JPH0480868B2 - - Google Patents
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- JPH0480868B2 JPH0480868B2 JP59112619A JP11261984A JPH0480868B2 JP H0480868 B2 JPH0480868 B2 JP H0480868B2 JP 59112619 A JP59112619 A JP 59112619A JP 11261984 A JP11261984 A JP 11261984A JP H0480868 B2 JPH0480868 B2 JP H0480868B2
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Landscapes
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Description
(産業上の利用分野)
この発明は低温で焼成でき、特性的には、比抵
抗が高く、また誘電率が低くさらには誘電体損失
の小さい低温焼成用磁器組成物に関する。 (従来の技術) 電子機器の小型化に伴い、回路を構成する各種
の部品を実装するために磁器基板が数多く利用さ
れている。 最近ではさらに実装密度を上げるために多層磁
器基板へと開発が進んでいる。この多層磁器基板
の材料としては一般的にアルミナが知られてい
る。しかしながら、アルミナは焼成温度が1500〜
1600℃と高温であるため、焼成のために多くのエ
ネルギーが必要となる。またアルミナと同時焼成
する内部誘導体材料もW,Moなどの高融点材料
を用いているが、これらの金属は比抵抗が高く、
回路抵抗そのものも高くなる欠点がある。 したがつて、アルミナより低温で焼成できる磁
器材料であれば、焼成のためのエネルギーが少な
くなるとともに、たとえば1000℃以下での焼成が
可能な場合、Ag,Ag−Pd,Cuなどの導電材料
を導体路として用いることができる他、抵抗材料
なども印刷して同時焼成するなどの利点がでてく
る。 このような低温焼成用の磁器材料としては、ア
ルミナに多量のガラス成分を添加したものがある
が、得られた磁器に空孔が多く存在し、空孔を介
して導体路間のマイグレーシヨンが発生するとい
う問題が見られる。また、BaSnO3にホウ素を多
量に添加したものがあるが、仮焼物がガラス状と
なり、この仮焼物の粉砕が困難になるばかりか、
ホウ素の蒸発が激しく、このため同時焼成したと
き導電材料と反応したり、焼成のための炉の炉材
に損傷を与えるといつた問題があつた。 (発明の目的) したがつて、この発明は1000℃以下で焼成でき
る磁器組成物を提供することを目的とする。 また、この発明はその製造工程において粉砕等
の処理が行いやすい磁器組成物を提供することを
目的とする。 さらにこの発明は電気的には比抵抗が高く、ま
た誘電率が低く、さらには誘電体損失の小さい磁
器組成物を提供することを目的とする。 さらにまたこの発明は特に限定されるものでは
ないが、多層磁器基板に適した磁器組成物を提供
することを目的とする。 (発明の構成) この発明にかかる低温焼成用磁器組成物を要約
すれば、次の構成材料()〜()からなるも
のである。 () (Ba1-XMX)(Tii-yMy)O3が20〜40モ
ル% ただし、Mは、Sr、Ca、Mgのうち少なくと
も1種 Mは、Zr、Snのうち1種または2種。 0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3 () SiO2が35〜65モル% () B2O3が4〜25モル% () Al2O3が2〜10モル% () MnOが15モル%以下(ただし0を含まず) () BaO、CaOのうち1種または2種が2〜10
モル% 上記した組成範囲に限定したのは次のとおりで
ある。 すなわち、()の(Ba1-XMX)(Tii-yM
y)O3が20モル%未満では焼成温度が1000℃を越
え、一方40モル%を越えると誘電率が大きくなる
からである。 また、M〓X、Myのx、yについて、それぞ
れ0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3と
規定した。したがつて(Ba1-XMX)(Ti1-yM
y)O3としては、x=0,y=0の場合の
BaTiO3の他、(Ba、Ca)TiO3、(Ba、Ca)
(Ti、Zr)O3、(Ba、Sr)TiO3、(Ba、Sr)
(Ti,Sn)O3、(Ba、Sr、Ca、Mg)(Ti、Sn)
O3などの成分からなるものが含まれる。ここで
x,yおよびx+yの上限値を0.3以下としたの
は、x、yおよびx+yの量が増大するに伴い焼
成温度が上昇する傾向にあり、特にx、y,x+
yが0.3を越えると焼成温度が1000℃以上になる
からである。 SiO2について35〜65モル%としたのは、35モ
ル%未満または65モル%を越えると焼成温度が高
くなるからである。 B2O3について4〜25モル%としたのは、4モ
ル%未満では焼結温度が高くなり、25モル%を越
えると磁器同志の溶着が発生しやすくなるからで
ある。 Al2O3について2〜10モル%としたのは、2モ
ル%未満または10モル%を越えると焼結温度が高
くなるからである。 MnOについて15モル%以下としたのは、15モ
ル%を越えると誘電体損失が大きくなるからであ
る。 BaOとCaOのうち1種または2種が2〜10モ
ル%としたのは、2モル%未満または10モル%を
越えると焼結温度が高くなるからである。 なお、(Ba1-xMX)(Ti1-yMy)O3はABO3
からなるペロブスカイト型の組成として表わされ
るが、AとBとの比率(モル比)を特性を損わな
い範囲で変化させることもこの発明に含まれる。 (実施例) 実施例 1 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2を準備し、第1表
に示す組成比率になるように秤量した。秤量原料
を混合した後1150℃で仮焼した。次にこれらの仮
焼粉末とSiO2、B2O3、Al2O3、MnB4O7、
BaCO3、CaCO3の各原料を第1表に示す組成比
率の磁器が得られるように秤量した。秤量原料を
混合、粉砕し、バインダーを加えて円板状に成形
した。成形体を空気中850〜950℃で焼成して磁器
を作成した。 各磁器について、比抵抗、誘電率、誘電体損失
および抗折強度を測定した。 各諸特性についての測定条件は次のとおりであ
る。 比抵抗: D.C.1.5V 誘電率: 1MHz 誘電体損失: 1MHz 抗折強度: JISの規格による 第2表は各磁器の諸特性の測定結果を示したも
のである。
抗が高く、また誘電率が低くさらには誘電体損失
の小さい低温焼成用磁器組成物に関する。 (従来の技術) 電子機器の小型化に伴い、回路を構成する各種
の部品を実装するために磁器基板が数多く利用さ
れている。 最近ではさらに実装密度を上げるために多層磁
器基板へと開発が進んでいる。この多層磁器基板
の材料としては一般的にアルミナが知られてい
る。しかしながら、アルミナは焼成温度が1500〜
1600℃と高温であるため、焼成のために多くのエ
ネルギーが必要となる。またアルミナと同時焼成
する内部誘導体材料もW,Moなどの高融点材料
を用いているが、これらの金属は比抵抗が高く、
回路抵抗そのものも高くなる欠点がある。 したがつて、アルミナより低温で焼成できる磁
器材料であれば、焼成のためのエネルギーが少な
くなるとともに、たとえば1000℃以下での焼成が
可能な場合、Ag,Ag−Pd,Cuなどの導電材料
を導体路として用いることができる他、抵抗材料
なども印刷して同時焼成するなどの利点がでてく
る。 このような低温焼成用の磁器材料としては、ア
ルミナに多量のガラス成分を添加したものがある
が、得られた磁器に空孔が多く存在し、空孔を介
して導体路間のマイグレーシヨンが発生するとい
う問題が見られる。また、BaSnO3にホウ素を多
量に添加したものがあるが、仮焼物がガラス状と
なり、この仮焼物の粉砕が困難になるばかりか、
ホウ素の蒸発が激しく、このため同時焼成したと
き導電材料と反応したり、焼成のための炉の炉材
に損傷を与えるといつた問題があつた。 (発明の目的) したがつて、この発明は1000℃以下で焼成でき
る磁器組成物を提供することを目的とする。 また、この発明はその製造工程において粉砕等
の処理が行いやすい磁器組成物を提供することを
目的とする。 さらにこの発明は電気的には比抵抗が高く、ま
た誘電率が低く、さらには誘電体損失の小さい磁
器組成物を提供することを目的とする。 さらにまたこの発明は特に限定されるものでは
ないが、多層磁器基板に適した磁器組成物を提供
することを目的とする。 (発明の構成) この発明にかかる低温焼成用磁器組成物を要約
すれば、次の構成材料()〜()からなるも
のである。 () (Ba1-XMX)(Tii-yMy)O3が20〜40モ
ル% ただし、Mは、Sr、Ca、Mgのうち少なくと
も1種 Mは、Zr、Snのうち1種または2種。 0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3 () SiO2が35〜65モル% () B2O3が4〜25モル% () Al2O3が2〜10モル% () MnOが15モル%以下(ただし0を含まず) () BaO、CaOのうち1種または2種が2〜10
モル% 上記した組成範囲に限定したのは次のとおりで
ある。 すなわち、()の(Ba1-XMX)(Tii-yM
y)O3が20モル%未満では焼成温度が1000℃を越
え、一方40モル%を越えると誘電率が大きくなる
からである。 また、M〓X、Myのx、yについて、それぞ
れ0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3と
規定した。したがつて(Ba1-XMX)(Ti1-yM
y)O3としては、x=0,y=0の場合の
BaTiO3の他、(Ba、Ca)TiO3、(Ba、Ca)
(Ti、Zr)O3、(Ba、Sr)TiO3、(Ba、Sr)
(Ti,Sn)O3、(Ba、Sr、Ca、Mg)(Ti、Sn)
O3などの成分からなるものが含まれる。ここで
x,yおよびx+yの上限値を0.3以下としたの
は、x、yおよびx+yの量が増大するに伴い焼
成温度が上昇する傾向にあり、特にx、y,x+
yが0.3を越えると焼成温度が1000℃以上になる
からである。 SiO2について35〜65モル%としたのは、35モ
ル%未満または65モル%を越えると焼成温度が高
くなるからである。 B2O3について4〜25モル%としたのは、4モ
ル%未満では焼結温度が高くなり、25モル%を越
えると磁器同志の溶着が発生しやすくなるからで
ある。 Al2O3について2〜10モル%としたのは、2モ
ル%未満または10モル%を越えると焼結温度が高
くなるからである。 MnOについて15モル%以下としたのは、15モ
ル%を越えると誘電体損失が大きくなるからであ
る。 BaOとCaOのうち1種または2種が2〜10モ
ル%としたのは、2モル%未満または10モル%を
越えると焼結温度が高くなるからである。 なお、(Ba1-xMX)(Ti1-yMy)O3はABO3
からなるペロブスカイト型の組成として表わされ
るが、AとBとの比率(モル比)を特性を損わな
い範囲で変化させることもこの発明に含まれる。 (実施例) 実施例 1 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2を準備し、第1表
に示す組成比率になるように秤量した。秤量原料
を混合した後1150℃で仮焼した。次にこれらの仮
焼粉末とSiO2、B2O3、Al2O3、MnB4O7、
BaCO3、CaCO3の各原料を第1表に示す組成比
率の磁器が得られるように秤量した。秤量原料を
混合、粉砕し、バインダーを加えて円板状に成形
した。成形体を空気中850〜950℃で焼成して磁器
を作成した。 各磁器について、比抵抗、誘電率、誘電体損失
および抗折強度を測定した。 各諸特性についての測定条件は次のとおりであ
る。 比抵抗: D.C.1.5V 誘電率: 1MHz 誘電体損失: 1MHz 抗折強度: JISの規格による 第2表は各磁器の諸特性の測定結果を示したも
のである。
【表】
【表】
第1表、第2表中※印を付したものはこの発明
範囲外のものであり、それ以外はすべてこの発明
範囲内のものである。 実施例 2 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2、SiO2、B4C、
Al2O3、MnCO3、BaCO3、CaCO3を準備し、実
施例1の第1表に示す組成比率の磁器が得られる
ように秤量した。秤量原料を混合した後、850〜
950℃で仮焼した。仮焼物を粉砕した後、有機系
バインダーを加え、ドクターブレード法にてシー
ト成形した。得られたセラミツクグリーンシート
を所定の大きさにカツトし、これを空気中850〜
950℃で焼成して磁器板を得た。 得られた磁器板について、実施例1と同様に諸
特性を同一測定条件で測定したところ、実施例1
の第2表に示した特性とほぼ同じような結果を示
した。 また、上記した工程で得られたセラミツクグリ
ーンシートを用い、このシートの表面にホウケイ
酸鉛系ガラスフリツトを含む銀ペーストを印刷
し、これを3枚積み重ねて熱圧着し、空気中850
〜950℃で焼成した。 得られた多層磁器基板について、磁器と銀との
反応を分析したところ、この発明によるものは、
両者の間での反応は見られず、銀は良好な導電性
を示した。 実施例 3 実施例2で作成した各セラミツクグリーンシー
トを用い、400℃でバインダーを焼成させ、窒素
中850〜950℃で1時間焼成して磁器を得た。 この発明にかかる各磁器について比抵抗を測定
したところ、試料によつては比抵抗が1013〜1014
Ω・cmと多少低下したものがあつたが、実用上何
ら問題のないことが確認できた。 したがつて、多層磁器基板の内部導体として、
たとえばCuなどを使用する場合、同時焼成の雰
囲気として中性または還元性雰囲気に設定しなけ
ればならないが、これらの雰囲気で焼成しても実
用上十分な絶縁性を有する磁器であることが判明
した。 なお、上記した実施例ではSiO2、Al2O3、CaO
の各成分原料を用いたが、これら各成分がこの発
明の組成範囲内で存在するように、カオリン
(Al2O3・2SiO2・2H2O)、ワラスナイト
(CSiO3)などの化合物を原料として用いてもよ
い。 (発明の効果) 以上の説明から明らかなように、この発明によ
れば、1000℃以下の低温での焼成で焼結磁器が得
られ、製造工程での粉砕などの作業も行いやすい
ものである。また、特性的には比抵抗が高く、誘
電率が低く、さらに誘電体損失も小さい。また多
層磁器基板としたとき、同時焼成時における内部
導体との反応がみられない。また磁器の空孔が少
ないため、内部導体間のマイグレーシヨンが発生
しないという利点を有する。また中性、還元性雰
囲気で焼成しても比抵抗の低下がみられず、内部
導体としてCu、Niなどの卑金属を使用すること
ができる。
範囲外のものであり、それ以外はすべてこの発明
範囲内のものである。 実施例 2 原料として、BaCO3、CaCO3、SrCO3、
MgCO3、TiO2、ZrO2、SnO2、SiO2、B4C、
Al2O3、MnCO3、BaCO3、CaCO3を準備し、実
施例1の第1表に示す組成比率の磁器が得られる
ように秤量した。秤量原料を混合した後、850〜
950℃で仮焼した。仮焼物を粉砕した後、有機系
バインダーを加え、ドクターブレード法にてシー
ト成形した。得られたセラミツクグリーンシート
を所定の大きさにカツトし、これを空気中850〜
950℃で焼成して磁器板を得た。 得られた磁器板について、実施例1と同様に諸
特性を同一測定条件で測定したところ、実施例1
の第2表に示した特性とほぼ同じような結果を示
した。 また、上記した工程で得られたセラミツクグリ
ーンシートを用い、このシートの表面にホウケイ
酸鉛系ガラスフリツトを含む銀ペーストを印刷
し、これを3枚積み重ねて熱圧着し、空気中850
〜950℃で焼成した。 得られた多層磁器基板について、磁器と銀との
反応を分析したところ、この発明によるものは、
両者の間での反応は見られず、銀は良好な導電性
を示した。 実施例 3 実施例2で作成した各セラミツクグリーンシー
トを用い、400℃でバインダーを焼成させ、窒素
中850〜950℃で1時間焼成して磁器を得た。 この発明にかかる各磁器について比抵抗を測定
したところ、試料によつては比抵抗が1013〜1014
Ω・cmと多少低下したものがあつたが、実用上何
ら問題のないことが確認できた。 したがつて、多層磁器基板の内部導体として、
たとえばCuなどを使用する場合、同時焼成の雰
囲気として中性または還元性雰囲気に設定しなけ
ればならないが、これらの雰囲気で焼成しても実
用上十分な絶縁性を有する磁器であることが判明
した。 なお、上記した実施例ではSiO2、Al2O3、CaO
の各成分原料を用いたが、これら各成分がこの発
明の組成範囲内で存在するように、カオリン
(Al2O3・2SiO2・2H2O)、ワラスナイト
(CSiO3)などの化合物を原料として用いてもよ
い。 (発明の効果) 以上の説明から明らかなように、この発明によ
れば、1000℃以下の低温での焼成で焼結磁器が得
られ、製造工程での粉砕などの作業も行いやすい
ものである。また、特性的には比抵抗が高く、誘
電率が低く、さらに誘電体損失も小さい。また多
層磁器基板としたとき、同時焼成時における内部
導体との反応がみられない。また磁器の空孔が少
ないため、内部導体間のマイグレーシヨンが発生
しないという利点を有する。また中性、還元性雰
囲気で焼成しても比抵抗の低下がみられず、内部
導体としてCu、Niなどの卑金属を使用すること
ができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 次の組成()、()、()、()、()
、
()からなる低温焼成用磁器組成物。 () (Ba1-XMX)(Tii-yMy)O3が20〜40モ
ル% ただし、Mは、Sr、Ca、Mgのうち少なくと
も1種 Mは、Zr、Snのうち1種または2種 0≦x≦0.3、0≦y≦0.3、0≦x+y≦0.3 () SiO2が35〜65モル% () B2O3が4〜25モル% () Al2O3が2〜10モル% () MnOが15モル%以下(ただし、0を含ま
ず) () BaO、CaOのうち1種または2種が2〜10
モル%。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59112619A JPS60255665A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 低温焼成用磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59112619A JPS60255665A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 低温焼成用磁器組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60255665A JPS60255665A (ja) | 1985-12-17 |
| JPH0480868B2 true JPH0480868B2 (ja) | 1992-12-21 |
Family
ID=14591262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59112619A Granted JPS60255665A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 低温焼成用磁器組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60255665A (ja) |
-
1984
- 1984-05-31 JP JP59112619A patent/JPS60255665A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60255665A (ja) | 1985-12-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |