JPH05121293A - ウエハ露光装置 - Google Patents

ウエハ露光装置

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Publication number
JPH05121293A
JPH05121293A JP3305335A JP30533591A JPH05121293A JP H05121293 A JPH05121293 A JP H05121293A JP 3305335 A JP3305335 A JP 3305335A JP 30533591 A JP30533591 A JP 30533591A JP H05121293 A JPH05121293 A JP H05121293A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellicle frame
pellicle
reticle
wafer
exposure apparatus
Prior art date
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Pending
Application number
JP3305335A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiharu Ashida
逸治 芦田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP3305335A priority Critical patent/JPH05121293A/ja
Publication of JPH05121293A publication Critical patent/JPH05121293A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70908—Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
    • G03F7/70916—Pollution mitigation, i.e. mitigating effect of contamination or debris, e.g. foil traps

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  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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  • Public Health (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 パーティクルの付着による不良発生を防止
し、歩留まりを良くする。 【構成】 ペリクルフレーム2をレチクル1上に固定さ
れた第1のペリクルフレーム2Aと回転可能な第2のペ
リクルフレーム2Bとで2重の構造に形成し、この第2
のペリクルフレーム2B上にペリクル膜9を一体回転可
能に設ける。そして、この第2のペリクルフレーム2B
を把握部材10で回転可能に拘束し、第2のペリクルフ
レーム2Bを回転駆動手段で回転させながら露光を行う
ようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LSI等の半導体製造
におけるウエハ露光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、LSI等の半導体製造において
マスクに描かれている微細な回路パターンをウエハ上の
所定の位置に焼き付ける露光処理には、縮小投影露光機
や等倍投影露光機等を用いて複数回の露光で処理するス
テップ式投影露光装置(通称「ステッパ」と言う)や等
倍の一括露光機等を用いる反射式プロジェクションアラ
イナ等で行われ、露光時にはレチクルまたはマスタマス
クが用いられている。
【0003】図6は、従来のウエハ露光装置(ステッ
パ)の全体構成配置図を示すもので、ウエハ51を載せ
るX−Yステージ52と、自動焦点機構53,レーザ測
長計54,縮小レンズ55,レチクル56,パターン検
出器57,光源58,ウエハハンドリング系59等で構
成されている。また、レチクル56は、レチクルホルダ
50上に配設されている。さらに、このレチクル56に
は、図4および図5に示すように、パーティクルの付着
を防ぐ目的でペリクルフレーム60,60およびペリク
ル膜61,61が取り付けられ、このレチクル56の下
面にウエハ51上に投影されるICパターン62(図4
参照)を形成している。
【0004】そして、このステッパでは、レチクル56
におけるICパターン62を縮小レンズ55を通して縮
小して原寸パターン寸法に戻し、これを投影してウエハ
51上に回路パターンを形成するもので、1回の露光が
完了すると、ウエハ51をX−Yステージ52でワンピ
ッチ移動して露光を繰り返すようになっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の露光装置では、ステッパ上のレチクル56上にパーテ
ィクルが付着するのを防ぐのにペリクルフレーム60お
よびペリクル膜61を用いている。これは、露光にマス
タマスクを用いている場合も同様であるが、レチクル5
6(またはマスタマスク)を露光機にセットする時、若
しくは露光中に、ウエハ51に解像するレベルのパーテ
ィクルがペリクル膜61に付着した場合は、これがウエ
ハ51上に転写されて不良となり、歩留まりが悪いと言
う問題点があった。
【0006】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的はパーティクルが付着することによ
る不良発生を防止し、歩留まりを改善したウエハ露光装
置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るウエハ露光装置には、レチクル上に固
定された第1のペリクルフレームと回転可能な第2のペ
リクルフレームとで2重の構造に形成され、かつ前記第
2のペリクルフレーム上にペリクル膜を一体回転可能に
配設してなるペリクルフレームと、前記第2のペリクル
フレームを回転可能に拘束するための把握部材と、前記
第2のペリクルフレームを回転させる回転駆動手段とを
設けたものである。
【0008】
【作用】これによれば、ペリクルフレームを第1と第2
の2つのペリクルフレームに分割するとともに、ペリク
ル膜が配設された第2のペリクルフレームが回転するよ
うにしているので、ペリクル膜にパーティクルが付着す
ると、露光時、付着したパーティクルは回転方向に向か
って移動するので、このパーティクルには露光量が十分
に得られなくなり、ウエハ上に欠陥として転写されるこ
とがなくなる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。図3は、本発明に係るウエハ露光装置
の一実施例を示す全体構成配置図である。図3におい
て、図6と同一符号を付したものは図6と同一のものを
示している。そして、本発明に係るウエハ露光装置と図
6に示した従来のウエハ露光装置と大きく異なる点は、
レチクルおよびレチクルホルダの部分にあるもので、そ
の他の部分の構成は同一構造で構成しても差し支えない
ものである。
【0010】図1はレチクル周辺部分の要部構成を示す
もので、同周辺部の上面を表す図2のA−A線に沿う縦
断面図である。又図3はウエハ露光装置の全体構成配置
図である。図1および図2において、通常レチクル1の
上,下部には、ペリクルフレーム2,2が夫々配設され
ている。上部に設けられたペリクルフレーム2は、第1
のペリクルフレーム2Aと、第2のペリクルフレーム2
Bとで構成されている。このうち、第1のペリクルフレ
ーム2Aは、略円筒状に形成されていて、一端はレチク
ル1上に接着剤等で固定して取り付けられている。ま
た、第1のペリクルフレーム2Aの周面には小径部4と
環状溝5とが形成されているとともに、下端部分には窒
素ガス(N2 )が供給されて来るパイプ6が貫通して取
り付けられている。これに対して、第2のペリクルフレ
ーム2Bは、第1のペリクルフレーム2Aの小径部4の
外周部分を覆って配設されるようにして略円筒状に形成
されており、内面には第1のペリクルフレーム2Aの環
状溝5内に摺動自在に係合される内側鍔部7が一体に形
成され、外面には外側へ突出された外側鍔部8が一体に
形成されている。そして、この第2のペリクルフレーム
2Bは、内側鍔部7を環状溝5内に係合させた状態で、
第1のペリクルフレーム2Aの外側に回転自在に取り付
けられている。また、この回転自在に取り付けられた状
態では、第1のペリクルフレーム2Aと第2のペリクル
フレーム2Bとの間に、窒素ガスN2 を逃がすための隙
間Xが形成されている。加えて、第2のペリクルフレー
ム2Bには、この上端を封印するようにして、ペリクル
膜9が取り付けられる。又下部のペリクルフレーム2に
も前記同様ペリクル膜9が取り付けられるとともにウエ
ハ51(図3参照)上に投影されるICパターン20が
形成されている。
【0011】一方、ペリクルフレーム2の外側には、こ
のペリクルフレーム2を挟んで保持するための把握部材
10が配設されている。この把握部材10は、第1の部
材10Aと第2の部材10Bとでなり、各中間部分を支
軸11(図2参照)で連結することによってハサミ状に
形成されている。そして、各部材10A,10Bの先端
部分はペリクルフレーム2の外径寸法に略等しい内径寸
法をした曲面で形成されているとともに、内面には第2
のペリクルフレーム2Bの外側鍔部8が挿入される溝2
2が形成されている。加えて、各部材10A,10B内
にはそれぞれ複数のローラ(本実施例では各部材10
A,10Bに3つづつ)12が略等間隔で、かつ立設さ
れた状態で配設されており、この各ローラ12の外面が
溝22内に表出されていて、第1の部材10Aと第2の
部材10Bとでペリクルフレーム2を挟んだ時に、溝2
2内に配設された外側鍔部8の外周面と当接可能になっ
ている。また、各ローラ12の内の1つのローラ(12)の
回転軸13は、第1の部材10Aの上面より突出し、こ
の突出した部分にプーリ14が一体回転可能に取り付け
られている。そして、このプーリ14には、露光装置の
ベース15に固定されているモータ16の出力プーリ1
7と動力連結するための無端ベルト18が取り付けられ
ている。そして、モータ16が回転すると、この回転が
出力プーリ17,無端ベルト18,プーリ14,回転軸
13を介してローラ(12)に伝達され、ローラ(12)を回転
させることができ、このローラ(12)の回転で第2のペリ
クルフレーム2Bの回転を行わせるもので、これらで回
転駆動手段を構成している。
【0012】次に、このように構成された露光装置の動
作を説明する。まず、把握部材10の第1の部材10A
と第2の部材10Bを矢印C方向(図2参照)に回転さ
せて先端側を大きく開いた状態にして露光装置のレチク
ルホルダ20(図3参照)上にレチクル1をセットす
る。次いで、第1の部材10Aと第2の部材10Bを矢
印C方向と逆の方向に回転させて把握部材10を閉じ
る。すると、溝22内に外側鍔部8が係合され、かつ外
側鍔部8の外周面がローラ12に当接された状態でペリ
クルフレーム2が拘束される。次に、パイプ6を通して
ペリクルフレーム2内に窒素ガスを微量流入させる。同
時に、モータ16を回転させると、この回転でプーリ1
7,無端ベルト18,プーリ14を介してローラ(12)が
回転する。すると、回転駆動手段の最終段におけるロー
ラ(12)と接している第2のペリクルフレーム2Bも回転
を開始する。これにより、第2のペリクルフレーム2B
上のペリクル膜9も回転する。このとき、ペリクル膜9
上にパーティクル19(図1参照)が付着していた場合
には、このパーティクル19も回転する。ここでの第1
のペリクルフレーム2Bの回転数は毎分60回転前後で
あるが、これ以外の回転数でも勿論差し支えないもので
ある。また、このときペリクルフレーム2内に微量流入
されている窒素ガスN2 が、第1のペリクルフレーム2
Aと第2のペリクルフレーム2Bとの間の隙間より流出
し、この窒素ガスでパーティクル19がペリクル膜9の
内側に侵入するのを防止する。図1中の矢印は、その窒
素ガスの流れを示しているものである。次に露光を開始
する。すると、第2のペリクルフレーム2Bは回転して
いるのでペリクル膜9上に付着したパーティクル19も
回転方向に向かって移動することになり、露光量が十分
に得られなくなる。これにより、パーティクル19がウ
エハ51に欠陥として転写されることがなくなり、パー
ティクル付着によるICパターンの形状異常が防げる。
なお、上記実施例では、レチクルの場合に付いて説明し
たが、マスタマスクの場合であっても同じであるのは勿
論のことである。
【0013】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明に係るウエ
ハの露光装置によれば、ペリクルフレームを第1と第2
の2つのペリクルフレームに分割するとともに、ペリク
ル膜が配設された第2のペリクルフレームが回転するよ
うにしているので、ペリクル膜にパーティクルが付着す
ると、露光時、付着したパーティクルは回転方向に向か
って移動するので、このパーティクルには露光量が十分
に得られなくなり、ウエハ上に欠陥として転写されるこ
とがなくなる。これにより、ペリクル膜上に付着したパ
ーティクルがウエハ上に転写されて異常が生ずるのを確
実に防ぐことができ、歩留まりが良くなる効果等が期待
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るウエハ露光装置のレチクル周辺部
分の構成を示すもので、図2のA−A線に沿う縦断面図
である。
【図2】本発明に係るウエハ露光装置のレチクル周辺部
分の要部構成を示す上面図である。
【図3】本発明に係るウエハ露光装置の一実施例を示す
全体構成配置図である。
【図4】従来のウエハ露光装置におけるステッパの概略
上面図である。
【図5】図4に示した同上ステッパの側面図である。
【図6】従来におけるウエハ露光装置の一例を示す全体
構成配置図である。
【符号の説明】 1 レチクル 2 ペリクルフ
レーム 2A 第1のペリクルフレーム 2B 第2のペ
リクルフレーム 9 ペリクル膜 10 把握部材 16 モータ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レチクル上に固定された第1のペリクル
    フレームと回転可能な第2のペリクルフレームとで2重
    の構造に形成され、かつ前記第2のペリクルフレーム上
    にペリクル膜を一体回転可能に配設してなるペリクルフ
    レームと、 前記第2のペリクルフレームを回転可能に拘束するため
    の把握部材と、 前記第2のペリクルフレームを回転させる回転駆動手段
    とを備えてなることを特徴とするウエハ露光装置。
JP3305335A 1991-10-24 1991-10-24 ウエハ露光装置 Pending JPH05121293A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3305335A JPH05121293A (ja) 1991-10-24 1991-10-24 ウエハ露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3305335A JPH05121293A (ja) 1991-10-24 1991-10-24 ウエハ露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05121293A true JPH05121293A (ja) 1993-05-18

Family

ID=17943879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3305335A Pending JPH05121293A (ja) 1991-10-24 1991-10-24 ウエハ露光装置

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JP (1) JPH05121293A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1486816A1 (en) * 2003-06-11 2004-12-15 Agfa Corporation Method and apparatus for reducing contamination in a grating light valve imaging system.
US9575421B2 (en) 2014-09-04 2017-02-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for protecting extreme ultra violet mask and extreme ultra violet exposure apparatus including the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1486816A1 (en) * 2003-06-11 2004-12-15 Agfa Corporation Method and apparatus for reducing contamination in a grating light valve imaging system.
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