JPH049332B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH049332B2 JPH049332B2 JP59225793A JP22579384A JPH049332B2 JP H049332 B2 JPH049332 B2 JP H049332B2 JP 59225793 A JP59225793 A JP 59225793A JP 22579384 A JP22579384 A JP 22579384A JP H049332 B2 JPH049332 B2 JP H049332B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- inspection
- positions
- inspected
- points
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2433—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、物体上の複数点の位置を自動的に求
める装置に関するものであり、工業上、具体的に
はたとえば、多数の孔が設けられてなる合成繊維
紡糸口金の孔の検査等に際して好ましく用いるこ
とのできる、物体上の複数点位置の認識装置、す
なわち、前述例の場合には多数の口金孔位置の認
識手段として用いることのできる、物体上の位置
の識認装置に関するものである。
める装置に関するものであり、工業上、具体的に
はたとえば、多数の孔が設けられてなる合成繊維
紡糸口金の孔の検査等に際して好ましく用いるこ
とのできる、物体上の複数点位置の認識装置、す
なわち、前述例の場合には多数の口金孔位置の認
識手段として用いることのできる、物体上の位置
の識認装置に関するものである。
（従来技術）
通常、物体の孔の検査、たとえば前述のような
合成繊維紡糸口金の各孔の検査は、顕微鏡等を介
して行なうものであるが、かかる検査を自動的に
行なわんとする場合、それらの孔の一つ一つを順
次該顕微鏡視野の中に入れる必要がある。
合成繊維紡糸口金の各孔の検査は、顕微鏡等を介
して行なうものであるが、かかる検査を自動的に
行なわんとする場合、それらの孔の一つ一つを順
次該顕微鏡視野の中に入れる必要がある。
しかして、自動検査をせんとして、テレビカメ
ラ等の視覚センサーで被検査物体の全体を撮影し
て物体上の孔位置を先ず求めんとする場合、該視
覚センサーの傾きおよび図形歪み等が原因で正確
な孔位置が求まらず、前記顕微鏡検査視野に検査
される孔が十分に入らないケースが多くあるもの
であつた。
ラ等の視覚センサーで被検査物体の全体を撮影し
て物体上の孔位置を先ず求めんとする場合、該視
覚センサーの傾きおよび図形歪み等が原因で正確
な孔位置が求まらず、前記顕微鏡検査視野に検査
される孔が十分に入らないケースが多くあるもの
であつた。
（発明が解決しようとする問題点）
本発明の目的は、上記したような問題点に鑑
み、物体上の複数点の位置をより正確に求め得
る、物体上の位置の識認装置を提供せんとするも
のである。
み、物体上の複数点の位置をより正確に求め得
る、物体上の位置の識認装置を提供せんとするも
のである。
すなわち、本発明によれば、たとえば上記口金
孔の検査に際して、口金上の孔位置がより正確に
求められ、ひいては顕微鏡検査視野の中へ孔が所
望通り十分に入り、所期の検査を能率良くなし得
る紡糸口金孔自動検査装置の実現、等が達せられ
る。
孔の検査に際して、口金上の孔位置がより正確に
求められ、ひいては顕微鏡検査視野の中へ孔が所
望通り十分に入り、所期の検査を能率良くなし得
る紡糸口金孔自動検査装置の実現、等が達せられ
る。
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成する本発明の物体上の位置の認
識装置は、以下の構成からなる。
識装置は、以下の構成からなる。
すなわち、物体上の複数点の位置を検出するセ
ンサー機構と、既知である該複数点の設計位置と
前記センサーにより検出された複数点の位置との
比較をして該検出された検出位置を補正する補正
機構と、該補正された複数点の位置を次処理系に
伝達する機構とを有することを特徴とする物体上
の位置の識認装置である。
ンサー機構と、既知である該複数点の設計位置と
前記センサーにより検出された複数点の位置との
比較をして該検出された検出位置を補正する補正
機構と、該補正された複数点の位置を次処理系に
伝達する機構とを有することを特徴とする物体上
の位置の識認装置である。
（作用）
以下、図面等を用いて本発明の物体上の位置の
認識装置について更に詳しく説明をする。
認識装置について更に詳しく説明をする。
第１図は本発明装置の一実施態様例を示したも
のであつて、紡糸口金の自動検査に本発明装置を
組込み適用した場合を示したものである。
のであつて、紡糸口金の自動検査に本発明装置を
組込み適用した場合を示したものである。
第２図は、その場合の被検査物体たる合成繊維
紡糸口金における孔位置の例を模式的に示したも
のである。
紡糸口金における孔位置の例を模式的に示したも
のである。
第１図において、破線で囲んだ１の部分が本発
明にかかる物体上の位置の識認装置であり、被検
査物体（口金）６全体を撮影する。視覚センサー
たるテレビカメラ５、該テレビカメラ５からの信
号をアナログ信号からデジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器４、該デジタル信号を蓄積するメモ
リー３、および該メモリーをアクセスして物体６
の孔位置を認識するコンピユータ２より構成され
る。前記メモリー３の中には物体の孔の設計位置
座標があらかじめ入力されている。しかして、本
発明は、物体上の被検査点、すなわち、この例の
場合、孔の設計位置が既知である物体にだけ適用
され得るものである。
明にかかる物体上の位置の識認装置であり、被検
査物体（口金）６全体を撮影する。視覚センサー
たるテレビカメラ５、該テレビカメラ５からの信
号をアナログ信号からデジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器４、該デジタル信号を蓄積するメモ
リー３、および該メモリーをアクセスして物体６
の孔位置を認識するコンピユータ２より構成され
る。前記メモリー３の中には物体の孔の設計位置
座標があらかじめ入力されている。しかして、本
発明は、物体上の被検査点、すなわち、この例の
場合、孔の設計位置が既知である物体にだけ適用
され得るものである。
上記の通り構成される装置１により孔位置が認
識された後、Ｘ−Ｙテーブル１０、顕微鏡９、テ
レビカメラ８、および孔の検査コンピユータ７に
より構成される検査系により、すなわち、Ｘ−Ｙ
テーブル１０の自動作動によつて、順次、検査さ
れるべき孔が顕微鏡９の視野に入り検査をされ
る。つまり、孔位置認識コンピユー２からは、Ｘ
−Ｙテーブルの駆動装置１１へ認識された複数個
の孔位置に関する信号が伝達されてＸ−Ｙテーブ
ルが移動され、また、孔の検査コンピユータ７に
は孔位置認識作業が終了したので検査作業開始等
の信号が伝達される。一つの孔の検査終了後、検
査コンピユータ７からＸ−Ｙテーブル駆動装置１
１に次の孔の検査を行なう旨を行なう旨の信号が
伝達され、再びＸ−Ｙテーブル１０は移動する。
識された後、Ｘ−Ｙテーブル１０、顕微鏡９、テ
レビカメラ８、および孔の検査コンピユータ７に
より構成される検査系により、すなわち、Ｘ−Ｙ
テーブル１０の自動作動によつて、順次、検査さ
れるべき孔が顕微鏡９の視野に入り検査をされ
る。つまり、孔位置認識コンピユー２からは、Ｘ
−Ｙテーブルの駆動装置１１へ認識された複数個
の孔位置に関する信号が伝達されてＸ−Ｙテーブ
ルが移動され、また、孔の検査コンピユータ７に
は孔位置認識作業が終了したので検査作業開始等
の信号が伝達される。一つの孔の検査終了後、検
査コンピユータ７からＸ−Ｙテーブル駆動装置１
１に次の孔の検査を行なう旨を行なう旨の信号が
伝達され、再びＸ−Ｙテーブル１０は移動する。
検査装置系の要部は、第１図において一点鎖線
で囲まれた前記の顕微鏡９、テレビカメラ８、孔
の検査コンピユータ７からなる孔の検査装置１２
であつて、被検査物体が口金のように該検査装置
１２と比較して軽量の物である場合には前記Ｘ−
Ｙテーブル１０を動かすことにより順次検査がな
されるように構成すればよいが、逆に被検査物体
が著しく重い物の場合には前記検査装置１２の方
が認識された孔位置に従つて動かされるように構
成してもよいのである。
で囲まれた前記の顕微鏡９、テレビカメラ８、孔
の検査コンピユータ７からなる孔の検査装置１２
であつて、被検査物体が口金のように該検査装置
１２と比較して軽量の物である場合には前記Ｘ−
Ｙテーブル１０を動かすことにより順次検査がな
されるように構成すればよいが、逆に被検査物体
が著しく重い物の場合には前記検査装置１２の方
が認識された孔位置に従つて動かされるように構
成してもよいのである。
上記構成の本発明にかかる物体上の位置の認識
装置１における位置の認識法について、第２図に
示したような同一円周上に孔が等角度間隔で多数
個設けられている口金の場合を例にとり、以下に
説明する。
装置１における位置の認識法について、第２図に
示したような同一円周上に孔が等角度間隔で多数
個設けられている口金の場合を例にとり、以下に
説明する。
検査に際し、Ｘ−Ｙテーブル１０により、被検
査物体６をテレビカメラ５の視野内に持つてく
る。次に該テレビカメラ５で該被検査物体６を撮
影し得られるビデオ信号をＡ／Ｄ変換器４により
デジタル信号に変換した後、メモリー３に蓄積さ
せる。ここで該メモリー３に蓄積されるデータ
は、撮影された被検査物体６の孔の位置が第２図
に示したようなものであつても、第３図にモデル
を示したように変形されてなるものであつて、こ
れはテレビカメラ５の被検査物体６に対する傾
き、およびテレビカメラ５の画像歪みによるもの
である。
査物体６をテレビカメラ５の視野内に持つてく
る。次に該テレビカメラ５で該被検査物体６を撮
影し得られるビデオ信号をＡ／Ｄ変換器４により
デジタル信号に変換した後、メモリー３に蓄積さ
せる。ここで該メモリー３に蓄積されるデータ
は、撮影された被検査物体６の孔の位置が第２図
に示したようなものであつても、第３図にモデル
を示したように変形されてなるものであつて、こ
れはテレビカメラ５の被検査物体６に対する傾
き、およびテレビカメラ５の画像歪みによるもの
である。
しかして、メモリー３の中に蓄積されているか
かる歪みのあるデータをコンピユータ２によつて
以下(1)〜(5)のように演算処理をする。
かる歪みのあるデータをコンピユータ２によつて
以下(1)〜(5)のように演算処理をする。
(1) 歪みのある生データにより、各孔の中心座標
（Xi、Yi）を求める。ｉは１〜ｎであり、ｎは
孔の個数である。原点は、どこにとつてもかま
わない。
（Xi、Yi）を求める。ｉは１〜ｎであり、ｎは
孔の個数である。原点は、どこにとつてもかま
わない。
(2) 上記(1)により得られた各孔の中心座標（Xi、
Yi）をもとに、円の中心座標（X0、Y0）を、
次式(a)、(b)で求める。
Yi）をもとに、円の中心座標（X0、Y0）を、
次式(a)、(b)で求める。
X0＝１／ｎ×o
〓x=1
Xi ……(a)
Y0＝１／ｎ×o
〓x=1
Yi ……(b)
(3) 上記(1)で求められた各孔の中心座標（Xi、
Yi）を、上記(2)で求めた円の中心座標（X0、
Y0）を原点としてなる極座標表示（ri、i）
に、次式(c)、(d)を用いて直す。
Yi）を、上記(2)で求めた円の中心座標（X0、
Y0）を原点としてなる極座標表示（ri、i）
に、次式(c)、(d)を用いて直す。
ri＝√（i−0）2＋（i−0）2 ……(c)
i＝tan-1｛（Yi−Y0）／（Xi−X0）｝ ……(d)
(4) あらかじめメモリー３の中に入力されている
被検査口金の孔の設計位置座標値（r0、ψi）
（極座標表示）と、上記(3)で求められた各孔の
中心座標値（極座標表示）とを用いて、検出さ
れた歪みのある像にもとづいている(3)による各
孔の中心が、各孔の上記設計位置と比較して、
平均してどれだけの角度ズレを有しているか
を次式(e)で求める。
被検査口金の孔の設計位置座標値（r0、ψi）
（極座標表示）と、上記(3)で求められた各孔の
中心座標値（極座標表示）とを用いて、検出さ
れた歪みのある像にもとづいている(3)による各
孔の中心が、各孔の上記設計位置と比較して、
平均してどれだけの角度ズレを有しているか
を次式(e)で求める。
＝１／２・｛o
〓i=1
（i−ψi）｝ ……(e)
また、上記の設計位置座標（r0、ψi）は、原
点を円の中心にとつてなるものであり、しかし
て上記(3)で求められた円の中心座標（X0、Y0）
は、X0、Y0の値が、それぞれ円の中心がＸ方
向、Ｙ方向に設計中心位置（原点）と比べてど
れだけズレてなるかを示す値となる。
点を円の中心にとつてなるものであり、しかし
て上記(3)で求められた円の中心座標（X0、Y0）
は、X0、Y0の値が、それぞれ円の中心がＸ方
向、Ｙ方向に設計中心位置（原点）と比べてど
れだけズレてなるかを示す値となる。
(5) 以上の演算を経て、検出された孔位置は補正
され、すなわち、各孔の該補正された位置座標
（X′i、Y′i）は、次式(f)、(g)の演算値となるも
のである。
され、すなわち、各孔の該補正された位置座標
（X′i、Y′i）は、次式(f)、(g)の演算値となるも
のである。
X′i＝r0・cos（ψi−）＋X0 ……(f)
Y′i＝r0・sin（ψi＋）＋Y0 ……(g)
かかる補正された位置座標は、前述の通り、Ｘ
−Ｙテーブルの駆動装置１１へ伝達される。
−Ｙテーブルの駆動装置１１へ伝達される。
ここですなわち、上記(1)〜(5)の過程で求めんと
するものは、被検査物体の孔の設計位置座標に対
して、センターで実際に検出された検出位置が、
中心においてどれだけズレているか、角度におい
てどれだけズレているか、であり、その求めた値
により、孔の該検出位置座標を補正しているので
ある。
するものは、被検査物体の孔の設計位置座標に対
して、センターで実際に検出された検出位置が、
中心においてどれだけズレているか、角度におい
てどれだけズレているか、であり、その求めた値
により、孔の該検出位置座標を補正しているので
ある。
上記説明では、孔の配列が同一円周上に等角度
間隔で並んでいる例を用いて説明したが、孔の配
列はどのようなものであつても本発明の適用が可
能であり、要すれば、孔の設計位置座標が既知で
あればよいものである。
間隔で並んでいる例を用いて説明したが、孔の配
列はどのようなものであつても本発明の適用が可
能であり、要すれば、孔の設計位置座標が既知で
あればよいものである。
また、物体上の認識する位置も、必ずしも孔の
場合に限らず、刻印のような印等であつても本発
明装置の適用は可能である。
場合に限らず、刻印のような印等であつても本発
明装置の適用は可能である。
（実施例）
第１図に示した装置により、直径110mmで、孔
の大きさが200〜400μ、孔の数が24〜72個の各種
合成繊維紡糸口金の孔の自動検査を行なつた。こ
れら口金の設計図面に対する孔位置の精度は、い
ずれも、±20μ以内のものである。
の大きさが200〜400μ、孔の数が24〜72個の各種
合成繊維紡糸口金の孔の自動検査を行なつた。こ
れら口金の設計図面に対する孔位置の精度は、い
ずれも、±20μ以内のものである。
テレビカメラ５の視野は150mm×150mmである。
かかる自動検査において、検出位置の補正前に
は、最大３mmの画像歪みがあり、十分に検査顕微
鏡９の視野に入らない孔も多数有つたが、本発明
の上述した位置認識装置を用いることにより、歪
みを0.5mm以下にすることができ、検査顕微鏡９
の視野0.8mm×0.8mm以内に各孔をもつてくること
ができ、能率よく順次各孔の検査を実施すること
ができた。
は、最大３mmの画像歪みがあり、十分に検査顕微
鏡９の視野に入らない孔も多数有つたが、本発明
の上述した位置認識装置を用いることにより、歪
みを0.5mm以下にすることができ、検査顕微鏡９
の視野0.8mm×0.8mm以内に各孔をもつてくること
ができ、能率よく順次各孔の検査を実施すること
ができた。
（発明の効果）
以上述べた通りの本発明によれば、物体上の複
数点の位置が、視覚センサーで検出する場合には
画像歪み、センサーの傾き等の要因により、不正
確に検出されるのを概して避け得ないという問題
が従来あつたのであるが、かかる問題点を、実質
上問題とする必要が無いほど解消し得、より正確
に該物体上の複数点の位置を検出できるものであ
り、所望の、例えば前述例の如き自動検査等の作
業を能率よく迅速に行なわしめることが可能にな
つたものである。
数点の位置が、視覚センサーで検出する場合には
画像歪み、センサーの傾き等の要因により、不正
確に検出されるのを概して避け得ないという問題
が従来あつたのであるが、かかる問題点を、実質
上問題とする必要が無いほど解消し得、より正確
に該物体上の複数点の位置を検出できるものであ
り、所望の、例えば前述例の如き自動検査等の作
業を能率よく迅速に行なわしめることが可能にな
つたものである。
第１図は、本発明装置の一実施態様例を示した
ものであつて、紡糸口金の自動検査に本発明装置
を組込み適用した場合を示したものである。第２
図は、その場合の被検査物体たる合成繊維紡糸口
金における孔位置の例を模式的に示したものであ
る。第３図は、第２図で示した例を、テレビカメ
ラ等の視覚センサーで撮影したときに得られる歪
みのある画像をモデル的に示したものである。 図面中の符号の説明、１：本発明にかかる物体
上の位置の認識装置、２：コンピユータ、３：メ
モリー、４：Ａ／Ｄ変換器、５：テレビカメラ、
６：被検査物体、７：コンピユータ、８：テレビ
カメラ、９：顕微鏡、１０：Ｘ−Ｙテーブル、１
１：Ｘ−Ｙテーブルの駆動位置、１２：孔の検査
装置。
ものであつて、紡糸口金の自動検査に本発明装置
を組込み適用した場合を示したものである。第２
図は、その場合の被検査物体たる合成繊維紡糸口
金における孔位置の例を模式的に示したものであ
る。第３図は、第２図で示した例を、テレビカメ
ラ等の視覚センサーで撮影したときに得られる歪
みのある画像をモデル的に示したものである。 図面中の符号の説明、１：本発明にかかる物体
上の位置の認識装置、２：コンピユータ、３：メ
モリー、４：Ａ／Ｄ変換器、５：テレビカメラ、
６：被検査物体、７：コンピユータ、８：テレビ
カメラ、９：顕微鏡、１０：Ｘ−Ｙテーブル、１
１：Ｘ−Ｙテーブルの駆動位置、１２：孔の検査
装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 物体上の複数点の位置を検出するセンサー機
構と、既知である該複数点の設計位置と前記検出
された複数点の位置との比較をして該検出された
検出位置を補正する補正機構と、該補正された複
数点の位置を次処理系に伝達する機構とを有する
ことを特徴とする物体上の位置の認識装置。 ２ 物体上の複数点の位置が、物体上の複数の孔
の位置であり、次処理系が該孔の検査装置系であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
物体上の位置の認識装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59225793A JPS61105623A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 物体上の位置の認識装置 |
| EP85307650A EP0181122B1 (en) | 1984-10-29 | 1985-10-23 | Method and apparatus for inspecting apertures on the surface of an article |
| DE8585307650T DE3582553D1 (de) | 1984-10-29 | 1985-10-23 | Methode und vorrichtung zur pruefung von oeffnungen auf der oberflaeche eines gegenstandes. |
| US06/792,315 US4693608A (en) | 1984-10-29 | 1985-10-28 | Method and apparatus for determining position of points on article |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59225793A JPS61105623A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 物体上の位置の認識装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61105623A JPS61105623A (ja) | 1986-05-23 |
| JPH049332B2 true JPH049332B2 (ja) | 1992-02-19 |
Family
ID=16834865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59225793A Granted JPS61105623A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 物体上の位置の認識装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4693608A (ja) |
| EP (1) | EP0181122B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61105623A (ja) |
| DE (1) | DE3582553D1 (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4805123B1 (en) * | 1986-07-14 | 1998-10-13 | Kla Instr Corp | Automatic photomask and reticle inspection method and apparatus including improved defect detector and alignment sub-systems |
| US5051825A (en) * | 1989-04-07 | 1991-09-24 | Pressco, Inc. | Dual image video inspection apparatus |
| US5051734A (en) * | 1990-01-11 | 1991-09-24 | The Grass Valley Group, Inc. | Special effects using polar image coordinates |
| US5504732A (en) * | 1990-08-15 | 1996-04-02 | Del Mar Avionics | Null inflection detection and pulse expand latch in an optical recording system |
| IL99823A0 (en) * | 1990-11-16 | 1992-08-18 | Orbot Instr Ltd | Optical inspection method and apparatus |
| US5262967A (en) * | 1991-07-15 | 1993-11-16 | Braun Intertec Engineering, Inc. | System for testing and inspecting concrete |
| JP2523227Y2 (ja) * | 1991-07-30 | 1997-01-22 | 株式会社堀場製作所 | 異物検査装置 |
| US5590060A (en) * | 1992-03-20 | 1996-12-31 | Metronics, Inc. | Apparatus and method for an object measurement system |
| US5379106A (en) * | 1992-04-24 | 1995-01-03 | Forensic Technology Wai, Inc. | Method and apparatus for monitoring and adjusting the position of an article under optical observation |
| US5359416A (en) * | 1992-10-19 | 1994-10-25 | Thiokol Corporation | System and process for detecting and monitoring surface defects |
| GB2287092A (en) * | 1994-03-04 | 1995-09-06 | Vernon Gauging Systems Limited | Monitoring nozzle holes |
| US5781450A (en) * | 1994-06-10 | 1998-07-14 | Metronics, Inc. | Object inspection system and method |
| US5647025A (en) * | 1994-09-20 | 1997-07-08 | Neopath, Inc. | Automatic focusing of biomedical specimens apparatus |
| DE19611613C2 (de) * | 1996-03-23 | 1999-11-11 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur opto-elektronischen Geometrieermittlung von Bohrungen, insbesondere von Einspritzbohrungen an Kraftstoffeinspritzventilen für Brennkraftmaschinen |
| WO1998034095A1 (en) * | 1997-01-31 | 1998-08-06 | Medar, Inc. | Method and machine vision system for detecting defects in an apertured opaque layer formed on a transparent object |
| GB0308509D0 (en) * | 2003-04-12 | 2003-05-21 | Antonis Jan | Inspection apparatus and method |
| CN103673883A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-03-26 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 用于船舶管系法兰中心位置的测量工装及测量方法 |
| TWI650549B (zh) * | 2016-12-19 | 2019-02-11 | 財團法人工業技術研究院 | 多孔洞檢測系統、裝置及方法 |
| JP6904208B2 (ja) * | 2017-10-10 | 2021-07-14 | トヨタ自動車株式会社 | 軸ずれ判定装置 |
| CN112985290B (zh) * | 2019-12-02 | 2022-05-27 | 东华大学 | 一种导孔及微孔圆度的检测设备及方法 |
| CN113138193B (zh) * | 2020-01-20 | 2023-01-17 | 东华大学 | 集群变径深孔的批量检测设备及方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3806252A (en) * | 1972-07-10 | 1974-04-23 | Eastman Kodak Co | Hole measurer |
| US3873211A (en) * | 1974-01-23 | 1975-03-25 | Eastman Kodak Co | Hole measurer controller |
| US3986007A (en) * | 1975-08-20 | 1976-10-12 | The Bendix Corporation | Method and apparatus for calibrating mechanical-visual part manipulating system |
| DE3114918A1 (de) * | 1981-04-13 | 1983-02-03 | Brockmann, W., Dr., 2000 Hamburg | Verfahren und vorrichtung zur videooptischen lagebestimmung und positionierung eines starren koerpers im raum |
| US4396945A (en) * | 1981-08-19 | 1983-08-02 | Solid Photography Inc. | Method of sensing the position and orientation of elements in space |
-
1984
- 1984-10-29 JP JP59225793A patent/JPS61105623A/ja active Granted
-
1985
- 1985-10-23 DE DE8585307650T patent/DE3582553D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-10-23 EP EP85307650A patent/EP0181122B1/en not_active Expired
- 1985-10-28 US US06/792,315 patent/US4693608A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0181122A3 (en) | 1988-02-24 |
| US4693608A (en) | 1987-09-15 |
| EP0181122B1 (en) | 1991-04-17 |
| JPS61105623A (ja) | 1986-05-23 |
| DE3582553D1 (de) | 1991-05-23 |
| EP0181122A2 (en) | 1986-05-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH049332B2 (ja) | ||
| CN110142785A (zh) | 一种基于目标检测的巡检机器人视觉伺服方法 | |
| JP2010224749A (ja) | 作業工程管理システム | |
| CN110335309A (zh) | 基于摄像头定位机器人的方法及装置 | |
| JP2001070455A (ja) | ステント表面のパターン幅の検査方法 | |
| JP3684799B2 (ja) | 移動体の停止位置ズレ量検出装置 | |
| US4515480A (en) | Pattern alignment system and method | |
| JP2995127B2 (ja) | 円形穴の認識方法 | |
| JPH0335108A (ja) | リード位置認識装置 | |
| JP3627249B2 (ja) | 画像処理装置 | |
| JPH0627299Y2 (ja) | 位置決め治具 | |
| JP2974794B2 (ja) | 多角形部品の多視野認識方法 | |
| JPS6111890A (ja) | 画像認識における基準パタ−ンの作製方法 | |
| JPS6056895A (ja) | ロボツトの視覚センサ | |
| JPH095022A (ja) | 画像認識によるパターン位置出し方法及び装置 | |
| JPH06260527A (ja) | 画像処理装置とエッジ検出方法及び位置検出方法 | |
| JPH02223809A (ja) | 光切断法による三次元形状測定装置 | |
| JPH087450Y2 (ja) | 回路基板の位置決め装置 | |
| JPS60123976A (ja) | パタ−ン認識方法および装置 | |
| JPS62137988A (ja) | ２値化画像処理方法 | |
| JPH04174311A (ja) | プリント配線基板の検査装置 | |
| JPS60225004A (ja) | 姿勢検出装置 | |
| JPS6391779A (ja) | 部品認識装置 | |
| JPS61125132U (ja) | ||
| JP2601621Y2 (ja) | ポイントサーチ装置 |