JPH0482297A - 分布定数回路用配線基板 - Google Patents
分布定数回路用配線基板Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
集積回路(M I C)やフィルタ等を含む配線基板に
関するものである。
れらに使用される電子部品にも高性能なものが要求され
るようになってきている。そして、そのような部品に使
用される高周波回路用、換言すれば分布定数回路用の配
線基板には、以下のような特性が要求されているのであ
る。即ち、先ず、(1)使用する導体の導通抵抗が小さ
いこと。導体の抵抗が大きいと、共振回路やインダクタ
ンスのQ値が小さくなり、導体線路の伝送損失が大きく
なるからである。また、(2)導体配線が多層構造に出
来ること。これによって小型化が可能となるのである。
デンサの温度係数が小さいこと。温度によって特性の変
化を極力回避するためである。
ミック基板や樹脂基板が知られているか、樹脂基板は、
内蔵導体の多層化が難しいことに加えて、誘電率の温度
係数か大きく、また誘電率か小さく、信卸性の低いもの
であった。
ナ基板にあっては、誘電率の温度係数が大きく、共振回
路を形成すると、その共振周波数の温度係数が約−60
ppm/℃と、マイナス側に大きくなる問題があり、ま
たその焼成温度か高いために、導通抵抗の大きなWやM
O等の高融点導体を内蔵導体として選択しなければなら
ない問題を内在している。また、高周波特性に優れた材
料であろフォルステライトやステアタイトを使用した基
板も知られているが、これとても、L記アルミナ基板と
同様に、誘電率の温度係数か大きく、そのために共振回
路を形成すると、その共振周波数の温度係数がアルミナ
基板と同様にマイナス側に大きくなり、更に焼成温度が
高いために、導通抵抗の大きなWやMO等を内蔵導体と
して使用する必要があった。
u等を導体として用い、その融点以下まで焼成温度を下
げて、かかる導体を基板と共に同時一体焼成して、基板
中に内蔵せしめたものも知られているか、このような低
温焼成基板にあっても、やはり共振周波数の温度係数が
マイナス側に大きいものであった。
、マイクロ波誘電体特性の優れたBa0T i OZ系
、MgO−Ca0−TiO2系、Sn O2Z r Q
□−TiO□系等の比較的誘電率の高いセラミック材料
を使用した基板も知られている。しかしながら、これら
の基板も、その焼成温度が高いために、導通抵抗の小さ
なAgやCu等の低融点導体を内蔵導体として使用出来
るものではなかったのである。
れたものであって、その課題とするところは、誘電率の
温度係数や共振回路の共振周波数の温度係数が小さい、
導通抵抗の小さな導体を内蔵した分布定数回路用配線基
板を提供することにあり、特に、特性の優れた共振回路
、コンデンサ、インダクタンス等を内蔵せしめた分布定
数回路用の多層配線基板を提供することにある。
ミック基板の内部に、共振回路、インダクタンス、コン
デンサ、伝送線路等の導体パターンの少なくとも一つを
内蔵せしめてなる分布定数回路用配線基板において、該
導体パターンが、10m07口以下の抵抗値を有するA
g系、Au系またはCu系導体にて構成し、且つ前記セ
ラミ。
ミック基板を、−30ppm/”c〜+1゜Op p
m/’Cの範囲内の共振回路の共振周波数の温度係数を
与えるセラミック材料にて構成するようにしたのである
。
するセラミック材料として、T i O□粉粒子少なく
とも5重量%以ヒ、分散、含有せしめたものが好適に用
いられ、そのようなTiO2粒子の分散、含有によって
、セラミック基板の温度係数が有利に調整され得るので
ある。
において、そのセラミック基板は、共振回路の共振周波
数の温度係数として、−30ppm / ’c〜+1)
00pp/℃の範囲内の値を与えるセラミック材料にて
構成する必要があり、これに反して、そのような温度係
数が−30p p m 7℃よりも低くなるようなセラ
ミック材料を用いた場合にあっては、実際に形成される
共振回路の共振周波数の温度係数が大きくなり過ぎて不
適当となるのであり、また+1)00PI)/”Cより
も高くなるようなセラミック材料を用いた場合にあって
は、コンデンサの温度係数が大きくなり過ぎる等の問題
を惹起する。
料を、共振回路の共振周波数の温度係数において規定し
た理由は、かかる基板内に共振回路、インダクタンス、
コンデンサ等の素子を内蔵せしめても、その温度係数が
適当でなければ、実用旧意味のないことになるからであ
り、またそれら素子の特性の温度係数は、共振回路の共
振周波数の温度係数で代表させることが出来、そしてそ
の値が一30〜+1)00pp/l:であれば、実用的
な回路が実現出来るからである。また、ここでの共振回
路とは、ストリップライン型のトリプレート構造の1/
4波長、1/2波長のものや、リング型のもの等を意図
するものである。
ては、Ag系、Au系、またはCu系の導通抵抗の小さ
な金属を導体として使用することが出来るように、それ
らの金属の融点以下である1)00℃以下の焼成温度で
焼成することの出来るものであって、ガラス系のものと
非ガラス系のものとがある。そして、それらのうち、ガ
ラス系のセラミック材料は、誘電率が20以下の非晶質
若しくは結晶質ガラス粉末とT i O2粉末との混合
粉末を原料とするものであり、またそのような混合粉末
に、強度や熱膨張係数の調整用のフィラーとして、アル
ミナ、ムライト、コージェライトフォルステライト ク
ォーツ、石英ガラス、ジルコン、ジルコニア、RE2T
i20.(RE:希土類金属)等の誘電率が50以下の
粉末を加えたものも用いられる。この誘電率が20以下
の非晶質若しくは結晶質ガラスは、その共振周波数の温
度係数が一30ppm/”C以下の場合が多いところか
ら、温度係数が約450ppm/℃のTiO2により調
節し易いのである。また、誘電率が50以下のフィラー
であれば、その共振周波数の温度係数は、1)00pp
/’C以下の場合が多いので、影響が少ないのである。
ルカリ土類金属の酸化物、及びケイ酸に、必要に応じて
アルミナ等の金属酸化物やアルカリ金属の酸化物を、構
成成分として用い、これらの成分の原材料とTiO2原
料粉末とを混合した後、仮焼し、粉砕したものを原料と
するものや、上記構成成分のうちT s Oz以外のも
のを仮焼、粉砕した後、TiO□原料粉末と混合せしめ
たものを原料とするもの等がある。
に含まれるTiO□は、それが粒子状態において存在す
ることにより、誘電率の温度係数を調整し、その結果、
共振回路の共振周波数の温度係数を調整する。TiO□
は、単味では温度係数が約450ppm/”cのセラミ
ックとなるが、本発明では、この大きな温度係数を利用
して、その量により基板材料の温度係数を調節するもの
である。このTi1tの量が5重量%よりも少ないと、
温度係数の調整効果が小さ(なる。このように、温度係
数の調節用にTiO2が有利に使用される理由は、かか
るTiO2は、温度係数が大きいので調整効果が大きく
、また化合物でな(、単成分であることから、焼成中に
分解することがないからである。
含まれるT s O2は、焼成前の混合原料粉末にTi
O2粉末として混合されたり、結晶化ガラスよりTi0
2粒子として析出せしめられたりすること等によって、
好適に導入される。また、そのように導入されるT r
02の一部が、焼成中に他の成分と反応して、SrT
iO3,CaTiO3、MgTiO3等の化合物を形成
するのは、成る程度、許容されるが、TiO□粉末の反
応性を悪くして、そのような化合物の生成を抑制したり
、また焼結性をよ(するために、TiO2粉末を仮焼し
、その粒径を大きくして(例えば、そのような仮焼によ
って、BET比表面積が2m2/g程度以下となるよう
な粒子として)使用することも、望ましいことである。
らなるセラミック基板の内部に内蔵せしめられる共振回
路、インダクタンス、コンデンサ、伝送線路等の導体パ
ターンは、セラミック基板の焼成と同時に焼成せしめら
れて、該セラミック基板と一体的に形成されることとな
るが、そのように、内蔵一体焼成される導体パターンの
導体の導通抵抗は、その抵抗値が大きいと、共振回路、
インダクタンスの特性が悪くなり、また伝送線路の伝送
損失も大きくなり、高周波回路として適さなくなるもの
であるところから、10mΩ/□以下とする必要がある
。なお、このようなソート抵抗値に代えて、高周波回路
では重要とされている比抵抗で規定するならば、本発明
にあっては、比抵抗が10μΩ・Q以下の導体が用いら
れることとなる。また、そのような導体としては、Ag
、Ag−Pt、Ag−Pd、Ag Pt Pd等の
Ag系や、市販の各種のCu系の導体、更にはAuAu
−Pt、Au−Pd、Au−Pt−Pd等のAu系の導
体を挙げることが出来る。尤も、セラミック基板の表面
に設けられる導体については、と述の如き低抵抗の導体
を用いて同時焼成して形成しても良いが、またセラミッ
ク基板や内蔵導体の同時焼成の後に、別途形成すること
も出来る。
導体を用い、これを焼成によって後から形成しても良い
し、またメツキによる方法やスバ、タ蒸着等による薄膜
法等によって形成することも出来る。
するに際しては、前述の如きセラミ・ツク材料と導体材
料を用いて、従来と同様にして行なわれることとなるが
、−Cに、そのようなセラミック材料のグリーンシート
を用い、それに上記の如き低融点導体のペーストを用い
て所定パターンの導体を印刷等の手法によって形成する
一方、そのようなグリーンシートを積層して一体化せし
め、そしてそれらグリーンシートや導体(ペースト)を
同時焼成することによって、目的とする配線基板を得る
ことが出来るのである。なお、かかる同時焼成に際して
は、導体として、Ag系、Au系若しくはCu系の低融
点導体が用いられるところから、1)00℃以下の焼成
温度が採用されることとなる。
断面構造の一例が示されている。そこにおいて、2は、
共振回路の共振周波数の温度係数として、−30μΩm
/’c 〜+1)00pp/’cの範囲内の値を与える
セラミック材料からなるセラミ、り基板(誘電体磁器)
であり、このセラミ、7り基板2の内外に、各種の導体
、例えばその内部に位置する内蔵導体4、その表面に位
置する表面導体6、更にはアース導体8が積層形態にお
いて設けられている。また、かかるセラミ・7り基板2
の内外には、抵抗10も設けられているのである。
数や共振回路の共振周波数の温度係数が小さなセラミッ
ク基板が用いられ、また導通抵抗の小さな導体が同時焼
成によって内蔵一体化せしめられるものであるところか
ら、特性の優れた共振回路、コンデンサ、インダクタン
ス等を内蔵した分布定数回路用の多層配線基板が有利に
実現され得るのである。
に明らかにすることとするが、本発明が、そのような実
施例の記載によって、何等の制約をも受けるものでない
ことは、言うまでもないところである。
の具体的記述以外にも、本発明の趣旨を逸脱しない限り
において、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正
、改良等を加え得るものであることが、理解されるべき
である。
ガラスであるEガラスを粉砕した粉末と、市販のアルミ
ナ粉末と、市販のTiO□粉末及びその他のフィラー粉
末とを、下記第1表に示される割合において、よく混合
せしめた後、この混合粉末と、アクリル系有機バインダ
、可塑剤、トルエン及びアルコール系溶剤を、アルミナ
ポット及びアルミナボールを用いて充分に混合して、ス
ラリーを調製し、更にこのスラリーからドクターブレー
ド法により0.1鰭〜1.01n厚みのグリーンテープ
を作製した。
ネオール系有機溶剤を、三本ローラを用いた混練機によ
りよく混練せしめ、印刷用の導体ペーストを調製した。
を準備した。
プ上に導体配線パターンやアース層及び抵抗を印刷した
。また、コンデンサのパターンや分布定数回路での原理
に従い、ストリップライン型やリング型の共振回路やイ
ンダクタンスになるように導体パターンを印刷した。そ
して、これらの導体パターンが印刷されたグリーンテー
プを所定の順番で重ねた後、100℃の温度で、100
kg / cm 2の圧力を加えて、積層一体化せしめ
た。
等により形成したスルーホールに導体ペーストを充填し
て実現した。
ンダした後、900℃X30分間の条件で焼成し、第1
図に示される如き構造の配線基板を得た。
ターンは、市販の厚膜回路用のAg/Pt系やAg/P
d系やAu系ペーストを用い、また抵抗ペーストも市販
のものを使用し、下記焼成基板に表面導体パターンを印
刷した後、850℃で焼成することにより、形成した。
して、同様に、表面用パターンを得た。
について、その特性、即ち誘電率及び共振回路の共振周
波数の温度係数(τ、)を測定し、その結果を、下記第
1表に併わせ示した。なお、共振周波数の温度係数(τ
f)は、第2図(a)(b)に示される如きトリプレー
ト型の1/2波長ストリツプライン共振器によって行な
った。この第2図(a)、 (b)において、12は
誘電体磁器、14は導体である。
ll&1)〜9の配線基板は、階10の比較例に対して
、誘電率及び温度係数(τf)において優れたものであ
ることが認められる。
%、BZO:l : 13重量%、アルカリ金属酸化
物=4重四%、PbO:5重量%、その他:1重量%よ
りなる組成となるように調製したガラス粉末と、市販の
アルミナ粉末と、市販のTiO□粉末と、その他のフィ
ラー粉末とを、下記第2表に示される割合において、よ
く混合した後、この得られた混合粉末を、アクリル系有
機バインダ、可塑剤、トルエン及びアルコール系溶剤と
、アルミナポット及びアルミナボールを用いて、よく混
合せしめてスラリーとした。そして、このスラリーを用
いて、実施例1ど同様にして、グリーンテープを作製し
、更に実施例1と同様の手順にて、導体内蔵配線基板を
得た。なお、表面導体は、Ag系粉末とPd粉末、アク
リル系有機バインダ、テルピネオール系有機溶剤を、3
本ローラの混練機を用いて、よ(混練して得られた印刷
用の導体ペーストを使用し、内蔵導体や基板と同時焼成
して、形成せしめた。
ク基板組成と共に、下記第2表に併ゎせ示した。
6は比較例である。
io2 :37重量%、B2O3:5重量%、Ti0z
:3重量%になるように作製したガラス粉末と、市販の
アルミナ粉末と、市販のT i O2粉末及びその他の
フィラー粉末とを、下記第3表に示される割合において
よく混合した後、この混合粉末とアクリル系有機バイン
ダ、可塑剤、トルエン、アルコール系溶剤とを、アルミ
ナポット及びアルミナボールを用いて、よく混合して、
スラリーと為し、そしてこのスラリーから、実施例10
手法に従って、グリーンテープを作製し、更に実施例1
と同様にして、導体内蔵配線基板を作製した。なお、表
面導体は、セラミック基板の表面を酸処理した後、Cu
無電解メツキ及び電解メツキにより、表面にCuの全面
膜を形成し、次いでフォトリソグラフィー技術を使用し
て樹脂レジスト膜をパターン化し、更にエツチングによ
り、かかるCu膜を導体パターン化することによって、
形成せしめた。
ク基板組成と共に、下記第3表に併わせ示した。
3は比較例である。
3:18重量%、LizO:2重量%、CaO:10重
量%、MgO:5重量%、TiO□ :15重量%にな
るように、S i Oz 、H3BO4、L 1zco
3、CaC0:I、MgCO3の所定量をよく混合した
後、900℃で仮焼して粉砕し、更にこの粉末に市販の
TiO□粉末を混合して、上記目的とする最終組成にし
た。
バインダ、可塑剤、トルエン及びアルコール系溶剤とを
、アルミナポット及びアルミナボールを用いて、よく混
合して、スラリーとした。
グリーンテープを作製し、更にその後、導体内蔵配線基
板を作製した。また、表面導体も、実施例1と同様にし
て形成した。かくして得られた基板材料の特性は、誘電
率が8、共振周波数の温度特性は5 p p m /
’Cであった。
インダクタンス、コンデンサ等の少なくとも一つの導体
をセラミック基板内に内蔵せしめるに際して、高周波回
路という用途より考えで、Ag系やCu系、更にはAu
系の如き導通抵抗の小さな金属を導体として使用し、ま
た共振回路の共振周波数の温度係数が一30ppmz”
c−↓1)00pp/”Cの範囲内となるようなセラミ
ック基板を使用するものであって、その結果、実用的な
、共振回路、インダクタンス、コンデンサ等の導体を基
板内に内蔵せしめた分布定数回路(高周波回路)用配線
基板が有利に実現され得ることとなったのである。
回路の共振周波数の温度係数が小さい、導通抵抗の小さ
な導体を内蔵した配線基板、特に特性の優れた共振回路
、コンデンサ、インダクタンス等の導体を内蔵した分布
定数回路用の多層配線基板が有利に得られるのである。
す断面図であり、第2図(a)は、共振周波数の温度係
数の測定ムこ用いた1リブレート型の1/2波長ストリ
ツプライン共振器を示す斜視透視図であり、第26 (
b)は、そのようなストリップライン共振器の断面説明
図である。 2゛セラミツク基板 4:内部導体 6:表面導体 8:アース導体IO:抵抗
Claims (2)
- (1)セラミック基板の内部に、共振回路、インダクタ
ンス、コンデンサ、伝送線路等の導体パターンの少なく
とも一つを内蔵せしめてなる分布定数回路用配線基板に
して、 該導体パターンが、10mΩ/□以下の抵抗値を有する
Ag系、Au系またはCu系導体にて構成され、且つ前
記セラミック基板との同時一体焼成により形成されると
共に、該セラミック基板が、−30ppm/℃〜+10
0ppm/℃の範囲内の共振回路の共振周波数の温度係
数を与えるセラミック材料にて構成されていることを特
徴とする分布定数回路用配線基板。 - (2)前記セラミツク材料が、重量基準で5%以上の割
合において、TiO_2粒子を分散、含有していること
を特徴とする請求項(1)記載の分布定数回路用配線基
板。
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