JPH0454645A - ワンチップマイクロコンピュータの検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、ワンチップマイクロコンピュータに対する検
査を行うための検査装置の構造に関するものである。

（従来の技術〉 従来、マイクロコンピュータに対してその良否の判定や
不良内容の解析等を行うために種々の検査が行われる。

一般に、マイクロコンピュータに対する検査は、被検査
装置に一連の入力信号系列（テストパターン）を印加し
、その応答出力系列の正当性を何等かの形で調べて行う
が、そのための検査装置としては、被検査装置を検査装
置側にセットして検査を行うものや、被検査装置自身の
中に試験回路として組み込まれるものなど種々の検査方
法を実現するためのものが考えられ、実用化されている
。例えば、被検査装置を検査装置側にセットして検査を
行う場合の検査装置の一構成例を第２図に示す。

第２図は、従来のワンチップマイクロコンピュータの検
査装置を含む検査システムの概略構成図である。

この検査システムは、被検査装置であるワンチップマイ
クロコンピュータ１０、及び検査装置２０で構成されて
いる。

ワンチップマイクロコンピュータ１０は、中央処理装置
（以下、ＣＰＵという）１１、内蔵プログラムメモリ１
２、データメモリ１３、入出力回路１４、及びそれらを
相互に接続するバス１５を有している。ＣＰｔＪｌｌは
、制御プログラムの命令の解読及び各部との信号の授受
などワンチップマイクロコンピュータ全体の制御を行う
制御部１１ａ、算術演算や論理演算を行う演算部１１ｂ
、及びデータの一時的保持等を行うレジスタ部１１Ｃで
構成されている。内蔵プログラムメモリ１２は、ワンチ
ップマイクロコンピュータ全体の制御を行うための制御
プログラムを格納しておく機能を有し、例えばＲＯＭ等
で構成されている。データメモリ１３は、各種データを
記憶する機能を有し、例えばＲＡＭ等で構成されている
。

検査装置２０は、例えば入力テストパターン及び期待値
出カバターン等を発生するテストパターン発生器２１、
入力テストパターンに応じてワンチップマイクロコンピ
ュータ１０から出力される出カバターンを期待値出カバ
ターンと比較する比較器２２、及びそれらを制御する制
御部Ｒ２３等で構成されている。

次に、従来の検査システムで検査を行う場合について説
明する。

以上のような検査システムによるワンチップマイクロコ
ンピュータ１０の検査は、例えば制御プログラムとは異
なる検査プログラムを用いて行われるが、その手段とし
ては大別すると以下の２種類がある。

■　一つは、ワンチップマイクロコンピュータ１０に予
め設けたメモリエリアに検査プログラムを内蔵させてお
き、検査装置１２０の制御部ｎ２３からワンチップマイ
クロコンピュータ１０内の所定の信号線を介して与える
検査実行命令を示す信号により、制御部１１ａがその検
査プログラムの命令を実行するようにさせて検査を行う
ものである。

■　これに対し、もう一方は、検査装置２０側に検査プ
ログラムを用意し、バス１５を強制的に変化させ、制御
部１１ａが検査装置２０側の検査プログムの命令を実行
するようにして検査を行うものである。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、上記構成のワンチップマイクロコンピュ
ータの検査装置では、次のような課題があった。

（ａ）前記■の手段の場合では、ワンチップマイクロコ
ンピュータ１０の中に検査プログラムのメモリエリアが
必要であるため、回路素子数及びチップ面積などが増加
してしまう。また、この場合、ワンチップマイクロコン
ピュータ１０を製品として出荷した際に、そのメモリエ
リアに検査プログラムが格納されたままであるため、ワ
ンチップマイクロコンピュータ１０の使用時における制
御中に、ワンチップマイクロコンピュータ１０内の検査
実行命令の信号を与えるために設けた信号線に、例えば
ノイズがのったりすることにより、制御部１１ａが検査
プログラムを実行してしまうおそれがある。

（ｂ）前記■、■の手段では、ワンチップマイクロコン
ピュータ１０の検査を行う際に検査プログラムを用いて
行っているなめ、検査プログラムを適宜作成することに
より不良内容の解析等を行うことができる。ところが、
制御部１１ａは、検査の際には検査プログラムの命令に
基づいて制御を実行し、製品としての使用時には内蔵プ
ログラムメモリ１２内の制御プログラムに基づいて制御
を行うが、その双方の場合を比較すると、制御部１１ａ
が検査プログラムを読み取るための経路と制御プログラ
ムを読み取るための経路が異なっている。このため、内
蔵プログラムメモリ１２の制御プログラムでワンチップ
マイクロコンピュータ１０を動作させた場合に、例えば
正常な出カバターンが得られないなどの不具合が発生す
るものでも、外部の検査プログラムではその不具合を検
出できないというケースが生じてしまう。

以上のような問題を解決するために本願出願人は、先に
特開昭６１−２２１８３７号公報に記載される技術を提
案した。

この文献に記載された技術の要旨は、次のようなもので
ある。即ち、検査装置２０側に予め用意した検査プログ
ラムを検査時にワンチップマイクロコンピュータ１０側
のデータメモリ１２に転送し、データメモリ１２に転送
された検査プログラムにより制御部１１ａを動作させて
検査を行い、例えば検査終了後にデータメモリ１２内の
検査プログラムを消去するものである。

ところが、この提案の技術では、前記（ａ）の問題は解
決されるが、前記（ｂ）の問題は依然解決されないまま
であり、さらに次のような問題が生じてしまう。この提
案の技術では、プログラム空間とデータ空間が同一の領
域にある場合、即ち制御部１１ａが同一の信号線を介し
てプログラム空間及びデータ空間にアクセスできるよう
な場合には検査の実施が可能であるが、プログラム空間
とデータ空間が独立しているものであると対応ができな
い。これは、プログラム空間とデータ空間が独立である
と、例え検査時に検査プログラムをデータ空間に転送し
たところで、制御部１１ａはデータ空間内の検査プログ
ラムを実行しないためである。

このように上記提案によっても前記従来技術の持つ課題
を十分に解決することができなかった。

本発明は、前記従来技術が持っていた課題として、検査
に起因する製品としてのワンチップマイクロコンピュー
タの使用時の誤動作を除去しつつ、プログラム空間とデ
ータ空間が独立した場合に検査ができない点、不良内容
の検出もれが生じる点について解決したワンチップマイ
クロコンピュータの検査装置を提供するものである。

（課題を解決するための手段） 本発明は、前記課題を解決するために、制御プログラム
を格納した内蔵プログラムメモリと、クロック信号を発
生するクロック発生手段と、前記クロック信号に同期し
て前記制御プログラムを実行する制御部と、前記内蔵プ
ログラムメモリまたは外部のメモリを切替えて前記制御
部に接続するメモリ切替手段とを、備えたワンチップマ
イクロコンピュータに対し、テストパターンを入力して
前記制御プログラムに対応した所定のプログラムを実行
させ、その実行結果に基づき前記ワンチップマイクロコ
ンピュータの検査を行うワンチップマイクロコンピュー
タの検査装置を、以下のような手段を用いて構成したも
のである。

即ち、検査装置は、少なくとも前記制御プログラム中の
所定部分のプログラムを格納した外部プログラムメモリ
と、検査内容に応じた所定アドレスを設定するためのア
ドレス設定手段と、前記制御部による前記外部プログラ
ムメモリのプログラム実行中のアドレスと前記所定アド
レスとを比較して両者の一致／不一致を検出する比較手
段と、前記比較手段の検出結果が一致の時には、検査内
容に応じて予め設定された所定カウント数を示すカウン
ト設定信号を出力するカウント設定手段と、前記カウン
ト設定信号に基づき前記所定カウント数分前記クロック
信号の計数動作を行うカウンタと、前記比較手段及びカ
ウンタの出力に基づき前記メモリ切替手段に対する切替
信号を出力する切替信号出力手段とを備えたものである
。

（作用） 本発明によれば、以上のようにワンチップマイクロコン
ピュータの検査装置を構成しなので、前記比較手段でア
ドレスの一致を検出すると、その比較手段の出力により
、前記カウント設定手段が前記カウント設定信号を前記
カウンタへ出力して前記所定カウント数が前記カウンタ
ヘロードされ前記カウンタが前記クロック信号に基づき
前記所定カウント数分のカウント動作を開始すると共に
、前記切替信号出力手段から前記メモリ切替手段へ前記
内蔵プログラムメモリを前記制御部にプログラムメモリ
として使用させる切替信号が出力される。これにより、
前記制御部は、内蔵プログラムメモリの制御プログラム
に基づき制御を実行する。

前記カウンタが前記所定カウント数のカウントを終了す
ると、該カウンタの出力に基づき前記切替信号出力手段
から前記メモリ切替手段へ前記外部プログラムメモリを
前記制御部にプログラムメモリとして使用させる切替信
号が出力される。これにより、前記制御部は、前記外部
プログラムメモリのプログラムにより制御を実行する。

従って、前記課題を解決できるのである。

（実施例） 第１図は、本発明の実施例を示すワンチップマイクロコ
ンピュータの検査装置を含む検査システムの概略構成図
である。図中、第２図と共通の要素には、共通の符号が
付されている。

この検査システムは、検査対象であるワンチップマイク
ロコンピュータ３０、及び検査装置４０で構成されてい
る。

ワンチップマイクロコンピュータ３０は、ワンチップマ
イクロコンピュータ１０と同様に構成されるＣＰＵ１１
、内蔵プログラムメモリ１２、データメモリ１３、及び
バス１５を有すると共に、クロック発生手段であるクロ
ック発生回路３１と、メモリ切替手段であるメモリ切替
部３２ａを有する入出力回路３２とを備えている。クロ
ック発生回路３１は、クロック信号ＣＬＫを発生する回
路であり、その出力がＣＰＵＩＩに接続されると共に、
バス１５を介して検査装置４０側に接続されている。メ
モリ切替部３２ａは、例えば外部からの切替信号Ｓ１に
基づき制御部１１ａが実際に制御を実行するプログラム
を格納したプログラムメモリとして、内蔵プログラムメ
モリ１２を使用するか、外部の他のメモリを使用するか
を切替える機能を有している。

検査装置４０は、検査装置２０と同様に構成されるテス
トパターン発生器２１．比較器２２、及び制御回路２３
を有すると共に、外部プログラムメモリ４１を有してい
る。外部プログラメモリ４１は、例えば内蔵プログラム
メモリ１２と同一の制御プログラムを含むプログラムを
格納しており、ＲＡＭやＲＯＭ等により構成されている
。

外部プログラムメモリ４１線、バス４２を介して入出力
回路３０に接続されると共に、比較手段である比較回路
４３の入力側に接続され、さらにその比較回路４３の入
力側には所定アドレスを設定するためのアドレス設定手
段であるアドレス設定器４４が接続されている。

比較回路４３は、バス４２に現れたアドレスと、アドレ
ス設定器４４の所定アドレスとを比較し、その比較結果
に基づき両者の一致／不一致を検出してその検出結果に
応じた出力信号Ｓ２を出力する回路であり、論理ゲート
等で構成されている。

アドレス設定器４４は、検査内容に応じて所定アドレス
を設定するための機能を有し、例えばＤＩＰスイッチ等
により構成されている。比較回路４３の出力側には、カ
ウント設定手段４５及びカウンタ４６が接続されると共
に、切替信号出力手段であるフリップフロップ４７が接
続されている。

カウント設定手段４５は、所定カウント数を示すカウン
ト設定信号Ｓ３を出力してカウンタ４６のカウント数設
定及びカウント始動を行う機能を有し、カウント設定器
４５ａ及びロード回路４５ｂで構成されている。カウン
ト設定器４５ａは、例えばＤＩＲスイッチ等により構成
され、検査内容に応じた所定カウント数を設定するため
のものであり、ロード回路４５ｂは、比較回路４３の出
力に基づきカウント設定器４５ａに設定された所定カウ
ント数をカウンタ４６ヘロードするための回路である。

カウンタ４６は、カウント設定信号Ｓ３に基づきクロッ
ク発生回路３１からのクロック信号ＣＬＫのカウントを
行い、カウント設定信号Ｓ３に応じた所定カウント数で
オーバーフローする構成を有している。

フリップフロップ４７は、比較回路４３の出力とカウン
タ４６の出力に基づき所定の切替信号Ｓ１をメモリ切替
部３２ａへ出力する機能を有し、比較回路４３からの出
力信号Ｓ２を入力してセットされるセット端子Ｓと、カ
ウンタ４６の出力によりリセットされるリセット端子Ｒ
と、セット／リセットに応じて所定の切替信号Ｓ１を出
力する出力端子Ｑを備えている。

次に、検査装置４０によりワンチップマイクロコンピュ
ータ３０の検査を行う場合の動作について説明する。

内蔵プログラムメモリ１２に格納された制御プログラム
のうち、例えばアドレス１００１番地から２０００番地
を実行させた際にワンチップマイクロコンピュータ３０
が正常に動作するか否かを調べる場合、アドレス設定器
４４に所定アドレスとして１００１番地を設定し、カウ
ント設定器４５ａに所定カウント数として１０００を設
定する。

さらに、カウンタ４６がカウント動作中でない時、即ち
比較回路４３の比較結果が不一致を示す出力信号Ｓ２が
出力されている時に、フリップフロップ４７からは、制
御部１１ａが外部プログラムメモリ４１に基づいて制御
を実行するような切替信号Ｓ１をメモリ切替部３２ａへ
出力するように設定しておく。

切替信号Ｓ１に基づくメモリ切替部３２ａの切替により
制御部１１ａが外部プログラムメモリ４１の制御プログ
ラムに基づいて制御を開始する。

この際、テストパターン発生器２１によって予め設定さ
れた所定の入力テストパターンが発生され、その入力テ
ストパターンがワンチップマイクロコンピュータ３０に
入力されると、ワンチップマイクロコンピュータ３０は
、その入力テストパターンに応じた種々の動作を行い、
その動作結果として、所定のタイミングでワンチップマ
イクロコンピュータ３０から出カバターンを出力する。

このようにして、切替信号Ｓ１に基づくメモリ切替部３
２ａの切替えにより制御部１１ａが外部プログラムメモ
リ４１の制御プログラムに基づいて制御を実行すると、
バス４２には制御部１１ａによるプログラム実行中のア
ドレスが現れる。このアドレスは、プログラム進行に伴
って変化し、比較回路４３に入力される。

バス４２に現れるアドレスが、例えば順に変化して１０
０１番地になり、そのバス４２に現れたアドレス、即ち
制御部１１ａが読みにきた制御プログラムのアドレスと
、アドレス設定器４４に予め設定しておいたアドレスと
が一致し、比較回路４３が双方のアドレスの一致を検出
すると、比較回路４３は比較結果が一致であることを示
す出力信号Ｓ２を出力する。

この出力信号Ｓ２により、フリップフロップ４７からメ
モリ切替部３２ａに切替えを行わせる切替信号Ｓ１が出
力されると共に、ロード回路４５ｂは、カウント設定器
４５の所定カウント数１０００をカウンタ４６ヘロード
するために、所定カウント数１０００を示すカウント設
定信号Ｓ３をカウンタ４６へ出力する。これにより、カ
ウンタ４６は、カウント設定器４５ａからロードされた
所定カウント数１０００分だけ、クロック信号ＣＬＫの
カウント動作を実行し始めると共に、メモリ切替部３２
ａは制御部１１ａが内蔵プログラムメモリ１２をプログ
ラムメモリとして使用するような切替えを行う。従って
、制御部１１ａは、内蔵プログラムメモリ１２の制御プ
ログラムのアドレス１００１番地のプログラムを読みに
いき、以下、内蔵プログラムメモリ１２の制御プログラ
ムに基づきその１００．１番地以降のプログラムを順に
実行していく。

カウンタ４６がクロック信号ＣＬＫのカウントを行い、
設定された所定カウント数１０００分のカウントを終了
する。この時、クロック信号ＣＬＫに同期して内蔵プロ
グラムメモリ１２内の制御プログラムの命令を実行して
いる制御部１１ａは、その制御プログラムの２０００番
地の読出し実行を終了する。カウンタ４６は、所定カウ
ント数１０００のカウントを終了すると、オーバーフロ
ーし、その出力によりフリップフロップ４７がリセット
され、フリップフロップ４７からメモリ切替部３２ａを
切替えさせるような切替信号Ｓ１が出力される。これに
より、メモリ切替部３２ａは、制御部１１ａが外部プロ
グラムメモリ４１の制御プログラムに基づいて制御を実
行するように制御部１１ａと外部プログラムメモリ４１
を接続するような切替を行う。従って、制御部１１ａは
、外部プログラムメモリ４１の制御プログラムのアドレ
ス２００１番地以降の命令を実行する。

このようにして、ワンチップマイクロコンピュータ３０
の制御部１１ａは、内蔵プログラムメモリ１２の制御プ
ログラムのアドレスが１００１番地から２０００番地の
間の部分だけ内蔵プログラムメモリ１２の内容によって
制御を行い、他の番地の部分に関しては、外部プログラ
ムメモリ４１の内容によって制御を行う。従って、制御
部１１ａが内蔵プログラムメモリ１２の制御プログラム
のアドレス１００１番地から２０００番地の命令に基づ
き動作している場合について、例えば比較器２２により
、ワンチップマイクロコンピュータ３０から出力される
出カバターンとテストパターン発生器２１からの期待値
比カバターンとを比較すれば、不具合が生じるか否かを
調べることができる。

もし制御部１１ａが、１００１番地から２０００番地を
内蔵プログラムメモリ１２の制御プログラムに基づき制
御している時に、フンチップマイクロコンピュータ３０
の不具合が検出されたならば、さらにその１００１番地
から２０００番地のうち、どこの部分の命令を実行する
時に不具合が発生しているかを特定するなめに、次にア
ドレス設定器４３に所定アドレスとして１００１番地を
設定し、カウント設定器４５ａに所定カウント数５００
を設定する。これにより、１００１番地から２０００番
地の場合と同様にして、１００１番地から１５００番地
までについて制御部１１ａを内蔵プログラムメモリ１２
の制御プログラムに基づいて動作させることができる。

この場合に、例えば不具合が検出できなかったならば、
さらに、アドレス設定器４３に所定アドレスとして１５
０１番地を設定し、カウント設定器４５ａに所定カウン
ト数５００を設定する。これにより、制御部１１ａは、
１５０１番地から２０００番地までだけ内蔵プログラム
メモリ１２の制御プログラムに基づいて制御を行う。こ
の時、不具合が検出されたならば、制御部１１ａが内蔵
プログラムメモリ１２の制御プログラムの１５０１番地
から２０００番地の間の命令を実行する際に不具合が生
じることを確認できる。

以下、同様の作業を繰り返すことにより、ワンチップマ
イクロコンピュータ３０が不具合を発生するアドレスの
特定が行われる。従って、その検査結果に基づいて故障
内容の解析等を行うことにより、例えばハード構成の欠
陥等を調べることができる。

本実施例では、次のような利点を有している。

（Ａ）本実施例では、制御部１１ａが、内蔵プログラム
メモリ１２の制御プログラムの任意のアドレスから任意
のステップだけ、内蔵プログラムメモリ１２の内容に基
づいて制御を実行するようにできる。このため、不具合
の原因を制御プログラムのアドレスに応じて解析するこ
とが可能となり、不良内容の解析等の検査において高い
効果が期待できる。

（Ｂ）検査装置４０では、切替信号Ｓ１により制御部１
１ａが内蔵プログラムメモリ１２または外部プログラム
メモリ４１のいずれかをプログラムメモリとして使用す
るようにしているので、外部プログラムメモリ４１に制
御１０グラムに加えて検査プログラムを格納しておくこ
とができ、検査機能の向上が図れる。

（Ｃ）本実施例では、ワンチップマイクロコンピュータ
３０の既存のデータメモリ１３等に検査プログラムを格
納したすせずに検査を実施できるため、プログラム空間
及びデータ空間が独立しているような場合で６何等問題
なく検査を行える。

（Ｄ＞本実施例では、制御部１１ａを部分的に内蔵プロ
グラムメモリ１２の内容に基づいて動作させ、その動作
中の不具合を調べることにより検査を行うため、従来の
ように検査プログラムで検査を行うために発生する経路
の違いによる不良内容の検出もれなどは生じない。

（Ｅ）検査装置４０によれば、ワンチップマイクロコン
ピュータ３０を製品として使用した場合にも同等検査に
起因する支障を来すことはない。

なお、本発明は、上記実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。

（Ｉ＞上記実施例の検査装置４０及び検査対象であるワ
ンチップマイクロコンピータ３０の構成は、種々の変形
が可能である。

■　例えば、アドレス設定器４４及びカウント設定器４
５ａは、キーボード等を有するパソコン等により所定ア
ドレス及び所定カウント数を設定するような構成にして
もよい。また、フリ、ンプフロップ４７の構成等は一例
を挙げたものであり、図示の例に何等限定されるもので
はない。例えば切替信号発生手段としてフリップフロッ
プ以外のものを用いてもよい。さらに、テストパターン
発生器２１、比較器２２、及び制御回路２３は、従来−
殻内に検査システムを構成する際に用いられるものとし
て例示したが、それらの構成及び設置等については検査
の内容及び検査条件等によって適宜変更が可能である。

■　ワンチップマイクロコンピュータ３０は、例えばメ
モリ切替部３２ａを備えているものを用いるものとして
が、例えば上記実施例を適用するために予めワンチップ
マイクロコンピュータ３０に設けるようにしてもよい。

さらに、第１図に図示したフンチップマイクロコンピュ
ータ３０の構成は一例を図示したものであり、上記実施
例の適用は、図示の例に何等限定されるものではない。

（ＩＩ）検査装置４０を用いたワンチップマイクロコン
ピュータ３０等に対する検査の検査手順は、上記実施例
のものに限定されるものではない。例えば、上記実施例
以外に設定される一次検査等により予め不良内容の概略
が分かるような場合には、その不良内容の概略に基づき
外部プログラムメモリ４１に格納する制御プログラムを
内蔵プログラムメモリ１２の制御プログラムの所定部分
のプログラムとしてもよい。

（発明の効果） 以上詳細に説明したように、本発明によれば、前記外部
プログラムメモリ、アドレス設定手段、比較手段、カウ
ント設定手段、カウンタ、及び切替信号出力手段を設け
てワンチップマイクロコンピュータの検査装置を構成し
たので、前記ワンチップマイクロコンピュータの内蔵プ
ログラムメモリの任意のアドレスから任意のステップだ
けを実行させることができ、その実行結果により不良内
容の解析等の種々の検査が可能となる。また、前記外部
プログラムメモリに検査プログラムを追加することが可
能であり、それにより検査機能の向上を図れる。

従って、プログラム空間及びデータ空間などの構成に限
定されずに種々のワンチップマイクロコンピュータの検
査が可能であると共に、不良内容の検出もれなどを除去
でき、かつワンチップマイクロコンピュータの使用時に
検査に起因する誤動作を発生させることのないワンチッ
プマイクロコンピュータの検査装置を実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の実施例を示すワンチップマイクロコ
ンピュータの検査装置の概略構成図、第２図は、従来の
ワンチップマイクロコンピュータの検査装置を含む検査
システムの概略構成図である。 １１・・・ＣＰＵ、ｌｌａ・・・制御部、１２・・・内
蔵プログラムメモリ、３０・・・ワンチップマイクロコ
ンピュータ、３２ａ・・・メモリ切替部、４０・・・検
査装置、４１・・・外部プログラムメモリ、４２・・・
バス、４３・・・比較回路、４４・・・アドレス設定器
、４５・・・カウント設定手段、４５ａ・・・カウント
設定器、４５ｂ・・・ロード回路、４６・・・カウンタ
、４７・・・フリップフロッグ、Ｓｌ・・・切替信号、
Ｓ３・・・カウント設定信号、ＣＬＫ・・・クロック信
号。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　制御プログラムを格納した内蔵プログラムメモリと、
   クロック信号を発生するクロック発生手段と、前記クロ
   ック信号に同期して前記制御プログラムを実行する制御
   部と、前記内蔵プログラムメモリまたは外部のメモリを
   切替えて前記制御部に接続するメモリ切替手段とを、備
   えたワンチップマイクロコンピュータに対し、テストパ
   ターンを入力して前記制御プログラムに対応した所定の
   プログラムを実行させ、その実行結果に基づき前記ワン
   チップマイクロコンピュータの検査を行うワンチップマ
   イクロコンピュータの検査装置において、 少なくとも前記制御プログラム中の所定部分のプログラ
   ムを格納した外部プログラムメモリと、検査内容に応じ
   た所定アドレスを設定するためのアドレス設定手段と、 前記制御部による前記外部プログラムメモリのプログラ
   ム実行中のアドレスと前記所定アドレスとを比較して両
   者の一致／不一致を検出する比較手段と、 前記比較手段の検出結果が一致の時には、検査内容に応
   じて予め設定された所定カウント数を示すカウント設定
   信号を出力するカウント設定手段と、 前記カウント設定信号に基づき前記所定カウント数分前
   記クロック信号の計数動作を行うカウンタと、 前記比較手段及びカウンタの出力に基づき前記メモリ切
   替手段に対する切替信号を出力する切替信号出力手段と
   を、 備えたことを特徴とするワンチップマイクロコンピュー
   タの検査装置。