JPH0454224B2 - - Google Patents
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- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 54
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 40
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 34
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 32
- 239000005995 Aluminium silicate Substances 0.000 claims description 28
- 235000012211 aluminium silicate Nutrition 0.000 claims description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 28
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000000049 pigment Substances 0.000 claims description 20
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 18
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 14
- WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K aluminium hydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[Al+3] WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K 0.000 claims description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 229910052622 kaolinite Inorganic materials 0.000 description 17
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 15
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 11
- 229920006026 co-polymeric resin Polymers 0.000 description 10
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 10
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- DFYKHEXCUQCPEB-UHFFFAOYSA-N butyl 2-methylprop-2-enoate;styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1.CCCCOC(=O)C(C)=C DFYKHEXCUQCPEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000004453 electron probe microanalysis Methods 0.000 description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 8
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 8
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 3
- 239000005518 polymer electrolyte Substances 0.000 description 3
- SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N Butylmethacrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C(C)=C SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical group CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HPTYUNKZVDYXLP-UHFFFAOYSA-N aluminum;trihydroxy(trihydroxysilyloxy)silane;hydrate Chemical compound O.[Al].[Al].O[Si](O)(O)O[Si](O)(O)O HPTYUNKZVDYXLP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AYJRCSIUFZENHW-DEQYMQKBSA-L barium(2+);oxomethanediolate Chemical compound [Ba+2].[O-][14C]([O-])=O AYJRCSIUFZENHW-DEQYMQKBSA-L 0.000 description 2
- 239000004927 clay Substances 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 229910052621 halloysite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 2
- VTHJTEIRLNZDEV-UHFFFAOYSA-L magnesium dihydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[Mg+2] VTHJTEIRLNZDEV-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000000347 magnesium hydroxide Substances 0.000 description 2
- 229910001862 magnesium hydroxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- -1 styrene acrylate triethylammonium chloride Chemical compound 0.000 description 2
- BQCIDUSAKPWEOX-UHFFFAOYSA-N 1,1-Difluoroethene Chemical compound FC(F)=C BQCIDUSAKPWEOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 2-(3-phenylmethoxyphenyl)-1,3-thiazole-4-carbaldehyde Chemical compound O=CC1=CSC(C=2C=C(OCC=3C=CC=CC=3)C=CC=2)=N1 OEPOKWHJYJXUGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L Calcium chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Ca+2] UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229920002261 Corn starch Polymers 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000020 Nitrocellulose Substances 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 1
- 229920002125 Sokalan® Polymers 0.000 description 1
- 241000519995 Stachys sylvatica Species 0.000 description 1
- 235000021355 Stearic acid Nutrition 0.000 description 1
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002433 Vinyl chloride-vinyl acetate copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001986 Vinylidene chloride-vinyl chloride copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229920006318 anionic polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000001110 calcium chloride Substances 0.000 description 1
- 229910001628 calcium chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 1
- 229920006317 cationic polymer Polymers 0.000 description 1
- YACLQRRMGMJLJV-UHFFFAOYSA-N chloroprene Chemical compound ClC(=C)C=C YACLQRRMGMJLJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 239000008120 corn starch Substances 0.000 description 1
- 229940099112 cornstarch Drugs 0.000 description 1
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 1
- GUJOJGAPFQRJSV-UHFFFAOYSA-N dialuminum;dioxosilane;oxygen(2-);hydrate Chemical compound O.[O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3].O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Si]=O GUJOJGAPFQRJSV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 238000005470 impregnation Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 125000005395 methacrylic acid group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052901 montmorillonite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001220 nitrocellulos Polymers 0.000 description 1
- QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Natural products CCCCCCCC(C)CCCCCCCCC(O)=O OQCDKBAXFALNLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000172 poly(styrenesulfonic acid) Polymers 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 1
- 239000004584 polyacrylic acid Substances 0.000 description 1
- 229920002239 polyacrylonitrile Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 description 1
- 229920000193 polymethacrylate Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229940005642 polystyrene sulfonic acid Drugs 0.000 description 1
- 239000011164 primary particle Substances 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000011163 secondary particle Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 239000008117 stearic acid Substances 0.000 description 1
- 125000004079 stearyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229920003048 styrene butadiene rubber Polymers 0.000 description 1
- 229920001909 styrene-acrylic polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Description
(産業上の利用分野)
本発明は、400ドツト/インチなどの高密度記
録用静電フアクシミリ、静電プリンター、静電プ
ロツター等に適する静電記録体に関するものであ
る。 (従来技術) 通信技術の進歩に付随して高速度の記録と高画
像品位を同時に満たす記録方法として静電記録方
式が広く用いられており、その例として光通信や
コンピユーターの出力用機器としてのフアクシミ
リ、プリンターを挙げることが出来る。特に近年
ではコンピユーターを用い設計・製図を行う
CADシステム等の出力用として高密度記録が可
能な静電プリンター、静電プロツターが好んで用
いられている。 静電記録方式において最も多用されている多針
電極型記録方法には、片面制御型と両面制御型が
あるが、いずれの場合も200ドツト/インチ程度
の記録密度では、放電の発生そのものには特に問
題が無かつた。ところが、従来の静電記録体を使
用して400ドツト/インチ程度の高密度記録を行
うと、細線を描いた場合に正常な放電が起こらず
現像後に記録されない部分が現れる所謂ドツト抜
けや、逆に場所によつては放電が各針電極の面積
の10倍以上にも達し、現像後の細線中に異常な膨
らみを持つた点が現れる所謂異常ドツトが発生
し、良好な記録が得られない。 本発明者等は先に、石英含有量2重量%以下の
カオリンを誘電体層に含有させて相当直径5〜
15μの突起を形成し、スペーサーとすることによ
りドツト抜けや異常ドツトの少ない良好な記録が
得られることを見出した(特開昭62−186097号)。 しかし、上記のように石英含有量の少ないカオ
リンをスペーサー用顔料として使用した記録体
は、記録当初は良好な画像が得られるものの、長
時間連続的に記録すると次第にドツト抜けが増加
するという問題がある(以下連続記録特性と略
す)。即ち、50m程度の連続記録ではさほど問題
とならないが、100m以上となると記録電極ヘツ
ドにカスが堆積して急激に連続記録特性が低下す
るため、その都度記録電極ヘツドを洗浄剤でクリ
ーニングすることで対処しているのが現状であ
る。カオリンをスペーサーとする静電記録体に前
記したような難点が付随している理由について
は、明確なことは判らないが、カオリンはモース
硬度が低く(硬度1〜2)記録電極ヘツドとの摩
擦或いは放電による熱により少しずつ絶縁性樹脂
と共に削り取られ、カスとしてヘツドに付着する
ことになるためではないかと考えられる。 (発明が解決しようとする問題点) 本発明は、カオリンをスペーサーとして使用し
た場合も400ドツト/インチのような高密度記録
を行う場合において、異常ドツト、ドツト抜けが
起こらず、しかも連続記録特性に優れた静電記録
体を提供することを目的とする。 (問題を解決するための手段) 本発明者等は上記の目的を達成すべく鋭意研究
の結果、以下の構成からなる発明を完成した。即
ち、本発明の静電記録体は、導電性支持体上に絶
縁性樹脂と顔料を主成分とする誘電体層を形成し
て成る静電記録体において、顔料として炭酸カル
シウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウムの
少なくとも1種類と、石英含有量2重量%以下で
重量平均粒径が2〜10μのカオリンを含有させた
ことを特徴とするものである。 (作用) 本発明では、誘電体層に石英含有量2%以下で
重量平均粒径2〜10μのカオリンと、炭酸カルシ
ウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウムの少
なくとも1種よりなる顔料を含有させるが、この
結果、誘電体層表面には前記の顔料を核とした相
当直径5〜15μの突起が形成される。ここで相当
直径dとは走査型電子顕微鏡で誘電体層表面を観
察したときに現れる突起の投影面積sから次式に
より算出したdをいう。 d=2(s/π)1/2 本発明の記録体において、相当直径5〜15μの
突起はスペーサーとしての機能を有する。即ち記
録電極ヘツドと誘電体層の間隔を一定範囲に保つ
機能を有する。 なお本発明において誘電体層に含有させるカオ
リンとは、ハロイサイト、加水ハロイサイト、カ
オリナイト、デイツカイト、ナクライト等のカオ
リン族の鉱物の意であり、これらは単独でも或い
は混合して使用しても良く、又これらをステアリ
ン酸、シランカツプリング剤、有機チタネート、
シリコン等で表面処理して有機溶媒に分散し易く
したものを用いることも出来る。このうちカオリ
ナイトは特にドツト抜け及び異常ドツトを改良す
る効果に優れるため好ましく用いられる。天然に
産出するカオリン族の鉱物には不純物として石英
を含む場合があり、石英等のモース硬度の極めて
高い物質(硬度7)が記録電極ヘツドと接触する
と、電極表面に傷が生じる。この傷は放電の際の
非常に強い電界集中の場となり異常ドツトの原因
となる。そこで本発明では、カオリンの中でも特
に石英含有量が2重量%以下のものを対象とする
ものであり、好ましくは1.5重量%以下、より好
ましくは1重量%以下のものが用いられる。 石英含量の少ないカオリンは異常ドツトやドツ
ト抜けを防ぐ効果があるが、このような効果は該
カオリン固有のものであり、金属粉末、コーンス
ターチ、プラスチツク顔料、焼成クレー、或いは
カオリン以外のクレーであるパイロフエライト、
モンモリロナイト等をカオリンの代わりにスペー
サーとして用いてもドツト抜けや異常ドツトを改
良する効果は得られない。 本発明の記録体は、誘電体層表面に特定の大き
さの突起を有するものであり、そのためには通
常、重量平均粒径が2〜10μのカオリンを使用す
る必要があり、好ましくは重量平均粒径3〜6μ
を用いる。カオリンは2μ以下の粒子が90%以上
を占める微細な粒径を持つものが一般的である
が、このような微細粒径を有するカオリンを用い
た場合、黒ベタ記録における記録濃度の均一性が
損なわれる傾向があるため、2μ以下の粒子が90
%以下、より好ましくは75%以下、最も好ましく
は50%以下のものが用いられる。ただし20μ以上
の様な粒径の極めて大きいものを多く含むものは
記録画像の白抜けの原因となるため好ましくな
い。 カオリンの配合量が少ないと、比較的大きな粒
径を有し極めて均一な分布を持つものを使用しな
い限り、前記特定の突起を有する記録体を製造す
ることが出来ず、逆にカオリンの配合量が多すぎ
ると記録濃度が低下するため、誘電体層の全固形
分に対するカオリンの配合量は2重量%から40重
量%、好ましくは5重量%から30重量%の間で調
製される。 しかしながら前記したようにカオリンをスペー
サーとした静電記録体はカス付着による連続記録
特性に欠けることから本発明では更に誘電体層に
炭酸カルシウム、無定形シリカ及び水酸化アルミ
ニウムの内の少なくとも1種類を含有させること
に特徴を有するものである。因に炭酸カルシウ
ム、無定形シリカ、水酸化アルミニウム、水酸化
マグネシウム、酸化アルミニウム、炭酸バリウ
ム、焼成クレー等を併用すると記録電極ヘツドの
カスを有効に取り除き連続記録特性にも優れた記
録体を得ることが出来る。この理由については必
ずしも明らかではないが、これらの顔料は、モー
ス硬度が石英程には高くなく、従つて電極と接触
しても電極に傷をつけることはなく、それでいて
電極に付着するカスを削り取る役割を果たすので
はないかと考えられる。ただし水酸化マグネシウ
ム、酸化アルミニウム、炭酸バリウム、焼成クレ
ー等は異常ドツトを発生させる傾向があるため炭
酸カルシウム、無定形シリカ、水酸化アルミニウ
ムが好ましく、特に炭酸カルシウム、無定形シリ
カが最も好ましい。 炭酸カルシウム、無定形シリカ及び水酸化アル
ミニウムの少なくとも1種類は誘電体層表面でカ
オリンにより形成される突起と同程度の相当直径
を有する突起を形成した場合に記録電極ヘツドの
カスを最も有効に取り除き、しかもカオリンの効
果を阻害しない点で望ましい。そのためには通常
炭酸カルシウムの場合重量平均粒径2〜10μ、好
ましくは2〜6μのものを使用する。また無定形
シリカの場合(1次粒子が0.01〜0.5μで)2次粒
子の重量平均粒径が1〜10μ、好ましくは2〜6μ
のものを併用し、更に水酸化アルミニウムの場合
重量平均粒径1〜10μ、好ましくは2〜6μのもの
を使用する。 また、上記特定の顔料による突起の内炭酸カル
シウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウムの
少なくとも一種よりなる突起が少ないと連続記録
により、ドツト抜けが次第に増加する傾向が充分
改良出来ず、逆に多すぎると異常ドツト、ドツト
抜けが記録の当初より改善出来ない。従つて炭酸
カルシウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウ
ムの少なくとも一種は、石英含有量2重量%以下
のカオリン100重量部に対して10〜1000重量部、
好ましくは15〜100重量部、より好ましくは15〜
60重量部配合される。 本発明においては特定の顔料により形成される
突起により多針電極と誘電体層の間隔は一定範囲
に保たれる。これに対し、誘電体層表面に相当直
径が5μ未満の突起しか存在しないと多針電極と
誘電体層の間隔が充分得られず、記録時の放電が
発生しない箇所が生じ、黒ベタ記録をした場合に
記録濃度の均一性が劣る。逆に15μを越える突起
が多数存在しても間隔が空きすぎ放電が発生しな
い箇所が生じ、黒べた記録をした場合に記録濃度
の均一性が得られず、またドツト抜けも悪くな
る。又相当直径5〜15μの突起の数が少ないと紙
面の凹凸及びうねり等のため多針電極と誘電体層
表面の間隔を適正な範囲に保つことが出来ない部
分が発生する。逆に多すぎると記録濃度が低下す
る傾向がある。従つて相当直径5〜15μの突起が
1mm2当たり5個以上存在し、且つ20μを越えるよ
うな極端に大きな突起が存在しないように構成す
ることが望ましい。そのためには重量平均粒径が
2〜10μのカオリンを用い、且つ誘電体層中の顔
料が誘電体層全固形分に対して10〜50重量%とな
るように調製する。 顔料は通常有機溶媒中にボールミル、アトライ
ター、高速攪拌機等で分散するが、この際粒子径
の調整を行うこともできる。分散に際しては分散
剤等を使用することも出来る。前記特定の顔料以
外の顔料を併用する場合も同様に攪拌機で分散
し、更に樹脂を溶解して誘電体層塗料を調製す
る。 誘電体層を形成する樹脂としては酢酸ビニル、
エチレン酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル、塩化
ビニル酢酸ビニル共重合体、塩化ビニリデン、ポ
リアクリル酸エステル、ポリメタクリル酸エステ
ル、ブチラール樹脂、ポリエステル、フツ化ビニ
リデン、ニトロセルロース、ポリスチレン、スチ
レンアクリル共重合体、シリコン樹脂、エポキシ
樹脂、スチレンブタジエン共重合体、酢酸ビニル
メタアクリル酸エステル共重合体、酢酸ビニルク
ロトン酸エステル共重合体、塩化ビニリデン塩化
ビニル共重合体、塩化ビニリデンアクリロニトリ
ル共重合体、ウレタン樹脂、ステアリルメタアク
リルクロロプレン共重合体、フエノール樹脂等が
ある。なかでも、帯電性、塗布の容易さの点から
メチルメタクリレート、ブチルメタクリレート、
スチレンの重合体樹脂やこれらの共重合体樹脂、
或いはポリエステル樹脂を使用することが好まし
い。 尚、静電記録体を構成する導電性支持体として
は、塩化ナトリウム、塩化カルシウム等のような
無機塩、ポリビニルベンジルトリメチルアンモニ
ウムクロライド、ポリジメチルジアリルアンモニ
ウムクロライド、スチレンアクリル酸トリエチル
アンモニウムクロライド等のカチオン性高分子電
解質、又はポリスチレンスルホン酸、ポリアクリ
ル酸、ポリビニルホスフエート等のアニオン性高
分子電解質、或いは酸化亜鉛、酸化スズ等の金属
酸化物半導体粉末等を含浸ないしは塗布し、表面
抵抗を105〜109Ωとし、その表面のベツク平滑を
200秒以上とした紙、プラスチツクフイルム、合
成紙、和紙等が使用される。 (実施例) 以下、本発明の実施例を記載するが、本発明は
これらの実施例のみに限定されるものではない。
また特に断らない限り例中の部及び%は、それぞ
れ重量部及び重量%を示す。 実施例 1 記録体の調製:坪量53g/m2の上質紙の表面にカ
オチン径高分子電解質(商品名:ケミスタツト
6300,三洋化成社製)を絶乾重量3g/m2、裏面
に2g/m2となるように塗布し導電性支持体を得
た。この導電性支持体上に下記組成よりなる誘電
体層塗料を乾燥重量が5g/m2となるように塗布
乾燥し静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 10部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、重質炭
酸カルシウムに由来するカルシウムの分布が認め
られるものが混在していた。相当直径が15μを越
える突起は殆ど観察されなかつた。 実施例 2 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料
を下記とした以外は同様にして静電記録体を得
た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 無定形シリカ(重量平均粒径4.1μ;商品名:ニツ
プシールSS−70、日本シリカ社製) 10部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、無定形
シリカに由来するアルミニウムの認められないも
のが混在していた。相当直径が15μを越える突起
は殆ど観察されなかつた。 実施例 3 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 水酸化アルミニウム(重量平均粒径4.0μ) 10部 相当直径が15μを越える突起は殆ど観察されなか
つた。 実施例 4 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とし、コート量を7g/m2とした以外は同様
にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 40部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 30部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 30部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、重質炭
酸カルシウムに由来するカルシウムの分布が認め
られるものが混在していた。 実施例 5 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とし、コート量を4g/m2とした以外は同様
にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 93部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 5部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 2部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、重質炭
酸カルシウムに由来するカルシウムの分布が認め
られるものが混在していた。相当直径が15μを越
える突起は殆ど観察されなかつた。 比較例 1 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径0.8μ、石英含有量
0.2%以下;商品名:ハイドライトR、ジヨージ
アカオリン社製) 20部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 10部 記録体誘電体層表面をX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布はSEM像における相当直径
5μ未満の突起に対応していた。SEM像における
相当直径5〜15μの突起はEPMAでは重質炭酸カ
ルシウムに由来するカルシウムが認められた。相
当直径が15μを越える突起は殆ど観察されなかつ
た。 比較例 2 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径12μ) 20部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 10部 記録体誘電体層表面をX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布の中には、SEM像における
相当直径15μを越える突起に対応するものが認め
られた。 比較例 3 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 ポリアクリロニトリル製プラスチツクピグメント
(重量平均粒径4.2μ) 10部 SEM像における相当直径5〜15μの突起の中に
はX線マイクロアナライザー(EPMA)で観察
するとカオリナイトに由来するアルミニウムの分
布が認められるものと、アルミニウムが認められ
ないプラスチツクピグメントに由来するものが混
在していた。相当直径が15μを越える突起は殆ど
観察されなかつた。 記録試験方法 このようにして構成した各静電記録体につき松
下電送(株)製静電プロツターEP−101A1によ
り1000mの1ドツト連続記録を行つた。ただし各
記録毎に記録電極ヘツドを洗浄剤でクリーニング
した。スタート、100m、300m、500m、800m、
1000mの各点毎に得られた細線の全長1m当たり
のドツト抜けの合計長さをmm単位で評価し、又
異常ドツトの個数を評価して第1表に示した。 記録濃度 松下電送(株)製静電プロツターEP−101A1
により黒ベタ記録を行い、記録濃度をマクベス濃
度計(RD−914、マクベス社製)で測定した。 黒ベタ記録の均一性 黒ベタ記録の均一性を目視判定した。 ○:均一性に優れる △:均一性にやや劣る ×:均一性に劣り実用上問題がある。 記録濃度及び黒ベタ記録の均一性は第2表に示
す。 本実施例1〜3では記録スタート時のドツト抜
け、異常放電が少なく、連続記録特性、黒ベタ記
録の均一性にも優れたものが得られる。誘電体層
に顔料を60部含有する実施例4では記録濃度は
1.05とやや低いがドツト抜け及び連続記録特性は
ほぼ良好であつた。誘電体層に顔料を7部含有す
る実施例5では黒ベタ記録の均一性が劣るが、ド
ツト抜け、連続記録特性はほぼ良好であつた。 重量平均粒径が0.8μのカオリンを使用した比較
例1では異常ドツト、ドツト抜けが悪く、黒ベタ
記録の均一性にも劣る。重量平均粒径12μのカオ
リンを用いた比較例2では黒ベタ記録の均一性及
びドツト抜け、連続記録特性が悪く、更にカオリ
ンとプラスチツクピグメントを併用した比較例3
では連続記録特性が悪かつた。
録用静電フアクシミリ、静電プリンター、静電プ
ロツター等に適する静電記録体に関するものであ
る。 (従来技術) 通信技術の進歩に付随して高速度の記録と高画
像品位を同時に満たす記録方法として静電記録方
式が広く用いられており、その例として光通信や
コンピユーターの出力用機器としてのフアクシミ
リ、プリンターを挙げることが出来る。特に近年
ではコンピユーターを用い設計・製図を行う
CADシステム等の出力用として高密度記録が可
能な静電プリンター、静電プロツターが好んで用
いられている。 静電記録方式において最も多用されている多針
電極型記録方法には、片面制御型と両面制御型が
あるが、いずれの場合も200ドツト/インチ程度
の記録密度では、放電の発生そのものには特に問
題が無かつた。ところが、従来の静電記録体を使
用して400ドツト/インチ程度の高密度記録を行
うと、細線を描いた場合に正常な放電が起こらず
現像後に記録されない部分が現れる所謂ドツト抜
けや、逆に場所によつては放電が各針電極の面積
の10倍以上にも達し、現像後の細線中に異常な膨
らみを持つた点が現れる所謂異常ドツトが発生
し、良好な記録が得られない。 本発明者等は先に、石英含有量2重量%以下の
カオリンを誘電体層に含有させて相当直径5〜
15μの突起を形成し、スペーサーとすることによ
りドツト抜けや異常ドツトの少ない良好な記録が
得られることを見出した(特開昭62−186097号)。 しかし、上記のように石英含有量の少ないカオ
リンをスペーサー用顔料として使用した記録体
は、記録当初は良好な画像が得られるものの、長
時間連続的に記録すると次第にドツト抜けが増加
するという問題がある(以下連続記録特性と略
す)。即ち、50m程度の連続記録ではさほど問題
とならないが、100m以上となると記録電極ヘツ
ドにカスが堆積して急激に連続記録特性が低下す
るため、その都度記録電極ヘツドを洗浄剤でクリ
ーニングすることで対処しているのが現状であ
る。カオリンをスペーサーとする静電記録体に前
記したような難点が付随している理由について
は、明確なことは判らないが、カオリンはモース
硬度が低く(硬度1〜2)記録電極ヘツドとの摩
擦或いは放電による熱により少しずつ絶縁性樹脂
と共に削り取られ、カスとしてヘツドに付着する
ことになるためではないかと考えられる。 (発明が解決しようとする問題点) 本発明は、カオリンをスペーサーとして使用し
た場合も400ドツト/インチのような高密度記録
を行う場合において、異常ドツト、ドツト抜けが
起こらず、しかも連続記録特性に優れた静電記録
体を提供することを目的とする。 (問題を解決するための手段) 本発明者等は上記の目的を達成すべく鋭意研究
の結果、以下の構成からなる発明を完成した。即
ち、本発明の静電記録体は、導電性支持体上に絶
縁性樹脂と顔料を主成分とする誘電体層を形成し
て成る静電記録体において、顔料として炭酸カル
シウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウムの
少なくとも1種類と、石英含有量2重量%以下で
重量平均粒径が2〜10μのカオリンを含有させた
ことを特徴とするものである。 (作用) 本発明では、誘電体層に石英含有量2%以下で
重量平均粒径2〜10μのカオリンと、炭酸カルシ
ウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウムの少
なくとも1種よりなる顔料を含有させるが、この
結果、誘電体層表面には前記の顔料を核とした相
当直径5〜15μの突起が形成される。ここで相当
直径dとは走査型電子顕微鏡で誘電体層表面を観
察したときに現れる突起の投影面積sから次式に
より算出したdをいう。 d=2(s/π)1/2 本発明の記録体において、相当直径5〜15μの
突起はスペーサーとしての機能を有する。即ち記
録電極ヘツドと誘電体層の間隔を一定範囲に保つ
機能を有する。 なお本発明において誘電体層に含有させるカオ
リンとは、ハロイサイト、加水ハロイサイト、カ
オリナイト、デイツカイト、ナクライト等のカオ
リン族の鉱物の意であり、これらは単独でも或い
は混合して使用しても良く、又これらをステアリ
ン酸、シランカツプリング剤、有機チタネート、
シリコン等で表面処理して有機溶媒に分散し易く
したものを用いることも出来る。このうちカオリ
ナイトは特にドツト抜け及び異常ドツトを改良す
る効果に優れるため好ましく用いられる。天然に
産出するカオリン族の鉱物には不純物として石英
を含む場合があり、石英等のモース硬度の極めて
高い物質(硬度7)が記録電極ヘツドと接触する
と、電極表面に傷が生じる。この傷は放電の際の
非常に強い電界集中の場となり異常ドツトの原因
となる。そこで本発明では、カオリンの中でも特
に石英含有量が2重量%以下のものを対象とする
ものであり、好ましくは1.5重量%以下、より好
ましくは1重量%以下のものが用いられる。 石英含量の少ないカオリンは異常ドツトやドツ
ト抜けを防ぐ効果があるが、このような効果は該
カオリン固有のものであり、金属粉末、コーンス
ターチ、プラスチツク顔料、焼成クレー、或いは
カオリン以外のクレーであるパイロフエライト、
モンモリロナイト等をカオリンの代わりにスペー
サーとして用いてもドツト抜けや異常ドツトを改
良する効果は得られない。 本発明の記録体は、誘電体層表面に特定の大き
さの突起を有するものであり、そのためには通
常、重量平均粒径が2〜10μのカオリンを使用す
る必要があり、好ましくは重量平均粒径3〜6μ
を用いる。カオリンは2μ以下の粒子が90%以上
を占める微細な粒径を持つものが一般的である
が、このような微細粒径を有するカオリンを用い
た場合、黒ベタ記録における記録濃度の均一性が
損なわれる傾向があるため、2μ以下の粒子が90
%以下、より好ましくは75%以下、最も好ましく
は50%以下のものが用いられる。ただし20μ以上
の様な粒径の極めて大きいものを多く含むものは
記録画像の白抜けの原因となるため好ましくな
い。 カオリンの配合量が少ないと、比較的大きな粒
径を有し極めて均一な分布を持つものを使用しな
い限り、前記特定の突起を有する記録体を製造す
ることが出来ず、逆にカオリンの配合量が多すぎ
ると記録濃度が低下するため、誘電体層の全固形
分に対するカオリンの配合量は2重量%から40重
量%、好ましくは5重量%から30重量%の間で調
製される。 しかしながら前記したようにカオリンをスペー
サーとした静電記録体はカス付着による連続記録
特性に欠けることから本発明では更に誘電体層に
炭酸カルシウム、無定形シリカ及び水酸化アルミ
ニウムの内の少なくとも1種類を含有させること
に特徴を有するものである。因に炭酸カルシウ
ム、無定形シリカ、水酸化アルミニウム、水酸化
マグネシウム、酸化アルミニウム、炭酸バリウ
ム、焼成クレー等を併用すると記録電極ヘツドの
カスを有効に取り除き連続記録特性にも優れた記
録体を得ることが出来る。この理由については必
ずしも明らかではないが、これらの顔料は、モー
ス硬度が石英程には高くなく、従つて電極と接触
しても電極に傷をつけることはなく、それでいて
電極に付着するカスを削り取る役割を果たすので
はないかと考えられる。ただし水酸化マグネシウ
ム、酸化アルミニウム、炭酸バリウム、焼成クレ
ー等は異常ドツトを発生させる傾向があるため炭
酸カルシウム、無定形シリカ、水酸化アルミニウ
ムが好ましく、特に炭酸カルシウム、無定形シリ
カが最も好ましい。 炭酸カルシウム、無定形シリカ及び水酸化アル
ミニウムの少なくとも1種類は誘電体層表面でカ
オリンにより形成される突起と同程度の相当直径
を有する突起を形成した場合に記録電極ヘツドの
カスを最も有効に取り除き、しかもカオリンの効
果を阻害しない点で望ましい。そのためには通常
炭酸カルシウムの場合重量平均粒径2〜10μ、好
ましくは2〜6μのものを使用する。また無定形
シリカの場合(1次粒子が0.01〜0.5μで)2次粒
子の重量平均粒径が1〜10μ、好ましくは2〜6μ
のものを併用し、更に水酸化アルミニウムの場合
重量平均粒径1〜10μ、好ましくは2〜6μのもの
を使用する。 また、上記特定の顔料による突起の内炭酸カル
シウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウムの
少なくとも一種よりなる突起が少ないと連続記録
により、ドツト抜けが次第に増加する傾向が充分
改良出来ず、逆に多すぎると異常ドツト、ドツト
抜けが記録の当初より改善出来ない。従つて炭酸
カルシウム、無定形シリカ及び水酸化アルミニウ
ムの少なくとも一種は、石英含有量2重量%以下
のカオリン100重量部に対して10〜1000重量部、
好ましくは15〜100重量部、より好ましくは15〜
60重量部配合される。 本発明においては特定の顔料により形成される
突起により多針電極と誘電体層の間隔は一定範囲
に保たれる。これに対し、誘電体層表面に相当直
径が5μ未満の突起しか存在しないと多針電極と
誘電体層の間隔が充分得られず、記録時の放電が
発生しない箇所が生じ、黒ベタ記録をした場合に
記録濃度の均一性が劣る。逆に15μを越える突起
が多数存在しても間隔が空きすぎ放電が発生しな
い箇所が生じ、黒べた記録をした場合に記録濃度
の均一性が得られず、またドツト抜けも悪くな
る。又相当直径5〜15μの突起の数が少ないと紙
面の凹凸及びうねり等のため多針電極と誘電体層
表面の間隔を適正な範囲に保つことが出来ない部
分が発生する。逆に多すぎると記録濃度が低下す
る傾向がある。従つて相当直径5〜15μの突起が
1mm2当たり5個以上存在し、且つ20μを越えるよ
うな極端に大きな突起が存在しないように構成す
ることが望ましい。そのためには重量平均粒径が
2〜10μのカオリンを用い、且つ誘電体層中の顔
料が誘電体層全固形分に対して10〜50重量%とな
るように調製する。 顔料は通常有機溶媒中にボールミル、アトライ
ター、高速攪拌機等で分散するが、この際粒子径
の調整を行うこともできる。分散に際しては分散
剤等を使用することも出来る。前記特定の顔料以
外の顔料を併用する場合も同様に攪拌機で分散
し、更に樹脂を溶解して誘電体層塗料を調製す
る。 誘電体層を形成する樹脂としては酢酸ビニル、
エチレン酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル、塩化
ビニル酢酸ビニル共重合体、塩化ビニリデン、ポ
リアクリル酸エステル、ポリメタクリル酸エステ
ル、ブチラール樹脂、ポリエステル、フツ化ビニ
リデン、ニトロセルロース、ポリスチレン、スチ
レンアクリル共重合体、シリコン樹脂、エポキシ
樹脂、スチレンブタジエン共重合体、酢酸ビニル
メタアクリル酸エステル共重合体、酢酸ビニルク
ロトン酸エステル共重合体、塩化ビニリデン塩化
ビニル共重合体、塩化ビニリデンアクリロニトリ
ル共重合体、ウレタン樹脂、ステアリルメタアク
リルクロロプレン共重合体、フエノール樹脂等が
ある。なかでも、帯電性、塗布の容易さの点から
メチルメタクリレート、ブチルメタクリレート、
スチレンの重合体樹脂やこれらの共重合体樹脂、
或いはポリエステル樹脂を使用することが好まし
い。 尚、静電記録体を構成する導電性支持体として
は、塩化ナトリウム、塩化カルシウム等のような
無機塩、ポリビニルベンジルトリメチルアンモニ
ウムクロライド、ポリジメチルジアリルアンモニ
ウムクロライド、スチレンアクリル酸トリエチル
アンモニウムクロライド等のカチオン性高分子電
解質、又はポリスチレンスルホン酸、ポリアクリ
ル酸、ポリビニルホスフエート等のアニオン性高
分子電解質、或いは酸化亜鉛、酸化スズ等の金属
酸化物半導体粉末等を含浸ないしは塗布し、表面
抵抗を105〜109Ωとし、その表面のベツク平滑を
200秒以上とした紙、プラスチツクフイルム、合
成紙、和紙等が使用される。 (実施例) 以下、本発明の実施例を記載するが、本発明は
これらの実施例のみに限定されるものではない。
また特に断らない限り例中の部及び%は、それぞ
れ重量部及び重量%を示す。 実施例 1 記録体の調製:坪量53g/m2の上質紙の表面にカ
オチン径高分子電解質(商品名:ケミスタツト
6300,三洋化成社製)を絶乾重量3g/m2、裏面
に2g/m2となるように塗布し導電性支持体を得
た。この導電性支持体上に下記組成よりなる誘電
体層塗料を乾燥重量が5g/m2となるように塗布
乾燥し静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 10部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、重質炭
酸カルシウムに由来するカルシウムの分布が認め
られるものが混在していた。相当直径が15μを越
える突起は殆ど観察されなかつた。 実施例 2 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料
を下記とした以外は同様にして静電記録体を得
た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 無定形シリカ(重量平均粒径4.1μ;商品名:ニツ
プシールSS−70、日本シリカ社製) 10部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、無定形
シリカに由来するアルミニウムの認められないも
のが混在していた。相当直径が15μを越える突起
は殆ど観察されなかつた。 実施例 3 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 水酸化アルミニウム(重量平均粒径4.0μ) 10部 相当直径が15μを越える突起は殆ど観察されなか
つた。 実施例 4 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とし、コート量を7g/m2とした以外は同様
にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 40部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 30部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 30部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、重質炭
酸カルシウムに由来するカルシウムの分布が認め
られるものが混在していた。 実施例 5 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とし、コート量を4g/m2とした以外は同様
にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 93部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 5部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 2部 記録体誘電体層表面のSEM像における相当直
径5〜15μの突起はX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布が認められるものと、重質炭
酸カルシウムに由来するカルシウムの分布が認め
られるものが混在していた。相当直径が15μを越
える突起は殆ど観察されなかつた。 比較例 1 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径0.8μ、石英含有量
0.2%以下;商品名:ハイドライトR、ジヨージ
アカオリン社製) 20部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 10部 記録体誘電体層表面をX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布はSEM像における相当直径
5μ未満の突起に対応していた。SEM像における
相当直径5〜15μの突起はEPMAでは重質炭酸カ
ルシウムに由来するカルシウムが認められた。相
当直径が15μを越える突起は殆ど観察されなかつ
た。 比較例 2 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径12μ) 20部 重質炭酸カルシウム(重量平均粒径4.5μ) 10部 記録体誘電体層表面をX線マイクロアナライザー
(EPMA)で観察するとカオリナイトに由来する
アルミニウムの分布の中には、SEM像における
相当直径15μを越える突起に対応するものが認め
られた。 比較例 3 記録体の調製:実施例1における誘電体層塗料を
下記とした以外は同様にして静電記録体を得た。 トルエン 100部 MEK 100部 スチレン−ブチルメタクリレート(3:1)共重
合体樹脂 70部 カオリナイト(重量平均粒径5μ、石英含有量0.2
%以下;商品名:ハイドライトフラツトD、ジヨ
ージアカオリン社製) 20部 ポリアクリロニトリル製プラスチツクピグメント
(重量平均粒径4.2μ) 10部 SEM像における相当直径5〜15μの突起の中に
はX線マイクロアナライザー(EPMA)で観察
するとカオリナイトに由来するアルミニウムの分
布が認められるものと、アルミニウムが認められ
ないプラスチツクピグメントに由来するものが混
在していた。相当直径が15μを越える突起は殆ど
観察されなかつた。 記録試験方法 このようにして構成した各静電記録体につき松
下電送(株)製静電プロツターEP−101A1によ
り1000mの1ドツト連続記録を行つた。ただし各
記録毎に記録電極ヘツドを洗浄剤でクリーニング
した。スタート、100m、300m、500m、800m、
1000mの各点毎に得られた細線の全長1m当たり
のドツト抜けの合計長さをmm単位で評価し、又
異常ドツトの個数を評価して第1表に示した。 記録濃度 松下電送(株)製静電プロツターEP−101A1
により黒ベタ記録を行い、記録濃度をマクベス濃
度計(RD−914、マクベス社製)で測定した。 黒ベタ記録の均一性 黒ベタ記録の均一性を目視判定した。 ○:均一性に優れる △:均一性にやや劣る ×:均一性に劣り実用上問題がある。 記録濃度及び黒ベタ記録の均一性は第2表に示
す。 本実施例1〜3では記録スタート時のドツト抜
け、異常放電が少なく、連続記録特性、黒ベタ記
録の均一性にも優れたものが得られる。誘電体層
に顔料を60部含有する実施例4では記録濃度は
1.05とやや低いがドツト抜け及び連続記録特性は
ほぼ良好であつた。誘電体層に顔料を7部含有す
る実施例5では黒ベタ記録の均一性が劣るが、ド
ツト抜け、連続記録特性はほぼ良好であつた。 重量平均粒径が0.8μのカオリンを使用した比較
例1では異常ドツト、ドツト抜けが悪く、黒ベタ
記録の均一性にも劣る。重量平均粒径12μのカオ
リンを用いた比較例2では黒ベタ記録の均一性及
びドツト抜け、連続記録特性が悪く、更にカオリ
ンとプラスチツクピグメントを併用した比較例3
では連続記録特性が悪かつた。
【表】
【表】
ドツト抜けは細線1m当たりの抜け長さをmm
単位で評価し、異常ドツトは細線1m当たりの異
常ドツトの個数で評価した。
単位で評価し、異常ドツトは細線1m当たりの異
常ドツトの個数で評価した。
【表】
【表】
(効果)
本発明の静電記録体は、400ドツト/インチの
ような高密度静電記録において、ドツト抜けや異
常ドツトが起こらず、且つ連続記録特性に優れた
静電記録体であつた。
ような高密度静電記録において、ドツト抜けや異
常ドツトが起こらず、且つ連続記録特性に優れた
静電記録体であつた。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 導電性支持体上に絶縁性樹脂と顔料を主成分
とする誘電体層を形成して成る静電記録体におい
て、顔料として炭酸カルシウム、無定形シリカ及
び水酸化アルミニウムの少なくとも1種類と、石
英含有量2重量%以下で重量平均粒径が2〜10μ
のカオリンを含有させたことを特徴とする静電記
録体。 2 顔料が誘電体層全固形分に対して10〜50重量
%含有されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の静電記録体。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30626687A JPH01147460A (ja) | 1987-12-02 | 1987-12-02 | 静電記録体 |
| US07/219,385 US4931359A (en) | 1987-07-24 | 1988-07-15 | Electrostatic recording medium |
| EP19880111854 EP0300493A3 (en) | 1987-07-24 | 1988-07-22 | Electrostatic recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30626687A JPH01147460A (ja) | 1987-12-02 | 1987-12-02 | 静電記録体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01147460A JPH01147460A (ja) | 1989-06-09 |
| JPH0454224B2 true JPH0454224B2 (ja) | 1992-08-28 |
Family
ID=17955010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30626687A Granted JPH01147460A (ja) | 1987-07-24 | 1987-12-02 | 静電記録体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01147460A (ja) |
-
1987
- 1987-12-02 JP JP30626687A patent/JPH01147460A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01147460A (ja) | 1989-06-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |