JPH0475665B2 - - Google Patents

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JPH0475665B2
JPH0475665B2 JP57092915A JP9291582A JPH0475665B2 JP H0475665 B2 JPH0475665 B2 JP H0475665B2 JP 57092915 A JP57092915 A JP 57092915A JP 9291582 A JP9291582 A JP 9291582A JP H0475665 B2 JPH0475665 B2 JP H0475665B2
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JP
Japan
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wiring
power supply
layer
integrated circuit
main line
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57092915A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58210636A (ja
Inventor
Haruyuki Tago
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP57092915A priority Critical patent/JPS58210636A/ja
Publication of JPS58210636A publication Critical patent/JPS58210636A/ja
Publication of JPH0475665B2 publication Critical patent/JPH0475665B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D84/00Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
    • H10D84/90Masterslice integrated circuits

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、半導体集積回路装置に係り、特にマ
スタースライス方式を採用した装置に関わるもの
である。
〔発明の背景技術とその問題点〕
マスタースライス方式の半導体集積回路装置
は、予め複数の素子からなる基本セルを半導体基
板に多数作り込んでおき、配線層並びに接続穴を
変更することにより所望の回路動作を得ようとす
るもので、新たな機能の回路の要望に対し、比較
的簡単に対処出来る特徴を有している。すなわ
ち、金属配線を形成する以前の工程により作成さ
れる半導体チツプは、全ての機能回路に共通であ
るため、上記方式を採用すると、開発期間の短
縮、製造コストの低減が図れ、多品種小量生産を
可能とする。
マスタースライス方式によるゲートアレイ型大
規模集積回路装置の一般的な例を第1図に示す。
すなわち、この半導体集積回路装置は半導体チツ
プ上が、素子領域1、配線領域2、入出力端子並
びに入出力回路領域3に分けられている。素子領
域1への電源供給は、通常、素子領域1上にVDD
とGNDとからなる配線4(第1層)を設けるこ
とによつて行なわれ、また、素子領域1の機能ブ
ロツク間の接続は配線領域2上に設けられる配線
パターン(第2層)によつて行なわれる。
しかし、この方式では、大規模化に伴つて、素
子領域が細長くなると電源配線の抵抗、インダク
タンスが増大し、性能低下を招く不都合があつ
た。そこで、配線層を3層とした構造も考えられ
ている。第2図に3層配線を用いたゲートアレイ
型大規模集積回路装置の電源配線の例を示し、ま
た第3図に素子領域の構造を示す。第3層の金属
を用いて、電源幹線5を設け、これを素子領域1
上の特定の場所で第1もしくは第2配線層によつ
て設けられた電源支線6に接続する。したがつ
て、素子領域1内に電源幹線5と電源支線6とを
接続する領域(電源分枝セル7と呼ぶ)を必要と
する。このため、この方式では、機能ブロツク8
を電源分枝セル7上に配置出来ず、配置の自由度
が制限され、また素子利用効率の低下を招く欠点
があつた。
〔発明の目的〕
本発明は、上記事情を考慮してなされたもの
で、マスタースライス方式によるゲートアレイ型
大規模集積回路に適した半導体集積回路装置を提
供することを目的としている。
〔発明の概要〕
本発明によれば、少なくとも素子領域上に電源
支線を設けるとともに上記素子領域に近接した配
線領域上に上記電源支線に接続される電源幹線を
設け、これら電源線を同一配線層で構成してい
る。また、素子領域の機能ブロツク基本セル相互
の信号端は配線領域において上記配線層とはそれ
ぞれ異なる配線層によつて接続される。
〔発明の効果〕
本発明によれば従来技術に比べ、下記の効果が
得られる。すなわち、配線領域上に電源幹線を設
けているため、この電源幹線を幅広く形成するこ
とができ、さらに素子領域上の電源支線に電源幹
線を複数箇所で接続しているので、電源支線の抵
抗、インダクタンスを等価的に小さくすることが
でき、性能向上を図れる。また、素子領域内に電
源分枝用セルを設けなくてよいので、機能ブロツ
ク配置の自由度が増し、素子の利用効果を向上で
きる。機能ブロツク間の相互接続のための相互配
線として、上記の各電源線よりも上層で、基板か
らの間隔が大きく静電容量の小さい配線層を使う
ため、相互配線は低容量な配線となり、信号の遅
延を少なくでき、高性能化を図れる。
〔発明の実施例〕
第4図に本発明を適用したゲートアレイ型大規
模集積回路の例を示す。
素子領域1の両側に近接させて第1配線層で電
源幹線9が設けてあり、電源幹線9と素子領域1
内部の電源支線6とは、所々で第1または第2配
線層に所属する配線14で接続されている。素子
領域1上に配置された機能ブロツク13の入出力
端子は第2配線層を用いて素子領域1の端に引き
出されており、これらの配線領域2における配線
は第2配線層に所属する配線10と第3配線層に
所属する配線11と接続穴12とによつて行なわ
れている。
したがつて、上記構成であると、電源幹線9の
幅を広くできるし、電源分枝用セルを必要としな
い。また、配線10,11が従来よりも上層の配
線層で行われるので、基板から配線10,11ま
での距離が長くなり、配線容量が減少する。従つ
て、前述した効果が得られることになる。
なお、本発明は、配線層数が3の場合に限られ
るものではなく、更に多層の場合にも適用でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のマスタースライス方式によるゲ
ートアレイ型大規模集積回路装置の構成例を示す
図。第2図は同じく従来の3層配線を用いたゲー
トアレイ型大規模集積回路装置の構成例を示す
図。第3図は第2図に示す装置の素子領域の拡大
図。第4図は本発明の一実施例に係る半導体集積
回路装置の構成図である。 9…第1配線層で作られた電源幹線、10…第
2配線層で作られた信号配線、11…第3配線層
で作られた信号配線、12…接続穴、13…機能
ブロツク。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 半導体基板に複数個の能動素子からなる基本
    セルを複数個配列し集積してなるチツプに必要に
    応じた配線パターンを施して所望の回路動作を実
    現するマスタースライス方式の半導体集積回路装
    置において、 前記基本セルを配列する素子領域上に電源支線
    を設けると共に、該素子領域に近接した配線領域
    上に電源幹線を設け、且つ電源支線と電源幹線と
    は複数箇所で接続し、 前記素子領域の基本セル間の相互配線を、上記
    各電源線よりも上層の配線層で形成してなること
    を特徴とする半導体集積回路装置。 2 前記電源支線及び電源幹線は第1層であり、
    これらの各電源線を接続する配線は第1層又は第
    2層であり、前記相互配線は第2層及び第3層で
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の半導体集積回路装置。
JP57092915A 1982-05-31 1982-05-31 半導体集積回路装置 Granted JPS58210636A (ja)

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JP57092915A JPS58210636A (ja) 1982-05-31 1982-05-31 半導体集積回路装置

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JP57092915A JPS58210636A (ja) 1982-05-31 1982-05-31 半導体集積回路装置

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Publication Number Publication Date
JPS58210636A JPS58210636A (ja) 1983-12-07
JPH0475665B2 true JPH0475665B2 (ja) 1992-12-01

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62216342A (ja) * 1986-03-18 1987-09-22 Toshiba Corp 半導体集積回路装置の製造方法
JPH07123139B2 (ja) * 1986-03-28 1995-12-25 株式会社東芝 半導体論理集積回路装置のレイアウト方法
JPH0719843B2 (ja) * 1988-09-20 1995-03-06 三洋電機株式会社 半導体集積回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5432085A (en) * 1977-08-16 1979-03-09 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor intergrated circuit
JPS5925381B2 (ja) * 1977-12-30 1984-06-16 富士通株式会社 半導体集積回路装置

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JPS58210636A (ja) 1983-12-07

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