照)。なお、検査領域を抽
出するだめのプログラム、検査画像と検査領域との積画
像をとるためのプログラムは別のハードウェアとして装
置本体7内に設けることも可能である。
RAM23には事前監視および事後監視における検査領
域、N個の検査ブロックの大きさ及び位置、各ブロック
における良否判定の際の基準値(画素変化点の数)及び
許容値等のデータが記憶されている。検査ブロックの大
きさ及び位置、各ブロックにおける基準値及び許容値等
の条件は、オペLノータがCRT?a等を見ながら、キ
ーバッド8等より入力し、i / oポート29を介し
てRAM23に記憶される。
域、N個の検査ブロックの大きさ及び位置、各ブロック
における良否判定の際の基準値(画素変化点の数)及び
許容値等のデータが記憶されている。検査ブロックの大
きさ及び位置、各ブロックにおける基準値及び許容値等
の条件は、オペLノータがCRT?a等を見ながら、キ
ーバッド8等より入力し、i / oポート29を介し
てRAM23に記憶される。
CPU22はROM21の指令およびRAM23のデー
タに基づき、事前監視及び事後監視における検査領域の
設定、事前及び事後監視における各検査ブロックの良否
判定等を行なう。
タに基づき、事前監視及び事後監視における検査領域の
設定、事前及び事後監視における各検査ブロックの良否
判定等を行なう。
撮像手段3で撮像した画像信号はA/D回路30を経て
2値化されて71ノームメモリ31に蓄えられ、また7
レームメモリ31の内容は表示回路32を経てCRT7
aに表示される。なお71ノームメモリ31には、それ
ぞれ事前画像、事後画像か記憶される。
2値化されて71ノームメモリ31に蓄えられ、また7
レームメモリ31の内容は表示回路32を経てCRT7
aに表示される。なお71ノームメモリ31には、それ
ぞれ事前画像、事後画像か記憶される。
次に本実施例の詳細を第1.2.3,6.7図を用いて
説明する。
説明する。
画像監視処理は事前監視、事後監視の2つの監視動作か
ら構成される。事前監視は監視対象物を加工前に画像入
力し正常状態にあるかを判断する。
ら構成される。事前監視は監視対象物を加工前に画像入
力し正常状態にあるかを判断する。
異常か検出されると直ちに加工を中止する。事後監視は
加圧終了状態が正常がとぅがを判断する。
加圧終了状態が正常がとぅがを判断する。
異常が検出されると直ちに再検査または次回の加]こを
中止する。
中止する。
第6図において、ます監視条件を設定しく602)、監
視対象物1の正常な事前画像とその正常な監視対象物1
に正常な加工を施した後の事後画像を入力し、かつそれ
ぞれをA/D回路3oにより2値化する(603)。そ
(7てそれぞれにおいて、検査領域における特徴量を計
算して良否判定の基準値とし、また各検査ブロックへ分
割する(604)。
視対象物1の正常な事前画像とその正常な監視対象物1
に正常な加工を施した後の事後画像を入力し、かつそれ
ぞれをA/D回路3oにより2値化する(603)。そ
(7てそれぞれにおいて、検査領域における特徴量を計
算して良否判定の基準値とし、また各検査ブロックへ分
割する(604)。
以下、事後監視における検査領域の設定方法。
特徴付の計算方法等について説明する。
ます検査領域の設定方法について説明する。
第2図(a)は撮像手段3からの正常事後画像における
出力電圧であり、加工が施された特徴領域部分(孔)W
は他の部分に対して出力電圧値が変化しており、所定の
2値化レベルvthで2値化することによりこの部分を
他の部分より区別することができ、この部分の特徴量を
算出して基準値とし、各監視対象物の検査により得られ
た特徴量をこの基準値と比較することにより、その監視
対象物の良否を判定できる。しかし監視ではばらつき1
位置ずれ等を許容したいため、2値化レベルVthと出
力電圧との交点付近を不感帯領域として検査領域から除
外する(第2図(b)参照)。
出力電圧であり、加工が施された特徴領域部分(孔)W
は他の部分に対して出力電圧値が変化しており、所定の
2値化レベルvthで2値化することによりこの部分を
他の部分より区別することができ、この部分の特徴量を
算出して基準値とし、各監視対象物の検査により得られ
た特徴量をこの基準値と比較することにより、その監視
対象物の良否を判定できる。しかし監視ではばらつき1
位置ずれ等を許容したいため、2値化レベルVthと出
力電圧との交点付近を不感帯領域として検査領域から除
外する(第2図(b)参照)。
これを行なうために、所定の2値化レベル微少変化量Δ
を定めて、Vth−Δ及びVth+Δで2値化し、これ
らの排他的論理和☆をとり、その結果に論理否定へをと
り、検査領域Bを求める。すなわち2値化画像をI
(Vth)とすると、B−A (I (Vth−4)
*I (Vth+liとする。この式をブロック図
で実現したものが第1図のJの部分である。なおΔの値
は、検査監視対象物の特徴領域の大きさのばらつき1位
置ずれが許容範囲内にあるとき、その特徴領域の輪郭線
が不感帯領域に収まるように、定めることが好ましい。
を定めて、Vth−Δ及びVth+Δで2値化し、これ
らの排他的論理和☆をとり、その結果に論理否定へをと
り、検査領域Bを求める。すなわち2値化画像をI
(Vth)とすると、B−A (I (Vth−4)
*I (Vth+liとする。この式をブロック図
で実現したものが第1図のJの部分である。なおΔの値
は、検査監視対象物の特徴領域の大きさのばらつき1位
置ずれが許容範囲内にあるとき、その特徴領域の輪郭線
が不感帯領域に収まるように、定めることが好ましい。
更に、検査領域の求め方を第3図の具体例で説明する。
撮像手段3の撮影画面全体またはウィンド等で囲ったそ
の一部からなる監視画面S内に、加工により、丸部及び
鉤部からなる特徴領域か生ずるとする。そこで正常事後
画像をとった後、同図(a)のI(Vth−Δ)と同図
(b)のI (Vth+Δ)との排他的論理和をとると
、同図(a)と同図(b)とて異符号の部分が符号1と
して表れ、同符号の部分は符号Oとして表れるため、同
図(C)の不感帯領域が得られる。従ってこれの論理否
定を取ることにより、同図(d)に示す検査領域Bが得
られる。ここに検査領域Bは2値化レベルをVth+Δ
としたときの符号変化位置と2値化レベルをVth−Δ
としたときの符号変化位置との間の領域は不感帯領域と
して検査領域から削除されている。
の一部からなる監視画面S内に、加工により、丸部及び
鉤部からなる特徴領域か生ずるとする。そこで正常事後
画像をとった後、同図(a)のI(Vth−Δ)と同図
(b)のI (Vth+Δ)との排他的論理和をとると
、同図(a)と同図(b)とて異符号の部分が符号1と
して表れ、同符号の部分は符号Oとして表れるため、同
図(C)の不感帯領域が得られる。従ってこれの論理否
定を取ることにより、同図(d)に示す検査領域Bが得
られる。ここに検査領域Bは2値化レベルをVth+Δ
としたときの符号変化位置と2値化レベルをVth−Δ
としたときの符号変化位置との間の領域は不感帯領域と
して検査領域から削除されている。
次に検査領域が求まると、この検査領域における正常監
視対象物の特徴量を計算する(604)。
視対象物の特徴量を計算する(604)。
ここに正常監視対象物の2値化信号はI(Vth)であ
るため、その領域はI(Vth−Δ)の領域とI(Vt
h+Δ)の領域との間にあり、従って、検査領域におけ
る正常監視対象物の特徴領域はI(Vth十Δ)の領域
と同一になる。従って領域■(V th+Δ)の部分の
画素数を数えて良否判定の基準値とする。
るため、その領域はI(Vth−Δ)の領域とI(Vt
h+Δ)の領域との間にあり、従って、検査領域におけ
る正常監視対象物の特徴領域はI(Vth十Δ)の領域
と同一になる。従って領域■(V th+Δ)の部分の
画素数を数えて良否判定の基準値とする。
次に監視領域Sを良否判定を行なうに最適の大きさのN
個の検査ブロックに分割する(図示省略)。そして各検
査ブロック内で上記の基準値がいくつあるかを算出する
。また各検査ブロックの良否判定の際の許容値を設定す
る。
個の検査ブロックに分割する(図示省略)。そして各検
査ブロック内で上記の基準値がいくつあるかを算出する
。また各検査ブロックの良否判定の際の許容値を設定す
る。
以上の検査領域の設定、良否判定の基準値の計算、検査
ブロックへの分割、許容値設定の説明は事後監視につい
てのものであるが、事前監視についても同様の方法で設
定、計算を行なう。
ブロックへの分割、許容値設定の説明は事後監視につい
てのものであるが、事前監視についても同様の方法で設
定、計算を行なう。
これにより事前、事後の基準画像教示が終わる(6 0
4) 。
4) 。
次に実際の監視に移る。回線5により加工準備終了の信
号が入ると(605) 、監視対象物1の加工面の撮像
を行ない、事前検査画像を入力して2値化し、2値打号
信号1aを得(606) 、フレームメモリ31に蓄え
る。なおこの信号Iaは事後監視でも用いるため、事前
監視の終了後も記憶させておく。そして上記検査領域で
の特徴量を求めて、各ブロックごとに基準値と比較し許
容値内であれば良、許容値外であれば不良の判定を行な
い(607) 、結果を出力制御信号Cて通知する(6
08)。
号が入ると(605) 、監視対象物1の加工面の撮像
を行ない、事前検査画像を入力して2値化し、2値打号
信号1aを得(606) 、フレームメモリ31に蓄え
る。なおこの信号Iaは事後監視でも用いるため、事前
監視の終了後も記憶させておく。そして上記検査領域で
の特徴量を求めて、各ブロックごとに基準値と比較し許
容値内であれば良、許容値外であれば不良の判定を行な
い(607) 、結果を出力制御信号Cて通知する(6
08)。
事前監視が良判定のときは、加工か行われ、加工終了の
信号が入ると(609) 、監視対象物1の加工後の撮
像を行ない、事後検査画像を入力して2値化し2値打号
信号1bを得(610) 、フレームメモリ31に蓄え
る。
信号が入ると(609) 、監視対象物1の加工後の撮
像を行ない、事後検査画像を入力して2値化し2値打号
信号1bを得(610) 、フレームメモリ31に蓄え
る。
そして第7図に示すように、排他的論理和を用いて、事
前2値符号信号1aと事後2値符号信号Ibとの差画像
Icを算出する(704.第1図のに部分参照)。これ
により第3図(f)に示すように、加工により変化した
部分か符号1の像として抽出される。検査監視対象物の
符号1の像として抽出された部分は丸形の部分Uと鉤形
の部分Vとよりなるとする。そして、丸形の部分Uは正
常のものに比較して位置ずれしておらず、かつその径は
不感帯領域内に収まっており、鉤形の部分Vは正常のも
のに比較してその大きさは不感帯領域のなかに収まって
いるが、左方に許容値以上に位置ずれしているとする。
前2値符号信号1aと事後2値符号信号Ibとの差画像
Icを算出する(704.第1図のに部分参照)。これ
により第3図(f)に示すように、加工により変化した
部分か符号1の像として抽出される。検査監視対象物の
符号1の像として抽出された部分は丸形の部分Uと鉤形
の部分Vとよりなるとする。そして、丸形の部分Uは正
常のものに比較して位置ずれしておらず、かつその径は
不感帯領域内に収まっており、鉤形の部分Vは正常のも
のに比較してその大きさは不感帯領域のなかに収まって
いるが、左方に許容値以上に位置ずれしているとする。
そして差画像1cと検査領域Bとの論理積をとることに
より、検査領域内の部分を検査値Aとして抽出する(7
05.第1図参照)。第3図(g)に示すように、第3
図(f)の像のうち、検査領域内の部分が検査値Aとし
て抽出される。ここに不感帯領域の部分は検査値Aとし
て抽出されないために、丸形の部分Uは基準特徴領域と
同一の部分u1のみが抽出され、駒形の部分■は基準特
徴領域内のうち鉤形の部分■で覆われている部分Vl及
び左方に位置ずれしたために不感帯領域の外側にはみ出
た部分v2.v3か抽出される。
より、検査領域内の部分を検査値Aとして抽出する(7
05.第1図参照)。第3図(g)に示すように、第3
図(f)の像のうち、検査領域内の部分が検査値Aとし
て抽出される。ここに不感帯領域の部分は検査値Aとし
て抽出されないために、丸形の部分Uは基準特徴領域と
同一の部分u1のみが抽出され、駒形の部分■は基準特
徴領域内のうち鉤形の部分■で覆われている部分Vl及
び左方に位置ずれしたために不感帯領域の外側にはみ出
た部分v2.v3か抽出される。
そして検査値Aを各検査ブロックに分割し、これか各検
査ブロックにおける事前と事後との間の変化画素数Pi
となる(707)。そしてPiが許容値内か否か判断し
て各検査ブロックの良否判定を行ない(708〜712
) 、その結果を事後監視結果として出力する(612
)。第3図(g)において、駒形の基準特徴領域内のう
ち部分vlで覆われていない所、及び不感帯領域で覆わ
れない部分v2.v3が存在するために、それらが存在
する検査ブロックの検査において、それらの結果、許容
値を外れた場合は、それらの検査ブロックにおいて不良
と判定される。なお検査領域Bに残った残存画素のうち
、雑音によるものは画素数が少ないために、検査ブロッ
クの検査の際、許容値内に収まり、従って判定の際無視
される。
査ブロックにおける事前と事後との間の変化画素数Pi
となる(707)。そしてPiが許容値内か否か判断し
て各検査ブロックの良否判定を行ない(708〜712
) 、その結果を事後監視結果として出力する(612
)。第3図(g)において、駒形の基準特徴領域内のう
ち部分vlで覆われていない所、及び不感帯領域で覆わ
れない部分v2.v3が存在するために、それらが存在
する検査ブロックの検査において、それらの結果、許容
値を外れた場合は、それらの検査ブロックにおいて不良
と判定される。なお検査領域Bに残った残存画素のうち
、雑音によるものは画素数が少ないために、検査ブロッ
クの検査の際、許容値内に収まり、従って判定の際無視
される。
いずれかの検査ブロックにおいて不良の判定のときは、
次の加工の中止、又は再検査が可能な場合は異常と判定
された検査ブロックを再検査する。
次の加工の中止、又は再検査が可能な場合は異常と判定
された検査ブロックを再検査する。
全てのブロックにおいて良であり、事後監視の結果(6
12)が良のときは次の加工が引き続き行われ、上記と
同様の監視が繰り返される。
12)が良のときは次の加工が引き続き行われ、上記と
同様の監視が繰り返される。
上記実施例においては、事後監視は、事前画像と事後画
像との差画像と検査領域との論理積をとって行うため、
事前事後の微少な変化等の雑音を除去することができ、
それらによる誤判定を防止することができる。
像との差画像と検査領域との論理積をとって行うため、
事前事後の微少な変化等の雑音を除去することができ、
それらによる誤判定を防止することができる。
上記実施例の事後監視において、検査画像は2値化され
た事前画像及び事後画像の差画像としたか、検査画像を
2値化した事後画像として、この事後画像と検査領域B
との論理積をとって検査値Aとしてもよい。
た事前画像及び事後画像の差画像としたか、検査画像を
2値化した事後画像として、この事後画像と検査領域B
との論理積をとって検査値Aとしてもよい。
また検査画像を2値化された事前画像及び事後画像の差
画像とする場合、第1図のj部分において、入力される
正常画像信号を2値化される前の事前画像と事後画像と
の間の差画像とし、これに2値化、排他的論理和、論理
否定等の操作を加えてもよい。
画像とする場合、第1図のj部分において、入力される
正常画像信号を2値化される前の事前画像と事後画像と
の間の差画像とし、これに2値化、排他的論理和、論理
否定等の操作を加えてもよい。
[効果コ
本発明は、2値化する際の符号変化点の近傍に不感帯領
域を設けて、この不感帯領域外で監視判定を行うとした
ため、監視対象物の特徴領域の許容可能な位置ずれ、大
きさの不揃い等か許容されて監視の目的に沿った監視を
行うことができる。
域を設けて、この不感帯領域外で監視判定を行うとした
ため、監視対象物の特徴領域の許容可能な位置ずれ、大
きさの不揃い等か許容されて監視の目的に沿った監視を
行うことができる。
また、監視面の照度が変動したことによる撮像手段の出
力の変動等に対しても所定範囲内の変動であれば、不感
帯領域が存在するためにこれに吸収され、正しい監視を
行うことができる。
力の変動等に対しても所定範囲内の変動であれば、不感
帯領域が存在するためにこれに吸収され、正しい監視を
行うことができる。
第1図は不感帯領域を除いた領域で撮像手段の出力から
検査値を得る回路の構成を示すブロック図、 第2図(a)は不感帯領域を除いた領域(検査領域)を
得るために撮像手段の出力をVth+Δ及びVth−Δ
で2値化する動作を説明するための説明図、同図(b)
は検査領域を示す説明図、第3図(a) 〜(c)はB
−Afl(Vth−Δ)☆I(Vth+Δ))の計算式
による不感帯領域の検出動作を説明するための説明図、
第3図(cl)はその結果得られた検査領域を示す説明
図、第3図(e)は正常監視対象物の特徴領域を示す説
明図、第3図(f)および(g)は監視対象物に対する
2値打号化動作を説明するための説明図、第4図は画像
監視装置で監視対象物を監視している様子を示す外観斜
視図、 第5図は画像監視装置の内部構成を示したブロック図、 第6図は画像監視動作を説明するためのフローチャート
、 第7図は第6図のフローチャートにおける事後監視処理
を具体的に説明するためのフローチャートである。 Vth・・・2値化レベル。 以 上
検査値を得る回路の構成を示すブロック図、 第2図(a)は不感帯領域を除いた領域(検査領域)を
得るために撮像手段の出力をVth+Δ及びVth−Δ
で2値化する動作を説明するための説明図、同図(b)
は検査領域を示す説明図、第3図(a) 〜(c)はB
−Afl(Vth−Δ)☆I(Vth+Δ))の計算式
による不感帯領域の検出動作を説明するための説明図、
第3図(cl)はその結果得られた検査領域を示す説明
図、第3図(e)は正常監視対象物の特徴領域を示す説
明図、第3図(f)および(g)は監視対象物に対する
2値打号化動作を説明するための説明図、第4図は画像
監視装置で監視対象物を監視している様子を示す外観斜
視図、 第5図は画像監視装置の内部構成を示したブロック図、 第6図は画像監視動作を説明するためのフローチャート
、 第7図は第6図のフローチャートにおける事後監視処理
を具体的に説明するためのフローチャートである。 Vth・・・2値化レベル。 以 上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 監視画像を2値化レベルで2値符号化し、この2値符号
により監視判定を行なう画像監視方法において、 上記2値化レベル近傍において不感帯領域を設けて、こ
の不感帯領域外で2値化された2値符号に基づいて、上
記監視判定を行なう ことを特徴とする画像監視方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2155703A JPH0452773A (ja) | 1990-06-14 | 1990-06-14 | 画像監視方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2155703A JPH0452773A (ja) | 1990-06-14 | 1990-06-14 | 画像監視方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0452773A true JPH0452773A (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=15611673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2155703A Pending JPH0452773A (ja) | 1990-06-14 | 1990-06-14 | 画像監視方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0452773A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022109445A (ja) * | 2021-01-15 | 2022-07-28 | トヨタ自動車株式会社 | 加工管理システム、加工管理方法及びプログラム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS615309A (ja) * | 1984-06-19 | 1986-01-11 | Mitsubishi Electric Corp | 視覚コントロ−ラ |
| JPS6135303A (ja) * | 1984-07-27 | 1986-02-19 | Hitachi Ltd | パタ−ン欠陥検査装置 |
| JPS61253411A (ja) * | 1985-05-02 | 1986-11-11 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査方式 |
-
1990
- 1990-06-14 JP JP2155703A patent/JPH0452773A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS615309A (ja) * | 1984-06-19 | 1986-01-11 | Mitsubishi Electric Corp | 視覚コントロ−ラ |
| JPS6135303A (ja) * | 1984-07-27 | 1986-02-19 | Hitachi Ltd | パタ−ン欠陥検査装置 |
| JPS61253411A (ja) * | 1985-05-02 | 1986-11-11 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査方式 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022109445A (ja) * | 2021-01-15 | 2022-07-28 | トヨタ自動車株式会社 | 加工管理システム、加工管理方法及びプログラム |
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