JPH0480866B2 - - Google Patents
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- JPH0480866B2 JPH0480866B2 JP59112036A JP11203684A JPH0480866B2 JP H0480866 B2 JPH0480866 B2 JP H0480866B2 JP 59112036 A JP59112036 A JP 59112036A JP 11203684 A JP11203684 A JP 11203684A JP H0480866 B2 JPH0480866 B2 JP H0480866B2
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Landscapes
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Description
(産業上の利用分野)
この発明は低温で焼成でき、特性的には、比抵
抗が高く、また誘電率が低く、さらには誘電体損
失の小さい低温焼成用磁器組成物に関する。 (従来の技術) 電子機器の小型化に伴い、回路を構成する各種
の部品を実装するために磁器基板が数多く利用さ
れている。 最近ではさらに実装密度を上げるために多層磁
器基板へと開発が進んでいる。この多層磁器基板
の材料としては一般的にアルミナが知られてい
る。しかしながら、アルミナは焼成温度が1500〜
1600℃と高温であるため、焼成のために多くのエ
ネルギーが必要となる。また、アルミナと同時焼
成する内部誘導体材料もW,Moなどの高融点材
料を用いているが、これらの金属は比抵抗が高
く、回路抵抗そのものも高くなる欠点がある。 したがつて、アルミナより低温で焼成できる磁
器材料であれば、焼成のためのエネルギーが少な
くなるとともに、たとえば1000℃以下での焼成が
可能な場合、Ag、Ag−Pd、Cu、Niなどの導電
材料を導体路として用いることができる他、抵抗
材料なども印刷して同時焼成するなどの利点がで
てくる。 このような低温焼成用の磁器材料としては、ア
ルミナに多量の結晶化ガラス成分を添加したもの
があるが、得られた磁器に空孔が多く存在し、空
孔を介して導体路間のマイグレーシヨンが発生す
るという問題が見られる。また、BaSnO3がホウ
素を多量に添加したものがあるが、仮焼物がガラ
ス状となり、この仮焼物の粉砕が困難になるばか
りか、ホウ素の蒸発が激しく、このため同時焼成
したとき導電材料と反応したり、焼成のための炉
の炉材に損傷を与えるといつた問題があつた。 (発明の目的) したがつて、この発明は1000℃以下で焼成でき
る磁器組成物を提供することを目的とする。 また、この発明はその製造工程において粉砕等
の処理が行いやすい磁器組成物を提供することを
目的とする。 さらにこの発明は電気的には比抵抗が高く、ま
た誘電率が低く、さらには誘電体損失の小さい磁
器組成物を提供することを目的とする。 さらにまたこの発明は特に限定されるものでは
ないが多層磁器基板に適した磁器組成物を提供す
ることを目的とする。 (発明の構成) この発明にかかる低温焼成用磁器組成物を要約
すれば、次の構成材料()〜()からなるも
のである。 () (Ba1-XMX)(Tii-yMy)O3が5〜40モ
ル%ただし、Mは、Sr、Ca、Mgのうち少な
くとも1種、Mは、Zr、Snのうち1種また
は2種。 0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3 ()SiO2が40〜80モル% ()Al2O3が2〜10モル% ()CaOが2〜10モル% ()B2O3が4〜25モル% 上記した組成範囲に限定したのは次のとおりで
ある。 すなわち、()の(Ba1-XMX)(Tii-yM
y)O3が5モル%未満では焼成温度が1000℃を越
え、一方40モル%を越えると誘電率が大きくなる
からである。 また、MX、Myのx,yについて、それぞ
れ0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3と
規定した。したがつて(Ba1-XMX)(Ti1-yM
y)O3としては、x=0,y=0の場合の
BaTiO3の他、(Ba、Ca)TiO3、(Ba、Ca)
(Ti、Zr)O3、(Ba、Sr)TiO3、(Ba、Sr)
(Ti、Sn)O3、(Ba、Sr、Ca、Mg)(Ti、Sn)
O3などの成分からなるものが含まれる。ここで
x、yおよびx+yの上限値を0.3以下としたの
は、x、yおよびx+yの量が最大するに伴い焼
成温度が上昇する傾向にあり、特にx、yおよび
x+yが0.3を越えると焼成温度が1000℃以上に
なるからである。 次にSiO2について40〜80モル%としたのは40
モル%未満または80モル%を越えると焼成温度が
高くなるからである。 また、Al2Oについて2〜10モル%としたのは、
2モル%未満または10モル%を越えると焼成温度
が高くなるからである。 さらに、CaOについて2〜10モル%としたの
は、2モル%未満または10モル%を越えると焼成
温度が高くなるからである。 さらにまた、B2O3について4〜25モル%とし
たのは、4モル%未満では焼成温度が高くなり、
25モル%を越えると磁器同志の溶着が発生しやす
くなるからである。 なお、(Ba1-xM〓X(Ti1-yM〓y)O3はABO3から
なるペロブスカイト型の組成として表わされる
が、AとBとの比率(モル比)を特性を損わない
範囲で変化させることもこの発明に含まれる。 (実施例) 以下、この発明を実施例にもとづいて詳細に説
明する。 実施例 1 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2を準備し、第1表
に示す組成比率になるように秤量した。秤量原料
を混合した後1150℃で仮焼した。次にこれらの仮
焼粉末とSiO2、Al2O3、CaCO3、B4Cの各原料を
第1表に示す組成比率の磁器が得られるように秤
量した。秤量原料を混合、粉砕し、バインダーを
加えて円板状に成形した。成形体を空気中850〜
950℃で焼成して磁器を作成した。 各磁器について、比抵抗、誘電率、誘電体損失
および抗折強度を測定した。 各諸特性についての測定条件は次のとおりであ
る。 比抵抗: D.C.1.5V 誘電率: 1MHz 誘電体損失: 1MHz 抗折強度: JISの規格による 第2表は各磁器の諸特性の測定結果を示したも
のである。
抗が高く、また誘電率が低く、さらには誘電体損
失の小さい低温焼成用磁器組成物に関する。 (従来の技術) 電子機器の小型化に伴い、回路を構成する各種
の部品を実装するために磁器基板が数多く利用さ
れている。 最近ではさらに実装密度を上げるために多層磁
器基板へと開発が進んでいる。この多層磁器基板
の材料としては一般的にアルミナが知られてい
る。しかしながら、アルミナは焼成温度が1500〜
1600℃と高温であるため、焼成のために多くのエ
ネルギーが必要となる。また、アルミナと同時焼
成する内部誘導体材料もW,Moなどの高融点材
料を用いているが、これらの金属は比抵抗が高
く、回路抵抗そのものも高くなる欠点がある。 したがつて、アルミナより低温で焼成できる磁
器材料であれば、焼成のためのエネルギーが少な
くなるとともに、たとえば1000℃以下での焼成が
可能な場合、Ag、Ag−Pd、Cu、Niなどの導電
材料を導体路として用いることができる他、抵抗
材料なども印刷して同時焼成するなどの利点がで
てくる。 このような低温焼成用の磁器材料としては、ア
ルミナに多量の結晶化ガラス成分を添加したもの
があるが、得られた磁器に空孔が多く存在し、空
孔を介して導体路間のマイグレーシヨンが発生す
るという問題が見られる。また、BaSnO3がホウ
素を多量に添加したものがあるが、仮焼物がガラ
ス状となり、この仮焼物の粉砕が困難になるばか
りか、ホウ素の蒸発が激しく、このため同時焼成
したとき導電材料と反応したり、焼成のための炉
の炉材に損傷を与えるといつた問題があつた。 (発明の目的) したがつて、この発明は1000℃以下で焼成でき
る磁器組成物を提供することを目的とする。 また、この発明はその製造工程において粉砕等
の処理が行いやすい磁器組成物を提供することを
目的とする。 さらにこの発明は電気的には比抵抗が高く、ま
た誘電率が低く、さらには誘電体損失の小さい磁
器組成物を提供することを目的とする。 さらにまたこの発明は特に限定されるものでは
ないが多層磁器基板に適した磁器組成物を提供す
ることを目的とする。 (発明の構成) この発明にかかる低温焼成用磁器組成物を要約
すれば、次の構成材料()〜()からなるも
のである。 () (Ba1-XMX)(Tii-yMy)O3が5〜40モ
ル%ただし、Mは、Sr、Ca、Mgのうち少な
くとも1種、Mは、Zr、Snのうち1種また
は2種。 0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3 ()SiO2が40〜80モル% ()Al2O3が2〜10モル% ()CaOが2〜10モル% ()B2O3が4〜25モル% 上記した組成範囲に限定したのは次のとおりで
ある。 すなわち、()の(Ba1-XMX)(Tii-yM
y)O3が5モル%未満では焼成温度が1000℃を越
え、一方40モル%を越えると誘電率が大きくなる
からである。 また、MX、Myのx,yについて、それぞ
れ0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3と
規定した。したがつて(Ba1-XMX)(Ti1-yM
y)O3としては、x=0,y=0の場合の
BaTiO3の他、(Ba、Ca)TiO3、(Ba、Ca)
(Ti、Zr)O3、(Ba、Sr)TiO3、(Ba、Sr)
(Ti、Sn)O3、(Ba、Sr、Ca、Mg)(Ti、Sn)
O3などの成分からなるものが含まれる。ここで
x、yおよびx+yの上限値を0.3以下としたの
は、x、yおよびx+yの量が最大するに伴い焼
成温度が上昇する傾向にあり、特にx、yおよび
x+yが0.3を越えると焼成温度が1000℃以上に
なるからである。 次にSiO2について40〜80モル%としたのは40
モル%未満または80モル%を越えると焼成温度が
高くなるからである。 また、Al2Oについて2〜10モル%としたのは、
2モル%未満または10モル%を越えると焼成温度
が高くなるからである。 さらに、CaOについて2〜10モル%としたの
は、2モル%未満または10モル%を越えると焼成
温度が高くなるからである。 さらにまた、B2O3について4〜25モル%とし
たのは、4モル%未満では焼成温度が高くなり、
25モル%を越えると磁器同志の溶着が発生しやす
くなるからである。 なお、(Ba1-xM〓X(Ti1-yM〓y)O3はABO3から
なるペロブスカイト型の組成として表わされる
が、AとBとの比率(モル比)を特性を損わない
範囲で変化させることもこの発明に含まれる。 (実施例) 以下、この発明を実施例にもとづいて詳細に説
明する。 実施例 1 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2を準備し、第1表
に示す組成比率になるように秤量した。秤量原料
を混合した後1150℃で仮焼した。次にこれらの仮
焼粉末とSiO2、Al2O3、CaCO3、B4Cの各原料を
第1表に示す組成比率の磁器が得られるように秤
量した。秤量原料を混合、粉砕し、バインダーを
加えて円板状に成形した。成形体を空気中850〜
950℃で焼成して磁器を作成した。 各磁器について、比抵抗、誘電率、誘電体損失
および抗折強度を測定した。 各諸特性についての測定条件は次のとおりであ
る。 比抵抗: D.C.1.5V 誘電率: 1MHz 誘電体損失: 1MHz 抗折強度: JISの規格による 第2表は各磁器の諸特性の測定結果を示したも
のである。
【表】
【表】
第1表、第2表中※印を付したものはこの発明
範囲外のものであり、それ以外はすべてこの発明
範囲内のものである。 実施例 2 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2、SiO2、AlO2O3、
CaO、B4Cを準備し、実施例1の第1表に示す組
成比率の磁器が得られるように秤量した。秤量原
料を混合した後、850〜950℃で仮焼した。仮焼物
を粉砕した後、有機系バインダーを加え、ドクタ
ーブレード法にてシート成形した。得られたセラ
ミツクグリーンシートを所定の大きさにカツト
し、これを空気中850〜950℃で焼成して磁器板を
得た。 得られた磁器板について、実施例1と同様に諸
特性を同一測定条件で測定したところ、実施例1
の第2表に示した特性とほぼ同じような結果を示
した。 また、上記した工程で得られたセラミツクグリ
ーンシートを用い、このシートの表面にホウケイ
酸鉛系ガラスフリツトを含む銀ペーストを印刷
し、これを3枚積み重ねて熱圧着し、空気中850
〜950℃で焼成した。 得られた多層磁器基板について、磁器と銀との
反応を分析したところ、この発明によるものは、
両者の間での反応は見られず、銀は良好な導電性
を示した。 実施例 3 実施例2で作成した各セラミツクグリーンシー
トを用い、400℃でバインダーを焼成させ、窒素
中850〜950℃で1時間焼成して磁器を得た。 この発明にかかる各磁器について比抵抗を測定
したところ、試料によつては比抵抗が1013〜1014
Ω・cmと多少低下したものがあつたが、実用上何
ら問題のないことが確認できた。 したがつて、多層磁器基板の内部導体として、
たとえばCuなどを使用する場合、同時焼成の雰
囲気として中性または還元性雰囲気に設定しなけ
ればならないが、これらの雰囲気で焼成しても実
用上十分な絶縁性を有する磁器であることが判明
した。 なお、上記した実施例ではSiO2、Al2O3、CaO
の構成原料を個々に用いたが、これら各成分がこ
の発明の組成範囲内で存在するように、カオリン
(Al2O3、2SiO2・2H2O)、ワラスナイト
(CaSiO3)などの化合物を原料として用いてもよ
い。 (発明の効果) 以上の説明から明らかなように、この発明によ
れば、1000℃以下の低温での焼成で焼結磁器が得
られ、製造工程での粉砕などの作業も行いやすい
ものである。また、特性的には比抵抗が高く、誘
電率が低く、さらに誘電体損失も小さい。また多
層磁器基板としたとき、同時焼成時における内部
導体との反応がみられない。また、磁器の空孔が
少ないため、内部導体間のマイグレーシヨンが発
生しないという利点を有する。また中性、還元性
雰囲気で焼成しても比抵抗の低下がみられず、内
部導体としてCu,Niなどの卑金属を使用するこ
とができる。
範囲外のものであり、それ以外はすべてこの発明
範囲内のものである。 実施例 2 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2、SiO2、AlO2O3、
CaO、B4Cを準備し、実施例1の第1表に示す組
成比率の磁器が得られるように秤量した。秤量原
料を混合した後、850〜950℃で仮焼した。仮焼物
を粉砕した後、有機系バインダーを加え、ドクタ
ーブレード法にてシート成形した。得られたセラ
ミツクグリーンシートを所定の大きさにカツト
し、これを空気中850〜950℃で焼成して磁器板を
得た。 得られた磁器板について、実施例1と同様に諸
特性を同一測定条件で測定したところ、実施例1
の第2表に示した特性とほぼ同じような結果を示
した。 また、上記した工程で得られたセラミツクグリ
ーンシートを用い、このシートの表面にホウケイ
酸鉛系ガラスフリツトを含む銀ペーストを印刷
し、これを3枚積み重ねて熱圧着し、空気中850
〜950℃で焼成した。 得られた多層磁器基板について、磁器と銀との
反応を分析したところ、この発明によるものは、
両者の間での反応は見られず、銀は良好な導電性
を示した。 実施例 3 実施例2で作成した各セラミツクグリーンシー
トを用い、400℃でバインダーを焼成させ、窒素
中850〜950℃で1時間焼成して磁器を得た。 この発明にかかる各磁器について比抵抗を測定
したところ、試料によつては比抵抗が1013〜1014
Ω・cmと多少低下したものがあつたが、実用上何
ら問題のないことが確認できた。 したがつて、多層磁器基板の内部導体として、
たとえばCuなどを使用する場合、同時焼成の雰
囲気として中性または還元性雰囲気に設定しなけ
ればならないが、これらの雰囲気で焼成しても実
用上十分な絶縁性を有する磁器であることが判明
した。 なお、上記した実施例ではSiO2、Al2O3、CaO
の構成原料を個々に用いたが、これら各成分がこ
の発明の組成範囲内で存在するように、カオリン
(Al2O3、2SiO2・2H2O)、ワラスナイト
(CaSiO3)などの化合物を原料として用いてもよ
い。 (発明の効果) 以上の説明から明らかなように、この発明によ
れば、1000℃以下の低温での焼成で焼結磁器が得
られ、製造工程での粉砕などの作業も行いやすい
ものである。また、特性的には比抵抗が高く、誘
電率が低く、さらに誘電体損失も小さい。また多
層磁器基板としたとき、同時焼成時における内部
導体との反応がみられない。また、磁器の空孔が
少ないため、内部導体間のマイグレーシヨンが発
生しないという利点を有する。また中性、還元性
雰囲気で焼成しても比抵抗の低下がみられず、内
部導体としてCu,Niなどの卑金属を使用するこ
とができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 次の組成()、()、()、()、()
か
らなる低温焼成用磁器組成物。 () (Ba1-XMX)(Tii-yMy)O3が5〜40モ
ル%たゞし、M〓は、Sr、Ca、Mgのうち少な
くとも1種、Mは、Zr、Snのうち1種また
は2種。 0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3 ()SiO2が40〜80モル% ()Al2O3が2〜10モル% ()CaOが2〜10モル% ()B2O3が4〜25モル%
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59112036A JPS60255663A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 低温焼成用磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59112036A JPS60255663A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 低温焼成用磁器組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60255663A JPS60255663A (ja) | 1985-12-17 |
| JPH0480866B2 true JPH0480866B2 (ja) | 1992-12-21 |
Family
ID=14576397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59112036A Granted JPS60255663A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 低温焼成用磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60255663A (ja) |
-
1984
- 1984-05-30 JP JP59112036A patent/JPS60255663A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60255663A (ja) | 1985-12-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |