JPH0497549A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置Info
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- JPH0497549A JPH0497549A JP2216084A JP21608490A JPH0497549A JP H0497549 A JPH0497549 A JP H0497549A JP 2216084 A JP2216084 A JP 2216084A JP 21608490 A JP21608490 A JP 21608490A JP H0497549 A JPH0497549 A JP H0497549A
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- JP
- Japan
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- lead
- resin
- semiconductor device
- sealed semiconductor
- collector
- Prior art date
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- Pending
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/736—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
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- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は樹脂封止型半導体装置に関し、特に超高周波用
の樹脂封止型半導体装置に関する。
の樹脂封止型半導体装置に関する。
第3図(a)は従来の樹脂封止型トランジスタの平面図
、第3図(b)は第3図(a)のX−X線断面図である
。
、第3図(b)は第3図(a)のX−X線断面図である
。
放熱板を兼ねるコレクタリード3の幅広部にトランジス
タベレット4を搭載し、トランジスタベレットのベース
電極、エミッタ電極をそれぞれベースリード6、エミッ
タリード2とボンディングワイヤ5−1.5−2で結線
し、樹脂封止している。
タベレット4を搭載し、トランジスタベレットのベース
電極、エミッタ電極をそれぞれベースリード6、エミッ
タリード2とボンディングワイヤ5−1.5−2で結線
し、樹脂封止している。
上述した従来の樹脂封止型半導体装1ではリード間を封
止樹脂で充填しているが、この封止樹脂として多用され
ているエポキシ樹脂の比誘電率が3.5〜5.0と大き
いのでリード間、特にベースリードとコレクタリード間
に寄生容量を持ち高周波特性を悪化させるという欠点が
ある。
止樹脂で充填しているが、この封止樹脂として多用され
ているエポキシ樹脂の比誘電率が3.5〜5.0と大き
いのでリード間、特にベースリードとコレクタリード間
に寄生容量を持ち高周波特性を悪化させるという欠点が
ある。
本発明は、複数のリードを備えた樹脂封止型半導体装置
において、隣接する前記リード間に低誘電率領域が設け
られているというものである。
において、隣接する前記リード間に低誘電率領域が設け
られているというものである。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)は本発明の第1の実施例である表面実装用
の樹脂封止型半導体装置の平面図、第1図(b)は第1
図(a)のX−X線断面図である。
の樹脂封止型半導体装置の平面図、第1図(b)は第1
図(a)のX−X線断面図である。
この実施例では、ベースリード6とコレクタリード3の
間に封止樹脂1aの裏面からコレクタリードの厚さと同
程度の渭7aを入れる等によって形成された空気層から
なる低比誘電率領域を設けている。これにより、ベース
リード・コレクタリード間の寄生容量を1/3〜1/2
程度に低減できる。
間に封止樹脂1aの裏面からコレクタリードの厚さと同
程度の渭7aを入れる等によって形成された空気層から
なる低比誘電率領域を設けている。これにより、ベース
リード・コレクタリード間の寄生容量を1/3〜1/2
程度に低減できる。
第2図(a)は本発明の第2の実施例を示す平面図、第
2図(b)は第2図(a)のX−X線断面図である。
2図(b)は第2図(a)のX−X線断面図である。
この実施例は、ベースリード6とコレクタリード3の間
だけでなくエミッタリード2のコレクタリード3との間
にそれぞれ溝7b−1,7b−2が設けられている。又
、これらの溝は機械的強度の低下を防ぐため封止樹脂1
bを完全には横断していない。パッケージによるコレク
タ・ベース間及びコレクタ・エミッタ間両方の寄生容量
の低減を図っているなめ更に高周波特性が向上できると
いう利点がある。
だけでなくエミッタリード2のコレクタリード3との間
にそれぞれ溝7b−1,7b−2が設けられている。又
、これらの溝は機械的強度の低下を防ぐため封止樹脂1
bを完全には横断していない。パッケージによるコレク
タ・ベース間及びコレクタ・エミッタ間両方の寄生容量
の低減を図っているなめ更に高周波特性が向上できると
いう利点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は隣接するリード間に低誘電
率領域を設けることによりパッケージ寄生容量の低減が
でき、半導体装置の高周波特性を向上できる効果がある
。
率領域を設けることによりパッケージ寄生容量の低減が
でき、半導体装置の高周波特性を向上できる効果がある
。
第1図(a)は本発明の第1の実施例の平面図、第1図
(b)は第1図(a)のX−X線断面図、第2図(a)
は第2の実施例の平面図、第2図(b)は第2図(a)
のX−X線断面図、第3図(a)は従来例の平面図、第
3図(b)は第3図(a>のX−X線断面図である。 1、la、lb・・・封止樹脂、2・・・エミッタリー
ド、3・・・コレクタリード、4・・・トランジスタペ
レット、5−1.5−2・・・ボンディングワイヤ、6
・・・ベースリード、7 a 、 7 b −1、7
b 2−溝。
(b)は第1図(a)のX−X線断面図、第2図(a)
は第2の実施例の平面図、第2図(b)は第2図(a)
のX−X線断面図、第3図(a)は従来例の平面図、第
3図(b)は第3図(a>のX−X線断面図である。 1、la、lb・・・封止樹脂、2・・・エミッタリー
ド、3・・・コレクタリード、4・・・トランジスタペ
レット、5−1.5−2・・・ボンディングワイヤ、6
・・・ベースリード、7 a 、 7 b −1、7
b 2−溝。
Claims (1)
- 複数のリードを備えた樹脂封止型半導体装置において、
隣接する前記リード間に低誘電率領域が設けられている
ことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216084A JPH0497549A (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | 樹脂封止型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216084A JPH0497549A (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | 樹脂封止型半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0497549A true JPH0497549A (ja) | 1992-03-30 |
Family
ID=16683001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2216084A Pending JPH0497549A (ja) | 1990-08-16 | 1990-08-16 | 樹脂封止型半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0497549A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019187183A1 (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-03 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置 |
-
1990
- 1990-08-16 JP JP2216084A patent/JPH0497549A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019187183A1 (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-03 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置 |
| JP2019176066A (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-10 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置 |
| CN111937142A (zh) * | 2018-03-29 | 2020-11-13 | 青井电子株式会社 | 半导体装置 |
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