JPH0481266A - Light beam soldering device - Google Patents
Light beam soldering deviceInfo
- Publication number
- JPH0481266A JPH0481266A JP19584790A JP19584790A JPH0481266A JP H0481266 A JPH0481266 A JP H0481266A JP 19584790 A JP19584790 A JP 19584790A JP 19584790 A JP19584790 A JP 19584790A JP H0481266 A JPH0481266 A JP H0481266A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical system
- lamp house
- light beam
- rays
- soldered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005476 soldering Methods 0.000 title claims description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000013021 overheating Methods 0.000 abstract 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、光ビームの熱を利用してはんだ付けを行う光
ビームはんだ付け装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a light beam soldering device that performs soldering using the heat of a light beam.
(従来の技術)
第2図に示されるように、従来の光ビームはんだ付け装
置は、一つの光源(ハロゲンランプまたはキセノンラン
プ)11と、この光源11の周囲に配置されたランプハ
ウス(楕円反射鏡)12と、このランプハウス12の開
口側に配置された第1平面ミラー13、第2平面ミラー
14および集光レンズ(シリンドリカルレンズ)15か
らなる複数の光学系16と、この光学系16と基板17
との間に配置されたマスク(自動マスク)18とによっ
て構成されている。前記基板17上には被はんだ付けワ
ークとしての電子部品19が搭載されている。(Prior Art) As shown in FIG. 2, a conventional light beam soldering device includes one light source (halogen lamp or xenon lamp) 11 and a lamp house (elliptical reflective a plurality of optical systems 16 including a first plane mirror 13, a second plane mirror 14, and a condensing lens (cylindrical lens) 15 disposed on the opening side of the lamp house 12; Board 17
and a mask (automatic mask) 18 placed between the two. An electronic component 19 as a workpiece to be soldered is mounted on the substrate 17.
そうして、一つの光源11から周囲に発光された光ビー
ムが、ランプハウス12の内面での反射により下方に方
向付けされ、複数の光学系16により複数の光ビームに
分岐、集光され、マスク18で照射範囲を限定されて、
電子部品19の複数の被はんだ付け部(リード等)に照
射され、複数の光ビームの熱により単一部品の複数箇所
における局所はんだ付けが一括して行われる。Then, a light beam emitted from one light source 11 to the surroundings is directed downward by reflection on the inner surface of the lamp house 12, and is split and focused into a plurality of light beams by a plurality of optical systems 16, The irradiation range is limited by the mask 18,
A plurality of parts to be soldered (leads, etc.) of the electronic component 19 are irradiated, and the heat of the plurality of light beams collectively performs local soldering at a plurality of locations on a single component.
(発明が解決しようとする課題)
このような光ビームはんだ付け装置は、光ビ−ムを電子
部品19の被はんだ付け部(リード等)のみに照射する
ことは不可能であり、樹脂製基板17や電子部品19の
モールド樹脂等にも光ビームの一部が照射され、その光
ビームの加熱によって、これらの樹脂が変形したり変色
したりする問題がある。すなわち、被はんだ付け部の周
囲部への熱影響が無視できない。(Problems to be Solved by the Invention) In such a light beam soldering device, it is impossible to irradiate the light beam only to the parts to be soldered (leads, etc.) of the electronic component 19; A portion of the light beam is also irradiated onto the mold resins of the electronic parts 17 and the electronic components 19, and there is a problem that these resins may be deformed or discolored due to the heating of the light beams. That is, the thermal influence on the surrounding area of the soldered part cannot be ignored.
本発明は、このような点に鑑みなされたものであり、被
はんだ(Jけ部の周囲部への熱影響を抑制できる光ビー
ムはんだ付け装置を提供することを目「白とするもので
ある。The present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to provide a light beam soldering device that can suppress the thermal influence on the surrounding area of the solder (J-shaped part). .
(課題を解決するための手段)
本発明は、光源21と、この光源21の周囲に配置され
たランプハウス22と、このランプハウス22の開口側
に配置された光学系23と、この光学系23と被はんだ
ト1けワーク32との間に配置されたマスク28とを備
えた光ビームはんだ付け装置において、前記ランプハウ
ス22および光学系23の構成部品の少なくとも一つに
赤外線除去装置22.24.25.26が設けられたも
のである。(Means for Solving the Problems) The present invention includes a light source 21, a lamp house 22 disposed around the light source 21, an optical system 23 disposed on the opening side of the lamp house 22, and an optical system 23 disposed on the opening side of the lamp house 22. 23 and a mask 28 disposed between the workpiece 32 to be soldered, the infrared ray removal device 22. 24, 25, and 26 were established.
(作用)
本発明は、赤外線除去装置22.24. ’!5.26
により光ビームから赤外線が除去され、赤外線による過
剰加熱が防止される。(Function) The present invention provides infrared ray removal devices 22, 24. '! 5.26
This removes infrared radiation from the light beam and prevents excessive heating due to infrared radiation.
(実施例)
以下、本発明を第1図に示される実施例を参照して詳細
に説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to an example shown in FIG.
第1図に示されるように、光源21と、この光源21の
周囲に配置されたランプハウス22と、このランプハウ
ス22の開【−1側に配置された複数の光学系23とに
よって、光源ユニットが構成されている。As shown in FIG. 1, a light source 21, a lamp house 22 disposed around the light source 21, and a plurality of optical systems 23 disposed on the -1 side of the lamp house 22 provide a light source. unit is configured.
前記光源21としては、ハロゲンランプ、キセノンラン
プまたはメタルハライドランプ等を使用する。As the light source 21, a halogen lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, or the like is used.
前記ランプハウス22としては、赤外線除去装置として
のダイクロイックミラー(コールドミラー)によ−て反
射面を形成された楕円反射鏡を使用する。このダイクロ
イックミラーは、赤外線吸収効果を有する。As the lamp house 22, an elliptical reflecting mirror whose reflecting surface is formed by a dichroic mirror (cold mirror) serving as an infrared removing device is used. This dichroic mirror has an infrared absorption effect.
前記光学系23は、赤外線除去装置としてのコールドフ
ィルタ24と、第1ミラー25と、第2ミラー26と、
集光レンズ27とによって構成されている。The optical system 23 includes a cold filter 24 as an infrared removal device, a first mirror 25, a second mirror 26,
It is composed of a condensing lens 27.
この光学系23は、例えばフォード・フラット・パッケ
ージ集積回路の4辺リード群に対応して、4組設けられ
ている。For example, four sets of optical systems 23 are provided, corresponding to four-side lead groups of a Ford flat package integrated circuit.
前記コールドフィルタ24は、可視光線および紫外線を
よく透過し、赤外線(熱線)を反射するフィルタである
。The cold filter 24 is a filter that easily transmits visible light and ultraviolet rays and reflects infrared rays (heat rays).
前記第1ミラー25および第2ミラー26は、赤外線除
去装置としてのダイクロイックミラー(コールドミラー
)によって反射面を形成された平面反射鏡を使用する。The first mirror 25 and the second mirror 26 are plane reflecting mirrors each having a reflecting surface formed by a dichroic mirror (cold mirror) serving as an infrared removing device.
前記集光レンズ27は、シリンドリカルレンズを使用す
る。The condensing lens 27 uses a cylindrical lens.
さらに、前記光学系23にて集光された光ビームの照射
範囲は、光学系23の下側に配置されたマスク(自動マ
スク)28の透孔によって限定される。Further, the irradiation range of the light beam condensed by the optical system 23 is limited by a through hole in a mask (automatic mask) 28 disposed below the optical system 23.
このマスク28の透孔にはシャッターが設けられており
、必要な時点で必要な時間だけ開口制御され、光ビーム
が透過される。A shutter is provided in the through hole of this mask 28, and the aperture is controlled at a necessary time and for a necessary time, and the light beam is transmitted.
そうして、光源21から周囲に発光された光ビームは、
ランプハウス22の内面での反射により下方に方向付け
されるが、その光ビームの中の赤外線の一部はダイクロ
イックミラーによって反射されることなく吸収除去され
る。さらに、このランプハウス22で反射された光ビー
ムの中の赤外線は、前記コールドフィルタ24において
反射され、光ビームからさらに赤外線が除去される。こ
のコールドフィルタ24を透過した光ビームが第1ミラ
ー25および第2ミラー26で反射される際にも、その
ダイクロイックミラーによって赤外線が吸収除去される
。このようにして赤外線の減少された光ビームが集光レ
ンズ27により集光され、マスク28のシャッターに照
射されている。Then, the light beam emitted from the light source 21 to the surroundings is
Although the light beam is directed downward by reflection on the inner surface of the lamp house 22, a portion of the infrared light in the light beam is absorbed and removed without being reflected by the dichroic mirror. Further, the infrared rays in the light beam reflected by the lamp house 22 are reflected by the cold filter 24, and further infrared rays are removed from the light beam. When the light beam transmitted through this cold filter 24 is reflected by the first mirror 25 and the second mirror 26, infrared rays are absorbed and removed by the dichroic mirror. In this way, the light beam with reduced infrared rays is focused by the condenser lens 27 and irradiated onto the shutter of the mask 28.
したがって、このマスク28の下側の光ビーム照射位置
に、基板31およびこの基板31に搭載された被はんだ
付けワークとしての電子部品32が図示されないコンベ
ヤにより搬入されると、前記マスク28のシャッターが
開いて、このマスク28の透孔を透過した複数の光ビー
ム33の可視光線および紫外線が、電子部品32の対応
する複数の被はんだ付け部(4辺リード群)に同時に照
射され、この可視光線および紫外線による金属加熱によ
って、単一部品の複数箇所における局所リフローはんだ
イ・1けが一括して行われる。光ビーム中の赤外線は前
記ランプハウス22、コールドフィルタ24およびミラ
ー25.26で除去されるので、基板温度の上昇は最小
限に抑えられる。Therefore, when the board 31 and the electronic component 32 as a workpiece to be soldered mounted on the board 31 are carried to the light beam irradiation position below the mask 28 by a conveyor (not shown), the shutter of the mask 28 is opened. The visible light and ultraviolet rays of the plurality of light beams 33 transmitted through the holes of the mask 28 are simultaneously irradiated onto the corresponding plurality of soldered parts (four-side lead group) of the electronic component 32. Then, by heating the metal with ultraviolet rays, local reflow soldering is performed at multiple locations on a single component all at once. Since infrared rays in the light beam are removed by the lamp house 22, cold filter 24 and mirrors 25, 26, the increase in substrate temperature is minimized.
本発明によれば、光ビームはんだ伺は装置のランプハウ
スおよび光学系構成部品の少なくとも一つに赤外線除去
装置が設けられたから、被はんだ付けワークに照射され
る光ビームから赤外線を除去でき、赤外線による被はん
だ付け部の周囲部への熱影響を抑制できる。According to the present invention, the light beam soldering device is equipped with an infrared ray removal device in at least one of the lamp house and optical system components of the device, so infrared rays can be removed from the light beam irradiated to the workpiece to be soldered, and the infrared rays can be removed. It is possible to suppress the thermal influence on the surrounding area of the part to be soldered.
第1図は本発明の光ビームはんだ付け装置の一実施例を
示す概略図、第2図は従来の光ビームはんだ付け装置を
示す概略図である。
21・・光源、22・・ランプハウス、23・・光学系
、24・・赤外線除去装置、28・・マスク、32・・
被はんだ付けワーク。FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of the light beam soldering apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a schematic view showing a conventional light beam soldering apparatus. 21...Light source, 22...Lamp house, 23...Optical system, 24...Infrared removal device, 28...Mask, 32...
Work to be soldered.
Claims (1)
スと、このランプハウスの開口側に配置された光学系と
、この光学系と被はんだ付けワークとの間に配置された
マスクとを備えた光ビームはんだ付け装置において、 前記ランプハウスおよび光学系構成部品の少なくとも一
つに赤外線除去装置が設けられたことを特徴とする光ビ
ームはんだ付け装置。(1) A light source, a lamp house placed around this light source, an optical system placed on the opening side of this lamp house, and a mask placed between this optical system and the workpiece to be soldered. What is claimed is: 1. A light beam soldering device comprising: an infrared ray removal device provided in at least one of the lamp house and the optical system components.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19584790A JPH0481266A (en) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Light beam soldering device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19584790A JPH0481266A (en) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Light beam soldering device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0481266A true JPH0481266A (en) | 1992-03-13 |
Family
ID=16348002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19584790A Pending JPH0481266A (en) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Light beam soldering device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0481266A (en) |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP19584790A patent/JPH0481266A/en active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR970064862A (en) | UV irradiation device | |
| JPH0818125B2 (en) | Laser soldering equipment | |
| JPH0481265A (en) | Light beam soldering device | |
| JPH0481263A (en) | Light beam soldering device | |
| JPH0481264A (en) | Light beam soldering device | |
| JP4352106B2 (en) | Focus adjustment method, projection exposure method, focus adjustment apparatus, and projection exposure apparatus | |
| JPH0785515B2 (en) | Soldering device | |
| JPH0481268A (en) | Light beam soldering device | |
| JPH0481262A (en) | Light beam soldering device | |
| JPH048404Y2 (en) | ||
| JPH0484668A (en) | Light beam soldering device | |
| JP3287143B2 (en) | Light beam heating device | |
| JPS5835526A (en) | Target illumination method for projecting device | |
| JPH0481267A (en) | Light beam soldering device | |
| JPH0546004Y2 (en) | ||
| JPH0353503A (en) | Illumination light moving type laser trimming device | |
| JPH02247076A (en) | Laser beam soldering device | |
| JPH0349213A (en) | Exposure device | |
| JPH0347731Y2 (en) | ||
| JPH04317393A (en) | Optical beam type soldering apparatus | |
| JPS623270U (en) | ||
| JPH0413473A (en) | Light beam type soldering device | |
| SU1693378A1 (en) | Printed-circuit control device | |
| JPH01293971A (en) | Optical beam type soldering device for electronic part | |
| JP2846947B2 (en) | Light beam heating device |