JPH0483108A - 照明ランプにおける端子のカシメ部の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、蛍光灯等の電気製品における端子のカシメ
部を検査するための検査方法及びその装置に関するもの
セある。

［従来の技術］ 一般に、蛍光灯においては、第８図〜第１Ｏ図に示すよ
うに、ベース１の側端面に一対のリード線２が突出され
、そのリード線２に筒状の端子３がそれぞれ嵌合され、
その端子３の先端外面の一部をカシメピン４により押圧
カシメすることにより、端子３がリード線２に接続固定
されていた。

そして、この端子３上に設けられた凹状のカシメ部５の
良否を検査する方法としては、第８図及び第９図に示す
ように、カシメ部５に検査針６を差し込んで、その検査
針６の差し込み深さを測定し、測定値が所定値以下のと
きに、カシメ部５が不良であると判別する方法が採用さ
れている。

［発明が解決しようとする課題］ ところが、この従来の検査方法においては、検査針６が
細径の端子３上の小さなカシメ部５内に確実に差し込ま
れるように、蛍光灯の側面に突出した端子３を検査針６
に対して正確に位置決めしなければならず、その位置決
め装置が複雑かつ大型になって、コスト高になるという
問題点があった。

又、従来の検査方法においては、第１０図に示すように
、カシメピン４の先端に欠は等の異常が生じて、カシメ
部５の一部にカシメ不良が発生している場合でも、検査
針６が所定深さまで差し込まれて、カシメ不良を検出す
ることができないという問題点があった。

この発明は、前記のような従来の技術に存在する問題点
に着目してなされたものであって、その目的とするとこ
ろは、電気製品の端子を検出位置に正確に位置決めする
必要がなく、位置決め装置を簡素化及び小型化して、コ
ストの低減を図ることかできると共に、カシメピンの先
端に欠は等の異常が生じて、カシメ部の一部にカシメ不
良か発生している場合でも、そのカシメ不良を確実に検
出することができる電気製品における端子のカシメ部の
検査方法及びその装置を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ 上記の目的を達成するために、請求項１に記載の電気製
品における端子のカシメ部の検査方法においては、端子
のカシメ部に対面方向から光を照射すると共に、その対
面方向からカシメ部の画像を写し撮り、その写し撮った
画像からカシメ部の面積を計測し、その計測値と予め設
定された基準値とを比較して、カシメ部の良否を判別す
ることを特徴とするものである。

又、請求項２に記載の電気製品における端子のカシメ部
の検査装置においては、端子のカシメ部に対面方向から
光を照射する光源と、前記対面方向からカシメ部の画像
を写し撮るカメラと、そのカメラにより写し撮られた画
像からカシメ部の面積を計測する計測手段と、その計測
手段により計測された計測値と予め設定された基準値と
を比較して、カシメ部の良否を判別する判別手段とを設
けたことを特徴とするものである。

［作　用］ 上記のように構成された電気製品における端子のカシメ
部の検査方法及びその装置によれば、端子のカシメ部に
対面方向の光源から光が照射されると共に、その対面方
向からカメラによりカシメ部の画像が写し撮られる。又
、このカメラにより写し撮られた画像からカシメ部の面
積が計測され、その計測値と予め設定された基準値とが
比較される。そして、計測値が基準値よりも大きいとき
には、カシメ部が良品であると判別され、計測値が基準
値よりも小さいときには、カシメ部が不良品であると判
別される。

［実施例］ 以下、この発明を具体化した蛍光灯における端子のカシ
メ部の検査装置の一実施例を、第１図〜第４図に基づい
て詳細に説明する。

第１図に示すように、一対のハロゲンランプよりなる光
源１１は端子３の設置位置の近傍に設けられ、これらの
光源１１から発せられる光がハーフミラ−１２により反
射されて、一対の端子３のカシメ部５に対面方向の直上
方からそれぞれ照射される。一対のカメラ１３は各端子
３のカシメ部５に対向して設けられ、このカメラ１３に
よりカシメ部５の画像が対面方向の上方からレンズ１４
を介して写し撮られる。

画像処理装置１５は前記カメラ１３に接続され、カメラ
１３により写し撮られたカシメ部５の画像信号をカメラ
インタフェース１６から入力すると共に、その画像信号
を２値化処理回路１７で２値化処理した後、画像メモリ
Ｉ８及びビデオミキサ１９を介してテレビモニタ２０に
出力する。中央処理装置（ＣＰＵ）２１は画像処理装置
１５内に設けられ、このＣＰＵ２１には画像処理装置１
５全体の動作を制御するためのプログラム等を記憶した
リードオンリメモリ（ＲＯＭ）２２と、キーボード２３
から入力される基準値等を記憶するためのランダムアク
セスメモリ（ＲＡＭ）２４とが接続されている。

前記ＣＰＵ２１は計測手段を構成し、２値化処理回路１
７で２値化処理された画像信号から余分な画像信号を除
去した後、その画像信号中よりカシメ部５の面積を計測
する。又、ＣＰＵ２１は判別手段を構成し、前記のよう
に計測された計測値とキーボード２３からの入力により
予め設定された基準値とを比較して、カシメ部５の良否
を判別する。

次に、前記のように構成されたカシメ部の検査装置の動
作を、第４図のフローチャートに従って説明する。

さて、この検査装置によって蛍光灯における端子３のカ
シメ部５を検査する場合には、第１図に示すように、一
対の端子３のカシメ部５を検出位置に位置決め配置する
と、一対の光源１■からの光が各カシメ部５に対面方向
の直上方から照射されると共に、一対のカメラ１３によ
り各カシメ部５の画像か対面方向の直上方から写し撮ら
れる（ステップＳｌ）。このカメラ１３により写し撮ら
れた画像は、画像処理装置１５に入力されてＣＰＵ２１
の制御のもとに画像処理され、第３図（ａ）に示すよう
に、端子３の輪郭画像ａ等を含む生画像としてテレビモ
ニタ２０に写し出される。

その後、前記カメラ１３により写し撮られた画像信号は
、画像処理装置１５の２値化処理回路１７により２値化
されて、端子３の輪郭画像ａ等がカットされ、第３図（
ｂ）に示すように、明暗の２値化信号画像としてテレビ
モニタ２０に写し出される（ステップＳ２）。この２値
化信号画像中には、カシメ部５からの反射光による円形
の画像すのほかに、端子３の外周頂面からの反射光によ
る細幅線状の画像Ｃも含まれており、この細幅線状の画
像Ｃがカシメ部５に対応する円形画像すの検出に邪魔に
なる。

そのため、第３図（Ｃ）に示すように、前記２値化信号
画像に所定面積のウィンドｄが設定された後、水平（Ｘ
）方向に連なる所定幅以下の画像信号かカットされて、
端子３の外周頂面からの反射光による細幅線状の画像Ｃ
が除去される（ステップＳ３）。なお、この画像信号の
カット幅は、キーボード２３からの入力によってＲＡＭ
２４に予め記憶されており、必要に応じて任意に設定変
更することができる。

この状態で、ウィンドｄ内におけるカシメ部５の円形画
像すの面積が計測され、その計測値と予め設定された基
準値とが比較される。そして、計測値が基準値よりも大
きいときには、カシメ部５が良品であると判別され、計
測値が基準値よりも小さいときには、カシメ部５が不良
品であると判別される（ステップＳ４及びＳ５）。なお
、この判別のための基準値も、キーボード２３からの入
力によってＲＡＭ２４に予め記憶されており、必要に応
じて任意に設定変更することができる。

このように、この実施例の検査装置においては、端子３
のカシメ部５を検査する場合、カメラ１３によりカシメ
部５をその周辺を含めて広範囲に亘って写し撮り、その
写し撮られた画像中におけるカシメ部５の画像面積を計
測して、その計測値に基づきカシメ部５の良否を判別す
るようになっているため、蛍光灯等の電気製品における
端子３のカシメ部５を検出位置に正確に位置決めする必
要がなく、カメラ１３の撮影範囲内に配置すればよい。

従って、位置決め装置の構造が簡単で小型になり、コス
トの低減を図ることができる。

又、第１Ｏ図に示すように、カシメピン４の先端に欠は
等の異常が生じて、カシメ部５の一部にカシメ不良が発
生している場合でも、カシメ部５の画像面積の不足によ
り、そのカシメ不良を確実に検出することができる。従
って、高い検査効率で端子３のカシメ部５の良否を正確
に判別することができると共に、カシメピン４に異常が
発生したことを迅速に察知することができる。

口利の実施例］ 次に、この発明の別の実施例を、第５図〜第７図に従っ
て説明する。

まず、第５図の実施例においては、前述した実施例のハ
ーフミラ−１２に代えて、各端子３のカシメ部５と対向
する位置に一対のリング状の光ファイバ２７が配設され
、ハロゲンランプよりなる光源１１から発せられる光が
、このリング状の光ファイバ２７を介して、カシメ部５
に対面方向の直上方から照射されるようになっている。

又、第６図の実施例においては、２値化処理後の画像中
から細幅線状の画像Ｃが除去されるとき、カシメ部５に
対応する円形画像すの上下両端部もカットされてしまう
ため、細幅線状画像Ｃの除去後に、このカットされた部
分ｅを連続性解析処理により復元させるようになってい
る。このように構成すれば、カシメ部５の良否の検査効
率を一層高めることができる。

さらに、第７図の実施例においては、２値化処理後の画
像中に、カシメ部５に対応する大径円形状の画像す及び
細幅線状の画像Ｃのほかに、カシメ時に発生した端子３
上の傷に相当する小径円形状の画像ｆがある場合、ウィ
ンドｄの設定位置をｄｌまで移動させて、傷の画像ｆを
検査範囲から除外するようになっている。

又、このようにウィンドｄの設定位置を変更することな
く、２値化処理後の画像中から細幅線状の画像Ｃを除去
した後、面積の最も大きな円形画像すをカシメ部５の画
像と見なして、その他の円形画像ｆ等をカット処理する
ように構成してもよい。

なお、この発明は前記各実施例の構成に限定されるもの
ではなく、例えば、この発明を蛍光灯以外の他の電気製
品における端子のカシメ部の検査装置に実施する等、こ
の発明の趣旨から逸脱しない範囲で、各部の構成を任意
に変更して具体化することも可能である。

［発明の効果］ この発明は、以上説明したように構成されているため、
電気製品の端子を検出位置に正確に位置決めする必要が
なく、位置決め装置を簡素化及び小型化して、コストの
低減を図ることができると共に、カシメピンの先端に欠
は等の異常が生じて、カシメ部の一部にカシメ不良が発
生している場合でも、そのカシメ不良を確実に検出する
ことができるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明を具体化した端子のカシメ部の検査装
置を示す構成図、第２図はその端子のカシメ部を拡大し
て示す部分断面図、第３図（ａ）〜第３図（Ｃ）は端子
の検査過程においてテレビモニタに写し出される画像を
順に示す正面図、第４図は検査装置の動作を説明するた
めのフローチャート、第５図はこの発明の別の実施例を
示す検査装置の部分斜視図、第６図及び第７図はこの発
明のさらに別の実施例を示すテレビモニタ画像の部分正
面図、第８図は従来のカシメ部の検査装置を示す部分斜
視図、第９図はその端子のカシメ部を拡大して示す部分
断面図、第１０図はカシメ不良状態を示すカシメ部の部
分断面図である。 ３・・・端子、５・・・カシメ部、１１・・・光源、１
３・・・カメラ、１５・・・画像処理装置、２１・・・
計測手段及び判別手段を構成するＣＰＵ０ 特許出願人　　　　シーケーディ　株式会社代理人　　
　　弁理士　恩１）連室（ほか１名）ｊ１６　ｍ！ 第７１１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、端子（３）のカシメ部（５）に対面方向から光を照
   射すると共に、その対面方向からカシメ部（５）の画像
   を写し撮り、その写し撮った画像からカシメ部（５）の
   面積を計測し、その計測値と予め設定された基準値とを
   比較して、カシメ部（５）の良否を判別することを特徴
   とする電気製品における端子のカシメ部の検査方法。 ２、端子（３）のカシメ部（５）に対面方向から光を照
   射する光源（１１）と、 前記対面方向からカシメ部（５）の画像を写し撮るカメ
   ラ（１３）と、 そのカメラ（１３）により写し撮られた画像からカシメ
   部（５）の面積を計測する計測手段（２１）と、 その計測手段（２１）により計測された計測値と予め設
   定された基準値とを比較して、カシメ部（５）の良否を
   判別する判別手段（２１）とを設けたことを特徴とする
   電気製品における端子のカシメ部の検査装置。