JPH05119121A - 波形発生装置 - Google Patents

波形発生装置

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JPH05119121A
JPH05119121A JP3277843A JP27784391A JPH05119121A JP H05119121 A JPH05119121 A JP H05119121A JP 3277843 A JP3277843 A JP 3277843A JP 27784391 A JP27784391 A JP 27784391A JP H05119121 A JPH05119121 A JP H05119121A
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JP3277843A
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Tatsuyuki Agata
立之 縣
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来のようにフォマットエンコ−ド回路がデ
−タを切替える毎に発生していたアンバリッドの時間を
生じないようにした。 【構成】 パタ−ンデ−タとフォマットデ−タに基づい
てフォマットエンコ−ド回路がエンコ−ドしたデ−タ
と、タイミングジェネレ−タの出力するリ−ディングク
ロック/トレ−リングクロックとに基づいてRSフリッ
プフロップをセット及びリセットし、任意のデジタルパ
ルス波形を得る波形発生装置であって、フォマットエン
コ−ド回路がエンコ−ドしたデ−タをタイミングジェネ
レタが出力するパタ−ンクロックに基づいて記憶すると
共に、タイミングジェネレ−タのリ−ディングクロック
とトレ−リングクロックに基づいて読み出す記憶回路を
設けている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、LSIテスタ
の波形発生装置に関し、更に詳しくは、フォマットエン
コ−ドの出力の切替わりによって発生するアンバリッド
(設定不能)の期間を無くすことによってデジタルパル
ス波形の設定を任意に行うことができる波形発生装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来の波形発生装置の構成ブロ
ック図である。図中、1は動作タイミングの基準になる
テストレ−ト信号Sを発生するタイミングジェネレ−
タ、2はパタ−ン発生器で、タイミングジェネレ−タ1
のテストレ−ト信号Sによって動作し、テストレ−ト信
号Sに基づいて発生したパタ−ンデ−タPdaをフォマッ
タ3に出力する。
【0003】フォマッタ3において、31はリタイミン
グレジスタで、パタ−ン発生器2のパタ−ンデ−タPda
をタイミングジェネレ−タ1のパタ−ンクロックPCK
に基づいてリタイミングし、フォマッタ3内に取り込
む。32はフォマッタエンコ−ド回路で、リタイミング
レジスタ31が取り込んだパタ−ンデ−タPdaとフォマ
ットレジスタ33のデ−タ(D1,D0 )に基づいてエン
コ−ドしたデ−タをフォマットマトリックス34に出力
する。
【0004】フォマットマトリックス34は、フォマッ
タエンコ−ド回路32のデ−タとタイミングジェネレ−
タ1が出力するリ−ディングクロックLCK及びトレ−
リングクロックTCKとに基づいて、RSフリップフロ
ップ35をセット/リセットする。すなわち、RSフリ
ップフロップ35は、フォマットマトリックス34の出
力に基づいてフォマッティングされたデジタルパルス波
形をQ端子より出力する。
【0005】図6は、従来の波形発生装置の動作を説明
するタイムチャ−トで、(A)はテストレ−ト信号S、
(B)はパタ−ンデ−タPad、(C)はパタ−ンクロッ
クPCK、(D)はリタイミングレジスタ31によって
リタイミングされたパタ−ンデ−タPad* 、(E)はフ
ォマットエンコ−ド回路32の出力、(F)はリ−ディ
ングクロックLCK、(G)はトレ−リングクロックT
CK、(H)〜(J)はRSフリップフロップ35の出
力で、NRZ(Non Return to Zero) 波形、RZ(Retur
n ZERO) 波形、RO(Return to One) 波形を示したもの
である。尚、図7には、フォマットレジスタ33の真理
値表を示し、図8には、本波形発生装置の動作状態の真
理値表を示す。
【0006】(1) パタ−ン発生器2は、タイミングジェ
ネレ−タ1のテストレ−ト信号Sに基づいてパタ−ンデ
−タPadをリタイミングレジスタ31に出力する。 (2) リタイミングレジスタ31は、パタ−ンデ−タPad
をタイミングジェネレ−タ1のパタ−ンクロックPCK
によってリタイミングし、フォマットエンコ−ド回路3
2に出力する。
【0007】(3) フォマットエンコ−ド回路32は、リ
タイミングレジスタ31とフォマットレジスタ33のデ
−タに基づいて、エンコ−ドしたデ−タをフォマットマ
トリックス34に出力する。フォマットマトリックス3
4は、フォマットエンコ−ド回路32のデ−タとタイミ
ングジェネレ−タ1のリ−ディングクロックLCK及び
トレ−リングクロックTCKとに基づいて、以下、(4)
〜(9) のプロセスによりRSフリップフロップ35を制
御する。
【0008】(4),(5) RSフリップフロップ35からN
RZ波形が出力される場合、すなわち、フォマットレジ
スタ33のデ−タが(0,0)の場合、パタ−ンデ−タ
Pdaが“1”の時、RSフリップフロップ35は、リ−
ディングクロックLCKの立ち上がりよってセットさ
れ、パタ−ンデ−タPdaが“0”の時リ−ディングクロ
ックLCKにの立ち上がりによってリセットされる。
【0009】(6),(7) RSフリップフロップ35からR
Z波形が出力される場合、すなわち、フォマットレジス
タ33のデ−タが(0,1)の場合、パタ−ンデ−タP
daが“1”の時、RSフリップフロップ35は、リ−デ
ィングクロックLCKの立ち上がりよってセットされ、
トレ−リングクロックTCKの立ち上がりによってリセ
ットされる。また、パタ−ンデ−タPdaが“0”の時、
RSフリップフロップ35は、リ−ディングクロックL
CKの立ち上がりよってリセットされる。
【0010】(8),(9) RSフリップフロップ35からR
O波形が出力される場合、すなわち、フォマットレジス
タ33のデ−タが(1,0)の場合、パタ−ンデ−タP
adが“1”の時、RSフリップフロップ35は、トレ−
リグクロックTCKの立ち上がりよってリセットされ、
リ−ディングクロックLCKの立ち上がりによってセッ
トされる。また、パタ−ンデ−タPadが“1”の時、R
Sフリップフロップ35は、リ−ディングクロックLC
Kの立ち上がりよってセットされる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の波形
発生装置は、フォマットエンコ−ド回路の出力が切替わ
る毎に、アンバリッドの時間(図中ではU、Vと省略)
が発生するために、この時間を避けてタイミング信号を
発生をしなければないという制限が生じるために、波形
設定を任意に行うことができなかった。また、リ−ディ
ングクロックやトレ−リングクロックがハイレベルの時
にフォマットエンコ−ド回路の出力がアンバリッドにな
ると、誤ったセット、リセットパルスが発生し誤動作の
原因になることがあった。
【0012】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、フォマットエンコ−ド回路でエンコ−ドしたデ
−タを前もって記憶する記憶回路を設け、フォマットエ
ンコ−ド回路の出力の切替わる毎に発生するアンバリッ
ドの時間を生じないようにしたもので、誤動作を無くす
と共に、波形設定を任意に行うことができる波形発生装
置を提供することを目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、パタ−ンデ−タとフォマットデ−
タに基づいてフォマットエンコ−ド回路がエンコ−ドし
たデ−タと、タイミングジェネレ−タが出力するリ−デ
ィングクロック/トレ−リングクロックとに基づきRS
フリップフロップをセット/リセットし、任意のデジタ
ルパルス波形を得る波形発生装置であって、前記フォマ
ットエンコ−ド回路がエンコ−ドしたデ−タを前記タイ
ミングジェネレタが出力するパタ−ンクロックに基づい
て記憶すると共に、前記タイミングジェネレ−タのリ−
ディングクロックとトレ−リングクロックに基づいて読
み出す記憶回路と設けたことを特徴としている。
【0014】
【作用】パタ−ンデ−タとフォマットデ−タに基づいて
フォマットエンコ−ド回路がエンコ−ドしたデ−タを記
憶回路によって記憶し、このデ−タからタイミングジェ
ネレ−タのリ−ディングクロックとトレ−リングクロッ
クとによって、NRZ、RZ、ROの波形を任意の形で
取り出す。
【0015】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図1は、本発明の波形発生装置の一実施例を示す構
成ブロック図である。図中、図5と同一作用をするもの
は同一符号を付けて説明する。以下、図面においては同
様とする。4はFiFo(first-in first-out)部で、
フォマッタエンコ−ド回路32から入力されたデ−タを
入力順に取り出してフォマットマトリックス35に出力
する。
【0016】FiFo部4は、二つの(2ビット×nワ
−ド)のFiFo4A、4Bが設けられていて、一方の
FiFo4Aはリ−ディング用として、他方のFiFo
4Bはトレ−リング用として用いられる。
【0017】FiFo4Aは、Di1端子にデ−タDa
(この場合はパタ−ンデ−タPda)が入力され、Di2端
子にフォマットエンコ−ド32のインバ−タ321 によ
って反転されたパタ−ンデ−タPda(以下デ−タDc と
いう)が入力されている。このデ−タDa,c は、入力ク
ロック端子に入力されるタイミングジェネレ−タ1のパ
タ−ンクロックPCKによって書き込まれ、出力クロッ
ク端子に入力される反転されたリ−ディングクロックL
CK(以下、反転信号を◇で示し、LCK◇と表示す
る)によって、出力端子Do1,Do2より読出される。
【0018】一方、FiFo4Bは、Di1端子にAND
ゲ−ト322 のデ−タDb が入力され、Di2端子にAN
Dゲ−ト323 のデ−タDd が入力されている。
【0019】ANDゲ−ト322 は、一方の入力端子に
はインバ−タ321 で反転されたパタ−ンデ−タPadが
入力され、他方の入力端子にはフォマットレジスタ33
のデ−タD1 が入力されている。ANDゲ−ト323
は,一方の入力端子にはパタ−ンデ−タPadが入力さ
れ、他方の入力端子にはフォマットレジスタ33のデ−
タD0 が入力されている。
【0020】FIFo4Bに入力されたこれらのデ−タ
Db,d は、入力クロック端子に入力されるタイミングジ
ェネレ−タ1のパタ−ンクロックPCKによって書き込
まれ、出力クロック端子に入力されるトレ−リングクロ
ックTCK◇によって、出力端子Do1,Do2より読出さ
れる。
【0021】フォマットマトリックス34において、3
41 は一方の入力端子にFiFo4Aの出力端子Do1の
デ−タDa*が入力されたANDゲ−トで、他方の入力端
子にはタイミングジェネレ−タ1の出力するリ−ディン
グクロックLCKが入力されている。342 は一方の入
力端子にFiFo4Bの出力端子Do1のデ−タDb*が入
力されたANDゲ−トで、他方の入力端子にはタイミン
グジェネレ−タ1の出力するトレ−リングクロックTC
Kが入力されている。343 は入力端子にANDゲ−ト
341 、342 が接続されたORゲ−トで、その出力信
号はRSフリップフロップ35のセット端子に接続され
ている。
【0022】344 は一方の入力端子にFiFo4Aの
出力端子Do2のデ−タDc*が入力されたANDゲ−ト
で、他方の入力端子にはタイミングジェネレ−タ1の出
力するトレ−リングクロックTCKが入力されている。
345 は一方の入力端子にFiFo4Bの出力端子Do2
のデ−タDd*が入力されたANDゲ−トで、他方の入力
端子にはタイミングジェネレ−タ1の出力するトレ−リ
ングクロックTCKが入力されている。346 は入力端
子にANDゲ−ト344 、345 が接続されたORゲ−
トで、その出力信号はRSフリップフロップ35のリセ
ット端子に接続されている。
【0023】図2は、本発明の要部であるFiFo部を
抽出して示した構成ブロック図である。尚、FiFoは
リ−ディング用FiFo4Aを代表して説明するものと
する。図中、41はレジスタ部で、フォマットエンコ−
ド回路32からデ−タDa が入力端子Di1に入力されて
いる。
【0024】レジスタ部41において、411 〜414
はANDゲ−トで、一方の入力端子にはデ−タDa が入
力され、他方の入力端子には2ビットの読込みカウンタ
42に基づいて出力されるデマルチプレクサ43の反転
出力が入力されている。例えば、デマルチプレクサ43
は、読込みカウントが“0”の時、出力端子S0 のみが
ロ−レベル信号を出力していて、出力端子S1 〜S3 は
ハイレベル信号を出力している。
【0025】415 〜418 は一方の入力端子にD型フ
リップフロップ419 〜4112の出力信号が入力された
ANDゲ−トで、他方の入力端子にはANDゲ−ト41
1 〜414 と同じくデマルチプレクサ43の出力信号が
入力されている。
【0026】4113〜4116はORゲ−トで、一方の入
力端子にはANDゲ−ト411 〜414 の出力信号が入
力されていて、もう一方の入力端子にはANDゲ−ト4
15〜418 の出力信号が接続されている。このORゲ
−ト4113〜4116の出力信号は、D型フリップフロッ
プ419 〜4112のD端子に入力されていて、クロック
端子に入力されるパタ−ンクロック信号PCKに基づい
てD型フリップフロップ419 〜4112に記憶される。
【0027】4117はデ−タセレクタで、2ビットの読
出しカウンタ44の出力するデ−タに基づいて、D型フ
リップフロップ419 〜4112の出力を選択し、出力端
子Do1よりデ−タDa*を出力する。読出しカウンタ44
は、クロック端子に入力されるリ−ディングクロックL
CK◇によってカウントアップした信号をデ−タセレク
タ4117に出力する。
【0028】45は入力端子Di2に設けられたレジスタ
部である。
【0029】図3は、FiFo部の動作を説明するため
のタイムチャ−トで、(A)はパタ−ンクロックPC
K、(B)は入力端子Di1に入力されるデ−タDam(m=
1 〜n)、(C)は読込みカウンタ42のカウント値、
(D)〜(G)はD型フリップフロップ419 〜4112
のQ出力、(H)はリ−ディングクロックLCKの反転
信号、(I)は読出しカウンタ44のカウント値、
(J)は出力端子Do1から出力される出力信号Dam* で
ある。
【0030】(1) D型フリップフロップ419 は、パタ
−ンクロックPCKの入力によってデ−タDa1を書き込
む。この時、読込みカウンタ42もこのパタ−ンクロッ
クPCKによって“1”にインクリメントされ、次のデ
−タDa2を書き込むD型フリップフロップ4110を指定
する。 (2) 一方、読出しカウンタ44は、“0”になっている
ので、D型フリップフロップ419 のデ−タDa1はその
ままデ−タセレクタ4117の出力端子よりANDゲ−ト
341 に出力される。
【0031】(3) 次のデ−タDa2がDi1端子から入力さ
れ、各ロック端子にパタ−ンクロックPCKが入力され
ると、D型フリップフロップ4110は、デ−タDa2を書
き込む 。(4) 以下、同様のプロセスでD型フリップフロップ4
111、4112にデ−タDa3、Da4が書き込まれる。
【0032】(5) デ−タDa2〜Da4の読出しは、リ−デ
ィングクロックLCKに基づいて行われる。読出しカウ
ンタ44のクロック端子にリ−ディングクロックLCK
◇が入力されると、読出しカウンタ44は、“1”にイ
ンクリメントされ、D型フリップフロップ4110が記憶
しているデ−タDa2をデ−タセレクタ4117の出力端子
D01よりANDゲ−ト341 に出力する。 (6) 以下、デ−タDa3、Da4についても同様なプロセス
が行われる。
【0033】図4は、本発明の波形発生装置の動作を説
明するタイムチャ−トで、(A)はパタ−ンクロックP
CK、(B)はパタ−ンデ−タPda、(C)はFiFo
4Aの入力端子Di1に入力されるデ−タDam、(D)は
FiFo4Bの入力端子Di1に入力されるデ−タDbm、
(E)はFiFo4Aの入力端子Di2に入力されるデ−
タDcm、(F)はFiFo4Bの入力端子Di2に入力さ
れるデ−タDdm、(G)はFiFo4Aの出力端子Do1
から出力されるデ−タDam* 、(H)はFiFo4Bの
出力端子D01から出力されるデ−タDbm* 、(I)はF
iFo4Bの出力端子D02から出力されるデ−タDdm*
、(J)はリ−ディングクロックLCK、(K)はト
レ−リングクロックTCK、(L)はRSフリップフロ
ップ35の出力である。尚、ここでは、フォマットレジ
スタ33のデ−タが(0,1)の場合、すなわち、RZ
波形を得る場合について説明する。
【0034】(1) パタ−ンデ−タPadに基づいたデ−タ
Da 〜Dd がパタ−ンクロックPCKの入力によってF
iFo4A、4Bに書き込まれる。 (2) FiFo4A、4Bに書き込まれたデ−タDa 〜D
d は、読出しカウンタ44が“0”になっているため、
そのまま、デ−タDa*〜Dd*として出力端子Do1,02 か
ら出力される。
【0035】(3) この後、リ−ディングクロックLCK
がタイミングジェネレ−タ1からFiFo4Aとフォマ
ットマトリックス34に出力される。この時、FiFo
4Aは、出力端子Do1よりハイレベル信号(以下、デ−
タDa*)をANDゲ−ト341に出力している。AND
ゲ−ト341は、FiFo4Aからのデ−タDa*とリ−
ディングクロックLCKに基づいてハイレベルの信号を
ORゲ−ト342 に出力する(図1参照)。RSフリッ
プフロップ35は、このORゲ−ト342 の信号に基づ
いてセットされ、Q出力がハイレベルになる。尚、この
時、リセット側のANDゲ−ト344,6 及びORゲ−ト
345 は、共にロ−レベル信号になっていてる。
【0036】(4) FiFo4Aは、続いて、リ−ディン
グクロックLCKが立ち下がると、読出しカウンタ44
が“1”にインクリメントされ、次のデ−タ(D形フリ
ップフロップ4110のデ−タ)を選択する。しかし、F
iFo4Aは、まだ、次のデ−タが入力されていないた
めに、アンバリッドになる。 (5) 次のパタ−ンクロックPCKが入力されると、Fi
Fo4A、4Bは、次のデ−タDa2〜Dd2が書き込まれ
る。この時、既に、読出しカウンタは、“1”になって
いるため、デ−タDa2* 、Dc2* は、そのまま、出力端
子Do1、D02から出力される。尚、この時、FiFo4
Bの読出しカウンタは、“0”のままで、Db*、Dd*が
読出されている。
【0037】(6) 次に、トレ−リングクロックTCKが
タイミングジェネレ−タ1からFiFo4Bとフォマッ
トマトリックス34に出力される。トレ−リングクロッ
クTCKの入力によって、ANDゲ−ト346 は、Fi
Fo4Bからのデ−タDd*とトレ−リングクロックTC
Kに基づいてハイレベルの信号をORゲ−ト345 に出
力する。RSフリップフロップ35は、ORゲ−ト34
5 が出力するハイレベルの信号に基づいてリセットさ
れ、Q出力がロ−レベル信号に反転する。
【0038】(7) FiFo4Bは、トレ−リングクロッ
クが立ち下がると、読出しカウンタが“1”にインクリ
メントされ、次のデ−タを選択する。しかし、FiFo
4Bは、まだ、次のデ−タが入力されていないために、
アンバリッドになる。 (8) 再び、リ−ディングクロックLCKがタイミングジ
ェネレ−タ1からFiFo4Aとフォマットマトリック
ス34に出力される。しかし、RSフリップフロップ
は、FiFo4Aのデ−タDa2* がロ−レベル信号であ
るために変化しない。 FiFo4Aは、このリ−ディ
ングクロックLCKの立ち下がりで、次のデ−タ(D型
フリップフロップ4111のデ−タ)を選択する。しか
し、FiFo4Aは、まだ、次のデ−タが入力されてい
ないために、アンバリッドになる。 (9) 以下、(1) 〜(7) のプロセスが繰り返される。尚、
トレ−リングクロックが入力される前に、最終段のD型
フリップフロップ(この場合は4段)までデ−タが記憶
されると誤動作になってしまうため、D型フリップフロ
ップの段数は大きめに構成しておいたほうが良い。この
ようにすることによって、数レ−トまで設定可能範囲を
広げることができる。
【0039】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の波
形発生装置は、リ−ディング用のFiFoとトレ−リン
グ用のFiFoによって前もって記憶しておいたフォマ
ットエンコ−ド回路のエンコ−ドしたデ−タを、リ−デ
ィングクロック/トレ−リングクロックに基づて、RS
フリップフロップに出力するようにしたものである。こ
のため、従来のようにフォマットエンコ−ド回路がデ−
タを切替える毎に発生していたアンバリッドの時間が生
じないので、誤動作を防止できると共に、波形設定が任
意に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の波形発生装置の一実施例を示す構成ブ
ロック図である。
【図2】本発明の要部であるFiFo部を抽出し示した
構成ブロック図である。
【図3】FiFo部の動作を説明するためのタイムチャ
−トである。
【図4】本発明の波形発生装置の動作を説明するタイム
チャ−トである。
【図5】従来の波形発生装置の構成ブロック図である。
【図6】従来の波形発生装置の動作を説明するタイムチ
ャ−トである。
【図7】フォマットレジスタ33の真理値表を示した
図。
【図8】波形発生装置の動作状態の真理値表を示した
図。
【符号の説明】
32 フォマットエンコ−ド回路 33 フォマットレジスタ 34 フォマットマトリックス 4 FiFo部 4A、4B FiFo

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パタ−ンデ−タとフォマットデ−タに基
    づいてフォマットエンコ−ド回路がエンコ−ドしたデ−
    タと、タイミングジェネレ−タの出力するリ−ディング
    クロック/トレ−リングクロックとに基づいてRSフリ
    ップフロップをセット及びリセットし、任意のデジタル
    パルス波形を得る波形発生装置であって、 前記フォマットエンコ−ド回路がエンコ−ドしたデ−タ
    を前記タイミングジェネレタが出力するパタ−ンクロッ
    クに基づいて記憶すると共に、前記タイミングジェネレ
    −タのリ−ディングクロックとトレ−リングクロックに
    基づいて読み出す記憶回路、 を設けたことを特徴とした波形発生装置。
JP3277843A 1991-10-24 1991-10-24 波形発生装置 Pending JPH05119121A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5406132A (en) * 1992-01-21 1995-04-11 Advantest Corporation Waveform shaper for semiconductor testing devices
JP2001289920A (ja) * 2000-02-03 2001-10-19 Advantest Corp ドライバ制御信号生成回路・ic試験装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5406132A (en) * 1992-01-21 1995-04-11 Advantest Corporation Waveform shaper for semiconductor testing devices
JP2001289920A (ja) * 2000-02-03 2001-10-19 Advantest Corp ドライバ制御信号生成回路・ic試験装置

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