JPH0452997Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0452997Y2 JPH0452997Y2 JP1987138838U JP13883887U JPH0452997Y2 JP H0452997 Y2 JPH0452997 Y2 JP H0452997Y2 JP 1987138838 U JP1987138838 U JP 1987138838U JP 13883887 U JP13883887 U JP 13883887U JP H0452997 Y2 JPH0452997 Y2 JP H0452997Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit board
- protrusion
- sealing frame
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16H—GEARING
- F16H57/00—General details of gearing
- F16H57/04—Features relating to lubrication or cooling or heating
- F16H57/0467—Elements of gearings to be lubricated, cooled or heated
- F16H57/0479—Gears or bearings on planet carriers
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、ICチツプなどの半導体素子を搭載
した半導体装置に係り、特にプリント基板とその
上に配置する封止枠体の連結構造に関するもので
ある。
した半導体装置に係り、特にプリント基板とその
上に配置する封止枠体の連結構造に関するもので
ある。
第7図は、従来のプラスチツクパツケージ型半
導体装置の断面図である。同図に示すようにプリ
ント基板51の所定位置にはICチツプ52が塔
載され、プリント基板51上にパターンニングさ
れた導電層53と前記ICチツプ52とはボンデ
ングワイヤ54によつてそれぞれ接続されてい
る。ICチツプ52やボンデングワイヤ54を保
護するために、中央部が開口した封止枠体55が
プリント基板51上に配置され、それの中空部に
合成樹脂56を注入して固化することにより、
ICチツプ52ならびに各ボンデングワイヤ54
を合成樹脂56中に埋設して密封していた。
導体装置の断面図である。同図に示すようにプリ
ント基板51の所定位置にはICチツプ52が塔
載され、プリント基板51上にパターンニングさ
れた導電層53と前記ICチツプ52とはボンデ
ングワイヤ54によつてそれぞれ接続されてい
る。ICチツプ52やボンデングワイヤ54を保
護するために、中央部が開口した封止枠体55が
プリント基板51上に配置され、それの中空部に
合成樹脂56を注入して固化することにより、
ICチツプ52ならびに各ボンデングワイヤ54
を合成樹脂56中に埋設して密封していた。
なお図中の57はキヤツプ、58はリードピ
ン、59は接着剤である。
ン、59は接着剤である。
ところでこの従来の半導体装置は、プリント基
板51上に封止枠体55を固定するのに液状の接
着剤59を使用していた。そのため接着剤59の
一部が内側にはみ出して導電層53を覆い、後か
らワイヤ54をボンデングするのに障害となり、
接続の信頼性の点で問題がある。
板51上に封止枠体55を固定するのに液状の接
着剤59を使用していた。そのため接着剤59の
一部が内側にはみ出して導電層53を覆い、後か
らワイヤ54をボンデングするのに障害となり、
接続の信頼性の点で問題がある。
また接着剤59が乾燥するまでに時間がかか
り、作業能率が悪いばかりでなく、乾燥するまで
に封止枠55がプリント基板51上からずれてし
まい、外観を損ねることがある。
り、作業能率が悪いばかりでなく、乾燥するまで
に封止枠55がプリント基板51上からずれてし
まい、外観を損ねることがある。
従来、実開昭62−36541号公報に記載されてい
るようなプリント基板におけるモールド用枠体が
提案されている。
るようなプリント基板におけるモールド用枠体が
提案されている。
このモールド用枠体は、先端部に係止爪を有す
る複数のピンをプリント基板と対向する側に一体
に形成し、プリント基板に設けられた位置決め穴
に前記ピンを圧入することによつて、前記係止爪
をプリント基板の裏側開口縁と係合させて、プリ
ント基板上にモールド用枠体を固定する構造にな
つている。
る複数のピンをプリント基板と対向する側に一体
に形成し、プリント基板に設けられた位置決め穴
に前記ピンを圧入することによつて、前記係止爪
をプリント基板の裏側開口縁と係合させて、プリ
ント基板上にモールド用枠体を固定する構造にな
つている。
この提案により、今までのプリント基板とモー
ルド用枠体とを接着剤で接合していたものに比べ
て作業性の向上を図ることは出来たが、次のよう
な欠点を有している。
ルド用枠体とを接着剤で接合していたものに比べ
て作業性の向上を図ることは出来たが、次のよう
な欠点を有している。
前記モールド用枠体底面と前記係止爪との間
隔は一定であるから、プリント基板の板厚が薄
くなつた場合、プリント基板上にモールド用枠
体を取り付けても、両者の間にがたが生じる。
そのためにモールド用枠体内に流し込んだ合成
樹脂がプリント基板とモールド用枠体との隙間
を通つて外側に流出することがある。
隔は一定であるから、プリント基板の板厚が薄
くなつた場合、プリント基板上にモールド用枠
体を取り付けても、両者の間にがたが生じる。
そのためにモールド用枠体内に流し込んだ合成
樹脂がプリント基板とモールド用枠体との隙間
を通つて外側に流出することがある。
このようなことが起こらないようにするため
には、プリント基板の板厚が変更になると、そ
の度毎にモールド用枠体を成形し直して、モー
ルド用枠体底面と係止爪との間隔をプリント基
板の板厚に応じて変更しなければならない。
には、プリント基板の板厚が変更になると、そ
の度毎にモールド用枠体を成形し直して、モー
ルド用枠体底面と係止爪との間隔をプリント基
板の板厚に応じて変更しなければならない。
モールド用枠体は導電パターンが形成されて
いるプリント基板の上面に配置されることか
ら、その枠体を金属で構成することはできず、
一般に電気絶縁性を有する合成樹脂で成形され
る。
いるプリント基板の上面に配置されることか
ら、その枠体を金属で構成することはできず、
一般に電気絶縁性を有する合成樹脂で成形され
る。
一方、プリント基板の材質としてガラス−エポ
シキ樹脂が常用されているが、これは前記合成樹
脂に比べると硬質である。
シキ樹脂が常用されているが、これは前記合成樹
脂に比べると硬質である。
そのためモールド用枠体のピン(合成樹脂製)
をプリント基板(ガラス−エポキシ樹脂)の位置
決め穴に圧入して貫通させるとき、そのピンが折
れたり、ピンの先端部に形成された係止爪の山の
部分が削られて損耗してしまい、係止爪による係
止効果が減退してプリント基板から外れ易いなど
の欠点を有している。
をプリント基板(ガラス−エポキシ樹脂)の位置
決め穴に圧入して貫通させるとき、そのピンが折
れたり、ピンの先端部に形成された係止爪の山の
部分が削られて損耗してしまい、係止爪による係
止効果が減退してプリント基板から外れ易いなど
の欠点を有している。
本考案の目的は、このような従来技術の欠点を
解消し、信頼性が高く、しかも生産性の良好な半
導体装置を提供するにある。
解消し、信頼性が高く、しかも生産性の良好な半
導体装置を提供するにある。
前述の目的を達成るため、本考案は、半導体素
子を塔載したプリント基板上に封止枠体を載置
し、その封止枠体の開口部内に樹脂を注入して、
固化することにより前記半導体素子を封止する構
造の半導体装置において、 前記封止枠体ならびにプリント基板に、両者を
重合した際に互に連通する第1の透孔ならびに第
2の透孔をそれぞれ形成し、その封止枠体に設け
られた第1の透孔よりも外寸が若干大きい第1の
突部と、前記プリント基板に設けられた第2の透
孔よりも外寸が若干大きくかつピン周面からの突
出長さが前記第1の突部のピン周面からの突出長
さよりも短い2の突部とをリードピンにそれぞれ
設け、そのリードピンを封止枠体の第1の透孔側
からプリント基板の第2の透孔側に向けて圧入す
ることにより、前記第1の突部を第1の透孔内周
部に食い込ませ、第2の突部を第2の透孔内周部
に食い込ませて、そのリードピンによつて封止枠
体とプリント基板とを一体に連結したことを特徴
とするものである。
子を塔載したプリント基板上に封止枠体を載置
し、その封止枠体の開口部内に樹脂を注入して、
固化することにより前記半導体素子を封止する構
造の半導体装置において、 前記封止枠体ならびにプリント基板に、両者を
重合した際に互に連通する第1の透孔ならびに第
2の透孔をそれぞれ形成し、その封止枠体に設け
られた第1の透孔よりも外寸が若干大きい第1の
突部と、前記プリント基板に設けられた第2の透
孔よりも外寸が若干大きくかつピン周面からの突
出長さが前記第1の突部のピン周面からの突出長
さよりも短い2の突部とをリードピンにそれぞれ
設け、そのリードピンを封止枠体の第1の透孔側
からプリント基板の第2の透孔側に向けて圧入す
ることにより、前記第1の突部を第1の透孔内周
部に食い込ませ、第2の突部を第2の透孔内周部
に食い込ませて、そのリードピンによつて封止枠
体とプリント基板とを一体に連結したことを特徴
とするものである。
次に本考案の実施例を図面ととに説明する。第
1図は実施例に係る半導体装置の断面図、第2図
はその半導体装置に用いられるリードピンの拡大
側面図、第3図ならびに第4図はその半導体装置
の組立順序の一部を説明するための断面図、第5
図ならびに第6図はリードピンの変形例を示す正
面図ならびに側面図である。
1図は実施例に係る半導体装置の断面図、第2図
はその半導体装置に用いられるリードピンの拡大
側面図、第3図ならびに第4図はその半導体装置
の組立順序の一部を説明するための断面図、第5
図ならびに第6図はリードピンの変形例を示す正
面図ならびに側面図である。
プリント基板1は例えばガラス−エポシキ樹脂
からなり、それのほぼ中央部にはICチツプ2を
塔載するために凹部が設けられている。また上面
には、導電層3が所定の形状にパターンニングさ
れている。ICチツプ2と導電層3は、ボンデン
グワイヤ5によつて電気的に接続されている。
からなり、それのほぼ中央部にはICチツプ2を
塔載するために凹部が設けられている。また上面
には、導電層3が所定の形状にパターンニングさ
れている。ICチツプ2と導電層3は、ボンデン
グワイヤ5によつて電気的に接続されている。
プリント基板1上には、それと同じようにガラ
ス−エポキシ樹脂からなる封止枠体4が配置、固
定され、その封止枠体4の中空部に例えばエポシ
キ系樹脂、シリコーン系樹脂、紫外線硬化樹脂な
どからなる合成樹脂6が注入して固化され、前述
のICチツプ2ならびにボンデングワイヤ5を気
密に埋設する。さらに封止枠体4の上には平板状
のキヤツプ7が装着、固定される。
ス−エポキシ樹脂からなる封止枠体4が配置、固
定され、その封止枠体4の中空部に例えばエポシ
キ系樹脂、シリコーン系樹脂、紫外線硬化樹脂な
どからなる合成樹脂6が注入して固化され、前述
のICチツプ2ならびにボンデングワイヤ5を気
密に埋設する。さらに封止枠体4の上には平板状
のキヤツプ7が装着、固定される。
プリント基板1に対する封止枠体4の固定は、
多数のリードピン8によつてなされる。次にこの
固定方法について説明する。
多数のリードピン8によつてなされる。次にこの
固定方法について説明する。
第2図に示すように、リードピン8の頭部には
第1環状突部9が、またそれより若干下端部側に
第2環状突部10がそれぞれ形成されている。一
方、第3図に示すように、封止枠体4とプリント
基板1とを重ね合わせた際に互に連通するよう
に、封止枠体4に第1透孔11が、またプリント
基板1に第2透孔12がそれぞれ形成されてい
る。なお、前記第1環状突部9の外径D1と、第
2環状突部10の外径D2と、第1透孔11の内
径D3と、第2透孔12の内径D4と、リードピン
8のピン径D5とは、D1>D3>D2>D4≧D5の関
係になるように設計されている。
第1環状突部9が、またそれより若干下端部側に
第2環状突部10がそれぞれ形成されている。一
方、第3図に示すように、封止枠体4とプリント
基板1とを重ね合わせた際に互に連通するよう
に、封止枠体4に第1透孔11が、またプリント
基板1に第2透孔12がそれぞれ形成されてい
る。なお、前記第1環状突部9の外径D1と、第
2環状突部10の外径D2と、第1透孔11の内
径D3と、第2透孔12の内径D4と、リードピン
8のピン径D5とは、D1>D3>D2>D4≧D5の関
係になるように設計されている。
第3図に示すように、最初、プリント基板1と
封止枠体4とを、第1透孔11と第2透孔12の
センターが合うように重ね合わせる。次に各リー
ドピン8の第1環状突部9を上にして、第1透孔
11の方からそれぞれ挿入される。
封止枠体4とを、第1透孔11と第2透孔12の
センターが合うように重ね合わせる。次に各リー
ドピン8の第1環状突部9を上にして、第1透孔
11の方からそれぞれ挿入される。
このようにして挿入すると第4図に示すよう
に、リードピン8の第2環状突部10より下の部
分がプリント基板1の第2透孔12内に挿入さ
れ、第2環状突部10が封止枠体4の第1透孔1
1内に収められ、第1環状突部9は封止枠体4よ
り上方に突出した状態で、リードピン8が立つた
まま保持される。
に、リードピン8の第2環状突部10より下の部
分がプリント基板1の第2透孔12内に挿入さ
れ、第2環状突部10が封止枠体4の第1透孔1
1内に収められ、第1環状突部9は封止枠体4よ
り上方に突出した状態で、リードピン8が立つた
まま保持される。
ついでこれらを第2透孔12と対向する位置に
大径の逃げ穴13を有する基台14上に載せ、プ
レス15によつて各リードピン8を一斎にプリン
ト基板1側に打ち込む。これによつて第1環状突
部9が封止枠体4に設けられた第1透孔11の内
周部に強固に食い込み、一方、第2環状突部10
が第2透孔12の内周部に強固に食い込む。この
ようにリードピン8を圧入することにより、それ
を介して封止枠体4とプリント基板1とを一体に
連結することができる。
大径の逃げ穴13を有する基台14上に載せ、プ
レス15によつて各リードピン8を一斎にプリン
ト基板1側に打ち込む。これによつて第1環状突
部9が封止枠体4に設けられた第1透孔11の内
周部に強固に食い込み、一方、第2環状突部10
が第2透孔12の内周部に強固に食い込む。この
ようにリードピン8を圧入することにより、それ
を介して封止枠体4とプリント基板1とを一体に
連結することができる。
このようにして連結した後の工程は従来と同様
なので、それらの説明は省略する。
なので、それらの説明は省略する。
第5図ならびに第6図はリードピン8の変形例
を示す図で、この例の場合、リードピン8の途中
の一部を機械的に潰して、ほぼ平板状の突出部1
6を形成している。この突出部16が前記実施例
の第2環状突部10に相当するもので、それの外
寸Lは、D3>L>D4の関係になるように設計さ
れている。
を示す図で、この例の場合、リードピン8の途中
の一部を機械的に潰して、ほぼ平板状の突出部1
6を形成している。この突出部16が前記実施例
の第2環状突部10に相当するもので、それの外
寸Lは、D3>L>D4の関係になるように設計さ
れている。
また、リードピンの頭部を潰してほぼ平板状の
突出部を形成してもよく、要はリードピンに第1
の突部と第2の突部とを形成すればよいので、そ
れら突部の形状については適宜変更することがで
きる。
突出部を形成してもよく、要はリードピンに第1
の突部と第2の突部とを形成すればよいので、そ
れら突部の形状については適宜変更することがで
きる。
前述のようにリードピンによつて封止枠体とプ
リント基板とを一体に連結するのであるから、リ
ードピンを複数列設してリードピン列を構成し、
このリードピン列が半導体素子を間にして対向す
るように配置すれば、すなわち、半導体素子を間
にして左右にリードピン列を設けたり、あるいは
半導体素子を取り囲むようにしてリードピン列を
平面から見て四角形状に配置すれば、封止枠体と
プリント基板の連結力が安定にかつ強固になる。
リント基板とを一体に連結するのであるから、リ
ードピンを複数列設してリードピン列を構成し、
このリードピン列が半導体素子を間にして対向す
るように配置すれば、すなわち、半導体素子を間
にして左右にリードピン列を設けたり、あるいは
半導体素子を取り囲むようにしてリードピン列を
平面から見て四角形状に配置すれば、封止枠体と
プリント基板の連結力が安定にかつ強固になる。
また前記実施例で述べたように、封止枠体とプ
リント基板とを同じ材質のもので構成すれば、線
膨張係数が同じであるから、熱変化をともなつて
も封止枠体とプリント基板との間の歪が生じるよ
うなことがない。実施例ではプリント基板と封止
枠体とを同材質のもので構成したが、両者の線膨
張係数がほぼ同じであれば異種材質でもよい。ま
た熱変化が少ない条件で使用する場合は、プリン
ト基板と封止枠体はどのような材質のものでもよ
い。
リント基板とを同じ材質のもので構成すれば、線
膨張係数が同じであるから、熱変化をともなつて
も封止枠体とプリント基板との間の歪が生じるよ
うなことがない。実施例ではプリント基板と封止
枠体とを同材質のもので構成したが、両者の線膨
張係数がほぼ同じであれば異種材質でもよい。ま
た熱変化が少ない条件で使用する場合は、プリン
ト基板と封止枠体はどのような材質のものでもよ
い。
前記実施例ではプリント基板の材質としてガラ
ス−エポキシ樹脂の複合材を用いたが、これに限
定されるものではなく、どのような材質のもので
もよい。
ス−エポキシ樹脂の複合材を用いたが、これに限
定されるものではなく、どのような材質のもので
もよい。
前記実施例ではプリント基板に凹部を設けて、
その内側に半導体素子を配置したが、これに限定
されるものではなく、例えば導電層上に直接接着
することもでき、また、片面板、両面板ならびに
多層板などに本考案を適用することができる。
その内側に半導体素子を配置したが、これに限定
されるものではなく、例えば導電層上に直接接着
することもでき、また、片面板、両面板ならびに
多層板などに本考案を適用することができる。
さらに前記実施例ではキヤツプを用いた実施例
について説明したが、キヤツプを用いないものに
も本考案を適用することができる。
について説明したが、キヤツプを用いないものに
も本考案を適用することができる。
本考案は前述のような構成になつており、従来
のように接着剤を使用しないため、接着剤のはみ
出しによる導電層とワイヤボンデイグとの接続不
良を生じたりすることがなく、信頼性の向上が図
れる。また封止枠体とプリント基板との一体化が
極めて短時間に行なわれるから、作業能率も大幅
に改善される。さらに第1の突部を第1の透孔内
周部に食い込ませ、第2の突部を第2の透孔内周
部に食い込ませる構造であるから、プリント基板
の板厚が多少変わつても突部の食い込み位置が変
更になる程度であるから、従来提案されたものの
ように、プリント基板とモールド用枠体との間に
がたが生じて、そこからモールド用合成樹脂が流
出することや、プリント基板の板厚の変更に応じ
て、モールド用枠体底面と係止爪との間隔を変更
しなければならなかつたり、ピンが折れたり、係
止爪が損耗して係止効果が無くなるという欠点が
解消される。
のように接着剤を使用しないため、接着剤のはみ
出しによる導電層とワイヤボンデイグとの接続不
良を生じたりすることがなく、信頼性の向上が図
れる。また封止枠体とプリント基板との一体化が
極めて短時間に行なわれるから、作業能率も大幅
に改善される。さらに第1の突部を第1の透孔内
周部に食い込ませ、第2の突部を第2の透孔内周
部に食い込ませる構造であるから、プリント基板
の板厚が多少変わつても突部の食い込み位置が変
更になる程度であるから、従来提案されたものの
ように、プリント基板とモールド用枠体との間に
がたが生じて、そこからモールド用合成樹脂が流
出することや、プリント基板の板厚の変更に応じ
て、モールド用枠体底面と係止爪との間隔を変更
しなければならなかつたり、ピンが折れたり、係
止爪が損耗して係止効果が無くなるという欠点が
解消される。
さらに、第2の突部のピン周面からの突出長さ
を第1の突部のピン周面からの突出長さよりも短
くして、そのリードピンを封止枠体の第1の透孔
側からプリント基板の第2の透孔側に向けて圧入
するため、第2の突部が封止枠体の第1の透孔を
通るときに孔が大きくなつて、第1の透孔内周面
に対する第1の突部の食い込みが弱くなるという
ことがなく、第1の突部と封止枠体の結合が強固
である。
を第1の突部のピン周面からの突出長さよりも短
くして、そのリードピンを封止枠体の第1の透孔
側からプリント基板の第2の透孔側に向けて圧入
するため、第2の突部が封止枠体の第1の透孔を
通るときに孔が大きくなつて、第1の透孔内周面
に対する第1の突部の食い込みが弱くなるという
ことがなく、第1の突部と封止枠体の結合が強固
である。
このようなことから、生産性の良好な半導体装
置を提供することができる。
置を提供することができる。
第1図は本考案の実施例に係る半導体装置の断
面図、第2図はその半導体装置に用いられるリー
ドピンの拡大側面図、第3図ならびに第4図はそ
の半導体装置の組立順序の一部を説明するための
断面図、第5図ならびに第6図はリードピンの変
形例を示す正面図ならびに側面図、第7図は従来
の半導体装置の断面図である。 1……プリント基板、2……ICチツプ、3…
…導電層、4……封止枠体、5……ボンデイグワ
イヤ、6……合成樹脂、7……キヤツプ、8……
リードピン、9……第1環状突部、10……第2
環状突部、11……第1透孔、12……第2透
孔、16……突出部。
面図、第2図はその半導体装置に用いられるリー
ドピンの拡大側面図、第3図ならびに第4図はそ
の半導体装置の組立順序の一部を説明するための
断面図、第5図ならびに第6図はリードピンの変
形例を示す正面図ならびに側面図、第7図は従来
の半導体装置の断面図である。 1……プリント基板、2……ICチツプ、3…
…導電層、4……封止枠体、5……ボンデイグワ
イヤ、6……合成樹脂、7……キヤツプ、8……
リードピン、9……第1環状突部、10……第2
環状突部、11……第1透孔、12……第2透
孔、16……突出部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 半導体素子を搭載したプリント基板上に封止
枠体を載置し、その封止枠体の開口部内に樹脂
を注入して固化することにより前記半導体素子
を封止する構造の半導体装置において、 前記封止枠体ならびにプリント基板に、両者
を重合した際に互いに連通する第1の透孔なら
びに第2の透孔をそれぞれ形成し、 その封止枠体に設けられた第1の透孔よりも
外寸が若干大きい第1の突部と、前記プリント
基板に設けられた第2の透孔よりも外寸が若干
大きくかつピン周面からの突出長さが前記第1
の突部のピン周面からの突出長さよりも短い第
2の突部とをリードピンにそれぞれ設け、 そのリードピンを封止枠体の第1の透孔側か
らプリント基板の第2の透孔側に向けて圧入す
ることにより、前記第1の突部を第1の透孔内
周部に食い込ませ、第2の突部を第2の透孔内
周部に食い込ませて、そのリードピンによつて
封止枠体とプリント基板とを一体に連結したこ
とを特徴とする半導体装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲第(1)項記載におい
て、前記第1の突部ならびに第2の突部が環状
突部であることを特徴とする半導体装置。 (3) 実用新案登録請求の範囲第(1)項記載におい
て、前記リードピンが複数列設されてリードピ
ン列を構成し、そのリードピン列が前記半導体
素子を間にして対向していることを特徴とする
半導体装置。 (4) 実用新案登録請求の範囲第(1)項記載におい
て、前記封止枠体とプリント基板が同じ材質の
ものから構成されていることを特徴とする半導
体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987138838U JPH0452997Y2 (ja) | 1987-09-12 | 1987-09-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987138838U JPH0452997Y2 (ja) | 1987-09-12 | 1987-09-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6444637U JPS6444637U (ja) | 1989-03-16 |
| JPH0452997Y2 true JPH0452997Y2 (ja) | 1992-12-14 |
Family
ID=31401547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987138838U Expired JPH0452997Y2 (ja) | 1987-09-12 | 1987-09-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0452997Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007294993A (ja) * | 1994-03-11 | 2007-11-08 | Quantum Leap Packaging Inc | 組立て型半導体チップキャリア |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6236541U (ja) * | 1985-08-20 | 1987-03-04 |
-
1987
- 1987-09-12 JP JP1987138838U patent/JPH0452997Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007294993A (ja) * | 1994-03-11 | 2007-11-08 | Quantum Leap Packaging Inc | 組立て型半導体チップキャリア |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6444637U (ja) | 1989-03-16 |
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